JP2000162188A5 - - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項１】 蒸発させたサンプルを超音波ノズルから真空系に導いてサンプルの膨脹を行って超音波分子ビームを形成させ、該超音波分子ビーム中のサンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化し、該サンプル化合物から形成されたイオンを質量分析し、質量分析後該サンプル化合物から形成された該イオンを検出し、そして該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られる質量スペクトル情報から得られるデータを処理する方法において、該蒸発させたサンプルを該超音波ノズルから真空系に導いて膨張を行う前に、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズルに向けて流して該流れ中の溶液及びサンプルを蒸発させることによって該蒸発させたサンプルをつくることを特徴とする質量分析方法。
【請求項２】 該サンプルが、該超音波ノズルに達する前に蒸発される請求項１の方法。
【請求項３】 該サンプル蒸発が、該超音波ノズルの内側で行われる請求項１の方法。
【請求項４】 該サンプル蒸発が、該超音波ノズルの入力末端での噴霧形成のための事前溶媒霧状化により助けられる請求項１の方法。
【請求項５】 該サンプル溶媒が、該超音波ノズルにより行われるその膨脹前に選択的に除去される請求項４の方法。
【請求項６】 該溶媒及びサンプルが霧状化にされて噴霧を形成し、そして噴霧が、加熱されたチャンネル超音波ノズルの内側で、サンプル化合物及び溶媒分子に蒸発される請求項１の方法。
【請求項７】 該サンプル化合物が、電子イオン化によりイオン化される請求項１の方法。
【請求項８】 該サンプル化合物が、高熱表面イオン化によりイオン化される請求項１の方法。
【請求項９】 該サンプルが、流れ噴射により該超音波ノズルに向かわされる請求項１の方法。
【請求項１０】 該サンプルが、液体クロマトグラフから該超音波ノズルに向かわされる請求項１の方法。
【請求項１１】 該サンプルの入口は、またガスクロマトグラフと連絡している請求項１の方法。
【請求項１２】 サンプルが、クロマトグラフ分離なしに、ガスクロマトグラフから液体として該超音波ノズルに向かわされる請求項１１の方法。
【請求項１３】 サンプルの同定及び定量が、標準の電子イオン化ライブラリーに基づく請求項１の方法。
【請求項１４】 該サンプルから形成されるイオンが、表面誘発解離のために好適な表面から散乱される請求項１の方法。
【請求項１５】 該イオンが、該サンプル及び溶媒の大きなクラスターのイオンである請求項１４の方法。
【請求項１６】 蒸発させたサンプルを真空系（１５）に導いてサンプルの膨脹を行わせて超音波分子ビームを形成させる該超音波ノズル（１２）、該超音波分子ビーム中の該サンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化するイオン源（２０）、該サンプル化合物から形成されたイオンの質量分析のための質量分析器（２２）、質量分析後該サンプル化合物から形成される該イオンを検出するイオン検出器（２３）、及び該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られた質量スペクトル情報のデータ処理のための手段（２４）からなる分析装置において、さらに分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズル（１２）に向ける手段（３）、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液を該手段（３）中に流れ状態で注入する手段（１）、及び該蒸発させたサンプルを該超音波ノズル（１２）から真空系に導いて膨張を行う前に該流れ中の溶液及びサンプル化合物を蒸発させる手段（１３）をもつことを特徴とする質量分析装置。
【請求項１７】 該超音波ノズル（１２）の入力末端での溶媒霧状化及び噴霧形成のための手段をさらに含む請求項１６の装置。
【請求項１８】 該超音波ノズル（１２）により行われるその膨脹前の溶媒の選択的除去のための手段をさらに含む請求項１６の装置。
【請求項１９】 該超音波ノズル（１２）がピンホールノズルである請求項１６の装置。
【請求項２０】 該超音波ノズル（１２）がチャンネルノズルである請求項１６の装置。
【請求項２１】 該チャンネル超音波ノズルが、加熱管の直流加熱の手段により加熱される請求項２０の装置。
【請求項２２】 該イオン源が、電子イオン化に基づく請求項１６の装置。
【請求項２３】 該イオン源が、高熱表面イオン化のための好適な表面上に基づく請求項１６の装置。
【請求項２４】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、流れ噴射に基づく請求項１６の装置。
【請求項２５】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、液体クロマトグラフである請求項１６の装置。
【請求項２６】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、またガスクロマトグラフに接続している請求項１６の装置。
【請求項２７】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、クロマトグラフ分離なしのガスクロマトグラフである請求項１６の装置。
【請求項２８】 表面誘発解離のために好適な表面から該サンプルから形成されたイオンを散乱させる手段をさらに含む請求項１６の装置。
【請求項１】 蒸発させたサンプルを超音波ノズルから真空系に導いてサンプルの膨脹を行って超音波分子ビームを形成させ、該超音波分子ビーム中のサンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化し、該サンプル化合物から形成されたイオンを質量分析し、質量分析後該サンプル化合物から形成された該イオンを検出し、そして該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られる質量スペクトル情報から得られるデータを処理する方法において、該蒸発させたサンプルを該超音波ノズルから真空系に導いて膨張を行う前に、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズルに向けて流して該流れ中の溶液及びサンプルを蒸発させることによって該蒸発させたサンプルをつくることを特徴とする質量分析方法。
【請求項２】 該サンプルが、該超音波ノズルに達する前に蒸発される請求項１の方法。
【請求項３】 該サンプル蒸発が、該超音波ノズルの内側で行われる請求項１の方法。
【請求項４】 該サンプル蒸発が、該超音波ノズルの入力末端での噴霧形成のための事前溶媒霧状化により助けられる請求項１の方法。
【請求項５】 該サンプル溶媒が、該超音波ノズルにより行われるその膨脹前に選択的に除去される請求項４の方法。
【請求項６】 該溶媒及びサンプルが霧状化にされて噴霧を形成し、そして噴霧が、加熱されたチャンネル超音波ノズルの内側で、サンプル化合物及び溶媒分子に蒸発される請求項１の方法。
【請求項７】 該サンプル化合物が、電子イオン化によりイオン化される請求項１の方法。
【請求項８】 該サンプル化合物が、高熱表面イオン化によりイオン化される請求項１の方法。
【請求項９】 該サンプルが、流れ噴射により該超音波ノズルに向かわされる請求項１の方法。
【請求項１０】 該サンプルが、液体クロマトグラフから該超音波ノズルに向かわされる請求項１の方法。
【請求項１１】 該サンプルの入口は、またガスクロマトグラフと連絡している請求項１の方法。
【請求項１２】 サンプルが、クロマトグラフ分離なしに、ガスクロマトグラフから液体として該超音波ノズルに向かわされる請求項１１の方法。
【請求項１３】 サンプルの同定及び定量が、標準の電子イオン化ライブラリーに基づく請求項１の方法。
【請求項１４】 該サンプルから形成されるイオンが、表面誘発解離のために好適な表面から散乱される請求項１の方法。
【請求項１５】 該イオンが、該サンプル及び溶媒の大きなクラスターのイオンである請求項１４の方法。
【請求項１６】 蒸発させたサンプルを真空系（１５）に導いてサンプルの膨脹を行わせて超音波分子ビームを形成させる該超音波ノズル（１２）、該超音波分子ビーム中の該サンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化するイオン源（２０）、該サンプル化合物から形成されたイオンの質量分析のための質量分析器（２２）、質量分析後該サンプル化合物から形成される該イオンを検出するイオン検出器（２３）、及び該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られた質量スペクトル情報のデータ処理のための手段（２４）からなる分析装置において、さらに分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズル（１２）に向ける手段（３）、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液を該手段（３）中に流れ状態で注入する手段（１）、及び該蒸発させたサンプルを該超音波ノズル（１２）から真空系に導いて膨張を行う前に該流れ中の溶液及びサンプル化合物を蒸発させる手段（１３）をもつことを特徴とする質量分析装置。
【請求項１７】 該超音波ノズル（１２）の入力末端での溶媒霧状化及び噴霧形成のための手段をさらに含む請求項１６の装置。
【請求項１８】 該超音波ノズル（１２）により行われるその膨脹前の溶媒の選択的除去のための手段をさらに含む請求項１６の装置。
【請求項１９】 該超音波ノズル（１２）がピンホールノズルである請求項１６の装置。
【請求項２０】 該超音波ノズル（１２）がチャンネルノズルである請求項１６の装置。
【請求項２１】 該チャンネル超音波ノズルが、加熱管の直流加熱の手段により加熱される請求項２０の装置。
【請求項２２】 該イオン源が、電子イオン化に基づく請求項１６の装置。
【請求項２３】 該イオン源が、高熱表面イオン化のための好適な表面上に基づく請求項１６の装置。
【請求項２４】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、流れ噴射に基づく請求項１６の装置。
【請求項２５】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、液体クロマトグラフである請求項１６の装置。
【請求項２６】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、またガスクロマトグラフに接続している請求項１６の装置。
【請求項２７】 超音波ノズル（１２）へ分析すべきサンプル化合物を含む溶液の流れを向ける該手段（３）が、クロマトグラフ分離なしのガスクロマトグラフである請求項１６の装置。
【請求項２８】 表面誘発解離のために好適な表面から該サンプルから形成されたイオンを散乱させる手段をさらに含む請求項１６の装置。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、蒸発させたサンプルをスーパーソニックノズル即ち超音波ノズルから真空系に導いてサンプルの膨脹を行ってスーパーソニックモレキュラービーム即ち超音波分子ビームを形成させ、該超音波分子ビーム中のサンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化し、該サンプル化合物から形成されたイオンを質量分析し、質量分析後該サンプル化合物から形成された該イオンを検出し、そして該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られる質量スペクトル情報から得られるデータを処理する方法において、該蒸発させたサンプルを該超音波ノズルから真空系に導いて膨張を行う前に、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズルに向けて流して該流れ中の溶液及びサンプルを蒸発させることによって該蒸発させたサンプルをつくることを特徴とする質量分析方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
本発明は、蒸発させたサンプルをスーパーソニックノズル即ち超音波ノズルから真空系に導いてサンプルの膨脹を行ってスーパーソニックモレキュラービーム即ち超音波分子ビームを形成させ、該超音波分子ビーム中のサンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化し、該サンプル化合物から形成されたイオンを質量分析し、質量分析後該サンプル化合物から形成された該イオンを検出し、そして該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られる質量スペクトル情報から得られるデータを処理する方法において、該蒸発させたサンプルを該超音波ノズルから真空系に導いて膨張を行う前に、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズルに向けて流して該流れ中の溶液及びサンプルを蒸発させることによって該蒸発させたサンプルをつくることを特徴とする質量分析方法を提供する。
本発明は、さらに、蒸発させたサンプルを真空系（１５）に導いてサンプルの膨脹を行わせて超音波分子ビームを形成させる該超音波ノズル（１２）、該超音波分子ビーム中の該サンプル化合物又はサンプル化合物のクラスターをイオン化するイオン源（２０）、該サンプル化合物から形成されたイオンの質量分析のための質量分析器（２２）、質量分析後該サンプル化合物から形成される該イオンを検出するイオン検出器（２３）、及び該サンプルの化学的成分を同定及び／又は定量するために、得られた質量スペクトル情報のデータ処理のための手段（２４）からなる分析装置において、さらに分析されるべきサンプル化合物を含む溶液の流れを該超音波ノズル（１２）に向ける手段（３）、分析されるべきサンプル化合物を含む溶液を該手段（３）中に流れ状態で注入する手段（１）、及び該蒸発させたサンプルを該超音波ノズル（１２）から真空系に導いて膨張を行う前に該流れ中の溶液及びサンプル化合物を蒸発させる手段（１３）をもつことを特徴とする質量分析装置を提供する。
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| IL127217 | 1998-11-23 |
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- 1999-11-16 EP EP99309126A patent/EP1004878A1/en not_active Ceased
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