JP2000243681A - 投影露光装置及び該投影露光装置を用いた露光方法 - Google Patents

投影露光装置及び該投影露光装置を用いた露光方法

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JP2000243681A
JP2000243681A JP11038659A JP3865999A JP2000243681A JP 2000243681 A JP2000243681 A JP 2000243681A JP 11038659 A JP11038659 A JP 11038659A JP 3865999 A JP3865999 A JP 3865999A JP 2000243681 A JP2000243681 A JP 2000243681A
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Koji Muramatsu
浩二 村松
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Original Assignee
Nikon Corp
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70066Size and form of the illuminated area in the mask plane, e.g. reticle masking blades or blinds

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 視野絞り投影光学系が収差、製造誤差を有し
ていても、レチクル原板上の所望の領域を正確に照明す
ることができる投影露光装置等を提供すること。 【解決手段】 所定面をほぼ均一な照度分布の照明光で
照明する照明装置部1〜11と、前記所定面近傍に配置
されて、投影原板12上の照明領域を規定するための視
野絞り9と、該視野絞りの像を前記投影原板上に投影す
る視野絞り投影光学系10とを備え、前記投影原板上に
形成されたパターンを投影光学系13を介して被露光基
板14上に投影露光する投影露光装置において、前記視
野絞りの開口部は、前記視野絞り投影光学系の少なくと
も収差に起因する前記視野絞りの像の前記投影原板上に
おける位置ずれを少なくとも補正できる形状を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、投影露光装置、特
に半導体集積回路、液晶デバイスを製造するリソグラフ
ィ工程のためのパターン形成に好適な投影露光装置及び
露光方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術の投影露光装置の概略構成を図
10に基づいて説明する。ショートアーク型の水銀ラン
プ1から射出した光束は楕円鏡2及びミラー3により反
射された後、コレクターレンズ4によりほぼ平行な光束
に変換される。次に、波長選択フィルタ5において、縮
小投影光学系13の色消し範囲に対応した所定波長の光
束が選択される。波長選択された光束は、σ絞り7、コ
ンデンサレンズ8、視野絞り9、視野絞り投影光学系1
0及び光路折り曲げミラー11を介して親パターン板
(投影原板)であるレチクル又はマスク等12(以下、
「レチクル原板」という)を照明する。そして、レチク
ル原板12上に描画された転写すべき回路パターンの像
が、投影光学系13を介して子パターン板(被露光基
板)であるウエハ基板等14(以下、「ウエハ基板」と
いう)上に投影、露光される。ウエハ基板14には感光
性のフォトレジストが塗布されており、照射光像、すな
わち親パターンの透明部分のパターン形状に応じて、フ
ォトレジストに回路パターンが転写される。かかる投影
露光装置では、レチクル原板を照明するための照明光学
系中に例えばフライアイレンズからなる多光束発生用光
学素子(以下「フライアイ・インテグレータ」と呼ぶ)
が使用されており、レチクル基板12上に照射される照
明光の強度分布を均一化している。また、コンデンサレ
ンズ8及び視野絞り投影光学系10により、フライアイ
・インテグレータ6の入射面(前側焦点面)とレチクル
原板12のパターン面とが共役関係にある。さらに、縮
小投影光学系13を介して、フライアイ・インテグレー
タ6の入射面とウエハ基板14の露光面とが共役関係に
ある。加えて、視野絞り投影光学系10により、視野絞
り9と親パターン板12のパターン面とがほぼ共役関係
に設定されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来技術の投影露光装
置では、視野絞り投影光学系10で発生する収差が大き
いため、レチクル原版12のパターン面の照明領域を適
切に限定することができない。例えば、視野絞り投影光
学系10の収差又は製造誤差等の特性に起因してレチク
ル原版12のパターン面上において露光領域の周辺部分
がボケること、又は露光領域の位置の誤差を生じること
等の問題を生じている。例えば、視野絞り9が図11
(a)に示すように矩形形状をしており、視野絞り投影
光学系10が図11(b)に示す歪曲収差を有している
とする。かかる場合に、レチクル原板12上における視
野絞りの像は図11(c)に示すように樽型形状となっ
てしまう。このため、従来技術では、図11(c)に示
す様な遮光帯部LSをレチクル原板12上にクロム蒸着
することで、視野絞り像のうちボケた又は位置ずれを生
じた周辺部分等を遮光し、かかる問題を防止している。
しかし、遮光帯部LSのピンホール欠損の有無を検査す
るための工程が増えしまう。
【0004】また、ウエハ基板の大きな領域を露光する
場合は、ウエハ基板の1つの露光領域を複数の単位領域
に分けて、複数枚の異なるレチクル原板を交換し、ウエ
ハ基板を順次移動させながら単位露光領域ごとに投影露
光を行うことで現状の露光領域の光学系を用いたまま実
現可能となる。ここで、ウエハ基板に対して複数回の露
光を行うことで露光領域を拡大する場合に、第n回目の
露光領域と、それに続く第(n+1)回目の露光領域と
の境界において欠陥が生ずるおそれがある。例えば、ウ
エハ基板に対して図12(a)に示す領域Aを露光した
後に、図12(b)に示す領域Bを露光する場合に、領
域Aの端部EAと領域Bの端部EBとの位置がΔXだけ
離れていると、結果として図12(c)に示すように、
ウエハ基板上でΔXの幅の断線が生じることとなる。逆
に、図12(d)と(e)に示すように領域Aの端部E
Aの位置と領域Bの端部EBの位置とがΔXだけ重複し
ていると、図12(f)のようにウエハ基板上で幅ΔX
の露光量過多領域を生ずることとなる。
【0005】このように、視野絞り9の像が、視野絞り
投影光学系10によってレチクル原板12上に投影され
るが、視野絞り投影光学系の収差や製造上の加工誤差に
起因して投影された絞り像の形状が変形しているので、
隣り合う露光領域の位置ずれにより照度の不均一性、即
ちパターンの断線や露光過多領域を生じてしまうという
問題がある。
【0006】本発明は上記問題に鑑みてなされたもので
あり、視野絞り投影光学系が収差、製造誤差を有してい
ても、レチクル原板上の所望の領域を正確に照明するこ
とができる投影露光装置及び該装置を用いた露光方法を
提供することを目的とする。また、被露光基板の露光領
域全体を複数の単位露光領域に分けて、該単位露光領域
ごとに順次露光する場合に、隣接する単位露光領域の境
界において常に適切な露光光強度分布を得ることができ
る投影露光装置及び該装置を用いた露光方法を提供する
ことを他の目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の投影露光装置は、所定面をほぼ均一な照度
分布の照明光で照明する照明装置部と、前記所定面近傍
に配置されて、投影原板上の照明領域を規定するための
視野絞りと、該視野絞りの像を前記投影原板上に投影す
る視野絞り投影光学系とを備え、前記投影原板上に形成
されたパターンを投影光学系を介して被露光基板上に投
影露光する投影露光装置において、前記視野絞りの開口
部は、前記視野絞り投影光学系の少なくとも収差に起因
する前記視野絞りの像の前記投影原板上における位置ず
れを少なくとも補正できる形状を有することを特徴とす
る。さらに好ましくは、視野絞りの開口部の形状は、照
明装置部の光軸を横切る面内における開口部の像の位置
ずれを補正可能であることが望ましい。また、視野絞り
の開口部の形状は、照明装置部の光軸方向における開口
部の像の位置ずれを補正可能であることが望ましい。
【0008】また、好ましい態様によれば、前記投影原
板のパターン像が前記被露光基板に形成される露光領域
全体に投影露光されることを特徴とする。
【0009】また、好ましい態様によれば、前記投影光
学系は、前記投影原板のパターンを前記被露光基板上の
単位露光領域上に形成し、前記被露光基板上の1つの露
光領域を複数の前記単位露光領域で形成するために、隣
接する前記単位露光領域どうしの一部が重複するように
少なくとも前記被露光基板を移動させる移動部材を有
し、前記視野絞りは、前記単位露光領域どうしの重複領
域でほぼ一定の露光光強度分布となるように、前記開口
部内の前記重複領域に対応する領域に設けられて、透過
率が略100%から略0%まで変化している透過率制御
部を有し、前記透過率制御部が設けられている領域の形
状は、前記視野絞り投影光学系の少なくとも収差に起因
する前記透過率制御部の像の前記投影原板上における位
置ずれを少なくとも補正できる形状であることを特徴と
する。さらに好ましくは、透過率制御部が設けられてい
る領域の形状は、照明装置部の光軸を横切る面内におけ
る透過率制御部の像の位置ずれを補正可能であることが
望ましい。また、透過率制御部が設けられている領域の
形状は、照明装置部の光軸方向における透過率制御部の
像の位置ずれを補正可能であることが望ましい。
【0010】また、本発明の投影露光装置によれば、所
定面をほぼ均一な照度分布の照明光で照明する照明装置
部と、前記所定面近傍に配置されて、投影原板上の照明
領域を規定するための視野絞りと、該視野絞りの像を前
記投影原板上に投影する視野絞り投影光学系とを備え、
前記投影原板上に形成されたパターンを被露光基板上に
投影露光する投影露光装置において、前記投影光学系
は、前記投影原板のパターンを前記被露光基板上の単位
露光領域上に形成し、前記被露光基板上の1つの露光領
域を複数の前記単位露光領域で形成するために、隣接す
る前記単位露光領域どうしの一部が重複するように少な
くとも前記被露光基板を移動させる移動部材を有し、前
記視野絞りは、前記単位露光領域どうしの重複領域でほ
ぼ一定の露光光強度分布となるように、前記開口部内の
前記重複領域に対応する領域に設けられて、透過率が略
100%から略0%まで変化している透過率制御部を有
し、前記透過率制御部は、透過率が略100%から減少
し始める部分の近傍と、透過率が略0%となる部分の近
傍とにおいて透過率の変化が非連続である部分を有する
ことを特徴とする。
【0011】また、本発明の投影露光装置によれば、所
定面をほぼ均一な照度分布の照明光で照明する照明装置
部と、前記所定面近傍に配置されて、投影原板上の照明
領域を規定するための視野絞りと、該視野絞りの像を前
記投影原板上に投影する視野絞り投影光学系とを備え、
前記投影原板上に形成されたパターンを被露光基板上に
投影露光する投影露光装置において、前記投影光学系
は、前記投影原板のパターンを前記被露光基板上の単位
露光領域上に形成し、前記被露光基板上の1つの露光領
域を複数の前記単位露光領域で形成するために、隣接す
る前記単位露光領域どうしの一部が重複するように少な
くとも前記被露光基板を移動させる移動部材を有し、前
記視野絞りは、前記単位露光領域どうしの重複領域でほ
ぼ一定の露光光強度分布となるように、前記開口部内の
前記重複領域に対応する領域に設けられて、透過率が略
100%から略0%まで変化している透過率制御部を有
し、該透過率制御部は、所定の透過率を有する複数の透
過率可変部が任意の密度分布に従って形成されており、
前記視野絞り投影光学系は、前記重複領域における露光
光強度分布の変化を滑らかにするために、所定量の収差
を有していること、または前記透過率可変部のディフォ
ーカス像を前記投影原板へ投影することを特徴とする。
【0012】また、本発明の露光方法は、投影原板を保
持する工程と、被露光基板を保持する工程と、前記投影
原板上に形成されたパターンを上述のいずれか一項記載
の投影露光装置により前記被露光基板上に投影露光する
工程とを含むことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて本発明
の実施の形態について説明する。 (第1実施形態)図1は、本発明の第1実施形態にかか
る投影光学装置の構成を説明する図である。ショートア
ーク型の水銀ランプ1からの光束は楕円鏡2で光源像が
移動され、ミラー3により反射された後、コレクターレ
ンズ4によりほぼ平行な光束に変換される。次に、波長
選択フィルタ5において、縮小投影光学系13の色消し
範囲に対応した所定波長の光束が選択される。波長選択
された光束は、フライアイ・インテグレータ6とσ絞り
7とを透過後、コンデンサレンズ8、視野絞り9、視野
絞り投影光学系10及び光路折り曲げミラー11を介し
てレチクル原板12を照明する。視野絞り9は視野絞り
投影光学系10によりレチクル原板12上に投影され、
レチクル原板12上の照明領域を規定している。そし
て、レチクル原板12上に描画された転写すべき回路パ
ターンの像が、投影光学系13を介してウエハ基板14
上の露光領域全体に投影、露光される。ウエハ基板14
には感光性のフォトレジストが塗布されており、照射光
像、すなわちレチクル原板の透明部分のパターン形状の
像に応じてフォトレジストに回路パターンが転写され
る。
【0014】かかる投影露光装置では、レチクル原板1
2のパターンを照明するための照明光学系中にフライア
イ・インテグレータ6が使用されており、レチクル原板
12上に照射される照明光の強度分布を均一化してい
る。即ち、光源1から視野絞り投影光学系10までがレ
チクル原板12をほぼ均一な照度分布の照明光で照明す
る照明装置部を構成している。また、コンデンサレンズ
8及び視野絞り投影光学系10を介して、フライアイ・
インテグレータ6の入射面(前側焦点面)とレチクル原
板12のパターン面とが共役関係にある。さらに、縮小
投影光学系13を介して、フライアイ・インテグレータ
6の入射面とウエハ基板14の露光面とが共役関係にあ
る。加えて、視野絞り投影光学系10により、視野絞り
9とレチクル原板12のパターン面とがほぼ共役関係に
設定されている。
【0015】レチクル原板12はレチクルステージRS
Tに保持され、該ステージをXY平面内で不図示の駆動
部で移動することにより、レチクル原板の位置合わせを
行うことができる。さらに、ウエハ基板14も支持台1
5を介してXYステージ16上に保持されている。支持
台15には移動鏡17が設けられておりレーザ干渉計1
8とステージ駆動部19とを用いて高精度にウエハ基板
の位置決めを行うことできる。
【0016】次に、視野絞り9の形状について説明す
る。視野絞り9の開口部は、視野絞り投影光学系10の
収差や製造誤差に起因して生ずる視野絞り9の像のレチ
クル原板12上における位置ずれを補正するような形状
を予め有している。例えば、視野絞り投影光学系10が
図2(a)に示すような歪曲収差(縦軸は像高比を示
す)を有する場合、図3(a)に示す形状の視野絞り
は、レチクル原板上に投影されると図3(b)のように
位置ずれのため照明装置部の光軸AXを横切る面内(X
Y平面内)において変形してしまう。このため、レチク
ル原板12上で正確な矩形領域を照明することができな
い。本実施形態では、視野絞りの開口部の形状を予め図
3(c)に示すように上記位置ずれ変形量を補正するよ
うに設定しておく。この結果、視野絞り投影光学系10
を介してレチクル原板12上に投影された視野絞りの像
の形状は図3(d)に示すように矩形形状とすることが
できる。
【0017】また、視野絞り投影光学系10が図2
(b)に示すような像面湾曲収差(縦軸は像高比を示
す)を有する場合、図4(a)に示す形状の視野絞り
は、レチクル原板上に投影されると図4(b)のように
照明装置部の光軸AX方向における位置ずれのためZ方
向において変形してしまう。このため、レチクル原板1
2上で正確な矩形領域を照明することができない。本実
施形態では、視野絞り9の開口部の形状を予め図4
(c)に示すように上記位置ずれ変形量を補正するよう
に設定しておく。この結果、視野絞り投影光学系10で
レチクル原板12上に投影された視野絞りの像の形状は
図4(d)に示すように平面矩形形状とすることができ
る。
【0018】上記視野絞りの変形例では、主として歪曲
収差と像面湾曲収差について説明したが、その他の収
差、例えばコマ収差、球面収差、非点収差に関しても、
視野絞りをこれら収差による位置ずれを補正するように
変形することで正確な領域を照明し、露光することがで
きる。この場合は、パターン像が投影されたレチクル原
板12上の位置を始点として光源1の方向へ光線を逆追
跡し、視野絞り9の近傍に形成される投影像の形状を算
出し、該形状を視野絞りの形状とすればよい。また、視
野絞り9がレチクル原板12上に投影された像をモニタ
ーしながら、該投影像が所望の形状となるように視野絞
りの形状を変形させても良い。
【0019】(第2実施形態)図5は、第2実施形態に
かかる投影露光装置の構成を示す図である。第1実施形
態の構成と同じ部分には同一の符号を付し、重複する部
分の説明は省略する。本実施形態の投影露光装置は、複
数枚のレチクル原板R1〜Rnを収納するレチクル原板
収納装置20、21、22と、レチクル原板収納装置か
ら選択されたレチクル原板をレチクルステージRST上
へ搬送するレチクルローダ部23と、レチクル装置部を
制御する主制御系24とを有している。また、レチクル
原板R1〜Rnには、最終的にウエハ基板14に投影露
光する1つの大きなパターンを分割したパターンがそれ
ぞれ形成されている。
【0020】以下、投影露光の手順を説明する。ウエハ
基板の位置情報がレーザ干渉計18から主制御装置24
へ送られる。スライド装置22は主制御装置からの信号
に従って、支持板21に支持されたレチクル原板R1を
レチクルステージRST上に搬送するための所定位置へ
スライドさせる。レチクルローダ23はレチクル原板R
1をレチクルステージRST上へ搬送する。そして、レ
チクル原板R1上に形成されたパターンがウエハ基板1
4に投影露光される。このとき、ウエハ基板14は図6
の破線に示すように、複数の単位露光領域で形成されて
おり、例えば、レチクル原板R1のパターンは領域Aに
投影露光される。
【0021】次に、レチクルローダ23は投影露光の終
了したレチクル原板R1をレチクル収納装置へ戻し、次
に選択されたレチクル原板R2をレチクルステージRS
T上へ搬送する。このとき、XYステージ駆動部19
は、レチクル原板R2上に形成されたパターンが図6の
領域Bに投影露光されるようにステージ16を所定量だ
け移動する。即ち、隣接する単位露光領域どうしの一部
が重複するように(図6の斜線部D)次々と露光され
る。なお、図6では理解を容易にするため単位領域Bは
単位領域Aに対してY方向に若干シフトさせている場合
を示したが、かかるY方向のシフト量は零でも良い。そ
して、同様に手順を繰り返して、レチクル原板Rnまで
を使用して複数回の投影露光を行う。
【0022】上述したように、従来技術の投影露光装置
において、複数回の露光によりパターンをつないで行く
と、上述したように隣接する単位露光領域どうしの境界
で断線等(図12(c)、(f)参照)が生じ易いので
問題である。これに対して、本実施形態の投影露光装置
では、視野絞り9が照明光の透過率を制御する透過率制
御部を設けることでかかる問題を解消している。図7は
矩形状の単位露光領域の一辺についての透過率制御部T
C近傍を拡大した図であり、左端の数字は照明光の透過
率を表している。透過率制御部TCは、上記単位露光領
域の重複部分(図6の斜線部D)に対応する視野絞りの
領域において照明光の透過率が視野絞りの開口部中心か
ら外側に向って略100%から略0%まで変化してい
る。さらに好ましくは、透過率制御部TCは、所定の密
度で配列された所定の透過率を有するドット状の透過率
可変部ELで構成されていることが望ましい。
【0023】かかる構成によれば、図8(a)〜(c)
に示すように、例えば、単位露光領域AとBとの重複部
分において、領域Aの透過率が略100%から減少し始
める位置A1と領域Bの透過率が略0%となる位置B2
とを一致させ、領域Aの透過率が略0%となる位置A2
と領域Bの透過率が略100%から減少し始める位置B
1とを一致させると、ウエハ基板上で一定の露光光強度
分布を得ることができる。また、位置A1とB2とがΔ
Xだけズレている場合は、図8(f)又は(j)に示す
ように、重複部分以外の露光光強度分布に比較して露光
光の強度分布が若干少ない又は多い部分が生じるが、そ
の強度差ΔEが許容値範囲内でれば断線等の問題を生じ
ない。
【0024】また、透過率制御部TCは、視野絞り投影
光学系10の収差や製造誤差に起因して生ずる透過率制
御部TCの像のレチクル原板12上におけるXY平面内
又はZ方向の位置ずれを補正するような形状であること
が望ましい。かかる形状により、より正確にレチクル原
板の所定領域を照明できる。
【0025】さらに、透過率制御部TCは、図9に示す
ように透過率が略100%から減少し始める部分A1の
近傍と、透過率が略0%となる部分A2の近傍とにおい
て透過率の変化が非連続である部分NCを有することが
望ましい。視野絞り9を切り換えた場合に、視野絞り9
とレチクル原板12又はウエハ基板とのアライメントを
行う必要があるが、かかる透過率非連続部分NCを設け
ることで照明領域の境界部(エッジ部)を容易に検出で
き、正確なアライメントを行うことができる。
【0026】加えて、視野絞り投影光学系10は、重複
領域Dにおける露光光強度分布の変化を滑らかにするた
めに、所定量の収差を有していることが望ましい。これ
により、透過率可変部ELのドットの輪郭がぼけるた
め、重複領域Dにおける露光光強度分布の変化を滑らか
にすることが可能となる。なお、露光光強度分布の変化
を滑らかにするための収差としては、例えば球面収差な
どがある。
【0027】また、視野絞り投影光学系10は、透過率
可変部ELのディフォーカス像を投影原板としてのレチ
クル原板へ投影することが望ましい。これにより、レチ
クル原板上において透過率可変部ELの輪郭がぼけ、重
複領域Dにおける露光光強度分布の変化を滑らかにでき
る。
【0028】また、視野絞りの透過率制御部は、ドット
状の透過率可変部ELを配列したものに限られず、透過
率の異なる物質を一定間隔で視野絞りに塗布しても良
い。
【0029】また、上記実施形態では、光源として水銀
ランプを用いているが、これに限られるものではなく、
レーザ光源等を用いた場合でも良い。また、複数のレチ
クル原板を用いる代わりに、露光すべきパターンが形成
された1枚の大きなレチクル原板を用いることもでき
る。この場合は、レチクル原板上の照明領域もウエハ基
板の単位露光領域に対応させて単位照明領域に分割し、
投影露光する毎にレチクル原板を移動させ、各照明領域
毎に投影露光を行うことで、ウエハ基板の大きな領域に
投影露光を行うことができる。
【0030】また、レチクル原板を保持する工程と、ウ
エハ基板を保持する工程とを設け、本発明にかかる投影
露光装置によりレチクル原板に形成されたパターンをウ
エハ基板に投影露光することで、半導体デバイス等を製
造するための露光方法を得ることができる。
【0031】また、上記実施形態では、レチクル原板に
描画された転写すべき回路パターンの像を投影光学系を
介してウエハ基板へ投影し、半導体デバイス等を製造す
ること前提としたが、被露光基板としては、ウエハ基板
のみには限られず、例えば、液晶表示素子を製造するこ
とを前提として、ガラス基板であっても良い。
【0032】また、本発明による投影露光装置を用い
て、実際に半導体デバイス等を製造する際に使用される
ワーキングレチクルを製造することもできる。この場
合、被露光基板として石英やフッ素ドープ石英等の光透
過性基板を用い、投影原板としては、ワーキンブレチク
ル上の転写用のパターンを拡大したパターンを複数枚の
親レチクルに分割したものを用い、これら親レチクルの
パターンの縮小像を画面継ぎを行いながらワーキングレ
チクル上に順次転写する。なお、このようなワーキング
レチクルの製造方法は、本出願人によるPCT/JP9
8/05912号に提案されている。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
視野絞り投影光学系が収差や製造誤差を有していても、
視野絞りの開口部は該収差等を補正できる形状を有して
いるので、レチクル原板上の所望の領域を正確に照明す
ることができる。従って、良好な投影パターン像を得る
ことができる。
【0034】また、本発明によれば、被露光基板上の隣
接する単位露光領域どうしの重複範囲に対応する領域の
透過率が略100%〜略0%まで変化している透過率制
御部を有している。このため、隣接する単位露光領域ご
とに次々と投影露光を行う場合に、境界部分で断線など
を生じることがない。また、該透過率制御部が視野絞り
投影光学系の収差等を補正する形状を有しているので、
より正確にレチクル原板の所望の領域を照明できる。
【0035】また、本発明によれば、透過率制御部は透
過率が非連続な部分を有している。従って、レチクル原
板上において視野絞り像のエッジ部を容易に検出するこ
とができ、良好なアライメントを行うことができる。
【0036】また、本発明によれば、視野絞り投影光学
系が所定量の収差を有している。このため、被露光基板
上の重複領域において露光光強度分布の変化を滑らかに
することができる。
【0037】また、本発明の露光方法によれば、レチク
ル原板の所望領域を正確に照明でき、また、1つの大き
な露光領域に対してパターンを複数回の投影露光により
露光しても断線等を生ずることがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態にかかる投影露光装置の
構成を示す図である。
【図2】(a)、(b)は視野絞り投影光学系が有する
収差を示す図である。
【図3】(a)乃至(d)は視野絞りの開口部の変形を
示す図である。
【図4】(a)乃至(d)は視野絞りの開口部の変形を
示す他の図である。
【図5】本発明の第2実施形態にかかる投影露光装置の
構成を示す図である。
【図6】ウエハ基板上における単位露光領域を示す図で
ある。
【図7】透過率制御部の構成を示す図である。
【図8】(a)乃至(j)は、ウエハ基板上における露
光光強度分布を示す図である。
【図9】透過率制御部の透過率変化が非連続である部分
を説明する図である。
【図10】従来の投影露光装置の構成を示す図である。
【図11】(a)乃至(c)は従来技術の視野絞り像の
変形を説明する図である。
【図12】(a)乃至(f)は従来技術における単位露
光領域の境界で生ずる断線等を説明する図である。
【符号の説明】
9 視野絞り 10 視野絞り投影光学系 12 レチクル原板 13 投影光学系 14 ウエハ基板 15 支持台 16 XYステージ 19 ステージ駆動部 20 レチクルライブラリ 23 レチクルローダ R1〜Rn レチクル原板 AX 光軸 RST レチクルステージ A,B 単位露光領域 D 重複部分 TC 透過率調節部 EL 透過率可変部 NC 透過率非連続部分

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定面をほぼ均一な照度分布の照明光で
    照明する照明装置部と、 前記所定面近傍に配置されて、投影原板上の照明領域を
    規定するための視野絞りと、 該視野絞りの像を前記投影原板上に投影する視野絞り投
    影光学系とを備え、 前記投影原板上に形成されたパターンを投影光学系を介
    して被露光基板上に投影露光する投影露光装置におい
    て、 前記視野絞りの開口部は、前記視野絞り投影光学系の少
    なくとも収差に起因する前記視野絞りの像の前記投影原
    板上における位置ずれを少なくとも補正できる形状を有
    することを特徴とする投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記投影原板のパターン像が前記被露光
    基板に形成される露光領域全体に投影露光されることを
    特徴とする請求項1記載の投影露光装置。
  3. 【請求項3】 前記投影光学系は、前記投影原板のパタ
    ーンを前記被露光基板上の単位露光領域上に形成し、 前記被露光基板上の1つの露光領域を複数の前記単位露
    光領域で形成するために、隣接する前記単位露光領域ど
    うしの一部が重複するように少なくとも前記被露光基板
    を移動させる移動部材を有し、 前記視野絞りは、前記単位露光領域どうしの重複領域で
    ほぼ一定の露光光強度分布となるように、前記開口部内
    の前記重複領域に対応する領域に設けられて、透過率が
    略100%から略0%まで変化している透過率制御部を
    有し、 前記透過率制御部が設けられている領域の形状は、前記
    視野絞り投影光学系の少なくとも収差に起因する前記透
    過率制御部の像の前記投影原板上における位置ずれを少
    なくとも補正できる形状であることを特徴とする請求項
    1記載の投影露光装置。
  4. 【請求項4】 所定面をほぼ均一な照度分布の照明光で
    照明する照明装置部と、 前記所定面近傍に配置されて、投影原板上の照明領域を
    規定するための視野絞りと、 該視野絞りの像を前記投影原板上に投影する視野絞り投
    影光学系とを備え、 前記投影原板上に形成されたパターンを被露光基板上に
    投影露光する投影露光装置において、 前記投影光学系は、前記投影原板のパターンを前記被露
    光基板上の単位露光領域上に形成し、 前記被露光基板上の1つの露光領域を複数の前記単位露
    光領域で形成するために、隣接する前記単位露光領域ど
    うしの一部が重複するように少なくとも前記被露光基板
    を移動させる移動部材を有し、 前記視野絞りは、前記単位露光領域どうしの重複領域で
    ほぼ一定の露光光強度分布となるように、前記開口部内
    の前記重複領域に対応する領域に設けられて、透過率が
    略100%から略0%まで変化している透過率制御部を
    有し、 前記透過率制御部は、透過率が略100%から減少し始
    める部分の近傍と、透過率が略0%となる部分の近傍と
    において透過率の変化が非連続である部分を有すること
    を特徴とする投影露光装置。
  5. 【請求項5】 所定面をほぼ均一な照度分布の照明光で
    照明する照明装置部と、 前記所定面近傍に配置されて、投影原板上の照明領域を
    規定するための視野絞りと、 該視野絞りの像を前記投影原板上に投影する視野絞り投
    影光学系とを備え、 前記投影原板上に形成されたパターンを被露光基板上に
    投影露光する投影露光装置において、 前記投影光学系は、前記投影原板のパターンを前記被露
    光基板上の単位露光領域上に形成し、 前記被露光基板上の1つの露光領域を複数の前記単位露
    光領域で形成するために、隣接する前記単位露光領域ど
    うしの一部が重複するように少なくとも前記被露光基板
    を移動させる移動部材を有し、 前記視野絞りは、前記単位露光領域どうしの重複領域で
    ほぼ一定の露光光強度分布となるように、前記開口部内
    の前記重複領域に対応する領域に設けられて、透過率が
    略100%から略0%まで変化している透過率制御部を
    有し、 該透過率制御部は、所定の透過率を有する複数の透過率
    可変部が任意の密度分布に従って形成されており、 前記視野絞り投影光学系は、前記重複領域における露光
    光強度分布の変化を滑らかにするために、所定量の収差
    を有している、または前記透過率可変部のディフォーカ
    ス像を前記投影原板へ投影することを特徴とする投影露
    光装置。
  6. 【請求項6】 投影原板を保持する工程と、 被露光基板を保持する工程と、 前記投影原板上に形成されたパターンを請求項1乃至5
    のいずれか一項記載の投影露光装置により前記被露光基
    板上に投影露光する工程とを含むことを特徴とする露光
    方法。
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