JP2000223357A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

積層セラミックコンデンサ

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JP2000223357A
JP2000223357A JP10366436A JP36643698A JP2000223357A JP 2000223357 A JP2000223357 A JP 2000223357A JP 10366436 A JP10366436 A JP 10366436A JP 36643698 A JP36643698 A JP 36643698A JP 2000223357 A JP2000223357 A JP 2000223357A
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multilayer ceramic
ceramic capacitor
gap
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Tetsuya Ueda
哲也 上田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 圧電現象により生ずる音を低減できる積層セ
ラミックコンデンサを提供する。 【解決手段】 素体13の両端に内部電極に導電接続さ
れた金属端子15を設けて外部端子電極を形成し、金属
端子15を素体13の底面よりも突出させることによ
り、回路基板に実装した際に、回路基板とこれに対向す
る素体面(素体13の底面)との間に所定長さの間隙を
形成できるようにする。これにより、金属端子15によ
って回路基板との間に間隙が形成されるので、素体13
に圧電効果による振動が発生した場合に、振幅が最も大
きくなる素体13の中央部における振動は間隙内の空気
によって空間に発散され、素体振動が直接回路基板へ伝
達されることがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧電現象による発
生音を低減できる積層セラミックコンデンサに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、DC−DCコンバータ等の電源回
路における平滑回路では、電源平滑用のコンデンサとし
てアルミニウム電解コンデンサが多く用いられていた。
【0003】しかし、近年の電子回路及び電子機器の小
型化に伴い、同容量が小型形状で得られるタンタル電解
コンデンサを電源平滑回路等の高静電容量を必要とする
電子回路に用いるようになった。
【0004】一方、近年の電子回路及び電子機器の小型
化、省エネルギー化に伴い、電子回路に使用されるコン
デンサのほとんどが積層セラミックコンデンサに移行し
てきている。
【0005】積層セラミックコンデンサは、小型であっ
て、信頼性、耐久性に優れているので、急速に普及した
ものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、積層セ
ラミックコンデンサは、誘電体材料として強誘電体を用
いているため、直流電圧を印加しながら、交流電圧を印
加すると圧電現象が生じて振動が発生する。この振動
は、形状が大きいものほど顕著に現れる。
【0007】このため、電源回路の平滑回路では、比較
的形状が大きく且つ静電容量の大きな積層セラミックコ
ンデンサを用いることが多いので、この種の振動が発生
することが多々あった。
【0008】また、積層セラミックコンデンサに上記振
動が発生したとき、コンデンサの振動が実装基板に伝わ
り、基板が共鳴して音が増幅されることがある。即ち、
コンデンサの実装状態によっては、コンデンサの振動に
よって、周囲の空気が振動して音が発生すると共に基板
も共鳴振動する。このため、音圧が大きくなり可聴音と
して耳障りになるという問題点があった。
【0009】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、圧電
現象により生ずる音を低減できる積層セラミックコンデ
ンサを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために請求項1では、誘電体セラミックからなる
誘電体層と内部電極層とを交互に積層してなる直方体形
状の素体と、該素体の両端部において該内部電極層に形
成された内部電極を交互に並列に接続している一対の外
部端子電極とからなり、回路基板に実装される積層セラ
ミックコンデンサであって、前記外部端子電極は、少な
くとも回路基板と該回路基板の対向する素体面との間に
所定長さの間隙を形成する形状をなしている積層セラミ
ックコンデンサを提案する。
【0011】該積層セラミックコンデンサによれば、前
記外部端子電極によって回路基板と対向面との間に所定
長さの間隙が形成されるので、前記素体に圧電効果によ
る振動が発生した場合に、該振動は前記間隙内の空気に
よって空間に発散され、前記素体振動の前記回路基板へ
の伝達率が低減される。
【0012】また、請求項2では、請求項1記載の積層
セラミックコンデンサにおいて、前記外部端子電極は、
前記基板との対向面側端部が素体の中央部側に略U字形
状に折り曲げられた形状の金属端子からなり、該金属端
子のU字形状部分の内側から前記素体の基板対向面にか
けて振動緩衝材が充填されている積層セラミックコンデ
ンサを提案する。
【0013】該積層セラミックコンデンサによれば、前
記素体に圧電効果による振動が発生した場合に、該振動
は前記間隙内の空気によって空間に発散されると共に前
記振動緩衝材に吸収されるので、前記素体振動の前記回
路基板への伝達率が低減される。
【0014】また、請求項3では、請求項2記載の積層
セラミックコンデンサにおいて、前記金属端子のU字形
状部分の折り返し部先端と前記素体の基板対向面との間
に所定幅の隙間が形成されている積層セラミックコンデ
ンサを提案する。
【0015】該積層セラミックコンデンサによれば、前
記素体に圧電効果による振動が発生した場合に、素体か
ら前記金属端子のU字形状部分の折り返し部先端への直
接の振動伝達が前記隙間によって阻止されるので、前記
素体振動の前記回路基板への伝達率がさらに低減され
る。
【0016】また、請求項4では、請求項1記載の積層
セラミックコンデンサにおいて、前記間隙には振動緩衝
材が充填されている積層セラミックコンデンサを提案す
る。
【0017】該積層セラミックコンデンサによれば、前
記外部端子電極によって回路基板と対向面との間に所定
長さの間隙が形成され、該隙間内に振動緩衝材が充填さ
れているので、前記素体に圧電効果による振動が発生し
た場合に、該振動は前記間隙内の振動緩衝材によって吸
収され、前記素体振動の回路基板への伝達率が低減され
る。
【0018】また、請求項5では、請求項2乃至4の何
れかに記載の積層セラミックコンデンサにおいて、前記
振動緩衝材は、前記誘電体セラミックとは異なる密度と
硬度を有する樹脂である積層セラミックコンデンサを提
案する。
【0019】該積層セラミックコンデンサによれば、前
記振動緩衝材が前記誘電体セラミックとは異なる密度と
硬度を有する樹脂であるため、前記素体に発生する振動
を効率よく吸収できると共に、製造も容易に行える。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。
【0021】図1は、本発明の第1の実施形態における
積層セラミックコンデンサを示す外観斜視図、図2は側
面断面図である。図において、1Aは積層セラミックコ
ンデンサ(以下、単にコンデンサと称す)で、誘電体層
11と内部電極12とを交互に積層してなる直方体形状
の素体13と、素体13の両端部において内部電極を交
互に並列に接続している一対の外部電極14とから構成
されている。
【0022】誘電体層11は、矩形のシート状のセラミ
ック焼結体からなり、セラミック焼結体は、例えばチタ
ン酸バリウム等を主成分とする誘電体磁器材料から形成
されている。
【0023】内部電極12は金属ペーストを焼結させた
金属薄膜からなり、金属ペーストとしては、例えばPd
やAg−Pdのような貴金属材料またはNiのような卑
金属材料を主成分とするものが使用されている。
【0024】外部電極14は、素体13の互いに対向す
る一対の端面から4つの側面にかけて連続して、内部電
極12と同様の材料により形成され、表面には半田濡れ
性をよくするために半田メッキが施されている。また、
図2に示すように、本実施形態における外部電極14は
従来のものと異なり、素体13の側面に形成された部分
の外部電極14の側面からの高さH1が従来よりも大き
く設定されている。
【0025】この素体側面部に形成された外部電極14
の高さH1(回路基板と素体面との間の間隙の長さ)と
しては、本発明が目的とする効果を得るためには0.1
mm以上の値に設定することが好ましい。
【0026】前述の構成よりなるコンデンサ1Aによれ
ば、図2に示すように、回路基板2へ実装したときに、
回路基板2の表面と素体13の基板対向面13aとの間
には、外部電極14によって間隙3が形成される。
【0027】従って、例えばDC−DCコンバータ等の
電源平滑回路に用いて外部電極14間に直流電圧を印加
しながら交流電圧が印加された場合、圧電現象が生じて
素体13に振動が発生するが、素体13の両端は外部電
極14によって回路基板2に固定されているので、素体
13の中央部に顕著に現れる。しかし、この振動は間隙
3内の空気によって空間に発散され、素体13の振動の
回路基板2への伝達率が低減される。これにより、素体
13の振動による回路基板2の共鳴を防止することがで
き、圧電効果によって生じる振動に伴う従来のような可
聴音の発生を防止することができる。
【0028】次に、本発明の第2の実施形態を説明す
る。
【0029】図3は、本発明の第2の実施形態における
積層セラミックコンデンサ1Bを示す外観斜視図、図4
は分解斜視図、図5は側面断面図である。図において、
前述した第1の実施形態と同一構成部分は同一符号をも
って表しその説明を省略する。
【0030】1Bは積層セラミックコンデンサ(以下、
単にコンデンサと称す)で、誘電体層11と内部電極1
2とを交互に積層してなる素体13と、素体13の両端
部において内部電極を交互に並列に接続している一対の
外部電極14’と、外部電極14’に導電接続された金
属端子(外部端子電極)15とから構成されている。
【0031】第2の実施形態では、既存のコンデンサに
対して金属端子15を設けることにより、回路基板実装
時に回路基板と素体13との間に間隙が形成されるよう
にした。
【0032】ここで、外部電極14’は従来と同様に形
成されたもので、内部電極12と同様の材料により形成
され、表面には半田濡れ性をよくするために半田メッキ
が施されている。
【0033】また、金属端子15は、例えばコンデンサ
1Bと同等の幅を有する銅片からなり、その一端部15
aは略L字形状に折り曲げられ、他端部15bは略U字
形状に素体13の中央部側に折り曲げられている。この
金属端子15は素体13の両端面及びその周辺に形成さ
れた外部電極14’と高温半田16を用いて導電接続さ
れている。ここで、この高温半田の融点は、コンデンサ
1Bを回路基板に実装する際に用いる半田の融点よりも
高いものである。
【0034】これにより、金属端子15の一端部15a
は素体13の端部及び端面に密着した状態となるが、他
端部15bは素体13の側面よりもU字形状に折り曲げ
られた部分が突出した状態となる。この突出部分の長さ
L1(回路基板と素体面との間の間隙の長さ)として
は、本発明が目的とする効果を得るためには0.1mm
以上の値に設定することが好ましい。
【0035】前述の構成よりなるコンデンサ1Bによれ
ば、図6及び図7に示すように、回路基板2へ実装する
ときは金属端子15の他端部15bを回路基板2のラン
ド21に当接して金属端子15をランド21に半田付け
或いは半田ボンディングによって導電接続する。これに
より、回路基板2の表面と素体13の基板対向面13a
との間には、金属端子15の他端部15bによって間隙
3が形成される。
【0036】従って、例えばDC−DCコンバータ等の
電源平滑回路に用いて一対の金属端子15間に直流電圧
を印加しながら交流電圧が印加された場合、圧電現象が
生じて素体13に振動が発生するが、素体13の両端は
金属端子15によって回路基板2に固定されているの
で、素体13の中央部に顕著に現れる。しかし、この振
動は間隙3内の空気によって空間に発散され、素体13
の振動の回路基板2への伝達率が低減される。これによ
り、素体13の振動による回路基板2の共鳴を防止する
ことができ、圧電効果によって生じる振動に伴う従来の
ような可聴音の発生を防止することができる。
【0037】次に、本発明の第3の実施形態を説明す
る。
【0038】図8は第3の実施形態における積層セラミ
ックコンデンサ1Cを示す外観斜視図、図9はその側面
断面図である。図において、前述した第2の実施形態と
同一構成部分は同一符号をもって表しその説明を省略す
る。また、第2の実施形態と第3の実施形態との相違点
は、第3の実施形態では金属端子15の他端部15bに
形成されたU字形状部の内面及び素体13の表面に囲ま
れる部分に振動緩衝材として樹脂17を充填したことに
ある。
【0039】この樹脂17は、例えばシリコン樹脂であ
り、素体13を形成するセラミック焼結体及び金属端子
15とは異なる密度及び硬度を有するものである。
【0040】金属端子15の他端部15bに、素体13
を形成するセラミック焼結体及び金属端子15とは異な
る密度及び硬度を有する樹脂17を充填することによ
り、素体13に圧電効果による振動が発生した場合に、
この振動は間隙3内の空気によって空間に発散されると
共に金属端子15のU字形状部分に充填されている樹脂
17に吸収されるので、素体振動の回路基板2への伝達
率をさらに低減することができる。
【0041】次に、本発明の第4の実施形態を説明す
る。
【0042】図10は第4の実施形態における積層セラ
ミックコンデンサ1Dを示す側面断面図である。図にお
いて、前述した第3の実施形態と同一構成部分は同一符
号をもって表しその説明を省略する。また、第3の実施
形態と第4の実施形態との相違点は、第4の実施形態で
は金属端子15の他端部15bに形成されたU字形状部
の折り返し片15cの端15dと素体13との間に隙間
18が形成されている点である。即ち、金属端子15の
U字形状部の折り返し片15cの端15dは素体13に
接触していない。
【0043】これにより、素体13の振動が金属端子1
5の折り返し片15cに直接伝達されることがない。前
述の第3の実施形態において、金属端子15の折り返し
片15cの端15dの接触部における素体13の振動は
端面における振動よりもやや大きい。従って、素体13
と金属端子15の折り返し片15c間に隙間18を形成
することにより、素体振動の回路基板2への伝達率をさ
らに低減することができる。
【0044】次に、本発明の第5の実施形態を説明す
る。
【0045】図11は第5の実施形態における積層セラ
ミックコンデンサ1Eを示す外観斜視図、図12はその
側面断面図である。図において、前述した第2の実施形
態と同一構成部分は同一符号をもって表しその説明を省
略する。また、第2の実施形態と第5の実施形態との相
違点は、素体13の側面よりも突出した金属端子15の
他端部15b間、即ちコンデンサ1Eを回路基板2に実
装したときに、回路基板2の表面と素体13の基板対向
面13aとの間に形成される間隙3に振動緩衝材として
樹脂19を充填したことにある。この樹脂19は、前述
の樹脂17と同様に例えばシリコン樹脂であり、素体1
3を形成するセラミック焼結体及び金属端子15とは異
なる密度及び硬度を有するものである。
【0046】このように金属端子15によって回路基板
2と対向面との間に形成される間隙3内に振動緩衝材と
して樹脂19を充填したことにより、素体13に圧電効
果による振動が発生した場合、最も振幅が大きくなる素
体13の中央部における振動が樹脂19によって吸収さ
れるので、素体振動の回路基板2への伝達率が低減され
る。これにより、素体13の振動による回路基板2の共
鳴を防止することができ、圧電効果によって生じる振動
に伴う従来のような可聴音の発生を防止することができ
る。
【0047】尚、第1乃至第5の実施形態は一例であ
り、本発明がこれらに限定されることはない。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項1に
よれば、素体に圧電効果による振動が発生した場合に、
該振動は外部端子電極によって回路基板と対向面との間
に形成された間隙内の空気によって空間に発散され、前
記素体振動の前記回路基板への伝達率が低減されるの
で、前記振動による基板の共鳴を防止することができ
る。これにより、圧電効果による前記素体振動に伴う従
来のような可聴音の発生を防止することができる。
【0049】また、請求項2又は3によれば、上記の効
果に加えて、前記素体に圧電効果による振動が発生した
場合に、該振動は前記間隙内の空気によって空間に発散
されると共に金属端子のU字形状部分の内側から前記素
体の基板対向面にかけて充填されている振動緩衝材に吸
収されるので、前記素体振動の回路基板への伝達率をさ
らに低減することができる。
【0050】また、請求項3によれば、上記の効果に加
えて、前記素体から前記金属端子のU字形状部分の折り
返し部先端への直接の振動伝達が隙間によって阻止され
るので、前記素体振動の回路基板への伝達率をさらに低
減することができる。
【0051】また、請求項4によれば、素体に圧電効果
による振動が発生した場合に、該振動は外部端子電極に
よって回路基板と対向面との間に形成された間隙内に充
填された振動緩衝材によって吸収され、前記素体振動の
前記回路基板への伝達率が低減されるので、前記振動に
よる基板の共鳴を防止することができる。これにより、
圧電効果による前記素体振動に伴う従来のような可聴音
の発生を防止することができる。
【0052】また、請求項5によれば、上記の効果に加
えて、前記振動緩衝材が前記素体を形成する誘電体セラ
ミックとは異なる密度と硬度を有する樹脂であるため、
前記素体に発生する振動を効率よく吸収できると共に、
製造も容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す外観斜視図
【図2】本発明の第1の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す側面断面図
【図3】本発明の第2の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す外観斜視図
【図4】本発明の第2の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す分解斜視図
【図5】本発明の第2の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す側面断面図
【図6】本発明の第2の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサの回路基板への実装状態を示す斜視図
【図7】本発明の第2の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサの回路基板への実装状態を示す側面断面図
【図8】本発明の第3の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す外観斜視図
【図9】本発明の第3の実施形態における積層セラミッ
クコンデンサを示す側面断面図
【図10】本発明の第4の実施形態における積層セラミ
ックコンデンサを示す側面断面図
【図11】本発明の第5の実施形態における積層セラミ
ックコンデンサを示す外観斜視図
【図12】本発明の第5の実施形態における積層セラミ
ックコンデンサを示す側面断面図
【符号の説明】
1A〜1E…積層セラミックコンデンサ、11…誘電体
層、12…内部電極、13…素体、14、14’…外部
電極、15…金属端子(外部端子電極)、16…高温半
田、17…樹脂(振動緩衝材)、18…隙間、19…樹
脂(振動緩衝材)、2…回路基板、21…ランド、3…
間隙。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 誘電体セラミックからなる誘電体層と内
    部電極層とを交互に積層してなる直方体形状の素体と、
    該素体の両端部において該内部電極層に形成された内部
    電極を交互に並列に接続している一対の外部端子電極と
    からなり、回路基板に実装される積層セラミックコンデ
    ンサであって、 前記外部端子電極は、少なくとも回路基板と該回路基板
    の対向する素体面との間に所定長さの間隙を形成する形
    状をなしていることを特徴とする積層セラミックコンデ
    ンサ。
  2. 【請求項2】 前記外部端子電極は、前記基板との対向
    面側端部が素体の中央部側に略U字形状に折り曲げられ
    た形状の金属端子からなり、該金属端子のU字形状部分
    の内側から前記素体の基板対向面にかけて振動緩衝材が
    充填されていることを特徴とする請求項1記載の積層セ
    ラミックコンデンサ。
  3. 【請求項3】 前記金属端子のU字形状部分の折り返し
    部先端と前記素体の基板対向面との間に所定幅の隙間が
    形成されていることを特徴とする請求項2記載の積層セ
    ラミックコンデンサ。
  4. 【請求項4】 前記間隙には振動緩衝材が充填されてい
    ることを特徴とする請求項1記載の積層セラミックコン
    デンサ。
  5. 【請求項5】 前記振動緩衝材は、前記誘電体セラミッ
    クとは異なる密度と硬度を有する樹脂であることを特徴
    とする請求項2乃至4の何れかに記載の積層セラミック
    コンデンサ。
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003257784A (ja) * 2002-02-28 2003-09-12 Tdk Corp 電子部品
JP2004153121A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Sony Corp 情報処理装置、電源回路及びコンデンサ
US6807047B2 (en) 2002-10-08 2004-10-19 Tdk Corporation Electronic device and interposer board
CN102730311A (zh) * 2010-12-21 2012-10-17 三星电机株式会社 封装单元及封装多个多层陶瓷电容器的方法
JP2014027085A (ja) * 2012-07-26 2014-02-06 Tdk Corp 電子部品
KR101379196B1 (ko) 2007-01-30 2014-03-31 티디케이가부시기가이샤 적층 콘덴서
WO2014120339A1 (en) * 2013-02-01 2014-08-07 Apple Inc. Low acoustic noise capacitors
JP2015019037A (ja) * 2013-07-09 2015-01-29 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 積層セラミックキャパシタ及びその実装基板
KR101525666B1 (ko) * 2013-07-11 2015-06-03 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조 방법
US20160042869A1 (en) * 2014-08-05 2016-02-11 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor and board having the same
CN106304610A (zh) * 2015-06-09 2017-01-04 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 电路板
CN108461290A (zh) * 2017-02-22 2018-08-28 太阳诱电株式会社 带金属端子的电子部件

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003257784A (ja) * 2002-02-28 2003-09-12 Tdk Corp 電子部品
US6807047B2 (en) 2002-10-08 2004-10-19 Tdk Corporation Electronic device and interposer board
CN1329932C (zh) * 2002-10-08 2007-08-01 Tdk株式会社 电子元件以及中间基板
JP2004153121A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Sony Corp 情報処理装置、電源回路及びコンデンサ
KR101379196B1 (ko) 2007-01-30 2014-03-31 티디케이가부시기가이샤 적층 콘덴서
CN102730311A (zh) * 2010-12-21 2012-10-17 三星电机株式会社 封装单元及封装多个多层陶瓷电容器的方法
CN102730311B (zh) * 2010-12-21 2015-04-01 三星电机株式会社 封装单元及封装多个多层陶瓷电容器的方法
JP2014027085A (ja) * 2012-07-26 2014-02-06 Tdk Corp 電子部品
WO2014120339A1 (en) * 2013-02-01 2014-08-07 Apple Inc. Low acoustic noise capacitors
US9287049B2 (en) 2013-02-01 2016-03-15 Apple Inc. Low acoustic noise capacitors
US9269491B2 (en) 2013-07-09 2016-02-23 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor and mounting circuit board therefor
JP2015019037A (ja) * 2013-07-09 2015-01-29 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 積層セラミックキャパシタ及びその実装基板
KR101525666B1 (ko) * 2013-07-11 2015-06-03 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조 방법
US9305704B2 (en) 2013-07-11 2016-04-05 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor and manufacturing method thereof
US20160042869A1 (en) * 2014-08-05 2016-02-11 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor and board having the same
US9842699B2 (en) * 2014-08-05 2017-12-12 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor having terminal electrodes and board having the same
CN106304610A (zh) * 2015-06-09 2017-01-04 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 电路板
CN108461290A (zh) * 2017-02-22 2018-08-28 太阳诱电株式会社 带金属端子的电子部件
JP2018137337A (ja) * 2017-02-22 2018-08-30 太陽誘電株式会社 金属端子付き電子部品
KR20180097148A (ko) * 2017-02-22 2018-08-30 다이요 유덴 가부시키가이샤 금속 단자를 갖는 전자 부품
CN108461290B (zh) * 2017-02-22 2021-11-09 太阳诱电株式会社 带金属端子的电子部件
KR102450690B1 (ko) * 2017-02-22 2022-10-06 다이요 유덴 가부시키가이샤 금속 단자를 갖는 전자 부품

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