JP2000228487A - チップオンチップの半導体チップ - Google Patents
チップオンチップの半導体チップInfo
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Abstract
を重ね合わせて接合するチップオンチップ構造を実用化
すること。 【解決手段】子チップ2の裏面24に裏マーク25を設
ける。裏マーク25は子チップ2の方向や、子チップ2
の表面に設けられた電極配置等を識別可能なマークとす
る。 【効果】親チップ1の表面11に対して、子チップ2を
フェースダウンで重ね合わせる際に、親チップ1に対し
て子チップ2のアライメントを、裏マーク25を基準に
して行うことができる。
Description
半導体チップを重ね合わせるように、複数の半導体チッ
プを2層の積層構造に接合した、いわゆるチップオンチ
ップ用の半導体チップに関する。
を目指すために、従来の2次元構造から3次元構造に向
かう提案がされている。ところが、連続した製造プロセ
スで3次元構造の半導体装置を形成しようとすると、歩
留りが悪く、困難なことが多い。
の表面と半導体チップの表面とを重ね合わせるように、
複数の半導体チップを2層の積層構造に接合する、いわ
ゆるチップオンチップ構造の半導体装置の実用化を研究
してきた。
半導体チップを重ね合わせて接合する場合、たとえば相
対的に大きな親チップの表面に相対的な小さな子チップ
を重ね合わせる場合、子チップの表面を上向きにして子
チップの裏面を親チップの表面に重ね合わせるのであれ
ば、両者のアライメントは容易に行うことができる。
面が対向するように、2つの半導体チップを重ね合わせ
ようとすると、両半導体チップのアライメントが困難で
あるという課題に遭遇する。なぜなら、半導体チップの
裏面からは半導体チップの方向や表面の電極配置等を確
認できないからである。特に、親チップの大きさと子チ
ップの大きさとがほぼ等しいような場合には、両半導体
チップを接合する際のアライメントが難しい。
なされたもので、表面同士が対向するように複数の半導
体チップを重ね合わせて接合するチップオンチップ構造
を実用化することを主たる目的とする。この発明の他の
目的は、チップオンチップ構造を実用化することのでき
る、チップオンチップ用の半導体チップを提供すること
である。
1記載の発明は、表面同士が対向するように複数の半導
体チップを重ね合わせて接合するチップオンチップ用の
半導体チップであって、前記半導体チップの裏面に、当
該半導体チップの方向や電極の配置等を識別可能な裏マ
ークが設けられていることを特徴とするものである。
られているのが好ましい。また、前記裏マークは、当該
半導体チップを重ね合わせて接合しようとする半導体チ
ップの表面に設けられた表マークに対応付けられた位置
に設けられた合わせマークを含むことが好ましい。上記
のように、チップオンチップ用の半導体チップの裏面に
裏マークを設けると、チップオンチップ構造を作るとき
に、この裏マークに基づいて半導体チップ同士のアライ
メントを行うことができる。
ば、2箇所以上の裏マークに基づいて、重ね合わせる半
導体チップ同士のアライメント方向を正確に判定するこ
とができる。また一方の半導体チップに裏マークが設け
られ、他方の半導体チップに表マークが設けられている
場合、裏マークおよび表マークの位置関係を所定の位置
関係に調整することによって、接合しようとする半導体
チップ同士のアライメントがより容易に行える。かかる
構成は、接合しようとする2つの半導体チップの大きさ
が異なる場合に特に有効である。さらに、この構成で
は、チップオンチップ構造にされた後も、重ね合わされ
た半導体チップ同士が正しくアライメントされているか
どうかの確認を、表マークおよび裏マークの位置関係に
基づいて行うことができるという利点がある。
設けることによって、チップオンチップ構造を製造ライ
ン等で実現可能な半導体チップを提供できる。また、半
導体チップ同士の位置合せが容易であるから、チップオ
ンチップ構造への組立て時間が短くてすむという効果も
ある。この発明の他の態様では、前記複数の半導体チッ
プの1つは、表面が上向きに配置される親チップであ
り、前記複数の半導体チップの他の1つは、親チップの
表面に対して表面が対向するようにフェースダウンで接
合される子チップであり、前記裏マークは、子チップに
設けられていることを特徴とする、チップオンチップ用
の半導体チップである。
を重ね合わせて接合する際に、両チップのアライメント
が容易に行える。特に、位置決めされた親チップに対し
て子チップを重ね合わせる際のアライメントがしやす
い。この発明のさらに他の態様では、前記複数の半導体
チップの1つは、表面が上向きに配置される親チップで
あり、前記複数の半導体チップの他の1つは、親チップ
の表面に対して表面が対向するようにフェースダウンで
接合される子チップであり、前記裏マークは、親チップ
に設けられていることを特徴とする、チップオンチップ
用の半導体チップである。
おり、その子チップに対して親チップのアライメントが
容易に行える。あるいは、親チップの裏マークを基準に
して、子チップの位置を調整できる。この発明のさらに
他の態様では、前記複数の半導体チップの1つは、表面
が上向きに配置される親チップであり、前記複数の半導
体チップの他の1つは、親チップの表面に対して表面が
対向するようにフェースダウンで接合される子チップで
あり、前記裏マークは、親チップおよび子チップの両方
に設けられていることを特徴とするチップオンチップ用
の半導体チップである。
いずれかが位置決めされている場合に限らず、両者がロ
ボット等に保持された状態でアライメントする場合にも
便利である。この発明のさらに他の態様では、前記複数
の半導体チップの1つは、表面が上向きに配置される親
チップであり、前記複数の半導体チップの他の1つは、
親チップの表面に対して表面が対向するようにフェース
ダウンで接合される子チップであり、前記親チップの表
面に表マークが設けられ、前記子チップには、親チップ
の表マークと対応付けられた位置に裏マークが設けられ
ていることを特徴とするチップオンチップ用の半導体チ
ップである。
ライメントが容易であるとともに、接合されてチップオ
ンチップ構造になった後も、親チップと子チップとの位
置ずれが生じているか否かを確認できるという利点があ
る。この発明の他の態様では、前記親チップの裏面に
は、リードフレームが装着されており、該リードフレー
ムの所定の位置に、前記裏マークが設けられていること
を特徴とするチップオンチップ用の半導体チップであ
る。
着が容易であり、かつ、リードフレームの裏マークを、
親チップの裏マークと同様に活用して、チップオンチッ
プ構造を作ることができる。この発明の他の態様では、
表面が上向きに配置された第1の半導体チップと、第1
の半導体チップの表面に対して表面が対向するようにフ
ェースダウンで接合された第2の半導体チップとを有
し、第2の半導体チップの裏面には裏マークが設けられ
ていて、該裏マークを用いて第1の半導体チップと第2
の半導体チップとのアライメントが行われていることを
特徴とする、チップオンチップ型の半導体装置である。
られているのが好ましい。前記第1の半導体チップの表
面には、前記裏マークに対して所定の位置関係を有する
表マークが設けられており、裏マークおよび表マークの
位置関係を合わせることによって第1の半導体チップお
よび第2の半導体チップのアライメントが行われている
チップオンチップ型の半導体装置としてもよい。
と第2の半導体チップとが良好に位置合わせされて接合
されたチップオンチップ構造の半導体装置とすることが
できる。また、半導体チップ同士のアライメントが良好
か否かの確認をすることもできる。
プの表面を上向きに配置し、裏面に裏マークが設けられ
た第2の半導体チップの表面を第1の半導体チップの表
面と所定の対応で重ね合わせるように接合する際に、前
記第2の半導体チップの裏マークに基づいて、第1の半
導体チップと第2の半導体チップとのアライメントを行
うことを特徴とする、チップオンチップの実装方法であ
る。
けられた第1の半導体チップの表面を上向きに配置し、
第2の半導体チップの表面を第1の半導体チップの表面
と所定の態様で重ね合わせるように接合する際に、前記
第1の半導体チップの裏マークに基づいて、第1の半導
体チップと第2の半導体チップとのアライメントを行う
ことを特徴とするチップオンチップの実装方法である。
れていない第1の半導体チップの表面または第2の半導
体チップの表面に、第2の半導体チップまたは第1の半
導体チップに設けられた裏マークに対して所定の位置関
係を有する表マークが設けられており、前記アライメン
トは、裏マークおよび表マークの位置関係を所定の位置
関係に合わせることにより行うようにしてもよい。
造の半導体装置の実用的な実装方法を提供できる。言い
換えれば、製造ライン等で実際に活用することのできる
チップオンチップ構造の半導体製造のための実装方法を
提供することができる。これらの実装方法において、裏
マークは2つ以上設けられているのが実用上便利であ
る。
ンチップ構造において、第1および第2の半導体チップ
のアライメントが良好になされたか否かの確認をするこ
ともできる。以上のように、この発明の各構成によれ
ば、チップオンチップ構造の半導体装置を実現するため
の、チップオンチップ用の半導体チップ、実現された半
導体装置およびそのための実装方法を得ることができ
る。
発明のいくつかの実施形態について説明をする。図1
は、この発明の一実施形態にかかるチップオンチップ型
半導体装置の概略構成を示す図解的な縦断面図である。
この半導体装置には、親チップ1および子チップ2が含
まれている。親チップ1および子チップ2は、いずれ
も、シリコン、ガリウム砒素(GaAs)、ゲルマニウ
ム(Ge)等の半導体チップである。親チップ1および
子チップ2は、共に、同種類の半導体、たとえばシリコ
ンで形成されているのが好ましいが、それに限らず、親
チップ1をたとえばシリコン、子チップ2をたとえばG
aAsで構成した組合わせ、その他の組合わせであって
もよい。
の表面11と子チップ2の表面21とが対向するように
重ね合わされて接合されている。親チップ1の表面11
には活性領域12が形成されており、ここに集積回路等
が作られている。同様に、子チップ2の表面21には活
性領域22が形成されており、ここに集積回路等が作ら
れている。重ね合わされた親チップ1と子チップ2と
は、たとえばそれぞれの表面11,21に形成された電
極13,23同士が接合されている。
裏面、24は子チップ2の裏面を示している。図2は、
上記チップオンチップ型半導体装置の図解的な平面図で
ある。この実施形態の特徴は、子チップ2の裏面24に
裏マーク25が設けられていることである。裏マーク2
5は子チップ2の方向や、子チップ2の表面21に設け
られた電極23の配置等を識別可能なマークとされてい
る。それゆえ、たとえば親チップ1を表面11が上向き
になるように配置し、子チップ2の表面を下に向けたい
わゆるフェースダウンで、親チップ1に対して子チップ
2をアライメントする際に、この裏マーク25を基準に
して子チップ2の位置決めを行うことができる。より具
体的には、裏マーク25によって子チップ2の方向を識
別できるので、子チップ2が180°回転した状態で親
チップ1上に重ね合わされることがない。また、裏マー
ク25が子チップ2の表面21に設けられた電極23
(図1参照)のいずれかと特定の関係、たとえば裏マー
ク25の垂線上に所定の電極23が位置していれば、裏
マーク25を基準にして子チップ2の電極配置を識別す
ることもできる。
1の表面11(活性領域)には回路配置や電極等が識別
可能に設けられているから、親チップ1と子チップ2と
をアライメントする際には、親チップ1表面11の回路
配置や電極に対して子チップ2の裏面24の裏マーク2
5を位置決めするようにアライメントすればよい。この
ように、子チップ2の裏面24に裏マーク25を設けた
ので、この裏マーク25を基準にして、アライメントの
際の子チップ2の位置決めが容易に行える。
る裏マーク25のいくつかの例を示す図である。裏マー
ク25は、図2で説明したように1個だけでもよいが、
複数個設けられていてもよい。図3Aは、3つの裏マー
ク25が裏面24の三隅近傍にそれぞれ設けられた例で
ある。
「・」(点またはマル印)でもよいが、図3Bに示すよ
うな「L」(鉤形またはL形)や、「+」「−」その他
の形状であってもよい。裏マーク25は、また、図3C
に示すように、直線状であってもよく、子チップ2の辺
方向に延びる長手のマークであってもよい。
に、交差する直線状のマークであってもよい。さらに、
裏マーク25は、図2や図3で例示したもの以外の、た
とえば文字、記号、その他の任意の表示や印であっても
よい。子チップ2の裏面24は、一般に、鏡面状で、裏
面24側から見ると子チップ2の表面に形成された電極
の配置方向等が識別できない。そこで、上述のように裏
面24に、子チップ2の方向や電極の配置等を識別可能
な裏マーク25を設けた。
イブされる前のウェーハ状態で設けられる。裏マーク2
5は、たとえば、印刷により設けてもよいし、レーザ加
工により設けることもできる。あるいは、活性領域の集
積回路パターンの露光等に使用されるアライナを両面ア
ライナを使用することにより、表面の電極位置と関連づ
けて、製造プロセスにおいて設けることもできる。
マーク25を設けた構成を説明したが、裏マークは親チ
ップ1に設けられていてもよい。すなわち、図4に示す
ように、親チップ1の裏面14に裏マーク15が設けら
れていてもよい。チップオンチップ型半導体装置を製造
するために、親チップ1の表面11に子チップ2を重ね
合わせて実装する場合、親チップ1の裏面14に設けら
れた裏マーク15を基準にして、子チップ2の位置を調
整するようなアライメント方法が考えられる。親チップ
1の裏マーク15は、かかる場合に有用である。
するマークに限らず、図2や図3に例示した子チップ2
の裏マーク25と同様、種々の形状や態様のものを用い
ることができる。組立てられたチップオンチップ型半導
体装置においては、子チップ2にだけ裏マーク25が設
けられている構成でもよいし、親チップ1にだけ裏マー
ク15が設けられている構成でもよいし、親チップ1お
よび子チップ2の両方にそれぞれ、裏マーク15,25
が設けられている構成でもよい。
チップオンチップ型半導体装置の構成を示す図解的な縦
断面図である。この半導体装置は、親チップ1の裏面1
4にリードフレーム30が装着された例である。リード
フレーム30は、親チップ1の裏面14に接着剤31等
で取り付けられている。図6は、図5の半導体装置の図
解的な底面図である。この実施形態では、リードフレー
ム30の裏面32に裏マーク33が設けられている。裏
マーク33は、子チップ2や親チップ1で説明したのと
同様、任意の形状のマークでよい。リードフレーム30
に裏マーク33を設けることの利点としては、 リードフレーム30を親チップ1に装着する場合に、
リードフレーム30の裏マーク33と親チップ1の裏マ
ーク15とを目印にして、リードフレーム30を親チッ
プ1の裏面の所定の位置に正しく装着できる。
り、親チップ1の裏面14に設けられていた裏マーク1
5が隠れる場合があるが、この場合には、リードフレー
ム30の裏マーク33を基準にして親チップ1の位置決
めを行うことができる。あるいは、裏マーク33を基準
に子チップ2の位置決めを行える。 裏マークの設けられていない親チップ1にリードフレ
ーム30を装着することにより、リードフレーム30の
裏マーク33を基準にして、親チップ1の位置決めを行
うことができる。あるいは、裏マーク33を基準にし
て、子チップ2の位置決めを行える。
側に描かれた櫛歯状のものは、1点鎖線部が切断される
ことによって電極となる部分である。図7は、この発明
の他の実施形態にかかる裏マークを説明するための図解
的な平面図である。図7Aに示すように、子チップ2の
裏面24に、子チップ2の端縁につながる裏マーク25
を設ける。この裏マーク25は、図示では4つとした
が、1つであっても構わない。一方、親チップ1には、
図7Bに示すように、表面11に表マーク16を設け
る。表マーク16は、子チップ2の裏マーク25と所定
の位置関係に対応づけられた位置に設けられる。つま
り、親チップ1に子チップ2を重ね合わせたときに、図
7Cに示すように、裏マーク25と表マーク16とが互
いに合わせマークを構成するように、裏マーク25およ
び表マーク16を設ける。このようにすることによっ
て、親チップ1に子チップ2を重ね合わせる際に、親チ
ップ1と子チップ2とのアライメントをより良好に行う
ことができる。
ための障害が何もないので、裏面24の任意の位置に裏
マークを設けることができる。一方、親チップ1の表面
11には集積回路等が形成されているが、その回路等は
通常パッシベーション膜で覆われている。つまり、親チ
ップ1の表面11は、一般に、電極部分を除いてはパッ
シベーション膜であるから、パッシベーション膜上の任
意の位置に表マーク16を設けることができる。よっ
て、上述のように合わせマークを構成することが可能で
ある。
図解的な図である。これまで説明した実施形態のよう
に、1つの親チップ1上に1つの子チップ2が重ね合わ
されたチップオンチップ構造以外に、図8A,図8Bに
示すように、1つの親チップ1に対して2個以上の複数
個の子チップ2を重ね合わせたチップオンチップ構造で
あってもよい。
きさの親チップ1と子チップ2とを重ね合わせたチップ
オンチップ構造であってもよい。このように種々のチッ
プオンチップ構造を作る場合に、裏マーク等を活用する
ことで、半導体チップ同士のアライメントが良好に行え
る。この発明は、以上説明した実施形態に限定されるも
のではなく、請求項記載の範囲内において種々の変更が
可能である。
プ型半導体装置の概略構成を示す図解的な縦断面図であ
る。
解的な平面図である。
かの例を示す図である。
である。
ップ型半導体装置の構成を示す図解的な縦断面図であ
る。
る。
明するための図解的な平面図である。
ある。
Claims (1)
- 【請求項1】表面同士が対向するように複数の半導体チ
ップを重ね合わせて接合するチップオンチップ用の半導
体チップであって、 前記半導体チップの裏面に、当該半導体チップの方向や
電極の配置等を識別可能な裏マークが設けられているこ
とを特徴とするチップオンチップ用の半導体チップ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3047899A JP2000228487A (ja) | 1999-02-08 | 1999-02-08 | チップオンチップの半導体チップ |
US09/499,579 US6476499B1 (en) | 1999-02-08 | 2000-02-07 | Semiconductor chip, chip-on-chip structure device and assembling method thereof |
US10/211,308 US6869829B2 (en) | 1999-02-08 | 2002-08-05 | Semiconductor chip, chip-on-chip structure device, and assembling method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3047899A JP2000228487A (ja) | 1999-02-08 | 1999-02-08 | チップオンチップの半導体チップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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ID=12304966
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7122912B2 (en) | 2004-01-28 | 2006-10-17 | Nec Electronics Corporation | Chip and multi-chip semiconductor device using thereof and method for manufacturing same |
JP2007040965A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-02-15 | Denso Corp | センサ装置 |
US8541891B2 (en) | 2007-03-30 | 2013-09-24 | Lapis Semiconductor Co., Ltd. | Semiconductor device |
US8981574B2 (en) | 2012-12-20 | 2015-03-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package |
JP2015073108A (ja) * | 2014-11-06 | 2015-04-16 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置、半導体装置の製造方法、及びリードフレーム |
CN111390893A (zh) * | 2019-01-03 | 2020-07-10 | 海因里希·格奥尔格机械制造有限公司 | 用于生产变压器芯的方法及定位系统 |
-
1999
- 1999-02-08 JP JP3047899A patent/JP2000228487A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7122912B2 (en) | 2004-01-28 | 2006-10-17 | Nec Electronics Corporation | Chip and multi-chip semiconductor device using thereof and method for manufacturing same |
CN100385665C (zh) * | 2004-01-28 | 2008-04-30 | 恩益禧电子股份有限公司 | 芯片及使用该芯片的多芯片半导体器件及其制造方法 |
US7883985B2 (en) | 2004-01-28 | 2011-02-08 | Renesas Electronics Corporation | Chip and multi-chip semiconductor device using the chip, and method for manufacturing same |
JP2007040965A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-02-15 | Denso Corp | センサ装置 |
US8541891B2 (en) | 2007-03-30 | 2013-09-24 | Lapis Semiconductor Co., Ltd. | Semiconductor device |
US8981574B2 (en) | 2012-12-20 | 2015-03-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package |
US9633973B2 (en) | 2012-12-20 | 2017-04-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package |
JP2015073108A (ja) * | 2014-11-06 | 2015-04-16 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置、半導体装置の製造方法、及びリードフレーム |
CN111390893A (zh) * | 2019-01-03 | 2020-07-10 | 海因里希·格奥尔格机械制造有限公司 | 用于生产变压器芯的方法及定位系统 |
CN111390893B (zh) * | 2019-01-03 | 2024-06-11 | 海因里希·格奥尔格机械制造有限公司 | 用于生产变压器芯的方法及定位系统 |
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