JP2000275094A - 振動状態計測方法およびその装置 - Google Patents
振動状態計測方法およびその装置Info
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- JP2000275094A JP2000275094A JP11080636A JP8063699A JP2000275094A JP 2000275094 A JP2000275094 A JP 2000275094A JP 11080636 A JP11080636 A JP 11080636A JP 8063699 A JP8063699 A JP 8063699A JP 2000275094 A JP2000275094 A JP 2000275094A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、専門的知識を必要とせず、安全に
簡易に振動を計測する方法およびその装置を提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 亀裂１を撮像し、この撮像された亀裂１
の画像データを、亀裂１の間隙の振動周波数より高速な
タイミングで蓄積する高速ビデオカメラ11と、高速ビデ
オカメラ11に蓄積された各画像データ毎に、画像データ
を２値化して輝度分布を求め、この輝度分布より亀裂１
の開口幅を求める画像処理ボード12と、この画像処理ボ
ード12より出力された亀裂１の開口幅の時間変化より、
亀裂１の開口変位変動量とその振動周波数を求めるコン
ピュータ13を備える。この構成により、画像データより
非接触で開口変位変動量とその振動周波数を求めること
ができ、専門的知識を必要とせず、安全に簡易に振動を
計測することができる。
簡易に振動を計測する方法およびその装置を提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 亀裂１を撮像し、この撮像された亀裂１
の画像データを、亀裂１の間隙の振動周波数より高速な
タイミングで蓄積する高速ビデオカメラ11と、高速ビデ
オカメラ11に蓄積された各画像データ毎に、画像データ
を２値化して輝度分布を求め、この輝度分布より亀裂１
の開口幅を求める画像処理ボード12と、この画像処理ボ
ード12より出力された亀裂１の開口幅の時間変化より、
亀裂１の開口変位変動量とその振動周波数を求めるコン
ピュータ13を備える。この構成により、画像データより
非接触で開口変位変動量とその振動周波数を求めること
ができ、専門的知識を必要とせず、安全に簡易に振動を
計測することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、スリットの開口幅
の振動状態を計測する方法に関するものである。
の振動状態を計測する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】亀裂の間隙などスリットの開口幅の振動
状態を計測する必要に迫られることがある。たとえば、
橋桁に生じた疲労亀裂などの部分的な損傷を供用下で溶
接により補修する場合、亀裂間隙は車両の通過により振
動（変動）しており、高温割れの発生が懸念される。こ
の高温割れの発生の有無は、亀裂部の振動状態、すなわ
ち図６に示す橋桁Ｂの亀裂１の開口変位変化量Δδ、お
よびその振動周波数ｆと、亀裂部周辺の剛性を表す指標
の一つである拘束度Ｒｐ（亀裂を１ｍｍ狭めるために必
要な亀裂長さ方向の荷重）により決定される。したがっ
て、実際の橋桁の供用下での補修溶接を行うためには、
亀裂１の開口変位変化量Δδおよびその振動周波数ｆを
計測し、その場でΔδおよびｆ、さらにＲｐを判断し、
高温割れが発生しないことを確認する必要がある。
状態を計測する必要に迫られることがある。たとえば、
橋桁に生じた疲労亀裂などの部分的な損傷を供用下で溶
接により補修する場合、亀裂間隙は車両の通過により振
動（変動）しており、高温割れの発生が懸念される。こ
の高温割れの発生の有無は、亀裂部の振動状態、すなわ
ち図６に示す橋桁Ｂの亀裂１の開口変位変化量Δδ、お
よびその振動周波数ｆと、亀裂部周辺の剛性を表す指標
の一つである拘束度Ｒｐ（亀裂を１ｍｍ狭めるために必
要な亀裂長さ方向の荷重）により決定される。したがっ
て、実際の橋桁の供用下での補修溶接を行うためには、
亀裂１の開口変位変化量Δδおよびその振動周波数ｆを
計測し、その場でΔδおよびｆ、さらにＲｐを判断し、
高温割れが発生しないことを確認する必要がある。
【０００３】従来、上記亀裂間隙などの振動状態の計測
には、クリップゲージを用いて計測する接触式の手法が
一般的に使用されている。図７に基づいて、従来のクリ
ップゲージを用いた開口変位変化量Δδおよびその振動
周波数ｆの計測方法について説明する。橋桁Ｂの亀裂１
の周辺にナイフエッジ２を取付けてクリップゲージ３を
固定し、このクリップゲージ３の出力（振動のアナログ
信号）を出力調整アンプ（ダイナミックアンプ）４で調
整し、ＡＤ変換器５を介してコンピュータ６へ取込み、
連続した振動の波形データより開口変位変化量Δδおよ
びその振動周波数ｆの計測している。
には、クリップゲージを用いて計測する接触式の手法が
一般的に使用されている。図７に基づいて、従来のクリ
ップゲージを用いた開口変位変化量Δδおよびその振動
周波数ｆの計測方法について説明する。橋桁Ｂの亀裂１
の周辺にナイフエッジ２を取付けてクリップゲージ３を
固定し、このクリップゲージ３の出力（振動のアナログ
信号）を出力調整アンプ（ダイナミックアンプ）４で調
整し、ＡＤ変換器５を介してコンピュータ６へ取込み、
連続した振動の波形データより開口変位変化量Δδおよ
びその振動周波数ｆの計測している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の計測方
法では、橋桁の亀裂１の開口変位変化量Δδおよびその
振動周波数ｆをクリップゲージ３を用いて計測する際
に、亀裂部周辺に、クリップゲージ３を固定するため
に、ナイフエッジ２を取り付けなければならず、また、
亀裂１の周辺にナイフエッジ２を取り付ける作業は高所
での作業となることが多く、危険を伴うという問題があ
った。
法では、橋桁の亀裂１の開口変位変化量Δδおよびその
振動周波数ｆをクリップゲージ３を用いて計測する際
に、亀裂部周辺に、クリップゲージ３を固定するため
に、ナイフエッジ２を取り付けなければならず、また、
亀裂１の周辺にナイフエッジ２を取り付ける作業は高所
での作業となることが多く、危険を伴うという問題があ
った。
【０００５】またクリップゲージ３の出力を出力調整ア
ンプ４で調整しなければ正確な値が得られないため、専
門的な知識が必要であった。そこで、本発明は、専門的
知識を必要とせず、安全に簡易に振動を計測する方法お
よびその装置を提供することを目的としたものである。
ンプ４で調整しなければ正確な値が得られないため、専
門的な知識が必要であった。そこで、本発明は、専門的
知識を必要とせず、安全に簡易に振動を計測する方法お
よびその装置を提供することを目的としたものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明のうち請求項１に記載の発明は、スリッ
トの開口幅の振動状態を計測する方法であって、前記ス
リットの振動周波数より高速なタイミングで前記スリッ
トの画像データを求めて蓄積し、これら各画像データ毎
に、画像データを２値化して輝度分布を求め、この輝度
分布より前記スリットの開口幅を求めて順に記憶し、順
に記憶したスリットの開口幅の時間変化より、スリット
の開口変位変動量とその実振動周波数を求めることを特
徴とするものである。
ために、本発明のうち請求項１に記載の発明は、スリッ
トの開口幅の振動状態を計測する方法であって、前記ス
リットの振動周波数より高速なタイミングで前記スリッ
トの画像データを求めて蓄積し、これら各画像データ毎
に、画像データを２値化して輝度分布を求め、この輝度
分布より前記スリットの開口幅を求めて順に記憶し、順
に記憶したスリットの開口幅の時間変化より、スリット
の開口変位変動量とその実振動周波数を求めることを特
徴とするものである。
【０００７】また請求項２に記載の発明は、スリットの
開口幅の振動状態を計測する装置であって、前記スリッ
トの光学的撮像手段と、前記光学的撮像手段により撮像
された前記スリットの画像データを、スリットの振動周
波数より高速なタイミングで蓄積する蓄積手段と、前記
蓄積手段に蓄積された各画像データ毎に、画像データを
２値化して輝度分布を求め、この輝度分布より前記スリ
ットの開口幅を求めて出力する第１演算手段と、前記第
１演算手段より出力された前記スリットの開口幅を順に
記憶し、記憶したスリットの開口幅の時間変化より、ス
リットの開口変位変動量とその実振動周波数を求める第
２演算手段を備えたことを特徴とするものである。
開口幅の振動状態を計測する装置であって、前記スリッ
トの光学的撮像手段と、前記光学的撮像手段により撮像
された前記スリットの画像データを、スリットの振動周
波数より高速なタイミングで蓄積する蓄積手段と、前記
蓄積手段に蓄積された各画像データ毎に、画像データを
２値化して輝度分布を求め、この輝度分布より前記スリ
ットの開口幅を求めて出力する第１演算手段と、前記第
１演算手段より出力された前記スリットの開口幅を順に
記憶し、記憶したスリットの開口幅の時間変化より、ス
リットの開口変位変動量とその実振動周波数を求める第
２演算手段を備えたことを特徴とするものである。
【０００８】上記方法および構成によれば、スリットの
画像データよりスリットの開口変位変動量とその実振動
周波数が求められる。よって、非接触で計測でき、従来
のような亀裂部に対するナイフエッジおよびクリップゲ
ージの取付け作業が不要となる。
画像データよりスリットの開口変位変動量とその実振動
周波数が求められる。よって、非接触で計測でき、従来
のような亀裂部に対するナイフエッジおよびクリップゲ
ージの取付け作業が不要となる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態におけ
る振動状態計測装置の概略構成図である。亀裂（スリッ
トの一例）１に対向して、高速ビデオカメラ（光学的撮
像手段および蓄積手段の一例）11を設置し、この高速ビ
デオカメラ11により撮影され蓄積された、亀裂１および
その周辺の画像データを画像処理ボード（第１演算手段
の一例）12で画像処理してパーソナルコンピュータ（第
２演算手段の一例）13に取り込んでいる。
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態におけ
る振動状態計測装置の概略構成図である。亀裂（スリッ
トの一例）１に対向して、高速ビデオカメラ（光学的撮
像手段および蓄積手段の一例）11を設置し、この高速ビ
デオカメラ11により撮影され蓄積された、亀裂１および
その周辺の画像データを画像処理ボード（第１演算手段
の一例）12で画像処理してパーソナルコンピュータ（第
２演算手段の一例）13に取り込んでいる。
【００１０】一般に（振動）周波数の高い現象を計測す
るためには、計測器は、その現象の周波数の数倍以上の
周波数の応答速度が必要である。たとえば、計測する周
波数が０．３３Ｈｚの場合、４１．７Ｈｚ（＝２４ｍｓ
ｅｃ間隔）の高速タイミングで画像処理を行っている。
高速ビデオカメラ11では、２４ｍｓｅｃ間隔で上記画像
を撮影して蓄積し、この蓄積された２４ｍｓｅｃ毎の各
画像データを画像処理ボード12により画像処理してい
る。すなわち、画像処理ボード12は、高速ビデオカメラ
11に蓄積された各画像データ毎に、画像データを２値化
して輝度分布を求め、この輝度分布より亀裂１の開口幅
δを求めてコンピュータ13へ出力している。
るためには、計測器は、その現象の周波数の数倍以上の
周波数の応答速度が必要である。たとえば、計測する周
波数が０．３３Ｈｚの場合、４１．７Ｈｚ（＝２４ｍｓ
ｅｃ間隔）の高速タイミングで画像処理を行っている。
高速ビデオカメラ11では、２４ｍｓｅｃ間隔で上記画像
を撮影して蓄積し、この蓄積された２４ｍｓｅｃ毎の各
画像データを画像処理ボード12により画像処理してい
る。すなわち、画像処理ボード12は、高速ビデオカメラ
11に蓄積された各画像データ毎に、画像データを２値化
して輝度分布を求め、この輝度分布より亀裂１の開口幅
δを求めてコンピュータ13へ出力している。
【００１１】コンピュータ13は、画像処理ボード12より
出力された亀裂１の開口幅δを順に記憶し、これら記憶
された亀裂１の開口幅δの時間変化を求め、この求めた
時間変化より、亀裂１の開口変位変動量Δδとその振動
周波数ｆを求めている。画像処理ボード12とコンピュー
タ13による、高速ビデオカメラ11の画像データから亀裂
１の開口変位変化量Δδおよびその振動周波数ｆを求め
る手順を図２のフローチャートを参照しながら詳細に説
明する。
出力された亀裂１の開口幅δを順に記憶し、これら記憶
された亀裂１の開口幅δの時間変化を求め、この求めた
時間変化より、亀裂１の開口変位変動量Δδとその振動
周波数ｆを求めている。画像処理ボード12とコンピュー
タ13による、高速ビデオカメラ11の画像データから亀裂
１の開口変位変化量Δδおよびその振動周波数ｆを求め
る手順を図２のフローチャートを参照しながら詳細に説
明する。
【００１２】計測員により高速ビデオカメラ11により亀
裂１およびその周辺の撮影が行われ、撮影が終了する
と、キーボードやマウスによりコンピュータ13へ画像処
理の実行指令が入力される。すると、コンピュータ13よ
り画像処理ボード12へ画像開始指令が発せられ（ステッ
プ−１）、画像処理ボード12は、この画像開始指令の入
力を確認すると（ステップ−２）、画像処理を開始す
る。
裂１およびその周辺の撮影が行われ、撮影が終了する
と、キーボードやマウスによりコンピュータ13へ画像処
理の実行指令が入力される。すると、コンピュータ13よ
り画像処理ボード12へ画像開始指令が発せられ（ステッ
プ−１）、画像処理ボード12は、この画像開始指令の入
力を確認すると（ステップ−２）、画像処理を開始す
る。
【００１３】まず高速ビデオカメラ11より１画像（フレ
ーム）データを取り込んで、この画像データを、図３
（ｂ）に示すように、画像の濃淡差が区別できるように
２値化する（ステップ−３）。次に、図３（ｃ）に示す
ように、亀裂１の中央部の輝度分布を求め（ステップ−
４）、求めた輝度分布より亀裂１の開口幅δを求めてコ
ンピュータ13へ出力する（ステップ−５）。
ーム）データを取り込んで、この画像データを、図３
（ｂ）に示すように、画像の濃淡差が区別できるように
２値化する（ステップ−３）。次に、図３（ｃ）に示す
ように、亀裂１の中央部の輝度分布を求め（ステップ−
４）、求めた輝度分布より亀裂１の開口幅δを求めてコ
ンピュータ13へ出力する（ステップ−５）。
【００１４】コンピュータ13は入力した亀裂１の開口幅
δを記憶する（ステップ−６）。画像処理ボード12は、
上記ステップ−１〜ステップ−３を高速ビデオカメラ11
に蓄積された全ての画像データにて行い、画像処理の終
了を確認すると（ステップ−７）、コンピュータ13へ画
像処理終了信号を出力する（ステップ−８）。コンピュ
ータ13は、この画像処理終了信号を入力すると（ステッ
プ−９）、順に記憶された亀裂１の開口幅δから、図４
に示す開口幅δの時間変化を求める（ステップ−10）。
δを記憶する（ステップ−６）。画像処理ボード12は、
上記ステップ−１〜ステップ−３を高速ビデオカメラ11
に蓄積された全ての画像データにて行い、画像処理の終
了を確認すると（ステップ−７）、コンピュータ13へ画
像処理終了信号を出力する（ステップ−８）。コンピュ
ータ13は、この画像処理終了信号を入力すると（ステッ
プ−９）、順に記憶された亀裂１の開口幅δから、図４
に示す開口幅δの時間変化を求める（ステップ−10）。
【００１５】この求めた時間変化による亀裂１の開口幅
δの変化により、ピーク値（亀裂１の開口幅δの変化が
プラスよりマイナスへ転ずる点の値）を求め（ステップ
−11）、このピーク値と、次のピーク値間に存在する最
小値の亀裂１の開口幅δの変化により開口変位変化量Δ
δを求め（ステップ−12）、ピーク値とピーク値間の時
間（１周期）により振動周波数ｆを求める（ステップ−
13）。
δの変化により、ピーク値（亀裂１の開口幅δの変化が
プラスよりマイナスへ転ずる点の値）を求め（ステップ
−11）、このピーク値と、次のピーク値間に存在する最
小値の亀裂１の開口幅δの変化により開口変位変化量Δ
δを求め（ステップ−12）、ピーク値とピーク値間の時
間（１周期）により振動周波数ｆを求める（ステップ−
13）。
【００１６】連続するピーク値から各開口変位変化量Δ
δと振動周波数ｆが求められると（ステップ−14）、求
められた開口変位変化量Δδおよびその振動周波数ｆの
平均値を求めて開口変位変化量Δδおよびその振動周波
数ｆの計測値とし、この計測値をディスプレイなどへ出
力する（ステップ−15）。上記手順により、高速ビデオ
カメラ11の画像データより開口変位変化量Δδおよびそ
の振動周波数ｆが計測される。 （実験例）亀裂１をＨスリットタイプとした試験片を用
意し、この試験片の下端を固定し、上端を疲労試験機に
取り付け、疲労試験機の周波数を０．３３Ｈｚに設定し
て試験片に振動を与え、そのときの亀裂１の間隙の振動
を計測した。
δと振動周波数ｆが求められると（ステップ−14）、求
められた開口変位変化量Δδおよびその振動周波数ｆの
平均値を求めて開口変位変化量Δδおよびその振動周波
数ｆの計測値とし、この計測値をディスプレイなどへ出
力する（ステップ−15）。上記手順により、高速ビデオ
カメラ11の画像データより開口変位変化量Δδおよびそ
の振動周波数ｆが計測される。 （実験例）亀裂１をＨスリットタイプとした試験片を用
意し、この試験片の下端を固定し、上端を疲労試験機に
取り付け、疲労試験機の周波数を０．３３Ｈｚに設定し
て試験片に振動を与え、そのときの亀裂１の間隙の振動
を計測した。
【００１７】本発明の画像処理により亀裂１の開口幅δ
の時間変化を計測した結果を図５（ａ）に示す。図５
（ａ）に示すように、スリット部の中央から２０ｍｍ離
れた位置を測定している。比較例として図５（ｂ）に従
来のクリップゲージによる亀裂１の開口幅δの時間変化
を計測した結果を示す。クリップゲージではスリット中
央部とスリット両端部を計測している。
の時間変化を計測した結果を図５（ａ）に示す。図５
（ａ）に示すように、スリット部の中央から２０ｍｍ離
れた位置を測定している。比較例として図５（ｂ）に従
来のクリップゲージによる亀裂１の開口幅δの時間変化
を計測した結果を示す。クリップゲージではスリット中
央部とスリット両端部を計測している。
【００１８】これら本発明の画像処理により求めた亀裂
１の開口幅δの時間変化と、クリップゲージにより求め
た亀裂１の開口幅δの時間変化による、開口変位変化量
Δδおよびその振動周波数ｆの演算結果を表１に示す。
１の開口幅δの時間変化と、クリップゲージにより求め
た亀裂１の開口幅δの時間変化による、開口変位変化量
Δδおよびその振動周波数ｆの演算結果を表１に示す。
【００１９】
【表１】 表１に示すように、疲労試験機の設定周波数（亀裂１の
振動）を変更した場合にでも、結果はよく一致してお
り、計測結果に差はないことがわかる。このように、画
像処理により求めた開口変位変化量Δδおよびその振動
周波数ｆは、従来のクリップゲージによる方法と計測結
果に差がないことから、本発明の振動状態計測装置を実
用に供することができ、また非接触で計測できることか
ら、従来のような亀裂部に対するナイフエッジおよびク
リップゲージの取付け作業が不要となり、高所でも安全
に計測作業を行うことができる。また構成が高速ビデオ
カメラ11と画像処理ボード12およびコンピュータ13とか
らなるため、簡易で、特に専門的な知識を必要とせず、
容易に計測を行うことができる。
振動）を変更した場合にでも、結果はよく一致してお
り、計測結果に差はないことがわかる。このように、画
像処理により求めた開口変位変化量Δδおよびその振動
周波数ｆは、従来のクリップゲージによる方法と計測結
果に差がないことから、本発明の振動状態計測装置を実
用に供することができ、また非接触で計測できることか
ら、従来のような亀裂部に対するナイフエッジおよびク
リップゲージの取付け作業が不要となり、高所でも安全
に計測作業を行うことができる。また構成が高速ビデオ
カメラ11と画像処理ボード12およびコンピュータ13とか
らなるため、簡易で、特に専門的な知識を必要とせず、
容易に計測を行うことができる。
【００２０】また現場で簡易で容易に、亀裂１の開口変
位変化量Δδおよびその振動周波数ｆを求めることがで
きることにより、実際の橋桁の供用下での補修溶接を行
う際に、迅速に高温割れが発生しないことを確認するこ
とが可能となる。なお、本実施の形態では、高速ビデオ
カメラ11により画像データを収集しているが、ＣＣＤカ
メラなどの撮像手段と画像メモリなどの画像データの高
速記憶手段であればよい。また第１演算手段として画像
処理ボード12を設けているが、この第１演算手段の機能
をコンピュータ13に持たせるようにすることもできる。
位変化量Δδおよびその振動周波数ｆを求めることがで
きることにより、実際の橋桁の供用下での補修溶接を行
う際に、迅速に高温割れが発生しないことを確認するこ
とが可能となる。なお、本実施の形態では、高速ビデオ
カメラ11により画像データを収集しているが、ＣＣＤカ
メラなどの撮像手段と画像メモリなどの画像データの高
速記憶手段であればよい。また第１演算手段として画像
処理ボード12を設けているが、この第１演算手段の機能
をコンピュータ13に持たせるようにすることもできる。
【００２１】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、スリ
ットの画像データよりスリットの開口変位変動量とその
振動周波数が求めることができ、したがって非接触で計
測できることから、従来のような亀裂部に対するナイフ
エッジおよびクリップゲージの取付け作業が不要とな
り、高所でも安全に計測作業を行うことができる。
ットの画像データよりスリットの開口変位変動量とその
振動周波数が求めることができ、したがって非接触で計
測できることから、従来のような亀裂部に対するナイフ
エッジおよびクリップゲージの取付け作業が不要とな
り、高所でも安全に計測作業を行うことができる。
【図１】本発明の実施の形態における振動状態計測装置
の概略構成図である。
の概略構成図である。
【図２】同振動状態計測装置の計測手順を説明するフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図３】同振動状態計測装置の計測方法の説明図であ
る。
る。
【図４】同振動状態計測装置の計測方法の説明図であ
る。
る。
【図５】同振動状態計測装置の計測結果の特性図であ
る。
る。
【図６】振動を発生する亀裂の説明図である。
【図７】従来の振動状態計測装置の概略構成図である。
１ 亀裂（スリット） １１ 高速ビデオカメラ（光学的撮像手段および蓄積手
段） １２ 画像処理ボード（第１演算手段） １３ コンピュータ（第２演算手段）
段） １２ 画像処理ボード（第１演算手段） １３ コンピュータ（第２演算手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 沼野 正慎 大阪府大阪市住之江区南港北１丁目７番89 号 日立造船株式会社内 (72)発明者 大澤 守彦 大阪府大阪市住之江区南港北１丁目７番89 号 日立造船株式会社内 Ｆターム(参考） 2G064 AA05 AB01 AB02 AB07 AB27 BA02 BC02 BC40 CC18 CC27 DD06 DD15 DD29 5B057 DA20 DB08 DC22
Claims (2)
- 【請求項１】 スリットの開口幅の振動状態を計測する
方法であって、 前記スリットの振動周波数より高速なタイミングで前記
スリットの画像データを求めて蓄積し、 これら各画像データ毎に、画像データを２値化して輝度
分布を求め、この輝度分布より前記スリットの開口幅を
求めて順に記憶し、 順に記憶したスリットの開口幅の時間変化より、スリッ
トの開口変位変動量とその実振動周波数を求めることを
特徴とする振動状態計測方法。 - 【請求項２】 スリットの開口幅の振動状態を計測する
装置であって、 前記スリットの光学的撮像手段と、 前記光学的撮像手段により撮像された前記スリットの画
像データを、スリットの振動周波数より高速なタイミン
グで蓄積する蓄積手段と、 前記蓄積手段に蓄積された各画像データ毎に、画像デー
タを２値化して輝度分布を求め、この輝度分布より前記
スリットの開口幅を求めて出力する第１演算手段と、 前記第１演算手段より出力された前記スリットの開口幅
を順に記憶し、記憶したスリットの開口幅の時間変化よ
り、スリットの開口変位変動量とその実振動周波数を求
める第２演算手段を備えたことを特徴とする振動状態計
測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08063699A JP3969888B2 (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 振動状態計測方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08063699A JP3969888B2 (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 振動状態計測方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000275094A true JP2000275094A (ja) | 2000-10-06 |
| JP3969888B2 JP3969888B2 (ja) | 2007-09-05 |
Family
ID=13723870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08063699A Expired - Fee Related JP3969888B2 (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 振動状態計測方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3969888B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| GB2427264A (en) * | 2005-06-02 | 2006-12-20 | Pixoft Diagnostic Imaging Ltd | Measurement of oscillations |
| WO2014206123A1 (zh) * | 2013-06-26 | 2014-12-31 | 中兴通讯股份有限公司 | 检测抖动的方法、系统及计算机存储介质 |
| RU2713097C1 (ru) * | 2019-05-13 | 2020-02-03 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова" (АлтГТУ) | Способ измерения параметров вибрации объекта |
| CN118468060A (zh) * | 2024-07-15 | 2024-08-09 | 成都建工第三建筑工程有限公司 | 一种房屋建筑健康监测系统及方法 |
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1999
- 1999-03-25 JP JP08063699A patent/JP3969888B2/ja not_active Expired - Fee Related
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