JP2000222579A - 疵判定方法及び疵判定装置 - Google Patents
疵判定方法及び疵判定装置Info
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- JP2000222579A JP2000222579A JP11025570A JP2557099A JP2000222579A JP 2000222579 A JP2000222579 A JP 2000222579A JP 11025570 A JP11025570 A JP 11025570A JP 2557099 A JP2557099 A JP 2557099A JP 2000222579 A JP2000222579 A JP 2000222579A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 信頼性が高い疵判定方法及びその実施に使用
する装置を提供する。 【解決手段】 判定部８は被判定物Ｓの像を構成する画
素の平均輝度Ｈを算出し、各係数ｐ1 〜ｐ3 と平均輝度
Ｈとをそれぞれ乗算して、第１〜第３閾輝度を生成す
る。判定部８は、被判定物Ｓの像を構成する各画素の輝
度と第１〜第３閾輝度とをそれぞれ比較し、各閾輝度別
に、その閾輝度より低い輝度の総画素数Ａ 1 〜Ａ3 をそ
れぞれ算出する。判定部８は、（１）式に総画素数Ａ1
〜Ａ3 を代入して評価値Ｋを求め、評価値Ｋが属する評
価値レベルに対応する疵等級を、被判定物Ｓの疵等級に
決定する。 Ｋ＝α1 ・Ａ1 ＋α2 ・Ａ2 ＋α3 ・Ａ3 …（１）
する装置を提供する。 【解決手段】 判定部８は被判定物Ｓの像を構成する画
素の平均輝度Ｈを算出し、各係数ｐ1 〜ｐ3 と平均輝度
Ｈとをそれぞれ乗算して、第１〜第３閾輝度を生成す
る。判定部８は、被判定物Ｓの像を構成する各画素の輝
度と第１〜第３閾輝度とをそれぞれ比較し、各閾輝度別
に、その閾輝度より低い輝度の総画素数Ａ 1 〜Ａ3 をそ
れぞれ算出する。判定部８は、（１）式に総画素数Ａ1
〜Ａ3 を代入して評価値Ｋを求め、評価値Ｋが属する評
価値レベルに対応する疵等級を、被判定物Ｓの疵等級に
決定する。 Ｋ＝α1 ・Ａ1 ＋α2 ・Ａ2 ＋α3 ・Ａ3 …（１）
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、青果物等の被判定
物を撮像して得た画像に基づいて、被判定物の表面に生
じた疵の程度を判定する方法、及びその実施に使用する
装置に関する。
物を撮像して得た画像に基づいて、被判定物の表面に生
じた疵の程度を判定する方法、及びその実施に使用する
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】予め定めた等級別に複数の青果物を選別
する選果場では、等級判定の一要素である青果物の表面
疵を次のように判定している。青果物を搬送するコンベ
ア上に複数の青果物を所定の間隔で一列に載置する。コ
ンベアの長手方向の適宜位置であってコンベアの上方
に、青果物を撮像する撮像装置が配設してあり、撮像装
置は、その撮像領域に青果物が搬送される都度、それを
撮像し、得られた画像を疵判定装置に与える。
する選果場では、等級判定の一要素である青果物の表面
疵を次のように判定している。青果物を搬送するコンベ
ア上に複数の青果物を所定の間隔で一列に載置する。コ
ンベアの長手方向の適宜位置であってコンベアの上方
に、青果物を撮像する撮像装置が配設してあり、撮像装
置は、その撮像領域に青果物が搬送される都度、それを
撮像し、得られた画像を疵判定装置に与える。
【０００３】疵判定装置は、撮像装置から与えられた画
像を記憶すると共に、それを２値化して２値化画像を生
成し、該２値化画像に基づいて青果物像の輪郭を定め
る。疵判定装置は、記憶した画像から、前述した如く定
めた青果物像の輪郭に対応する青果物の像を抽出し、得
られた青果物の像を構成する複数の画素の輝度の平均値
である平均輝度を算出する。
像を記憶すると共に、それを２値化して２値化画像を生
成し、該２値化画像に基づいて青果物像の輪郭を定め
る。疵判定装置は、記憶した画像から、前述した如く定
めた青果物像の輪郭に対応する青果物の像を抽出し、得
られた青果物の像を構成する複数の画素の輝度の平均値
である平均輝度を算出する。
【０００４】疵判定装置は、算出して得た平均輝度に基
づいて、該平均輝度より所定割合だけ低い輝度である閾
輝度を生成する。疵判定装置は、前記各画素の輝度と閾
輝度とを比較し、閾輝度より低い輝度の画素の数を求
め、それを疵面積とする。疵判定装置には、複数の疵等
級が疵面積の広さに応じて設定してあり、疵判定装置
は、前述した如く求めた疵面積に対応する疵等級を、そ
の青果物の疵等級に決定する。
づいて、該平均輝度より所定割合だけ低い輝度である閾
輝度を生成する。疵判定装置は、前記各画素の輝度と閾
輝度とを比較し、閾輝度より低い輝度の画素の数を求
め、それを疵面積とする。疵判定装置には、複数の疵等
級が疵面積の広さに応じて設定してあり、疵判定装置
は、前述した如く求めた疵面積に対応する疵等級を、そ
の青果物の疵等級に決定する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
疵判定装置では、一つの閾輝度より低い輝度の画素の総
数である疵面積に基づいて、疵の程度を判定しているの
で、虫食い疵の如く、本来は重い疵であるにも拘わら
ず、その面積が小さいために、軽い疵であると誤判定さ
れる場合があり、より信頼性が高い判定を行うことが要
求されていた。
疵判定装置では、一つの閾輝度より低い輝度の画素の総
数である疵面積に基づいて、疵の程度を判定しているの
で、虫食い疵の如く、本来は重い疵であるにも拘わら
ず、その面積が小さいために、軽い疵であると誤判定さ
れる場合があり、より信頼性が高い判定を行うことが要
求されていた。
【０００６】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であって、その目的とするところは被判定物の像を構成
する複数の画素の輝度の平均値を求め、平均値より低い
輝度である複数の閾値別に、前記各画素において閾値よ
り低い輝度の総数をそれぞれ算出し、得られた複数の総
画素数を用いて評価値を求め、得られた評価値に基づい
て被判定物の疵の程度を判定することによって、信頼性
が高い疵判定方法、及びその実施に使用する装置を提供
することにある。
であって、その目的とするところは被判定物の像を構成
する複数の画素の輝度の平均値を求め、平均値より低い
輝度である複数の閾値別に、前記各画素において閾値よ
り低い輝度の総数をそれぞれ算出し、得られた複数の総
画素数を用いて評価値を求め、得られた評価値に基づい
て被判定物の疵の程度を判定することによって、信頼性
が高い疵判定方法、及びその実施に使用する装置を提供
することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】第１発明に係る疵判定方
法は、被判定物を撮像して得た画像から被判定物の像を
抽出し、得られた被判定物の像を構成する複数の画素の
輝度に基づいて、被判定物の疵の程度を判定する方法に
おいて、前記各画素の輝度の平均値を求め、得られた平
均値及び予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値よ
り低い輝度である複数の閾値を生成し、生成した各閾値
別に、前記各画素において閾値より低い輝度の画素の数
をそれぞれ算出し、得られた複数の画素の数及び前記各
係数に応じて予め定めた重みを用いて評価値を求め、得
られた評価値に基づいて被判定物の疵の程度を判定する
ことを特徴とする。
法は、被判定物を撮像して得た画像から被判定物の像を
抽出し、得られた被判定物の像を構成する複数の画素の
輝度に基づいて、被判定物の疵の程度を判定する方法に
おいて、前記各画素の輝度の平均値を求め、得られた平
均値及び予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値よ
り低い輝度である複数の閾値を生成し、生成した各閾値
別に、前記各画素において閾値より低い輝度の画素の数
をそれぞれ算出し、得られた複数の画素の数及び前記各
係数に応じて予め定めた重みを用いて評価値を求め、得
られた評価値に基づいて被判定物の疵の程度を判定する
ことを特徴とする。
【０００８】第２発明に係る疵判定装置は、被判定物を
撮像して得た画像から被判定物の像を抽出し、得られた
被判定物の像を構成する複数の画素の輝度に基づいて、
被判定物の疵の程度を判定する装置において、前記各画
素の輝度の平均値を求める手段と、得られた平均値及び
予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値より低い輝
度である複数の閾値を生成する手段と、生成した各閾値
別に、前記各画素において閾値より低い輝度の画素の数
をそれぞれ算出する手段と、得られた複数の画素の数及
び前記各係数に応じて予め定めた重みを用いて評価値を
求める手段と、得られた評価値に基づいて被判定物の疵
の程度を判定する手段とを備えることを特徴とする。
撮像して得た画像から被判定物の像を抽出し、得られた
被判定物の像を構成する複数の画素の輝度に基づいて、
被判定物の疵の程度を判定する装置において、前記各画
素の輝度の平均値を求める手段と、得られた平均値及び
予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値より低い輝
度である複数の閾値を生成する手段と、生成した各閾値
別に、前記各画素において閾値より低い輝度の画素の数
をそれぞれ算出する手段と、得られた複数の画素の数及
び前記各係数に応じて予め定めた重みを用いて評価値を
求める手段と、得られた評価値に基づいて被判定物の疵
の程度を判定する手段とを備えることを特徴とする。
【０００９】本発明にあっては、被判定物の像を構成す
る複数の画素の輝度の平均値Ｈに、予め定めた複数の係
数をそれぞれ乗算して、複数の閾値（例えば、0.8 Ｈ，
0.6Ｈ，0.4 Ｈ）を生成する。前記各画素の輝度と、各
閾値とをそれぞれ比較し、当該閾値より低い輝度である
画素の総数を、各閾値別に算出する。閾値の値が低い
程、疵の程度は重く、閾値の値が高い程、疵の程度は軽
い。各閾値別に、当該閾値より低い輝度である画素の数
（総数）を算出することによって、疵の軽重及び疵の広
さ（面積）を求めることができる。
る複数の画素の輝度の平均値Ｈに、予め定めた複数の係
数をそれぞれ乗算して、複数の閾値（例えば、0.8 Ｈ，
0.6Ｈ，0.4 Ｈ）を生成する。前記各画素の輝度と、各
閾値とをそれぞれ比較し、当該閾値より低い輝度である
画素の総数を、各閾値別に算出する。閾値の値が低い
程、疵の程度は重く、閾値の値が高い程、疵の程度は軽
い。各閾値別に、当該閾値より低い輝度である画素の数
（総数）を算出することによって、疵の軽重及び疵の広
さ（面積）を求めることができる。
【００１０】前述した如く、重い疵の一つである虫食い
疵の像は、軽い疵の像より輝度が低い。そのため、輝度
が低い像に対する評価値を高めるべく、小さい係数を用
いて生成した閾値より低い輝度である画素の数程、より
重い重み付けを行うことによって、各閾値別に算出した
画素の数に対する評価レベルを均一化した後、それらを
累計して評価値を得る。
疵の像は、軽い疵の像より輝度が低い。そのため、輝度
が低い像に対する評価値を高めるべく、小さい係数を用
いて生成した閾値より低い輝度である画素の数程、より
重い重み付けを行うことによって、各閾値別に算出した
画素の数に対する評価レベルを均一化した後、それらを
累計して評価値を得る。
【００１１】複数の疵等級を相異なる評価値の範囲別に
定めておき、前述した如く得た評価値が属する疵等級を
選定することによって、被判定物の疵の程度を決定す
る。これによって、虫食い疵のように面積が小さく重い
疵を正しく評価することができ、疵判定の信頼性が高
い。
定めておき、前述した如く得た評価値が属する疵等級を
選定することによって、被判定物の疵の程度を決定す
る。これによって、虫食い疵のように面積が小さく重い
疵を正しく評価することができ、疵判定の信頼性が高
い。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて具体的に説明する。図１は、本発明に係る疵
判定装置の構成を示すブロック図であり、図中、１はコ
ンベアである。コンベア１上には複数のトレイＴ，Ｔ，
…が所定の間隔で設けてある。各トレイＴ，Ｔ，…内に
は青果物といった被判定物Ｓ，Ｓ，…がそれぞれ収納し
てあり、コンベア１はトレイＴ，Ｔ，…及び被判定物
Ｓ，Ｓ，…を矢符方向へ搬送する。
に基づいて具体的に説明する。図１は、本発明に係る疵
判定装置の構成を示すブロック図であり、図中、１はコ
ンベアである。コンベア１上には複数のトレイＴ，Ｔ，
…が所定の間隔で設けてある。各トレイＴ，Ｔ，…内に
は青果物といった被判定物Ｓ，Ｓ，…がそれぞれ収納し
てあり、コンベア１はトレイＴ，Ｔ，…及び被判定物
Ｓ，Ｓ，…を矢符方向へ搬送する。
【００１３】被検出物Ｓ，Ｓ，…の搬送領域上には、撮
像装置３及び該撮像装置３の撮像領域へ投光する投光器
２，２が配置してあり、コンベア１によって、撮像領域
まで被判定物Ｓが搬送されたタイミングで、撮像装置３
はトレイＴ及び被判定物Ｓをそれらの真上から撮像し、
得られた画像信号をアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変
換器５に与える。Ａ／Ｄ変換器５は、撮像装置３から与
えられた画像信号を所定階調にディジタル変換し、変換
した信号を疵判定器４のフレームメモリ６に与えてそこ
に記憶させる。
像装置３及び該撮像装置３の撮像領域へ投光する投光器
２，２が配置してあり、コンベア１によって、撮像領域
まで被判定物Ｓが搬送されたタイミングで、撮像装置３
はトレイＴ及び被判定物Ｓをそれらの真上から撮像し、
得られた画像信号をアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変
換器５に与える。Ａ／Ｄ変換器５は、撮像装置３から与
えられた画像信号を所定階調にディジタル変換し、変換
した信号を疵判定器４のフレームメモリ６に与えてそこ
に記憶させる。
【００１４】フレームメモリ６に記憶された画像は像抽
出部７に与えられるようになっており、像抽出部７は、
与えられた画像を予め設定された閾値で２値化し、得ら
れた２値化画像に基づいて被判定物Ｓの輪郭を特定す
る。像抽出部７は、特定した被判定物Ｓの輪郭に基づい
て、フレームメモリ６内の２値化前の画像から被判定物
Ｓの像を抽出し、それを判定部８に与える。そして、判
定部８は次のようにして疵等級を判定し、その結果をメ
モリ10に与えてそこに記憶させる。
出部７に与えられるようになっており、像抽出部７は、
与えられた画像を予め設定された閾値で２値化し、得ら
れた２値化画像に基づいて被判定物Ｓの輪郭を特定す
る。像抽出部７は、特定した被判定物Ｓの輪郭に基づい
て、フレームメモリ６内の２値化前の画像から被判定物
Ｓの像を抽出し、それを判定部８に与える。そして、判
定部８は次のようにして疵等級を判定し、その結果をメ
モリ10に与えてそこに記憶させる。
【００１５】図２は、図１に示した判定部８による疵の
判定手順を示すフローチャートである。判定部８は、与
えられた被判定物Ｓの像を構成する複数の画素の輝度の
平均である平均輝度Ｈを算出する（ステップＳ１）。判
定部８には、疵の重軽を識別する複数の閾値を生成すべ
く、例えば３つの係数ｐ1 ，ｐ2 ，ｐ3 （１＞ｐ1 ＞ｐ
2 ＞ｐ3 ＞０）が予め設定してあり、判定部８は、各係
数ｐ1 〜ｐ3 と平均輝度Ｈとをそれぞれ乗算して、第１
閾輝度（ｐ1 ×Ｈ）、第２閾輝度（ｐ2 ×Ｈ）及び第３
閾輝度（ｐ3 ×Ｈ）をそれぞれ生成する（ステップＳ
２）。
判定手順を示すフローチャートである。判定部８は、与
えられた被判定物Ｓの像を構成する複数の画素の輝度の
平均である平均輝度Ｈを算出する（ステップＳ１）。判
定部８には、疵の重軽を識別する複数の閾値を生成すべ
く、例えば３つの係数ｐ1 ，ｐ2 ，ｐ3 （１＞ｐ1 ＞ｐ
2 ＞ｐ3 ＞０）が予め設定してあり、判定部８は、各係
数ｐ1 〜ｐ3 と平均輝度Ｈとをそれぞれ乗算して、第１
閾輝度（ｐ1 ×Ｈ）、第２閾輝度（ｐ2 ×Ｈ）及び第３
閾輝度（ｐ3 ×Ｈ）をそれぞれ生成する（ステップＳ
２）。
【００１６】判定部８は、被判定物Ｓの像を構成する各
画素の輝度と第１〜第３閾輝度とをそれぞれ比較し（ス
テップＳ３）、第１閾輝度より低い輝度の総画素数
Ａ1 、第２閾輝度より低い輝度の総画素数Ａ2 、及び第
３閾輝度より低い輝度の総画素数Ａ3 をそれぞれ算出す
る（ステップＳ４）。また、判定部８には、前述した３
つの係数ｐ1 ，ｐ2 ，ｐ3 に応じて定めた重みα1 ，α
2 ，α3 （α1 ＜α2 ＜α 3 ）を含む次の（１）式が予
め設定してあり、判定部８は、（１）式に総画素数Ａ1
〜Ａ3 を代入して評価値Ｋを求める（ステップＳ５）。 Ｋ＝α1 ・Ａ1 ＋α2 ・Ａ2 ＋α3 ・Ａ3 …（１）
画素の輝度と第１〜第３閾輝度とをそれぞれ比較し（ス
テップＳ３）、第１閾輝度より低い輝度の総画素数
Ａ1 、第２閾輝度より低い輝度の総画素数Ａ2 、及び第
３閾輝度より低い輝度の総画素数Ａ3 をそれぞれ算出す
る（ステップＳ４）。また、判定部８には、前述した３
つの係数ｐ1 ，ｐ2 ，ｐ3 に応じて定めた重みα1 ，α
2 ，α3 （α1 ＜α2 ＜α 3 ）を含む次の（１）式が予
め設定してあり、判定部８は、（１）式に総画素数Ａ1
〜Ａ3 を代入して評価値Ｋを求める（ステップＳ５）。 Ｋ＝α1 ・Ａ1 ＋α2 ・Ａ2 ＋α3 ・Ａ3 …（１）
【００１７】判定部８には、複数の疵等級別に、異なる
評価値レベルが予め設定してあり、判定部８は、（１）
式を用いて演算して得た評価値が属する評価値レベルを
選定し、選定した判定値レベルに対応する疵等級を、被
判定物Ｓの疵等級に決定する（ステップＳ６）。
評価値レベルが予め設定してあり、判定部８は、（１）
式を用いて演算して得た評価値が属する評価値レベルを
選定し、選定した判定値レベルに対応する疵等級を、被
判定物Ｓの疵等級に決定する（ステップＳ６）。
【００１８】なお、本実施の形態では（１）式を用いて
評価値Ｋを求めているが、本発明はこれに限らず、次の
（２）式を用いて評価値Ｋを求めてもよいことはいうま
でもない。 Ｋ＝α1 ・（Ａ1 −Ａ2 ）＋α2 ・（Ａ2 −Ａ3 ）＋α3 ・Ａ3 …（２）
評価値Ｋを求めているが、本発明はこれに限らず、次の
（２）式を用いて評価値Ｋを求めてもよいことはいうま
でもない。 Ｋ＝α1 ・（Ａ1 −Ａ2 ）＋α2 ・（Ａ2 −Ａ3 ）＋α3 ・Ａ3 …（２）
【００１９】
【実施例】次に比較試験を行った結果について説明す
る。予め異なる程度の疵を形成した２つの被判定物をそ
れぞれ撮像し、得られた画像から疵の像をそれぞれ抽出
し、従来の疵判定方法及び本発明に係る疵判定方法によ
って疵の評価値を算出した結果を次の表１に示した。表
１において、第１被判定物に形成した疵の像の輝度は７
０であり、疵の像を構成する画素の総数は５０であっ
た。また、第２被判定物に形成した疵の像の輝度は３５
であり、疵の像を構成する画素の総数は２０であった。
る。予め異なる程度の疵を形成した２つの被判定物をそ
れぞれ撮像し、得られた画像から疵の像をそれぞれ抽出
し、従来の疵判定方法及び本発明に係る疵判定方法によ
って疵の評価値を算出した結果を次の表１に示した。表
１において、第１被判定物に形成した疵の像の輝度は７
０であり、疵の像を構成する画素の総数は５０であっ
た。また、第２被判定物に形成した疵の像の輝度は３５
であり、疵の像を構成する画素の総数は２０であった。
【００２０】従来方法で用いた閾輝度は７０であり、本
発明方法で用いた閾輝度は７０，５０，３０である。ま
た、本発明方法では重みα1 〜α3 として、α1 ＝３，
α2＝２，α3 ＝１をそれぞれ用いた。
発明方法で用いた閾輝度は７０，５０，３０である。ま
た、本発明方法では重みα1 〜α3 として、α1 ＝３，
α2＝２，α3 ＝１をそれぞれ用いた。
【００２１】
【表１】
【００２２】表１から明らかな如く、従来方法では、第
２被判定物に形成した疵の像の輝度は第１被判定物に形
成した疵の輝度より低い、即ち重い疵であるにも拘わら
ず、第２被判定物の疵の評価値は第１被判定物の疵の評
価値より低く、誤判定を招来していた。これに対して、
本発明方法にあっては、第２被判定物の疵の評価値は第
１被判定物の疵の評価値より高く、疵の程度が正しく評
価されていた。
２被判定物に形成した疵の像の輝度は第１被判定物に形
成した疵の輝度より低い、即ち重い疵であるにも拘わら
ず、第２被判定物の疵の評価値は第１被判定物の疵の評
価値より低く、誤判定を招来していた。これに対して、
本発明方法にあっては、第２被判定物の疵の評価値は第
１被判定物の疵の評価値より高く、疵の程度が正しく評
価されていた。
【００２３】
【発明の効果】以上詳述した如く、本発明にあっては、
虫食い疵のように面積が小さく重い疵を正しく評価する
ことができ、疵判定の信頼性が高い等、本発明は優れた
効果を奏する。
虫食い疵のように面積が小さく重い疵を正しく評価する
ことができ、疵判定の信頼性が高い等、本発明は優れた
効果を奏する。
【図１】本発明に係る疵判定装置の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図２】図１に示した判定部による疵の判定手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
１ コンベア ２ 投光器 ３ 撮像装置 ４ 疵判定器 ７ 像抽出部 ８ 判定部
Claims (2)
- 【請求項１】 被判定物を撮像して得た画像から被判定
物の像を抽出し、得られた被判定物の像を構成する複数
の画素の輝度に基づいて、被判定物の疵の程度を判定す
る方法において、 前記各画素の輝度の平均値を求め、得られた平均値及び
予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値より低い輝
度である複数の閾値を生成し、生成した各閾値別に、前
記各画素において閾値より低い輝度の画素の数をそれぞ
れ算出し、得られた複数の画素の数及び前記各係数に応
じて予め定めた重みを用いて評価値を求め、得られた評
価値に基づいて被判定物の疵の程度を判定することを特
徴とする疵判定方法。 - 【請求項２】 被判定物を撮像して得た画像から被判定
物の像を抽出し、得られた被判定物の像を構成する複数
の画素の輝度に基づいて、被判定物の疵の程度を判定す
る装置において、 前記各画素の輝度の平均値を求める手段と、得られた平
均値及び予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値よ
り低い輝度である複数の閾値を生成する手段と、生成し
た各閾値別に、前記各画素において閾値より低い輝度の
画素の数をそれぞれ算出する手段と、得られた複数の画
素の数及び前記各係数に応じて予め定めた重みを用いて
評価値を求める手段と、得られた評価値に基づいて被判
定物の疵の程度を判定する手段とを備えることを特徴と
する疵判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11025570A JP2000222579A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 疵判定方法及び疵判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11025570A JP2000222579A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 疵判定方法及び疵判定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000222579A true JP2000222579A (ja) | 2000-08-11 |
Family
ID=12169601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11025570A Pending JP2000222579A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 疵判定方法及び疵判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000222579A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201130A (ja) * | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Niigata Univ | 生籾被害粒の非破壊判定方法及びその装置 |
| JP2008185574A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Shibaura Mechatronics Corp | 基板に貼着されたテープ状部材の検査装置及び検査方法 |
| CN113284113A (zh) * | 2021-05-27 | 2021-08-20 | 西安闻泰信息技术有限公司 | 溢胶瑕疵检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质 |
| CN113284113B (zh) * | 2021-05-27 | 2024-06-28 | 西安闻泰信息技术有限公司 | 溢胶瑕疵检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质 |
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1999
- 1999-02-02 JP JP11025570A patent/JP2000222579A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201130A (ja) * | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Niigata Univ | 生籾被害粒の非破壊判定方法及びその装置 |
| JP4590553B2 (ja) * | 2005-01-24 | 2010-12-01 | 国立大学法人 新潟大学 | 生籾被害粒の非破壊判定方法 |
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