JP2000237669A - スピンコート法による薄膜の形成装置及び形成方法 - Google Patents

スピンコート法による薄膜の形成装置及び形成方法

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JP2000237669A JP11045167A JP4516799A JP2000237669A JP 2000237669 A JP2000237669 A JP 2000237669A JP 11045167 A JP11045167 A JP 11045167A JP 4516799 A JP4516799 A JP 4516799A JP 2000237669 A JP2000237669 A JP 2000237669A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ゾルゲル法等の塗布液を、スピンコート法によ
り、車両用窓等の大サイズのガラス基板へ、均一な膜厚
で塗布する。 【解決手段】スピンコート法により基板上面に薄膜を形
成する方法において、略水平姿勢で回転する基板の上面
中心部付近に塗布液を滴下させるとともに、基板のスピ
ン回転により描く円の接線方向かつ回転方向になるよう
に設けた排気口から基板周辺の雰囲気ガスを吸引排気
し、基板の回転により発生する乱気流を抑制し、基板上
面に均一な薄膜を形成、かつ基板下面への塗布液の裏ま
わりによる付着を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ゾルゲル法などで
知られる塗布液を、基板、特に車両用窓ガラス等に用い
られる大サイズのガラス基板へ塗布する場合に、均一性
の優れた膜厚を形成できるスピンコート装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】ガラス板や樹脂板等の基板に薄膜を形成
する方法として、フローコート法、ロールコート法、デ
ィッピング法、およびスピンコート法等の各種の方法が
良く知られている。
【0003】まず、フローコート法による成膜方法は、
基板の片面に塗膜を形成することができるが、常に多量
の塗布液を循環させる必要があり、塗布液の溶質濃度が
増し粘度増加などの経時変化を起こし易いという問題点
があった。
【0004】また、ロールコート法による成膜方法は、
前記フローコート法と同様に、基板の片面に塗膜を形成
することができるが、ロールと基板の接触度合い(ギャ
ップ)の調整が非常に困難であるため、大きいサイズの
基板では膜厚のバラツキが大きく、膜厚の均一な膜、例
えば成膜面内の膜厚分布を目標値の±10%以内に抑え
るのは困難であり、例えば光学薄膜などの形成には不適
切であるという問題点があった。
【0005】さらに、ディッピング法による成膜方法は
膜厚の制御が非常に優れ、例えばサブミクロンオーダー
以下での膜厚制御が可能な方法として一般によく知られ
ているが、常に基板の両面に成膜されてしまい、片面の
みに成膜する場合には非成膜面をマスキングする必要が
あり、作業が煩雑となりコスト高になりやすいという問
題点があった。
【0006】さらにまた、スピンコート法による成膜方
法は、回転する基板の中心付近上部より溶液を滴下し
て、遠心力により基板上の溶液を外周方向に伸展させ、
揮発成分を蒸発させることにより、均一な薄膜を形成さ
せるものであり、半導体の分野で、フォトレジスト膜を
形成するのに広く用いられている。しかし、基板のサイ
ズ形状が小径の円板状(例えば30cmφ以下)であれ
ば好適な方法であるが、基板の形状が矩形の場合や、そ
のサイズが1m×1mを超えるような大サイズの基板の
場合には、成膜面内の膜厚の均一性は、特に周辺部にな
るほど悪くなり、基板の全面積に対する塗布面の許容範
囲内の膜厚となる有効面積が小さいという問題点があっ
た。
【0007】例えば、特開平3−65530号公報に
は、ガラス表面を10〜60゜の範囲に傾斜した状態
で、スピンコート法により塗布することが記載されてい
る。
【0008】また、特開平5−212340号公報に
は、スピンコート法による膜厚のバラツキ回避手段、お
よび飛散液が基板の裏面へ侵入することの回避に有利な
手段として、回転式成膜装置が開示されている。
【0009】さらに、本出願人による先の出願である特
開平9−234415号公報には、スピンコート法によ
ってゾルゲル薄膜を形成する方法として、塗布被膜域
(高速スピン回転)で被膜化した後に、レベリング域
(スピン回転停止)で、スピン回転を30rpm以下の
低速で塗布液をレベリングし、乾燥促進域(低速スピン
回転)において、50rpmの低速回転で、塗膜の乾燥
促進を行い、膜厚を均一化させることが開示されてい
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】前記特開平3−655
30号公報に記載のものは、基板のサイズが大サイズと
なった場合、膜厚の均一性の高い被膜を得るためには採
用し難いものでる。
【0011】また、特開平5−212340号公報に記
載のものは、基板ホルダの外周に吸引管を設ける必要が
ある等、装置が複雑であり、基板の形状が円形の場合に
は有効であるものの、矩形の基板の場合には必ずしも有
効であるとは言い難い。
【0012】さらに、本出願人による特開平9−234
415号公報に記載のものは、スピンコート法による成
膜装置の特徴についての記載はない。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点の
解決を図る、すなわち簡易な構成にして自動車等の窓ガ
ラス等の比較的大サイズのガラス基板に、ゾルゲル法な
どで知られる塗布液を均一に塗布することを目的とし
て、スピンコート法により基板上面に薄膜を形成する装
置において、上部側に開口部を有し、基板を水平姿勢で
収納可能な略円筒形状の本体容器部等からなる塗布容器
と、前記本体容器部内の基板支持体上に基板を載置し、
かつ基板の下面を吸着固定する吸着パッドを有する支持
手段と、前記基板を支持固定する支持手段を水平回転さ
せる回転手段と、上部より塗布液と雰囲気ガスを取り込
み、本体容器部内に載置した基板上面に塗布液を滴下さ
せる塗布液供給手段と、前記塗布容器内の周囲側面部
に、塗布容器内の雰囲気ガスを排出させる排気手段とか
らなり、該排気手段の排気ダクトの排気口は、排気の方
向が、塗布容器の外周の相対向する少なくとも2方向で
あり、基板のスピン回転により描く円の接線方向かつ回
転方向になるように設置し、乱気流の発生を抑制し、基
板上に均一な薄膜を形成させるようにしたスピンコート
法による薄膜の形成装置、あるいは、前記排気ダクトの
排気口の中心位置が、基板の支持面からの高さより0〜
250mm上方とした上述のスピンコート法による薄膜
の形成装置と、スピンコート法により基板上面に薄膜を
形成する方法において、略水平姿勢で回転する基板の上
面中心部付近に塗布液を滴下させるとともに、基板のス
ピン回転により描く円の接線方向かつ回転方向になるよ
うに設けた排気口から基板周辺の雰囲気ガスを吸引排気
し、基板の回転により発生する乱気流を抑制し、基板上
面に均一な薄膜を形成、かつ基板下面への塗布液の裏ま
わりによる付着を防止したスピンコート法による薄膜の
形成方法、あるいは、基板の形状が矩形であり、薄膜が
ゾルゲル膜である上述のスピンコート法による薄膜の形
成方法をそれぞれ提供する。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の成膜装置1は、図2示す
ように上部側に開口部を有し、該開口部よりガラス板等
の基板Gを水平姿勢で収納可能な略円筒形状の本体容器
部11、および、該本体容器部11の上部開口部に着脱
自在な蓋部15を載置した塗布容器10を備えている。
【0015】前記本体容器部11内には水平姿勢の基板
Gを基板支持体21上に載置し、かつ基板Gの下面を吸
着固定する吸着パッド23を有する支持手段20と、前
記基板Gを支持固定する支持手段20の中心部を回転軸
として水平に回転させる回転手段30と、前記蓋部15
の中心付近に塗布液と雰囲気ガスを取り込む為の開口孔
15aを設け、本体容器部11内に載置した基板G上面
に塗布液を滴下させる塗布液供給手段40を設ける。
【0016】前記塗布容器10は、本体容器部11と蓋
部15からなり、該本体容器部11は、断面が凹状で上
部側に開口部を有する略円筒形状であり、内側底部の中
心に円錐形状の傾斜部11aを設け、さらに内側底部周
囲部には基板から流れ落ちた塗布液を回収する液溜め溝
13を設け、液溜め溝13の底部には液溜め溝13から
塗布液を排出させる余剰液排出口12を設け、該余剰液
排出口12には開閉コックを設けた。
【0017】一方、蓋部15は、その中心に開口孔15
aを設け、該開口孔15aより塗布液供給手段により供
給される塗布液と、雰囲気ガスの取り込みを行う。
【0018】また、前記支持手段20は、前記本体容器
部11内で基板Gを水平姿勢で支持する基板支持体21
と、該基板支持体21の略中央部に設けた孔部22内に
吸着パッド23を設け、該吸着パッド23で基板支持体
21上の基板Gの下面を吸着して固定する。
【0019】さらに、前記回転手段30は、前記基板G
を支持する基板支持体21の下方に回転軸31を設け、
駆動モーター32の回転を駆動ベルト33によって前記
回転軸31に伝達し、支持手段20によって支持固定さ
れた基板Gを回転させるものである。
【0020】さらにまた、塗布液供給手段40は、図示
しないタンク内の塗布液を図示しない供給ポンプによっ
て供給配管44とバルブ45を経由して、前記蓋部15
の中心に設けた開口孔15aより塗布液を滴下させ、本
体容器部11内に載置した基板Gの上面側のほぼ中心付
近に塗布液を滴下させる。
【0021】該塗布液供給手段40は図1および図2に
示すように、塗布容器10の中心部に塗布液を供給する
ために、供給アーム旋回軸42を旋回中心として旋回す
る供給アーム41を設け、該供給アーム41に供給配管
44とバルブ45を固定させて、基板Gの搬出入に伴う
蓋部15の開閉時に、供給アーム41等を旋回自在とさ
せて、邪魔にならないようにした。
【0022】さらに、前記塗布容器10内の周囲側面部
に、図1に示すように塗布容器10内の雰囲気ガスを排
出させる排気手段50を設け、前記排気手段50は、前
記塗布容器10の内側周囲側面部に塗布容器10内の雰
囲気ガスを排出させる排気口51を相対向する少なくと
も2箇所、図1の実施例では4カ所に設ける。塗布容器
10内の雰囲気ガスを排出させる排気口51、51、・
・の排気方向は、基板Gのスピン回転により描く円の接
線方向、かつ基板Gの回転する進行方向側に向けて設置
したことにより、基板Gの回転による塗布容器10内の
気流の乱れを抑制し、基板G上の塗布液の伸展時や被膜
風乾時に気流の乱れなどの悪影響を与えず、均一な厚み
の薄膜を形成させるようにした。
【0023】また、排気口51、51、・・からの排気
は排気ダクト52、52、・・を経由して図示しない排
気ファンにより塗布容器10外に排出される。
【0024】また好ましくは、前記排気手段50の排気
口51、51、・・の高さ位置は、基板の支持面の高さ
位置より相対的に0〜250mm上方位置に設け、基板
Gの回転により発生する乱気流を抑制し、かつ図3に示
すように、基板Gの下面への塗布液の付着欠陥である裏
まわり8を防止した。
【0025】続いて、本発明の装置の使用方法、作用に
ついて説明する。
【0026】まず、塗布容器10の蓋部15を取り外し
た状態で、本体容器部11内の基板支持体21上に基板
Gを載置し、吸着パッド23にて吸着させて支持固定さ
せる。続いて蓋部15を本体容器部11上に載置させ
て、塗布液供給手段40の供給アーム41の先端を前記
蓋部15の中央付近に設けた開口孔15aに合わせる。
【0027】回転手段30により基板Gを回転させ、塗
布液を前記開口孔15aより供給し、基板Gのほぼ中央
部付近に滴下させると、基板G上の塗布液は遠心力によ
って外側方向に広がりながら成膜され、基板の端部位置
にて余剰の塗布液は落下し、円錐状の傾斜部を通って液
溜め溝13内に溜まっていく。
【0028】また、蓋部15の中央に設けた開口孔15
aから、塗布液と共に取り込まれた雰囲気ガスは、基板
Gの回転により基板Gと蓋部15間において乱気流とな
るが、前記塗布容器10の内側周囲側面部に相対向する
少なくとも2箇所、図1の場合は、4カ所に排気口5
1、51、・・を設け、さらに、該排気口51、51、
・・の排気方向を、基板Gのスピン回転により描く円の
接線方向、かつ基板Gの回転する進行方向側に設置し、
排気口51、51、・・から、雰囲気ガスを吸引排気す
ることにより、基板Gの回転による塗布容器10内の気
流の乱れが抑制され、基板G上で流れ広がる塗布液の伸
展時や被膜風乾時に気流の乱れなどの悪影響を与えず、
有効塗膜比97%以上の均一な厚みの薄膜が形成され
る。
【0029】また、本体容器部11内の排気口51、5
1、・・の高さと成膜用基板Gを支持する基板支持体2
1の上部面との距離aは0〜250mm程度が好まし
い。250mmを越えると、一例として300〜400
mmでも本発明による効果は発揮できるが、成膜基板G
の塗布容器10内への取付、取外しが手作業で行われる
場合において操作性が大幅に低下するという問題が発生
する。
【0030】本発明の成膜装置1の塗布容器10の内壁
と基板Gの回転外周の距離b(図2参照)は、特に限定
されるものではないが、50mm以上500mm以下で
あることが好ましい。50mm以下等の側壁に接近した
距離の場合、塗布容器10の内壁からの塗布液の跳ね返
りが成膜面に付着することがあり好ましくない。また、
距離が離れすぎた場合、つまり基板Gが小さすぎるよう
な場合には、全体の吸排気容量にも関係するが、概して
吸排気による効果は低減する。
【0031】このように、排気手段50の排気口51と
基板Gを支持する基板支持体21との相対的な高さ位
置、および排気口51の排気方向を調整し、基板Gを回
転させたときに発生する乱気流を抑止し、基板Gの片面
に有効面積97%以上の均一な薄膜を容易に成膜するこ
とができ、また、下面への塗布液の裏まわりを防ぐこと
ができる。
【0032】本発明は、アルコキシドからなるゾル液を
スピンコート法により塗布する湿式成膜法において、こ
とに大サイズの矩形基板Gにおける片面成膜に有効な成
膜装置であり、例えば膜厚が200nm程度以下の撥水
ガラスの下地層、低反射ガラスの酸化物薄膜、光触媒
膜、紫外線遮蔽膜、保護膜などの各種機能性薄膜の形成
に有効である。なお、基板の形状は矩形に限定されるも
のではなく、円形や楕円形においても膜厚の均一性や塗
布液の裏まわり防止などの効果が得られることは言うま
でもない。
【0033】雰囲気ガスとしては、クリーンな空気をは
じめとしてArガス、CO2ガスでも良い。
【0034】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。ただし、本発明は係る実施例に限定されるものでは
ない。
【0035】尚、実施例および比較例における膜付きガ
ラスの評価方法については以下の通りである。
【0036】まず、目視外観検査としては、白色蛍光灯
下で成膜面の反射像(干渉色の変化)の目視検査と、非
成膜面(下面)への塗布液の裏まわりの目視検査であ
る。また、膜厚測定については、DEKTAK3030
(Sloan社製)を用いてガラス面内膜厚を測定し
た。 [実施例1]図1、図2に示すように、排気手段50と
して、排気口51を4カ所設け、該排気口51、51、
・・から吸引し、排気ダクト52、52、・・通じて排
気し、また各排気口51の位置が基板支持体21の上面
から、約150mm上方となるよう設置して成膜した。
【0037】基板Gは、大きさ約1880mm×900
mmの大サイズの矩形で、厚さ3.5mmのグリーン系
色調フロートガラスを用い、三井金属工業製ミレーク
(商品名:A+B):水=1:100(wt%)なる懸
濁液とブラシポリッシャーで研磨後、十分水洗した。
【0038】塗布液は次のものを用いた。すなわち、テ
トラエトキシシラン〔Si(OC254:TEOS〕
の重合ゾルとアセチルアセトンで安定化したテトラブト
キシチタン〔Ti(O−Bu)4〕との混合ゾルを、イ
ソプロピルアルコール(IPA)、n−ブタノール、エ
タノールのアルコール溶媒を加え、固形分濃度として酸
化物換算で約5Wt%になるまで希釈したものをゾルA
とした[例えば、東芝シリコーン(株)製、CG19T
i−1]。
【0039】また、メチルトリメトキシシラン〔CH3
Si(OCH33:MTMS〕の重合ゾルにイソプロピ
ルアルコール(IPA)を加え、固形分濃度として酸化
物換算で約20Wt%になるまで希釈したものをゾルB
とした[例えば、東芝シリコーン(株)製、MTS−
2]。
【0040】上記ゾルA20gとゾルB20g、n−ブ
タノール50gの計90gの混合ゾルを約3時間密栓攪
拌した後、イソプロピルアルコール324gとn−ブタ
ノール36gの混合系溶媒で希釈して塗布液を得た。
【0041】成膜は基板支持体21に被膜用ガラス基板
Gをセットし、スピン成膜条件としては、先ず、塗布被
膜域(高速スピン回転)において、スピン回転を開始
し、回転速度が150rpmで3秒後、上記塗布液を1
80ml程度滴下し、15秒回転速度を維持し被膜化し
た。
【0042】続いてレベリング域(スピン回転停止)に
おいて、被膜化した塗布液が渇きはじめて流動性を失う
前に、スピン回転を30rpm以下の低速で30秒間回
転させて塗布液をレベリングせしめ、乾燥促進域(低速
スピン回転)において、再度スピン回転を始め、50r
pmの低速回転で60秒間維持し、塗膜の乾燥促進を行
い、成膜性の良好なゲル膜を得た。ここで、塗布時の条
件は、雰囲気温度、湿度:25℃、55〜58%RH、
塗布液の温度:25℃(雰囲気温度と同じ)とした。
【0043】次に、該ゲル膜付きガラス基板Gを約25
0℃で約30分間焼成を行った。なお、膜厚の測定は、
さらに620〜660℃の加熱処理後に行った。図3
に、得られた薄膜の外観の典型例と膜厚の測定点の位置
(×印)を示す。
【0044】図3において、符号Gはガラス基板、符号
5はフリンジ部(光の干渉などによる縞模様部分)であ
り成膜不良を示し、符号6は回転中心部、符号7は膜厚
の測定点(9カ所)、符号8は非成膜面への塗布液の付
着(裏まわり)、符号9は膜ムラを示す。
【0045】ここで、有効塗膜比をガラス基板面積に占
める良好な成膜部分の面積比とした。
【0046】得られた薄膜の外観を図4(イ)に、膜厚
分布を図4(ロ)に示す。
【0047】この結果から明らかなように、フリンジ部
分5が極めて小さく、有効塗膜比は97.0%で、膜ム
ラや白濁などの欠陥もなかった。また、非成膜面(裏
面)への塗布液の付着欠陥である裏まわりも認められな
かった。さらに、膜厚測定点9点での膜厚分布も92±
3nm(±3.3%)であり、ディッピング法に匹敵す
る優れた膜厚の均一性が得られた。 [実施例2]対角の2方に排気口51、51を設けた排
気ダクト52、52から吸引排気し、各排気ダクト52
の開口部である排気口51の位置が基板支持体21の上
面から150mm上方となるように設置し、それ以外の
条件はすべて実施例1と同じとして成膜した。
【0048】得られた薄膜の外観を図5(イ)に、膜厚
分布を図5(ロ)に示す。
【0049】この結果から明らかなように、フリンジ部
分5が少なく、有効塗膜比は97.3%であり、膜ムラ
や白濁などの欠陥もなかった。
【0050】また、非成膜面(裏面)への塗布液の付着
欠陥である裏まわり8も認められなかった。膜厚測定点
9点での膜厚分布は91±3nm(±3.3%)であ
り、ディッピング法で得られる成膜性に匹敵するもので
あった。 [実施例3]4方に排気口51、51、・・を設けた排
気ダクト52、52、・・から吸引排気し、各排気ダク
ト52の開口部である排気口51の位置が基板支持体2
1の表面から約250mm上方となるように設置し、塗
布液をより薄い被膜用のものに変更して成膜した。
【0051】塗布液は、チッソ(株)製CSG−DI−
0600(シリカ溶質濃度6Wt%)をエキネンF1
(2−プロパノール/エタノール=10/90混合溶
媒)で4Wt%に希釈して用いた。なお、塗布時の雰囲
気温湿度は24℃、50%RHとした(塗布液温度は雰
囲気と同じ)。その他の条件は実施例1と同じにした。
【0052】得られた薄膜の外観を図6(イ)に、膜厚
分布を図6(ロ)に示す。
【0053】この結果から明らかなように、有効塗膜比
が97.0%であり、膜ムラなどの欠陥もなかった。ま
た、非成膜面(裏面)への塗布液の裏まわりも認められ
なかった。さらに、膜厚測定点9点での膜厚分布も32
±2nm(±1.5%)と良好であった。 [比較例1]スピン回転方向を排気ダクト52の開口部
である排気口51による吸引排気の方向と逆方向に回転
させ、その他の条件は実施例1と同じとして成膜した。
【0054】得られた薄膜の外観を図7(イ)に、膜厚
分布を図7(ロ)に示す。
【0055】この結果から明らかなように、フリンジ部
分5が非常に大きくなり、有効塗膜比は58.0%と小
さくなった。また、膜厚測定点9点での膜厚は中心部の
85nmから最大125nm程度と均一性は大きく低下
した。また、非成膜面への塗布液の付着である裏まわり
8も周囲、特に四隅に多く認められ、実用に供する品質
レベルのものではなかった。 [比較例2]図示しない排気ファンを停止し、排気ダク
ト52の開口部である排気口51から吸引排気せず、そ
の他の条件は実施例1と同じとして成膜した。
【0056】得られた薄膜の外観を図8(イ)、膜厚分
布を図8(ロ)に示す。
【0057】この結果から明らかなように、フリンジ部
分5が大きくなり、かつ膜ムラ9が成膜面全体に認めら
れ、有効塗膜比は実質上ほぼゼロであった。膜厚測定点
9点での膜厚分布は中心部の95nmから最大125n
m程度と均一性は低下し、実用に供する品質レベルのも
のではなかった。[比較例3]排気ダクト52の開口部
である排気口51の位置が支持体表面から50mm下方
となるように設置し、その他の条件は実施例1と同じと
して成膜した。
【0058】得られた薄膜の外観を図9(イ)、膜厚分
布を図9(ロ)に示す。
【0059】この結果から明らかなように、有効塗膜比
は97.0%と大きかったものの、非成膜面(裏面)へ
の塗布液の付着欠陥である裏まわり8が非常にひどく、
実用に供する品質レベルではなかった。
【0060】以上に説明した実施例1〜3、および比較
例1〜3について、まとめたものを表1に示す。
【0061】
【表1】 この結果、実施例1〜3で説明したものは、いずれも成
膜部分の状態が良好であり、非成膜面(裏面)への塗布
液の付着(裏まわり)を防止でき、測定点9点における
膜厚分布も均一であり、有効塗膜面積が97%以上の薄
膜を形成できることがわかる。
【0062】
【発明の効果】本発明は、スピンコート法によって、塗
布液を車両の窓ガラスのような特に大サイズな基板の片
面のみに塗布する場合において、成膜装置により基板を
回転させたときに発生する乱気流を抑止し、基板の片面
に均一な膜厚の薄膜を形成でき、膜ムラや白濁もなく、
フリンジ部分も極めて少なく、また、非成膜面(裏面)
への塗布液の付着(裏まわり)を防止でき、有効塗膜面
積が97%以上の均一薄膜を容易に形成することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の成膜装置の平面図。
【図2】本発明の成膜装置の側面図。
【図3】成膜後の薄膜の外観の典型例と膜厚の測定位置
を示す図。
【図4】(イ)、(ロ)はそれぞれ実施例1で得られた
薄膜の外観図と薄膜の膜厚分布図。
【図5】(イ)、(ロ)はそれぞれ実施例2で得られた
薄膜の外観図と薄膜の膜厚分布図。
【図6】(イ)、(ロ)はそれぞれ実施例3で得られた
薄膜の外観図と薄膜の膜厚分布図。
【図7】(イ)、(ロ)はそれぞれ比較例1で得られた
薄膜の外観図と薄膜の膜厚分布図。
【図8】(イ)、(ロ)はそれぞれ比較例2で得られた
薄膜の外観図と薄膜の膜厚分布図。
【図9】(イ)、(ロ)はそれぞれ比較例3で得られた
薄膜の外観図と薄膜の膜厚分布図。
【符号の説明】
G 基板 1 成膜装置 2 架台 5 フリンジ部 6 回転中心部 7 膜厚測定点 8 裏まわり 9 膜ムラ 10 塗布容器 11 本体部 11a 傾斜部 12 余剰液排出口 13 液溜め溝 15 蓋部 15a 開口孔 20 支持手段 21 基板支持体 22 孔部 23 吸着パッド 30 回転手段 31 回転軸 32 駆動モーター 33 駆動ベルト 40 塗布液供給手段 41 供給アーム 42 供給アーム回転軸 44 供給配管 45 バルブ 50 排気手段 51 排気口 52 排気ダクト 53 排気ファン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坪内 一男 三重県松阪市大口町1510番地 セントラル 硝子株式会社生産技術研究所内 Fターム(参考) 2H025 AA18 BJ00 DA19 EA05 4D075 AC64 DA08 DB13 DC22 4F042 AA07 EB24 EB28 4G059 AA01 AC03 AC22 EA04 EA05 EB07 5F046 JA08

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】スピンコート法により基板上面に薄膜を形
    成する装置において、上部側に開口部を有し、基板を水
    平姿勢で収納可能な略円筒形状の本体容器部等からなる
    塗布容器と、前記本体容器部内の基板支持体上に基板を
    載置し、かつ基板の下面を吸着固定する吸着パッドを有
    する支持手段と、前記基板を支持固定する支持手段を水
    平回転させる回転手段と、上部より塗布液と雰囲気ガス
    を取り込み、本体容器部内に載置した基板上面に塗布液
    を滴下させる塗布液供給手段と、前記塗布容器内の周囲
    側面部に、塗布容器内の雰囲気ガスを排出させる排気手
    段とからなり、 該排気手段の排気ダクトの排気口は、排気の方向が、塗
    布容器の外周の相対向する少なくとも2方向であり、基
    板のスピン回転により描く円の接線方向かつ回転方向に
    なるように設置し、乱気流の発生を抑制し、基板上に均
    一な薄膜を形成させるようにしたことを特徴とするスピ
    ンコート法による薄膜の形成装置。
  2. 【請求項2】前記排気ダクトの排気口の中心位置が、基
    板の支持面からの高さより0〜250mm上方としたこ
    とを特徴とする請求項1記載のスピンコート法による薄
    膜の形成装置。
  3. 【請求項3】スピンコート法により基板上面に薄膜を形
    成する方法において、略水平姿勢で回転する基板の上面
    中心部付近に塗布液を滴下させるとともに、基板のスピ
    ン回転により描く円の接線方向かつ回転方向になるよう
    に設けた排気口から基板周辺の雰囲気ガスを吸引排気
    し、基板の回転により発生する乱気流を抑制し、基板上
    面に均一な薄膜を形成、かつ基板下面への塗布液の裏ま
    わりによる付着を防止することを特徴とするスピンコー
    ト法による薄膜の形成方法。
  4. 【請求項4】基板の形状が矩形であり、薄膜がゾルゲル
    膜であることを特徴とする請求項3記載のスピンコート
    法による薄膜の形成方法。
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