JP2000255101A - 画像形成システム及び画像形成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＬＥＤアレイの出力画素欠陥の影響を抑制し
て、画像形成装置の保守コスト等が低減される画像形成
システム及び画像形成方法を提供する。 【解決手段】 ＬＥＤアレイ１を含んで構成された書き
込み装置２８を有する画像形成装置２０に対して、画像
形成装置２０の内部または外部に欠陥検知手段４を設け
て、ＬＥＤアレイ１に発生した欠陥画素の有無及び位置
を検知・特性し、得られた欠陥画素情報に基づいて、欠
陥補正手段３によって欠陥画素の周辺画素等に対して出
力補正を行って出力画素欠陥を目立たなくすることによ
って、欠陥画素の影響を抑制して、ＬＥＤアレイ１を交
換しなくても良好な状態でその使用を継続することがで
きる画像形成システムとすることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＬＥＤアレイを用
いた画像形成装置を備える画像形成システム及び画像形
成方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光プリンタや、ファクシミリ装置、複写
機等における画像形成・出力に用いられる画像形成装置
として、画像の書き込みに、複数のＬＥＤ素子を配列し
たＬＥＤアレイを用いたものがある。例えばＬＥＤアレ
イ・プリンタでは、まず、主走査方向のＬＥＤ点灯プロ
ファイル・データが作成される。このデータに基づいて
ＬＥＤアレイ上の各発光素子が点灯されることにより感
光体上に潜像・トナー像が形成され、用紙上に転写・定
着されてドキュメントである出力画像が形成・出力され
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ＬＥＤアレイを用いた
画像形成装置においては、ＬＥＤアレイを構成する各Ｌ
ＥＤ素子に対応するそれぞれの画素での出力欠陥（出力
画素欠陥）の発生が問題となる。特に、ＬＥＤアレイの
一部の画素に出力画素欠陥が生じた場合にＬＥＤアレイ
全体を交換したのでは、交換等による装置の保守コスト
等が高くなってしまう。これに対して、ＬＥＤアレイを
用いた画像形成装置の保守を容易化するなどの目的で様
々な方法が提案されている。

【０００４】例えば特開平７−６８８４１号公報には、
ＬＥＤアレイを複数部分から形成し、出力画素欠陥の発
生に対して欠陥画素を含むＬＥＤアレイの所定部分のみ
を部分的に交換することが記載されている。しかし、Ｌ
ＥＤアレイを複数部分とした場合には、ＬＥＤアレイ単
体のコストや作業コストが上昇し、また、各部分間での
画素間ピッチのずれや描画範囲の画素数が異なるなどの
問題を生じる。このような場合には、例えば特開平１０
−２５０１４２号公報に記載されているように、補正デ
ータの使用やＬＥＤアレイの選別等を行う必要があり、
したがって、ＬＥＤアレイの複数部分化と部分交換はか
えってコスト高を招くことがある。ＬＥＤアレイの交換
によるコスト高は、一般のＬＥＤアレイについても同様
である。

【０００５】また、特開平４−３４４９９２号公報に
は、出力画素欠陥の影響が低減される画素の接続・駆動
方法が記載されている。しかし、この方法では画素に階
調を持たせた画像形成装置には対応できず、また、ＬＥ
Ｄアレイが有するばらつきを抑制することができない。

【０００６】欠陥画素の検出方法としては、例えば特開
昭６３−１４１７４８号公報にテストパターンを用いる
ことが記載されているが、この文献に記載のテストパタ
ーンによる方法では欠陥画素の有無判別は可能である
が、欠陥画素の位置の特定が困難である。また、欠陥画
素の検出に検出用センサを用いること（特開平２−２４
９６６７号公報）や、検出回路等を用いること（特開平
５−３１９５６号公報、特開平７−２６６６１９号公
報）が提案されているが、特にＬＥＤアレイが微細化
（例えば６００ｄｐｉ以上）されたときに、それらの配
線等によってＬＥＤアレイ等の高コスト化が避けられな
い。また、検出回路を用いる場合にはＬＥＤ素子の欠陥
による出力画素欠陥のみしか検出できず、例えば画素へ
のゴミの付着等による出力画素欠陥を検出することがで
きない。

【０００７】本発明は、以上の問題点に鑑みてなされた
ものであり、ＬＥＤアレイを用いた画像形成装置につい
て、ＬＥＤアレイの出力画素欠陥の影響を抑制して画像
形成装置の保守コスト等が低減される画像形成システム
及び画像形成方法を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明による画像形成システムは、ＬＥＤア
レイを用いた画像形成装置を備える画像形成システムで
あって、ＬＥＤアレイのそれぞれの画素における出力画
素欠陥について、その欠陥画素の有無及び位置を検知す
る欠陥検知手段と、ＬＥＤアレイを構成する画素の出力
補正によって、欠陥画素の影響を低減させる欠陥補正手
段と、欠陥補正手段に接続されて、出力補正に基づいて
ＬＥＤアレイを駆動・制御して画像の形成を行うＬＥＤ
アレイ駆動手段と、を有することを特徴とする。

【０００９】また、本発明による画像形成方法は、ＬＥ
Ｄアレイを用いた画像形成装置に関する画像形成方法で
あって、ＬＥＤアレイのそれぞれの画素における出力画
素欠陥について、その欠陥画素の有無及び位置を検知す
る欠陥検知ステップと、ＬＥＤアレイを構成する画素の
出力補正によって、欠陥画素の影響を低減させる欠陥補
正ステップと、出力補正に基づいてＬＥＤアレイを駆動
・制御して画像の形成を行うＬＥＤアレイ駆動ステップ
と、を有することを特徴とする。

【００１０】ＬＥＤアレイを用いた単色あるいは多色の
画像形成装置に対して、上記のように欠陥画素の検知及
び特定が可能なように構成された欠陥検知手段を設けて
欠陥画素の検知を行うことによって、画像形成装置のメ
ンテナンス等が容易化される。

【００１１】さらに、検知された欠陥画素情報に基づい
て欠陥補正手段によって出力補正を行うことによって、
多数の画素に影響するようなドライバまたは信号線等で
の欠陥が生じない限り、ＬＥＤアレイを交換することな
く、欠陥画素の影響が低減され、出力画素欠陥が目立た
なくされて回復された状態で、画像形成装置の使用を継
続することができる。以上によって、画像形成装置の保
守等が容易化され、その保守コスト・装置コストが低減
された画像形成システム及び画像形成方法を実現するこ
とができる。また、ＬＥＤアレイ交換の場合でも装置の
ダウン・タイムを最小限に抑えることができる。

【００１２】このような構成によれば、ＬＥＤアレイの
各画素を構成するＬＥＤ素子自体の欠陥のみでなく、ゴ
ミの付着や光量補正時の補正エラーなど、様々な段階で
生じる欠陥・エラー等についても検知・補正が可能なよ
うにすることができる。また、欠陥補正については、プ
リンタドライバでの出力画像データ作成時以外にもデコ
ンポーザ、またはＬＥＤアレイ上での補正が考えられる
が、ＬＥＤアレイの画素特性等の特性補正がＬＥＤアレ
イを駆動させるドライバの段階で行われているので、欠
陥補正についても同様にＬＥＤアレイ駆動の段階で行う
ことによって、メモリ等のシステム資産を利用して、装
置コスト等を増大させることなく補正を実現することが
できる。

【００１３】なお、画像形成システムにおいては、欠陥
補正手段及びＬＥＤアレイ駆動手段は通常は画像形成装
置内に設けられるが、欠陥検知手段については、必ずし
も画像形成装置内に設置されるものではなく、画像形成
装置を有する装置の他の装置部分、または、別個の装置
として設置される構成とすることも可能である。

【００１４】また、画像形成システムは、欠陥検知手段
が、受光素子を有して構成されるとともに欠陥補正手段
に接続されて、欠陥検知手段からの欠陥画素についての
情報に基づいて、欠陥補正手段によって自動的に出力補
正が行われることを特徴とする。

【００１５】同様に、画像形成方法は、欠陥検知ステッ
プが、受光素子を用いて欠陥画素の検知を行い、欠陥補
正ステップは、欠陥検知ステップからの欠陥画素につい
ての情報に基づいて、自動的に出力補正を行うことを特
徴とする。

【００１６】受光素子を用いて欠陥画素検知を行い、そ
れによって自動的に出力補正を行うようにすることによ
って、長期にわたってメンテナンスの必要が小さくなる
ので、さらに保守の容易化とコスト低減が実現される。
また、特に多数の画素（例えば６００ｄｐｉ、Ａ４横サ
イズの場合約７０００画素）を用いている場合に、その
検知効率が大幅に向上される。

【００１７】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
補正手段（欠陥補正ステップ）が、欠陥検知手段（欠陥
検知ステップ）によって検知された欠陥画素のそれぞれ
のうち、出力補正を行う欠陥画素を選択する補正画素選
択手段（補正画素選択ステップ）を有することを特徴と
する。

【００１８】このような補正画素選択手段をさらに設け
ることによって、欠陥画素の位置によって出力補正が不
必要な位置にある欠陥画素については出力補正を行わな
いなど、検知されたそれぞれの欠陥画素について出力補
正の実行または不実行を適宜選択することによって、出
力補正を効率化することができる。

【００１９】また、画像形成システムは、欠陥検知手段
からの欠陥画素についての情報を表示する表示手段と、
欠陥補正手段による出力補正についての情報を入力する
補正情報入力手段と、をさらに備えることを特徴とす
る。

【００２０】同様に、画像形成方法は、欠陥検知ステッ
プと、欠陥補正ステップとの間に、欠陥検知ステップか
らの欠陥画素についての情報を表示する表示ステップ
と、表示された欠陥画素についての情報に基づいて出力
補正を行う画素または補正方法を決定する出力補正決定
ステップと、欠陥補正ステップによる出力補正について
の情報を入力する補正情報入力ステップと、をさらに有
することを特徴とする。

【００２１】欠陥画素情報を表示手段によって表示する
ことによって操作者等に提供し、その情報に基づいて操
作者等によって出力補正の内容について決定して、決定
された出力補正の内容を入力手段から欠陥補正手段に対
して入力することによって、個々の使用条件等に応じて
好適な出力補正を選択することができる。

【００２２】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
検知手段（欠陥検知ステップ）が、欠陥画素の検知時に
おいて、ＬＥＤアレイの画素のうち隣接する画素を、そ
れぞれ異なるタイミングで駆動させることを特徴とす
る。

【００２３】隣接する画素を同時に駆動させないように
して欠陥画素の検知を行うことによって、その検知及び
特定を容易化して、例えば受光素子を用いた場合に高解
像度の受光素子を使用することによる装置の高コスト化
等を防止することができる。

【００２４】また、画像形成システムは、欠陥検知手段
が、ＣＣＤセンサを有して構成されていることを特徴と
する。

【００２５】同様に、画像形成方法は、欠陥検知ステッ
プが、ＣＣＤセンサを用いて欠陥画素の検知を行うこと
を特徴とする。

【００２６】また、画像形成システムは、欠陥検知手段
が、スキャナを有して構成されていることを特徴とす
る。

【００２７】同様に、画像形成方法は、欠陥検知ステッ
プが、スキャナを用いて欠陥画素の検知を行うことを特
徴とする。

【００２８】これらのＣＣＤセンサやスキャナとして
は、画像形成装置またはそれを含む装置の他の装置部分
に付設されているもの、または周辺機器等として既設さ
れているものを使用することが可能であり、このような
場合に、装置コストの増大を抑制することができる。

【００２９】また、画像形成システムは、欠陥検知手段
が、欠陥画素を検知するために用いられるテストパター
ンによる画像を形成・出力させるためのテストパターン
出力手段を有し、テストパターンによる画像に基づい
て、欠陥補正手段による出力補正についての情報を入力
する補正情報入力手段をさらに備えることを特徴とす
る。

【００３０】同様に、画像形成方法は、欠陥検知ステッ
プが、欠陥画素を検知するために用いられるテストパタ
ーンによる画像を形成・出力させるためのテストパター
ン出力ステップを有し、欠陥検知ステップと、欠陥補正
ステップとの間に、テストパターンによる画像に基づい
て出力補正を行う画素または補正方法を決定する出力補
正決定ステップと、欠陥補正ステップによる出力補正に
ついての情報を入力する補正情報入力ステップと、をさ
らに有することを特徴とする。

【００３１】このようにテストパターンを用い、操作者
等によって欠陥画素の検知を行う場合には、新たな部品
・装置等を設置等することなく欠陥検知手段を構成する
ことが可能であるので、装置コストをさらに低減するこ
とができる。また、操作者等が出力補正方法を決定し入
力することができるので、好適な補正を選択することが
可能である。

【００３２】また、画像形成システム（方法）は、テス
トパターンが、ＬＥＤアレイの画素をそれぞれ所定個数
の画素からなるブロックに分割し、それぞれのブロック
を識別するためのブロック識別パターンと、ブロックを
特定するためのブロック特定パターンと、を有するブロ
ック用テストパターンであることを特徴とする。

【００３３】あるいは、画像形成システム（方法）は、
テストパターンが、ＬＥＤアレイの画素をそれぞれ所定
個数の画素からなるブロックに分割し、それぞれのブロ
ックにおいてブロックに属するそれぞれの画素を識別す
るためのブロック別画素識別パターンからなる画素識別
パターンと、画素を特定するための画素特定パターン
と、を有する画素用テストパターンであることを特徴と
する。

【００３４】また、画像形成システムは、テストパター
ン出力手段が、ＬＥＤアレイの画素をそれぞれ所定個数
の画素からなるブロックに分割し、それぞれのブロック
を識別するためのブロック識別パターンと、ブロックを
特定するためのブロック特定パターンと、を有するブロ
ック用テストパターンを形成・出力させるためのブロッ
ク用テストパターン出力手段と、それぞれのブロックの
うちの欠陥画素を含む欠陥ブロックにおいて欠陥ブロッ
クに属するそれぞれの画素を識別するためのブロック別
画素識別パターンからなる画素識別パターンと、画素を
特定するための画素特定パターンと、を有する画素用テ
ストパターンを形成・出力させるための画素用テストパ
ターン出力手段と、を有するとともに、ブロック用テス
トパターンによる画像に基づいて識別・特定された、欠
陥画素を含む欠陥ブロックについての情報を入力する欠
陥情報入力手段を有することを特徴とする。

【００３５】同様に、画像形成方法は、テストパターン
出力ステップが、ＬＥＤアレイの画素をそれぞれ所定個
数の画素からなるブロックに分割し、それぞれのブロッ
クを識別するためのブロック識別パターンと、ブロック
を特定するためのブロック特定パターンと、を有するブ
ロック用テストパターンを形成・出力させるためのブロ
ック用テストパターン出力ステップと、それぞれのブロ
ックのうちの欠陥画素を含む欠陥ブロックにおいて欠陥
ブロックに属するそれぞれの画素を識別するためのブロ
ック別画素識別パターンからなる画素識別パターンと、
画素を特定するための画素特定パターンと、を有する画
素用テストパターンを形成・出力させるための画素用テ
ストパターン出力ステップと、を有するとともに、ブロ
ック用テストパターン出力ステップと、画素用テストパ
ターン出力ステップとの間に、ブロック用テストパター
ンによる画像に基づいて欠陥画素を含む欠陥ブロックを
識別・特定するブロック特定ステップと、ブロック特定
ステップにおいて識別・特定された、欠陥画素を含む欠
陥ブロックについての情報を入力する欠陥情報入力ステ
ップと、をさらに有することを特徴とする。

【００３６】テストパターンの構成については、例えば
上記したようなブロック用や画素用のテストパターンを
用いることができる。特に、最初にブロック用テストパ
ターンによって欠陥画素を含む欠陥ブロックを特定し、
特定された欠陥ブロックについての情報を入力して、そ
れに基づいて次に画素用テストパターンを出力して欠陥
画素を特定する方法を用いることによって、特に画素数
が多い場合に、欠陥画素検知の効率を向上することがで
きる。

【００３７】また、ブロック用・画素用のいずれのテス
トパターンも、識別パターンと特定パターンとから構成
することによって、効率的に欠陥画素の検知及び特定を
行うことができる。

【００３８】さらに、画像形成システム（方法）は、画
素用テストパターンの画素識別パターンが、ＬＥＤアレ
イのそれぞれの画素のうち、隣接する画素に対応するパ
ターンが分離されて構成されていても良い。

【００３９】また、画像形成システム（方法）は、ブロ
ック用テストパターンのブロック識別パターンが、それ
ぞれのブロックの境界位置に付された所定の画素幅から
なる凹状パターンまたは凸状パターンの少なくとも一方
を有して構成されていても良い。

【００４０】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
情報入力手段において、複数の欠陥ブロックを指定する
ことが可能としても良い。

【００４１】また、画像形成システム（方法）は、画素
用テストパターンの画素特定パターンが、画素識別パタ
ーンのそれぞれのブロック別画素識別パターンに対し
て、ＬＥＤアレイの配列方向の一方側に付された特定パ
ターンを有して構成されるとともに、画素用テストパタ
ーンによる画像が形成・出力される記録紙の一方側の端
部に位置するブロック別画素識別パターンについては、
特定パターンがその他方側に付されていることを特徴と
しても良い。

【００４２】また、画像形成システム（方法）は、画素
用テストパターンの画素識別パターンが、隣接する複数
のブロック別画素識別パターンが連続した連続識別パタ
ーンを有して構成され、画素用テストパターンの画素特
定パターンは、連続識別パターンに対して、ＬＥＤアレ
イの配列方向の一方側及び他方側の両側に付された特定
パターンを有して構成されていることを特徴としても良
い。

【００４３】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
補正手段（欠陥補正ステップ）が、欠陥検知手段（欠陥
検知ステップ）によって検知された欠陥画素について、
ＬＥＤアレイの配列方向の一方側または他方側に隣接す
る画素のうち少なくとも一方に対して出力補正を行うこ
とを特徴とする。

【００４４】あるいは、画像形成システム（方法）は、
欠陥補正手段（欠陥補正ステップ）が、ＬＥＤアレイの
配列方向の一方側及び他方側に隣接する画素の両方に対
して出力補正を行うことを特徴とする。

【００４５】このように欠陥画素に隣接する画素に対す
る出力補正によって出力画素欠陥の回復を行うことによ
って、出力補正が行われる画素数を少なくして、出力補
正のための処理を容易化することができる。また、特に
隣接する両方の画素に出力補正を行った場合、１画素が
カバーする範囲を小さくして、画素へのダメージを抑制
することができる。

【００４６】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
補正手段（欠陥補正ステップ）が、ＬＥＤアレイの配列
方向の一方側の端部に位置する画素が欠陥画素であると
き、この欠陥画素の他方側に位置する画素に対して出力
補正を行うこととしても良い。

【００４７】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
補正手段（欠陥補正ステップ）が、欠陥検知手段（欠陥
検知ステップ）によって検知された欠陥画素について、
ＬＥＤアレイの配列方向の一方側または他方側の近傍に
ある複数の画素に対して出力補正を行うこととしても良
い。

【００４８】近傍にある画素に対して出力補正を行った
場合、補正されるそれぞれの画素への負担を低減して画
素の劣化を抑制するとともに、得られる画像をより良好
なものとすることができる。

【００４９】なお、ここで、隣接する画素とは、ＬＥＤ
アレイの配列方向の両側にそれぞれ１個ずつ対象の画素
に隣り合って接している画素をいい、近傍にある画素と
は、ＬＥＤアレイの配列方向の両側に複数個ずつ対象の
画素の近傍に存在する画素（隣接する画素を含む）をい
う。

【００５０】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
補正手段（欠陥補正ステップ）が、欠陥画素に対する出
力を取り消す出力補正を行うこととしても良い。

【００５１】これによって、他の画素に生じるノイズ等
を低減することができる。

【００５２】また、画像形成システム（方法）は、欠陥
補正手段（欠陥補正ステップ）が、欠陥検知手段（欠陥
検知ステップ）によって検知されたそれぞれの欠陥画素
について出力補正が行われる画素に対して、この画素に
供給される画素データを対応する欠陥画素の画素データ
に基づいて補正することによって前記出力補正を行うこ
ととしても良い。

【００５３】これによって、欠陥画素に対する画素デー
タのデータ欠損の影響を低減して、より良好な画像を得
ることができる。

【００５４】また、画像形成システム（方法）は、ＬＥ
Ｄアレイ駆動手段（ＬＥＤアレイ駆動ステップ）におい
て、ＬＥＤアレイの画素についてその特性データによる
特性補正が行われ、欠陥補正手段（欠陥補正ステップ）
は、特性データに対して補正を行うことによって出力補
正を行うことが可能である。

【００５５】従来、ＬＥＤアレイを用いた画像形成装置
において行われている、ＬＥＤアレイの各画素の特性デ
ータにより、画素特性、画素形状特性、駆動系特性など
のばらつきを補正する特性補正に対して、それを利用し
て出力補正をも行う構成とすることによって、メモリ等
のシステム資産を増加することなく出力補正を実行する
ことができる。

【００５６】

【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明による画
像形成システム及び画像形成方法の好適な実施形態につ
いて詳細に説明する。なお、図面の説明においては同一
要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。ま
た、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致して
いない。

【００５７】まず、本発明による画像形成システムに係
る画像形成装置が用いられている装置の一例として複写
機の構成について説明し、合わせて画像形成装置の構成
について説明する。図１は、ＬＥＤアレイを有する画像
形成装置２０が備えられた複写機ＣＭを示す概略構成図
である。

【００５８】複写機ＣＭは主に、本体１２と、本体１２
の上面に設置されたコピーガラス１４を開閉自在に覆う
ように設けられた自動原稿搬送装置１６とを備えて構成
されており、コピーガラス１４、自動原稿搬送装置１
６、及び原稿読取部１８によって、画像を読み取るため
の画像読取装置１０が構成されている。

【００５９】本体１２の内部には、自動原稿搬送装置１
６によってコピーガラス１４上に搬送された移動原稿、
または自動原稿搬送装置１６を開いてコピーガラス１４
上に載置された固定原稿の画像を読み取って画像信号に
変換する原稿読取部１８と、原稿読取部１８から受信し
た画像信号に基づいて記録紙（記録材）に可視像を形成
する画像形成装置２０と、画像形成装置２０に対して記
録紙を供給する給紙装置２２とが設けられている。この
画像形成装置２０が、本発明による画像形成システムに
係る画像形成装置に相当し、後述するようにＬＥＤアレ
イを有して構成されている。

【００６０】画像形成装置２０には、図１中のＡ方向
（時計回り方向）に回転する感光体ドラム２４（像担持
体）とＢ方向（反時計回り方向）に回転する転写ロール
２５とが、所定位置（以下、転写位置Ｐという）にて近
接するように設けられている。

【００６１】感光体ドラム２４の周囲には、その回転方
向に沿って、感光体ドラム２４を一様に帯電させる帯電
装置２６、原稿読取部１８から受信した画像信号に基づ
いて画素に相当するＬＥＤ素子を駆動し、感光体ドラム
２４の表面に静電潜像を形成するためのＬＥＤアレイを
有する書き込み装置２８、感光体ドラム２４上に形成さ
れた静電潜像をイエロー、マゼンタ、シアン、ブラック
の４色のトナーで可視化し、現像画像を形成する４台の
現像装置３０が設けられており、さらに転写位置Ｐを挟
んで、転写後に感光体ドラム２４上に残留したトナーを
除去するクリーニング装置３２が設けられている。な
お、現像装置３０の個数については、用いられるトナー
の個数によって増減される。

【００６２】転写ロール２５の内側であって転写位置Ｐ
に対向する位置には、感光体ドラム２４の表面上に形成
されたトナーによる現像画像を、給紙装置２２から供給
されて感光体ドラム２４と転写ロール２５との間を搬送
される記録紙に転写する転写器３４が備えられている。

【００６３】また、画像形成装置２０には、画像形成制
御部３５が設けられており、当該画像形成制御部３５に
よって帯電装置２６、書き込み装置２８、現像装置３０
を制御することで、感光体ドラム２４の表面に付着する
トナー量が制御される。

【００６４】さらに、画像形成装置２０には、上記転写
器３４によって記録紙に転写された画像を当該記録紙に
定着させる定着装置３６が備えられている。

【００６５】給紙装置２２は、本体１２の下部に設けら
れており、３つの給紙トレイ３８，４０，４２と、給紙
トレイ３８，４０，４２のそれぞれに設けられた給紙機
構４４とを備えている。各給紙トレイ３８，４０，４２
は、記録紙をサイズ別または種類別に積層収容するもの
で、本体１２に対して脱着可能に装着されており、これ
らのうちの何れかの給紙トレイから記録紙が送り出され
る。給紙機構４４は、給紙トレイ３８，４０，４２の最
も上にある記録紙に当接して記録紙を順次送り出すピッ
クアップローラ４６と、このピックアップローラ４６に
より送り出された記録紙を受けて画像形成装置２０に向
けて重送を防止しながら記録紙を送り出すローラ対であ
るフィードローラ４８及びリタードローラ５０により構
成されている。ピックアップローラ４６及びフィードロ
ーラ４８は、図示しないモータの駆動により回転し、フ
ィードローラ４８と対をなすリタードローラ５０は、フ
ィードローラ４８の回転に連れ回る。

【００６６】また、各給紙トレイ３８，４０，４２から
画像形成装置２０に向けて、数組のガイドローラ５２に
よって記録紙搬送路５４が形成されている。従って、各
給紙トレイ３８，４０，４２から送り出された記録紙
は、記録紙搬送路５４に沿って、転写位置Ｐ、定着装置
３６へと順次搬送され、定着装置３６の下流側に設けら
れた排出ローラ５６を介して、外部に排出される。

【００６７】図２は、画像形成装置２０の構成の一例を
模式的に示すブロック図である。画像読取装置１０から
の画像データは、画像形成装置２０内の画像形成制御部
３５に入力される。この画像形成制御部３５は、画像デ
ータの処理や必要な変換・補正等を行うとともに、最終
的な出力画像データに基づいて書き込み装置２８等を制
御して画像形成を行う。

【００６８】書き込み装置２８は、本構成例においては
複数（ｎ個）のＬＥＤ素子Ｌ１、Ｌ２〜Ｌｎを有するＬ
ＥＤアレイ１と、ＬＥＤアレイ１からの光を結像させる
結像レンズアレイ１ａとを有して構成されており、画像
形成制御部３５からのデータに基づいてＬＥＤアレイ１
の各ＬＥＤ素子から出射された光は、結像レンズアレイ
１ａを介して感光体ドラム２４上に結像・照射される。

【００６９】なお、図１に示した複写機ＣＭ以外の画像
形成装置を有する装置、例えば光プリンタやファクシミ
リ装置など、においても、図２に示した画像形成装置２
０の構成は同様であり、したがって、以下に示す画像形
成システム及び画像形成方法は、それらの画像形成装置
に対しても同様に使用及び適用することが可能である。

【００７０】図３は、本発明による画像形成システム及
び方法の第１の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。図１における画像読取装置１０やコンピュータから
のPostScript出力等による入力画像Ｐ０の画像データ
は、画像形成装置２０に入力され、画像形成制御部３５
のデコンポーザ５によって解釈されて、ビットマップデ
ータなどの所定のデータ形式とされる。このデータに基
づいて、ＬＥＤアレイ駆動手段２によって書き込み装置
２８のＬＥＤアレイ１が駆動制御されて、画像が形成さ
れる。ここで、形成される画像のうち、画像形成装置２
０内にある段階のものを形成画像Ｐ１、画像形成装置２
０から出力・排出されたものを出力画像Ｐ２とする。

【００７１】このようなＬＥＤアレイ１を用いた画像形
成装置２０においては、ＬＥＤアレイ１を構成する各画
素について、対応するＬＥＤ素子自体の故障等による欠
陥や、ゴミの付着等によって出力画素欠陥を生じること
がある。これに対して、本実施形態による画像形成シス
テムにおいては、欠陥画素の発生の有無、及び発生した
欠陥画素の位置を検知・特定するためのＬＥＤアレイ欠
陥検知手段（以下、単に欠陥検知手段という）４が設け
られている。

【００７２】この欠陥検知手段４は、画像形成装置２０
の内部に、または画像形成装置２０とは別個にその外部
に設置される。欠陥検知手段４からの欠陥画素について
の情報は、画像形成制御部３５のＬＥＤアレイ欠陥補正
手段（以下、単に欠陥補正手段という）３に直接または
間接に与えられる。欠陥補正手段３は、ＬＥＤアレイ１
の駆動制御を行うＬＥＤアレイ駆動手段２と接続されて
いる。

【００７３】以上の構成において、欠陥検知手段４から
の欠陥画素情報、すなわち欠陥画素の有無および位置に
ついての情報、に基づいて、欠陥補正手段３において出
力補正を行う画素及びその補正方法等が決定される。こ
の欠陥補正手段３による出力補正方法に基づいて画像デ
ータが出力補正され、出力補正された補正画像データに
基づいてＬＥＤアレイ駆動手段２がＬＥＤアレイ１を駆
動制御することによって、出力画像Ｐ２での欠陥画素の
影響が低減されて、出力画像欠陥が効果的に回復され
る。

【００７４】上記したような欠陥検知手段４を設けるこ
とによって、画像形成装置２０のテストやメンテナンス
等が容易化されて、保守コスト・装置コストが低減され
る。さらに、欠陥検知手段４によって検知された欠陥画
素情報に基づいて出力補正を行うための欠陥補正手段３
を設けたことによって、連続した多数の欠陥画素の発生
や、信号線での多くの画素に影響する欠陥などが発生し
ない限り、通常の出力画素欠陥によってはＬＥＤアレイ
１を交換等することなく画像形成装置２０の使用を継続
することが可能となり、したがって、画像形成装置の保
守コスト等がさらに低減される。また、ＬＥＤアレイ１
の交換を選択した場合においても、交換のためのＬＥＤ
ヘッド取り寄せ等による装置のダウン・タイムを最小限
に抑えることができる。

【００７５】特に、この欠陥検知手段４は欠陥画素の有
無のみでなく、その位置の特定が可能なように構成され
る。このように欠陥画素が具体的に特定されることによ
って、ＬＥＤアレイを交換せずに、欠陥補正手段３によ
って効果的な出力補正を行って、欠陥画素の影響が低減
された状態で画像形成装置の使用を続行することが可能
な画像形成システムとすることができる。

【００７６】欠陥補正手段３による出力補正としては、
くわしくは後述するが、例えば、欠陥検知手段４によっ
て検知された欠陥画素の周辺画素、すなわち欠陥画素に
隣接または近傍にあるＬＥＤアレイ１の画素の出力を補
正して、出力画素欠陥を回復し目立たなくする出力補正
方法がある。なお、以下においては、隣接する画素と
は、ＬＥＤアレイの配列方向の両側にそれぞれ１個ずつ
対象の画素に隣り合って接している画素をいい、近傍に
ある画素とは、ＬＥＤアレイの配列方向の両側に複数個
ずつ対象の画素の近傍に存在する画素（隣接する画素を
含む）をいう。

【００７７】図４は、本実施形態による画像形成システ
ムでの出力補正の一例を示す模式図である。図４におい
ては、１次元にＬＥＤ素子が配列されたＬＥＤアレイ１
の一部を（ａ）に示し、この部分に配置されているＬＥ
Ｄ素子に対応する画素を順にＬ１〜Ｌ５とする。このよ
うな配列に対して、（ｂ）の補正前出力に示すように、
画素Ｌ２が欠陥画素となって、画素Ｌ１、Ｌ３〜Ｌ５に
よる画素出力Ａ１、Ａ３〜Ａ５の間に出力画素欠陥Ｄが
生じているとする。このとき、（ｃ）に示すように、画
素Ｌ２に隣接する画素Ｌ１、Ｌ３の駆動電流データを補
正して画素出力Ｂ１、Ｂ３を大きくする出力補正を行う
ことによって、欠陥画素Ｌ２による出力画素欠陥Ｄを補
正後出力において回復することができる。

【００７８】なお、ＬＥＤアレイ駆動手段２及び欠陥補
正手段３については、図３においては別個のものとして
示してあるが、このような構成に限られるものではな
い。例えば、ＬＥＤアレイ駆動手段２と欠陥補正手段３
との両方の機能を有するドライバ等によって構成しても
良い。この場合、通常ドライバ等として用いられている
ＬＥＤアレイ駆動手段２を、欠陥補正手段３の機能を拡
張的に含むものとして構成したものに相当する。

【００７９】また、欠陥検知手段４については、必要に
応じて、さらにＬＥＤアレイ駆動手段２に接続（図３に
は、この接続についても図示してある）して、欠陥画素
の検知時等にＬＥＤアレイ駆動手段２を制御する構成と
しても良い。

【００８０】図５は、本発明による画像形成システム及
び方法の第２の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。本実施形態においては、欠陥検知手段４は画像形成
装置２０の内部に、単一または複数の受光素子を含んで
構成され出力画素欠陥の検知に用いられる受光素子部４
ａを有して設置されている。

【００８１】この受光素子部４ａによる欠陥画素の検知
は、ＬＥＤアレイ１の発光状態から直接検知しても良い
し、または、出力される前の形成画像Ｐ１から検知する
ことも可能である。ここで、この欠陥検知手段４は上記
したように画像形成装置２０の内部に設置されていると
ともに、欠陥補正手段３に接続されており、これによっ
て、欠陥検知手段４によって検知された欠陥画素情報に
基づいて、欠陥補正手段３によって自動的に出力補正を
行うことが可能となる。

【００８２】このように自動的な出力補正が可能な構成
とすることによって、さらにメンテナンス等が簡素化さ
れ、コストが低減されるとともに、装置の長期にわたる
安定した使用が可能となる。なお、受光素子部４ａにつ
いては、画像形成装置２０に常備的に設置しても良い
し、また、メンテナンス時に一時的に取り付ける構成と
しても良い。また、本実施形態においても第１の実施形
態と同様に、欠陥検知手段４をさらにＬＥＤアレイ駆動
手段２に接続する構成としても良い。欠陥検知手段４と
ＬＥＤアレイ駆動手段２との接続については、以下の実
施形態においても同様である。

【００８３】図６は、本発明による画像形成システム及
び方法の第３の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。本実施形態においては、欠陥検知手段４の構成は図
５に示した実施形態と同様であり、一方、欠陥検知手段
４が接続されている欠陥補正手段３は補正画素選択手段
３ａを有して構成されている。

【００８４】ＬＥＤアレイ１を構成する各画素は、その
すべてが出力画像Ｐ２の形成に用いられるとは限らず、
したがって、欠陥画素が存在してもそれに対応した出力
補正を行う必要がない場合があり得る。例えば、図７
（ａ）に示すようにＬＥＤアレイ１の端部から画素Ｌ
１、Ｌ２・・・が配列されているとし、これに対して
（ｂ）に示すように記録紙端部が画素Ｌ４の左側の位置
にあって、画素Ｌ４の画素出力Ａ４までが出力画像に寄
与するとする。

【００８５】このとき、画素Ｌ２が欠陥画素であった場
合を考えると、欠陥画素Ｌ２は有効印字領域内にはなく
出力画像には影響を与えないので、このような場合には
出力補正による出力画素欠陥の回復を行う必要がない。
これに対して、本実施形態における補正画素選択手段３
ａによって、図７に示した例による場合などにおいて、
欠陥画素の位置によって出力補正の実行または不実行を
選択して、不必要な出力補正を行わないようにすること
ができる。

【００８６】すなわち、図７に示す例においては、例え
ば画素Ｌ４が欠陥画素であれば、補正画素選択手段３ａ
は出力補正の実行を選択するが、画素Ｌ２が欠陥画素で
あれば、補正画素選択手段３ａは出力補正の不実行を選
択し、欠陥補正手段３による出力補正は行われないよう
にすることが可能である。このように不必要な補正を行
わないようにすることによって、装置のスループットを
下げないようにすることができる。

【００８７】図８は、本発明による画像形成システム及
び方法の第４の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。本実施形態においては、欠陥検知手段４は直接には
欠陥補正手段３に接続されておらず、画像形成装置２０
に付属するかまたは別個に設けられた表示装置６に接続
されており、欠陥検知手段４によって得られた欠陥画素
情報はこの表示装置６によって表示されて、たとえば画
像形成装置２０を含む装置の操作者に提供される。

【００８８】このように、表示装置６によって欠陥画素
情報が提供される構成としたことによって、操作者は、
提供された欠陥画素情報、および画像形成装置２０の使
用状態や形成しようとする画像の種類・形態などの情報
に基づき、出力補正をすべき画素とその補正方法等を選
択・決定することができる。

【００８９】この場合、選択・決定された出力補正につ
いての情報は、操作者によって、欠陥補正手段３に接続
されている補正情報入力手段である入力装置７から入力
されて、これによって最適な出力補正を選択して行うこ
とができる。例えば、操作者が形成・出力しようとして
いる画像が欠陥画素の影響をあまり受けないものであっ
た場合には不必要な出力補正を行わないようにするな
ど、各操作者の使用条件に個別的に対応・整合させた出
力補正の導入が可能となる。

【００９０】なお、表示装置６及び入力装置７について
は、様々なものを用いることができるが、例として、装
置に付属しているものとしては複写機等の操作パネルに
設けられている表示部及び入力部がある。また、画像形
成装置２０を別装置であるコンピュータ等に接続し、そ
のコンピュータに接続されたディスプレイ及びキーボー
ドを表示装置６及び入力装置７として使用することがで
きる。また、図８においては、欠陥検知手段４は受光素
子部４ａを有するものとしてあるが、これ以外の欠陥検
知手段４についても同様の構成を用いることができる。

【００９１】図９は、本発明による画像形成システム及
び方法の第５の実施形態におけるＬＥＤアレイ１の駆動
方法を示す模式図である。ここで、欠陥検知手段４とし
ては、受光素子４ｂを有する受光素子部４ａを用いるも
のを想定する。受光素子４ｂは、図９（ａ）に示すよう
に、ＬＥＤアレイ１の配列方向に受光素子部４ａ上を移
動可能なように設置されており、これによって各画素の
出力画素欠陥の検知が受光素子４ｂの移動に伴って順次
行われる。

【００９２】本実施形態においては、上記したような欠
陥画素の検知時において、ＬＥＤアレイ１を構成する各
ＬＥＤ素子のうち隣接するＬＥＤ素子が同時に駆動され
ないように欠陥検知手段４がＬＥＤアレイ駆動手段２を
介してＬＥＤアレイ１を制御し、これによってＬＥＤア
レイ１の各画素を個別に識別可能な検知時の駆動方法と
している。

【００９３】例えば、図９（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）に示
すように、受光素子４ｂの移動に合わせて画素Ｌ１〜Ｌ
５のうち画素Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４というように順次駆動
し、それぞれの点灯の有無によって欠陥画素の検知・特
定を行う。欠陥画素の検知時に、例えば図９（ｂ）での
画素Ｌ２とＬ３などの隣接する画素が同時に駆動された
場合、欠陥画素を特定するには、検知に用いられる受光
素子４ｂとして高解像度、高精度のものを使用する必要
があり、欠陥検知手段４が高コスト化してしまう。すな
わち、画素Ｌ２が欠陥画素であっても、その検知時に画
素Ｌ３が同時に駆動・点灯されていると、欠陥画素Ｌ２
の検知・特定が困難となる。

【００９４】これに対して、上記のようなＬＥＤアレイ
１の駆動方法を用いれば、点灯の有無のみによって欠陥
画素の検知・特定が可能であるので、より解像度の低い
低コストの受光素子４ｂを用いた場合においても欠陥画
素の特定が可能となる。このような欠陥画素の検知の容
易化の効果は、受光素子以外を用いた欠陥検知手段４に
対しても同様に得られる。

【００９５】なお、このような駆動方法を用いる場合に
おいても、隣接しない画素については複数の画素が同時
に駆動されても良い。例えば、受光素子部４ａに複数の
受光素子を用いる場合には、それぞれに対応して隣接し
ない複数の画素を同時に駆動して、欠陥画素の検知をよ
り効率化することができる。

【００９６】本発明による画像形成システム及び方法の
第６の実施形態として、図５に示した欠陥検知手段４の
受光素子部４ａにＣＣＤを用いるものが挙げられる。Ｃ
ＣＤは欠陥検知用に新設しても良いが、画像形成装置２
０自体、または複写機などの画像形成装置２０を含む装
置に他の用途で既設されているＣＣＤセンサを流用する
ことが可能であり、この場合特に、装置コストを低減す
ることができる。

【００９７】図１０は、本発明による画像形成システム
及び方法の第７の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。本実施形態においては、欠陥検知手段４は画像形成
装置２０の外部に設けられ、スキャナ４ｃを有して構成
されている。欠陥画素の検知には画像形成装置２０から
出力された状態の出力画像Ｐ２を用い、スキャナ４ｃに
よって欠陥画素検知を行う。得られた欠陥画素情報、ま
たはその欠陥画素情報に基づいて決定された出力補正す
べき画素、補正方法の情報などは入力装置７から入力さ
れて、これによって欠陥補正手段３を介して出力補正が
行われる。または、欠陥検知手段４が欠陥補正手段３に
直接接続される構成としても良い。

【００９８】この場合のスキャナ４ｃには、ＣＣＤセン
サと同様に画像形成装置２０を含む装置に既設されてい
るものを流用することが可能であり、したがって、装置
コストが低減される。また、当該装置とは別に周辺機器
等として既設されているスキャナ４ｃを用いることによ
っても、装置コストの増大を避けることができる。

【００９９】図１１は、本発明による画像形成システム
及び方法の第８の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。本実施形態においては、欠陥検知手段４の画像形成
装置２０内部にある部分に、テストパターン出力手段４
ｄが設けられている。テストパターン出力手段４ｄは、
欠陥画素の検知に用いられる所定のテストパターンを生
成または選択し、生成・選択されたテストパターンはＬ
ＥＤアレイ駆動手段２に送られて、テストパターンによ
る出力画像Ｐ２が形成・出力される。

【０１００】この出力画像Ｐ２を用い、図８に示した場
合と同様に操作者によって、または図１０に示したよう
なスキャナ４ｃなどの欠陥検知手段４の他の部分を構成
する装置等によって、欠陥画素の有無及び位置の検知・
特定が行われる。得られた欠陥画素情報、またはこの欠
陥画素情報及び装置の使用条件等によって操作者によっ
て判断された出力補正情報は、補正情報入力手段である
入力装置８から入力されて、これによって欠陥補正手段
３を介して出力補正が行われる。この場合、欠陥画素の
検知に用いられる受光素子などの手段の設置が必要なく
なるので、より装置コストを低減させることができる。
なお、テストパターンとしては様々な構成によるパター
ンを適用することが可能であり、例えば、用いられるテ
ストパターンを複数のパターン濃度によって作成させる
ことによって、検知精度を高めることができる。

【０１０１】図１２は、本発明による画像形成システム
及び方法の第９の実施形態において用いられるテストパ
ターンを示す図である。なお、システムの構成について
は図１１に示すものと同様である。また、以下において
示す各テストパターンについては、いずれもその図の横
方向をＬＥＤアレイ１の配列方向とし、図中においては
対応する有効印字幅の左端の一部（５ブロック分）及び
右端の一部（４ブロック分）のパターンを示して、その
間については図示を省略している。

【０１０２】本テストパターンは、ブロック用テストパ
ターン４１０である。このテストパターンにおいては、
２５個の画素をそれぞれ組とし、これを１つのブロック
として構成されている。なお、以下に示す他のテストパ
ターンについても、このブロックの構成については同様
とするが、いずれのテストパターンの構成においても、
ブロックを構成する画素数は２５個に限られるものでは
なく、全体の画素数や検知方法等の条件によって好適な
画素数を選択することができる。

【０１０３】これらのブロックを用いて、ブロック用テ
ストパターン４１０は、隣接するブロックについて出力
位置を交互にずらして各ブロックを識別可能としたブロ
ック識別パターン４１１と、各ブロックに対応するブロ
ック識別パターン４１１にそれぞれ符号等を付してその
ブロックの位置を特定可能とするためのブロック特定パ
ターン４１２とを有して構成されている。

【０１０４】ブロック特定パターン４１２としては数字
や英字その他の符号などを用いることができ、図１２に
示した実施形態においては、配列方向の左側からｎ個あ
るブロックに対して１〜ｎの番号を符号として付してい
る。なお、図１２においては第２ブロックに出力画素欠
陥Ｄを生じている場合を示してある。

【０１０５】このようなブロック用テストパターン４１
０を用いることによって、欠陥画素の有無とその属する
ブロック（欠陥ブロック）の位置を特定することが可能
であり、さらに、各ブロックに対応するブロック識別パ
ターン４１１内での出力画素欠陥Ｄの位置によって、欠
陥画素の位置の特定も可能である。

【０１０６】図１３は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１０の実施形態において用いられるテスト
パターンを示す図である。

【０１０７】本テストパターンは、画素用テストパター
ン４２０である。すなわち、このテストパターンにおい
ては、上記したそれぞれのブロックを構成する２５個の
画素についてそれをさらに５個の画素からなる５つの小
ブロックに分割し、それぞれの小ブロックに属する５個
の画素について出力位置をずらして図１３に示されてい
るような５×５のマトリクス状のパターンとして各画素
を識別可能とした、各ブロックに対応するブロック別画
素識別パターンからなる画素識別パターン４２１と、各
画素に対応する画素識別パターン４２１にそれぞれ符号
等を付して特定可能とするための画素特定パターン４２
２とを有して構成されている。

【０１０８】画素特定パターン４２２としては数字や英
字その他の符号などを用いることができる。本実施形態
においては、上記した各小ブロックを特定するための、
それぞれのブロック別画素識別パターンの下側に付した
数字１〜５からなる特定パターン４２３と、各小ブロッ
クに属する画素を特定するための、それぞれのブロック
別画素識別パターンの右側に付した英字Ａ〜Ｅからなる
特定パターン４２４とから画素特定パターン４２２が構
成されている。なお、図１３においては第２ブロックの
左から１０番目の画素（画素特定パターン４２２の符号
２−Ｅに対応）に出力画素欠陥Ｄを生じている場合を示
してある。

【０１０９】このような画素用テストパターン４２０を
用いることによって、欠陥画素の有無の検知とその位置
の特定が可能であり、特に、図１３のような画素識別パ
ターン４２１と画素特定パターン４２２とを有する構成
とすることによって、その欠陥画素の特定が容易化・確
実化される。なお、画素識別パターン４２１及び画素特
定パターン４２２のパターン構成については、図１３に
示したものに限られるものではなく、欠陥画素を識別・
特定することが可能なものであれば、様々な構成のもの
を用いることができる。

【０１１０】図１４は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１１の実施形態の構成を示すブロック図で
ある。本実施形態においては、テストパターン出力手段
４ｄが、ブロック用テストパターンを出力するためのブ
ロック用テストパターン出力手段４ｅと、画素用テスト
パターンを出力するための画素用テストパターン出力手
段４ｆとを含んで構成されている。

【０１１１】このような構成による欠陥画素の検知にお
いては、まず、ブロック用テストパターン出力手段４ｅ
によって例えば図１２に示したようなブロック用テスト
パターン４１０からなる出力画像Ｐ２が出力され、操作
者等によって欠陥画素の有無とその欠陥ブロックの位置
が検知・特定される。検知された欠陥ブロックの位置は
欠陥情報入力手段である入力装置８から入力されて、画
素用テストパターン出力手段４ｆに送られる。

【０１１２】画素用テストパターン出力手段４ｆは、入
力装置８から入力された欠陥ブロックの位置の情報に基
づいて、そのブロックに対応するブロック別画素識別パ
ターンからなる画素識別パターン４２１と対応する画素
特定パターン４２２からなる画素用テストパターン４２
０（図１５）からなる出力画像Ｐ２を出力する。この出
力画像Ｐ２から、操作者等によって欠陥画素の画素位置
が特定される。特定された欠陥画素情報等は最終的に補
正情報入力手段をかねている入力手段８から入力され欠
陥補正手段３に送られて、この欠陥画素情報に基づいて
出力補正が行われる。

【０１１３】このように、欠陥画素の検知を２種類のテ
ストパターンを用いて２段階に行うことによって、欠陥
画素検知をより効率化・容易化することができる。特
に、画素数が多い場合にこのような方法が有効である。
なお、ブロック用テストパターン出力手段４ｅ及び画素
用テストパターン出力手段４ｆについては、同一の出力
手段がそれぞれのテストパターンを選択して出力する構
成としても良い。

【０１１４】本発明による画像形成システム及び方法の
第１２の実施形態として、画素用テストパターンにおけ
る画素識別パターンを、隣接する画素に対応するパター
ンが分離されて構成することが挙げられる。ここで、パ
ターンが分離されているとは、テストパターン出力時に
同時（パターン上では同列となる）に出力されないこと
を意味する。

【０１１５】図１６に、比較例として隣接する２画素ず
つが同時に出力されている場合を示し、上記した構成の
効果について説明する。図１６は、比較例である画素用
テストパターン４２０の画素識別パターン４２１の部分
拡大図を示したものであり、この画素用テストパターン
４２０は、画素Ｌ１１〜Ｌ１６、画素Ｌ２１〜Ｌ２６に
ついて、それぞれ２画素ずつ同時に横方向に連続して出
力されるように構成されている（図１６には、各画素に
対応するパターンに符号が付してある）。

【０１１６】ここで、例えば画素Ｌ２３が欠陥画素であ
る場合、この画素用テストパターン４２０では画素Ｌ２
３及びＬ２４からなるパターンに出力画素欠陥Ｄを生
じ、これら２つの画素から欠陥画素をさらに特定しなく
てはならず、欠陥画素検知の効率が低下する。これに対
して、隣接する画素が同時に出力されない構成とするこ
とによって、容易に欠陥画素の検知と特定が可能な画素
用テストパターンとすることができる。なお、隣接しな
い画素、例えば図１６における画素Ｌ１１及びＬ２１、
については、所定パターンの繰り返し構造等によって同
時に出力される構成としても良い。

【０１１７】図１７は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１３の実施形態において用いられるテスト
パターンを示す図である。本テストパターンはいずれも
ブロック用テストパターン４１０である。

【０１１８】図１２に示したブロック用テストパターン
４１０のブロック識別パターン４１１では、隣接するブ
ロックについて出力位置を交互にずらすことによって各
ブロックを識別可能としている。これに対して、図１７
はこのブロック識別パターン４１１の他の形態を示すも
のであって、図１７（ａ）では、ブロック識別パターン
４１１の各ブロックの境界位置にそれぞれ凸状パターン
４１３からなるマーキング（図中に点線で示した領域の
中心にある凸状パターン部位）が形成されて、各ブロッ
クの識別が可能とされている。このパターンについては
凹状パターンを用いることも可能である。また、図１７
（ｂ）では、凹凸状パターン４１４（図中に点線で示し
た領域の中心にある凹凸状パターン部位）が各ブロック
の識別に用いられている。このようなマーキングによっ
て、ブロック識別パターン４１１によるブロックの識別
性を向上させることができる。

【０１１９】図１８は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１４の実施形態において用いられるテスト
パターンを示す図である。図１８（ａ）は図１７（ａ）
に示したものと同様のブロック用テストパターン４１０
であるが、発生している出力画素欠陥Ｄを第２ブロック
の左から１番目の画素として示してある。

【０１２０】このとき、出力画素欠陥Ｄが第１ブロック
及び第２ブロックの境界に位置するために、ブロック用
テストパターン４１０によっては欠陥ブロックを特定し
にくいことがある。したがって、図１４に示す実施形態
によって入力装置８からブロックを指定して画素用テス
トパターンを出力する場合、第１ブロック及び第２ブロ
ックの両方について画素用テストパターンの出力を２回
行う必要を生じる。

【０１２１】これに対して、本実施形態においては、入
力装置８から画素用テストパターン出力手段４ｆに対し
て複数のブロックを指定することが可能なように構成す
る。このときに用いられる画素用テストパターン４２０
の一例を図１８（ｂ）に示す。図１８（ａ）のブロック
用テストパターン４１０においては、上述したように第
１ブロック及び第２ブロックのいずれかが欠陥画素を有
していることがわかる。このとき、入力装置８からこれ
ら２つのブロックを指定し、図１８（ｂ）に示すように
第１ブロック及び第２ブロックの２つのブロックからな
る画素用テストパターン４２０を形成・出力することに
よって、効率的に欠陥画素を特定することができる。

【０１２２】図１９は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１５の実施形態において用いられるテスト
パターンを示す図である。本テストパターンは画素用テ
ストパターン４２０であり、その構成は図１３に示した
ものと同様である。ここで、画素特定パターン４２２の
うちそれぞれのブロック別画素識別パターンの右側に付
した英字Ａ〜Ｅからなる特定パターン４２４について、
右側の印字領域端部に位置するブロック別画素識別パタ
ーンに対する特定パターン４２４は、出力される範囲内
にないために図１３においては示されていない。

【０１２３】これに対して、図１９に示した画素用テス
トパターン４２０においては、この右端部のブロック別
画素識別パターンについて、付される特定パターン４２
４の位置をその左側に変更し、特定パターン４２５とし
ている。このような構成とすることによってマーキング
の欠損を防止して、すべてのブロック別画素識別パター
ンに対して特定パターンを有効に付することが可能とな
る。なお、特定パターン４２４がブロック別画素識別パ
ターンの左側に付されている場合には、左側の印字領域
端部のブロック別画素識別パターンに対する特定パター
ンを右側に変更することができる。

【０１２４】図２０は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１６の実施形態において用いられるテスト
パターンを示す図である。本テストパターンは画素用テ
ストパターン４２０であり、その構成は図１８（ｂ）と
同様に２つの隣接するブロックからなるパターンとなっ
ている。このように複数のブロックを連続的に出力する
ような構成を用いる場合、そのパターンの幅が広くなっ
てしまうために、画素特定パターン４２２による欠陥画
素の特定の効率が低下することがある。これに対して、
図２０に示すように特定パターンを、連続して出力され
た複数ブロックからなるパターンの左右両側に特定パタ
ーン４２４、４２６として付することによって、欠陥画
素の特定の効率を向上させることができる。

【０１２５】図２１は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１７の実施形態における、欠陥補正手段３
によって行われる出力補正を示すフローチャートであ
る。欠陥画素の補正には、欠陥画素の有無及び位置につ
いての情報（欠陥画素情報）、及びそれぞれの欠陥画素
についてどの画素に対してどのような出力補正を行うか
等の情報（補正方法情報）が必要であるが、これらの情
報は欠陥検知手段４から直接、または入力装置７、８等
を介して欠陥補正手段３に入力される。ただし、補正方
法情報については、それらから入力されたものを用いず
に、あらかじめ定められたものを用いても良い。

【０１２６】本実施形態では、デコンポーザ５からの画
像データＳ１から、欠陥画素情報Ｔ１にしたがって、欠
陥画素に隣接する画素である欠陥隣接画素の画素データ
Ｓ３を抽出し、それらの画素データに対して補正方法情
報Ｔ２にしたがって、出力補正を行った欠陥隣接画素の
補正画素データＳ４を形成する。この補正画素データ
と、欠陥隣接画素以外の画素データとを合わせて、欠陥
補正手段３による出力補正が行われた補正画像データＳ
２が作成されて、これに基づいてＬＥＤアレイ駆動手段
２によってＬＥＤアレイ１が駆動される。

【０１２７】図２２に、図２１に示した実施形態による
出力補正の一例を示す。図２２（ａ）に示されたＬＥＤ
アレイ１の一部分の画素Ｌ１〜Ｌ５について、図２２
（ｂ）の補正前出力に示すように画素Ｌ３において出力
画素欠陥Ｄが生じているとする。このとき、図２２
（ｃ）の補正後出力に示すように欠陥画素Ｌ３に隣接す
る画素Ｌ２及びＬ４による画素出力Ｂ２及びＢ４を大き
くする出力補正を行うことによって、出力画素欠陥Ｄを
回復して、欠陥画素を目立たなくすることができる。

【０１２８】なお、図２２においては隣接する２つの画
素についてその両方を出力補正した場合について示し
た。この場合、欠陥画素に対して両側から出力補正を行
うために１画素が欠陥画素をカバーする領域が小さくな
り、欠陥画素の出力補正に用いられる画素に対するダメ
ージを抑制し、それらの画素の劣化による寿命の短縮を
抑制することが可能である。また、両側の隣接画素では
なく、その一方のみについて出力補正を行うことによっ
ても出力画素欠陥の回復が可能である。いずれの場合に
おいても、出力補正が行われる画素数を少なくされてい
るため、出力補正のための処理等が単純化されて、処理
工数やコストが低減される。

【０１２９】図２３は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１８の実施形態による出力補正を示す。図
２３（ａ）に示すように、ＬＥＤアレイ１の端部に位置
する画素Ｌ１において欠陥画素を生じたとする。このと
きには、図２１における欠陥隣接画素は、図２３（ｂ）
の補正前出力に示すように端部とは反対側の１つの画素
のみである。したがって、このような場合には、図２３
（ｃ）の補正後出力に示すように端部とは反対側に隣接
して位置する画素Ｌ２による画素出力Ｂ２を大きくする
出力補正を行うことによって、出力画素欠陥Ｄを回復し
て、欠陥画素を目立たなくすることができる。

【０１３０】図２４は、本発明による画像形成システム
及び方法の第１９の実施形態による出力補正を示す。本
実施形態では、欠陥画素に両側に１つずつ隣接する画素
のみについて出力補正を行うのではなく、両側に複数ず
つの近傍にある画素（隣接する画素を含む）について出
力補正を行うことによって、さらに出力補正された画像
の状態を良好なものとする。

【０１３１】例えば、図２４においては、図２４（ａ）
の画素Ｌ１〜Ｌ７について図２４（ｂ）の補正前出力に
示すように画素Ｌ４において出力画素欠陥Ｄが生じてい
るとする。このとき、図２４（ｃ）の補正後出力に示す
ように欠陥画素Ｌ４に隣接する画素Ｌ３及びＬ５による
画素出力Ｂ３及びＢ５を大きくする出力補正を行うとと
もに、さらに外側の画素Ｌ２及びＬ６による画素出力Ｂ
２及びＢ６を小さくする出力補正を行うことによって、
それぞれの画素への負担を低減して、出力補正に用いら
れる画素の劣化を抑制することができる。また、出力補
正による部分的な濃度増加等を防止して、欠陥画素が回
復された出力補正後の画像の状態・画質をさらに良好な
ものとすることができる。

【０１３２】なお、このような近傍画素についての出力
補正は、図２１に示したフローチャートにおいて欠陥隣
接画素を欠陥近傍画素とすることによって同様に実施す
ることができる。

【０１３３】図２５は、本発明による画像形成システム
及び方法の第２０の実施形態における、欠陥補正手段３
によって行われる出力補正を示すフローチャートであ
る。

【０１３４】本実施形態においては、デコンポーザ５か
らの画像データＳ１から、欠陥画素情報Ｔ１にしたがっ
て、欠陥隣接画素の画素データＳ３及び欠陥画素の画素
データＳ５を抽出し、それらの画素データに対して補正
方法情報Ｔ２にしたがって、出力補正を行った欠陥隣接
画素の補正画素データＳ４を形成するとともに、欠陥画
素の出力取消Ｓ６を行う。この補正画素データ及び出力
取消データと、欠陥画素及び欠陥隣接画素以外の画素デ
ータとを合わせて、欠陥補正手段３による出力補正が行
われた補正画像データＳ２が作成されて、これに基づい
てＬＥＤアレイ駆動手段２によってＬＥＤアレイ１が駆
動される。

【０１３５】このように欠陥画素の出力を取り消すこと
によって、ＬＥＤアレイ駆動時に、同時に駆動される他
の正常な画素へのノイズ等を低減して、得られる出力画
像の画質を良好なものとすることができる。なお、本実
施形態においても、欠陥隣接画素を欠陥近傍画素として
出力補正を行うことも可能である。

【０１３６】図２６は、本発明による画像形成システム
及び方法の第２１の実施形態における、欠陥補正手段３
によって行われる出力補正を示すフローチャートであ
る。

【０１３７】本実施形態においては、デコンポーザ５か
らの画像データＳ１から、欠陥画素情報Ｔ１にしたがっ
て、欠陥隣接画素の画素データＳ３及び欠陥画素の画素
データＳ５を抽出し、それらの画素データに対して補正
方法情報Ｔ２にしたがって、欠陥画素の画素データＳ５
の内容を参照して欠陥隣接画素の補正画素データＳ７を
形成する。この補正画素データと、欠陥隣接画素及び欠
陥画素以外の画素データとを合わせて、欠陥補正手段３
による出力補正が行われた補正画像データＳ２が作成さ
れて、これに基づいてＬＥＤアレイ駆動手段２によって
ＬＥＤアレイ１が駆動される。

【０１３８】このように、欠陥隣接画素の出力補正にお
いて、その出力の調整のみでなく、欠陥画素の画素デー
タの内容をも参照して、それを欠陥隣接画素の出力補正
に反映させることによって、欠陥画素分のデータ欠損を
なくして、より良好な補正画像とすることができる。

【０１３９】図２７は、本発明による画像形成システム
及び方法の第２２の実施形態における、欠陥補正手段３
によって行われる出力補正を示すフローチャートであ
る。

【０１４０】ＬＥＤアレイ１による画像形成において
は、それぞれのＬＥＤアレイにおける画素特性、画素形
状特性や駆動系特性などによる濃度のばらつき等につい
て、あらかじめ得られている個々のＬＥＤアレイについ
ての特性データ（補正プロファイル）によって特性補正
が行われて、これによってＬＥＤアレイの個別的な特性
のばらつきの影響を低減させることがある。

【０１４１】本実施形態においては、デコンポーザ５か
らの画像データＳ１に加えられる特性補正についての上
記した特性データＲ１から、欠陥画素情報Ｔ１にしたが
って、欠陥隣接画素の特性データＲ２を抽出し、それら
の画素データに対して補正方法情報Ｔ２にしたがって、
欠陥隣接画素の補正特性データＲ３を形成する。この補
正特性データと、欠陥隣接画素以外の特性データとを合
わせて、補正特性データＲ４が得られ、補正特性データ
Ｒ４によって画像データＳ１が特性補正及び欠陥画素回
復のための出力補正された補正画像データＳ２が作成さ
れて、これによってＬＥＤアレイ１が駆動される。

【０１４２】このように、従来行われている特性補正と
同列・同時に欠陥画素回復の出力補正を行うことによっ
て、処理工数やメモリ等のシステム資産をほとんど増加
させることなく、出力補正を実現することが可能とな
る。

【０１４３】なお、これらの特性補正については画素特
性、画素形状特性等について複数段階にわたって特性補
正が行われる場合があるが、その場合には、そのいずれ
の段階の特性データについて出力補正を行っても良い。
また、例えばすべての特性データについて対応した出力
補正を加えても良い。行う出力補正の内容については、
隣接画素に対するものに限らず、近傍画素に対して出力
補正を行う場合等についても同様の方法を用いることが
できる。

【０１４４】

【発明の効果】本発明による画像形成システム及び方法
は、以上詳細に説明したように、次のような効果を得
る。すなわち、ＬＥＤアレイ・プリンタなど、ＬＥＤア
レイを用いた画像形成装置に対して、欠陥画素を検知す
るための欠陥検知手段と、検知された欠陥画素について
出力補正を行って、出力画素欠陥を回復させる欠陥補正
手段と、を有して画像形成システムを構成することによ
って、欠陥画素を効率的に検知・特性するとともに、欠
陥画素を目立たなくする効果的な出力補正を行って、出
力画素欠陥を良好に回復することができる。

【０１４５】このように出力画素欠陥を回復させること
ができる欠陥補正手段を用いることによって、ドライバ
や信号線等での致命的な故障などを除いて、ＬＥＤアレ
イを交換等することなく、欠陥画素の影響が低減された
状態で継続的に画像形成装置を使用することができ、保
守コストや装置コストなどを低減することが可能であ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】ＬＥＤアレイを有する画像形成装置を備えた装
置の一例である複写機を示す構成図である。

【図２】画像形成装置の一例の構成を示すブロック図で
ある。

【図３】本発明による画像形成システムの第１の実施形
態の構成を示すブロック図である。

【図４】図３に示した実施形態による出力補正の一例を
示す模式図である。

【図５】本発明による画像形成システムの第２の実施形
態の構成を示すブロック図である。

【図６】本発明による画像形成システムの第３の実施形
態の構成を示すブロック図である。

【図７】ＬＥＤアレイ及び記録紙の端部の対応を示す模
式図である。

【図８】本発明による画像形成システムの第４の実施形
態の構成を示すブロック図である。

【図９】本発明による画像形成システムの第５の実施形
態におけるＬＥＤアレイの駆動方法を示す模式図であ
る。

【図１０】本発明による画像形成システムの第７の実施
形態の構成を示すブロック図である。

【図１１】本発明による画像形成システムの第８の実施
形態の構成を示すブロック図である。

【図１２】本発明による画像形成システムの第９の実施
形態におけるテストパターンを示す図である。

【図１３】本発明による画像形成システムの第１０の実
施形態におけるテストパターンを示す図である。

【図１４】本発明による画像形成システムの第１１の実
施形態の構成を示すブロック図である。

【図１５】図１４に示す実施形態に用いられるテストパ
ターンを示す図である。

【図１６】本発明による画像形成システムの第１２の実
施形態について説明するための比較例のテストパターン
の拡大図である。

【図１７】本発明による画像形成システムの第１３の実
施形態におけるテストパターンを示す図である。

【図１８】本発明による画像形成システムの第１４の実
施形態におけるテストパターンを示す図である。

【図１９】本発明による画像形成システムの第１５の実
施形態におけるテストパターンを示す図である。

【図２０】本発明による画像形成システムの第１６の実
施形態におけるテストパターンを示す図である。

【図２１】本発明による画像形成システムの第１７の実
施形態における出力補正を示すフローチャートである。

【図２２】図２１に示した実施形態による出力補正の一
例を示す模式図である。

【図２３】本発明による画像形成システムの第１８の実
施形態における出力補正を示す模式図である。

【図２４】本発明による画像形成システムの第１９の実
施形態における出力補正を示す模式図である。

【図２５】本発明による画像形成システムの第２０の実
施形態における出力補正を示すフローチャートである。

【図２６】本発明による画像形成システムの第２１の実
施形態における出力補正を示すフローチャートである。

【図２７】本発明による画像形成システムの第２２の実
施形態における出力補正を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１…ＬＥＤアレイ、１ａ…結像レンズアレイ、２…ＬＥ
Ｄアレイ駆動手段、３…欠陥補正手段、３ａ…補正画素
選択手段、４…欠陥検知手段、４ａ…受光素子部、４ｂ
…受光素子、４ｃ…スキャナ、４ｄ…テストパターン出
力手段、４ｅ…ブロック用テストパターン出力手段、４
ｆ…画素用テストパターン出力手段、５…デコンポー
ザ、６…表示装置、７、８…入力装置、ＣＭ…複写機、
１０…画像読取装置、２０…画像形成装置、２２…給紙
装置、２４…感光体ドラム、２５…転写ロール、２６…
帯電装置、２８…書き込み装置、３０…現像装置、３２
…クリーニング装置、３４…転写器、３５…画像形成制
御部、３６…定着装置、４１０…ブロック用テストパタ
ーン、４１１…ブロック識別パターン、４１２…ブロッ
ク特定パターン、４１３…凸状パターン、４１４…凹凸
状パターン、４２０…画素用テストパターン、４２１…
画素識別パターン、４２２…画素特定パターン、４２３
〜４２６…特定パターン。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 1/036

Claims (46)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＬＥＤアレイを用いた画像形成装置を備
   える画像形成システムであって、 前記ＬＥＤアレイのそれぞれの画素における出力画素欠
   陥について、その欠陥画素の有無及び位置を検知する欠
   陥検知手段と、 前記ＬＥＤアレイを構成する前記画素の出力補正によっ
   て、前記欠陥画素の影響を低減させる欠陥補正手段と、 前記欠陥補正手段に接続されて、前記出力補正に基づい
   て前記ＬＥＤアレイを駆動・制御して画像の形成を行う
   ＬＥＤアレイ駆動手段と、を有することを特徴とする画
   像形成システム。
2. 【請求項２】 前記欠陥検知手段は、受光素子を有して
   構成されるとともに前記欠陥補正手段に接続されて、前
   記欠陥検知手段からの前記欠陥画素についての情報に基
   づいて、前記欠陥補正手段によって自動的に前記出力補
   正が行われることを特徴とする請求項１記載の画像形成
   システム。
3. 【請求項３】 前記欠陥補正手段は、前記欠陥検知手段
   によって検知された前記欠陥画素のそれぞれのうち、前
   記出力補正を行う前記欠陥画素を選択する補正画素選択
   手段を有することを特徴とする請求項１記載の画像形成
   システム。
4. 【請求項４】 前記欠陥検知手段からの前記欠陥画素に
   ついての情報を表示する表示手段と、 前記欠陥補正手段による前記出力補正についての情報を
   入力する補正情報入力手段と、をさらに備えることを特
   徴とする請求項１記載の画像形成システム。
5. 【請求項５】 前記欠陥検知手段は、前記欠陥画素の検
   知時において、前記ＬＥＤアレイの前記画素のうち隣接
   する画素を、それぞれ異なるタイミングで駆動させるこ
   とを特徴とする請求項１記載の画像形成システム。
6. 【請求項６】 前記欠陥検知手段は、ＣＣＤセンサを有
   して構成されていることを特徴とする請求項１記載の画
   像形成システム。
7. 【請求項７】 前記欠陥検知手段は、スキャナを有して
   構成されていることを特徴とする請求項１記載の画像形
   成システム。
8. 【請求項８】 前記欠陥検知手段は、前記欠陥画素を検
   知するために用いられるテストパターンによる前記画像
   を形成・出力させるためのテストパターン出力手段を有
   し、 前記テストパターンによる前記画像に基づいて、前記欠
   陥補正手段による前記出力補正についての情報を入力す
   る補正情報入力手段をさらに備えることを特徴とする請
   求項１記載の画像形成システム。
9. 【請求項９】 前記テストパターンは、前記ＬＥＤアレ
   イの前記画素をそれぞれ所定個数の前記画素からなるブ
   ロックに分割し、それぞれの前記ブロックを識別するた
   めのブロック識別パターンと、前記ブロックを特定する
   ためのブロック特定パターンと、を有するブロック用テ
   ストパターンであることを特徴とする請求項８記載の画
   像形成システム。
10. 【請求項１０】 前記テストパターンは、前記ＬＥＤア
    レイの前記画素をそれぞれ所定個数の前記画素からなる
    ブロックに分割し、それぞれの前記ブロックにおいて前
    記ブロックに属するそれぞれの前記画素を識別するため
    のブロック別画素識別パターンからなる画素識別パター
    ンと、前記画素を特定するための画素特定パターンと、
    を有する画素用テストパターンであることを特徴とする
    請求項８記載の画像形成システム。
11. 【請求項１１】 前記テストパターン出力手段は、 前記ＬＥＤアレイの前記画素をそれぞれ所定個数の前記
    画素からなるブロックに分割し、それぞれの前記ブロッ
    クを識別するためのブロック識別パターンと、前記ブロ
    ックを特定するためのブロック特定パターンと、を有す
    るブロック用テストパターンを形成・出力させるための
    ブロック用テストパターン出力手段と、 それぞれの前記ブロックのうちの前記欠陥画素を含む欠
    陥ブロックにおいて前記欠陥ブロックに属するそれぞれ
    の前記画素を識別するためのブロック別画素識別パター
    ンからなる画素識別パターンと、前記画素を特定するた
    めの画素特定パターンと、を有する画素用テストパター
    ンを形成・出力させるための画素用テストパターン出力
    手段と、を有するとともに、 前記ブロック用テストパターンによる前記画像に基づい
    て識別・特定された、前記欠陥画素を含む前記欠陥ブロ
    ックについての情報を入力する欠陥情報入力手段を有す
    ることを特徴とする請求項８記載の画像形成システム。
12. 【請求項１２】 前記画素用テストパターンの前記画素
    識別パターンは、前記ＬＥＤアレイのそれぞれの前記画
    素のうち、隣接する画素に対応するパターンが分離され
    て構成されていることを特徴とする請求項１０または１
    １記載の画像形成システム。
13. 【請求項１３】 前記ブロック用テストパターンの前記
    ブロック識別パターンは、それぞれの前記ブロックの境
    界位置に付された所定の画素幅からなる凹状パターンま
    たは凸状パターンの少なくとも一方を有して構成されて
    いることを特徴とする請求項９または１１記載の画像形
    成システム。
14. 【請求項１４】 前記欠陥情報入力手段において、複数
    の前記欠陥ブロックを指定することが可能なことを特徴
    とする請求項１１記載の画像形成システム。
15. 【請求項１５】 前記画素用テストパターンの前記画素
    特定パターンは、前記画素識別パターンのそれぞれの前
    記ブロック別画素識別パターンに対して、前記ＬＥＤア
    レイの配列方向の一方側に付された特定パターンを有し
    て構成されるとともに、前記画素用テストパターンによ
    る前記画像が形成・出力される記録紙の前記一方側の端
    部に位置する前記ブロック別画素識別パターンについて
    は、前記特定パターンがその他方側に付されていること
    を特徴とする請求項１０または１１記載の画像形成シス
    テム。
16. 【請求項１６】 前記画素用テストパターンの前記画素
    識別パターンは、隣接する複数の前記ブロック別画素識
    別パターンが連続した連続識別パターンを有して構成さ
    れ、 前記画素用テストパターンの前記画素特定パターンは、
    前記連続識別パターンに対して、前記ＬＥＤアレイの配
    列方向の一方側及び他方側の両側に付された特定パター
    ンを有して構成されていることを特徴とする請求項１０
    または１１記載の画像形成システム。
17. 【請求項１７】 前記欠陥補正手段は、前記欠陥検知手
    段によって検知された前記欠陥画素について、前記ＬＥ
    Ｄアレイの配列方向の一方側または他方側に隣接する前
    記画素のうち少なくとも一方に対して前記出力補正を行
    うことを特徴とする請求項１記載の画像形成システム。
18. 【請求項１８】 前記欠陥補正手段は、前記ＬＥＤアレ
    イの配列方向の一方側及び他方側に隣接する前記画素の
    両方に対して前記出力補正を行うことを特徴とする請求
    項１７記載の画像形成システム。
19. 【請求項１９】 前記欠陥補正手段は、前記ＬＥＤアレ
    イの配列方向の一方側の端部に位置する前記画素が前記
    欠陥画素であるとき、この前記欠陥画素の他方側に位置
    する前記画素に対して前記出力補正を行うことを特徴と
    する請求項１記載の画像形成システム。
20. 【請求項２０】 前記欠陥補正手段は、前記欠陥検知手
    段によって検知された前記欠陥画素について、前記ＬＥ
    Ｄアレイの配列方向の一方側または他方側の近傍にある
    複数の前記画素に対して前記出力補正を行うことを特徴
    とする請求項１記載の画像形成システム。
21. 【請求項２１】 前記欠陥補正手段は、前記欠陥画素に
    対する出力を取り消す前記出力補正を行うことを特徴と
    する請求項１記載の画像形成システム。
22. 【請求項２２】 前記欠陥補正手段は、前記欠陥検知手
    段によって検知されたそれぞれの前記欠陥画素について
    前記出力補正が行われる前記画素に対して、この前記画
    素に供給される画素データを対応する前記欠陥画素の画
    素データに基づいて補正することによって前記出力補正
    を行うことを特徴とする請求項１記載の画像形成システ
    ム。
23. 【請求項２３】 前記ＬＥＤアレイ駆動手段において、
    前記ＬＥＤアレイの前記画素についてその特性データに
    よる特性補正が行われ、 前記欠陥補正手段は、前記特性データに対して補正を行
    うことによって前記出力補正を行うことを特徴とする請
    求項１記載の画像形成システム。
24. 【請求項２４】 ＬＥＤアレイを用いた画像形成装置に
    関する画像形成方法であって、 前記ＬＥＤアレイのそれぞれの画素における出力画素欠
    陥について、その欠陥画素の有無及び位置を検知する欠
    陥検知ステップと、 前記ＬＥＤアレイを構成する前記画素の出力補正によっ
    て、前記欠陥画素の影響を低減させる欠陥補正ステップ
    と、 前記出力補正に基づいて前記ＬＥＤアレイを駆動・制御
    して画像の形成を行うＬＥＤアレイ駆動ステップと、を
    有することを特徴とする画像形成方法。
25. 【請求項２５】 前記欠陥検知ステップは、受光素子を
    用いて前記欠陥画素の検知を行い、前記欠陥補正ステッ
    プは、前記欠陥検知ステップからの前記欠陥画素につい
    ての情報に基づいて、自動的に前記出力補正を行うこと
    を特徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
26. 【請求項２６】 前記欠陥補正ステップは、前記欠陥検
    知ステップによって検知された前記欠陥画素のそれぞれ
    のうち、前記出力補正を行う前記欠陥画素を選択する補
    正画素選択ステップを有することを特徴とする請求項２
    ４記載の画像形成方法。
27. 【請求項２７】 前記欠陥検知ステップと、前記欠陥補
    正ステップとの間に、 前記欠陥検知ステップからの前記欠陥画素についての情
    報を表示する表示ステップと、 表示された前記欠陥画素についての情報に基づいて前記
    出力補正を行う前記画素または補正方法を決定する出力
    補正決定ステップと、 前記欠陥補正ステップによる前記出力補正についての情
    報を入力する補正情報入力ステップと、をさらに有する
    ことを特徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
28. 【請求項２８】 前記欠陥検知ステップは、前記欠陥画
    素の検知時において、前記ＬＥＤアレイの前記画素のう
    ち隣接する画素を、それぞれ異なるタイミングで駆動さ
    せることを特徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
29. 【請求項２９】 前記欠陥検知ステップは、ＣＣＤセン
    サを用いて前記欠陥画素の検知を行うことを特徴とする
    請求項２４記載の画像形成方法。
30. 【請求項３０】 前記欠陥検知ステップは、スキャナを
    用いて前記欠陥画素の検知を行うことを特徴とする請求
    項２４記載の画像形成方法。
31. 【請求項３１】 前記欠陥検知ステップは、前記欠陥画
    素を検知するために用いられるテストパターンによる前
    記画像を形成・出力させるためのテストパターン出力ス
    テップを有し、 前記欠陥検知ステップと、前記欠陥補正ステップとの間
    に、 前記テストパターンによる前記画像に基づいて前記出力
    補正を行う前記画素または補正方法を決定する出力補正
    決定ステップと、 前記欠陥補正ステップによる前記出力補正についての情
    報を入力する補正情報入力ステップと、をさらに有する
    ことを特徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
32. 【請求項３２】 前記テストパターンは、前記ＬＥＤア
    レイの前記画素をそれぞれ所定個数の前記画素からなる
    ブロックに分割し、それぞれの前記ブロックを識別する
    ためのブロック識別パターンと、前記ブロックを特定す
    るためのブロック特定パターンと、を有するブロック用
    テストパターンであることを特徴とする請求項３１記載
    の画像形成方法。
33. 【請求項３３】 前記テストパターンは、前記ＬＥＤア
    レイの前記画素をそれぞれ所定個数の前記画素からなる
    ブロックに分割し、それぞれの前記ブロックにおいて前
    記ブロックに属するそれぞれの前記画素を識別するため
    のブロック別画素識別パターンからなる画素識別パター
    ンと、前記画素を特定するための画素特定パターンと、
    を有する画素用テストパターンであることを特徴とする
    請求項３１記載の画像形成方法。
34. 【請求項３４】 前記テストパターン出力ステップは、 前記ＬＥＤアレイの前記画素をそれぞれ所定個数の前記
    画素からなるブロックに分割し、それぞれの前記ブロッ
    クを識別するためのブロック識別パターンと、前記ブロ
    ックを特定するためのブロック特定パターンと、を有す
    るブロック用テストパターンを形成・出力させるための
    ブロック用テストパターン出力ステップと、 それぞれの前記ブロックのうちの前記欠陥画素を含む欠
    陥ブロックにおいて前記欠陥ブロックに属するそれぞれ
    の前記画素を識別するためのブロック別画素識別パター
    ンからなる画素識別パターンと、前記画素を特定するた
    めの画素特定パターンと、を有する画素用テストパター
    ンを形成・出力させるための画素用テストパターン出力
    ステップと、を有するとともに、 前記ブロック用テストパターン出力ステップと、前記画
    素用テストパターン出力ステップとの間に、 前記ブロック用テストパターンによる前記画像に基づい
    て前記欠陥画素を含む前記欠陥ブロックを識別・特定す
    るブロック特定ステップと、 前記ブロック特定ステップにおいて識別・特定された、
    前記欠陥画素を含む前記欠陥ブロックについての情報を
    入力する欠陥情報入力ステップと、をさらに有すること
    を特徴とする請求項３１記載の画像形成方法。
35. 【請求項３５】 前記画素用テストパターンの前記画素
    識別パターンは、前記ＬＥＤアレイのそれぞれの前記画
    素のうち、隣接する画素に対応するパターンが分離され
    て構成されていることを特徴とする請求項３３または３
    ４記載の画像形成方法。
36. 【請求項３６】 前記ブロック用テストパターンの前記
    ブロック識別パターンは、それぞれの前記ブロックの境
    界位置に付された所定の画素幅からなる凹状パターンま
    たは凸状パターンの少なくとも一方を有して構成されて
    いることを特徴とする請求項３２または３４記載の画像
    形成方法。
37. 【請求項３７】 前記欠陥情報入力ステップにおいて、
    複数の前記欠陥ブロックを指定することが可能なことを
    特徴とする請求項３４記載の画像形成方法。
38. 【請求項３８】 前記画素用テストパターンの前記画素
    特定パターンは、前記画素識別パターンのそれぞれの前
    記ブロック別画素識別パターンに対して、前記ＬＥＤア
    レイの配列方向の一方側に付された特定パターンを有し
    て構成されるとともに、前記画素用テストパターンによ
    る前記画像が形成・出力される記録紙の前記一方側の端
    部に位置する前記ブロック別画素識別パターンについて
    は、前記特定パターンがその他方側に付されていること
    を特徴とする請求項３３または３４記載の画像形成方
    法。
39. 【請求項３９】 前記画素用テストパターンの前記画素
    識別パターンは、隣接する複数の前記ブロック別画素識
    別パターンが連続した連続識別パターンを有して構成さ
    れ、 前記画素用テストパターンの前記画素特定パターンは、
    前記連続識別パターンに対して、前記ＬＥＤアレイの配
    列方向の一方側及び他方側の両側に付された特定パター
    ンを有して構成されていることを特徴とする請求項３３
    または３４記載の画像形成方法。
40. 【請求項４０】 前記欠陥補正ステップは、前記欠陥検
    知ステップによって検知された前記欠陥画素について、
    前記ＬＥＤアレイの配列方向の一方側または他方側に隣
    接する前記画素のうち少なくとも一方に対して前記出力
    補正を行うことを特徴とする請求項２４記載の画像形成
    方法。
41. 【請求項４１】 前記欠陥補正ステップは、前記ＬＥＤ
    アレイの配列方向の一方側及び他方側に隣接する前記画
    素の両方に対して前記出力補正を行うことを特徴とする
    請求項４０記載の画像形成方法。
42. 【請求項４２】 前記欠陥補正ステップは、前記ＬＥＤ
    アレイの配列方向の一方側の端部に位置する前記画素が
    前記欠陥画素であるとき、この前記欠陥画素の他方側に
    位置する前記画素に対して前記出力補正を行うことを特
    徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
43. 【請求項４３】 前記欠陥補正ステップは、前記欠陥検
    知ステップによって検知された前記欠陥画素について、
    前記ＬＥＤアレイの配列方向の一方側または他方側の近
    傍にある複数の前記画素に対して前記出力補正を行うこ
    とを特徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
44. 【請求項４４】 前記欠陥補正ステップは、前記欠陥画
    素に対する出力を取り消す前記出力補正を行うことを特
    徴とする請求項２４記載の画像形成方法。
45. 【請求項４５】 前記欠陥補正ステップは、前記欠陥検
    知ステップによって検知されたそれぞれの前記欠陥画素
    について前記出力補正が行われる前記画素に対して、こ
    の前記画素に供給される画素データを対応する前記欠陥
    画素の画素データに基づいて補正することによって前記
    出力補正を行うことを特徴とする請求項２４記載の画像
    形成方法。
46. 【請求項４６】 前記ＬＥＤアレイ駆動ステップにおい
    て、前記ＬＥＤアレイの前記画素についてその特性デー
    タによる特性補正が行われ、 前記欠陥補正ステップは、前記特性データに対して補正
    を行うことによって前記出力補正を行うことを特徴とす
    る請求項２４記載の画像形成方法。