JP2000228502A - Cob構造のdram及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
下の領域にもスタック電極を形成することにより、周辺
回路部との段差を大きくすることなく、キャパシタ容量
を増加することができると共に、キャパシタ形成に必要
なフォトリソグラフィ工程を低減することができるDR
AM及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 ワード線2を窒化膜で保護し、層間絶縁
膜5で覆い、層間絶縁膜5にビット線コンタクトとキャ
パシタコンタクトの各ホールを同時に形成する。そし
て、ポリシリコンを埋め込み、ビット線コンタクトとキ
ャパシタコンタクト6を同時に形成すると共に、ビット
線7aをパターニングし、更にビット線の側面に窒化膜
からなる側壁絶縁膜9を形成する。そして、層間絶縁膜
5上に絶縁膜10を形成し、ビット線上とワード線間に
絶縁膜及び層間絶縁膜が残存するように層間絶縁膜及び
絶縁膜をエッチングし、その後ポリシリコンからなる導
体層12を形成する。
Description
・オーバー・ビットライン)構造を有するDRAM(ダ
イナミック・ランダム・アクセス・メモリ)及びその製
造方法に関する。
MISFETの上部に配置するスタック・キャパシタ構
造のDRAMの中で、前記容量素子をビット線の上方に
配置するキャパシタ・オーバー・ビットライン(CO
B)構造のDRAMが、蓄積電極の下地段差がビット線
により平坦化されると共に、ビット線が容量素子でシー
ルドされるので、高い信号対雑音比(S/N比)が得ら
れるという利点があるため、注目されている(特開平9
−64303号公報、特開平9−97902号公報、特
開平10−93034号公報、特開平10−25650
5号公報)。
おけるスタック電極(蓄積電極)形成後の素子構造の一
例を示す断面図である。図10(a)は直交する2線
(図9のI−I線及びII−II線参照)に沿った断面
図である。
容量を大きくするために、スタック電極の表面積を大き
くすることが重要な要素の一つとなっている。この目的
のために、通常、COB構造のDRAMでは、ビット線
上の層間絶縁膜10を形成した後、この層間絶縁膜10
にキャパシタコンタクト6を開口し、層間絶縁膜10上
にスタックとなる導体層12を形成しており、表面積を
大きくするためにスタック電極の高さを高くしたり、表
面を粗面化するという方法が採用されてきた。
法では、スタック電極の高さがメモリセル部と周辺回路
部との段差に直接影響するため、スタック電極を高くす
るほど周辺回路部との段差が大きくなったり、後の工程
で形成される周辺回路部でのコンタクトのアスペクト比
が高くなるという欠点が生じる。また、絶縁膜10上に
スタック電極を形成する構造上、絶縁膜10にキャパシ
タコンタクトとなる開口部を設ける必要があり、キャパ
シタ形成のために、キャパシタコンタクト形成、スタッ
ク形成、及びプレート電極形成の少なくとも3回のフォ
トリソグラフィー工程を必要とする。
のであって、COB構造のDRAMにおいて、ビット線
以下の領域にもスタック電極を形成することにより、周
辺回路部との段差を大きくすることなく、キャパシタ容
量を増加することができると共に、ビットコンタクトと
キャパシタコンタクトとを同時に形成しておき、前記キ
ャパシタコンタクトとスタック電極とを自己整合的に接
続することにより、キャパシタ形成に必要なフォトリソ
グラフィ工程を低減することができるCOB構造のDR
AM及びその製造方法を提供することを目的とする。
のDRAMは、拡散層が形成された半導体基板と、この
半導体基板上に形成されたワード線と、このワード線上
に形成された層間絶縁膜と、この層間絶縁膜に形成され
前記拡散層に接続されるキャパシタコンタクトと、前記
層間絶縁膜上に形成されたビット線と、このビット線の
側面に形成された側壁絶縁膜と、前記ビット線の直上域
の部分に選択的に形成された絶縁膜の側面を利用して前
記キャパシタコンタクトと接触するように形成されたス
タック電極と、このスタック電極の表面に形成された容
量絶縁膜と、この容量絶縁膜上に形成されたプレート電
極と、を有することを特徴とする。
側壁絶縁膜は窒化膜であることが好ましい。また、前記
スタック電極は前記層間絶縁膜を挿通して前記半導体基
板まで達するように形成することができ、更に、前記キ
ャパシタコンタクトの上面は前記ビット線より高い位置
にあるように構成することができる。
方法は、拡散層が形成された半導体基板上にワード線を
形成した後更に層間絶縁膜を形成する工程と、前記層間
絶縁膜にキャパシタコンタクトホール及びビットコンタ
クトホールを同時に形成する工程と、前記キャパシタコ
ンタクトホール及びビットコンタクトホールを埋め込む
ようにして導体層を全面に形成する工程と、前記層間絶
縁膜上の前記導体層をパターニングしてビット線を形成
すると共にキャパシタコンタクト及びビットコンタクト
を形成する工程と、前記ビット線の側面に側壁絶縁膜を
形成する工程と、全面に絶縁膜を形成する工程と、前記
絶縁膜上における前記ビット線の直上域の部分上にレジ
スト膜を形成しこのレジスト膜をマスクとし前記側壁絶
縁膜をエッチングストッパとして前記絶縁膜をエッチン
グすることによりスタック溝を形成する工程と、前記ス
タック溝内に導電層を形成して前記キャパシタコンタク
トに接触するスタック電極を形成する工程と、前記スタ
ック電極の表面上に容量絶縁膜を形成する工程と、前記
容量絶縁膜の表面上にプレート電極を形成する工程と、
を有することを特徴とする。
いて、前記スタック溝の形成工程は、前記キャパシタコ
ンタクトが露出した後停止するものであるか、又は前記
スタック溝の形成工程は、前記絶縁膜に加えて前記層間
絶縁膜もエッチングするものであり、前記スタック電極
の形成工程は、前記層間絶縁膜に形成したホールを前記
導電層で埋め込むことにより前記半導体基板に到達する
スタック電極を形成するものであるように構成すること
ができる。
製造方法は、拡散層が形成された半導体基板上にワード
線を形成した後更に層間絶縁膜を形成する工程と、前記
層間絶縁膜にビットコンタクトホールを形成する工程
と、前記ビットコンタクトホールを埋め込むようにして
導体層を全面に形成する工程と、前記層間絶縁膜上の前
記導体層をパターニングしてビットコンタクト及びビッ
ト線を形成する工程と、前記ビット線の側面に側壁絶縁
膜を形成する工程と、全面に絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜及び前記層間絶縁膜を選択的に除去してキャ
パシタコンタクトホールを形成する工程と、前記キャパ
シタコンタクトホールを埋め込むようにして全面に導体
層を形成してキャパシタコンタクトを形成する工程と、
前記絶縁膜上における前記ビット線の直上域の部分上に
レジスト膜を形成しこのレジスト膜をマスクとし前記側
壁絶縁膜をエッチングストッパとして前記絶縁膜をエッ
チングすることによりスタック溝を形成する工程と、前
記スタック溝内に導電層を形成して前記キャパシタコン
タクトに接触するスタック電極を形成する工程と、前記
スタック電極の表面上に容量絶縁膜を形成する工程と、
前記容量絶縁膜の表面上にプレート電極を形成する工程
と、を有することを特徴とする。
において、前記側壁絶縁膜は窒化膜であることが好まし
い。
ットライン(COB)構造を有するDRAMを周辺回路
との段差を小さくして形成することができる。そして、
本発明においては、ビットコンタクトとキャパシタコン
タクトを同時に形成しておき、更に少なくともビット線
の側面を窒化膜等の絶縁膜で覆った後、自己整合的に蓄
積電極(スタック)とキャパシタコンタクトを接続する
ことにより、工程を短縮することができると共に、容量
を増加させることができる。
添付の図面を参照して具体的に説明する。図1乃至6は
本発明の実施例に係るCOB構造のDRAMの製造方法
を工程順に示す断面図であり、図6はスタック形成後の
工程を示す図である。また、図9はその平面図である。
図1乃至6は夫々図9のI−I線及びII−II線に沿
う断面図である。
シリコン基板20上にLOCOS法により素子分離酸化
膜1を選択的に形成した後、基板上に薄い絶縁膜を形成
し、この絶縁膜上にワード線2を通常の方法で形成す
る。そして、このワード線2をマスクとして基板表面に
イオン注入することにより、拡散層3を形成する。その
後、このワード線2を含む基板全体を覆うようにして、
窒化膜等の絶縁膜4を成長させた後、全体にBPSG
(ボロン及びリンを含むシリカガラス)等により層間絶
縁膜5を形成する。
に、層間絶縁膜5におけるビットコンタクト14(図9
参照、図2では図示されない)及びキャパシタコンタク
ト6の形成予定領域にホールを同時に開口した後、ポリ
シリコン等の導体層7を前記ホールを埋め込むようにし
て成長させ、ビットコンタクト14及びキャパシタコン
タクト6を形成する。更に、導体層7の上に、窒化膜等
の絶縁膜8を成長させる。
に、導体層7上にビット線パターンのレジスト膜を形成
し、このレジスト膜をマスクとして導体層7及び絶縁膜
8をエッチングすることにより、導体層7をパターニン
グしてビット線7aを形成する。このとき、キャパシタ
コンタクト6内に導体層7が残るように、各エッチング
条件を調節する。その後、ビット線7aの側壁に、窒化
膜等の絶縁膜によるサイドウォール9を形成する。これ
により、ビット線7aはその周囲が窒化膜等のサイドウ
ォール9及び絶縁膜8により保護される。
に、BPSG等の酸化膜10を全面に厚く形成する。
に、酸化膜10上におけるビット線7aの直上及びワー
ド線2間の直上にレジスト膜を形成し、このレジスト膜
をマスクとして酸化膜10及び層間絶縁膜5をエッチン
グする。このエッチング工程においては、絶縁膜4,
8,9をエッチングストッパとして、絶縁膜4の表面が
露出するように酸化膜10及び層間絶縁膜5をエッチン
グし、スタック溝11を自己整合的に形成する。
に、ポリシリコン等の導体層12を全面に成長させ、酸
化膜10上の導体層12を選択的に除去することによ
り、スタック電極15が形成される。
容量絶縁膜及びプレート電極(いずれも図示せず)をス
タック電極15の表面上に順次形成することにより、キ
ャパシタが形成される。
は、ワード線2上の絶縁膜4上までスタック溝11を形
成することにより、Si基板からのスタックの高さを高
くすることなく、キャパシタ容量を増加することができ
る。また、ビットコンタクト14とキャパシタコンタク
ト6を同時に形成しておき、スタック溝11を自己整合
的に形成することで、キャパシタ形成に必要なフォトリ
ソグラフィー工程を削減できる。
に係るDRAMのスタック電極形成後の素子構造を示す
断面図である。断面の位置は図1乃至6の場合と同一で
あり、(a)及び(b)は夫々図9のI−I線及びII
−II線に沿う断面図である。
をその深さがキャパシタコンタクト6の上面が露出する
程度に形成したものである。この程度にエッチングした
後、ポリシリコン等の導体層12を全面に成長させる
と、この導体層12はキャパシタコンタクト6と接触
し、酸化膜10上の導体層12を選択的に除去すること
により、スタック溝11の内面を覆うと共に、キャパシ
タコンタクト6と電気的に接続されたスタック電極15
が形成される。
覆う絶縁膜4よりも高い位置に存在する場合、ワード線
2を覆う絶縁膜4は窒化膜ではなく酸化膜などでも良
い。この効果として、水素アロイ時の水素が通りにくい
とされる窒化膜を使用する回数を減らすことが可能とな
る。
に係るDRAMのスタック電極形成後の素子構造を示す
断面図である。断面の位置は図1乃至6の場合と同一で
あり、(a)及び(b)は夫々図9のI−I線及びII
−II線に沿う断面図である。
タクトを形成する工程が、ビットコンタクトを形成する
工程と同一工程ではない。即ち、図4に示す絶縁膜10
を形成した後に、この絶縁膜10及び層間絶縁膜5を選
択的にエッチングすることにより、キャパシタコンタク
ト6用のホールを開口し、絶縁膜10及び層間絶縁膜5
に形成したホールにポリシリコン等の導体層を埋め込む
ようにして、極めて高いキャパシタコンタクト6を形成
したものである。
膜10及び層間絶縁膜5を選択的にエッチングすること
により、スタック溝11を形成し、このスタック溝11
にポリシリコン等の導体層12を全面に形成し、絶縁膜
10上の導体層12を選択的に除去することにより、ス
タック電極15が形成される。
コンタクト6内の導体層の高さが高くなる分、その側壁
面積が増加し、容量が増加するという利点がある。その
他、上記実施例と併せて、スタック表面をHSGなどに
より粗面処理しても良い。これによりスタック表面積が
さらに増加し、容量が増加するという利点が生じる。
形成する導体層は単層としているが、これらは積層膜で
あってもよく、絶縁膜及び導体層の種類も上記実施例に
限定されるものではない。
COB構造を有するDRAMを、少なくともビット線の
側面を窒化膜等の側壁絶縁膜で被覆し、自己整合的にス
タック電極を形成し、キャパシタコンタクトと接続する
ものであるから、周辺回路との段差が小さく、容量を増
大することができる。また、キャパシタコンタクトをビ
ットコンタクトと同時に形成することにより、工程数を
削減することができる。
の一工程を示す断面図である。
図である。
図である。
置を示す平面図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 拡散層が形成された半導体基板と、この
半導体基板上に形成されたワード線と、このワード線上
に形成された層間絶縁膜と、この層間絶縁膜に形成され
前記拡散層に接続されるキャパシタコンタクトと、前記
層間絶縁膜上に形成されたビット線と、このビット線の
側面に形成された側壁絶縁膜と、前記ビット線の直上域
の部分に選択的に形成された絶縁膜の側面を利用して前
記キャパシタコンタクトと接触するように形成されたス
タック電極と、このスタック電極の表面に形成された容
量絶縁膜と、この容量絶縁膜上に形成されたプレート電
極と、を有することを特徴とするCOB構造のDRA
M。 - 【請求項2】 前記側壁絶縁膜は窒化膜であることを特
徴とする請求項1に記載のCOB構造のDRAM。 - 【請求項3】 前記スタック電極は前記層間絶縁膜を挿
通して前記半導体基板まで達するように形成されている
ことを特徴とする請求項1又は2に記載のCOB構造の
DRAM。 - 【請求項4】 前記キャパシタコンタクトの上面は前記
ビット線より高い位置にあることを特徴とする請求項1
乃至3のいずれか1項に記載のCOB構造のDRAM。 - 【請求項5】 拡散層が形成された半導体基板上にワー
ド線を形成した後更に層間絶縁膜を形成する工程と、前
記層間絶縁膜にキャパシタコンタクトホール及びビット
コンタクトホールを同時に形成する工程と、前記キャパ
シタコンタクトホール及びビットコンタクトホールを埋
め込むようにして導体層を全面に形成する工程と、前記
層間絶縁膜上の前記導体層をパターニングしてビット線
を形成すると共にキャパシタコンタクト及びビットコン
タクトを形成する工程と、前記ビット線の側面に側壁絶
縁膜を形成する工程と、全面に絶縁膜を形成する工程
と、前記絶縁膜上における前記ビット線の直上域の部分
上にレジスト膜を形成しこのレジスト膜をマスクとし前
記側壁絶縁膜をエッチングストッパとして前記絶縁膜を
エッチングすることによりスタック溝を形成する工程
と、前記スタック溝内に導電層を形成して前記キャパシ
タコンタクトに接触するスタック電極を形成する工程
と、前記スタック電極の表面上に容量絶縁膜を形成する
工程と、前記容量絶縁膜の表面上にプレート電極を形成
する工程と、を有することを特徴とするCOB構造のD
RAMの製造方法。 - 【請求項6】 前記スタック溝の形成工程は、前記キャ
パシタコンタクトが露出した後停止するものであること
を特徴とする請求項5に記載のCOB構造のDRAMの
製造方法。 - 【請求項7】 前記スタック溝の形成工程は、前記絶縁
膜に加えて前記層間絶縁膜もエッチングするものであ
り、前記スタック電極の形成工程は、前記層間絶縁膜に
形成したホールを前記導電層で埋め込むことにより前記
半導体基板に到達するスタック電極を形成するものであ
ることを特徴とする請求項5に記載のCOB構造のDR
AMの製造方法。 - 【請求項8】 拡散層が形成された半導体基板上にワー
ド線を形成した後更に層間絶縁膜を形成する工程と、前
記層間絶縁膜にビットコンタクトホールを形成する工程
と、前記ビットコンタクトホールを埋め込むようにして
導体層を全面に形成する工程と、前記層間絶縁膜上の前
記導体層をパターニングしてビットコンタクト及びビッ
ト線を形成する工程と、前記ビット線の側面に側壁絶縁
膜を形成する工程と、全面に絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜及び前記層間絶縁膜を選択的に除去してキャ
パシタコンタクトホールを形成する工程と、前記キャパ
シタコンタクトホールを埋め込むようにして全面に導体
層を形成してキャパシタコンタクトを形成する工程と、
前記絶縁膜上における前記ビット線の直上域の部分上に
レジスト膜を形成しこのレジスト膜をマスクとし前記側
壁絶縁膜をエッチングストッパとして前記絶縁膜をエッ
チングすることによりスタック溝を形成する工程と、前
記スタック溝内に導電層を形成して前記キャパシタコン
タクトに接触するスタック電極を形成する工程と、前記
スタック電極の表面上に容量絶縁膜を形成する工程と、
前記容量絶縁膜の表面上にプレート電極を形成する工程
と、を有することを特徴とするCOB構造のDRAMの
製造方法。 - 【請求項9】 前記側壁絶縁膜は窒化膜であることを特
徴とする請求項5乃至8のいずれか1項に記載のCOB
構造のDRAMの製造方法。
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Cited By (3)
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- 2000-02-02 TW TW089102036A patent/TW442964B/zh not_active IP Right Cessation
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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