JP2000228342A - 露光装置 - Google Patents
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- JP2000228342A JP2000228342A JP11027512A JP2751299A JP2000228342A JP 2000228342 A JP2000228342 A JP 2000228342A JP 11027512 A JP11027512 A JP 11027512A JP 2751299 A JP2751299 A JP 2751299A JP 2000228342 A JP2000228342 A JP 2000228342A
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
Abstract
し、また、演算処理による無駄時間を低減する。 【解決手段】 原板および基板ステージ3、6を駆動す
る駆動手段と、各ステージの位置を計測する位置計測手
段7、9と、位置計測手段からの位置信号をそれぞれホ
ールドする複数の位置信号ホールド手段8、10と、こ
のホールドのタイミング信号を生成するホールドタイミ
ング信号生成手段11と、各ステージについての目標位
置生成手段12、13と、前記目標位置および位置信号
に基づいて位置偏差信号を生成する位置偏差生成手段1
4、15と、位置偏差信号に基づいて各ステージへの電
流指令値を生成する制御信号生成手段16とを備えた露
光装置において、前記タイミング信号を、前記複数の位
置信号ホールド手段に直接かつ同時に供給する。また、
各ステージの目標位置を、時間の関数として、かつ次回
にホールドタイミング信号が発生した時点での目標位置
として演算する。
Description
る。
は、機器の複雑化・高度化・微細化に伴い、高精度化・
高速化が進んでいる。半導体露光装置においては、従来
の静止露光装置いわゆるステッパに加えて、レチクルス
テージとウエハステージの同期位置関係を保ってスリッ
ト状の露光領域をスキャンしつつ露光を行なう、スキャ
ン型の露光装置が開発されつつある。
単に説明すると、スキャン露光装置は、レチクルステー
ジ3とウエハステージ6を一定の速度比で同期スキャン
させながら、レチクル2に描画された回路パターンを、
露光光学系1からの露光光を用いてウエハ5に投影露光
するものである。これによれば、従来の位置決めタイプ
の露光装置、いわゆるステッパに比べて、より大きなチ
ップサイズに対応できるメリットがある。
って、従来はオペアンプなどのアナログ素子で構成され
ていた制御手段も、DSPに代表される、高速ディジタ
ル信号処理を行なうためのマイクロプロセッサを用い
た、ディジタル制御に置き換えられつつあり、露光装置
においてもこの方式が用いられることが多い。
来のディジタル制御による露光装置の制御系の一例を示
す。なお、ここで説明するのは、簡単のため、単一のス
テージの制御装置に対するものであるが、各ステージの
制御系の基本的な構造は本例と何ら変りはない。
は定速位置制御すべきステージ、62はステージ61を
駆動するリニアモータ、63はステージ61の位置を計
測する位置計測手段、64は位置計測手段63からの位
置信号をホールドする位置信号ホールド手段、65はス
テージ61の目標位置を演算する目標位置演算手段、6
6は目標位置演算手段65からの目標位置r(n)およ
び位置信号ホールド手段64からの位置データy(n)
に基づいて位置偏差e(n)を演算して出力する位置偏
差演算手段、67は位置偏差e(n)に基づき電流指令
値i(n)を出力する位置制御信号演算手段、68は電
流指令値i(n)をホールドして連続信号i(t)を出
力する制御演算出力ホールド手段、69は連続信号i
(t)を増幅して駆動手段62に送る電流増幅手段、7
0は目標位置演算手段65、位置偏差演算手段66およ
び制御信号演算手段67の処理を行なうマイクロプロセ
ッサである。
(n)、位置偏差e(n)、および電流指令値i(n)
は離散時間データ(パルス列のデータ)であり、nは離
散時間データのインデックスを表す。また、連続信号i
(t)は連続時間データ(パルス列データをホールドし
たデータも含む)であり、tは連続時間データにおける
時刻を表す。他の変数はスカラ値である。
ッサ70が離散的な制御演算タスクを開始する。通常、
マイクロプロセッサ70の初期化時に、CPUクロック
に対するタイマ回路(図3には示されていないが、タイ
マ回路は、通常、マイクロプロセッサ70内に配置され
ている。)を用いて、一定周期毎にマイクロプロセッサ
70のソフトウエア割込みが発生するようにレジスタの
設定を行ない、ソフトウエア割込みおよびクロックカウ
ントを開始する。この割込み周期をTとする。そして、
制御演算ルーチンを、ソフトウエア割込みのサービスル
ーチンとして記述することにより、一定周期毎に制御演
算を開始させることができる。
るマイクロプロセッサ70の処理のタイムチャートであ
る。この図をもとに説明すれば、インデックスn=iに
ついて割込みサービスルーチンが起動すると、まず位置
信号ホールド手段64に対してホールド指令を出して位
置計測手段63からの位置データy(t)をホールド
し、次に、ホールドした位置データy(i)に対する転
送指令を出して、位置データy(i)をマイクロプロセ
ッサ70に転送する。さらに、移動体61への目標位置
r(i)を、目標位置演算手段65において生成し、目
標位置r(i)と位置データy(i)から位置偏差e
(i)を位置偏差演算手段66において計算し、位置偏
差e(i)を、PID補償器で代表される制御信号演算
手段67へ渡す。制御信号演算手段67において電流指
令値i(i)を計算する。電流指令値i(i)は制御演
算出力ホールド手段68によってホールドされて連続信
号i(t)となり、さらに電力増幅手段69で増幅され
て駆動手段62に送られ、駆動手段62を駆動する。こ
れにより、移動体61をスキャン制御する。
うな従来の露光装置によれば、装置が高速化・高精度化
するにつれて、従来は問題とならなかった、“計測タイ
ミングのばらつき”が問題となる。
に行なわれている、マイクロプロセッサのタイマ回路を
用いたソフトウエア割込みによる制御演算では、割込み
サービスルーチンがサンプリング周期T毎に起動され、
サービスルーチン内で位置信号ホールド手段をホールド
して、そのデータを取得することになる。そして、露光
装置のような大規模なシステムにおいては、マイクロプ
ロセッサと、位置計測手段および位置計測手段に対する
ホールド手段が別のボードとしてそれぞれユニット化さ
れ、各ユニットを例えばVMEバスに代表されるバスで
結合する形式が一般的である。
ば周辺ユニットとなるホールド手段に対して、マイクロ
プロセッサからバスを介してホールド指令が出されるこ
とになる。そして、それに要する時間は、いわゆるバス
の調停時間と指令データの転送時間の合計となる。特
に、バスの調停時間は、その時点でのシステムの状態に
左右され、ばらつきが必ず存在する。周辺ユニットが多
く、トラフィックが多いシステムほど、このばらつきは
大きくなる。
期T毎に割込みサービスルーチンを起動し、なおかつ割
込みサービスルーチン内の分岐処理等による影響を受け
ないように、割込みサービスルーチンの先頭で位置信号
データをホールドするようにしたとしても、実際に位置
信号がホールドされるのは割込み周期T毎ではなく、ホ
ールドされるタイミングには、上記アクセス時間のばら
つき分だけ、ばらつきが生じることになる。このばらつ
きは、特にスキャン露光装置の精度に大きな影響を及ぼ
す。
ン露光装置においては、ウエハおよびレチクルステージ
を同期を取りつつ高速で移動させるため、データ計測の
“同時性”の確保も、非常に重要になる。また、スキャ
ン露光装置に限らず、ステッパにおいても、ステージの
制御特性を向上させるために、複数のレーザ干渉計を用
い、ステージ位置に応じて干渉計を切り替えることによ
って、バーミラーを短くし、メカ的な機械共振の周波数
を高めることで、より高い制御性能を実現する方法が提
案されている(たとえば特開平5−45152号公報参
照)。そして、こうした場合においても、従来では全く
問題とならなかった、データ計測の“同時性”の確保が
非常に重要になる。
え技術においては、切替えを行なう計測データの“同時
性”を確保していない点に問題がある。例えば、図5に
示すような、バーミラー55を搭載したステージ54の
Y方向の位置計測のための第1レーザ干渉計51と、そ
の両側に第2、第3のY方向の位置計測のためのレーザ
干渉計52および53を有し、ステージのヨー角θ(ス
テージのヨー方向)の変位情報として、ステージ54の
X方向の位置によって、第1および第2の干渉計の差分
か、第1および第3の干渉計の差分のどちらかを切替え
器56によって切替えつつ用い、ステージ54の並進お
よびヨー角を制御する場合を考える。このとき、θ計測
を切り替える際に、切替え前に用いていた干渉計の組合
せによるヨー角計測結果をもとに、新たに切り替える組
合せの干渉計によるヨー角の読み値に上乗せすべきオフ
セット値を計算し、これを上乗せした後に切替えを行な
う必要があるが、この切替えを精度良く行なうために
は、特に2つのθ方向におけるレーザ干渉計のデータ計
測の“同時性”が重要である。しかしながら、従来のレ
ーザ干渉計の切替えに関する技術では、こうした“同時
性”が確保されておらず、切替えを繰り返す度に誤差が
蓄積されるという問題点がある。
精度化するにつれて、ディジタル制御システムにおける
演算時間を短縮することが重要となってきている。なぜ
なら、この演算時間は、制御ループにおけるむだ時間と
なり、制御系の特性を悪化させる大きな要因となるから
である。ここでいう演算時間とは、割込みサービスルー
チン内で位置信号をホールドしてから電流指令値を出力
するまでの時間であり、図4の従来例では、むだ時間
は、データ取得、目標位置演算、位置偏差演算、制御出
力演算、制御出力ホールドのそれぞれに要する時間の合
計△となる。特に従来のステッパにおいては、移動体を
目標位置まで高速・高精度で移動させて「止める」ため
に、特にステージの減速時に、目標位置までの残り距離
に応じた目標位置を生成する手法が多く用いられてき
た。そしてこうした従来の制御システムでは、目標位置
演算が位置計測信号に依存した形を取るために、目標位
置演算を位置計測の後に行なわざるを得ない。そして、
このことが、むだ時間の低減を行なえない1つの要因と
なっている。
題点に鑑み、露光装置において、ステージ位置の計測に
おける同時性を確保し、さらには演算処理による無駄時
間を低減し、もって、静止位置決めあるいは定速位置決
めにおける高精度化を実現することにある。
本発明では、原板および基板をそれぞれ保持して移動あ
るいは位置決めするための原板ステージおよび基板ステ
ージと、これら各ステージを駆動する駆動手段と、各ス
テージの位置を計測する位置計測手段と、この位置計測
手段からの各ステージについての位置信号をそれぞれホ
ールドする複数の位置信号ホールド手段と、このホール
ドのタイミングを決定するタイミング信号を生成するホ
ールドタイミング信号生成手段と、各ステージの目標位
置を生成する目標位置生成手段と、この各ステージの目
標位置および前記ホールドされる各ステージの位置信号
に基づいて各ステージについての位置偏差信号を生成す
る位置偏差生成手段と、この位置偏差信号に基づいて各
ステージに対する電流指令値を生成する制御信号生成手
段とを備え、前記原板および基板をスキャン移動させあ
るいは位置決めして前記原板のパターンを前記基板上に
スキャン露光しあるいは静止露光する露光装置におい
て、前記ホールドタイミング信号生成手段が生成するタ
イミング信号を、前記複数の位置信号ホールド手段に直
接かつ同時に供給し、これにより、前記複数の位置信号
ホールド手段が前記位置計測手段からの各ステージの位
置信号を同時にホールドして前記位置偏差生成手段に供
給するように構成したことを特徴とする。これによれ
ば、各ステージについての位置信号のホールドタイミン
グのばらつきが除去されるため、各ステージの位置計測
における同時性が確保される。また、複数軸についての
ステージの位置の計測に対しても同時性が確保される。
段は前記原板ステージおよび基板ステージのそれぞれに
ついて所定の第1の軸方向および第2の軸方向の位置を
計測するレーザ干渉型位置計測器を備えるとともに、前
記原板ステージまたは基板ステージの少なくともいずれ
かについて、前記第1または第2の軸方向のうちの少な
くとも1軸方向の位置を計測するための複数のレーザ干
渉型位置計測器を有し、前記複数の位置信号ホールド手
段は前記ホールドタイミング信号生成手段からのタイミ
ング信号に基づいて各レーザ干渉型位置計測器からの各
ステージの位置信号を同時にホールドするものであり、
前記露光装置はさらに、前記少なくとも1軸方向の位置
を計測するための複数のレーザ干渉型位置計測器からの
複数の位置信号のうち前記位置偏差生成手段に供給すべ
き少なくとも1つを選択する手段を備えることを特徴と
する。これによれば、複数のレーザ干渉型位置計測器を
適宜選択し、切り替えて用いる場合でも、各レーザ干渉
型位置計測器からの位置信号のホールドの同時性が確保
されるため、切替え時における誤差の発生が防止され
る。
成手段、位置偏差生成手段および制御信号生成手段を構
成し、前記ホールドタイミング信号生成手段が生成する
ホールドタイミング信号によって演算処理が起動され
る、演算手段を備えることを特徴とする。これによれ
ば、演算手段として、マイクロプロセッサ等を用いたデ
ィジタル制御方式の制御系による露光装置において、各
ステージの位置信号のホールドのタイミングのばらつき
が防止され、各ステージの位置計測の同時性が確保され
る。
成手段は、各ステージの目標位置を、前記位置計測手段
からの各ステージの位置信号に依存した関数とせずに、
時間の関数として演算するものであり、かつ前記演算手
段による演算処理が前記ホールドタイミング信号の発生
により起動したとき、次回に前記ホールドタイミング信
号が発生した時点における各ステージの目標位置の演算
を行なうものであることを特徴とする。これによれば、
図7に示すように、位置信号をホールドしてから電流指
令値を出力するまでの無駄時間外において目標位置の演
算処理を行なうことができるため、無駄時間が短縮され
る。したがって、高い制御性能の実現が図られる。
を、実施例により説明する。
例に係る露光装置を示す。同図に示すように、この装置
は、レチクル2およびウエハ5をそれぞれ保持して移動
あるいは位置決めするためのレチクルステージ3および
ウエハステージ6と、これら各ステージ3および6を駆
動するリニアモータ17および18と、各ステージ3お
よび6の位置を計測するレーザ干渉計7および9と、レ
ーザ干渉計7および9のデータをホールドするホールダ
8および10と、このホールドのタイミングを決定する
タイミング信号を生成するホールドタイミング生成手段
11と、各ステージ3および6の目標位置を生成する目
標位置生成手段12および13と、この各ステージ3お
よび6の目標位置ならびに前記ホールドされる各ステー
ジ3および6の位置信号に基づいて各ステージ3および
6についての位置偏差信号を生成する位置偏差生成手段
14および15と、この位置偏差信号に基づいて各ステ
ージ3および6に対する電流指令値を生成する制御信号
生成手段16とを備える。そして、レチクル2およびウ
エハ5をスキャン移動させあるいは位置決めし、露光光
学系1からの露光光により、レチクル2のパターンを縮
小露光系4を介してウエハ5上にスキャン露光しあるい
は静止露光する。さらに、ホールドタイミング生成手段
11が生成するタイミング信号を、ホールダ8および1
0に直接かつ同時に供給し、これにより、ホールダ8お
よび10はレーザ干渉計7および9からの各ステージ3
および6の位置に関するデータを同時にホールドして位
置偏差生成手段14および15に供給するように構成し
てある。
成手段11によって一定時間毎に生成されるホールド信
号が、ホールダ8および10に、バスを介さずに直接同
時に伝達され、レーザ干渉計7および9のデータが同時
にホールドされる。そして、こうして一定時間毎に得ら
れるウエハステージ6およびレチクルステージ3の位置
信号と、目標位置生成手段12および13によって一定
時間毎に生成される目標位置との偏差が、位置偏差生成
手段14および15によって生成され、これらの偏差に
基づき、制御信号生成手段16によってリニアモータ1
7および18への電流指令値が生成される。
ハステージ6の位置偏差を、レチクルステージ3の位置
偏差に加算して、両者の同期誤差を低減する、いわゆる
マスタ・スレーブ方式の制御系を構成するのが一般的で
ある。
るために、VMEバスに代表される汎用バスを用いるこ
とが一般に広く行われるが、こうした汎用バスには、ホ
ールドタイミング信号を、複数の計測手段に同時に供給
するための信号線は存在しない。したがって、従来例の
ように、こうした汎用バスだけを用いて露光装置の制御
系を構成した場合は、[発明が解決しようとする課題]
で述べたように、汎用バスを介してタイミング信号の転
送を行うことになり、データ計測の同時性が失われる。
これに対し、本発明では、図1に示すように、こうした
従来のバスとは独立した新たな信号線を用いてホールド
信号を複数の計測手段に直接同時に供給するわけであ
る。
に直接ホールダ8および10に同時に伝達されるため、
従来技術において問題となっていた、ウエハステージ6
およびレチクルステージ3の位置情報の“同時性”と
“時間的精度”を確保し、スキャン露光を行なう場合に
おいても、高いスキャン精度を実現することができる。
ッサを用いて実現した、本発明の第2の実施例に係る露
光装置の制御系を示す。簡単のため、1軸についての構
成のみ示しているが、他の軸についても、この図と同様
の構成を有する。同図に示すように、この制御系は、露
光のためにウエハあるいはレチクルを保持して移動・位
置決めするステージ61と、ステージ61を駆動する駆
動手段62と、ステージ1の位置を計測する位置計測手
段63と、位置計測手段63からのステージ1について
の位置信号をホールドする位置信号ホールド手段64
と、このホールドのタイミングを決定するタイミング信
号を生成するホールドタイミング信号生成手段71と、
ステージ1の目標位置r(n)を演算して生成する目標
位置演算手段65と、ステージ1の目標位置およびホー
ルドされたステージ1の位置信号y(n)に基づいてス
テージ1についての位置偏差信号e(n)を演算して生
成する位置偏差演算手段66と、この位置偏差信号に基
づいてステージ61に対する電流指令j(n)を演算し
て生成する位置制御信号演算手段67と、電流指令j
(n)をホールドして連続データi(t)に変換する制
御演算出力ホールド手段68と、連続データi(t)を
増幅して駆動手段62に駆動電流を出力する電流増幅手
段9とを備える。目標位置演算手段65、位置偏差演算
手段66および位置制御信号演算手段67はマイクロプ
ロセッサ70によって構成されている。
を用いた一定周期毎のソフトウエア割込みによって割込
みサービスルーチンを起動していたが、本実施例におい
ては、ホールドタイミング信号生成手段71が、一定周
期毎にタイミング信号を生成し、位置信号ホールド手段
64に対してバスを介さずにホールド信号を直接供給す
ると同時に、他の軸のホールド手段にも直接供給する。
さらに同じ信号をマイクロプロセッサ70のハードウエ
ア割込み端子に入力し、これによってハードウエア割込
みをかける。位置信号のホールドは、バスを介さずに直
接位置信号ホールド手段64に接続されているため、従
来技術とは異なり、オーバーヘッドやばらつきが生じ
ず、位置データをホールドするタイミングを正確に保つ
ことができる。
算のタイムチャートである。同図を参照し、割込みサー
ビスルーチンにおける処理について説明する。インデッ
クスn=iについてのホールドタイミング信号生成手段
71からのタイミング信号が生成されると、これにより
位置信号ホールド手段64は位置信号y(t)をホール
ドし、割込みサービスルーチンが起動する。次に、割込
みサービスルーチンは、位置信号ホールド手段64がホ
ールドしている位置データy(i)を取得し、ステージ
61の位置偏差e(i)の演算を行なう。この位置偏差
の演算に用いる目標位置r(i)は、前回(n=i−
1)の割込みサービスルーチンの起動時において既に演
算されている。すなわち、従来技術とは異なり、目標位
置r(n)は、ステージ61の位置に依存しない、時間
関数として算出されるため、位置信号y(i)を取得す
る前に演算することが可能である。
き、制御信号演算手段67において、電流指令i(i)
を演算する。電流指令i(i)は制御演算出力ホールド
手段68によって連続データi(t)に変換され、さら
に電流増幅手段69により増幅され、そして、駆動手段
62を駆動し、ステージ61を制御する。この後、割込
みサービスルーチンは、次回の起動時における目標位置
r(i+1)を演算してメモリに保持し、演算処理を終
了する。
むだ時間△は従来技術に比べ、位置データのホールド時
間および目標位置演算時間に相当する時間だけ縮減され
る。これによって、制御性能の向上が可能となるわけで
ある。
り替えて用いる場合にも適用可能である。その場合で
も、データ計測のばらつきの除去、同時性の確保によ
り、従来技術で問題となった切替えを繰り返すことによ
る計測誤差の蓄積を除去することができ、高い位置決め
精度を確保することが可能である。
イミング信号を、複数の位置信号ホールド手段に直接か
つ同時に供給し、これにより、複数の位置信号ホールド
手段は位置計測手段からの原板ステージおよび基板ステ
ージの位置信号を同時にホールドして位置偏差生成手段
に供給するように構成したため、各ステージについての
位置信号のホールドタイミングのばらつきを除去し、こ
れにより各ステージの位置計測における同時性を確保
し、さらに各ステージごとの複数軸についての位置計測
についても同時性を確保することができる。
うちのある1軸方向の位置を計測するための複数のレー
ザ干渉型位置計測器からの複数の位置信号のうち位置偏
差生成手段に供給すべき少なくとも1つを選択し、切り
替えて用いる場合でも、各レーザ干渉型位置計測器から
の位置信号のホールドの同時性が確保されているため、
レーザ干渉型位置計測器の選択・切替えを、誤差を発生
させることなく、高精度に行なうことができる。
段および制御信号生成手段を演算手段で構成し、その演
算処理を、ホールドタイミング信号生成手段が生成する
ホールドタイミング信号によって起動するようにしたた
め、演算手段としてマイクロプロセッサ等を用いたディ
ジタル制御方式の制御系による露光装置においても、各
ステージの位置信号のホールドのタイミングのばらつき
を防止し、各ステージの位置計測の同時性を確保するこ
とができる。
に依存した関数とせずに、時間の関数として演算し、か
つ演算処理が起動したとき、次回にホールドタイミング
信号が発生した時点における目標位置の演算を行なうよ
うにしたため、演算時間による無駄時間を短縮し、高い
制御性能を実現することができる。
を示すブロック図である。
る。
ブロック図である。
トである。
ある。
系の構成を示すブロック図である。
トである。
ジ、4:縮小露光系、5:ウエハ、6:ウエハステー
ジ、7,9:レーザ干渉計、8,10:ホールダ、1
1:ホールドタイミング生成手段、12,13:目標位
置生成手段、14,15:位置偏差生成手段、16:制
御信号生成手段、17,18:リニアモータ、51〜5
3:レーザ干渉計、54:ステージ、55:バーミラ
ー、56:切替え器、57:制御信号生成手段、61:
ステージ、62:リニアモータ、63:位置計測手段、
64:位置信号ホールド手段、65:目標位置演算手
段、66:位置偏差演算手段、67:位置制御信号演算
手段、68:制御演算出力ホールド手段、69:電流増
幅手段、70:マイクロプロセッサ、71:ホールドタ
イミング信号生成手段。
Claims (5)
- 【請求項1】 原板および基板をそれぞれ保持して移動
あるいは位置決めするための原板ステージおよび基板ス
テージと、これら各ステージを駆動する駆動手段と、各
ステージの位置を計測する位置計測手段と、この位置計
測手段からの各ステージについての位置信号をそれぞれ
ホールドする複数の位置信号ホールド手段と、このホー
ルドのタイミングを決定するタイミング信号を生成する
ホールドタイミング信号生成手段と、各ステージの目標
位置を生成する目標位置生成手段と、この各ステージの
目標位置および前記ホールドされる各ステージの位置信
号に基づいて各ステージについての位置偏差信号を生成
する位置偏差生成手段と、この位置偏差信号に基づいて
各ステージに対する電流指令値を生成する制御信号生成
手段とを備え、前記原板および基板をスキャン移動させ
あるいは位置決めして前記原板のパターンを前記基板上
にスキャン露光しあるいは静止露光する露光装置におい
て、前記ホールドタイミング信号生成手段が生成するタ
イミング信号を、前記複数の位置信号ホールド手段に直
接かつ同時に供給し、これにより、前記複数の位置信号
ホールド手段が前記位置計測手段からの各ステージの位
置信号を同時にホールドして前記位置偏差生成手段に供
給するように構成したことを特徴とする露光装置。 - 【請求項2】 前記位置計測手段は前記原板ステージお
よび基板ステージのそれぞれについて所定の第1の軸方
向および第2の軸方向の位置を計測するレーザ干渉型位
置計測器を備えるとともに、前記原板ステージまたは基
板ステージの少なくともいずれかについて、前記第1ま
たは第2の軸方向のうちの少なくとも1軸方向の位置を
計測するための複数のレーザ干渉型位置計測器を有し、
前記複数の位置信号ホールド手段は前記ホールドタイミ
ング信号生成手段からのタイミング信号に基づいて各レ
ーザ干渉型位置計測器からの各ステージの位置信号を同
時にホールドするものであり、前記露光装置はさらに、
前記少なくとも1軸方向の位置を計測するための複数の
レーザ干渉型位置計測器からの複数の位置信号のうち前
記位置偏差生成手段に供給すべき少なくとも1つを選択
する手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の露
光装置。 - 【請求項3】 前記目標位置生成手段、位置偏差生成手
段および制御信号生成手段を構成し、前記ホールドタイ
ミング信号生成手段が生成するホールドタイミング信号
によって演算処理が起動される、演算手段を備えること
を特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。 - 【請求項4】 前記目標位置生成手段は、各ステージの
目標位置を、前記位置計測手段からの各ステージの位置
信号に依存した関数とせずに、時間の関数として演算す
るものであり、かつ前記演算手段による演算処理が前記
ホールドタイミング信号の発生により起動したとき、次
回に前記ホールドタイミング信号が発生した時点におけ
る各ステージの目標位置の演算を行なうものであること
を特徴とする請求項3に記載の露光装置。 - 【請求項5】 原板および基板をそれぞれ保持して移動
あるいは位置決めするための原板ステージおよび基板ス
テージと、これら各ステージを駆動する駆動手段と、各
ステージの位置を計測する位置計測手段と、この位置計
測手段からの各ステージについての位置信号をそれぞれ
ホールドする複数の位置信号ホールド手段と、このホー
ルドのタイミングを決定するタイミング信号を生成する
ホールドタイミング信号生成手段と、各ステージの目標
位置を生成する目標位置生成手段と、この各ステージの
目標位置および前記ホールドされる各ステージの位置信
号に基づいて各ステージについての位置偏差信号を生成
する位置偏差生成手段と、この位置偏差信号に基づいて
各ステージに対する電流指令値を生成する制御信号生成
手段と、前記目標位置生成手段、位置偏差生成手段およ
び制御信号生成手段を構成し、前記ホールドタイミング
信号生成手段が生成するホールドタイミング信号によっ
て演算処理が起動される、演算手段とを備え、前記原板
および基板をスキャン移動させあるいは位置決めして前
記原板のパターンを前記基板上にスキャン露光しあるい
は静止露光する露光装置において、前記目標位置生成手
段は、各ステージの目標位置を、前記位置計測手段から
の各ステージの位置信号に依存した関数とせずに、時間
の関数として演算するものであり、かつ前記演算手段に
よる演算処理が前記ホールドタイミング信号の発生によ
り起動したとき、次回に前記ホールドタイミング信号が
発生した時点における各ステージの目標位置の演算を行
なうものであることを特徴とする露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11027512A JP2000228342A (ja) | 1999-02-04 | 1999-02-04 | 露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11027512A JP2000228342A (ja) | 1999-02-04 | 1999-02-04 | 露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000228342A true JP2000228342A (ja) | 2000-08-15 |
Family
ID=12223196
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11027512A Pending JP2000228342A (ja) | 1999-02-04 | 1999-02-04 | 露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000228342A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1760598A2 (en) | 2005-08-15 | 2007-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Communication control apparatus, communication control method, exposure apparatus, and device manufacturing method |
CN100397404C (zh) * | 2001-04-27 | 2008-06-25 | 株式会社东芝 | 曝光装置的照度不匀度的测定方法和修正方法 |
KR100990410B1 (ko) | 2007-08-07 | 2010-10-29 | 캐논 가부시끼가이샤 | 노광장치 및 디바이스 제조방법 |
-
1999
- 1999-02-04 JP JP11027512A patent/JP2000228342A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100397404C (zh) * | 2001-04-27 | 2008-06-25 | 株式会社东芝 | 曝光装置的照度不匀度的测定方法和修正方法 |
EP1760598A2 (en) | 2005-08-15 | 2007-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Communication control apparatus, communication control method, exposure apparatus, and device manufacturing method |
US7472206B2 (en) | 2005-08-15 | 2008-12-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus of communication control using direct memory access (DMA) transfer |
KR100990410B1 (ko) | 2007-08-07 | 2010-10-29 | 캐논 가부시끼가이샤 | 노광장치 및 디바이스 제조방법 |
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