JP2000277557A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2000277557A
JP2000277557A JP11083519A JP8351999A JP2000277557A JP 2000277557 A JP2000277557 A JP 2000277557A JP 11083519 A JP11083519 A JP 11083519A JP 8351999 A JP8351999 A JP 8351999A JP 2000277557 A JP2000277557 A JP 2000277557A
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electrode
semiconductor element
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pattern
semiconductor device
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Yuji Uno
雄二 鵜野
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Denso Ten Ltd
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Publication date
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    • H01L2924/351Thermal stress

Abstract

(57)【要約】 【課題】 大電力半導体装置におけるソース電極とボン
ディングワイヤとの接合部分が発熱による熱膨張で破損
してしまうのを防止し、また超音波振動によるソース電
極の損傷を防止する。 【解決手段】 半導体素子のソース電極3に接合し、該
電極3とほぼ同じ面積を有する平板状の電極接合部71
が形成されたソースリード部材5が設けられ、前記ソー
スリード部材5の電極接合部71がはんだ91を介して
前記電極3に接合されてなることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子の電極
とボンディングワイヤ等の接続部材との接合構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置においては半導体素子
の(FETの場合)ドレイン電極は外部回路基板あるい
は金属板に直接はんだ等の接合部材で接合され、ゲート
電極、ソース電極はアルミニュウム製のボンディングワ
イヤ(金属細線)を介して外部回路と超音波振動により
接合されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、特に大電力半
導体装置では大電流を流すため、大電流を流すソース電
極に接続されているアルミニュウム製のボンディングワ
イヤの本数を多くする必要があるが、電極の面積により
制限され、また、ボンディングワイヤの本数が多いと接
合時間が多く掛かる。また、ボンディングワイヤはもと
もと電極に対する接合面積が小さいため、ボンディング
ワイヤと電極との接合部分の接続抵抗が少しでも大きい
と、ボンディングワイヤが大電流のため大きな発熱を起
こし接合部分が剥離する場合がある。またボンディング
ワイヤの接合抵抗を小さくするために、すなわち確実に
接続するために、超音波振動工程における加重、時間等
の負荷を掛け過ぎると電極に傷がはいる等して素子が破
壊する。
【0004】本発明の目的は、半導体素子の電極の接合
部分が剥離することなく大電流を流すことができ、また
超音波振動による半導体素子の破壊を防止することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の問題を解
決するもので、半導体素子の電極に接合し、該電極に対
応した面積を有する平板状の電極接合部が形成されたリ
ード部材が設けられ、前記リード部材の電極接合部が接
合部材を介して前記電極に接合されてなることを特徴と
し、また、前記電極接合部の前記電極と対向する面に突
起が設けられてなることを特徴とし、また、半導体素子
の電極に接合し、該電極に対応した面積を有する平板状
のパッド部材が設けられ、前記パッド部材が接合部材を
介して前記電極に接合され、該パッド部材の該電極とは
反対の面に金属細線の一端が接合されてなることを特徴
とし、また、前記パッド部材には前記半導体素子の複数
の電極に対応する位置に複数の突起が設けられ該突起が
該電極に接合部材を介して接合されてなることを特徴と
し、また、両面に電極を有する半導体素子と、前記半導
体素子の上面電極に対応する上面電極用パターンが配置
された上面基板と、前記半導体素子の下面の電極に対応
する下面電極用パターンが配置された下面基板とからな
り、該半導体素子の上面電極と、これに対応する上面電
極用パターンが接合部材を介して接合され、該半導体素
子の下面電極と、これに対応する下面電極用パターンが
接合部材を介して接合されてなることを特徴とし、ま
た、前記上面電極用パターン、または前記下面電極用パ
ターンには、前記半導体素子の上面電極または下面電極
との接合時において、該半導体素子の所定部分と非接触
になる溝が形成されてなることを特徴とし、また、前記
上面電極パターンが前記半導体素子よりも一方方向に延
設され、前記下面電極用パターンが該半導体素子よりも
他方方向に延設され前記延設された上面電極用パターン
の部分には、第1の外部接続部材が、前記延設された第
2のパターンの部分には、第2の外部接続部材がそれぞ
れ接合され、前記第1の外部接続部材と前記第2の外部
接続部材とが互いに非接触となることを特徴とし、ま
た、前記接合部材ははんだまたはろう部材からなること
を特徴とするものである。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施の形態に係る
半導体装置を図1を用いて説明する。
【0007】図1は第1の実施の形態に係る半導体装置
を示す図で、(a)は斜視図、(b)はA−A断面図で
ある。1はその上面に、大電流が流れる2個のソース電
極3と、信号電流が流れるゲート電極4が配置され、裏
面にドレイン電極2が配置された半導体素子である。
尚、本実施の形態の場合、半導体素子1の表面にあるソ
ース電極3とゲート電極4以外の領域は防湿等を目的と
してコーティングが施されており、非実装領域とされ
る。
【0008】5はソース電極3と接合される電極接合部
71を有するソースリード部材である。ソースリード部
材5は厚さ約0.2mm、幅約2.0mmをなし、銅合
金板からプレス成形された平板形状のものである。そし
てソースリード部材5の一端が電極接合部71として構
成され、その他端がはんだ付けによりソースパターン9
と接合されている。本図の場合、2つのソース電極3に
対応して2本のソースリード部材3が設けられている。
【0009】この電極接合部71はソースリード部材5
より延設されたものであるが、ソース電極3(四角形状
を有している)とほぼ同じ面積の平板形状をなすもので
ある。この電極接合部71ははんだ91を介してソース
電極3と接合されるものである。
【0010】そして、本実施の形態の場合、本図(b)
に示すようにソース電極3と電極接合部71とが所定の
間隔で対向するよう、ソース電極3と対向する面の電極
に当接する箇所にプレス押し出しで形成された直径0.
6mm、高さ0.1〜0.5mmの少なくとも1つの突起
51が形成されている。これによって、突起51の厚さ
の分はんだ91が厚くなり、大電流によって発生する接
合部にかかる熱応力をはんだ91で吸収することができ
る。
【0011】尚、本実施の形態では該突起51は2つの
ソース電極3に対して夫々1個づつ設けられている。
【0012】6はゲート電極4とゲートパターン10と
を接続するアルミニウム製のボンディングワイヤであ
る。7は表面に2箇所設けられたドレインパターン8,
81、ソースパターン9、ゲートパターン10を配置す
るベース基板である。
【0013】またベース基板7にはこれらドレインパタ
ーン81、ソースパターン9、ゲートパターン10とか
らの電気信号を集約し、装置外部との接続に用いられる
外部接続部材11が3本立設されている。
【0014】次に製造方法について説明する。基板7の
ドレインパターン8の所定の位置に、ペースト状のはん
だ90を塗布したドレイン電極2を当接する。このと
き、ソース電極3にソースリード部材5の電極接合部7
1を突起51で当接させたときにできるソース電極3と
電極接合部71との間隙にペースト上のはんだ91を充
填しておくとともに、ソースリード部材5の他端とソー
スパターン9との間にもペースト状はんだを充填してお
く。そして、加熱炉にてリフロー接合法によりはんだ9
0、及びはんだ91を溶融させ、ドレインパターン8を
ドレイン電極2に、ソースリード部材5の電極接合部7
1をソース電極3に、そしてソースリード部材5の他端
をソースパターン9にそれぞれ同時接合する。
【0015】尚、もう一本のソースリード部材5につい
ても上述のものと同工程である。
【0016】次に、ゲート電極4にボンディングワイヤ
6を、加圧しながら超音波振動を加え、この超音波振動
による溶接で接合する。
【0017】次に、ボンディングワイヤ6の他端をゲー
トパターン10に上述と同様超音波溶接で接合する。
尚、ドレインパターン8と他方のドレインパターン81
とを接続する部材もボンディングワイヤを採用し、上述
と同じように超音波振動によって該ボンディングワイヤ
と各ドレインパターン8,81とを接合する。
【0018】以上説明したように本実施の形態に係る半
導体装置は、ソース電極3の面積にほぼ等しい平板状の
電極接合部を有するソースリード部材5を用いることに
より、ソース電極に対する接合部材の接合面積を広くし
て接続抵抗を小さくすることができ、且つはんだ付けに
より接合を行うので、従来のようなボンディングワイヤ
を採用する必要がなくなる。これによって、接合部の剥
離を抑え、且つ超音波振動による半導体素子の破壊を防
止できる。
【0019】さらに突起51によりソース電極3とソー
スリード部材5との間に間隙を設け、この間隙にはんだ
91を充填すれば前記間隙分だけ厚肉のはんだ層を形成
することができ、ソース電極3とソースリード部材5間
の接続抵抗部分に流れる大電流によって発生する熱によ
るソース電極3とソースリード部材5の熱膨張の差異
を、はんだ91が塑性変形して吸収し、はんだが薄い場
合に発生するはんだ接合部の破断が防止できる。
【0020】尚、熱膨張の影響がなければこの突起51
を特に設けなくとも良い。
【0021】更に、本実施の形態においてはソース電極
について上記リード部材を採用しているが、大電流が流
れる電極であればその他の電極(ドレイン電極等)につ
いて採用してもよい。
【0022】また、半導体素子1の表面にあるコーティ
ングが非実装領域でなければ、電極接合部71の大きさ
をソース電極3の面積より大きくしてもよい。
【0023】本発明の第2の実施の形態に係る半導体装
置を図2を用いて説明する。
【0024】図2は第2の実施の形態に係る半導体装置
の断面図である。尚、本実施の形態においても第1の実
施の形態に係る半導体装置の基本構成と同様なので同じ
構成に付いては、同じ符号を付し説明を省略する。
【0025】15は銅合金または鉄ーニッケル合金など
電極材と熱膨張係数の近似した金属材料からなり、ソー
ス電極3とほぼ同じ面積の四角形状の金属製パッドであ
る。本実施の形態の場合、パッド15は2つのソース電
極3上にそれぞれ設けられており、後述するはんだによ
ってそれぞれのソース電極3と接合されている。またこ
のパッド15の上面にはアルミニュウム製のボンディン
グワイヤ16の一端が超音波振動により接合されてい
る。このボンディングワイヤ16の他端はソースパター
ン9に超音波振動により接合されている。
【0026】93はソース電極3とパッド15を接合す
るはんだである。
【0027】次に製造方法について説明する。尚、本実
施の形態はソース電極とソースパターン9の接続のみ異
なるのでこの部分の説明をする。ソース電極3とパッド
15をリフロー接合法によりはんだ93で接合する。次
に、パッド15のソース電極3との接合面の反対の面、
即ち上面にボンディングワイヤ16の一端を超音波振動
で接合する。次に、ボンディングワイヤ16の他端を、
ソースパターン9に超音波振動で接合する。
【0028】以上説明したように本実施の形態に係る半
導体装置は、ソース電極3にほぼ等しい面積のパッド1
5をはんだでソース電極3に接合させ、このパッド15
上でボンディングワイヤ16を接合するので、パッド1
5とソース電極3との接合部の剥離をなくすことがで
き、また振動と加圧がソース電極3に直接かからないの
でソース電極3が損傷することが無い。
【0029】尚、本実施の形態においてはソース電極に
ついて上記パッドを採用しているが、大電流が流れる電
極であればその他の電極(ドレイン電極等)について採
用してもよい。
【0030】また、半導体素子1の表面にあるコーティ
ングが非実装領域でなければ、パッド15の大きさをソ
ース電極3の面積より大きくしてもよい。
【0031】本発明の第3の実施の形態に係る半導体装
置を図3を用いて説明する。
【0032】図3は第3の実施の形態に係る半導体装置
の断面を示す図である。尚、第1の実施の形態に係る半
導体装置と同じ構成に付いては、同じ符号を付し説明を
省略する。19は銅合金または鉄ーニッケル合金など電
極材と熱膨張係数の近似した金属材料からなり、2つの
ソース電極3に対応する位置に2つのパッド脚部20が
設けられたパッドである。
【0033】このパッド脚部20のソース電極3と接合
する部分の面積はソース電極3の面積とほぼ同じとなる
よう形成されており、それぞれの脚部20ははんだ94
でソース電極3に接合されている。
【0034】パッド19の上面にはこの2つのソース電
極3に対応するべく2つのボンディングワイヤ16、1
6aの一端が超音波振動によりそれぞれ接合されてい
る。またこのボンディングワイヤ16、16aの他端は
共通してソースパターン9に超音波振動により接合され
ている。
【0035】次に製造方法について説明する。尚、本実
施の形態はソース電極とパッドの接続方法のみ異なるの
でこの部分の説明をする。
【0036】本実施の形態では、2つのソース電極3と
パッド19の脚部20をそれぞれリフロー接合法により
はんだ94で接合する。
【0037】次に、パッド19のソース電極3との接合
面の反対面、すなわち上面にボンディングワイヤ16、
16aの一端を超音波振動で接合する。またボンディン
グワイヤ16、16aの他端はソースパターン9に超音
波振動で接合される。
【0038】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、第2の実施の形態による作用効果だけでなく、1つ
のパッド上に複数のボンディングワイヤを接合させるこ
とができ、半導体素子の特性に合わせて接合させるべき
ボンディングワイヤの本数の自由度を向上させることが
できる。
【0039】尚、本例のような脚部20を第1の実施の
形態のソースリード部材5に適用しても良い。
【0040】本発明の第4の実施の形態に係る半導体装
置を図4を用いて説明する。
【0041】図4は第4の実施の形態に係る半導体装置
の断面を示す図で、(a)は装置の断面図、(b)はB
部拡大図である。尚、説明を分かり易くするために、半
導体素子70には電極が上下面に夫々1つづつ設けられ
た構造とする。70は上面に上面電極29と下面に下面
電極30が配置された半導体素子である。22は上面電
極29に対応する上面電極用パターン24が配置された
上面基板である。この上面電極用パターン24は半導体
素子70を上面電極用パターン24に接合したとき該半
導体素子70のシリコンエッジ37が上面電極用パター
ン24と非接触となるようプレス加工等で形成された溝
28が設けられている。23は下面電極30に対応する
下面電極用パターン241が配置された下面基板であ
る。
【0042】次に製造方法について説明する。下面基板
23の下面電極用パターン241を上面に向け、水平状
に置き、下面電極30とほぼ同一の面積の箔状はんだを
介して半導体素子70の下面電極30を下面電極用パタ
ーン241の対応する位置に積重ねる。次に、半導体素
子70の上面電極29を該電極29より小さい面積の箔
状はんだを介して上面電極用パターン24の該電極29
と対応する位置に積重ねる。前記の層状に積重ねた集層
部材を(加熱炉に入れてはんだを溶融し、炉外にて)リ
フロー接合する。尚、上面基板22と半導体素子70と
下面基板23との相互の配置を精密に定める必要がある
場合は夫々の部材の接合面に突部あるいはこれにはまり
合う凹部を配置する。あるいは、はんだ接合時点まで各
部材の外周に当接して部材の位置を規制する治具を用い
ても良い。
【0043】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、第1の実施の形態による効果だけでなく、電極とパ
ターンとの接続に接続部材そのものが不要となりコスト
が節減できる。また半導体素子のシリコン基板のエッジ
と非接触にすべき上面電極用パターン24との間に空隙
が確保され、いわゆる、エッジタッチが防止できる。
尚、本例では溝28を設けるようにしたが、エッジタッ
チの問題がなければ特に設けなくとも良い。
【0044】図5は第5の実施の形態に係る半導体装置
の断面図である。尚、説明を分かり易くするために、半
導体素子には電極が上下面に夫々1つづつ設けられた構
造とする。70は上面に上面電極29と下面に下面電極
30が配置された半導体素子である。45は上面電極2
9に対応する上面電極用パターン53が半導体素子70
の右端より更に延長されてなる外部接続部55を有する
上面基板である。46は下面電極30に対応する下面電
極用パターン54が半導体素子70の左端より更に延長
されてなる外部接続部56を有する下面基板である。5
1、52は上面電極用パターン53の外部接続部55及
び下面電極用パターン54の外部接続部56と装置外部
とを接続するアルミニュウム製のボンディングワイヤで
ある。
【0045】次に製造方法に付いて説明する。下面基板
46の下面電極用パターン54を上面に向け、水平状に
置き、下面電極30とほぼ同一面積の箔状はんだを介し
て半導体素子70の下面側電極30を下面電極用パター
ン54と対応する位置に積重ねる。次に、半導体素子7
0の上面電極29を該電極29とほぼ同一の面積の箔状
はんだを介して上面電極用パターン53の該電極29と
対応する位置に積重ねる。前記の層状に積重ねた集層部
材を(加熱炉に入れてはんだを溶融し、炉外にてはんだ
接合する)リフロー接合する。尚、下面基板46と半導
体素子70と上面基板45との相互の配置を精密に定め
る必要がある場合は夫々の部材の接合面に突部あるいは
これにはまり合う凹部を配置する。あるいは、はんだ接
合時点まで各部材の外周に当接して部材の位置を規制す
る治具を用いても良い。次に上面側ボンディングワイヤ
51と外部接続部55、下面側ボンディングワイヤ52
と外部接続部56を夫々、超音波振動により溶接する。
【0046】尚、上記では上面電極用パターン53と下
面電極用パターン54の延長方向が半導体素子29を中
心にして互いに180度反対方向にある例を示したが、
ボンディングワイヤの超音波溶接作業ができ、上面側ボ
ンディングワイヤと下面側ボンディングワイヤとが接触
しない範囲であれば、互いの延長方向が180度反対で
なくとも良い。
【0047】また、外部接続用部材としてボンディング
ワイヤを採用したが、これに限定されず、リード部材を
採用してはんだ付けにより外部と接続してもよい。
【0048】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、第4の実施の形態による効果だけでなく、上側、下
側のパターンを互いにずらして延設しているので、ボン
ディングワイヤを超音波振動させるとき、接合部分が開
放空間であるので超音波溶接作業がし易く、また互いの
ボンディングワイヤが接触することも無い。
【0049】また、以上説明した実施の形態においては
接合部材をはんだとしたがこれに限らず、ろう部材等を
用いてもよい。
【0050】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、半
導体素子の電極の接合部分が剥離することなく大電流を
流すことができ、また超音波振動による半導体素子の破
壊を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る半導体装置を
示す図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係る半導体装置の
断面を示す図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態に係る半導体装置の
断面を示す図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態に係る半導体装置の
断面を示す図である。
【図5】本発明の第5の実施の形態に係る半導体装置の
断面を示す図である。
【符号の説明】
1・・・・・半導体素子 2・・・・・ドレイン電極 3・・・・・・ソース電極 4・・・・・・ゲート電極 5・・・・・・ソースリード部材 9・・・・・・ソースパターン 51・・・・・突起 71・・・・・電極接合部

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子の電極に接合し、該電極に対
    応した面積を有する平板状の電極接合部が形成されたリ
    ード部材が設けられ、 前記リード部材の電極接合部が接合部材を介して前記電
    極に接合されてなることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記電極接合部の前記電極と対向する面
    に突起が設けられてなることを特徴とする請求項1記載
    の半導体装置。
  3. 【請求項3】 半導体素子の電極に接合し、該電極に対
    応した面積を有する平板状のパッド部材が設けられ、 前記パッド部材が接合部材を介して前記電極に接合さ
    れ、該パッド部材の該電極とは反対の面に金属細線の一
    端が接合されてなることを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記パッド部材には前記半導体素子の複
    数の電極に対応する位置に複数の突起が設けられ該突起
    が該電極に接合部材を介して接合されてなることを特徴
    とする請求項3記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 両面に電極を有する半導体素子と、 前記半導体素子の上面電極に対応する上面電極用パター
    ンが配置された上面基板と、 前記半導体素子の下面の電極に対応する下面電極用パタ
    ーンが配置された下面基板とからなり、該半導体素子の
    上面電極と、これに対応する上面電極用パターンが接合
    部材を介して接合され、該半導体素子の下面電極と、こ
    れに対応する下面電極用パターンが接合部材を介して接
    合されてなることを特徴とする半導体装置。
  6. 【請求項6】 前記上面電極用パターン、または前記下
    面電極用パターンには、前記半導体素子の上面電極また
    は下面電極との接合時において、該半導体素子の所定部
    分と非接触になる溝が形成されてなることを特徴とする
    請求項5記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記上面電極パターンが前記半導体素子
    よりも一方方向に延設され、前記下面電極用パターンが
    該半導体素子よりも他方方向に延設され前記延設された
    上面電極用パターンの部分には、装置外部と接続する第
    1の外部接続部材が、前記延設された第2のパターンの
    部分には、装置外部と接続する第2の外部接続部材がそ
    れぞれ接合され、前記第1の外部接続部材と前記第2の
    外部接続部材とが互いに非接触となることを特徴とする
    請求項5記載の半導体装置。
  8. 【請求項8】 前記接合部材ははんだまたはろう部材か
    らなることを特徴とする請求項1乃至請求項7記載の半
    導体装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001210671A (ja) * 2000-01-28 2001-08-03 Nec Kansai Ltd 半導体装置
JP2005129886A (ja) * 2003-10-03 2005-05-19 Fuji Electric Holdings Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2005244166A (ja) * 2004-01-30 2005-09-08 Denso Corp 半導体装置
JP2007288075A (ja) * 2006-04-19 2007-11-01 Nippon Inter Electronics Corp 半導体装置
JP2008041743A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Mitsubishi Electric Corp 電力制御用半導体装置
JP2012074543A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2013065836A (ja) * 2011-08-31 2013-04-11 Mitsubishi Electric Corp 電極部材およびこれを用いた電力用半導体装置
JPWO2012157583A1 (ja) * 2011-05-13 2014-07-31 富士電機株式会社 半導体装置とその製造方法
EP3385983A1 (de) * 2017-04-04 2018-10-10 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Adaptersystem zur kontaktbereichsvergrösserung zumindest einer kontaktoberfläche auf zumindest einem elektronikbauteil und verfahren zur kontaktbereichsvergrösserung

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001210671A (ja) * 2000-01-28 2001-08-03 Nec Kansai Ltd 半導体装置
JP2005129886A (ja) * 2003-10-03 2005-05-19 Fuji Electric Holdings Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2005244166A (ja) * 2004-01-30 2005-09-08 Denso Corp 半導体装置
JP2007288075A (ja) * 2006-04-19 2007-11-01 Nippon Inter Electronics Corp 半導体装置
JP4606376B2 (ja) * 2006-04-19 2011-01-05 日本インター株式会社 半導体装置
JP2008041743A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Mitsubishi Electric Corp 電力制御用半導体装置
CN102437138B (zh) * 2010-09-29 2016-06-08 三菱电机株式会社 半导体装置
CN102437138A (zh) * 2010-09-29 2012-05-02 三菱电机株式会社 半导体装置
US8823151B2 (en) 2010-09-29 2014-09-02 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
JP2012074543A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US10529656B2 (en) 2010-09-29 2020-01-07 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
JPWO2012157583A1 (ja) * 2011-05-13 2014-07-31 富士電機株式会社 半導体装置とその製造方法
US9153519B2 (en) 2011-05-13 2015-10-06 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor device for preventing a progression of a crack in a solder layer and method of manufacturing the same
JP2013065836A (ja) * 2011-08-31 2013-04-11 Mitsubishi Electric Corp 電極部材およびこれを用いた電力用半導体装置
EP3385983A1 (de) * 2017-04-04 2018-10-10 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Adaptersystem zur kontaktbereichsvergrösserung zumindest einer kontaktoberfläche auf zumindest einem elektronikbauteil und verfahren zur kontaktbereichsvergrösserung
WO2018184755A1 (de) * 2017-04-04 2018-10-11 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Adaptersystem zur kontaktbereichsvergrösserung zumindest einer kontaktoberfläche auf zumindest einem elektronikbauteil und verfahren zur kontaktbereichsvergrösserung
JP2020506559A (ja) * 2017-04-04 2020-02-27 ヘレウス ドイチェラント ゲーエムベーハー ウント カンパニー カーゲー 少なくとも1つの電子部材上の少なくとも1つの接触表面の接触領域拡大のためのアダプタシステムおよび接触領域拡大のための方法

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