JP2000227478A - 物品表面汚染モニタ - Google Patents

物品表面汚染モニタ

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JP2000227478A JP2720499A JP2720499A JP2000227478A JP 2000227478 A JP2000227478 A JP 2000227478A JP 2720499 A JP2720499 A JP 2720499A JP 2720499 A JP2720499 A JP 2720499A JP 2000227478 A JP2000227478 A JP 2000227478A
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contamination monitor
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 メカ機構を簡素化することにより、メカ動作
時間を短縮し、もって、測定作業の効率化を実現するこ
とが可能な物品表面汚染モニタを提供すること。 【解決手段】 放射線管理区域と非放射線管理区域との
間に設けられ、物品の搬入および搬出を行なう搬出入口
36と、回転軸39を中心として回転することにより、
物品の放射能汚染を検知する領域である検知領域32と
搬出入口36との間で物品15の移送を行なう回転テー
ブル35と、少なくとも検知領域32または回転テーブ
ル35に設けられ、物品の放射能汚染を検知する放射線
検出器40、42とを備えたこと。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば原子力施設
等の放射線管理区域から非放射線管理区域へと持ち込む
物品の表面汚染を測定する物品表面汚染モニタの改良に
係るものである。
【0002】
【従来の技術】図16から図20を用いて、従来から用
いている物品表面汚染モニタについて説明する。
【0003】図16は、従来から用いている物品表面汚
染モニタの一例を示す外観図である。
【0004】図17と図18は、図16に示す物品表面
汚染モニタの正断面図、右側断面図をそれぞれ示すもの
である。
【0005】また、図19は、図16に示す物品表面汚
染モニタの測定室における検出器の配置例を示す図であ
る。
【0006】図20は、従来から用いている物品表面汚
染モニタによる表面汚染測定の流れを示すフローチャー
トである。
【0007】すなわち、従来から用いている物品表面汚
染モニタ1は、図16から図18にその形状を示すよう
に箱型形状をなしている。このような物品表面汚染モニ
タの構成と動作とを、図16から図19に示す構成図
と、図20に示すフローチャートとを用いて、動作順に
説明する。
【0008】入口側テーブル2は物品をセットする場所
である。物品を入口側テーブル2にセットすると、入口
側扉3が上に開く。これは、図20に示す動作であ
る。
【0009】操作パネル4は、物品をセットした後に、
物品の種別、数量等をここから入力することにより、物
品の識別情報を記録するものである。作業者が、この操
作パネル4から上記の情報を入力し、操作パネル4上の
測定開始スイッチをONにすると、表示パネル5がその
内容を表示するとともに、入口コンベヤ6が稼動し、物
品をモニタ本体1内へ搬入する。これは、図20に示す
動作である。
【0010】入口コンベヤ6による物品の物品表面汚染
モニタ1内への搬入が完了すると、入口側扉3が閉じ
る。これは、図20に示す動作である。
【0011】物品表面汚染モニタ1において、物品は更
に測定室7に移送される。これは、図20に示す動作
である。
【0012】そして、物品が測定室7の下面に設けた放
射線検出器20、21上まで移送されると、物品を載せ
たテーブル8が上昇する。これは、図20に示す動作
である。
【0013】図19は、測定室7における放射線検出器
の配置場所を示す図である。これにより、物品は、測定
室7内に備えられた放射線検出器20〜28によって、
あらゆる方向から放射線の検出ができるようになる。物
品から発せられる放射線の計数を一定時間ΔT行い、物
品の放射能汚染が無いと判定された場合においては、物
品を載せたテーブル8は下降する。これは、図20に示
す動作である。
【0014】テーブル8の下降後、出口扉10が開く。
これは、図20に示す動作である。
【0015】次に、物品が出口コンベヤ11により出口
側テーブル12に搬出される。これは、図20に示す動
作である。
【0016】その後、出口扉10が閉じることにより一
連の測定作業は終了する。これは、図20に示す動作
である。
【0017】一方、測定室7における計数の結果、物品
の放射能汚染が有るものと判定された場合においては、
物品を載せたテーブル8は下降する(前記動作)。そ
の後、図20に示す動作’により物品は入口側扉3に
まで搬送され、差し戻される。これは、動作と動作
との逆動作である。
【0018】差し戻された物品は汚染物質として、放射
線管理区域の外に持ち出される事がないように管理され
る。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の物品表面汚染モニタでは、以下のような問題
がある。
【0020】すなわち、前述したような一連の測定動作
においては、測定のために物品を移送するためのメカ動
作が多い。そのため、メカ機構が複雑となり、必然的に
メカ機構も大型にならざるを得ない。
【0021】また、物品の搬入から搬出までに要する時
間は、計数に要する時間ΔTと、前記メカの動作時間
(図20における動作〜動作)との合計であるが、
このうちメカの動作時間の割合が大きい。
【0022】具体的には、物品の計数に要する時間ΔT
は約20秒であるのに対して、メカの動作時間は合わせ
て約1分にも及ぶ。即ち、物品の搬入から搬出するまで
に要する時間のうち、わずか1/4しか測定に要してい
ないことになる。
【0023】更に、1つの物品を検査するために、物品
を一旦物品表面汚染モニタ1へセットすると、その物品
の測定を完了し、物品が出口側テーブル12へ搬出され
るか、あるいは、汚染が確認されて入口側テーブル2に
差し戻されるかまで、次の物品をセットすることはでき
ない。従って、次の物品の検査を行いたい作業者は、前
の物品の搬出が完了するまで待たねばならず、処理効率
が悪くなる。
【0024】この欠点は、原子力発電所の定期検査時の
ように、多数の作業者が放射線管理区域内に入り作業を
行った後に非放射線管理区域に戻る場合、手持ち物品の
検査に多大の時間を要することになり、作業を終えた放
射線区域作業者が、モニタの前に列となり、仲々放射線
区域から出られない状況を発生させることもありうる。
【0025】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、メカ機構を簡素化することにより、メカ動
作時間を短縮し、もって、測定作業の効率化を実現する
ことが可能な物品表面汚染モニタを提供することを目的
とする。
【0026】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明では、以下のような手段を講じる。
【0027】すなわち、請求項1の発明では、放射線管
理区域から非放射線管理区域へと持ち出す物品の搬入お
よび搬出を行なう搬出入口と、物品の放射能汚染を検知
する領域である検知領域と、回転軸に沿って回転するこ
とにより、物品の搬出入口と検知領域との間の移送を行
なう回転テーブルと、少なくとも検知領域または回転テ
ーブルに物品の放射能汚染を検知する放射線検出器とを
備える。
【0028】従って、請求項1の発明の物品表面汚染モ
ニタにおいては、メカ機構が簡素化される。その結果、
メカ機構の動作時間の短縮化され、処理効率を向上する
事が可能となる。また、モニタの小型化も可能となる。
【0029】すなわち、請求項2の発明では、放射線管
理区域から非放射線管理区域へと持ち出す物品を搬入す
る搬入口を設けた第1のセルと、物品の放射能汚染を検
知する放射線検出器を備えた第2のセルと、物品を搬出
する搬出口を設けた第3のセルと、物品を所定のセルに
移送する回転テーブルとを備え、第1のセルに搬入され
た物品を、回転テーブルにより第2のセルに移送して、
当該第2のセルで放射能汚染の検知を行い、放射能汚染
が無いと判定された物品を、回転テーブルにより第3の
セルに移送して、搬出口から搬出し、また放射能汚染が
有りと判定された物品を、回転テーブルにより当該第2
のセルから第1のセルに戻すようにする。
【0030】従って、請求項2の発明の物品表面汚染モ
ニタにおいては、メカ機構が簡素化される。その結果、
メカ機構の動作時間の短縮化され、処理効率を向上する
事が可能となる。また、モニタの小型化も可能となる。
【0031】請求項3の発明では、請求項2の発明の物
品表面汚染モニタにおいて、第1のセルと第3のセルと
の間に、放射線検出器を備えた第4のセルを付加する。
【0032】従って、請求項3の発明の物品表面汚染モ
ニタにおいては、物品の放射能測定と並行して、第4の
セルでバックグランド放射線を測定することができ、そ
の結果、測定効率を下げること無く測定精度を向上する
ことが可能となる。
【0033】請求項4の発明では、請求項3の発明の物
品表面汚染モニタにおいて、第3のセルに放射線検出器
を備え、かつ、第4のセルに、放射能汚染が無いと判定
された物品を搬出する搬出口を設ける。
【0034】従って、請求項4の発明の物品表面汚染モ
ニタにおいては、請求項2の発明に比べて、処理効率を
大幅に向上することが可能となる。
【0035】請求項5の発明では、請求項2乃至4のう
ちいずれか1項の発明の物品表面汚染モニタにおいて、
回転テーブルの回転軸上に、回転テーブルを昇降する昇
降手段を設け、第2のセルは、放射線検出器を少なくと
も上面に備えると共に、物品の最上部を検知する検知手
段を付加し、検知手段が物品の最上部を検知するように
昇降手段により回転テーブルを昇降することにより、第
2のセルの上面の放射線検出器と物品の最上部との距離
を一定に保つようにする。
【0036】従って、請求項5の発明の物品表面汚染モ
ニタにおいては、物品の高さに係わらず、上面検出器と
物品上面との距離が、常にほぼ一定に保たれ、均一な検
出感度を達成する事ができる。その結果、請求項2の発
明に加えて、更に測定精度を向上することが可能とな
る。
【0037】請求項6の発明では、請求項4の発明の物
品表面汚染モニタにおいて、第4のセルの搬出口の外側
に、当該搬出口から物品を取り出す取出手段、取り出さ
れた物品を移送する移送手段、移送手段により移送され
た物品を受け取る回収手段から成る物品自動搬出手段を
設ける。
【0038】従って、請求項6の発明の物品表面汚染モ
ニタにおいては、作業員の負担を軽減することができ
る。その結果、請求項2から請求項5の発明に加えて、
作業員の負担を軽減し、かつ汚染拡大の可能性を低くす
ることが可能となる。
【0039】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照しながら説明する。
【0040】なお、以下の各実施の形態の説明に用いる
図中の符号は、図16から図19と同一部分については
同一符号を付して示すことにする。
【0041】(第1の実施の形態)本発明の第1の実施
の形態を図1から図6を用いて説明する。
【0042】図1は、本発明の実施の形態による物品表
面汚染モニタの構成例を示す平断面図である。
【0043】図2は、本発明の実施の形態による物品表
面汚染モニタの構成例を示すA−A’断面図である。
【0044】図3、および図4とは、それぞれ図1にお
けるB−B’矢視図、およびC−C’矢視図である。
【0045】図5は、本実施の形態による物品表面汚染
モニタによる測定のフローチャートである。
【0046】すなわち、本実施の形態による物品表面汚
染モニタ30は、図1と図2とに示すように、4つに分
割されたセル31、32、33,34を有する回転テー
ブル35が90°づつ回転する事により、物品の動作を
歩進し、360°回転する事によって元の位置に戻る構
成をなすものである。このような物品表面汚染モニタ3
0の構成と動作とを、図1から図4の構成図、および図
5のフローチャートを用いて、動作順に説明する。
【0047】入口側テーブル2は物品15を搬入する場
所である。物品15を入口側テーブル2に設置し、物品
の種別、数量を操作パネル4に入力後、操作パネル4に
設けた測定スイッチをONにすると、物品が入口孔36
から回転テーブル35上にある第1のセルである物品セ
ット室31の測定皿37に搬入される。なお、表示パネ
ル5は、操作パネル4から入力された物品の種別、数量
等の情報を表示するものである。
【0048】その後、回転モータ38の力が回転軸39
を介して回転テーブル35に伝えられ、回転テーブル3
5が矢印方向に90°回転し、物品15を第2のセルで
ある測定室32に搬送する。
【0049】測定室32は、図1に示すように側面検出
器40と、図2に示すように上面には上面検出器41
と、下面には下面検出器42とをそれぞれ備えている。
これによって、上下左右より、物品15が放出する放射
線を検出することができるようになる。また、図1に示
すように、測定室32の外壁には鉛遮蔽体43を設けて
いる。この鉛遮蔽体43は、測定室32を物品表面汚染
モニタ30外部の放射線から遮蔽するものである。
【0050】図1の、本実施の形態による物品表面汚染
モニタの平断面図に示すように、測定室32は、略1/
4扇形状をしている事から、側面検出器40は、局面部
を含む場所に設置する場合も有る。そのため、ここに設
置する放射線検出器としては、フレキシブルな光ファイ
バタイプの放射線検出器を用いるのが最適である。
【0051】このような測定室32において、ある一定
の時間ΔTにおける計数を行った結果、その物品15に
汚染が無いものと判定した場合においては、回転テーブ
ル35を回転して物品15を取出し室33まで移送し、
更に物品15を出口孔44を介して、出口コンベヤ11
により出口側テーブル12へ移送し、物品表面汚染モニ
タ30の外へ搬出する。
【0052】その後、回転テーブル35を回転して、物
品15を載荷していた測定皿37を待機室34まで移送
し、待機室34において、バックグランド放射線レベル
の測定、および測定皿37の汚染有無の判定を行い、測
定皿37に汚染が無い事が確認できれば、回転テーブル
35を回転して当該測定皿37を物品セット室31まで
移送し、当該測定皿37を次の物品の測定のために用い
る。
【0053】図6は、本実施の形態による物品表面汚染
モニタを用いた測定のタイムチャートである。
【0054】このタイムチャートを用いて、本実施の形
態による物品表面汚染モニタによる物品の連続表面汚染
測定方法について説明する。尚、図6においてA、B、
C、D、・・は測定する物品を示すものである。
【0055】まず第1の物品である物品Aは、物品セッ
ト室31に搬入された後に、測定室32に移送され、測
定室32で測定が開始される。同時に、物品セット室3
2は次の物品である物品Bの搬入が行われる。測定室3
2において物品Aの測定が終了すると、再び回転テーブ
ル35が回転し、物品Aを取出し室33に移送し、ここ
で物品Aは出口孔44から物品表面汚染モニタ30の外
に搬出される。一方、物品Bは測定室32に移送され、
そこで測定がなされる。更に、物品セット室31では次
の物品である物品Cの搬入が行われる。
【0056】測定室32において、物品Bの測定が終了
すると、回転テーブル35が90°回転し、物品Bは取
出し室33に移送し、更に出口孔44から物品表面汚染
モニタ30の外に搬出される。一方、物品Cは測定室3
2に移送され、ここで測定が行なわれる。一方、物品A
を載荷していた測定皿37は待機室34に移送され、こ
こで測定皿37の汚染確認、およびバックグランド放射
線レベルの測定が行なわれる。更に、物品セット室31
では次の物品Dの搬入が行われる。
【0057】このようにして、物品の表面汚染測定を連
続的に行うことができる。
【0058】一方、測定室32において行った物品の汚
染測定の結果、物品に汚染有りと判定した場合、回転テ
ーブル35を図1の矢印と逆方向に90°回転し、物品
を物品セット室31に戻す。物品セット室31に戻され
た物品は、作業者によって取り出され、その後、当該物
品は、汚染物質として放射線管理区域の外に持ち出され
る事がないように管理がなされる。
【0059】また、待機室34にて行われた測定の結
果、測定皿37に汚染有りと判定がなされた場合、回転
テーブル35を、90°回転し、待機室34から物品セ
ット室31に測定皿37を移送する。そして、作業者
が、物品セット室31の入口孔36から測定皿37を取
り出し、この測定皿37を除染した後に、次の物品の測
定のために再使用する。
【0060】上述したとおり、本実施の形態による物品
表面汚染モニタ30は、回転テーブル35の導入によっ
て、従来の物品表面汚染モニタ1に比べてメカ機構を簡
素化することができる。これによって、物品15の移送
は、回転テーブル35の回転のみの単純な動作によって
行われ、メカ機構の動作時間を短縮することができる。
また、物品表面汚染モニタを小型化することができる。
【0061】上述したように、本実施の形態の物品表面
汚染モニタにおいては、メカ機構が簡素化される。その
結果、メカ機構の動作時間が短縮され、処理効率を向上
する事が可能となる。また、物品表面汚染モニタの小型
化も可能となる。
【0062】(第2の実施の形態)本発明の第2の実施
の形態を図6から図9を用いて説明する。
【0063】図6は、第1の実施の形態で説明した通り
であるので、ここではその説明を省略する。
【0064】図7は、本発明の実施の形態による物品表
面汚染モニタの構成例を示す平断面図であり、図1と同
一部分には同一符号を付してその説明を省略し、ここで
は異なる部分のみについて説明を加える。
【0065】図8は、図7におけるD−D’線とE−
E’線とに沿った矢視図であり、図4と同一部分には同
一符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分
のみについて説明を加える。尚、D−D’矢視図とE−
E’矢視図とは同一である。
【0066】図6に示すように、第1の実施の形態にお
ける物品表面汚染モニタを用いた処理時間は、特に、測
定室32での測定作業に要する時間が律速となる。すな
わち、最も長い時間を要する測定室32での測定作業に
拘束され、物品の連続処理を行う場合の効率が上がらな
いという問題がある。
【0067】本実施の形態においては、この問題を解消
すべく、物品表面汚染モニタの構成を図7および図8に
示すようにする。
【0068】すなわち、本実施の形態による物品表面汚
染モニタは、図7に示すように、取出し室33、および
待機室34も、測定室32と同様に鉛遮蔽体43と放射
線検出器40、41、42とを設け、取出し室33、お
よび待機室34においても測定をできるようにしたこと
である。
【0069】従って、取出し室33、および待機室34
にも、図1および図2に示すように、側面測定器40、
上面測定器41、下面測定器42をそれぞれ設けてい
る。更に、取出し室33と、待機室34とには出口孔4
4を設けている。また、図8に示すように取出し室33
および待機室34の出口孔44の外側には、出口側扉1
0を設けている。これは、取出し室33および待機室3
4における測定中にはおのおのの出口側扉10を閉じる
事によって物品表面汚染モニタ30の外部からのバック
グランド放射線を遮蔽するものである。
【0070】図9は、本実施の形態による物品表面汚染
モニタを用いた連続測定をタイムチャートで示した例で
ある。
【0071】このタイムチャートを用いて、本実施の形
態による物品表面汚染モニタによる物品の連続測定方法
について説明する。A、B、C、D、・・は測定する物
品を示すものである。
【0072】測定は測定室32、取出し室33、待機室
34とで分割して行う。前記3つのセルで行う測定時間
の合計が、必要な計数時間ΔTになればよいので、測定
室32で(1/3)ΔTの時間の測定をした後、回転テ
ーブル35を90°回転し、物品を取出し室33に移送
し、ここで(1/3)ΔTの時間の測定をした後、回転
テーブル35を90°回転し、物品を待機室34に移送
し、ここで(1/3)ΔTの時間の測定を行う。
【0073】これによって、測定室32、取出し室3
3、待機室34の順に測定がなされた物品の測定時間の
合計が、所定の計数時間ΔTとなり、これら計数値の総
和で物品表面の汚染有無を判定するようにする。
【0074】まず第1の物品である物品Aは、物品セッ
ト室31に搬入された後に、測定室32に移送され、測
定室32で測定を開始する。測定室32で行われる測定
に要する計数時間は、必要な計数時間ΔTの1/3とす
る。同時に、物品セット室32は次の物品である物品B
の搬入が行われる。測定室32において物品Aの測定が
終了すると、再び回転テーブル35が回転し、物品Aは
取出し室33に、また物品Bは測定室32にそれぞれ移
送され、おのおの測定がなされる一方、物品セット室3
1においては次の物品である物品Cの搬入が行われる。
【0075】取出し室33における物品Aの測定、測定
室における物品Bの測定がそれぞれ終了すると、回転テ
ーブル35が回転し、物品Aは待機室34に、物品Bは
取出し室33に、物品Cは測定室32にそれぞれ移送さ
れ、おのおの測定がなされる一方、物品セット室31に
おいては次の物品である物品Dの搬入が行われる。
【0076】待機室34にて測定された物品Aは、汚染
が無いものと判定されると、待機室34の出口側扉10
を開き、出口孔44を介して物品Aを搬出する。
【0077】また、必要に応じて、取出し室33の出口
側扉10を開いて、出口孔44を介して物品を搬出する
ことも可能なので、フレキシブルな物品の搬出をできる
ようにしている。
【0078】本実施の形態による物品表面汚染モニタ
は、このようにして、物品の表面汚染測定を連続的に行
うことができる。
【0079】一方、汚染有りと判定された物品は、待機
室34から取出されずに、そのまま回転テーブル35が
90°回転して物品セット室31に移送され、そこから
物品表面汚染モニタの外部に取り出され、汚染物質とし
て管理される。
【0080】上述したように、本実施の形態による物品
表面汚染モニタは、測定室32のみならず、取出し室3
3、および待機室34においても測定が可能となる。
【0081】この結果、図9に示す本実施の形態による
処理モードにおけるタイムチャートが示すように、もは
や測定室32での測定時間に縛られる事なく、物品をス
ムーズに連続投入できるようになり、図6に示す第1の
実施の形態に比べて処理効率が大幅に向上する。
【0082】上述したように、本実施の形態の物品表面
汚染モニタにおいては、上記のような作用により、第1
の実施の形態で得られた効果に加えて、処理効率を大幅
に向上することが可能となる。
【0083】(第3の実施の形態)本発明の第3の実施
の形態を図1と図10とを用いて説明する。
【0084】図1は、第1の実施の形態において既に説
明しているので、ここではその説明を省略する。
【0085】図10は、本実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成例を示す正断面図である。
【0086】図10は、図2と同一部分には同一符号を
付してその説明を省略し、ここでは異なる部分のみにつ
いて説明を加える。
【0087】すなわち、本実施の形態による物品表面汚
染モニタは、図10にそのA−A’断面図を示すよう
に、図2の構成に、回転テーブル35を昇降するための
昇降モータ50、昇降ギア51、昇降軸52を付加した
構成としている。更に、上面検出器41の下部に、物品
15の高さhを検出するための高さ検出スイッチ53を
備えている。
【0088】上面検出器41の下端からの距離lの位置
に、高さ検出スイッチ53を設けている。昇降モータ5
0の力を、昇降ギア51を介して昇降機52に伝えるこ
とによって、物品15の上端部を、高さ検出スイッチ5
3が検出するように、回転テーブル35を昇降できるよ
うにしている。
【0089】次に、以上のように構成した本実施の形態
の作用について説明する。
【0090】第1の実施の形態の物品表面汚染モニタに
おいては、図2に示すように、回転テーブル35は高さ
方向が固定であり、物品と上面検出器41との距離は、
物品15の高さに依存する。このため、物品15の高さ
hが低い場合においては、物品15の表面から放出され
るβ線が、空気中にて減衰し、上面検出器41の検出感
度に影響が生じる事もあり、その結果、測定不可能な物
品もあった。
【0091】この点、本実施の形態による物品表面汚染
モニタは、回転テーブル35を昇降することによって、
常に上面検出器41と物品上面の距離lはほぼ一定に保
つことが可能となる。その結果、物品の高さhに関わら
ず、検出感度の均一な測定を達成する事が可能となる。
【0092】上述したように、本実施の形態の物品表面
汚染モニタにおいては、上記のような作用により、物品
15の高さhに係わらず、常に上面検出器41と物品上
面の距離lはほぼ一定に保たれ、検出感度の均一な測定
を達成する事ができる。
【0093】その結果、物品15の高さhに関わらず、
検出感度の均一な測定を達成することが可能となる。
【0094】(第4の実施の形態)本発明の第4の実施
の形態を図11を用いて説明する。
【0095】図11は、本実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成例を示す全体図であり、それぞれ、図1
1(a)は平面図、図11(b)と図11(c)とは、
それぞれ、本実施の形態による物品表面汚染モニタが具
備する物品自動搬出装置の縦正面図と横正面図である。
【0096】図11(a)に示す本実施の形態による物
品表面汚染モニタは、第2の実施の形態における図7を
改良したものであり、図7と同一部分には同一符号を付
してその説明を省略し、ここでは異なる部分のみについ
て説明を加える。
【0097】すなわち、本実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成は、図11に示すように、図7の構成
に、物品自動搬出装置60を付加したものである。
【0098】この物品自動搬出装置60は、取出機構6
1を備えている。この取出機構61は、伸縮自在の測定
皿取出しレバー62を駆動し、これによって、待機室3
4から物品を載荷した測定皿37を搬出し、更に、傾斜
コンベヤ63上のプレート64に載せることができるよ
うにしている。
【0099】プレート64が測定皿37を載荷すると、
傾斜コンベヤ63の後端が上昇することにより傾斜を形
成し、この傾斜に沿って測定皿37を載せたプレート6
4が滑り降り、スロープローラ65に移動できるように
している。
【0100】スロープローラ65に到達したプレート6
4は、スロープローラ65上を滑り降り、測定皿37を
載荷したプレート64を回収するストッカ66まで移動
できるようにしている。
【0101】本実施の形態による物品表面汚染モニタ
は、これにより、測定皿37の自動取出しおよびストッ
クができるような構成をなしている。
【0102】次に、以上のように構成した本実施の形態
の作用について説明する。
【0103】本発明の第1から第3の実施の形態におい
ては、物品を物品表面汚染モニタにセットする場合は、
作業員が物品セット室31から、前の測定に用いていた
測定皿37を取出し、この測定皿37に物品15を載せ
て、物品表面汚染モニタにセットしている。
【0104】この方法は、次の作業員の物品セットの準
備行為の間だけ、時間ロスが生じる事、皿の汚染が蓄積
しやすい事、などの問題が有る。
【0105】この点、本実施の形態で示すような、物品
自動搬出装置60は、測定に用いた測定皿37を自動的
に回収することができる。
【0106】従って、本実施の形態の物品表面汚染モニ
タにおいては、上記のような作用により、作業員の負担
を軽減し、測定作業をより効率化する事ができる。
【0107】その結果、第1〜第3の実施の形態で得ら
れた効果に加えて、作業員の負担を軽減し、測定作業を
より効率化した物品表面汚染モニタを実現することが可
能となる。
【0108】(第5の実施の形態)本発明の第5の実施
の形態を図12と図13とを用いて説明する。
【0109】図12(a)と図12(b)とは、本発明
の実施の形態による物品表面汚染モニタの構成例を示す
平断面図、また図13は、図12に用いられている回転
テーブル35の構成を示す斜視図である。なお、図1
2、図13のいずれにおいても、図1および図2と同一
部分には同一符号を付してその説明を省略し、ここでは
異なる部分のみについて説明を加える。
【0110】本実施の形態による物品表面汚染モニタ
は、図12および図13に示すように、図1および図2
と比べて以下の点が異なっている。
【0111】すなわち、本実施の形態による物品表面汚
染モニタは、図12(a)に示すように、測定室32に
は検出器を備えず、代わりに図13に示すように、回転
テーブル35内に下面検出器42を、回転テーブル35
上の仕切板70内に側面検出器40をそれぞれ備えてい
る。
【0112】仕切板70は、回転テーブル35の上面
を、物品セット室31、測定室32、取出し室33、待
機室34の各セルの形状に合わせて4分割してあり、こ
れによって回転テーブル35上の物品を、所定のセルに
確実に移送できるようにしている。
【0113】下面検出器42は、必ずしも回転テーブル
35の全面に亘って配置する必要は無く、また側面検出
器40も必ずしも仕切板70の全側面に亘って配置する
必要は無い。図13では、仕切板70で4分割されたう
ちのある1領域のみに検出器を備えた例を示している。
すなわち、4分割された回転テーブル35面のある1領
域のみに下面検出器42を、また、この領域に面してい
る仕切板70の側面に側面検出器40をそれぞれ配置し
ている。
【0114】次に、このように回転テーブル35に検出
器を配置した物品表面汚染モニタの動作について簡単に
説明する。
【0115】図12(a)に示すように、回転テーブル
35の検出器が配置されている領域が物品セット室31
にある状態において、物品を入口孔36を介して物品表
面汚染モニタ30に搬入する。
【0116】次に、図12(b)に示すように、回転テ
ーブル35を90°図示矢印方向に回転することによ
り、物品を測定室32に移送するようにする。測定室3
2は、その外側に鉛遮蔽体43を備えており、これによ
って、物品表面汚染モニタ外側からの放射線を遮蔽した
状態で測定を行うことができる。
【0117】測定室32における測定が終了後、再び回
転テーブル35を同じ方向に90°回転させることによ
り物品を取出し室33に移送し、取出し室33の出口孔
44から物品を物品表面汚染モニタから搬出できる。
【0118】このように、本実施の形態による物品表面
汚染モニタは、測定室32に検出器を備えていないが、
回転テーブル35と仕切板70とに検出器を備え、物品
を測定室32に移送するときに検出器も共に測定室に移
動するようにしたものである。
【0119】従って、本実施の形態の物品表面汚染モニ
タは、従来の物品表面汚染モニタに比べて、メカ機構を
簡素化でき、その結果、メカ機構の動作時間を短縮化す
ることができる。
【0120】(第6の実施の形態)本発明の第6の実施
の形態を図14と図15とを用いて説明する。
【0121】図14は、本発明の実施の形態による物品
表面汚染モニタの構成例を示す平断面図、また図15
は、図14に用いられている回転テーブル35の構成例
を示す斜視図である。なお、図14、図15のいずれに
おいても、図12および図13と同一部分には同一符号
を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分のみに
ついて説明を加える。
【0122】本実施の形態による物品表面汚染モニタ
は、図14および図15に示すように、図12および図
13と比べて以下の点が異なっている。
【0123】すなわち、本実施の形態による物品表面汚
染モニタは、図14に示すように、正方形状の回転テー
ブル35を有している。また、物品表面汚染モニタ内に
は、入口孔36を介して物品の搬入及び搬出を行なう物
品セット室31と、物品の放射能汚染を検出する測定室
32との2つの領域を備えている。測定室32の周囲に
は、物品表面汚染モニタ外側からの放射線を遮蔽するた
めに鉛遮蔽体43を設けている。
【0124】回転テーブル35面には、図15に示すよ
うに、上記2つの領域の形状に合わせて、面を2領域に
分割するように仕切板70を設けている。更に、2分割
された回転テーブル35面のうち、片方の領域において
は、回転テーブル35面内および仕切板70内に下面検
出器42および側面検出器40をそれぞれ設けている。
【0125】次に、このように検出器を配置した物品表
面汚染モニタの動作について簡単に説明する。
【0126】図14に示すように、回転テーブル35
の、検出器が配置されている領域が物品セット室31に
ある状態において、物品を入口孔36を介して物品表面
汚染モニタに搬入する。
【0127】次に、回転テーブル35を180°図示矢
印方向に回転することにより、物品を測定室32に移送
する。測定室32の外壁には鉛遮蔽体43が設けられて
おり、これによって、物品表面汚染モニタ外側からの放
射線が遮蔽された状態で測定を行うことができる。
【0128】測定室32における測定が終了後、再び回
転テーブル35を上記と同じ方向に180°回転させる
ことにより、物品を再び物品セット室31に戻し、入口
孔36から物品を物品表面汚染モニタ外に搬出する。
【0129】従って、本実施の形態の物品表面汚染モニ
タは、回転テーブル35の採用によって、従来の物品表
面汚染モニタに比べて、メカ機構を簡素化でき、その結
果、メカ機構の動作時間を短縮化することができる。な
お、回転テーブル35の形状に関しては、回転軸39を
中心に対称形状であればよく、本実施の形態のように正
多角形であってもよい。
【0130】また、本実施の形態の物品表面汚染モニタ
は、物品の搬出入を行う物品セット室31と、測定を行
う測定室32との必要最低限な2つの領域しか備えてい
ないので、その結果、モニタの小型化を図ることも可能
となる。
【0131】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の物品表面
汚染モニタによれば、回転テーブルの導入により、メカ
機構を簡素化し、メカ機構の動作時間を短縮化すること
ができる。
【0132】これにより、処理効率が向上した物品表面
汚染モニタの実現が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による物品表面汚染
モニタの構成例を示す平断面図。
【図2】本発明の第1の実施の形態による物品表面汚染
モニタの構成例を示すA−A’断面図。
【図3】図1におけるB−B’矢視図。
【図4】図1におけるC−C’矢視図。
【図5】本実施の第1の実施の形態による物品表面汚染
モニタによる測定のフローチャート。
【図6】本実施の第1の実施の形態による物品表面汚染
モニタによる連続測定の例を示すタイムチャート。
【図7】本発明の第2の実施の形態による物品表面汚染
モニタの構成例を示す平断面図。
【図8】図7におけるD−D’線とE−E’線とに沿っ
た矢視図。
【図9】本発明の第2の実施の形態による物品表面汚染
モニタによる連続測定の例を示すタイムチャート。
【図10】本発明の第3の実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成例を示すA−A’断面図。
【図11】本発明の第4の実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成例を示す全体図。
【図12】本発明の第5の実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成例を示す平断面図。
【図13】本発明の第5の実施の形態による物品表面汚
染モニタに用いる回転テーブルの構成例を示す斜視図。
【図14】本発明の第6の実施の形態による物品表面汚
染モニタの構成例を示す平断面図。
【図15】本発明の第6の実施の形態による物品表面汚
染モニタに用いる回転テーブルの構成例を示す斜視図。
【図16】従来から用いている物品表面汚染モニタの一
例を示す外観図。
【図17】図16に示す物品表面汚染モニタの正断面
図。
【図18】図16に示す物品表面汚染モニタの右側断面
図。
【図19】図16に示す物品表面汚染モニタの測定室に
おける検出器の配置例を示す図。
【図20】従来型物品表面汚染モニタによる測定のフロ
ーチャート。
【符号の説明】
1…従来の物品表面汚染モニタ、 2…入口側テーブル、 3…入口側扉、 4…操作パネル、 5…表示パネル、 6…入口コンベヤ、 7…測定室、 8…テーブル、 10…出口側扉、 11…出口コンベヤ、 12…出口側テーブル、 15…物品、 20〜28…放射線検出器、 30…本発明の物品表面汚染モニタ、 31…物品セット室、 32…測定室、 33…取出し室、 34…待機室、 35…回転テーブル、 36…入口孔、 37…測定皿、 38…回転モータ、 39…回転軸、 40…側面検出器、 41…上面検出器、 42…下面検出器、 43…鉛遮蔽体、 44…出口孔、 50…昇降モータ、 51…昇降ギア、 52…昇降軸、 52…高さ検出スイッチ、 56…回転モータ、 60…物品自動搬出装置、 61…取出機構、 62…測定皿取出しレバー、 63…傾斜コンベヤ、 64…プレート、 65…スロープローラ、 66…ストッカ 70…仕切板。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線管理区域と非放射線管理区域との
    間に設けられ、物品の搬入および搬出を行なう搬出入口
    と、回転軸を中心として回転することにより、前記物品
    の放射能汚染を検知する領域である検知領域と前記搬出
    入口との間で前記物品の移送を行なう回転テーブルと、
    少なくとも前記検知領域または前記回転テーブルに設け
    られ、前記物品の放射能汚染を検知する放射線検出器と
    を備えたことを特徴とする物品表面汚染モニタ。
  2. 【請求項2】 放射線管理区域から非放射線管理区域へ
    と持ち出す物品を搬入する搬入口を設けた第1のセル
    と、前記物品の放射能汚染を検知する放射線検出器を備
    えた第2のセルと、前記物品を搬出する搬出口を設けた
    第3のセルと、前記物品を所定の前記セルに移送する回
    転テーブルとを備え、前記第1のセルに搬入された物品
    を、前記回転テーブルにより前記第2のセルに移送し
    て、当該第2のセルで放射能汚染の検知を行い、放射能
    汚染が無いと判定された物品を、前記回転テーブルによ
    り前記第3のセルに移送して、前記搬出口から搬出し、
    また放射能汚染が有りと判定された物品を、前記回転テ
    ーブルにより当該第2のセルから前記第1のセルに戻す
    ことを特徴とする物品表面汚染モニタ。
  3. 【請求項3】 前記請求項2に記載の物品表面汚染モニ
    タにおいて、前記第1のセルと前記第3のセルとの間
    に、放射線検出器を備えた第4のセルを付加したことを
    特徴とする物品表面汚染モニタ。
  4. 【請求項4】 前記請求項3に記載の物品表面汚染モニ
    タにおいて、前記第3のセルに放射線検出器を備え、か
    つ、前記第4のセルに、放射能汚染が無いと判定された
    物品を搬出する搬出口を設けたことを特徴とする物品表
    面汚染モニタ。
  5. 【請求項5】 前記請求項2乃至4のうちいずれか1項
    に記載の物品表面汚染モニタにおいて、前記回転テーブ
    ルの回転軸上に、前記回転テーブルを昇降する昇降手段
    を設け、前記第2のセルは、前記放射線検出器を少なく
    とも上面に備えると共に、物品の最上部を検知する検知
    手段を付加し、前記検知手段が前記物品の最上部を検知
    するように前記昇降手段により前記回転テーブルを昇降
    することにより、前記第2のセルの上面の放射線検出器
    と前記物品の最上部との距離を一定に保つことを特徴と
    する物品表面汚染モニタ。
  6. 【請求項6】 前記請求項4に記載の物品表面汚染モニ
    タにおいて、前記第4のセルの搬出口の外側に、当該搬
    出口から前記物品を取り出す取出手段、前記取り出され
    た物品を移送する移送手段、前記移送手段により移送さ
    れた物品を受け取る回収手段から成る物品自動搬出手段
    を設けたことを特徴とする物品表面汚染モニタ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014032027A (ja) * 2012-08-01 2014-02-20 Shimadzu Corp 放射能検査装置
JP2014032026A (ja) * 2012-08-01 2014-02-20 Shimadzu Corp 放射能検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014032027A (ja) * 2012-08-01 2014-02-20 Shimadzu Corp 放射能検査装置
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