JP2000268340A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体及びその製造方法

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JP2000268340A
JP2000268340A JP11066657A JP6665799A JP2000268340A JP 2000268340 A JP2000268340 A JP 2000268340A JP 11066657 A JP11066657 A JP 11066657A JP 6665799 A JP6665799 A JP 6665799A JP 2000268340 A JP2000268340 A JP 2000268340A
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Kazumasa Shimoda
一正 下田
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 特にHDDにおける使用に有用な、極めて高
保磁力であり、高記録密度が可能な磁気記録媒体を提供
すること。 【解決手段】 非磁性の基板と、その基板の上に順次、
それぞれスパッタリングによって形成された、Ni系非
磁性材料からなる下地層及びCo系磁性合金からなる磁
性層とを有する磁気記録媒体において、前記磁性層が磁
性合金粒子から構成されかつ、それらの磁性粒子の粒界
に、磁性粒子間の磁気的相互作用を低減せしめる作用を
有する非磁性金属元素が拡散せしめられているように構
成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気記録媒体に関
し、さらに詳しく述べると、コンピュータのハードディ
スクドライブ(以下、「HDD」ともいう)に有利に使
用することのできる磁気記録媒体に関する。本発明は、
また、このような磁気記録媒体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】HDDにおける近年の著しい容量の増大
に伴い、それに用いられる磁気記録媒体でも、記録密度
の向上、すなわち、高記録密度化の要求が高まってい
る。従来の磁気記録媒体は、周知のように、非磁性の基
板と、その基板の上に形成した磁性材料の薄膜(磁性
層)とから構成され、さらに、磁性層の性能がその下地
の材料によって悪影響を受けるのを回避するため、通
常、非磁性の基板と磁性層との間に下地層を設けるのが
一般的である。さらに具体的に説明すると、非磁性の基
板の上に、Cr、Ni又はそれらを主成分とする合金の
下地層を形成し、この下地層の上にさらにCoを主成分
とするCoCrTa、CoCrPt等の合金からなる磁
性層を形成した磁気記録媒体が、高記録密度可能なもの
として現在用いられている。また、このような記録密度
の向上に伴い、記録保持のために保磁力を高めることが
求められている。
【0003】磁気記録媒体において、その磁性層の保磁
力を高めるためには、その磁性層の膜組織を改良するこ
とが必要であり、具体的には、磁性層を構成する隣り合
う磁性粒子どうしを分離させる必要がある。この要求を
満足させるため、1つの一般的な方法では、CoCr系
合金を磁性層に用い、かつその磁性層の成膜時に基板加
熱を行うことが行われている。この方法によると、磁性
粒界に非磁性Crを偏析させることで、磁性粒子間を磁
気的に分離することができる。例えば、特開平6−96
431号公報には、図1にその典型的な層構成を示すよ
うに、ガラス、セラミック、カーボン等の非磁性基板5
1の上に、順次、Cu、Rh、Pd等の金属層52、C
r下地層53、CoCrTa、CoNiCr、CoCr
Pt等のCo系合金の磁性層54、カーボン(C)等の
保護膜55及び潤滑剤層56を積層した磁気記録媒体5
0が開示されている。また、この磁気記録媒体の製造で
は、その実施例にも記載されているように、磁性層の特
性の向上のために例えば300℃の温度で10分間にわ
たって基板を加熱することを必要とする。この磁気記録
媒体では、基板からの酸素などがCr下地層へ到達する
のを防ぐとともに、Crの(110)面が基板面に平行
となるようにCu等の金属層を挿入して、高保磁力を得
るのに望ましい結晶成長を実現している。しかし、基板
の加熱は、それを行うことで、基板および成膜チャンバ
ーに存在する吸着ガスが放出され、チャンバー内の真空
度が低下するという不都合や、このガスは湿度やチャン
バーの付着膜の状態により放出量やガス種が変わるた
め、形成した磁性層の特性の不安定要因となるという不
都合が引き起こされるので、より安定した特性を得るた
めにはない方が望ましい。
【0004】もう1つの一般的な方法としては、磁性層
を高アルゴン(Ar)ガスの圧力下でスパッタリング
(以下、「スパッタ法」ともいう)により成膜する方法
がある。この方法によって形成された磁性層はボイド
(空隙)の多い膜組織となり、隣り合う磁性粒子どうし
が空間的に、そして磁気的に分離される。この方法を用
いて製造した磁気記録媒体の場合、初期の段階では、磁
性層の下に形成する下地層をCrから形成するのが一般
的であったが、最近では、磁気特性等の向上のため、例
えば特開平8−171716号公報に記載されるように
NiP合金を使用する例が多くなってきている。特開平
8−171716号公報には、図2にその典型的な層構
成を示すように、アルミニウム、ガラス、シリコン、カ
ーボン等の非磁性基板61の上に、NiPのメッキ層6
2、NiPとドープ剤とを含む核生成層63、CoPt
系合金と結合強度が90Kcal/モルより大きな特定
の分離剤化合物(As、B、Ce、Co、Cr等の酸化
物又は窒化物)とを含む磁性層64、カーボン(C)等
の保護膜65及び潤滑剤層66を積層した磁気記録媒体
60が開示されている。この磁気記録媒体では、図3に
模式的に示すように、磁性層を構成する磁性粒子70が
ほぼ均一なサイズであり、かつ分離剤化合物71によっ
て均一に分離されているので、最適な記録特性が得られ
るという効果がある。また、磁性層を成膜するためのス
パッタ法は、例えば、H2O の分圧が5.0×10-5To
rr未満でかつArガス圧力が20×10-3Torr未
満である真空蒸着システムを使用して実施することがで
きる。しかし、このような高Arガス圧下のスパッタ法
を使用して得られる磁気記録媒体は、一般に高々1.6
〜1.8kOeあるいはその近傍の保磁力を示すに過ぎ
ず、媒体に対する最近の要求に応えるためには、保磁力
を少なくとも2.0kOe以上まで高めることが望まし
い。また、本発明者らの実験から、特開平8−1717
16号公報に記載のようにガラス基板等の上にNiとP
の化合物(Ni3 P)を直接形成すると、磁性層の基板
への密着性が良くないことも判明している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
したような従来の技術の問題点を解消して、特にHDD
に有利に使用することのできる、極めて高保磁力であ
り、かつしたがって高記録密度が可能な磁気記録媒体を
提供することにある。また、本発明のもう1つの目的
は、このような磁気記録媒体の有利な製造方法を提供す
ることにある。
【0006】本発明の上記した目的及びその他の目的
は、以下の詳細な説明から容易に理解することができる
であろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、その1つの面
において、非磁性の基板と、その基板の上に順次、それ
ぞれスパッタリングによって形成された、Ni系非磁性
材料からなる下地層及びCo系磁性合金からなる磁性層
とを有する磁気記録媒体において、前記磁性層が磁性合
金粒子から構成されかつ、それらの磁性粒子の粒界に、
磁性粒子間の磁気的相互作用を低減せしめる作用を有す
る非磁性金属元素が拡散せしめられていることを特徴と
する磁気記録媒体を提供する。
【0008】また、本発明は、そのもう1つの面におい
て、非磁性の基板と、その基板の上に順次、それぞれス
パッタリングによって形成された、Ni系非磁性材料か
らなる下地層及びCo系磁性合金からなる磁性層とを有
しかつ、その際、前記磁性層が磁性合金粒子から構成さ
れかつ、それらの磁性粒子の粒界に、磁性粒子間の磁気
的相互作用を低減せしめる作用を有する非磁性金属元素
が拡散せしめられている磁気記録媒体を製造するに当た
って、前記磁性層あるいは前記磁性層に隣接して配置さ
れた金属拡散層に前記非磁性金属元素に対応する非磁性
金属を含ませ、前記磁性層及び、もしも存在するなら
ば、前記金属拡散層の形成後にアニーリングを行うこと
により前記非磁性金属元素を前記磁性粒子の粒界に拡散
せしめることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法を提
供する。
【0009】本発明は、以下の詳細な説明から明らかに
なるであろうけれども、理解を容易にするため、磁気記
録媒体の磁性層近傍の層構成を示す図4を参照してその
作用効果を説明する。図4は、本発明による磁気記録媒
体の好ましい一例を示す図5の一部層を拡大して示した
ものであり、NiPからなる下地層3の上にCoCrP
t(SiO2)からなる磁性層4が形成されている。磁
性層4は、図示されるように、多数個の磁性粒子(一般
に、「磁性粒」ともいう)が粒子間に僅かな空隙をあけ
た状態で密に配置されている。そして、磁性層4の上に
は、それに直に接触して非磁性金属(ここではCrの単
独を使用)からなる金属拡散層5が形成されている。こ
のような層構成において、金属拡散層5の形成後にアニ
ール(ここでは、「ポストアニール」ともいう)を行う
と、磁性層4の粒界に、図示のように、金属拡散層5か
らCrが拡散(いわゆる、粒界拡散)し、Crの偏析が
発生する。ここで金属拡散層に使用する非磁性金属は、
容易に拡散可能であることの必要性から、例えばCr、
Mo、Cなどのような単一元素物質であることが好まし
い。また、金属拡散層は、磁性層の直下にあっても、さ
もなければ、もしも磁性層が多層構造を有しているのな
らば、それらの中間にあっても、保磁力の向上という所
期の効果を奏することができる。さらに、場合によって
は、金属拡散層が存在しなくても、その層を構成する非
磁性金属が磁性層そのもののなかに含まれているなら
ば、同様な効果を得ることができる。成膜後のアニーリ
ングは、その温度が高すぎると、非磁性金属の磁性層へ
の拡散が過度に生じ、磁性層が非磁性化してしまうた
め、600℃未満のアニール温度で実施することが好ま
しい。磁気記録媒体の磁性層近傍を上記のように構成
し、引き続いて特定の温度条件下でポストアニールを行
うと、従来のように高Arガス圧力下で磁性層をスパッ
タ形成したままの場合に比較して、磁性粒間の磁気的相
互作用を大幅に低減することができ、その結果として、
高記録密度媒体で要求されている高保磁力が可能とな
る。
【0010】
【発明の実施の形態】引き続いて、本発明をその好まし
い実施の形態について説明する。本発明による磁気記録
媒体は、非磁性の基板の上に、Ni系非磁性材料からな
る下地層とCo系磁性合金からなる磁性層とを順次設け
てなるものであり、以下において説明するように、必要
に応じて追加の層を有していてもよい。それぞれの層
は、スパッタ法によって形成されたものである。スパッ
タ成膜は、それらの層の粒子成長を促進するのに十分な
圧力の下で実施するのが好ましく、特に、例えばアルゴ
ン(Ar)ガスなどの不活性ガスの存在において、10
mTorr以上の高ガス圧下で実施するのが好ましい。
磁性層は、単層構造を有していてもよく、あるいは上層
及び下層からなる2層構造を有していてもよい。
【0011】本発明の磁気記録媒体において、その基体
として用いられる非磁性の基板は、この技術分野におい
て常用のいろいろな基板材料から構成することができ
る。しかし、ここで使用する基板は、本発明の磁気記録
媒体の製造において高保磁力の達成のために成膜後のア
ニーリング、すなわち、ポストアニールが必須であるの
で、その際の高温に耐え得るものでなければならない。
適当な基板としては、以下に列挙するものに限定される
わけではないけれども、例えば、表面酸化膜(例えばシ
リコン酸化膜SiO2 )を有するシリコン基板、SiC
基板、カーボン基板、ガラス基板、強化ガラス基板(結
晶化ガラス基板などを含む)、セラミック基板などを挙
げることができる。特にシリコン基板、カーボン基板、
ガラス基板、結晶化ガラス基板などを有利に使用するこ
とができ、なかんずくシリコン基板を有利に使用するこ
とができる。
【0012】非磁性基板上の下地層は、上記したよう
に、Ni系非磁性材料からなる。適当なNi系非磁性材
料は、Niを主成分とするNiP又はNiZr合金であ
る。NiP合金の代表例は、Ni2 P、Ni3 Pなどで
ある。このような下地層には、その上に形成する磁性層
の特性、特に保磁力と記録再生特性を向上させる作用が
ある。下地層として使用できるNi系非磁性材料の具体
例としては、上記したもの以外に、例えば、Ni
5 2 、Ni67Zr33などもある。
【0013】上記したような下地層は、好ましくは、例
えばマグネトロンスパッタ法などのスパッタ法により、
常用の成膜条件により形成することができる。特に、保
磁力を高めるため、DC負バイアスの印加下にスパッタ
法を実施するのが好ましい。適当な成膜条件として、例
えば、約100〜300℃の成膜温度、約10mTor
r以上の高められたArガス圧力、そして約100〜3
00VのDC負バイアスを挙げることができる。
【0014】かかる下地層の膜厚は、一般的に、10〜
100nmの範囲であるのが望ましい。下地層の膜厚が1
0nmよりも小さいと、磁性層の微細構造の制御が難しく
なって、保磁力が低下し、記録再生特性が劣化するよう
になる。また、膜厚が100nm以上となると、磁性層表
面の凹凸が激しくなり、最近の磁気ヘッドの低浮上化に
鑑みて望ましくない。下地層のより好ましい膜厚は、5
0〜100nmの範囲である。
【0015】本発明の磁気記録媒体において、非磁性の
下地層の上に形成されるべき磁性層は、それがCo系磁
性合金の粒子からなるという条件を満たす限りにおい
て、いろいろな層構成や組成を有することができる。例
えば、磁性層は、単層構造を有していてもよく、さもな
ければ、2層構造あるいはそれ以上の多層構造を有して
いてもよい。また、多層構造の場合、それぞれの磁性層
は、同一のCo系磁性合金の粒子から構成されていても
よく、さもなければ、異なるCo系磁性合金の粒子から
構成されていてもよい。
【0016】本発明の実施において磁性層の形成に有利
に使用することのできるCo系磁性合金は、この技術分
野において磁性層の形成に常用のCo系磁性合金を包含
する。そのなかでも有利に使用することのできるCo系
磁性合金は、例えば、Coを主成分とするCoPt又は
CoCrPt合金に、非磁性酸化物であるSiO2 を添
加した合金である。本願明細書では、これらの合金をそ
れぞれCoPt(SiO2 )合金又はCoCrPt(S
iO2 )合金などのように記載する。すなわち、本発明
で使用するCo系磁性合金のあるものは、主成分として
のCoの他に、PtとSiO2 を含み、そして任意にC
rを含む。Crを含まないCoPt(SiO2 )合金の
場合には、Ptを6〜45at%、そしてSiO2 を0 m
ol%より多くかつ6 mol%未満含み、残部はCoと不可
避的不純物である。
【0017】上記のようなCo系磁性合金中に含まれる
Ptは、磁性層の異方性磁界(Hk)を高め、保磁力を
増加させる作用がある。この作用は、Pt含有量が6at
%以上でより顕著となる。一方、Pt含有量が更に多く
なると保磁力は4kOe (318kA/m)を超えて、現状の
磁気ヘッドでは磁気記録ができなくなる。文献による
と、CoへのPt添加量が約20at%で保磁力は最大と
なる(Masahiro Kitadaand Noboru Shimizu, J. Appl.
Phys., Vol.54, No.12, p7089(1993)を参照された
い)。実用的な保磁力としてその最大の保磁力の1/1
0を目安とすると、6〜45at%のPtの添加が有効で
ある。従って、本発明において上記のようなCo系磁性
合金を使用した場合のPt添加量の上限は45at%とな
る。また、さらに好ましいPt添加量は、6at%より大
きく12at%以下である。
【0018】合金に対して添加されるSiO2 は、磁性
層の粒界に析出すると考えられており(A. Murayama et
al., Appl. Phys. Lett. Vol.65,1186(1994)を参照
されたい)、従って、少量の添加で保磁力を大幅に向上
させる働きをする。また、透過型電子顕微鏡(TEM)
観察によれば、SiO2 の添加により磁性層の結晶粒径
が減少しており、そのため媒体ノイズの低減を図ること
ができる。しかし、SiO2 を過度に添加すると異方性
磁界(Hk)の減少を招き、保磁力も減少する。このよ
うな状況を考慮して、SiO2 の添加量は、0モル%よ
り多くかつ6モル%未満とするのが望ましい。さらに好
ましいSiO2 の添加量は、3モル%より大きく6モル
%未満である。
【0019】Crを含むCoCrPt(SiO2 )合金
は、Cr以外の成分についての上述の含有量の範囲内に
おいて、Crを0at%より多くかつ28at%以下含むこ
とができる。Crには、磁性層の保磁力を向上させる作
用があるが、Crは非磁性材料なので、過度に添加する
と合金が非磁性化する。したがって、Cr量は28at%
以下が望ましい。
【0020】ここで補足して説明しておくと、上記した
ようなCo系磁性合金の組成を表すのに、元素としての
成分Co、Cr、Ptに対しては原子百分率(at%)を
用い、化合物である成分SiO2 に対してはモル百分率
(モル%)を用いているが、各成分の含有量の合計(C
o、Pt及びSiO2 含有量の合計、又はCo、Cr、
Pt及びSiO2 含有量の合計)は100%を構成す
る。
【0021】また、磁性層の磁性粒子の結晶粒径が減少
すればするほど、媒体ノイズは低減できると考えられて
おり、そのようにすることによって磁気記録媒体の低ノ
イズ化が可能である。すでに説明したように、本発明に
おいてはSiO2 の添加により磁性層の結晶粒径を低下
させることができる。なお、磁性層の好ましい平均結晶
粒径は5〜15nmである。また、このような磁性層の
膜厚は、一般には5〜50nmの範囲が適当であり、より
好ましくは10〜30nmの範囲である。
【0022】本発明の磁性層は、上記したCoPt(S
iO2 )合金あるいはCoCrPt(SiO2 )合金に
代えて、その他のCo系磁性合金からも有利に構成する
こともできる。別の有利に使用することのできるCo系
磁性合金は、例えば、Coを主成分とするCoPt又は
CoCrPt合金に、さらにタングステン(W)、カー
ボン(C)、タンタル(Ta)、ニオブ(Nb)などを
単独であるいは組み合わせて添加した合金である。
【0023】上記したCo系磁性合金は、例えば、Co
を主成分として含有し、14〜23at%のCr及び1〜
20at%のPtを含み、さらにW及びCを組み合わせて
有する五元系合金である。このような合金は、さらに具
体的に説明すると、次式により表すことができる。 Cobal.−Cr14-23 −Pt1-20−Wx −Cy (上式中、bal.はバランス量を意味し、そしてx+yは
1〜7at%である)。
【0024】本発明による磁気記録媒体では、磁性層を
CoCrPt合金から構成し、これにW及びCの両方を
添加し、さらに層構成や成膜プロセスを最適化すること
により、ノイズの大幅な低減を図ることができ、したが
って、高いS/N比が得られ、よって、高密度記録媒体
を具現することができる。上記したような注目すべき効
果は、磁性層の形成のためにCoCrPt合金に対して
添加されたW及びCは、WC及びW2 Cなる安定な化合
物を形成することができることに由来する。これらの化
合物は、Coへの固溶限界が極めて小さいため、結晶粒
界に析出するものと考えられる。
【0025】ここで、WC及びW2 Cは強磁性材料では
ないので、結晶粒界に析出した場合に、各磁性粒子の磁
気的な結合を切断し、ノイズを低減させる。しかしなが
ら、過剰なCの添加は、磁性層の粒子径を微細化し、保
磁力Hcの低下を招く傾向にある。したがって、W:C
におけるカーボン比は2より小さいことが必要である。
一方、上述のように、Cが1に対して、平均で、1.5
のWがカーボンと結合可能である。残りのタングステン
は、磁性粒子のCoリッチな領域に進入し、粒子の微細
化をもたらし、媒体の低ノイズ化に寄与する。W:Cに
おいて、タングステン比が5よりも大であると、組織の
微細化が進行し、保磁力Hcが低下するため、媒体ノイ
ズの増大や高密度記録領域における信号出力の低下が生
じる。また、過剰なWの添加を行うと、ターゲットが硬
化するので、その加工が困難となる。このような観点か
ら、CoCrPtWC五元系合金において、W及びCの
添加量の比は、5:1〜2:1の範囲であることが好ま
しい。また、かかる五元系合金において、W及びCの添
加量の比が4:1でありかつ合計量が1〜7at%である
ことが特に好ましい。
【0026】上記したCo系磁性合金のさらに別の例
は、Coを主成分として含有し、13〜21at%のCr
及び1〜20at%のPtを含み、さらにTa及びNbを
組み合わせて有する五元系合金である。このような合金
は、さらに具体的に説明すると、次式により表すことが
できる。 Cobal.−Cr13-21 −Pt1-20−Tax −Nby (上式中、bal.はバランス量を意味し、そしてx+yは
1〜7at%である)。
【0027】本発明の磁気記録媒体において、その磁性
層は、単層構造及び2層構造にかかわりなく、30〜1
80Gμm のtBr(磁性層の膜厚tと残留磁化密度B
rの積)を有していることが好ましい。特に、単層構造
の磁性層は、50〜180Gμm のtBrを有している
ことが好ましく、また、2層構造の磁性層は、30〜1
60Gμm のtBrを有していることが好ましい。本発
明の磁気記録膜は、従来の磁気記録膜に比較して薄く構
成したことにより、特にMRヘッドをはじめとした磁気
抵抗効果型ヘッド用として最適である。
【0028】非磁性基板上に上記したような下地層を介
して設けられる磁性層は、上記したようにスパッタ法に
より形成されるものであり、その際、例えばArガスの
ような不活性ガスの存在下、その磁性層の粒状成長を促
進するのに十分なガス圧力の下でスパッタ法を実施する
ことが好ましい。特に、保磁力を高めるため、DC負バ
イアスの印加下にスパッタ法を実施するのが好ましい。
スパッタ法としては、上記した下地層の成膜と同様、例
えばマグネトロンスパッタ法などを使用することができ
る。適当な成膜条件として、例えば、約100〜350
℃の成膜温度、好ましくは約100〜320℃の温度、
特に好ましくは250℃前後の温度、10mTorr以
上の高められたArガス圧力、そして約80〜400V
のDC負バイアスを挙げることができる。ここで、約3
50℃を上回る成膜温度は、本来非磁性であるべき基板
において磁性を発現する可能性があるので、その使用を
避けることが望ましい。
【0029】本発明の磁気記録媒体の磁性層は、上記し
たように、Co系磁性合金粒子から構成されかつ、それ
らの磁性粒子の粒界に、磁性粒子間の磁気的相互作用を
低減せしめる作用を有する非磁性金属元素が拡散により
偏析せしめられていることを特徴とする。非磁性金属元
素としては、その拡散を容易に起こさせる必要があるこ
とから、単一元素物質、例えばCr、Mo、Cなどが好
ましく、換言すると、拡散係数の小さくない化合物では
ないほうが好ましい。
【0030】本発明に従うと、非磁性金属元素の磁性粒
子間への拡散はいろいろな技法に従って行うことができ
る。ひとつの好ましい方法は、拡散されるべき非磁性金
属元素を磁性層中に予め含まれる非磁性金属に依存し、
磁性層の形成後にアニーリングを行うことにより非磁性
金属を磁性粒子の粒界に拡散せしめる方法である。この
方法の場合、上記したような、すでにCrを含有するC
o系磁性合金から形成された磁性層を有利に使用するこ
とができる。なお、この場合のアニーリングは、通常、
600℃未満、好ましくは100〜500℃、さらに好
ましくは300℃前後の温度で実施することができる。
【0031】もう1つの好ましい方法は、磁性層に隣接
して、上記したような非磁性金属からなる金属拡散層を
配置して、その層から非磁性金属を拡散により放出せし
め、磁性粒子の粒界に拡散せしめらる方法である。金属
拡散層は、磁性層の直上に配置してもよく、あるいは磁
性層の直下に配置してもよく、さもなければ、もしも磁
性層が2層構造等の多層構造で使用されるのならば、そ
れらの磁性層の中間に配置してもよい。いずれの場合に
も、磁性層と金属拡散層の両方の成膜後にアニーリング
を行うことが必要である。なお、この場合のアニーリン
グは、通常、600℃未満、好ましくは約100〜50
0℃、さらに好ましくは400℃前後の温度で実施する
ことができる。
【0032】また、本発明の磁気記録媒体は、必要に応
じて、その最上層として、そして、通常、上記した磁性
層の上方に、この技術分野において屡々採用されている
ように、保護膜をさらに有していてもよい。適当な保護
膜としては、例えば、カーボン(C)の単独もしくはそ
の化合物からなる層、例えばC層、WC層、SiC層、
4 C層、水素含有C層など、あるいは特により高い硬
度を有するという点で最近注目されているダイヤモンド
ライクカーボン(DLC)の層を挙げることができる。
特に、本発明の実施に当たっては、カーボンあるいはD
LCからなる保護膜を有利に使用することができる。こ
のような保護膜は、常法に従って、例えば、スパッタ
法、蒸着法などによって形成することができる。かかる
保護膜の膜厚は、種々のファクタに応じて広い範囲で変
更することができるというものの、好ましくは、約5〜
15nmである。
【0033】さらに、本発明の磁気記録媒体は、好まし
くは、その非磁性基板とその上方の下地層との中間に、
基板と下地層の密着を改善するための密着層をさらに有
している。適当な密着層は、例えば、クロムあるいはチ
タンを主成分とする金属材料からなる薄膜、好ましくは
Cr薄膜又はTi薄膜、さらに好ましくはCr薄膜であ
る。
【0034】例えば、本発明で密着層として有利に使用
することのできるCr薄膜は、下地層及び磁性層の基板
への密着性の点で必要なだけでなく、磁性層の磁気特性
や記録再生特性にも影響を及ぼす。磁性層の磁気特性や
記録再生特性は、磁性層の結晶粒径や結晶粒間の分離度
等の微細構造に依存する。また、磁性層の結晶成長は下
地層の膜組織により変化する。従って、磁気特性や記録
再生特性に優れた磁性層を形成するためには、下地層の
膜組織を良好にしなければならない。そのためには、成
膜装置のベースプレッシャ(成膜装置内の到達真空度に
相当する)を低くし、かつ成膜雰囲気(一般にはAr等
の不活性ガス雰囲気)の圧力を高くして、基板上に密着
層としてのCr薄膜を形成することが有効である。こう
することにより、Cr薄膜は凹凸の強調された膜とな
り、その上に形成される下地層にも凹凸が導入され、磁
性粒間の分離度の高まった膜が形成される。その結果、
磁性粒間の磁気的相互作用が低減して、磁気記録媒体の
保磁力を高め、媒体ノイズを低減することが可能にな
る。
【0035】さらに、Cr密着層の形成後、成膜装置の
大気解放や酸素プラズマエッチングによりCr表面を酸
化して酸化クロムとすることで、Cr密着層と下地層の
間の結晶学的な関係を分断し、下地層の均一な粒成長を
促進でき、それにより磁気記録媒体の記録再生特性をさ
らに向上させることもできる。この効果は、実際、アル
ミニウム基板上に直接下地層を形成した場合に得られる
ものと同様な効果であると考えられる。
【0036】本発明の実施において、高密度記録に適し
た磁気記録媒体を得るために下地層が好都合に結晶成長
するためには、そしてまた、基板と下地層の良好な密着
を保証するためには、Cr密着層やその他の密着層の膜
厚は、通常、10〜40nmの範囲であることが好まし
い。密着層の膜厚が10nmより小さいと、結果として得
られた磁性層の磁性粒間の分離度が低減して、保磁力が
低下し記録再生特性が劣化する。また、膜厚が40nmよ
りも大きくなると、下地層の凹凸が激しくなり、磁性層
に異常成長が生じて記録再生特性が劣化する。
【0037】本発明の磁気記録媒体は、上記したような
必須の層及び任意に使用可能な層に加えて、この技術分
野において常用の追加の層を有していたり、さもなけれ
ば、含まれる層に任意の化学処理等が施されていてもよ
い。例えば、上記した保護膜の上に、フルオロカーボン
樹脂系の潤滑剤層が形成されていたり、さもなければ、
同様な処理が施されていてもよい。
【0038】本発明の磁気記録媒体は、以上に詳細に説
明したことからも理解されるように、磁性層中あるいは
磁性層に隣接して配置された金属拡散層中に非磁性金属
元素に対応する非磁性金属を含ませ、その磁性層の形成
後かもしくは磁性層と金属拡散層の形成後にアニーリン
グを行うことにより非磁性金属元素を磁性粒子の粒界に
拡散せしめることを含む方法によって製造することがで
きる。アニール温度は、先にも説明したように、好まし
くは、600℃未満であり、非磁性金属元素の拡散形態
などによって広く変更することができる。
【0039】また、本発明の磁気記録媒体の各層は、こ
れも先に説明したように、好ましくは、Ar等の不活性
ガスの高圧の適用下に、それぞれの層の組成に対応した
ターゲットから、スパッタ法によって形成することがで
きる。なお、スパッタ法自体は周知の技法であるので、
ここでの詳細な説明を省略する。しかしながら、本発明
の磁気記録媒体の製造においては、各層を形成する際の
圧力を、それらの層の粒状成長を促進するのに十分な圧
力とすることが重要である。先に説明したように、磁性
層の磁気特性や記録再生特性の向上のためには、磁性層
の結晶を粒状に成長させて孤立化するのが有利であり、
そのためには下地層の結晶をやはり粒状に成長させて形
成しておくことが有利である。下地層を粒状成長させる
ために、従来は、例えば前述の特開平6−96431号
公報に記載されているように、基板の加熱を行っていた
が、基板加熱には先に説明したような弊害がある。本発
明ではそれを避けるために、スパッタリングによる通常
の成膜プロセスで採用されている数mTorrの成膜雰
囲気圧力に代えて、少なくとも10mTorr(1.3
Pa)もしくはそれ以上の高い圧力、さらに好ましくは例
えば20〜50mTorr(2.7〜6.7Pa)程度の
高い圧力を採用する。このように通常より高い圧力とす
ることにより、成膜雰囲気中の不活性ガスの濃度が高く
なり、スパッタリングにより飛来する粒子が不活性ガス
により散乱されやすくなって、基板上に粒状の結晶を成
長しやすくなる。同様に、Ni系下地層を粒状成長させ
るには、その下にCr密着層を配置するとともに、その
Cr密着層を粒状成長させておくことが有利であり、従
ってCr密着層の形成時にも結晶の粒状成長を促進する
圧力、例えば20〜50mTorrとすることが重要で
ある。
【0040】粒状成長に有効な圧力は、成長させる結晶
に依存するだけでなく、使用する成膜装置によっても変
動する。そのため、成膜時の圧力は、これらの条件を考
慮して決定すべきである。とは言え、粒子の散乱を増加
させることで粒状成長を促進するというここでの目的の
ためには、通常の成膜プロセスにおける数mTorrの
成膜雰囲気圧力よりも有意に高い圧力、すなわち、前記
した少なくとも10mTorrの圧力を使用するのが有
利である。
【0041】本発明による磁気記録媒体とその構成は、
以上の説明から容易に理解することができるであろう。
さらに具体的に説明すると、本発明の磁気記録媒体の典
型的な構成例は、図5〜図7に模式断面図で示す通りで
ある。図5は、磁性層の直上に金属拡散層としてCr拡
散層を設けた例である。図示の磁気記録媒体10におい
て、基板1としてはSiO2 膜を有するシリコン基板が
使用されており、その基板1の上に順次、いずれも10
mTorr以上の高Arガス下でスパッタ成膜されたも
のであるが、膜厚20μmのCr密着層2、膜厚100
nmのNiP下地層3、膜厚20nmのCoCrPt(Si
2 )磁性層4、膜厚100nmのCr拡散層5、そして
膜厚8nmのカーボン保護膜6、が設けられている。さら
に、カーボン保護膜6の上には、図示しないが、フロオ
ロカーボン樹脂系の潤滑剤層が施されている。
【0042】図6は、磁性層の直下に金属拡散層として
Cr拡散層を設けた例である。図示の磁気記録媒体10
において、基板1としてはSiO2 膜を有するシリコン
基板が使用されており、その基板1の上に順次、いずれ
も10mTorr以上の高Arガス下でスパッタ成膜さ
れたものであるが、膜厚20μmのCr密着層2、膜厚
100nmのNiP下地層3、膜厚20nmのCr拡散層
5、膜厚20nmのCoCrPt(SiO2 )磁性層4、
そして膜厚8nmのカーボン保護膜6、が設けられてい
る。さらに、カーボン保護膜6の上には、図示しない
が、フロオロカーボン樹脂系の潤滑剤層が施されてい
る。
【0043】図7は、磁性層を上下に分断された2層構
造とし、それらの磁性層の中間に、金属拡散層としてC
r拡散層を設けた例である。図示の磁気記録媒体10に
おいて、基板1としてはSiO2 膜を有するシリコン基
板が使用されており、その基板1の上に順次、いずれも
10mTorr以上の高Arガス下でスパッタ成膜され
たものであるが、膜厚20μmのCr密着層2、膜厚1
00nmのNiP下地層3、膜厚10nmの下方のCoCr
Pt(SiO2 )磁性層4−1、膜厚20nmのCr拡散
層5、膜厚10nmの上方のCoCrPt(SiO2 )磁
性層4−2、そして膜厚8nmのカーボン保護膜6、が設
けられている。さらに、カーボン保護膜6の上には、図
示しないが、フロオロカーボン樹脂系の潤滑剤層が施さ
れている。
【0044】さらにまた、本発明は、そのもう1つの面
において、本発明の磁気記録媒体を使用した磁気ディス
ク装置にある。本発明の磁気ディスク装置において、そ
の構造は特に限定されないというものの、基本的に、磁
気記録媒体において情報の記録を行うための記録ヘッド
部及び情報の再生を行うための再生ヘッド部を備えてい
る装置を包含する。特に、再生ヘッド部は、磁界の強さ
に応じて電気抵抗が変化する磁気抵抗素子を使用した磁
気抵抗効果型ヘッド、すなわち、MRヘッドを備えてい
ることが好ましい。
【0045】本発明の磁気ディスク装置において、好ま
しくは、磁気抵抗効果素子及び該磁気抵抗効果素子にセ
ンス電流を供給する導体層を有し、磁気記録媒体からの
情報の読み出しを行う磁気抵抗効果型の再生ヘッド部
と、薄膜で形成された一対の磁極を有し、磁気記録媒体
への情報の記録を行う誘導型の記録ヘッド部とが積層さ
れてなる複合型の磁気ヘッドを使用することができる。
磁気抵抗効果型の再生ヘッドは、この技術分野において
公知のいろいろな構造を有することができ、そして、好
ましくは、異方性磁気抵抗効果を利用したAMRヘッド
又は巨大磁気抵抗効果を利用したGMRヘッド(スピン
バルブGMRヘッド等を含む)を包含する。特に上記し
たような構成の磁気ディスク装置を使用すると、従来の
複合型の磁気ヘッドに比較して、記録ヘッド部の磁極の
湾曲を小さくするとともに導体層の抵抗を下げ、オフト
ラックが小さい範囲であれば、精確にかつ高感度で情報
を読み出すことができる。
【0046】
【実施例】次いで、本発明の磁気記録媒体及びその製造
方法を下記の実施例によりさらに詳細に説明する。実施例1 外径65mm、内径20mm及び厚さ0.635mmのSiO
2 膜付きシリコン基板を使用して本発明の磁気記録媒体
を製造した。
【0047】DC/RFマグネトロンスパッタ装置(ア
ネルバ社製SPF−430)を用意し、チャンバ内を1
×10-6Torrに排気した後、Arガスを導入して放
電時のガス圧を50mTorrに保持した。最初に、投
入電力300W(DCマグネトロン)、成膜速度1.7
nm/秒の条件で膜厚20nmのCr密着層を成膜した。次
いで、チャンバ内を一旦大気に解放した後、3×10-7
Torrに排気し、さらにArガスを導入し、放電時の
ガス圧を30mTorrに保持して、投入電力300W
(DCマグネトロン)、成膜速度1.11nm/秒の条件
で膜厚100nmのNi3 P下地層を成膜した。引き続
き、同じガス圧で、投入電力150W(RFマグネトロ
ン)、成膜速度0.54nm/秒の条件で膜厚20nmの
(Co−7Cr−20Pt)90−(SiO210磁性層
を成膜した。チャンバ内を再び大気に解放した後、Ar
ガスを導入して放電時のガス圧を50mTorrに保持
して、投入電力300W(DCマグネトロン)、成膜速
度1.7nm/秒の条件で膜厚100nmのCr拡散層を成
膜し、引き続いて、真空を維持したまま、添付の図8に
示すように異なるアニール温度で加熱した。最後に、チ
ャンバ内を1.0×10 -6Torrに排気後、Arガス
を導入し、放電時のガス圧を50mTorrに保持し
て、投入電力400W(DCマグネトロン)、成膜速度
0.24nm/秒の条件で膜厚8nmのカーボン保護膜を成
膜した。図5に示したような層構成を有する磁気記録媒
体が得られた。
【0048】上記のようにして製造した磁気記録媒体の
保磁力のアニール温度依存性を評価するため、異なるア
ニール温度を適用して製造された磁気記録媒体のそれぞ
れについて保磁力Hcを測定したところ、添付の図8に
曲線Iでプロットするような結果が得られた。図示の結
果から理解することができるように、保磁力は、400
℃の温度まではアニール温度の上昇につれて単調に増加
するけれども、600℃まで温度を上昇させると、Cr
拡散層からのCr拡散が過度に生じる結果、非磁性化し
てしまう。したがって、アニール温度は600℃未満で
あることが必要であり、満足し得る保磁力は約100〜
500℃のアニール温度の時に得ることができ、400
℃前後の温度の時に最も高い保磁力を得ることができ
る。実施例2 前記実施例1に記載の手法を繰り返したが、本例では、
磁気記録媒体からCr拡散層を省略した。磁性層の直上
にCr拡散層を有しない相違点を除いて、図5に示した
ような層構成を有する磁気記録媒体が得られた。
【0049】製造した磁気記録媒体の保磁力のアニール
温度依存性を評価するため、異なるアニール温度を適用
して製造された磁気記録媒体のそれぞれについて保磁力
Hcを測定したところ、添付の図8に曲線IIでプロット
するような結果が得られた。図示の結果から理解するこ
とができるように、保磁力は、300℃の温度まではア
ニール温度の上昇につれて単調に増加するけれども、そ
れよりも高温になると急激な低下を示し、600℃まで
温度を上昇させると、磁性層自体からのCr拡散が過度
に生じる結果、非磁性化してしまう。したがって、アニ
ール温度は600℃未満であることが必要であり、満足
し得る保磁力は約100〜500℃のアニール温度の時
に得ることができ、300℃前後の温度の時に最も高い
保磁力を得ることができる。なお、本例の場合にアニー
ル温度が300℃を過ぎたあたりから保磁力が低下しは
じめ、400℃近傍からは急激な保磁力の低下が発生し
たのは、磁性粒形状の変化を伴った拡散が始まり、磁性
粒どうしが合体し始めて、磁性粒間の磁気的相互作用が
逆に増加してしまったことに原因があると、考察され
る。実施例3 外径65mm、内径20mm及び厚さ0.635mmのSiO
2 膜付きシリコン基板を使用して本発明の磁気記録媒体
を製造した。
【0050】DC/RFマグネトロンスパッタ装置(ア
ネルバ社製SPF−430)を用意し、チャンバ内を1
×10-6Torrに排気した後、Arガスを導入して放
電時のガス圧を50mTorrに保持した。最初に、投
入電力300W(DCマグネトロン)、成膜速度1.7
nm/秒の条件で膜厚20nmのCr密着層を成膜した。次
いで、チャンバ内を一旦大気に解放した後、3×10-7
Torrに排気し、さらにArガスを導入し、放電時の
ガス圧を30mTorrに保持して、投入電力300W
(DCマグネトロン)、成膜速度1.11nm/秒の条件
で膜厚100nmのNi3 P下地層を成膜した。次いで、
再びArガスを導入して放電時のガス圧を50mTor
rに保持して、投入電力300W(DCマグネトロ
ン)、成膜速度1.7nm/秒の条件で膜厚20nmのCr
拡散層を成膜した。さらに続けて、放電時のガス圧を3
0mTorrに保持して、投入電力150W(RFマグ
ネトロン)、成膜速度0.54nm/秒の条件で膜厚20
nmの(Co−7Cr−20Pt)90−(SiO210
性層を成膜し、そして、真空を維持したまま、異なるア
ニール温度で加熱した。最後に、チャンバ内を1.0×
10-6Torrに排気後、Arガスを導入し、放電時の
ガス圧を50mTorrに保持して、投入電力400W
(DCマグネトロン)、成膜速度0.24nm/秒の条件
で膜厚8nmのカーボン保護膜を成膜した。図6に示した
ような層構成を有する磁気記録媒体が得られた。 製造
した磁気記録媒体の保磁力のアニール温度依存性を評価
するため、異なるアニール温度を適用して製造された磁
気記録媒体のそれぞれについて保磁力Hcを測定したと
ころ、添付の図8に曲線Iでプロットしたものに比較可
能な結果が得られた。実施例4 外径65mm、内径20mm及び厚さ0.635mmのSiO
2 膜付きシリコン基板を使用して本発明の磁気記録媒体
を製造した。
【0051】DC/RFマグネトロンスパッタ装置(ア
ネルバ社製SPF−430)を用意し、チャンバ内を1
×10-6Torrに排気した後、Arガスを導入して放
電時のガス圧を50mTorrに保持した。最初に、投
入電力300W(DCマグネトロン)、成膜速度1.7
nm/秒の条件で膜厚20nmのCr密着層を成膜した。次
いで、チャンバ内を一旦大気に解放した後、3×10-7
Torrに排気し、さらにArガスを導入し、放電時の
ガス圧を30mTorrに保持して、投入電力300W
(DCマグネトロン)、成膜速度1.11nm/秒の条件
で膜厚100nmのNi3 P下地層を成膜した。次いで、
放電時のガス圧を30mTorrに保持して、投入電力
150W(RFマグネトロン)、成膜速度0.54nm/
秒の条件で膜厚10nmの(Co−7Cr−20Pt)90
−(SiO210磁性層を成膜した。引き続いて、再び
Arガスを導入して放電時のガス圧を50mTorrに
保持して、投入電力300W(DCマグネトロン)、成
膜速度1.7nm/秒の条件で膜厚20nmのCr拡散層を
成膜した。さらに続けて、放電時のガス圧を30mTo
rrに保持して、投入電力150W(RFマグネトロ
ン)、成膜速度0.54nm/秒の条件で膜厚10nmの
(Co−7Cr−20Pt)90−(SiO210磁性層
を成膜し、そして、真空を維持したまま、異なるアニー
ル温度で加熱した。最後に、チャンバ内を1.0×10
-6Torrに排気後、Arガスを導入し、放電時のガス
圧を50mTorrに保持して、投入電力400W(D
Cマグネトロン)、成膜速度0.24nm/秒の条件で膜
厚8nmのカーボン保護膜を成膜した。図7に示したよう
な層構成を有する磁気記録媒体が得られた。 製造した
磁気記録媒体の保磁力のアニール温度依存性を評価する
ため、異なるアニール温度を適用して製造された磁気記
録媒体のそれぞれについて保磁力Hcを測定したとこ
ろ、添付の図8に曲線Iでプロットしたものに比較可能
な結果が得られた。
【0052】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、特にHDDに有利に使用することのできる、極めて
高保磁力であり、かつしたがって高記録密度が可能な磁
気記録媒体を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の磁気記録媒体の一例を示す断面図であ
る。
【図2】従来の磁気記録媒体のもう1つの例を示す断面
図である。
【図3】図2に示した磁気記録媒体の磁性層における磁
性粒子のマイクロ構造を示す模式断面図である。
【図4】本発明による磁気記録媒体における磁性層近傍
における挙動を説明した模式断面図である。
【図5】本発明による磁気記録媒体の好ましい一例を示
す断面図である。
【図6】本発明による磁気記録媒体のもう1つの好まし
い例を示す断面図である。
【図7】本発明による磁気記録媒体のさらにもう1つの
好ましい例を示す断面図である。
【図8】本発明による磁気記録媒体における保磁力のア
ニール温度依存性を示すグラフである。
【符号の説明】
1…非磁性の基板 2…Cr密着層 3…Ni系下地層 4…Co系磁性層 5…金属拡散層 6…保護膜 10…磁気記録媒体
フロントページの続き Fターム(参考) 4K029 AA04 AA06 AA09 BA06 BA07 BA11 BA12 BA24 BA25 BA34 BB02 BC06 BD11 CA05 EA03 EA08 GA01 5D006 BB01 BB06 BB07 BB08 CA01 CB04 DA03 EA03 FA09 5D112 AA02 AA03 AA05 AA11 AA24 BA02 BA03 BB05 BB10 BD03 BD06 FA04 GB02 5E049 AA04 AA09 BA06 CB01 DB02 DB04 EB06 GC01

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非磁性の基板と、その基板の上に順次、
    それぞれスパッタリングによって形成された、Ni系非
    磁性材料からなる下地層及びCo系磁性合金からなる磁
    性層とを有する磁気記録媒体において、 前記磁性層が磁性合金粒子から構成されかつ、それらの
    磁性粒子の粒界に、磁性粒子間の磁気的相互作用を低減
    せしめる作用を有する非磁性金属元素が拡散せしめられ
    ていることを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 【請求項2】 前記非磁性金属元素が、前記磁性層中に
    含まれる非磁性金属に由来し、前記磁性層の形成後にア
    ニーリングを行うことにより前記磁性粒子の粒界に拡散
    せしめられたものであることを特徴とする請求項1に記
    載の磁気記録媒体。
  3. 【請求項3】 前記非磁性金属元素が、前記磁性層に隣
    接して配置された非磁性金属からなる金属拡散層から拡
    散により放出せしめられ、前記磁性粒子の粒界に拡散せ
    しめられたものであることを特徴とする請求項1に記載
    の磁気記録媒体。
  4. 【請求項4】 前記金属拡散層が、前記磁性層の直上、
    中間又はその直下に配置されていることを特徴とする請
    求項3に記載の磁気記録媒体。
  5. 【請求項5】 前記非磁性金属元素が、前記磁性層及び
    前記金属拡散層の形成後にアニーリングを行うことによ
    り前記磁性粒子の粒界に拡散せしめられたものであるこ
    とを特徴とする請求項3又は4に記載の磁気記録媒体。
  6. 【請求項6】 前記非磁性金属元素が、Cr、Mo及び
    Cからなる群から選ばれた一員であることを特徴とする
    請求項1〜5のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
  7. 【請求項7】 前記磁性層のCo系磁性合金が、Coを
    主成分とするCoPt又はCoCrPt合金にSiO2
    を添加した合金であることを特徴とする請求項1〜6の
    いずれか1項に記載の磁気記録媒体。
  8. 【請求項8】 前記下地層のNi系非磁性材料が、Ni
    を主成分とするNiP又はNiZr合金であることを特
    徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の磁気記録
    媒体。
  9. 【請求項9】 前記非磁性の基板と、前記Ni系非磁性
    材料からなる下地層との間に、基板と下地層の密着を改
    善するための密着層をさらに含むことを特徴とする請求
    項1〜8のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
  10. 【請求項10】 前記非磁性の基板が、シリコン基板、
    カーボン基板、ガラス基板又は結晶化ガラス基板である
    ことを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の
    磁気記録媒体。
  11. 【請求項11】 保磁力が2.0kOe以上であること
    を特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の磁
    気記録媒体。
  12. 【請求項12】 非磁性の基板と、その基板の上に順
    次、それぞれスパッタリングによって形成された、Ni
    系非磁性材料からなる下地層及びCo系磁性合金からな
    る磁性層とを有しかつ、その際、前記磁性層が磁性合金
    粒子から構成されかつ、それらの磁性粒子の粒界に、磁
    性粒子間の磁気的相互作用を低減せしめる作用を有する
    非磁性金属元素が拡散せしめられている磁気記録媒体を
    製造するに当たって、 前記磁性層中かもしくは前記磁性層に隣接して配置され
    た金属拡散層中に前記非磁性金属元素に対応する非磁性
    金属を含ませ、前記磁性層及び、もしも存在するなら
    ば、前記金属拡散層の形成後にアニーリングを行うこと
    により前記非磁性金属元素を前記磁性粒子の粒界に拡散
    せしめることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記アニーリングを600℃未満の温
    度で実施することを特徴とする請求項12に記載の製造
    方法。
  14. 【請求項14】 前記各層のスパッタリングによる形成
    を、それらの層の粒状成長を促進するのに十分な圧力の
    下で実施することを特徴とする請求項12又は13に記
    載の製造方法。
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