JP2008185574A - 基板に貼着されたテープ状部材の検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板に貼着された異方性導電部材4の端部の部分を撮像する撮像カメラ2と、撮像カメラの撮像範囲におけるリード3の異方性導電部材が貼着されていない部分の輝度を測定するリード明暗測定部6と、リード明暗測定部の測定に基づいて閾値を設定する二値化閾値設定部8と、二値化閾値設定部によって設定された閾値に基づいて撮像カメラの撮像画像を二値化処理する二値化画像作成部9と、二値化画像作成部によって得られた二値化画像に基づいて異方性導電部材の端部の状態を判定する判定部13を具備する。
【選択図】 図1
Description
上記基板に貼着された上記テープ状部材の端部の部分を撮像する撮像手段と、
この撮像手段の撮像範囲における上記リードの上記テープ状部材が貼着されていない部分の輝度を測定するリード明暗測定部と、
このリード明暗測定部の測定に基づいて閾値を設定する二値化閾値設定部と、
この二値化閾値設定部によって設定された閾値に基づいて上記撮像手段の撮像画像を二値化処理する二値化画像作成部と、
この二値化画像作成部によって得られた二値化画像に基づいて上記テープ状部材の端部の状態を判定する判定手段と
を具備したことを特徴とする基板に貼着されたテープ状部材の検査装置にある。
上記二値化閾値設定部は、上記リード明暗測定部が測定した範囲に含まれる上記基板の部分を除いて二値化処理することが好ましい。
上記係数αは0.8〜0.9であることが好ましい。
二値化画像作成部によって得られた二値化画像の白画素と黒画素の割合を算出するカウント部と、このカウント部によってカウントされた白画素と黒画素の割合を予め設定された設定値と比較する比較部と、この比較部での比較に基づいて上記テープ状部材の端部の貼着状態を判定する判定部とによって構成されていることが好ましい。
上記基板に貼着された上記テープ状部材の端部の部分を撮像する工程と、
撮像された上記テープ状部材の端部の部分における上記リードの上記テープ状部材が貼着されていない部分の輝度を測定する工程と、
測定された上記リードの輝度に基づいて閾値を設定する工程と、
設定された閾値に基づいて上記テープ状部材の端部の部分の撮像画像を二値化処理する工程と、
二値化処理によって得られた二値化画像に基づいて上記テープ状部材の端部の状態を判定する工程と
を具備したことを特徴とする基板に貼着されたテープ状部材の検査方法にある。
図1はこの発明の一実施の形態の検査装置1を示すブロック図である。この検査装置1は撮像カメラ2を有する。この撮像カメラ2は図2に示す液晶表示パネルや回路基板などの基板Wの複数のリード3が所定間隔で設けられた一側部の端部を撮像する。
Claims (5)
- 複数のリードが所定間隔で設けられた基板の側部上面に貼着されるテープ状部材の貼着状態を検査する検査装置であって、
上記基板に貼着された上記テープ状部材の端部の部分を撮像する撮像手段と、
この撮像手段の撮像範囲における上記リードの上記テープ状部材が貼着されていない部分の輝度を測定するリード明暗測定部と、
このリード明暗測定部の測定に基づいて閾値を設定する二値化閾値設定部と、
この二値化閾値設定部によって設定された閾値に基づいて上記撮像手段の撮像画像を二値化処理する二値化画像作成部と、
この二値化画像作成部によって得られた二値化画像に基づいて上記テープ状部材の端部の状態を判定する判定手段と
を具備したことを特徴とする基板に貼着されたテープ状部材の検査装置。 - 上記リード明暗測定部は、上記基板の一部を含む複数のリードにまたがる範囲の輝度を測定し、
上記二値化閾値設定部は、上記リード明暗測定部が測定した範囲に含まれる上記基板の部分を除いて二値化処理することを特徴とする請求項1記載の基板に貼着されたテープ状部材の検査装置。 - 上記二値化閾値設定部によって設定される閾値は、上記リード明暗測定部によって測定されたリードの輝度の平均値に係数αを乗じた値であって、
上記係数αは0.8〜0.9であることを特徴とする請求項1記載の基板に貼着されたテープ状部材の検査装置。 - 上記判定手段は、
二値化画像作成部によって得られた二値化画像の白画素と黒画素の割合を算出するカウント部と、このカウント部によってカウントされた白画素と黒画素の割合を予め設定された設定値と比較する比較部と、この比較部での比較に基づいて上記テープ状部材の端部の貼着状態を判定する判定部とによって構成されていることを特徴とする請求項1記載の基板に貼着されたテープ状部材の検査装置。 - 複数のリードが所定間隔で設けられた基板の側部上面に貼着されるテープ状部材の貼着状態を検査する検査方法であって、
上記基板に貼着された上記テープ状部材の端部の部分を撮像する工程と、
撮像された上記テープ状部材の端部の部分における上記リードの上記テープ状部材が貼着されていない部分の輝度を測定する工程と、
測定された上記リードの輝度に基づいて閾値を設定する工程と、
設定された閾値に基づいて上記テープ状部材の端部の部分の撮像画像を二値化処理する工程と、
二値化処理によって得られた二値化画像に基づいて上記テープ状部材の端部の状態を判定する工程と
を具備したことを特徴とする基板に貼着されたテープ状部材の検査方法。
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JP2011053044A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Dainippon Printing Co Ltd | メッシュ検査装置、メッシュ検査方法、プログラム、および記録媒体 |
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JPH05322532A (ja) * | 1992-05-25 | 1993-12-07 | Fujitsu Ltd | ボンディングワイヤの外観検査装置及び外観検査方法 |
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JP2003075366A (ja) * | 2001-09-04 | 2003-03-12 | Shibaura Mechatronics Corp | 基板検査装置及び基板検査方法 |
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