JP2000156629A - 発振回路、位相同期回路、位相補間回路、位相調整回路および位相結合回路 - Google Patents

発振回路、位相同期回路、位相補間回路、位相調整回路および位相結合回路

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JP2000156629A
JP2000156629A JP10330631A JP33063198A JP2000156629A JP 2000156629 A JP2000156629 A JP 2000156629A JP 10330631 A JP10330631 A JP 10330631A JP 33063198 A JP33063198 A JP 33063198A JP 2000156629 A JP2000156629 A JP 2000156629A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 発振回路の位相状態の分解能を、これを構成
する遅延素子の遅延で決まる限界以上に高くする。 【解決手段】位相結合回路13a〜13fは、対応する
2個の遅延素子の出力信号の位相関係を安定させる。例
えばリング発振器12の遅延素子12aの出力は、位相
結合回路13a,13bによって、リング発振器11の
遅延素子11a,11bの出力との位相関係がともに安
定するように制御される。このため第1および第2のリ
ング発振器11,12は、その位相状態が各遅延素子の
遅延時間の1/2だけ時間的にずれた状態で発振を維持
する。この結果、発振中における位相状態の時間刻みは
各遅延素子の遅延時間のほぼ1/2になり、発振回路の
位相状態の分解能を遅延素子の遅延時間で決まる限界の
ほぼ2倍まで高めることが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、位相同期回路やD
LL(ディレイロックループ)回路に用いられる発振回
路や遅延回路の性能向上に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、通信機器や通信インターフェース
の高速化に伴い、位相同期回路やDLL回路の性能向上
が必須の課題になっている。このため、位相同期回路や
DLL回路に用いられる発振回路や遅延回路について
も、より一層の性能向上が望まれている。
【0003】図17は従来の発振回路としてのリング発
振器の構成を示す図である。図17では、3個の遅延回
路100a〜100cをリング状に接続してリング発振
器100を構成している。この場合、各遅延素子100
a〜100cをそれぞれ単純なCMOSインバータによ
って構成したとすると、リング発振器100の発振中に
おいて位相状態が切り替わる時間刻みは、CMOSイン
バータの遅延時間によって決定される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】高速のインターフェー
ス回路では、より細かなタイミング調整が必要になる。
そしてより細かなタイミング調整の実現のためには、イ
ンターフェース回路に用いられる発振回路の,発振中に
おいて位相状態が切り替わる時間刻みを、より細かく設
定する必要がある。言い換えると、発振回路の位相状態
の分解能をより高める必要がある。このため、図17に
示すような従来の発振回路では、発振回路を構成する遅
延素子そのものの遅延時間を小さくすることによって、
位相状態の分解能を高めていた。
【0005】ところが、遅延素子の遅延時間の短縮化に
は自ずと限界がある。図18(a)に示すように、遅延
素子の遅延時間には遅延素子の負荷容量および入力容量
を充電するための容量充電時間と、遅延素子を構成する
トランジスタを信号が通過するための内部通過時間とが
含まれる。このうち容量充電時間は、負荷容量の充電時
間については遅延素子の駆動電力を高めることによって
小さくすることができる。一方、内部通過時間はトラン
ジスタ内部を電子または正孔が通過するために要する時
間で決定されるので、遅延素子の駆動電力をいかに高め
てもある値よりは小さくはできない。したがって、図1
8(b)に示すように、駆動電力をいかに高めても、遅
延素子の遅延時間の短縮化には自ずと限界がある。
【0006】すなわち、遅延素子の遅延時間は遅延素子
の構造自体によってその下限値が決まってしまうので、
発振回路の位相状態の分解能をこの下限値による限界以
上に高めることはできない。また、遅延素子の遅延時間
を限界近くまで短縮するためにはその駆動電力を高める
必要があるが、これは回路の消費電力の面で好ましくな
い。
【0007】前記の問題に鑑み、本発明は、発振回路と
して、位相状態の分解能を、これを構成する遅延素子の
遅延時間で決まる限界以上に高めることを可能にするこ
とを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の発明が講じた解決手段は、発振回路と
して、n(nは2以上の整数)個の遅延素子がリング状
に接続されてなる第1および第2のリング発振器と、前
記第2のリング発振器の第i(iは整数:1≦i≦n)
段の遅延素子の出力と前記第1のリング発振器の第i段
の遅延素子の出力との間、および前記第2のリング発振
器の第i段の遅延素子の出力と前記第1のリング発振器
の第(i+1)(ただしi=nのときは1)段の遅延素
子の出力との間にそれぞれ設けられ、対応する2個の遅
延素子の出力信号の位相関係を安定させる複数の位相結
合回路とを備えたものである。
【0009】請求項1の発明によると、第2のリング発
振器の第i段の遅延素子の出力信号は、位相結合回路に
よって、第1のリング発振器の第i段の遅延素子の出力
信号との間の位相関係が安定し、かつ第1のリング発振
器の第(i+1)段の遅延素子の出力信号との間の位相
関係が安定するように、制御される。このため、各位相
結合回路の位相結合強度がほぼ均一であるとすると、第
2のリング発振器の第i段の遅延素子の出力信号は、第
1のリング発振器の第i段および第(i+1)段の遅延
素子の出力信号の中間の位相を有する。これにより、第
1および第2のリング発振器は、その位相状態が、第1
および第2のリング発振器を構成する遅延素子の遅延時
間の1/2だけ時間的にずれた状態で、発振を維持す
る。この結果、発振中における位相状態の時間刻みは遅
延素子の遅延時間のほぼ1/2にまで細かくなる。した
がって、発振回路の位相状態の分解能を、第1および第
2のリング発振器を構成する遅延素子の遅延時間で決ま
る限界のほぼ2倍まで高めることが可能になる。
【0010】そして、請求項2の発明では、前記請求項
1の発振回路における位相結合回路は、それぞれ、第1
および第2の端子と、ソースが電源に接続された一の導
電型の第1および第2のトランジスタとを備え、前記第
1の端子に対して前記第1のトランジスタのドレインお
よび前記第2のトランジスタのゲートが接続され、か
つ、前記第2の端子に対して前記第1のトランジスタの
ゲートおよび前記第2のトランジスタのドレインが接続
されてなり、前記第1の端子は当該位相結合回路に対応
する2個の遅延素子の出力の一方に接続されており、か
つ、前記第2の端子は他方の遅延素子に接続されている
ものとする。
【0011】また、請求項3の発明では、前記請求項1
の発振回路は、前記第1のリング発振器の一の遅延素子
の出力と、前記第2のリング発振器の,この一の遅延素
子の出力信号と位相が直交する信号が出力される遅延素
子の出力とを入力とする排他的論理和回路を備えたもの
とする。
【0012】さらに、請求項4の発明では、前記請求項
3の発振回路において、前記nは3であり、前記排他的
論理和回路は、前記第1のリング発振器の第i段の遅延
素子の出力と、前記第2のリング発振器の第(i+1)
(ただしi=nのときは1)段の遅延素子の出力とを入
力とするものとする。
【0013】また、請求項5の発明では、前記請求項1
の発振回路における位相結合回路は、その位相結合強度
が可変に構成されているものとする。
【0014】そして、請求項6の発明では、前記請求項
5の発振回路における位相結合回路は、それぞれ、第1
および第2の端子と、制御端子と、前記制御端子から電
流量を制御可能に構成された電流源と、ソースが前記電
流源に接続された一の導電型の第1および第2のトラン
ジスタとを備え、前記第1の端子に対して前記第1のト
ランジスタのドレインおよび前記第2のトランジスタの
ゲートが接続され、かつ、前記第2の端子とに対して前
記第1のトランジスタのゲートおよび前記第2のトラン
ジスタのドレインが接続されてなり、前記第1の端子は
当該位相結合回路に対応する2個の遅延素子の出力の一
方に接続されており、かつ、前記第2の端子は他方の遅
延素子に接続されているものとする。
【0015】また、請求項7の発明では、前記請求項5
の発振回路における位相結合回路は、それぞれ、第1お
よび第2の端子と、制御端子と、ソースが電源に接続さ
れた一の導電型の第1および第2のトランジスタと、前
記制御端子にゲートが接続され、かつ、ソースが前記第
1のトランジスタのドレインに接続された一の導電型の
第3のトランジスタと、前記制御端子にゲートが接続さ
れ、かつ、ソースが前記第2のトランジスタのドレイン
に接続された一の導電型の第4のトランジスタとを備
え、前記第1の端子に対して前記第3のトランジスタの
ドレインおよび前記第2のトランジスタのゲートが接続
され、かつ、前記第2の端子に対して前記第1のトラン
ジスタのゲートおよび前記第4のトランジスタのドレイ
ンが接続されてなり、前記第1の端子は当該位相結合回
路に対応する2個の遅延素子の出力の一方に接続されて
おり、かつ、前記第2の端子は他方の遅延素子に接続さ
れているものとする。
【0016】また、請求項8の発明では、前記請求項5
の発振回路は、第1および第2の位相制御端子、並びに
周波数制御端子を備え、前記第2のリング発振器の第i
段の遅延素子の出力と前記第1のリング発振器の第i段
の遅延素子の出力との間に設けられた位相結合回路から
なる第1の位相結合回路群は、その位相結合強度が前記
第1の位相制御端子から制御可能に構成されており、前
記第2のリング発振器の第i段の遅延素子の出力と前記
第1のリング発振器の第(i+1)段の遅延素子の出力
との間に設けられた位相結合回路からなる第2の位相結
合回路群は、その位相結合強度が前記第2の位相制御端
子から制御可能に構成されており、かつ、各遅延素子
は、その遅延時間が前記周波数制御端子から制御可能に
構成されているものとする。
【0017】また、請求項9の発明は、位相比較器と、
この位相比較器の出力に応じて発振状態を変化させる発
振回路とを有する位相同期回路として、前記発振回路
は、前記請求項8の発振回路であって、前記第1または
第2のリング発振器の一の遅延素子の出力をその出力と
するものであり、前記周波数制御端子からその発振周波
数が制御され、かつ、前記第1および第2の位相制御端
子からその出力位相が制御されるものである。
【0018】また請求項10の発明が講じた解決手段
は、発振回路として、(nは2以上の整数)個の遅延素
子がリング状に接続されてなるm(mは2以上の整数)
個のリング発振器と、前記第k(kは整数:1≦k≦
(m−1))のリング発振器における第i(iは整数:
1≦i≦n)段の遅延素子の出力と第(k+1)のリン
グ発振器の第iの遅延素子の出力との間、および前記第
mのリング発振器の第iの遅延素子の出力と前記第1の
リング発振器の第(i+1)(ただしi=nのときは
1)段の遅延素子の出力との間にそれぞれ設けられ、対
応する2個の遅延素子の出力信号の位相関係を安定させ
る複数の位相結合回路とを備えたものである。
【0019】請求項10の発明によると、第kのリング
発振器の第i段の遅延素子の出力信号は、位相結合回路
によって、第(k+1)のリング発振器の第i段の遅延
素子の出力信号との間の位相関係が安定し、かつ第(k
−1)のリング発振器の第i段の遅延素子の出力信号と
の間の位相関係が安定するように、制御される。このた
め、各位相結合回路の位相結合強度がほぼ均一であると
すると、第kのリング発振器の第i段の遅延素子の出力
信号は、第(k+1)のリング発振器の第i段および第
(k−1)のリング発振器の第i段の遅延素子の出力信
号の中間の位相を有する。これにより、第kのリング発
振器の位相状態は、第(k−1)のリング発振器の位相
状態と、各遅延素子の遅延時間の1/mだけ時間的にず
れることになる。この結果、発振中における位相状態の
時間刻みは、遅延素子の遅延時間のほぼ1/mにまで細
かくなる。したがって、発振回路の位相状態の分解能を
各遅延素子の遅延時間で決まる限界のほぼm倍まで高め
ることが可能になる。
【0020】また請求項11の発明が講じた解決手段
は、位相補間回路として、n(nは2以上の整数)個の
遅延素子が直列に接続されてなる第1および第2の信号
遅延回路と、前記第2の信号遅延回路の第i(iは整
数:1≦i≦(n−1))段の遅延素子の出力と前記第
1の信号遅延回路の第i段の遅延素子の出力との間、前
記第2の信号遅延回路の第i段の遅延素子の出力と前記
第1の信号遅延回路の第(i+1)段の遅延素子の出力
との間、および前記第2の信号遅延回路の第n段の遅延
素子の出力と前記第1の信号遅延回路の第n段の遅延素
子の出力との間にそれぞれ設けられ、対応する2個の遅
延素子の出力信号の位相関係を安定させる複数の位相結
合回路とを備えたものである。
【0021】請求項11の発明は、請求項1の発明を発
振回路以外の回路に適用したものである。すなわち、第
2の信号遅延回路の第i段の遅延素子の出力信号は、位
相結合回路によって、第1の信号遅延回路の第i段の遅
延素子の出力信号との間の位相関係が安定し、かつ第1
の信号遅延回路の第(i+1)段の遅延素子の出力信号
との間の位相関係が安定するように、制御される。この
ため、各位相結合回路の位相結合強度がほぼ均一である
とすると、第2の信号遅延回路の第i段の遅延素子の出
力信号は、第1の信号遅延回路の第i段および第(i+
1)段の遅延素子の出力信号の中間の位相を有する。こ
れにより、第2の信号遅延回路の位相状態は、第1の信
号遅延回路の位相状態と、遅延素子の遅延時間のほぼ1
/2だけ時間的にずれることになる。この結果、信号伝
搬中における位相状態の時間刻みは、遅延素子の遅延時
間のほぼ1/2にまで細かくすることができる。
【0022】また、請求項12の発明が講じた解決手段
は、位相調整回路として、信号が伝搬する回路に設けら
れた第1,第2,第3の遅延素子と、前記第1の遅延素
子の出力と前記第2の遅延素子の出力との間に設けら
れ、この第1および第2の遅延素子の出力信号の位相関
係を安定させる第1の位相結合回路と、前記第1の遅延
素子の出力と前記第3の遅延素子の出力との間に設けら
れ、この第1および第3の遅延素子の出力信号の位相関
係を安定させる第2の位相結合回路とを備えたものであ
る。
【0023】請求項12の発明は、請求項1,10の発
振回路および請求項11の位相補間回路の構成の一部を
位相調整回路としてとらえたものである。すなわち、請
求項12の位相調整回路によると、第1の遅延素子の出
力信号は、第1の位相結合回路によって、第2の遅延素
子の出力信号との位相関係が安定するように制御される
とともに、第2の位相結合回路によって、第3の遅延素
子の出力信号との位相関係が安定するように制御され
る。このため、第1および第2の位相結合回路の位相結
合強度がほぼ均一であるとすると、第1の遅延素子の出
力信号を、第2および第3の遅延素子の出力信号の中間
の位相を有するように制御することができる。また、第
1および第2の位相結合回路の位相結合強度を変えるこ
とによって、第1の遅延素子の出力信号の位相を、第2
および第3の遅延素子の出力信号を基にして任意に調整
することができる。
【0024】そして、請求項13の発明では、前記請求
項12の位相調整回路において、前記第1の遅延素子は
リング発振器を構成しており、前記第2および第3の遅
延素子は他のリング発振器を構成しているものとする。
【0025】さらに、請求項14の発明では、前記請求
項13の位相調整回路における第2および第3の遅延素
子は同一のリング発振器を構成しているものとする。
【0026】また、請求項15の発明では、前記請求項
12の位相調整回路において、前記第1の遅延素子は信
号遅延回路を構成しており、前記第2および第3の遅延
素子は他の信号遅延回路を構成しているものとする。
【0027】さらに、請求項16の発明では、前記請求
項15の位相調整回路における第2および第3の遅延素
子は同一の信号遅延回路を構成しているものとする。
【0028】また請求項17の発明が講じた解決手段
は、位相結合回路として、第1および第2の端子と、一
の導電型の第1および第2のトランジスタとを備え、前
記第1の端子に対して前記第1のトランジスタのドレイ
ンおよび前記第2のトランジスタのゲートが接続され、
かつ、前記第2の端子に対して前記第1のトランジスタ
のゲートおよび前記第2のトランジスタのドレインが接
続されてなり、前記第1および第2の端子における信号
の位相関係を安定させるものである。
【0029】そして、請求項18の発明では、前記請求
項17の位相結合回路は、制御端子と、前記制御端子か
ら電流量を制御可能に構成された電流源とを備え、前記
第1および第2のトランジスタのソースは電源の代わり
に前記電流源に接続されているものとする。
【0030】また、請求項19の発明では、前記請求項
17の位相結合回路は、制御端子と、前記制御端子にゲ
ートが接続された一の導電型の第3および第4のトラン
ジスタとを備え、前記第1のトランジスタのドレインは
前記第1の端子の代わりに前記第3のトランジスタのソ
ースに接続され、かつ、前記第3のトランジスタのドレ
インが前記第1の端子と接続され、前記第2のトランジ
スタのドレインは前記第2の端子の代わりに前記第4の
トランジスタのソースに接続され、かつ、前記第4のト
ランジスタのドレインが前記第2の端子と接続されてな
るものとする。
【0031】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)図1は本発明
の第1の実施形態に係る発振回路の構成を示す回路図で
ある。図1において、第1のリング発振器11は3個の
遅延素子11a〜11cがリング状に接続されてなり、
第2のリング発振器12は3個の遅延素子12a〜12
cがリング状に接続されてなる。位相結合回路13a〜
13fは、それぞれ、対応する2個の遅延素子の出力信
号の位相関係を安定させる機能を有し、第1および第2
のリング発振器11,12の位相を互いに結合させてい
る。
【0032】すなわち、第2のリング発振器12の第1
段の遅延素子12aの出力は、第1のリング発振器11
の第1段の遅延素子11aの出力に位相結合回路13a
を介して接続されるとともに、第1のリング発振器11
の第2段の遅延素子11bの出力に位相結合回路13b
を介して接続されている。同様に、第2のリング発振器
12の第2段の遅延素子12bの出力は、第1のリング
発振器11の第2段の遅延素子11bの出力に位相結合
回路13cを介して接続されるとともに、第1のリング
発振器11の第3段の遅延素子11cの出力に位相結合
回路13dを介して接続されている。また第2のリング
発振器12の第3段の遅延素子12cの出力は、第1の
リング発振器11の第3段の遅延素子11cの出力に位
相結合回路13eを介して接続されるとともに、第1の
リング発振器11の第1段の遅延素子11aの出力に位
相結合回路13fを介して接続されている。
【0033】図1の発振回路の動作について、説明す
る。
【0034】図2(a)〜(f)はインバータ3段から
なるリング発振器の発振時における位相状態を示す図で
ある。発振器の場合、位相状態としてとり得る状態のう
ちエネルギーが最も低い状態間を遷移しながら、発振が
維持される。図2に示すインバータ3段のリング発振器
の場合、インバータの出力は“H”と“L”の2種類で
あるので、23 通りの位相状態がある。ところがそのう
ち全インバータ出力が“H”の状態と全インバータ出力
が“L”の状態とは、他の6状態に比べてエネルギーが
高い不安定状態であるので、発振時の位相状態にはなり
得ない。したがって、インバータ3段のリング発振器
は、図2に示すように、残りの6種類の位相状態が順次
遷移しながら発振を維持する。このように6種類の位相
状態を持つ場合、一周期360度の位相に対して位相分
解能は60度であるという。
【0035】ところで図1の発振回路において、位相結
合回路13a,13bの特性すなわち位相結合強度がほ
ぼ同等であるとすると、図3に示すように、第2のリン
グ発振器12の遅延素子12aの出力信号は第1のリン
グ発振器11の遅延素子11a,11bの出力信号の中
間の位相を有する。同様に第2のリング発振器12の遅
延素子12bの出力信号は第1のリング発振器11の遅
延素子11b,11cの出力信号の中間の位相を有し、
遅延素子12cの出力信号は遅延素子11c,11aの
出力信号の中間の位相を有する。これにより、第1およ
び第2のリング発振器11,12は、その位相状態が、
各遅延素子11a〜11c,12a〜12cの遅延時間
のほぼ1/2だけ時間的にずれた状態で発振を維持す
る。言い換えると、一周期360度の位相に対して12
種類の位相状態を持つことになるので位相分解能は30
度になる。この結果、発振回路の位相状態の分解能を、
第1および第2のリング発振器11,12を構成する遅
延素子11a〜11c,12a〜12cの遅延時間で決
まる限界のほぼ2倍まで高めることが可能になり、各遅
延素子11a〜11c,12a〜12cの遅延時間の1
/2の時間が遅延分解能として実現される。
【0036】このように、遅延素子の出力同士を位相結
合回路を用いて接続することによって、リング発振器の
位相を簡単に補間することができる。例えば、第1のリ
ング発振器11の遅延素子11a,11bおよび第2の
リング発振器12の遅延素子12a、並びに位相結合回
路13a,13bによって、本発明に係る位相調整回路
が構成されているといえる。
【0037】もちろんこの場合、位相結合回路の位相結
合強度を変えて設定することによって、種々の位相状態
を容易につくり出すことができる。例えば位相結合回路
13a,13bの位相結合強度の比を2対1にすると、
第2のリング発振器12の遅延素子12aの出力信号は
第1のリング発振器11の遅延素子11a,11bの出
力信号の位相を1対2で補間する位相を有することにな
る。すなわち、遅延素子12aの出力信号は、遅延素子
11aの出力信号から20度位相遅れで、遅延素子11
bの出力信号から40度位相進みになる。
【0038】図4は図1の発振回路における位相結合回
路および遅延素子の構成例を示す図である。同図中、
(a)は位相結合回路、(b)は差動回路構成の遅延素
子である。図4(a)に示すように、位相結合回路は第
1のトランジスタとしてのNMOSトランジスタ41a
と第2のトランジスタとしてのNMOSトランジスタ4
1bによって構成された正帰還回路からなる。正帰還回
路では、2つの出力位相は必ず逆相になるように制御さ
れる。したがって、第1および第2の端子42a,42
bにおける信号の位相は互いに逆相になるように結合さ
れる。第1の端子42aはこの位相結合回路に対応する
2個の遅延素子の出力の一方に接続され、他方の遅延素
子は第2の端子42bに接続される。
【0039】また図4(b)に示すような差動回路構成
の遅延素子は、信号を正相でも逆相でも取り出せるので
リング発振器を構成するのに適している。44a,44
bは入力端子、45a,45bは出力端子である。出力
端子45a,45bはNMOSトランジスタ43a,4
3bからなる正帰還回路によって結合されている。この
ため、出力端子45a,45bの出力位相は必ず逆相に
なる。
【0040】図5は図1の発振回路を図4の位相結合回
路および遅延素子を用いて構成した場合の具体的な構成
例を示す図である。図5において、第1のリング発振器
11を構成する3個の遅延素子11a,11b,11c
および第2のリング発振器12を構成する3個の遅延素
子12a,12b,12cはそれぞれ図4(b)の構成
からなる。また位相結合回路13a〜13fはそれぞれ
図4(a)の構成からなる。
【0041】なお図5では、図1の構成要素に加えて、
図4(a)の構成からなる位相結合回路14a〜14f
をさらに設けている。すなわち、各遅延素子11a〜1
1c,12a〜12cの2個の差動出力に対してそれぞ
れ位相結合回路13a〜13f,14a〜14fを設け
ている。位相結合回路14a〜14fは、第1のリング
発振器11の端子B,C,Dおよび第2のリング発振器
12の端子E,F,Gに、その接続関係が位相結合回路
13a〜13fによる接続関係と同様になるように設け
られている。ただし、第1および第2のリング発振器1
1,12の位相関係は、各遅延素子11a〜11c,1
2a〜12cの2個の差動出力のいずれか一方を位相結
合回路によって接続すれば維持されるので、位相結合回
路14a〜14fはあえて設けなくても本実施形態の効
果は得ることができる。
【0042】本実施形態に係る発振回路の動作は次のよ
うにも説明することができる。図4(a)の位相結合回
路は、エネルギーが高い不安定状態すなわち第1および
第2の端子42a,42bの電位がともに“H”または
ともに“L”である状態と、エネルギーが低い安定状態
すなわち第1および第2の端子42a,42bの電位の
一方が“H”であり他方が“L”である状態との、2種
類の状態をとり得る。発振回路はできるだけエネルギー
の低い安定状態で発振を維持しようとするので、2個の
リング発振器11,12は、各位相結合回路13a〜1
3fが安定状態になる位相状態のままで発振を続けるわ
けである。
【0043】図6は図5の発振回路のシミュレーション
結果を示す図であり、各遅延素子出力の時間変化を示す
グラフである。同図中、(a)は第1のリング発振器1
1のみの遅延素子出力の時間変化、(b)は第1および
第2のリング発振器11,12の両方の遅延素子出力の
時間変化を示している。図6(b)を図6(a)と比較
すると、本実施形態に係る発振回路では、第1および第
2のリング発振器11,12の出力位相が互いに補間さ
れているのが分かる。この場合の位相状態は12状態と
なる。したがって、本実施形態によって遅延素子におけ
る遅延時間の1/2の遅延分解能が実現される。
【0044】図1の発振回路は2個のリング発振器を用
いて構成したが、本実施形態は、3個以上のリング発振
器を位相結合させた構成に容易に拡張することができ
る。
【0045】図7は本実施形態に係る発振回路の他の構
成例であり、3個のリング発振器を位相結合させたもの
を示す図である。図7において、第1のリング発振器2
1は3個の遅延素子21a〜21cがリング状に接続さ
れてなり、第2のリング発振器22は3個の遅延素子2
2a〜22cがリング状に接続されてなり、第3のリン
グ発振器23は3個の遅延素子23a〜23cがリング
状に接続されてなる。位相結合回路24a〜24c,2
5a〜25c,26a〜26cは、第1〜第3のリング
発振器21,22,23の位相を互いに結合させてい
る。
【0046】例えば第2のリング発振器22の第1段の
遅延素子22aの出力は、第1のリング発振器21の第
1段の遅延素子21aの出力に位相結合回路24aを介
して接続されるとともに、第3のリング発振器23の第
1段の遅延素子23aの出力に位相結合回路25aを介
して接続されている。第3のリング発振器23の第1段
の遅延素子23aの出力は、第1のリング発振器21の
第2段の遅延素子21bの出力(図のD)にも位相結合
回路26aを介して接続されている。
【0047】すなわち、第1のリング発振器21の遅延
素子21a,21b間の位相は、位相結合回路24a,
25a,26aによって3個に分割されて補間される。
同様に、遅延素子21b,21c間の位相も位相結合回
路24b,25b,26bによって分割されて補間さ
れ、遅延素子21c,21a間の位相も位相結合回路2
4c,25c,26cによって分割されて補間される。
この結果、第1〜第3のリング発振器21,22,23
はそれぞれ位相が20度ずつずれた状態で結合されるこ
とになり、この位相関係を保ったまま、発振を続ける。
したがって、発振回路の位相状態の分解能を、第1〜第
3のリング発振器21〜23を構成する遅延素子21a
〜21c,22a〜22c,23a〜23cの遅延時間
で決まる限界のほぼ3倍まで高めることが可能になり、
各遅延素子21a〜21c,22a〜22c,23a〜
23cの遅延時間のほぼ1/3の時間が遅延分解能とし
て実現される。
【0048】同様の構成をm個のリング発振器を用いて
実現した場合には、各遅延素子の遅延時間のほぼ1/m
の時間が遅延分解能として実現される。
【0049】なお本実施形態では各リング発振器は3段
の遅延素子によって構成されるものとしたが、本発明は
これに限られるものではなく、発振が維持されればいか
なる段数の遅延素子からなるリング発振器を用いても本
発明は実現可能である。
【0050】(第2の実施形態)第1の実施形態に係る
発振回路で用いたリング発振器は信号が巡回する回路で
あるが、これは遅延素子が無限に接続された信号遅延回
路とみなすことができる。言い換えると、膨大な個数の
遅延素子が結合された信号遅延回路を信号が伝搬する状
態は、広い意味での発振状態であると考えられる。した
がって、相当数の遅延素子からなる2個の信号遅延回路
を第1の実施形態で示した位相結合回路を用いて位相結
合させれば、入力信号の位相が補間された信号をその出
力から取り出すことができるはずである。このように構
成された回路を、本願明細書では位相補間回路と呼ぶ。
【0051】図8は本発明の第2の実施形態に係る位相
補間回路の構成を示す図である。図8において、30は
本実施形態に係る位相補間回路の単位ブロックであり、
この単位ブロック30を必要に応じた段数だけ縦続接続
することによって、本実施形態に係る位相補間回路が構
成される。
【0052】図9は単位ブロック30の内部構成を示す
図である。図9において、31a,31bは端子aから
入力された信号を遅延させて端子dに出力する遅延素
子、32a,32bは端子cから入力された信号を遅延
させて端子fに出力する遅延素子、33a〜33dは位
相結合回路である。各単位ブロック30の遅延素子31
a,31bによって第1の信号遅延回路が構成されてお
り、各単位ブロック30の遅延素子32a,32bによ
って第2の信号遅延回路が構成されている。
【0053】第2の信号遅延回路の第i(iは正の整
数)段の遅延素子に相当する遅延素子32aの出力は、
第1の信号遅延回路の第i段の遅延素子に相当する遅延
素子31aの出力に位相結合回路33aを介して接続さ
れるとともに、第1の信号遅延回路の第(i+1)段の
遅延素子31bの出力に位相結合回路33bを介して接
続されている。また第2の信号遅延回路の第(i+1)
段の遅延素子に相当する遅延素子32bの出力は、遅延
素子31bの出力に位相結合回路33cを介して接続さ
れるとともに、この単位ブロック30の後段の単位ブロ
ック30の、第1の信号遅延回路の第(i+2)段の遅
延素子に相当する遅延素子31aの出力に位相結合回路
33dを介して接続されている。
【0054】このような構成によって、遅延素子32a
の出力は、位相結合回路33a,33bによって、遅延
素子31a,31bの出力位相を補間するようにその位
相状態が保たれる。同様に遅延素子32bの出力は、位
相結合回路33c,33dによって、遅延素子31bお
よびこの単位ブロックの後段に接続される単位ブロック
の遅延素子31aの出力位相を補間するようにその位相
状態が保たれる。この結果、端子dと端子fの出力信号
は各遅延素子31a,31bの遅延時間の1/2だけ時
間的に位相がずれることになる。したがって、各遅延素
子31a,31bの遅延時間の1/2の遅延分解能を実
現することができる。
【0055】このように、遅延素子の出力同士を位相結
合回路を用いて接続することによって、信号遅延回路の
位相を簡単に補間することができる。例えば、第1の信
号遅延回路の遅延素子31a,31bおよび第2の信号
遅延回路の遅延素子32a並びに位相結合回路33a,
33bによって、本発明に係る位相調整回路が構成され
ているといえる。
【0056】図10は図8,9の位相補間回路における
遅延素子の構成例であって、シングルエンド回路構成の
遅延素子を示す図である。図10において、52aは入
力端子、52bは出力端子である。図10に示すよう
に、シングルエンドの信号を扱う場合には、信号が正相
でとりだせるようにNMOSインバータ51a,51b
を2段接続する必要がある。
【0057】(第3の実施形態)第1の実施形態に係る
発振回路を基にして、リング発振器の発振周波数よりも
周波数の高い高周波信号を容易に生成することができ
る。
【0058】リング発振器の発振周波数よりも周波数の
高い高周波信号を得る方法としては、図11に示すよう
に、位相が直交する2個の信号をリング発振器81から
取り出し、この2個の信号の排他的論理和をとる方法が
知られていた。図11の構成では、リング発振器81の
発振周波数の2倍の周波数の信号が排他的論理和回路8
5から出力される。しかしながらこの構成では、リング
発振器81から直交位相を取り出すために最低4段の遅
延素子81a〜81dによってリング発振器81を構成
する必要があった。
【0059】図12は本発明の第3の実施形態に係る発
振回路であって、リング発振器の発振周波数の2倍の周
波数の信号を出力可能なものの構成を示す図である。図
12の発振回路の基本構成は図1の発振回路と同様であ
り、図1と共通の構成要素には同一の符号を付してい
る。図1と異なるのは、第1のリング発振器11の遅延
素子11aの出力と第2のリング発振器12の遅延素子
12bの出力とを入力とする排他的論理和回路15を備
えている点である。
【0060】第1の実施形態で説明したように、第1お
よび第2のリング発振器11,12はその位相が30度
ずれた状態で発振を維持する。このため第1および第2
のリング発振器11,12から、位相が直交する信号を
容易に取り出すことができる。例えば図12に示すよう
に、位相が直交する2個の信号として第1のリング発振
器11の第1段の遅延素子11aの出力信号と第2のリ
ング発振器12の第2段の遅延素子12bの出力信号と
を選択し、この2個の信号を排他的論理和回路15の入
力とする。これにより、排他的論理和回路15から、第
1および第2のリング発振器11,12の発振周波数の
2倍の周波数の信号が出力される。
【0061】ここで本実施形態に係る図12の構成と従
来の図11の構成とを比較すると、各遅延素子の遅延時
間が例えば限界まで短縮されているとすると、当然のこ
とながら、図12に示す3段のリング発振器11,12
の方が図11に示す4段のリング発振器81よりもその
発振周波数は高くなる。このため、出力信号の周波数も
また図12の構成の方がより高くなる。逆に図11の構
成において図12と同等の周波数の信号を生成するため
には、各遅延素子の駆動電力をより高めてその遅延時間
をより小さくする必要がある。したがって、本実施形態
によると、従来よりも高い周波数の信号を生成すること
ができ、また、従来と同等の周波数の信号を消費電力が
より低い状態で生成することができる。
【0062】(第4の実施形態)第1〜第3の実施形態
では、リング発振器や信号遅延回路において、位相結合
回路を用いてより分解能の高い細かな位相状態の生成を
実現した。この位相結合回路の位相結合強度を外部から
制御できれば、リング発振器や信号遅延回路の位相状態
を直接制御できるはずである。
【0063】位相状態を直接制御できる発振器や信号遅
延回路は、様々な用途への応用が考えられる。例えば位
相同期回路にこのような発振器を用いると、従来では電
圧によって発振器の発振周波数を制御し、これにより間
接的に発振器の位相状態を制御していたのに対して、発
振器の位相状態が直接制御可能になるので、応答性の高
い位相同期回路を容易に実現することができる。
【0064】図13(a),(b)は位相結合強度が可
変の位相結合回路の構成を示す図である。図13(a)
において、61aは第1のトランジスタとしてのNMO
Sトランジスタ、61bは第2のトランジスタとしての
NMOSトランジスタ、62は電流源、63a,63b
は第1および第2の端子、64は電流源62の電流量を
制御するための制御端子である。また図13(b)にお
いて、65aは第3のトランジスタとしてのNMOSト
ランジスタ、65bは第4のトランジスタとしてのNM
OSトランジスタ、66aは第1のトランジスタとして
のNMOSトランジスタ、66bは第2のトランジスタ
としてのNMOSトランジスタ、67a,67bは第1
および第2の端子、68はNMOSトランジスタ65
a,65bのゲート電位を制御するための制御端子であ
る。
【0065】まず図13(a)の回路では、電流源62
の電流量を制御端子64から制御することによって、N
MOSトランジスタ61a,61bの電流利得を制御
し、第1および第2の端子63a,63bにおける信号
の位相結合強度を可変にすることができる。また図13
(b)の回路では、NMOSトランジスタ65a,65
bが、制御端子68からのゲート電位の制御により非飽
和領域において抵抗として動作することによって、NM
OSトランジスタ66a,66bのドレイン電位を制御
し、第1および第2の端子67a,67bにおける信号
の位相結合強度を可変にすることができる。すなわち、
NMOSトランジスタ65a,65bのMOS抵抗値が
大きい方がNMOSトランジスタ66a,66bのドレ
イン・ソース間電圧が小さくなるため、正帰還の強度が
弱くなり、位相結合強度も弱くなる。
【0066】図14は本発明の第4の実施形態に係る発
振回路の構成を示す図である。図14において、71は
3個の遅延素子71a,71b,71cがリング状に接
続されてなる第1のリング発振器、72は3個の遅延素
子72a,72b,72cがリング状に接続されてなる
第2のリング発振器、73a〜73fは図13(a)ま
たは(b)に示すような位相結合強度が可変の位相結合
回路である。位相結合回路73a〜73fの制御端子6
4または68は第1または第2の位相制御端子74a,
74bに接続される。第1の位相結合回路群をなす位相
結合回路73a,73c,73eはその位相結合強度が
第1の位相制御端子74aに入力される信号によって制
御され、第2の位相結合回路群をなす位相結合回路73
b,73d,73fはその位相結合強度が第2の位相制
御端子74bに入力される信号によって制御される。7
5aは周波数制御端子であり、各遅延素子71a〜71
c,72a〜72cはその遅延時間が周波数制御端子7
5aから制御可能に構成されている。
【0067】第1の位相制御端子74aの電圧が相対的
に高くなり、第2の位相制御端子74bの電圧が相対的
に低くなると、位相結合回路73a,73c,73eの
位相結合状態は強くなる一方、位相結合回路73b,7
3d,73fの位相結合状態は弱くなる。したがって、
第1および第2のリング発振器71,72の位相状態
は、遅延素子71aと遅延素子72aの出力位相がほぼ
同位相になるようになる。一方、第2の位相制御端子7
4bの電圧が相対的に高くなり、第1の位相制御端子7
4aの電圧が相対的に低くなると、第1および第2のリ
ング発振器71,72の位相状態は、遅延素子71bと
遅延素子72aの出力位相がほぼ同位相になるようにな
る。
【0068】このように、位相結合回路73a〜73f
の位相結合強度を第1および第2の位相制御端子74
a,74bから制御することによって、第1および第2
のリング発振器71,72の位相状態を直接制御するこ
とが可能になる。
【0069】図15は図14の発振回路を用いた位相同
期回路の構成を示す図である。図15において、70は
図14に示す発振回路、76は位相比較器、77aは第
1の低域通過フィルタ、77bは第2の低域通過フィル
タ、78は分周器、79aは第1の差動増幅回路、79
bは第2の差動増幅回路である。発振回路70の第1の
位相制御端子74aには第1の差動増幅回路79aの出
力が入力され、第2の位相制御端子74bには第2の差
動増幅回路79bの出力が入力される。第1および第2
の位相制御端子74a,74bに入力される信号は、そ
れぞれ第1または第2の差動増幅回路79a,79bを
経由することによって、互いに逆相の信号になる。
【0070】図15に示す位相同期回路の動作について
説明する。
【0071】位相比較器76の出力は、2種類の経路を
経て発振回路70に入力される。1つは従来例と同様
に、第1の低域通過フィルタ77aを通って発振回路7
0の周波数制御端子75aに入力される経路であり、こ
の経路を通過した信号は発振回路70の出力端子75b
に出力され、分周器78を経由して位相比較器76にフ
ィードバックされる。この経路は従来例と同様の信号経
路であるので、従来の位相比較器と同じ応答特性を示
す。
【0072】図15の位相同期回路において特徴的なの
は、第2の低域通過フィルタ77bを経由し、第1また
は第2の差動増幅回路79a,79bを通って発振回路
70の第1および第2の位相制御端子74a,74bに
入力される経路である。
【0073】図16は比較例としての従来の一般的な位
相同期回路の構成を示すブロック図である。位相比較器
91は入力端子95に入力されたクロック信号と分周器
94の出力信号とを位相比較し、その位相差に応じた位
相誤差信号を低域通過フィルタ92に出力する。低域通
過フィルタ92は位相誤差信号の高域ノイズ成分を除去
する。低域通過フィルタ92を通過した位相誤差信号は
電圧制御発振器93によって位相成分に変換され、分周
器94を介して位相比較器91にフィードバックされ
る。最終的には位相比較器91の入力となる2個の信号
の位相および周波数が一致し、位相同期回路の動作は安
定する。
【0074】従来の位相同期回路では、電圧制御によっ
て電圧制御発振器93の位相を間接的に制御している。
すなわち、電圧→発振周波数→発振位相というように変
換が行われる。このため、発振周波数から発振位相への
変換の際に信号が積分されてしまう。信号が積分される
ということは信号が遅延されることを意味する。したが
って、従来の位相同期回路は、低域通過フィルタLPF
92の積分特性と電圧制御発振器93の積分特性とが直
列接続されるために2次の積分特性を示す応答特性を有
することになり、結果として高速な応答特性を得ること
ができなかった。
【0075】そこで本願発明者は、位相状態を直接制御
可能な本実施形態に係る発振回路を用いることによっ
て、1次の積分特性をもつ位相同期回路を実現し、従来
に比べて高速応答を可能にした。
【0076】すなわち図15の構成では、位相同期回路
のフィードバックループにおいて、従来例のような電圧
→周波数→位相という変換ではなく、電圧→位相という
直接的な変換が行われる。すなわち、発振回路70の内
部で積分特性が付加されないので、第1および第2の低
域通過フィルタ77a,77bのみが積分要素となる1
次ループ位相同期回路が構成される。1次ループ位相同
期回路は積分要素が1個のみであるので、その応答特性
は帯域によらず常に一定である。したがって、高帯域の
位相同期回路を構成しても応答特性にリンギングを起こ
さないため、位相誤差を小さく抑えることが可能にな
る。このように、本実施形態に係る発振回路を用いるこ
とによって、従来よりも位相誤差が小さくかつ応答性の
よい位相同期回路を実現できる。
【0077】
【発明の効果】以上のように本発明によると、発振回路
の発振中における位相状態の時間刻みを、遅延素子の遅
延時間よりも細かくすることができる。これにより、発
振回路の位相状態の分解能を、各リング発振器を構成す
る遅延素子の遅延時間で決まる限界を超えて高めること
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る発振回路の構成
を示す回路図である。
【図2】(a)〜(f)はインバータ3段からなるリン
グ発振器の発振時における位相状態を示す図である。
【図3】図1の発振回路の位相状態を示す図である。
【図4】(a)は図1の発振回路における位相結合回路
の構成例を示す図、(b)は図1の発振回路における遅
延素子の構成例を示す図である。
【図5】図1の発振回路の具体的な構成例を示す図であ
る。
【図6】本発明の第1の実施形態に係る発振回路のシミ
ュレーション結果を示す図であり、(a)は単独のリン
グ発振器の遅延素子出力の時間変化を示すグラフ、
(b)は本実施形態に係る発振回路の遅延素子出力の時
間変化を示すグラフである。
【図7】本発明の第1の実施形態に係る発振回路の他の
構成例を示すグラフである。
【図8】本発明の第2の実施形態に係る位相補間回路の
構成を示す図である。
【図9】図8の位相補間回路における単位ブロックの内
部構成を示す図である。
【図10】図8,9の位相補間回路における遅延素子の
構成例を示す図である。
【図11】従来の、リング発振器の発振周波数の2倍の
周波数の信号を出力可能な発振回路の構成を示す図であ
る。
【図12】本発明の第3の実施形態に係る発振回路の構
成を示す図である。
【図13】(a),(b)は位相結合強度が可変の位相
結合回路の構成を示す図である。
【図14】本発明の第4の実施形態に係る発振回路の構
成を示す図である。
【図15】図14の発振回路を用いた位相同期回路の構
成を示す図である。
【図16】従来の一般的な位相同期回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図17】従来の発振回路としてのリング発振器の構成
を示す図である。
【図18】(a),(b)は遅延素子の遅延時間と駆動
電力との関係を示す図である。
【符号の説明】
11 第1のリング発振器 11a〜11c 遅延素子 12 第2のリング発振器 12a〜12c 遅延素子 13a〜13f 位相結合回路 15 排他的論理和回路 21 第1のリング発振器 21a〜21c 遅延素子 22 第2のリング発振器 22a〜22c 遅延素子 23 第3のリング発振器 23a〜23c 遅延素子 24a〜24c,25a〜25c,26a〜26c 位
相結合回路 31a,31b,32a,32b 遅延素子 33a〜33d 位相結合回路 41a NMOSトランジスタ(第1のトランジスタ) 41b NMOSトランジスタ(第2のトランジスタ) 42a 第1の端子 42b 第2の端子 61a NMOSトランジスタ(第1のトランジスタ) 61b NMOSトランジスタ(第2のトランジスタ) 62 電流源 63a 第1の端子 63b 第2の端子 64 制御端子 65a NMOSトランジスタ(第3のトランジスタ) 65b NMOSトランジスタ(第4のトランジスタ) 66a NMOSトランジスタ(第1のトランジスタ) 66b NMOSトランジスタ(第2のトランジスタ) 67a 第1の端子 67b 第2の端子 68 制御端子 70 発振回路 71 第1のリング発振器 71a〜71c 遅延素子 72 第2のリング発振器 72a〜72c 遅延素子 73a〜73f 位相結合回路 74a 第1の位相制御端子 74b 第2の位相制御端子 75a 周波数制御端子 76 位相比較器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03L 7/099 H03L 7/08 F H04L 7/033 H04L 7/02 B (72)発明者 藤山 博邦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5B079 BA20 BB10 DD02 DD06 DD20 5J001 AA04 BB12 BB13 BB14 BB20 BB24 BB25 DD04 5J043 AA04 AA21 AA25 FF03 GG02 LL01 5J106 AA01 AA04 BB01 CC03 CC06 CC20 CC21 CC38 CC41 CC52 CC58 FF09 GG01 HH02 JJ01 KK05 LL01 5K047 AA03 GG09 GG11 GG27 MM36 MM49 MM50 MM63

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 n(nは2以上の整数)個の遅延素子が
    リング状に接続されてなる第1および第2のリング発振
    器と、 前記第2のリング発振器の第i(iは整数:1≦i≦
    n)段の遅延素子の出力と前記第1のリング発振器の第
    i段の遅延素子の出力との間、および前記第2のリング
    発振器の第i段の遅延素子の出力と前記第1のリング発
    振器の第(i+1)(ただしi=nのときは1)段の遅
    延素子の出力との間にそれぞれ設けられ、対応する2個
    の遅延素子の出力信号の位相関係を安定させる複数の位
    相結合回路とを備えた発振回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の発振回路において、 前記位相結合回路は、それぞれ、 第1および第2の端子と、 ソースが電源に接続された一の導電型の第1および第2
    のトランジスタとを備え、 前記第1の端子に対して前記第1のトランジスタのドレ
    インおよび前記第2のトランジスタのゲートが接続さ
    れ、かつ、前記第2の端子に対して前記第1のトランジ
    スタのゲートおよび前記第2のトランジスタのドレイン
    が接続されてなり、 前記第1の端子は当該位相結合回路に対応する2個の遅
    延素子の出力の一方に接続されており、かつ、前記第2
    の端子は他方の遅延素子に接続されていることを特徴と
    する発振回路。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の発振回路において、 前記第1のリング発振器の一の遅延素子の出力と、前記
    第2のリング発振器の,この一の遅延素子の出力信号と
    位相が直交する信号が出力される遅延素子の出力とを入
    力とする排他的論理和回路を備えたことを特徴とする発
    振回路。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の発振回路において、 前記nは3であり、 前記排他的論理和回路は、前記第1のリング発振器の第
    i段の遅延素子の出力と、前記第2のリング発振器の第
    (i+1)(ただしi=nのときは1)段の遅延素子の
    出力とを入力とすることを特徴とする発振回路。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の発振回路において、 前記位相結合回路は、その位相結合強度が可変に構成さ
    れていることを特徴とする発振回路。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の発振回路において、 前記位相結合回路は、それぞれ、 第1および第2の端子と、制御端子と、 前記制御端子から電流量を制御可能に構成された電流源
    と、 ソースが前記電流源に接続された一の導電型の第1およ
    び第2のトランジスタとを備え、 前記第1の端子に対して前記第1のトランジスタのドレ
    インおよび前記第2のトランジスタのゲートが接続さ
    れ、かつ、前記第2の端子に対して前記第1のトランジ
    スタのゲートおよび前記第2のトランジスタのドレイン
    が接続されてなり、 前記第1の端子は当該位相結合回路に対応する2個の遅
    延素子の出力の一方に接続されており、かつ、前記第2
    の端子は他方の遅延素子に接続されていることを特徴と
    する発振回路。
  7. 【請求項7】 請求項5記載の発振回路において、 前記位相結合回路は、それぞれ、 第1および第2の端子と、制御端子と、 ソースが電源に接続された一の導電型の第1および第2
    のトランジスタと、 前記制御端子にゲートが接続され、かつ、ソースが前記
    第1のトランジスタのドレインに接続された一の導電型
    の第3のトランジスタと、 前記制御端子にゲートが接続され、かつ、ソースが前記
    第2のトランジスタのドレインに接続された一の導電型
    の第4のトランジスタとを備え、 前記第1の端子に対して前記第3のトランジスタのドレ
    インおよび前記第2のトランジスタのゲートが接続さ
    れ、かつ、前記第2の端子に対して前記第1のトランジ
    スタのゲートおよび前記第4のトランジスタのドレイン
    が接続されてなり、 前記第1の端子は当該位相結合回路に対応する2個の遅
    延素子の出力の一方に接続されており、かつ、前記第2
    の端子は他方の遅延素子に接続されていることを特徴と
    する発振回路。
  8. 【請求項8】 請求項5記載の発振回路において、 第1および第2の位相制御端子、並びに周波数制御端子
    を備え、 前記第2のリング発振器の第i段の遅延素子の出力と前
    記第1のリング発振器の第i段の遅延素子の出力との間
    に設けられた位相結合回路からなる第1の位相結合回路
    群は、その位相結合強度が前記第1の位相制御端子から
    制御可能に構成されており、 前記第2のリング発振器の第i段の遅延素子の出力と前
    記第1のリング発振器の第(i+1)段の遅延素子の出
    力との間に設けられた位相結合回路からなる第2の位相
    結合回路群は、その位相結合強度が前記第2の位相制御
    端子から制御可能に構成されており、かつ、 各遅延素子は、その遅延時間が前記周波数制御端子から
    制御可能に構成されていることを特徴とする発振回路。
  9. 【請求項9】 位相比較器と、この位相比較器の出力に
    応じて発振状態を変化させる発振回路とを有する位相同
    期回路であって、 前記発振回路は、 請求項8記載の発振回路であって、前記第1または第2
    のリング発振器の一の遅延素子の出力をその出力とする
    ものであり、前記周波数制御端子からその発振周波数が
    制御され、かつ、前記第1および第2の位相制御端子か
    らその出力位相が制御される位相同期回路。
  10. 【請求項10】 n(nは2以上の整数)個の遅延素子
    がリング状に接続されてなるm(mは2以上の整数)個
    のリング発振器と、 前記第k(kは整数:1≦k≦(m−1))のリング発
    振器における第i(iは整数:1≦i≦n)段の遅延素
    子の出力と第(k+1)のリング発振器の第iの遅延素
    子の出力との間、および前記第mのリング発振器の第i
    の遅延素子の出力と前記第1のリング発振器の第(i+
    1)(ただしi=nのときは1)段の遅延素子の出力と
    の間にそれぞれ設けられ、対応する2個の遅延素子の出
    力信号の位相関係を安定させる複数の位相結合回路とを
    備えた発振回路。
  11. 【請求項11】 n(nは2以上の整数)個の遅延素子
    が直列に接続されてなる第1および第2の信号遅延回路
    と、 前記第2の信号遅延回路の第i(iは整数:1≦i≦
    (n−1))段の遅延素子の出力と前記第1の信号遅延
    回路の第i段の遅延素子の出力との間、前記第2の信号
    遅延回路の第i段の遅延素子の出力と前記第1の信号遅
    延回路の第(i+1)段の遅延素子の出力との間、およ
    び前記第2の信号遅延回路の第n段の遅延素子の出力と
    前記第1の信号遅延回路の第n段の遅延素子の出力との
    間にそれぞれ設けられ、対応する2個の遅延素子の出力
    信号の位相関係を安定させる複数の位相結合回路とを備
    えた位相補間回路。
  12. 【請求項12】 信号が伝搬する回路に設けられた第
    1,第2,第3の遅延素子と、 前記第1の遅延素子の出力と前記第2の遅延素子の出力
    との間に設けられ、この第1および第2の遅延素子の出
    力信号の位相関係を安定させる第1の位相結合回路と、 前記第1の遅延素子の出力と前記第3の遅延素子の出力
    との間に設けられ、この第1および第3の遅延素子の出
    力信号の位相関係を安定させる第2の位相結合回路とを
    備えた位相調整回路。
  13. 【請求項13】 請求項12記載の位相調整回路におい
    て、 前記第1の遅延素子は、リング発振器を構成しており、 前記第2および第3の遅延素子は、他のリング発振器を
    構成していることを特徴とする位相調整回路。
  14. 【請求項14】 請求項13記載の位相調整回路におい
    て、 前記第2および第3の遅延素子は、同一のリング発振器
    を構成していることを特徴とする位相調整回路。
  15. 【請求項15】 請求項12記載の位相調整回路におい
    て、 前記第1の遅延素子は、信号遅延回路を構成しており、 前記第2および第3の遅延素子は、他の信号遅延回路を
    構成していることを特徴とする位相調整回路。
  16. 【請求項16】 請求項15記載の位相調整回路におい
    て、 前記第2および第3の遅延素子は、同一の信号遅延回路
    を構成していることを特徴とする位相調整回路。
  17. 【請求項17】 第1および第2の端子と、 一の導電型の第1および第2のトランジスタとを備え、 前記第1の端子に対して前記第1のトランジスタのドレ
    インおよび前記第2のトランジスタのゲートが接続さ
    れ、かつ、前記第2の端子に対して前記第1のトランジ
    スタのゲートおよび前記第2のトランジスタのドレイン
    が接続されてなり、 前記第1および第2の端子における信号の位相関係を安
    定させる位相結合回路。
  18. 【請求項18】 請求項17記載の位相結合回路におい
    て、 制御端子と、 前記制御端子から電流量を制御可能に構成された電流源
    とを備え、 前記第1および第2のトランジスタのソースは、電源の
    代わりに前記電流源に接続されていることを特徴とする
    位相結合回路。
  19. 【請求項19】 請求項17記載の位相結合回路におい
    て、 制御端子と、 前記制御端子にゲートが接続された一の導電型の第3お
    よび第4のトランジスタとを備え、 前記第1のトランジスタのドレインは前記第1の端子の
    代わりに前記第3のトランジスタのソースに接続され、
    かつ、前記第3のトランジスタのドレインが前記第1の
    端子と接続され、 前記第2のトランジスタのドレインは前記第2の端子の
    代わりに前記第4のトランジスタのソースに接続され、
    かつ、前記第4のトランジスタのドレインが前記第2の
    端子と接続されてなることを特徴とする位相結合回路。
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