JP2000284186A - 観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置 - Google Patents
観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料位置指定手段をもつ２つの観察装置にお
いて、位置指定用座標の変換を迅速かつ容易に行えるよ
うにする。 【解決手段】 任意の位置に観察点を少なくとも３点設
け、試料と試料台との相対位置を設定するためにマーカ
ーを付した座標設定用試料を第１の観察装置の試料台と
第２の観察装置に設置して上記観察点の座標を読み取
り、上記観察点のうち、任意の点を仮原点とし、他の２
点の座標を前記仮原点を基準とした座標に補正して次式
（１）に代入し、ａ，ｂ，ｃ，ｄを算出し座標変換式を
確定する段階からなる。 ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ，ｙｎ
＝ｃＸｎ＋ｄＹｎ・・・（１）
いて、位置指定用座標の変換を迅速かつ容易に行えるよ
うにする。 【解決手段】 任意の位置に観察点を少なくとも３点設
け、試料と試料台との相対位置を設定するためにマーカ
ーを付した座標設定用試料を第１の観察装置の試料台と
第２の観察装置に設置して上記観察点の座標を読み取
り、上記観察点のうち、任意の点を仮原点とし、他の２
点の座標を前記仮原点を基準とした座標に補正して次式
（１）に代入し、ａ，ｂ，ｃ，ｄを算出し座標変換式を
確定する段階からなる。 ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ，ｙｎ
＝ｃＸｎ＋ｄＹｎ・・・（１）
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動掃引装置付き
顕微鏡のように、観察範囲内において固有の座標が設定
されており、観察物を当該座標で位置設定して観察でき
る観察装置における座標設定方法に係るもので、各々、
固有の座標を有する観察装置間で同一試料を観察するに
当たり、装置Ａで観察し、装置Ａの座標で位置確認した
試料の特定位置を、装置Ａの座標と異なる座標を有する
他の観察装置Ｂにおいて容易に位置設定できるようにす
るための座標設定方法に関する。
顕微鏡のように、観察範囲内において固有の座標が設定
されており、観察物を当該座標で位置設定して観察でき
る観察装置における座標設定方法に係るもので、各々、
固有の座標を有する観察装置間で同一試料を観察するに
当たり、装置Ａで観察し、装置Ａの座標で位置確認した
試料の特定位置を、装置Ａの座標と異なる座標を有する
他の観察装置Ｂにおいて容易に位置設定できるようにす
るための座標設定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、ＡＴＰ−ルシフェラーゼ法を利
用した微生物迅速検査装置は、生きた細胞に特異的にま
とまって存在するアデノシン三リン酸（ＡＴＰ）を利用
してルシフェリン−ルシフェラーゼ反応を行わしめ、Ａ
ＴＰ含量に比例して発生する微小な発光を光度検出器で
検出することにより、微生物の存在を確認するもので、
この発光状態をＣＣＤ等の撮影手段を用いて映像化し、
視覚的に観察することができる。しかしながら、この方
法では、僅かな微生物の存在は確認できるものの、その
確認された微生物の種類を認知するこができない。
用した微生物迅速検査装置は、生きた細胞に特異的にま
とまって存在するアデノシン三リン酸（ＡＴＰ）を利用
してルシフェリン−ルシフェラーゼ反応を行わしめ、Ａ
ＴＰ含量に比例して発生する微小な発光を光度検出器で
検出することにより、微生物の存在を確認するもので、
この発光状態をＣＣＤ等の撮影手段を用いて映像化し、
視覚的に観察することができる。しかしながら、この方
法では、僅かな微生物の存在は確認できるものの、その
確認された微生物の種類を認知するこができない。
【０００３】従って、上記方法で存在を確認した微生物
を正確に特定するためには、上記方法で使用したサンプ
ルを顕微鏡に移して観察する必要がある。この２回の観
察を手際よく効率的に行うためには、サンプル中の微生
物の存在位置を容易かつ短時間に割り出し、顕微鏡に設
けられた検鏡位置自動掃引装置にて位置指定を行い、即
座に目的の微生物の観察が行えるようにすることが重要
である。
を正確に特定するためには、上記方法で使用したサンプ
ルを顕微鏡に移して観察する必要がある。この２回の観
察を手際よく効率的に行うためには、サンプル中の微生
物の存在位置を容易かつ短時間に割り出し、顕微鏡に設
けられた検鏡位置自動掃引装置にて位置指定を行い、即
座に目的の微生物の観察が行えるようにすることが重要
である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、サンプ
ルを上記微生物迅速検査装置（以下、ＲＭＤＳという）
でチェックしてから自動掃引装置付き顕微鏡（以下、Ｓ
ＦＤＳという）で再確認を行うに当たって、ＲＭＤＳの
座標をそのままＳＦＤＳというの座標値として使用する
ことができず、新らためて顕微鏡側で個別調整しなけれ
ばならず、時間と煩雑な操作を強いるものであった。
ルを上記微生物迅速検査装置（以下、ＲＭＤＳという）
でチェックしてから自動掃引装置付き顕微鏡（以下、Ｓ
ＦＤＳという）で再確認を行うに当たって、ＲＭＤＳの
座標をそのままＳＦＤＳというの座標値として使用する
ことができず、新らためて顕微鏡側で個別調整しなけれ
ばならず、時間と煩雑な操作を強いるものであった。
【０００５】即ち、ＲＭＤＳの座標とＳＦＤＳの座標と
は、直接の相関性がなく、原点は勿論のこと、双方の座
標軸の単位を全く相関性がない（例えば、ＲＭＤＳに設
定されている位置確認用の座標軸は使用されている撮像
手段の１画素を目盛の単位としており、一方、ＳＦＤＳ
の掃引装置に設定されている座標の目盛の単位はmmであ
る。）。例えば、ＲＭＤＳのサンプルを４７ｍｍ径のフ
ィルタとし、そのフィルタ上に１ｃｅｌｌの酵素が存在
する場合、このサンプルを顕微鏡で確認したとすると、
顕微鏡の倍率を１００倍とした時は、３，０００視野、
２００倍で６，０００視野を観察する必要があり、事実
上観察が不可能である（このとき、顕微鏡の各倍率の視
野面積はそれぞれ０．７６×０．７６ｍｍ，０．５３×
０．５３ｍｍである。）。
は、直接の相関性がなく、原点は勿論のこと、双方の座
標軸の単位を全く相関性がない（例えば、ＲＭＤＳに設
定されている位置確認用の座標軸は使用されている撮像
手段の１画素を目盛の単位としており、一方、ＳＦＤＳ
の掃引装置に設定されている座標の目盛の単位はmmであ
る。）。例えば、ＲＭＤＳのサンプルを４７ｍｍ径のフ
ィルタとし、そのフィルタ上に１ｃｅｌｌの酵素が存在
する場合、このサンプルを顕微鏡で確認したとすると、
顕微鏡の倍率を１００倍とした時は、３，０００視野、
２００倍で６，０００視野を観察する必要があり、事実
上観察が不可能である（このとき、顕微鏡の各倍率の視
野面積はそれぞれ０．７６×０．７６ｍｍ，０．５３×
０．５３ｍｍである。）。
【０００６】これは、ＲＭＤＤＳ，ＳＦＤＳに限らず、
観察範囲内において固有の座標を設定し、観察物の特定
位置を座標によって表現・指定することの出来る手段を
備えた観察装置を使用する上で共通の問題であった。本
発明は上述の従来の問題点を解決するものであり、異な
る位置指定用座標が設定されている観察装置間で、同一
の試料を観察するに当たり、双方の座標に相関性を持た
せ、一方からの位置情報に基づいて他方の位置を特定す
るための座標変換方法を得ることにある。
観察範囲内において固有の座標を設定し、観察物の特定
位置を座標によって表現・指定することの出来る手段を
備えた観察装置を使用する上で共通の問題であった。本
発明は上述の従来の問題点を解決するものであり、異な
る位置指定用座標が設定されている観察装置間で、同一
の試料を観察するに当たり、双方の座標に相関性を持た
せ、一方からの位置情報に基づいて他方の位置を特定す
るための座標変換方法を得ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題に鑑
みなされたものであり、以下の手段を採用することによ
り上記課題を解決するものである。即ち、本発明は、そ
れぞれ異なる二つの位置指定用座標系を持つ第１及び第
２の観察装置の、一方の第１の座標系から他方の第２の
座標系に変換する方法であって、その特徴は以下の手順
を採用したことにある。 （１）任意の位置に観察点を少なくとも３点設けた座標
設定用試料を作成する。 （２）当該試料を第１のの観察装置の試料台に設置し、
上記観察点を確認し、その座標を読み取る（（Ｘ１，Ｙ
１），（Ｘ２，Ｙ２），（Ｘ３，Ｙ３））。 （３）試料と試料台との相対位置を設定するために夫々
任意にマーカーを付す。 （４）試料を第１の観察装置より取り外し、第２の観察
装置に設置する。その時、第２の観察装置の試料台（固
有の座標を有する）もしくは試料台に試料を設置するに
当たり、試料を保持する保持手段（例；プレパラート）
に、先に試料に付したマーカーと相対する目印を任意に
付す。そして、試料を第２の観察装置に設置するに当た
り、前記試料のマーカと目印を一致させる。以後、第１
の観察装置で観察した試料を第２の観察装置で確認する
場合は、必ず前記マーカと目印が一致するよう試料を設
置する。 （５）試料に設けられた観察点を第２の観察装置固有の
座標を用いて位置座標を読み取る（（ｘ１，ｙ１），
（ｘ２，ｙ２），（ｘ３，ｙ３））。 （６）上記観察点のうち、任意の点を仮原点とする
（例：（ｘ１，ｙ１），（Ｘ１，Ｙ１））。 （７）座標変換式 ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ，ｙｎ＝ｃＸ
ｎ＋ｄＹｎに他の２点の座標を代入し、ａ，ｂ，ｃ，ｄ
を算出する。得られた数値を上式に代入し、座標変換式
を設定する。代入するｘｎ，ｙｎ，Ｘｎ，Ｙｎの値を仮
原点を基準にした数値に補正する（相関性を付与）。 （８）設定した変換式を、第２装置固有の座標系の変換
式に補正する（仮原点を基準とした座標系を第２の観察
装置固有の座標系に補正する（ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ＋
ｘ１，ｙｎ＝ｃＸｎ＋ｄＹｎ＋ｙ１）。 （９）観察すべき試料を第１の観察装置で観察し、試料
上の観察すべき点の数値を読み取る（（Ｘ４，Ｙ４）・
・・）。 （１０）（９）で確認した数値を上記（８）で設定した
座標変換式に代入し、ｘ４，ｙ４を算出する。 （１２）他方の観察装置に試料を移し、位置設定手段
（自動掃引装置）に上記座標の数値を入力し、位置指定
を行う。
みなされたものであり、以下の手段を採用することによ
り上記課題を解決するものである。即ち、本発明は、そ
れぞれ異なる二つの位置指定用座標系を持つ第１及び第
２の観察装置の、一方の第１の座標系から他方の第２の
座標系に変換する方法であって、その特徴は以下の手順
を採用したことにある。 （１）任意の位置に観察点を少なくとも３点設けた座標
設定用試料を作成する。 （２）当該試料を第１のの観察装置の試料台に設置し、
上記観察点を確認し、その座標を読み取る（（Ｘ１，Ｙ
１），（Ｘ２，Ｙ２），（Ｘ３，Ｙ３））。 （３）試料と試料台との相対位置を設定するために夫々
任意にマーカーを付す。 （４）試料を第１の観察装置より取り外し、第２の観察
装置に設置する。その時、第２の観察装置の試料台（固
有の座標を有する）もしくは試料台に試料を設置するに
当たり、試料を保持する保持手段（例；プレパラート）
に、先に試料に付したマーカーと相対する目印を任意に
付す。そして、試料を第２の観察装置に設置するに当た
り、前記試料のマーカと目印を一致させる。以後、第１
の観察装置で観察した試料を第２の観察装置で確認する
場合は、必ず前記マーカと目印が一致するよう試料を設
置する。 （５）試料に設けられた観察点を第２の観察装置固有の
座標を用いて位置座標を読み取る（（ｘ１，ｙ１），
（ｘ２，ｙ２），（ｘ３，ｙ３））。 （６）上記観察点のうち、任意の点を仮原点とする
（例：（ｘ１，ｙ１），（Ｘ１，Ｙ１））。 （７）座標変換式 ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ，ｙｎ＝ｃＸ
ｎ＋ｄＹｎに他の２点の座標を代入し、ａ，ｂ，ｃ，ｄ
を算出する。得られた数値を上式に代入し、座標変換式
を設定する。代入するｘｎ，ｙｎ，Ｘｎ，Ｙｎの値を仮
原点を基準にした数値に補正する（相関性を付与）。 （８）設定した変換式を、第２装置固有の座標系の変換
式に補正する（仮原点を基準とした座標系を第２の観察
装置固有の座標系に補正する（ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ＋
ｘ１，ｙｎ＝ｃＸｎ＋ｄＹｎ＋ｙ１）。 （９）観察すべき試料を第１の観察装置で観察し、試料
上の観察すべき点の数値を読み取る（（Ｘ４，Ｙ４）・
・・）。 （１０）（９）で確認した数値を上記（８）で設定した
座標変換式に代入し、ｘ４，ｙ４を算出する。 （１２）他方の観察装置に試料を移し、位置設定手段
（自動掃引装置）に上記座標の数値を入力し、位置指定
を行う。
【０００８】以上の過程でにより、第１の観察手段で確
認した試料上の観察点を、第２の観察装置の観察点に座
標変換することができ、第２の観察装置に上記座標変換
機能を持たせることにより、第１の観察装置で確認した
観察点の座標をそのまま使用して第２の観察装置におい
て位置指定が可能となる。また、本発明の観察装置は、
観察位置を座標により特定するための第１の座標系を有
する位置設定手段を備える観察装置において、前記位置
設定手段は、当該観察装置と異なる第２の座標系を有す
る位置設定手段を備える他の観察装置の前記第２の座標
系を前記第１の座標系に変換する座標変換手段を備える
ことを特徴とする。
認した試料上の観察点を、第２の観察装置の観察点に座
標変換することができ、第２の観察装置に上記座標変換
機能を持たせることにより、第１の観察装置で確認した
観察点の座標をそのまま使用して第２の観察装置におい
て位置指定が可能となる。また、本発明の観察装置は、
観察位置を座標により特定するための第１の座標系を有
する位置設定手段を備える観察装置において、前記位置
設定手段は、当該観察装置と異なる第２の座標系を有す
る位置設定手段を備える他の観察装置の前記第２の座標
系を前記第１の座標系に変換する座標変換手段を備える
ことを特徴とする。
【０００９】本発明の観察装置によれば、他の観察装置
において確認した座標値をそのまま入力すると、当該観
察装置固有の座標値に変換されて位置設定手段に出力さ
れる。
において確認した座標値をそのまま入力すると、当該観
察装置固有の座標値に変換されて位置設定手段に出力さ
れる。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面と共に説明する。本実施例においては、微生物の
存在を確認するために有効なＡＴＰ−ルシフェラーゼ法
を利用した微生物迅速検査装置（ＲＤＭＳ）を第１の観
察装置とし、微生物の具体的内容を確認するために有効
な自動掃引装置付き顕微鏡（ＳＦＤＳ）を第２の観察装
置とした場合を例にとって説明する。
て図面と共に説明する。本実施例においては、微生物の
存在を確認するために有効なＡＴＰ−ルシフェラーゼ法
を利用した微生物迅速検査装置（ＲＤＭＳ）を第１の観
察装置とし、微生物の具体的内容を確認するために有効
な自動掃引装置付き顕微鏡（ＳＦＤＳ）を第２の観察装
置とした場合を例にとって説明する。
【００１１】そこで、先ず、本実施例で使用する微生物
迅速検査装置（ＲＤＭＳ）と自動掃引装置付き顕微鏡
（ＳＦＤＳ）の概要について説明する。ＲＤＭＳで行う
微生物検査は、先ず、検体液を濾過して生菌をフィルタ
ー上に補足し、このフィルターを微生物発光画像解析シ
ステムを用いて検出する。この微生物発光画像解析シス
テムは、生菌を捕捉したフィルターを抽出試薬及び発光
試薬で処理した後、標本ホルダーにセットし、光学系及
び撮像手段（ＣＣＤ等）で構成されたテレビカメラを上
記フィルターにできるだけ近接させてセッティングし、
フィルターの発光状態を撮影し、画像処理装置、データ
解析装置を介して画像データをディスプレイで表示、観
察したり、解析結果をプリントアウトする。
迅速検査装置（ＲＤＭＳ）と自動掃引装置付き顕微鏡
（ＳＦＤＳ）の概要について説明する。ＲＤＭＳで行う
微生物検査は、先ず、検体液を濾過して生菌をフィルタ
ー上に補足し、このフィルターを微生物発光画像解析シ
ステムを用いて検出する。この微生物発光画像解析シス
テムは、生菌を捕捉したフィルターを抽出試薬及び発光
試薬で処理した後、標本ホルダーにセットし、光学系及
び撮像手段（ＣＣＤ等）で構成されたテレビカメラを上
記フィルターにできるだけ近接させてセッティングし、
フィルターの発光状態を撮影し、画像処理装置、データ
解析装置を介して画像データをディスプレイで表示、観
察したり、解析結果をプリントアウトする。
【００１２】図１は、微生物迅速検査装置（ＲＤＭＳ）
１０のシステムの概要を示し、１はテーパーファイバ
ー、光増幅部及び撮像管（ＣＣＤ）からなる高感度テレ
ビカメラ、カメラコントローラ２、イメージプロセッサ
３、データ解析装置４、テレビモニター５から構成され
ている。測定は、発光処理した生菌を保持したフィルタ
ー６を高感度テレビカメラ１に接近させておき、カメラ
コントローラ２及びイメージプロセッサ３を用いて２次
元的の光子を所定時間、例えば、３０〜１８０秒間蓄積
し、菌体からの発光を撮像し、データ解析装置４により
発光ノイズを消去して生菌による強い発光のみを残して
テレビモニター５に表示する。この処理によって菌体由
来以外の発光がノイズとして消去され、測定された輝点
数は生菌の数となる。微生物による発光点は、例えば、
図２に示すように、撮像管の画素単位の座標により表示
することができ（図２中、”１”は微生物による発光点
を示す。）、フィルター６と撮像管との位置関係を関連
付けておくことにより、フィルター６の位置での発光点
を確認することができる。
１０のシステムの概要を示し、１はテーパーファイバ
ー、光増幅部及び撮像管（ＣＣＤ）からなる高感度テレ
ビカメラ、カメラコントローラ２、イメージプロセッサ
３、データ解析装置４、テレビモニター５から構成され
ている。測定は、発光処理した生菌を保持したフィルタ
ー６を高感度テレビカメラ１に接近させておき、カメラ
コントローラ２及びイメージプロセッサ３を用いて２次
元的の光子を所定時間、例えば、３０〜１８０秒間蓄積
し、菌体からの発光を撮像し、データ解析装置４により
発光ノイズを消去して生菌による強い発光のみを残して
テレビモニター５に表示する。この処理によって菌体由
来以外の発光がノイズとして消去され、測定された輝点
数は生菌の数となる。微生物による発光点は、例えば、
図２に示すように、撮像管の画素単位の座標により表示
することができ（図２中、”１”は微生物による発光点
を示す。）、フィルター６と撮像管との位置関係を関連
付けておくことにより、フィルター６の位置での発光点
を確認することができる。
【００１３】次に、自動掃引装置付き顕微鏡（ＳＦＤ
Ｓ）の概要について説明する。図３はＳＦＤＳ２０の概
略構成図を示し、ＳＦＤＳ２０は、顕微鏡２１、プレパ
ラートを保持するホルダの位置を制御する制御ボックス
３１、制御ボックス３１に対し必要なデータを入力する
とともに顕微鏡による検鏡結果を出力するための操作盤
４１からなる。
Ｓ）の概要について説明する。図３はＳＦＤＳ２０の概
略構成図を示し、ＳＦＤＳ２０は、顕微鏡２１、プレパ
ラートを保持するホルダの位置を制御する制御ボックス
３１、制御ボックス３１に対し必要なデータを入力する
とともに顕微鏡による検鏡結果を出力するための操作盤
４１からなる。
【００１４】顕微鏡２１は試料フィルター１００を支持
するステージ２２と、ステージ２２に設置され、フィル
ター１００を対物レンズ２３の下でそれぞれ矢印Ｘ，Ｙ
方向に移動させるＸ軸移動機構２４Ａ，Ｙ軸移動機構２
４Ｂを備えている。制御ボックス３１は、顕微鏡２１の
Ｘ軸移動機構２４Ａ，Ｙ軸移動機構２４Ｂを夫々駆動す
るためのＸ軸駆動モータ３２Ａ，Ｙ軸駆動モータ３２Ｂ
と、フィルター１００のＸ軸方向とＹ軸方向の位置を表
示する表示する表示部３４Ａ，３４Ｂを備えている。Ｘ
軸駆動モータ３２Ａ，Ｙ軸駆動モータ３２Ｂの駆動力は
フレキシブル軸３３Ａ，３３ＢみよってＸ軸移動機構２
４Ａ，Ｙ軸移動機構２４Ｂに伝達されるようにしてい
る。
するステージ２２と、ステージ２２に設置され、フィル
ター１００を対物レンズ２３の下でそれぞれ矢印Ｘ，Ｙ
方向に移動させるＸ軸移動機構２４Ａ，Ｙ軸移動機構２
４Ｂを備えている。制御ボックス３１は、顕微鏡２１の
Ｘ軸移動機構２４Ａ，Ｙ軸移動機構２４Ｂを夫々駆動す
るためのＸ軸駆動モータ３２Ａ，Ｙ軸駆動モータ３２Ｂ
と、フィルター１００のＸ軸方向とＹ軸方向の位置を表
示する表示する表示部３４Ａ，３４Ｂを備えている。Ｘ
軸駆動モータ３２Ａ，Ｙ軸駆動モータ３２Ｂの駆動力は
フレキシブル軸３３Ａ，３３ＢみよってＸ軸移動機構２
４Ａ，Ｙ軸移動機構２４Ｂに伝達されるようにしてい
る。
【００１５】また、操作盤４１は、電源スイッチ４２
Ａ、その他操作用スイッチ群４２Ｂと、フィルター１０
０の移動位置を指定するための各種データを入力するた
めの入力スイッチ群４３を有している。入力スイッチ群
４３には、フィルター１００の移動位置を指定するため
の座標データを入力するためのスイッチの他、座標入力
を行う際の座標系をＲＭＤＳモードとＦＳＤＳモードと
に切り換える座標切換スイッチ（図示せず）を備えてい
る。制御盤４１は、また、出力装置４５を有し、操作ス
イッチ４２の操作により、フィルター位置の特定の位置
を記憶するとともに、出力装置４５にプリントアウトで
きるようにしている。
Ａ、その他操作用スイッチ群４２Ｂと、フィルター１０
０の移動位置を指定するための各種データを入力するた
めの入力スイッチ群４３を有している。入力スイッチ群
４３には、フィルター１００の移動位置を指定するため
の座標データを入力するためのスイッチの他、座標入力
を行う際の座標系をＲＭＤＳモードとＦＳＤＳモードと
に切り換える座標切換スイッチ（図示せず）を備えてい
る。制御盤４１は、また、出力装置４５を有し、操作ス
イッチ４２の操作により、フィルター位置の特定の位置
を記憶するとともに、出力装置４５にプリントアウトで
きるようにしている。
【００１６】図４は、顕微鏡２１のステージ２２に設け
られたフィルター１００を移動するためのＸ軸移動機構
２４Ａ，Ｙ軸移動機構２４Ｂの詳細を示す。ステージ２
２は、フィルターを保持するためのホルダ５１を有し、
ホルダ５１はその取付部５１Ａにおいて可動台５２に設
けられたガイドシャフト５３により図中Ｘ方向に移動自
在に支持されている。取付部５１Ａには、また、スクリ
ュウ５４が貫通する螺子穴を有する。スクリュウ５４は
前述の駆動モータ３２Ａにより回転駆動され、これによ
ってホルダ５１はＸ方向に移動する。
られたフィルター１００を移動するためのＸ軸移動機構
２４Ａ，Ｙ軸移動機構２４Ｂの詳細を示す。ステージ２
２は、フィルターを保持するためのホルダ５１を有し、
ホルダ５１はその取付部５１Ａにおいて可動台５２に設
けられたガイドシャフト５３により図中Ｘ方向に移動自
在に支持されている。取付部５１Ａには、また、スクリ
ュウ５４が貫通する螺子穴を有する。スクリュウ５４は
前述の駆動モータ３２Ａにより回転駆動され、これによ
ってホルダ５１はＸ方向に移動する。
【００１７】一方、可動台５２はステージ２２に対し
て、図中Ｙ方向に移動可能に支持されており、端部にお
いてスクリュウ５５が貫通している。スクリュウ５５は
駆動モータ３２Ｂによって回転駆動され、これによっ
て、可動台５２はＹ方向に移動するようにしている。図
５は、ＳＦＤＳ２０の操作の制御系統を示すブロック図
である。制御ボックス３１は制御装置３３を有し、操作
盤４１の各種スイッチからの入力信号に基づき各種演算
処理を行い、Ｘ軸、Ｙ軸駆動モータ３２Ａ，３２Ｂに制
御信号を出力するとともに、操作盤４１の出力装置４３
に所定データを出力する。
て、図中Ｙ方向に移動可能に支持されており、端部にお
いてスクリュウ５５が貫通している。スクリュウ５５は
駆動モータ３２Ｂによって回転駆動され、これによっ
て、可動台５２はＹ方向に移動するようにしている。図
５は、ＳＦＤＳ２０の操作の制御系統を示すブロック図
である。制御ボックス３１は制御装置３３を有し、操作
盤４１の各種スイッチからの入力信号に基づき各種演算
処理を行い、Ｘ軸、Ｙ軸駆動モータ３２Ａ，３２Ｂに制
御信号を出力するとともに、操作盤４１の出力装置４３
に所定データを出力する。
【００１８】以上の構成からなるＳＦＤＳ２０を使用し
て観察する場合、、顕微鏡２１のステージ２２に設けら
れたホルダ５１に調整された試料フィルターを載せた
後、操作盤４１の入力スイッチ４３により座標を入力す
ることにより、ホルダ５１を移動させて試料フィルター
の必要位置を観察することができる。そして、観察中に
記録すべき観察点がある場合、操作スイッチ４２のうち
所定のスイッチを操作して、その観察点の座標を記憶す
る。観察終了後、必要があれば出力装置４５により、記
憶した座標をプリントアウトする。
て観察する場合、、顕微鏡２１のステージ２２に設けら
れたホルダ５１に調整された試料フィルターを載せた
後、操作盤４１の入力スイッチ４３により座標を入力す
ることにより、ホルダ５１を移動させて試料フィルター
の必要位置を観察することができる。そして、観察中に
記録すべき観察点がある場合、操作スイッチ４２のうち
所定のスイッチを操作して、その観察点の座標を記憶す
る。観察終了後、必要があれば出力装置４５により、記
憶した座標をプリントアウトする。
【００１９】本実施例からなるＳＦＤＳは、更に、ホル
ダ５１の移動位置を設定するために座標を入力する際、
ＳＦＤＳの座標値を入力することなく、ＲＭＤＳの座標
値を直接入力して、これをＳＦＤＳの座標値に変換する
機能を持たせている。即ち、制御ボックス３１の制御装
置３３は、操作盤４１からのＲＭＤＳ座標値の入力を受
けてこれをＳＦＤＳ座標に変換するための後述の演算処
理を行うプログラムを内蔵している。したがって、入力
スイッチ４３のうちの座標切換スイッチをＲＭＤＳモー
ドに切り換えることにより、入力スイッチ４３より、Ｒ
ＭＤＳで確認した座標をそのまま入力すれば、制御装置
３３は、これを所定の変換式により演算してＳＦＤＳ座
標に自動的に変換するようにしている。
ダ５１の移動位置を設定するために座標を入力する際、
ＳＦＤＳの座標値を入力することなく、ＲＭＤＳの座標
値を直接入力して、これをＳＦＤＳの座標値に変換する
機能を持たせている。即ち、制御ボックス３１の制御装
置３３は、操作盤４１からのＲＭＤＳ座標値の入力を受
けてこれをＳＦＤＳ座標に変換するための後述の演算処
理を行うプログラムを内蔵している。したがって、入力
スイッチ４３のうちの座標切換スイッチをＲＭＤＳモー
ドに切り換えることにより、入力スイッチ４３より、Ｒ
ＭＤＳで確認した座標をそのまま入力すれば、制御装置
３３は、これを所定の変換式により演算してＳＦＤＳ座
標に自動的に変換するようにしている。
【００２０】〔座標の変換〕次に、ＲＭＤＳで得たフィ
ルターの画像における座標系をＳＦＤＳの座標系に変換
する手順について述べる。なお、図６は、（１）ＲＭＤ
Ｓ座標系と（２）ＳＦＤＳ座標系を示す。 （１）ＡＴＰ溶液に色素を混ぜ、フィルターにスポット
し、座標設定用試料を作成する。 （２）当該試料をＲＭＤＳの試料台に設置した時に、試
料と試料台との任意の位置に相対応するマーカを付す。
続いて、ＲＭＤＳにより上記ＡＴＰ溶液のスポットによ
り発生した輝点の座標を確認する（ｘ，ｙ）。 （３）そのフィルターをＳＦＤＳにセットする。この
時、ＳＦＤＳの試料台もしくは試料保持手段に、目印を
任意に設け、前記フィルタに付してあるマーカーと前記
目印とを一致させるようフィルタを設置する。続いてフ
ィルタ上に形成したスポットの色素が顕微鏡の視野に入
る座標を記録する（Ｘ，Ｙ）。 （４）この操作で少なくとも異なる３点のスポットを測
定し、夫々の座標を得る。そして、そのうちの１つの点
（（ｘ０，ｙ０），（Ｘ０，Ｙ０））を仮原点とし、他
の２つの座標（（ｘ１，ｙ１），（Ｘ１，Ｙ１）），
（（ｘ２，ｙ２），（Ｘ２，Ｙ２））を変換式作成用の
点とする。 （５）座標（（ｘ１，ｙ１），（Ｘ１，Ｙ１）），
（（ｘ２，ｙ２），（Ｘ２，Ｙ２））を次の式（１）に
代入し、式（２）を得る。
ルターの画像における座標系をＳＦＤＳの座標系に変換
する手順について述べる。なお、図６は、（１）ＲＭＤ
Ｓ座標系と（２）ＳＦＤＳ座標系を示す。 （１）ＡＴＰ溶液に色素を混ぜ、フィルターにスポット
し、座標設定用試料を作成する。 （２）当該試料をＲＭＤＳの試料台に設置した時に、試
料と試料台との任意の位置に相対応するマーカを付す。
続いて、ＲＭＤＳにより上記ＡＴＰ溶液のスポットによ
り発生した輝点の座標を確認する（ｘ，ｙ）。 （３）そのフィルターをＳＦＤＳにセットする。この
時、ＳＦＤＳの試料台もしくは試料保持手段に、目印を
任意に設け、前記フィルタに付してあるマーカーと前記
目印とを一致させるようフィルタを設置する。続いてフ
ィルタ上に形成したスポットの色素が顕微鏡の視野に入
る座標を記録する（Ｘ，Ｙ）。 （４）この操作で少なくとも異なる３点のスポットを測
定し、夫々の座標を得る。そして、そのうちの１つの点
（（ｘ０，ｙ０），（Ｘ０，Ｙ０））を仮原点とし、他
の２つの座標（（ｘ１，ｙ１），（Ｘ１，Ｙ１）），
（（ｘ２，ｙ２），（Ｘ２，Ｙ２））を変換式作成用の
点とする。 （５）座標（（ｘ１，ｙ１），（Ｘ１，Ｙ１）），
（（ｘ２，ｙ２），（Ｘ２，Ｙ２））を次の式（１）に
代入し、式（２）を得る。
【００２１】なお、ここで代入する（ｘ，ｙ），（Ｘ，
Ｙ）は、常に仮原点（（ｘ０，ｙ０），（Ｘ０，Ｙ
０））からの相対的な値とするため、各座標値から、
（ｘ０，ｙ０），（Ｘ０，Ｙ０）の座標値を引く必要が
ある。
Ｙ）は、常に仮原点（（ｘ０，ｙ０），（Ｘ０，Ｙ
０））からの相対的な値とするため、各座標値から、
（ｘ０，ｙ０），（Ｘ０，Ｙ０）の座標値を引く必要が
ある。
【００２２】
【数１】
【００２３】
【数２】
【００２４】（６）次式（３）により、ａ，ｂ，ｃ，ｄ
を求める。これにより、座標変換式（４）が確定する。
を求める。これにより、座標変換式（４）が確定する。
【００２５】
【数３】
【００２６】（７）ＲＭＤＳ座標（ｘ３，ｙ３）から、
ＳＦＤＳ座標（Ｘ３，Ｙ３）への変換は、次式（４）に
座標（ｘ３，ｙ３）を代入して求めることができる。こ
の場合、予め（ｘ３，ｙ３）をＲＭＤＳ座標の仮原点を
基準にした数値に補正し、また、計算により得られた座
標（Ｘ３，Ｙ３）をＳＦＤＳ座標の仮原点を基準とした
数値に補正する（仮原点（Ｘ０，Ｙ０）を加算する）。
ＳＦＤＳ座標（Ｘ３，Ｙ３）への変換は、次式（４）に
座標（ｘ３，ｙ３）を代入して求めることができる。こ
の場合、予め（ｘ３，ｙ３）をＲＭＤＳ座標の仮原点を
基準にした数値に補正し、また、計算により得られた座
標（Ｘ３，Ｙ３）をＳＦＤＳ座標の仮原点を基準とした
数値に補正する（仮原点（Ｘ０，Ｙ０）を加算する）。
【００２７】
【数４】
【００２８】
【実施例】次に、ＲＭＤＳとＳＦＤＳの座標の具体的数
値を使用して座標変換式を求めた例について述べる。 （１）先ず、フィルター上の選択した３点について上述
の手順（１）〜（３）に従い、表１に示す実測値を得
た。なお、３点のうち、点（（２２６、９４）、（３
４．９６，１２．６３）を仮原点とし、他の２点を変換
式設定用の点とした。
値を使用して座標変換式を求めた例について述べる。 （１）先ず、フィルター上の選択した３点について上述
の手順（１）〜（３）に従い、表１に示す実測値を得
た。なお、３点のうち、点（（２２６、９４）、（３
４．９６，１２．６３）を仮原点とし、他の２点を変換
式設定用の点とした。
【００２９】
【表１】
【００３０】（２）次に、上記手順（４）に従い、各座
標の実測値を、仮原点に対する相対値として示すと表２
のようになる。また、ＲＭＤＳの座標系は画素単位であ
り、とＳＦＤＳの座標系はｍｍ単位である。
標の実測値を、仮原点に対する相対値として示すと表２
のようになる。また、ＲＭＤＳの座標系は画素単位であ
り、とＳＦＤＳの座標系はｍｍ単位である。
【００３１】
【表２】
【００３２】（３）表２の座標（（ｘ１，ｙ１），（Ｘ
１，Ｙ１）），（（ｘ２，ｙ２），（Ｘ２，Ｙ２））の
値を用い、上記手順（６）に従い、係数ａ，ｂ，ｃ，ｄ
を得る。結果は表２に示すとおりとなる。 （４）以上の結果から、ＲＭＤＳの座標（ｘ３，ｙ３）
からＳＦＤＳの座標（Ｘ３，Ｙ３）への変換式は下記の
通りとなる。
１，Ｙ１）），（（ｘ２，ｙ２），（Ｘ２，Ｙ２））の
値を用い、上記手順（６）に従い、係数ａ，ｂ，ｃ，ｄ
を得る。結果は表２に示すとおりとなる。 （４）以上の結果から、ＲＭＤＳの座標（ｘ３，ｙ３）
からＳＦＤＳの座標（Ｘ３，Ｙ３）への変換式は下記の
通りとなる。
【００３３】Ｘ３＝０．０９９０１８・ｘ３＋０．００
０１７９・ｙ３ Ｙ３＝−０．００２０７・ｘ３＋０．１０１０４８・ｙ
３ 〔実験例〕次に、上記変換式による座標変換の精度を調
べるために行った実験について述べる。 （１）フィルターに１０個程度の酵母を添加して濾過を
行った。 （２）これをＲＭＤＳ処理を行い、ＲＭＤＳで観察して
図７（Ａ）に示す画像データを得た。 （３）ＲＭＤＳにおいて発生した輝点について座標を測
定した（図７（Ｂ），（ａ））。 （４）実測値（ａ）より仮原点座標により相対的座標
（ｂ）を得た。 （５）座標変換式（４）によりＳＦＤＳの補正計算座標
を（ｃ）。 （６）補正計算座標に仮原点座標値を加えてＳＦＤＳの
計算座標を得た（ｅ）。 （７）フィルターをアクリジンオレンジにより染色し、
確認した点の近辺を２００倍の蛍光顕微鏡で観察した結
果、（ｅ）に記載された座標に酵母状の物質を確認する
ことができた。 （８）計算値（ｄ）と実測値（ｅ）の差をとり（ｆ）、
座標変換式の精度を評価した。
０１７９・ｙ３ Ｙ３＝−０．００２０７・ｘ３＋０．１０１０４８・ｙ
３ 〔実験例〕次に、上記変換式による座標変換の精度を調
べるために行った実験について述べる。 （１）フィルターに１０個程度の酵母を添加して濾過を
行った。 （２）これをＲＭＤＳ処理を行い、ＲＭＤＳで観察して
図７（Ａ）に示す画像データを得た。 （３）ＲＭＤＳにおいて発生した輝点について座標を測
定した（図７（Ｂ），（ａ））。 （４）実測値（ａ）より仮原点座標により相対的座標
（ｂ）を得た。 （５）座標変換式（４）によりＳＦＤＳの補正計算座標
を（ｃ）。 （６）補正計算座標に仮原点座標値を加えてＳＦＤＳの
計算座標を得た（ｅ）。 （７）フィルターをアクリジンオレンジにより染色し、
確認した点の近辺を２００倍の蛍光顕微鏡で観察した結
果、（ｅ）に記載された座標に酵母状の物質を確認する
ことができた。 （８）計算値（ｄ）と実測値（ｅ）の差をとり（ｆ）、
座標変換式の精度を評価した。
【００３４】評価の結果にも示されるように、最大誤差
はＸ軸で１．６ｍｍ、Ｙ軸で０．５３ｍｍであった。即
ち、フィルター全面（直径；４７ｍｍ）に対して±１．
６×±０．５ｍｍの範囲の視野を観察すれば、ＲＭＤＳ
で発生した輝点をＳＦＤＳにより観察できることとな
る。以上、本発明の実施例を、微生物迅速検査装置から
自動掃引装置付顕微鏡の２つの異なる観察装置間を試料
フィルターを移動して観察する場合を例にして述べた
が、観察装置として、上記２種類の観察装置に限定する
必要はなく、それぞれ異なる観察座標系を有する観察装
置間で試料を移動するものであれば適用できることは明
らかであろう。
はＸ軸で１．６ｍｍ、Ｙ軸で０．５３ｍｍであった。即
ち、フィルター全面（直径；４７ｍｍ）に対して±１．
６×±０．５ｍｍの範囲の視野を観察すれば、ＲＭＤＳ
で発生した輝点をＳＦＤＳにより観察できることとな
る。以上、本発明の実施例を、微生物迅速検査装置から
自動掃引装置付顕微鏡の２つの異なる観察装置間を試料
フィルターを移動して観察する場合を例にして述べた
が、観察装置として、上記２種類の観察装置に限定する
必要はなく、それぞれ異なる観察座標系を有する観察装
置間で試料を移動するものであれば適用できることは明
らかであろう。
【００３５】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、それぞれ異
なる二つの位置指定用座標系を持つ観察装置で試料を観
察する場合、一方の観察装置で確認した試料上に部位に
ついて、他方の観察装置で観察する場合当該部位に容易
にアクセスするこが可能となり、迅速に２つの観察装置
による観察を行うことができる。
なる二つの位置指定用座標系を持つ観察装置で試料を観
察する場合、一方の観察装置で確認した試料上に部位に
ついて、他方の観察装置で観察する場合当該部位に容易
にアクセスするこが可能となり、迅速に２つの観察装置
による観察を行うことができる。
【図１】微生物迅速検査装置のシステム構成図である。
【図２】微生物迅速検査装置の映像における撮像管の画
素単位の座標を説明する図である。
素単位の座標を説明する図である。
【図３】自動掃引装置付顕微鏡のシステム構成図であ
る。
る。
【図４】自動掃引装置付顕微鏡の試料ステージの移動機
構を説明する図である。
構を説明する図である。
【図５】自動掃引装置付顕微鏡の制御装置を説明するブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】ＲＭＤＳとＳＦＤＳの座標系を説明する図であ
る。
る。
【図７】ＲＭＤＳからＳＦＤＳへの座標系の変換の実験
例を示す図である。
例を示す図である。
１ 高感度テレビカメラ、 ２ カメラコントローラ ３ イメージプロセッサ３ ４ データ解析装置 ５ テレビモニター １０ 微生物迅速検査装置 ２０ 自動掃引装置付き顕微鏡（ＳＦＤＳ） ２１ 顕微鏡 ２４Ａ Ｘ軸移動機構 ２４Ｂ Ｙ軸移動機構 ３１ 制御ボックス３１ ３２Ａ Ｘ軸駆動モータ ３２Ｂ Ｙ軸駆動モータ ４１ 操作盤４１ ４２Ａ，４２Ｂ 操作スイッチ ４３ 入力スイッチ
Claims (2)
- 【請求項１】 任意の位置に観察点を少なくとも３点設
け、試料と試料台との相対位置を設定するためにマーカ
ーを付した座標設定用試料を第１の観察装置の試料台に
設置して上記観察点の座標を読み取る段階と、 前記試料を前記第１の観察装置より取り外し、第２の観
察装置に設置し、前記第２の観察装置固有の座標を用い
て前記観察点の座標を読み取る段階と、 上記観察点のうち、任意の点を仮原点とし、他の２点の
座標を前記仮原点を基準とした座標に補正して下記式
（１）に代入し、ａ，ｂ，ｃ，ｄを算出し座標変換式を
確定する段階と、 第１の観察装置の座標を前記確定した座標変換式に代入
して求めた値に前記第２の観察装置の仮原点の座標に基
づいて補正して第２の観察装置固有の座標を求める段階
と、からなる異なる観察装置の位置設定手段における座
標変換方法。 ｘｎ＝ａＸｎ＋ｂＹｎ，ｙｎ＝ｃＸｎ＋ｄＹｎ・・・（１） - 【請求項２】 観察位置を座標により特定するための第
１の座標系を有する位置設定手段を備える観察装置にお
いて、前記位置設定手段は、当該観察装置と異なる第２
の座標系を有する位置設定手段を備える他の観察装置の
前記第２の座標系を前記第１の座標系に変換する座標変
換手段を備える観察装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09357799A JP3689584B2 (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | 観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置 |
| EP00912986A EP1085292A4 (en) | 1999-03-31 | 2000-03-30 | METHOD FOR COORDINATE TRANSFORMATION AND ITS APPLICATION IN A POSITIONING DEVICE |
| US09/700,721 US6489625B1 (en) | 1999-03-31 | 2000-03-30 | Coordinate transforming method in position setting means of observation device and observation device equipped with coordinate transforming means |
| PCT/JP2000/002035 WO2000058690A1 (fr) | 1999-03-31 | 2000-03-30 | Procede de transformation de coordonnees dans un moyen de reglage de position de dispositif d'observation, et dispositif d'observation equipe d'un moyen de transformation de coordonnees |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09357799A JP3689584B2 (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | 観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000284186A true JP2000284186A (ja) | 2000-10-13 |
| JP3689584B2 JP3689584B2 (ja) | 2005-08-31 |
Family
ID=14086134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09357799A Expired - Fee Related JP3689584B2 (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | 観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換手段を備える観察装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6489625B1 (ja) |
| EP (1) | EP1085292A4 (ja) |
| JP (1) | JP3689584B2 (ja) |
| WO (1) | WO2000058690A1 (ja) |
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| JP2005181312A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Palo Alto Research Center Inc | サンプル媒体上のレチクルマークを用いて、希少細胞のスキャナ画像座標を顕微鏡座標に変換する方法 |
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| US9111343B2 (en) | 2011-01-18 | 2015-08-18 | Roche Diagnostics Hematology, Inc. | Microscope slide coordinate system registration |
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| US7369304B2 (en) | 1999-10-29 | 2008-05-06 | Cytyc Corporation | Cytological autofocusing imaging systems and methods |
| AU2883702A (en) * | 2000-11-03 | 2002-05-15 | Cytyc Corp | Cytological imaging systems and methods |
| AU2002305563A1 (en) * | 2001-05-11 | 2002-11-25 | Emerald Biostructures, Inc. | Plate mover for crystallization data collection |
| US6683316B2 (en) * | 2001-08-01 | 2004-01-27 | Aspex, Llc | Apparatus for correlating an optical image and a SEM image and method of use thereof |
| DE102006001427B4 (de) * | 2005-03-04 | 2021-02-04 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zum Beleuchten einer Probe |
| KR101274088B1 (ko) * | 2005-06-13 | 2013-06-12 | 트리패스 이미징, 인코포레이티드 | 현미경 이미지 장치를 이용한 슬라이드상의 시료 내의 물체를 재배치하기 위한 시스템 및 방법 |
| JP2007019270A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Hitachi High-Technologies Corp | 顕微鏡を用いた欠陥観察方法および観察装置 |
| DE102006061067A1 (de) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Tischtrieb für Mikroskope |
| US9017610B2 (en) * | 2008-04-25 | 2015-04-28 | Roche Diagnostics Hematology, Inc. | Method of determining a complete blood count and a white blood cell differential count |
| US9602777B2 (en) | 2008-04-25 | 2017-03-21 | Roche Diagnostics Hematology, Inc. | Systems and methods for analyzing body fluids |
| CN101900876B (zh) * | 2009-05-25 | 2015-11-25 | 夏潮涌 | 一种在屏幕上按准确倍率显示与标示显微镜镜下景像的方法 |
| JP6480713B2 (ja) | 2014-11-18 | 2019-03-13 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
| CN106291897A (zh) * | 2016-08-23 | 2017-01-04 | 宁波江丰生物信息技术有限公司 | 一种组织切片扫描装置以及组织切片扫描方法 |
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| JP2840801B2 (ja) * | 1992-12-01 | 1998-12-24 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 座標変換係数の自動設定方法 |
| JP3254031B2 (ja) * | 1993-03-09 | 2002-02-04 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 座標変換方法 |
| JP3130222B2 (ja) * | 1995-02-14 | 2001-01-31 | 三菱電機株式会社 | 微小異物の分析方法、分析装置およびこれらを用いる半導体素子もしくは液晶表示素子の製法 |
| JP3280531B2 (ja) * | 1995-02-14 | 2002-05-13 | 三菱電機株式会社 | 微小異物の分析方法、分析装置およびこれらを用いる半導体素子もしくは液晶表示素子の製法 |
| JPH1012686A (ja) * | 1996-06-20 | 1998-01-16 | Komatsu Electron Metals Co Ltd | 半導体ウェーハの表面異物検査方法 |
-
1999
- 1999-03-31 JP JP09357799A patent/JP3689584B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-03-30 US US09/700,721 patent/US6489625B1/en not_active Expired - Fee Related
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