JP2000258454A - プローブユニット - Google Patents
プローブユニットInfo
- Publication number
- JP2000258454A JP2000258454A JP11058697A JP5869799A JP2000258454A JP 2000258454 A JP2000258454 A JP 2000258454A JP 11058697 A JP11058697 A JP 11058697A JP 5869799 A JP5869799 A JP 5869799A JP 2000258454 A JP2000258454 A JP 2000258454A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- probe
- probe unit
- insulating substrate
- surface wiring
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- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波領域で使用した場合でも配線部分のイ
ンピーダンスが過大になることを防止できるプローブユ
ニットを提供する。 【解決手段】 複数のプローブピン１と、複数のプロー
ブピン１をソケット２を介して保持するホルダ３と、絶
縁基板５の表面に表面配線６が、裏面に裏面配線７がそ
れぞれ形成された配線板４からなり、表面配線６と裏面
配線７とが略同一寸法の帯状をして略全面で背向してお
り、それぞれ一端で各１個のプローブピンと電気的に接
続されたプローブユニットとする。
ンピーダンスが過大になることを防止できるプローブユ
ニットを提供する。 【解決手段】 複数のプローブピン１と、複数のプロー
ブピン１をソケット２を介して保持するホルダ３と、絶
縁基板５の表面に表面配線６が、裏面に裏面配線７がそ
れぞれ形成された配線板４からなり、表面配線６と裏面
配線７とが略同一寸法の帯状をして略全面で背向してお
り、それぞれ一端で各１個のプローブピンと電気的に接
続されたプローブユニットとする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験機や測定器に
使用されるプローブユニット、特に、高周波領域での試
験や測定に適したプローブユニットに関する。
使用されるプローブユニット、特に、高周波領域での試
験や測定に適したプローブユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】各種デバイスの試験や測定を行う際、そ
のデバイスの外部端子等にプローブピンを接触させて給
電や信号の入出力が行われることが多い。プローブユニ
ットはこのプローブピンを所定数、そのデバイスの外部
端子の配置に合わせて配設したものであり、そのプロー
ブピンと試験機や測定器の回路ボードとを結ぶ配線を有
する。このプローブユニットの従来例を、磁気ヘッドの
試験機に使用するプローブユニットの例で、図４を参照
しながら説明する。
のデバイスの外部端子等にプローブピンを接触させて給
電や信号の入出力が行われることが多い。プローブユニ
ットはこのプローブピンを所定数、そのデバイスの外部
端子の配置に合わせて配設したものであり、そのプロー
ブピンと試験機や測定器の回路ボードとを結ぶ配線を有
する。このプローブユニットの従来例を、磁気ヘッドの
試験機に使用するプローブユニットの例で、図４を参照
しながら説明する。
【０００３】図４は、従来例を示す斜視図である。同図
において、図１と同じものには同一の符号を付与した。
１はプローブピン、２はソケット、１３はホルダ、１４
はリード線である。リード線１４は一端がソケット２に
接続されてプローブピン１と導通しており、他端は磁気
ヘッド駆動用アンプを含む回路ボードの端子（図は省
略）に半田付けされる。この例では、リード線１４は書
込み回路と読取り回路とに別けて２本づつ撚られてい
る。
において、図１と同じものには同一の符号を付与した。
１はプローブピン、２はソケット、１３はホルダ、１４
はリード線である。リード線１４は一端がソケット２に
接続されてプローブピン１と導通しており、他端は磁気
ヘッド駆動用アンプを含む回路ボードの端子（図は省
略）に半田付けされる。この例では、リード線１４は書
込み回路と読取り回路とに別けて２本づつ撚られてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このようなリード線を
用いたプローブユニットでは、高周波領域で使用した場
合、リード線部分のインピーダンスが過大となる、とい
う問題があった。上記の例のようにリード線を撚ること
でインピーダンスは多少低減するが、周波数が高くなる
に従って撚ることでは対応し切れなくなってきている。
また、リード線の全長を短縮すればインピーダンスを減
らすことができるが、リード線の全長を短縮することに
は試験機の構造等の関係で限度があり、全長の短縮で所
望のインピーダンスを得ることも困難になってきてい
る。
用いたプローブユニットでは、高周波領域で使用した場
合、リード線部分のインピーダンスが過大となる、とい
う問題があった。上記の例のようにリード線を撚ること
でインピーダンスは多少低減するが、周波数が高くなる
に従って撚ることでは対応し切れなくなってきている。
また、リード線の全長を短縮すればインピーダンスを減
らすことができるが、リード線の全長を短縮することに
は試験機の構造等の関係で限度があり、全長の短縮で所
望のインピーダンスを得ることも困難になってきてい
る。
【０００５】本発明は、このような問題を解決して、高
周波領域で使用した場合でも配線部分のインピーダンス
が過大になることを防止できるプローブユニットを提供
することを目的とする。
周波領域で使用した場合でも配線部分のインピーダンス
が過大になることを防止できるプローブユニットを提供
することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明においては、複数のプローブピンと、該プロ
ーブピンを保持するホルダと、配線板とを有し、該配線
板は絶縁基板と、該絶縁基板の表面に形成された帯状の
表面配線と、該表面配線と全面で背向するように該絶縁
基板の裏面に形成された帯状の裏面配線とを有し、該表
面配線と該裏面配線はそれぞれ一端で一個の該プローブ
ピンと電気的に接続されているプローブユニットとして
いる。
め、本発明においては、複数のプローブピンと、該プロ
ーブピンを保持するホルダと、配線板とを有し、該配線
板は絶縁基板と、該絶縁基板の表面に形成された帯状の
表面配線と、該表面配線と全面で背向するように該絶縁
基板の裏面に形成された帯状の裏面配線とを有し、該表
面配線と該裏面配線はそれぞれ一端で一個の該プローブ
ピンと電気的に接続されているプローブユニットとして
いる。
【０００７】即ち、表面配線と裏面配線とを広い面積で
近接背向させることにより、プローブユニットの配線部
分のインピーダンスを低減させることができるから、高
周波領域で使用しても配線部分のインピーダンスが過大
になることを防止でき、このプローブユニットを使用し
た高周波領域での試験・測定の精度を維持することがで
きる。
近接背向させることにより、プローブユニットの配線部
分のインピーダンスを低減させることができるから、高
周波領域で使用しても配線部分のインピーダンスが過大
になることを防止でき、このプローブユニットを使用し
た高周波領域での試験・測定の精度を維持することがで
きる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、磁
気ヘッドの試験機に使用するプローブユニットの例で、
図１〜３を参照しながら説明する。
気ヘッドの試験機に使用するプローブユニットの例で、
図１〜３を参照しながら説明する。
【０００９】図１は本発明の実施例を示す斜視図であ
る。このプローブユニットは、複数のプローブピン１
と、プローブピン１と同数のソケット２と、このソケッ
ト２を介して複数のプローブピン１を保持するホルダ３
と、絶縁基板５の表面に表面配線６が、裏面に裏面配線
７がそれぞれ形成されてなる配線板４とを有する。
る。このプローブユニットは、複数のプローブピン１
と、プローブピン１と同数のソケット２と、このソケッ
ト２を介して複数のプローブピン１を保持するホルダ３
と、絶縁基板５の表面に表面配線６が、裏面に裏面配線
７がそれぞれ形成されてなる配線板４とを有する。
【００１０】プローブピン１は圧縮コイルばねを内蔵し
ており（図示は省略）、接触圧により縮む。ソケット２
は導体からなり、１本のプローブピン１を着脱可能に挿
入保持する。ホルダ３は表面抵抗が１０6 〜１０13Ω程
度の帯電しにくい絶縁体からなる。このホルダ３に、複
数のソケット２がホルダ３を貫通する形で固着されると
ともに、配線板４が、その端部がソケット２の端部に近
接する位置で、且つその裏面側の絶縁基板５が露出する
部分で、固着される。尚、ホルダ３は、プローブユニッ
トを試験機本体に固定するための取付け穴３ａを備えて
おり、また、裏面配線７がホルダ３と離隔するように凹
部３ｂが設けられている。
ており（図示は省略）、接触圧により縮む。ソケット２
は導体からなり、１本のプローブピン１を着脱可能に挿
入保持する。ホルダ３は表面抵抗が１０6 〜１０13Ω程
度の帯電しにくい絶縁体からなる。このホルダ３に、複
数のソケット２がホルダ３を貫通する形で固着されると
ともに、配線板４が、その端部がソケット２の端部に近
接する位置で、且つその裏面側の絶縁基板５が露出する
部分で、固着される。尚、ホルダ３は、プローブユニッ
トを試験機本体に固定するための取付け穴３ａを備えて
おり、また、裏面配線７がホルダ３と離隔するように凹
部３ｂが設けられている。
【００１１】絶縁基板５はガラスエポキシ樹脂、ポリイ
ミド樹脂などからなり、表面配線６及び裏面配線７は銅
箔などからなる。この表面配線６と裏面配線７とはソケ
ット２側の末端部を除いて略同一寸法の帯状をしてお
り、両者はソケット２側の末端部を除いて略全面で絶縁
基板５を介して対向している。ソケット２側の末端部で
は表面配線６と裏面配線７とは左右にずれている。裏面
配線７のソケット２側の末端部の直上表面側にはランド
８が設けられており、このランド８と裏面配線７とはス
ルーホール（図示は省略）を介して導通している。ソケ
ット２はランド８か表面配線６末端部のいずれかで電気
的に接続されている。
ミド樹脂などからなり、表面配線６及び裏面配線７は銅
箔などからなる。この表面配線６と裏面配線７とはソケ
ット２側の末端部を除いて略同一寸法の帯状をしてお
り、両者はソケット２側の末端部を除いて略全面で絶縁
基板５を介して対向している。ソケット２側の末端部で
は表面配線６と裏面配線７とは左右にずれている。裏面
配線７のソケット２側の末端部の直上表面側にはランド
８が設けられており、このランド８と裏面配線７とはス
ルーホール（図示は省略）を介して導通している。ソケ
ット２はランド８か表面配線６末端部のいずれかで電気
的に接続されている。
【００１２】この例では被試験物（磁気ヘッド）の外部
接続端子（パッド）に合わせて合計４本のプローブピン
１がそれぞれソケット２に挿入されて１列に等間隔で並
んでおり、これらのソケット２側の延長方向で２本の表
面配線６が絶縁基板５を介して各１本の裏面配線７と対
向している。この対をなす配線二組の一方は書込みの、
他方は読取りのそれぞれ試験回路の一部となっている。
この部分の回路インピーダンスは、この絶縁基板５の厚
さ，対向する表面配線６と裏面配線７の幅及び長さを適
宜に選択することで、所望の値にすることができる。
接続端子（パッド）に合わせて合計４本のプローブピン
１がそれぞれソケット２に挿入されて１列に等間隔で並
んでおり、これらのソケット２側の延長方向で２本の表
面配線６が絶縁基板５を介して各１本の裏面配線７と対
向している。この対をなす配線二組の一方は書込みの、
他方は読取りのそれぞれ試験回路の一部となっている。
この部分の回路インピーダンスは、この絶縁基板５の厚
さ，対向する表面配線６と裏面配線７の幅及び長さを適
宜に選択することで、所望の値にすることができる。
【００１３】表面配線６と裏面配線７の、ソケット２側
とは反対側の末端部と、試験機の磁気ヘッド駆動用アン
プを含む回路ボードとの電気的接続は、短いリード線を
半田付けすればよい。また、図２や図３に示すように、
プローブユニットに専用のプローブピンを設けてこれを
回路ボードと接触させるようにしてもよい。
とは反対側の末端部と、試験機の磁気ヘッド駆動用アン
プを含む回路ボードとの電気的接続は、短いリード線を
半田付けすればよい。また、図２や図３に示すように、
プローブユニットに専用のプローブピンを設けてこれを
回路ボードと接触させるようにしてもよい。
【００１４】図２及び図３は、本発明の他の実施例を示
す側面断面図である。両図において、９はプランジャー
であり、圧縮コイルばねを内蔵しており（図示は省
略）、接触圧により縮む。１０はソケットであり、導体
からなり、１本のプランジャー９を着脱可能に挿入保持
する。１１は被試験物の接触対象（パッド）、１２は回
路ボードの接触対象（パッド）である。総ての表面配線
６及び裏面配線７に各１個のソケット１０が電気的に接
続されている。これらのタイプのプローブユニットは、
回路ボードとの接続に半田付けを伴わないから、交換が
容易である。
す側面断面図である。両図において、９はプランジャー
であり、圧縮コイルばねを内蔵しており（図示は省
略）、接触圧により縮む。１０はソケットであり、導体
からなり、１本のプランジャー９を着脱可能に挿入保持
する。１１は被試験物の接触対象（パッド）、１２は回
路ボードの接触対象（パッド）である。総ての表面配線
６及び裏面配線７に各１個のソケット１０が電気的に接
続されている。これらのタイプのプローブユニットは、
回路ボードとの接続に半田付けを伴わないから、交換が
容易である。
【００１５】本発明のプローブユニットでは表面配線６
と裏面配線７とが近接対向しているから、この部分のイ
ンピーダンスを従来のプローブユニットのリード線１４
より大幅に減らして所望の値にすることができた。その
一例を次に示す。従来のプローブユニットにおける全長
４０ｍｍの２本撚りのリード線１４を周波数２００ＭＨ
ｚで使用すると、インピーダンスが４４Ωとなった。こ
のリード線１４は、試験対象の磁気ヘッドが組み込まれ
る磁気記憶装置において磁気ヘッドと磁気ヘッド駆動用
アンプとを繋ぐフレキシブル配線板に相当するから、リ
ード線１４の部分のインピーダンスをこのフレキシブル
配線板のそれと略等しくしたいが、この例では５Ω大き
くなっている。
と裏面配線７とが近接対向しているから、この部分のイ
ンピーダンスを従来のプローブユニットのリード線１４
より大幅に減らして所望の値にすることができた。その
一例を次に示す。従来のプローブユニットにおける全長
４０ｍｍの２本撚りのリード線１４を周波数２００ＭＨ
ｚで使用すると、インピーダンスが４４Ωとなった。こ
のリード線１４は、試験対象の磁気ヘッドが組み込まれ
る磁気記憶装置において磁気ヘッドと磁気ヘッド駆動用
アンプとを繋ぐフレキシブル配線板に相当するから、リ
ード線１４の部分のインピーダンスをこのフレキシブル
配線板のそれと略等しくしたいが、この例では５Ω大き
くなっている。
【００１６】これに対して本発明のプローブユニットで
は、上記の絶縁基板５の厚さが０．４ｍｍ、表面配線６
と裏面配線７の対向部分の幅が１．６ｍｍ、長さが１５
ｍｍの配線板４を使用し、これに２５ｍｍの２本撚りの
リード線を加えた場合の周波数２００ＭＨｚでのインピ
ーダンスは、前記フレキシブル配線板のそれと同じ３９
Ωとなった。
は、上記の絶縁基板５の厚さが０．４ｍｍ、表面配線６
と裏面配線７の対向部分の幅が１．６ｍｍ、長さが１５
ｍｍの配線板４を使用し、これに２５ｍｍの２本撚りの
リード線を加えた場合の周波数２００ＭＨｚでのインピ
ーダンスは、前記フレキシブル配線板のそれと同じ３９
Ωとなった。
【００１７】本発明は以上の例に限定されることなく、
更に種々変形して実施することができる。例えば、プロ
ーブピンが４本以外の複数本であっても、本発明は有効
である。
更に種々変形して実施することができる。例えば、プロ
ーブピンが４本以外の複数本であっても、本発明は有効
である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高周波領域で使用した場合でも配線部分のインピーダン
スが過大になることを防止できるプローブユニットを提
供することができる。
高周波領域で使用した場合でも配線部分のインピーダン
スが過大になることを防止できるプローブユニットを提
供することができる。
【図１】 本発明の実施例を示す斜視図である。
【図２】 本発明の他の実施例を示す側面断面図であ
る。
る。
【図３】 本発明の他の実施例を示す側面断面図であ
る。
る。
【図４】 従来例を示す斜視図である。
１ プローブピン ２，１０ ソケット ３，１３ ホルダ ３ａ 取付け穴 ３ｂ 凹部 ４ 配線板 ５ 絶縁基板 ６ 表面配線 ７ 裏面配線 ８ ランド ９ プランジャー １１，１２ 接触対象 １４ リード線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒谷 竹敏 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 清田 茂男 東京都北区上中里２丁目32番12号 有限会 社清田製作所内 (72)発明者 赤松 弘一 東京都中野区弥生町５丁目10番12号 株式 会社キャンドックスシステムズ内 Ｆターム(参考） 2G011 AA15 AC32 AE22 AF02 5E077 BB12 BB31 CC22 DD12 DD14 FF21 JJ15
Claims (2)
- 【請求項１】 複数のプローブピンと、該プローブピン
を保持するホルダと、配線板とを有し、 該配線板は絶縁基板と、該絶縁基板の表面に形成された
帯状の表面配線と、該表面配線と全面で背向するように
該絶縁基板の裏面に形成された帯状の裏面配線とを有
し、 該表面配線と該裏面配線はそれぞれ一端で一個の該プロ
ーブピンと電気的に接続されていることを特徴とするプ
ローブユニット。 - 【請求項２】 前記表面配線と前記裏面配線とをそれぞ
れ複数個有し、複数個の該表面配線がそれぞれ一個の該
裏面配線と背向していることを特徴とする請求項１記載
のプローブユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11058697A JP2000258454A (ja) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | プローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11058697A JP2000258454A (ja) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | プローブユニット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000258454A true JP2000258454A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13091732
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11058697A Pending JP2000258454A (ja) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | プローブユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000258454A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006057407A1 (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-01 | Nhk Spring Co., Ltd. | 中継部材および検査プローブ治具 |
| JP2008177045A (ja) * | 2007-01-18 | 2008-07-31 | Fujitsu Component Ltd | 平衡伝送用コネクタ及び平衡伝送用ケーブルアッセンブリ |
-
1999
- 1999-03-05 JP JP11058697A patent/JP2000258454A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006057407A1 (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-01 | Nhk Spring Co., Ltd. | 中継部材および検査プローブ治具 |
| JP2006153645A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Nhk Spring Co Ltd | 中継部材および検査プローブ治具 |
| JP2008177045A (ja) * | 2007-01-18 | 2008-07-31 | Fujitsu Component Ltd | 平衡伝送用コネクタ及び平衡伝送用ケーブルアッセンブリ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060302 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071113 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080325 |