JP2000135475A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

Info

Publication number
JP2000135475A
JP2000135475A JP10309919A JP30991998A JP2000135475A JP 2000135475 A JP2000135475 A JP 2000135475A JP 10309919 A JP10309919 A JP 10309919A JP 30991998 A JP30991998 A JP 30991998A JP 2000135475 A JP2000135475 A JP 2000135475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
cleaning
processing unit
substrate processing
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10309919A
Other languages
English (en)
Inventor
Joichi Nishimura
讓一 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP10309919A priority Critical patent/JP2000135475A/ja
Publication of JP2000135475A publication Critical patent/JP2000135475A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置構成を簡単化、装置の設置面積のコンパ
クト化、スループットの向上などが可能な基板処理装置
を実現する。 【解決手段】 基板収容器1を載置支持する載置台2
と、基板Wに所定の処理を施す複数の基板処理部3とが
基板搬送機構4の搬送路5に沿って、搬送路5を挟んで
対向配置され、各基板処理部3は上下に積層配置されて
いる。基板搬送機構4は、基板収容器1に対する基板W
の取り出し・収容が可能で、かつ、基板処理部3に対す
る基板Wの搬入・搬出も可能な基板搬送アーム21を複
数備え、それら基板搬送アーム21を用いて基板収容器
1に対する基板Wの取り出し・収容と基板処理部3に対
する基板Wの搬入・搬出とを行う。基板処理部3とし
て、基板Wの表裏両面に対する洗浄処理が可能な両面洗
浄処理部を備えてもよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶表示器用のガラス基板、フォトマスク用のガラス基
板、光ディスク用の基板などの基板に対して洗浄処理や
熱処理、塗布処理、現像処理などの所定の処理を施す基
板処理装置に係り、特には、基板収容器から基板を取り
出して、基板処理部で所定の基板処理を施し、処理済の
基板を基板収容器に収容する基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の基板処理装置は、図18
に示すように、大きく分けて基板搬入搬出部100と基
板処理ユニット部200とを備えて構成されている。
【0003】基板搬入搬出部100は、複数枚の基板W
を収容可能な基板収容器1を1つ以上(図では2つ)載
置支持する載置台2と基板搬送機構110と受け渡し台
120とを備えている。基板搬送機構110は、載置台
2に載置された基板収容器1に対する基板Wの取り出し
・収容が可能な平面視で「I」の字型に形成された板状
の基板搬送アーム111を有し、この基板搬送アーム1
11を用いて、載置台2に載置された基板収容器1に対
する基板Wの取り出し・収容を行うようになっている。
各基板収容器1は、基板搬送機構110の搬送路130
に沿って水平方向に1段に並べて載置台2に載置される
ようになっている。
【0004】基板処理ユニット部200は、基板Wに所
定の基板処理を施す1つ以上(図では4つ)の基板処理
部3と基板搬送機構210とを備えている。基板搬送機
構210は、各基板処理部3に対する基板Wの搬入・搬
出が可能な平面視で馬蹄型の基板搬送アーム211を有
し、この基板搬送アーム211を用いて、各基板処理部
3間の基板Wの搬送と、各基板処理部3に対する基板W
の搬入・搬出とを行うようになっている。各基板処理部
3は、基板搬送機構210の搬送路220に沿って水平
方向に1段に並べて配置されている。
【0005】上記基板処理装置の動作は以下のとおりで
ある。基板搬送機構110が基板収容器1から未処理の
基板Wを1枚ずつ取り出して、その基板Wを受け渡し台
120を介して基板搬送機構210に順次引き渡してい
く。基板搬送機構210は受け取った基板Wを各基板処
理部3に順次搬送して、一連の基板処理を施させて、処
理済の基板Wを受け渡し台120を介して基板搬送機構
110に順次引き渡していく。基板搬送機構110は受
け取った処理済の基板Wを基板収容器1に順次収納して
いく。
【0006】また、基板Wの表裏両面を洗浄する基板処
理を行う場合、従来装置は、以下のように構成されてい
る。すなわち、図18に示すように、基板Wの表面に対
する洗浄処理を施す表面洗浄処理部3Aと、基板Wの裏
面に対する洗浄処理を施す裏面洗浄処理部3Bとを基板
搬送機構210の搬送路220に沿って水平方向に1段
に並べて配置している。そして、まず、一方の洗浄処理
部3B(または3A)に基板Wを搬入し、そこで基板W
の一方の面に洗浄処理を施し、それを終えると、その洗
浄処理部3B(または3A)から基板Wを搬出して、他
方の洗浄処理部3A(または3B)へ基板Wを搬送して
そこに基板Wを搬入し、そこで基板Wの他方の面に洗浄
処理を施すようにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、従来装置の構成では、基板搬入搬出部
100と基板処理ユニット部200にそれぞれ基板搬送
機構110、210を備えているので、装置構成が複雑
で、装置の設置面積が大きくなるという欠点があった。
また、動作中に、異なる基板搬送機構110、210の
間での基板Wの受け渡し動作を含んでいるので、スルー
プットの低下を招くという欠点もあった。さらに、異な
る基板搬送機構110、210の間での基板Wの受け渡
しの際に基板Wが位置ずれしないように両基板搬送機構
110、210の間の微妙な位置調整も必要になり、こ
の調整に手間を要するという欠点もあった。
【0008】また、従来装置では、各基板処理部3を、
水平方向に1段に並べて配置しているので、装置に搭載
された全ての基板処理部3が占める設置面積は、個々の
基板処理部3の設置面積の合計となる。従って、基板処
理部3の数が増えればそれに応じて基板処理ユニット部
200(装置)の設置面積が増大する。また、基板搬送
機構210が、各基板処理部3に対する基板Wの搬入・
搬出を行えるようにするために、各基板処理部3を、基
板搬送機構210の搬送路220に沿って配置させてい
る。そのため、基板処理部3の数が増えればそれに応じ
て基板搬送機構210の搬送路220の長さを長くしな
ければならず、基板処理ユニット部200(装置)の設
置面積の増大を助長する。
【0009】また、従来装置の構成で、基板Wの表裏両
面を洗浄する基板処理を行う場合、表面洗浄処理部3A
と裏面洗浄処理部3Bとの2種類の基板処理部3を水平
方向に1段に並べて配置しているので、基板処理ユニッ
ト部200(装置)の設置面積が増大する。また、基板
Wの各面の洗浄を異なる洗浄処理部3A、3Bで別々に
行うとともに、基板Wの表裏両面を洗浄する基板処理の
間に、複数の洗浄処理部3A、3Bに対する基板Wの搬
入・搬出や、各洗浄処理部3A、3Bの間の基板搬送機
構210による基板Wの搬送などの動作が含まれるの
で、スループットが大幅に低下する。
【0010】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、装置構成を簡単化し、装置の設置面積
を小さくでき、スループットを向上でき、基板搬送機構
間の位置調整を不要にすることなどが可能な基板処理装
置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の発明は、基板に対して所定の処理
を施す基板処理装置であって、基板を収容可能な基板収
容器に対する基板の取り出し・収容と、基板に所定の処
理を施す基板処理部に対する基板の搬入・搬出とを行う
基板搬送手段を備え、前記基板搬送手段の搬送路を挟ん
で前記基板収容器を支持する支持部と前記基板処理部と
を対向配置し、かつ、少なくとも一部の前記基板処理部
を上下に積層配置したことを特徴とするものである。
【0012】請求項2に記載の発明は、基板に対して所
定の処理を施す基板処理装置であって、基板を収容可能
な基板収容器に対する基板の取り出し・収容と、基板に
所定の処理を施す基板処理部に対する基板の搬入・搬出
とを行う基板搬送手段を備え、前記基板搬送手段の搬送
路を挟んで前記基板収容器を支持する支持部と前記基板
処理部とを対向配置し、かつ、前記基板処理部の少なく
とも1つは、基板の両面に対する洗浄処理が可能な両面
洗浄処理部であることを特徴とするものである。
【0013】請求項3に記載の発明は、上記請求項2に
記載の基板処理装置において、前記両面洗浄処理部は、
基板の両面に対する同時洗浄処理が可能であることを特
徴とするものである。
【0014】請求項4に記載の発明は、上記請求項2ま
たは3に記載の基板処理装置において、前記両面洗浄処
理部は、中央部が開口された中空部を有する回転子と、
前記回転子と同芯状に設けられ、中央部が開口された中
空部を有するステータとを備えた回転モーターと、前記
回転子に設けられた基板を保持する基板保持手段と、を
備えていることを特徴とするものである。
【0015】請求項5に記載の発明は、上記請求項1な
いし4のいずれかに記載の基板処理装置において、前記
基板搬送手段は、前記基板収容器に対する基板の取り出
し・収容が可能で、かつ、前記基板処理部に対する基板
の搬入・搬出も可能な基板搬送アームを備えていること
を特徴とするものである。
【0016】請求項6に記載の発明は、上記請求項5に
記載の基板処理装置において、前記基板搬送アームは、
平面視で「U」の字型に形成されていることを特徴とす
るものである。
【0017】請求項7に記載の発明は、上記請求項5ま
たは6に記載の基板処理装置において、前記基板搬送手
段は、前記基板搬送アームを複数備えていることを特徴
とするものである。
【0018】
【作用】請求項1、2に記載の発明の作用は次のとおり
である。基板搬送手段は、搬送路に沿って配置された支
持部に支持された基板収容器から基板を取り出し、搬送
路に沿うとともに、搬送路を挟んで上記支持部に対向配
置された基板処理部に、基板収容器から取り出した基板
を搬入させ、その基板処理部での基板処理を基板に施さ
せる。そして、基板処理が終了すると、上記基板搬送手
段は、処理を終えた基板をその基板処理部から搬出させ
る。複数の基板処理部で複数種類の基板処理を基板に施
す場合には、上記と同様の動作で、上記基板搬送手段
は、各基板処理部への基板の搬入・搬出を順次行う。そ
して、上記基板搬送手段は、一連の基板処理を終えた基
板を最後の基板処理部から搬出すると、その基板を基板
収容器に収容する。
【0019】請求項1に記載の発明では、上記基板搬送
手段の搬送路に沿うとともに、この搬送路を挟んで支持
部に対向配置された基板処理部の少なくとも1部を上下
に積層配置しているので、各基板処理部を水平方向に1
段に並べて配置させている従来装置よりも、装置に搭載
された基板処理部が占める設置面積を小さくできる。ま
た、基板処理部を上下に積層配置させることで、上記基
板搬送手段の搬送路の長さを長くすることなく、より多
くの基板処理部を上記搬送路に沿って配置させることも
できる。
【0020】また、請求項2に記載の発明では、基板処
理部の少なくとも1つとして、基板の両面に対する洗浄
処理が可能な両面洗浄処理部を備える。そして、上記基
板搬送手段によって、この両面洗浄処理部に基板が搬入
されると、そこで基板の両面に対する洗浄処理が施さ
れ、処理を終えると、両面が洗浄された基板が、上記基
板搬送手段によって、その両面洗浄処理部から搬出され
る。
【0021】請求項3に記載の発明によれば、上記両面
洗浄処理部に基板が搬入されると、そこで基板の両面に
対する洗浄処理が同時に施される。
【0022】請求項4に記載の発明によれば、上記両面
洗浄処理部では、基板は回転モーターの回転子に設けら
れた基板保持手段に保持され、回転子と同芯状に設けら
れたステータに対して回転子を回転させて、回転子及び
基板保持手段とともに基板を回転させながら、この基板
に対して洗浄処理が施される。
【0023】この回転モーターの回転子は中央部が開口
された中空部を有し、ステータも中央部が開口された中
空部を有する。従って、例えば、回転子をステータの内
側に配設して回転モーターを構成すると、回転モーター
の中央部には(回転子の)中空部が形成され、一方、ス
テータを回転子の内側に配設して回転モーターを構成す
ると、回転モーターの中央部には(ステータの)中空部
が形成される。すなわち、この回転モーターには中央部
が開口された中空部が形成される。
【0024】従って、例えば、基板を回転モーターの上
方で保持する場合、基板保持手段に保持された基板の下
面側(回転モーター側)に対しては、回転モーターの中
空部から洗浄処理を施すことが可能となる。もちろん、
基板保持手段に保持された基板の上面側(回転モーター
と反対側)には障害物はないので、その面に対して自由
に洗浄処理を施すことができる。すなわち、請求項4に
記載の発明によれば、基板の両面に対して好適に洗浄処
理を施すことが可能で、かつ、基板の両面に対して同時
に洗浄処理を施すことが可能となる。また、基板を回転
モーターの下方で保持する場合にも、同様に基板の両面
に対して同時に洗浄処理を施すことが可能となる。
【0025】請求項5に記載の発明によれば、基板搬送
手段は、基板収容器に対する基板の取り出し・収容が可
能で、かつ、基板処理部に対する基板の搬入・搬出も可
能な基板搬送アームを用いて、基板収容器に対する基板
の取り出し・収容と、基板処理部に対する基板の搬入・
搬出とを行う。
【0026】請求項6に記載の発明によれば、基板搬送
手段は、平面視で「U」の字型に形成されている基板搬
送アームの先端側の2股に分かれた保持部分で基板を保
持して、基板収容器に対する基板の取り出し・収容と、
基板処理部に対する基板の搬入・搬出とを行う。
【0027】請求項7に記載の発明によれば、基板搬送
手段は、基板収容器に対する基板の取り出し・収容が可
能で、かつ、基板処理部に対する基板の搬入・搬出も可
能な基板搬送アームを複数備え、これら複数の基板搬送
アームを用いて、基板収容器に対する基板の取り出し・
収容や、基板処理部に対する基板の搬入・搬出を基板を
交換しながら行う。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は本発明の第1実施例に係る
基板処理装置の全体構成を示す平面図であり、図2は第
1実施例装置の側面図、図3は基板搬送機構の搬送路か
ら基板処理部を見た図である。なお、各構成要素の位置
関係などを明確にするために各図には必要に応じてXY
Z直交座標系を付している。ここでは、床面に平行な水
平面をXY平面とし、鉛直方向をZ方向としている。
【0029】この第1実施例装置は、1つ以上(図では
2つ)の基板収容器1を載置支持する支持部に相当する
載置台2と、基板Wに所定の処理を施す複数(図では4
つ)の基板処理部3とが、基板搬送手段に相当する基板
搬送機構4の搬送路5に沿って、この搬送路5を挟んで
対向配置されている。後述するように、基板搬送機構4
は、基板収容器1に対する基板Wの取り出し・収容と、
基板処理部3に対する基板Wの搬入・搬出とを行う。
【0030】基板収容器1には、Z方向に多段の収納溝
1aが刻設されていて、複数枚の基板Wを水平姿勢でZ
方向に多段に収容できるように構成されている。この基
板収容器1は少なくとも正面が開口されていて、そこか
ら基板Wの取り出しと収容が行えるようになっている。
【0031】各基板収容器1は、載置台2の予め決めら
れた位置に、正面を搬送路5に向けて載置される。載置
台2への各基板収容器1の載置は、例えば、自動搬送装
置や人手により行われる。
【0032】基板処理部3としては、例えば、基板Wの
表面に対する洗浄処理を施す表面洗浄処理部3Aと、基
板Wの裏面に対する洗浄処理を施す裏面洗浄処理部3B
とをそれぞれ2つずつ備えている。そして、2つの洗浄
処理部3(例えば、表面洗浄処理部3A)を基板搬送機
構4の搬送路5に沿って水平方向に並べて配置し、これ
ら基板処理部3(3A)の上に、残りの基板処理部3
(例えば、裏面洗浄処理部3B)を積層配置している。
なお、下部側の基板処理部3(3A)の下方には、処理
液を貯留するタンクや配管などを収納するキャビネット
部6が配置されている。
【0033】各基板処理部3(3A、3B)には、基板
Wを保持して回転させるスピンチャックや適宜の洗浄具
などが外囲内に配備されている。この外囲には、基板W
の搬入搬出用の開口10が基板搬送機構4の搬送路5側
の側面に設けられ、この開口10を開閉する図示しない
シャッターなども設けられている。
【0034】この種の基板処理部3のスピンチャックと
しては、例えば、真空吸着式のものや、メカニカル式の
ものが用いられる。
【0035】図4に示すように、真空吸着式のスピンチ
ャック11Aは、回転モーター12の駆動によってZ方
向の軸芯J周りで回転される回転軸13の上端部に、基
板Wの下面の中央部を真空吸着保持する保持台14が一
体回転可能に取り付けられている。
【0036】また、図5に示すように、メカニカル式の
スピンチャック11Bは、回転モーター12の駆動によ
ってZ方向の軸芯J周りで回転される回転軸13の上端
部に、スピンベース15が一体回転可能に取り付けら
れ、このスピンベース15の上面の外周部に周方向に沿
って等間隔に3つ以上の基板保持部材16が立設されて
いる。各基板保持部材16は、基板Wの外周部を下方か
ら載置支持する支持部16aと、支持部16aに支持さ
れた基板Wの外周端縁を押圧保持する保持部16bとを
備えて、スピンベース15の上面から基板Wを隔てて保
持する。保持部16bは、基板Wの外周端縁を押圧する
保持状態と、基板Wの外周端縁から離れて基板Wの保持
を解除する非保持状態とで切替え可能に構成されてい
る。この基板保持部材16(保持部16b)の保持状態
と非保持状態の切替えは、例えば、特開昭63−153
839号公報に開示されているリンク機構などで構成さ
れる。
【0037】洗浄具としては、スピンチャック11Aや
11Bに保持された基板Wの片側の洗浄面に洗浄液を噴
出供給する洗浄液供給ノズルや、洗浄面をブラシ洗浄す
るための洗浄ブラシなど(図示せず)で構成される。
【0038】そして、表面洗浄処理部3Aでは、スピン
チャック11Aや11Bに基板Wを保持して軸芯J周り
で回転させながら、上記洗浄具を用いて基板Wの表面を
洗浄面として洗浄し、裏面洗浄処理部3Bでは、スピン
チャック11Bに基板Wを保持して軸芯J周りで回転さ
せながら、上記洗浄具を用いて基板Wの裏面を洗浄面と
して洗浄する。
【0039】なお、例えば、表面洗浄処理部3Aと裏面
洗浄処理部3Bとでともに、基板Wの洗浄面を上方に向
けて洗浄処理する場合には、例えば、表面洗浄処理部3
Aと裏面洗浄処理部3Bの少なくとのいずれか一方に基
板Wの表面と裏面の向きを反転する周知に反転機構を備
え、必要に応じて基板Wの表裏面が反転されるようにな
っている。また、必要に応じて、反転機構のみを備えて
基板Wの表裏面の反転処理を行う基板処理部3を別途備
えてもよい。
【0040】図1、図2、図6に示すように、基板搬送
機構4は、基板収容器1に対する基板Wの取り出し・収
容が可能で、かつ、基板処理部3に対する基板Wの搬入
・搬出も可能な平面視で「U」の字型の基板搬送アーム
21を複数(図では2つ)備えている。各基板搬送アー
ム21は、先端側の2股に分かれた保持部分22で基板
Wを保持する。各保持部分22には、基板Wを下面から
点接触で載置支持する突起部22aと、基板Wの外周端
縁をガイドして水平方向への移動を規制するガイド部2
2bとを備えていて、基板Wの脱落などを防止して基板
Wを搬送できるように構成されている。
【0041】各基板搬送アーム21はアーム移動機構2
3によって水平方向への進退移動が個別に行えるように
構成されている。
【0042】なお、図6では多関節型のアーム移動機構
23を示している。この多関節型のアーム移動機構23
は、基板搬送アーム21を含めて合計で3本以上の奇数
本(図では3本であるが、5本、7本、…であってもよ
い)のアームセグメント21、23a、23bの連結体
で構成している。
【0043】このアーム移動機構23は、アーム基台2
4に設けられた電動モーターなどの回転駆動装置23c
によって、基端側の第3アームセグメント23bを水平
面内で回動自在にアーム基台24に支持し、中間の第2
アームセグメント23aを水平面内で回動自在に第3ア
ームセグメント23bに支持し、先端側の第1アームセ
グメントである基板搬送アーム21を水平面内で回動自
在に第2アームセグメント23aに支持している。
【0044】そして、基板搬送アーム21の基端部に下
方に向けて垂設固定され、第2アームセグメント23a
の先端部で軸受けされた第1回動軸23dの回動中心S
1と、第2アームセグメント23aの基端部に下方に向
けて垂設固定され、第3アームセグメント23bの先端
部で軸受けされた第2回動軸23eの回動中心S2との
間の長さ(第2アームセグメント23aの有効長)と、
第2回動軸23eの回動中心S2と、第3アームセグメ
ント12の基端部に下方に向けて垂設固定され、回転駆
動装置23cの回転力が伝達される第3回動軸23fの
回動中心S3との間の長さ(第3アームセグメント23
bの有効長)とを同じ長さRに設定している。
【0045】また、第3回動軸23fと第2回動軸23
eとの間に設けられたベルト伝達機構と、第2回動軸2
3eと第1回動軸23dとの間に設けられたベルト伝達
機構(いずれも図示せず)とによって、図6(c)の動
作概念図に示すように、回転駆動装置23cが第3回動
軸23fを介して、例えば、第3アームセグメント23
bを角度θ1だけ所定方向に回動させたとき、第2回動
軸23eが第3回動軸23fの2倍の角度θ2(=2×
θ1)だけ第3回動軸23fと逆方向に回動され、第1
回動軸23dは、第2回動軸23eの1/2倍の角度θ
3(=θ1)だけ第2回動軸23eと逆方向(第3回動
軸23fと同じ方向)に回動させるように動力を伝達さ
せている。
【0046】これにより、回転駆動機構23cによって
第3回動軸23fを正逆方向に回転させることで、アー
ム基台24に対する基板搬送アーム21の姿勢を維持し
ながらアーム基台24に対して基板搬送アーム21を前
進後退させることができる。
【0047】なお、アーム移動機構23は、上述した多
関節型の機構に限らず、例えば、ボールネジやベルト駆
動機構などの周知の1軸方向駆動機構によって構成され
るスライド型の機構であってもよいが、スライド型のア
ーム移動機構23に比べて、多関節型のアーム移動機構
23の方が搬送路5を小さくでき、装置の小型化を図れ
るので、アーム移動機構23としては多関節型の機構の
方が好ましい。
【0048】アーム基台24はZ方向の軸芯Q周りで回
転可能に構成されている。図6(d)では、アーム基台
24を、各基板搬送アーム21を支持する回転部24a
と、昇降機構25に固定された固定部24bとで構成
し、例えば、ステッピングモーターなどの回転駆動部2
6によって固定部24bに対して回転部24aを軸芯Q
周りで回転させるように構成している。これによって、
各基板搬送アーム21が同時に軸芯Q周りで回転して、
各基板搬送アーム21の進退方向を基板収容器1側や基
板処理部3側に向けることができるようになっている。
【0049】また、アーム基台24は、昇降機構25に
よってZ方向に昇降可能に構成されている。これによっ
て、各基板搬送アーム21が同時に昇降移動して、各基
板搬送アーム21の高さ位置を変更できるようになって
いる。
【0050】この昇降機構25としては、例えば、図7
に示すような、いわゆるテレスコピック型の機構で構成
されている。
【0051】このテレスコピック型の昇降機構25は、
順次収納可能な多段の入れ子構造をなす複数(図では5
つ)の昇降部材25a〜25d及び固定部材25eを備
え、各昇降部材25a〜25dを同期して昇降させ、各
昇降部材25a〜25dを伸縮させることでアーム基台
24を昇降させるように構成されている。固定部材25
eは、ベース部材27に固定されている。
【0052】図では、昇降部材25b、25c、25d
にプーリ25f、25g、25hが取り付けられてい
る。各プーリ25f、25g、25hには、ベルトBL
1、BL2、BL3が掛架されている。ベルトBL1の
両端は昇降部材25aの下部と昇降部材25cの上部と
に固定され、ベルトBL2の両端は昇降部材25bの下
部と昇降部材25dの上部とに固定され、ベルトBL3
の両端は昇降部材25cの下部と固定部材25eの上部
とに固定されている。
【0053】そして、モーターなどの駆動機構25iに
よって支持部材25jを介して昇降部材25dが昇降さ
れることにより、プーリ25f、25g、25h及びベ
ルトBL1、BL2、BL3によって動力が伝達され
て、各昇降部材25a〜25dが同期して昇降されるよ
うになっている。
【0054】なお、図7では、昇降機構25の周囲に、
各昇降部材25a〜25dに各々連結され、各昇降部材
25a〜25dの昇降に同期して伸縮昇降するカバー部
材25kや、固定カバー25lなども備え、昇降機構2
5から発生するパーティクルを外部に撒き散らさないよ
うにしている。
【0055】また、昇降機構25として、上記テレスコ
ピック型の機構に限らず、例えば、パンタグラフ型の機
構であってもよいし、ボールネジやベルト駆動機構、ロ
ッドレスシリンダなどの周知の1軸方向駆動機構によっ
て構成されるスライド型の機構であってもよい。
【0056】なお、基板処理部3を上下に積層配置する
本実施例の場合、昇降機構25の昇降ストロークを大き
くする必要がある。スライド型の昇降機構25の場合、
昇降ストロークを大きくすると、下降時の基板搬送機構
4の高さ方向の寸法が大きくなる。これに対して、上記
テレスコピック型やパンタグラフ型の昇降機構25の場
合、下降時の基板搬送機構4の高さ方向の寸法を小さく
しつつ、昇降ストロークを大きくすることが可能であ
る。また、パンタグラフ型の昇降機構25は、昇降スト
ロークを大きくすると、下降時の基板搬送機構4の水平
方向のサイズが大きくなり、装置全体の設置面積の小型
化の妨げになるが、上記テレスコピック型の昇降機構2
5は、下降時の基板搬送機構4の水平方向のサイズをコ
ンパクトにしつつ、昇降ストロークを大きくすることが
可能である。従って、昇降機構25としては上記テレス
コピック型の機構が好ましい。
【0057】昇降機構25を支持しているベース部材2
7は、水平移動部28によって搬送路5の長手方向(図
のY方向)に沿って水平移動可能に構成されている。こ
れによって、各基板搬送アーム21が同時に搬送路5の
長手方向に沿って水平移動し、各基板搬送アーム21を
所望の基板収容器1や基板処理部3の正面に位置させる
ことができるようになっている。水平移動部28は、ボ
ールネジやベルト駆動機構などの周知の1軸方向駆動機
構によって構成されている。
【0058】次に、上記構成を有する実施例装置の動作
を説明する。まず、基板搬送機構4により、載置台2に
載置されている基板収容器1から以下のようにして基板
Wが取り出される。
【0059】基板搬送機構4は、搬送路5に沿った水平
移動と、昇降移動と、軸芯Q周りの回転とによって、基
板Wの取り出しに用いる一方の基板搬送アーム21(基
板Wを保持していない空の基板保持アーム21)を、取
り出す基板Wが収容されている基板収容器1の正面にお
いて、取り出す基板Wの高さ位置に応じた高さに位置さ
せるとともに、その基板搬送アーム21の進退方向を取
り出す基板Wが収容されている基板収納器1の正面側に
向ける。そして、取り出す基板Wの若干下方の高さで、
上記空の基板搬送アーム21を基板収容器1内に進入さ
せ、アーム基台24を所定量上昇移動させて、基板Wを
その基板搬送アーム21に受け取って保持し、その基板
搬送アーム21を後退させて、基板収容器1から基板W
を取り出す。
【0060】なお、図1に示すように、基板搬送アーム
21の幅Baを基板収容器1に刻設された収納溝1aの
幅Bbよりも狭くしているので、基板搬送アーム21は
収納溝1aと干渉せずに、基板Wを取り出すことがで
き、また、収納することもできる。
【0061】基板収容器1から取り出された基板Wは、
以下のようにして基板処理部3に搬入される。
【0062】基板搬送機構4は、搬送路5に沿った水平
移動と、昇降移動と、軸芯Q周りの回転とによって、搬
入する基板Wを保持している一方の基板搬送アーム21
を、その基板Wを搬入する基板処理部3の正面におい
て、その基板処理部3に対する基板Wの搬入高さに位置
させるとともに、その基板搬送アーム21の進退方向を
その基板Wを搬入する基板処理部3側に向ける。そし
て、スピンチャック11Aの保持台14やスピンチャッ
ク11Bの各基板保持部材16の若干上方の高さで、搬
入する基板Wを保持している基板搬送アーム21を開口
10から基板処理部3内に進入させ、アーム基台24を
所定量下降移動させて、その基板Wをスピンチャック1
1Aの保持台14やスピンチャック11Bの各基板保持
部材16に引き渡し、空になった基板搬送アーム21を
後退させて基板処理部3から退出させる。基板処理部3
では、受け取った基板Wをスピンチャック11Aの保持
台14やスピンチャック11Bの各基板保持部材16で
保持して、上述したように基板Wの洗浄面に対する洗浄
処理を行う。
【0063】なお、図4、図5に示すように、基板搬送
アーム21はUの字型の形状に構成され、その先端部の
2股に分かれた保持部分22で、基板Wの中央部と、外
周部の多くの部分を開放した状態で基板Wを保持するの
で、基板搬送アーム21は、基板Wの中央部を保持する
スピンチャック11Aの保持台14や、基板Wの外周部
を部分的に保持するスピンチャック11Bの各基板保持
部材16と干渉せずに、基板Wを基板処理部3に搬入す
る(スピンチャック11Aの保持台14やスピンチャッ
ク11Bの各基板保持部材16に基板Wを引き渡す)こ
とができ、また、搬出する(スピンチャック11Aの保
持台14やスピンチャック11Bの各基板保持部材16
から基板Wを受け取る)こともできる。
【0064】洗浄処理を終えた基板Wの基板処理部3か
らの搬出は以下のようにして行われる。
【0065】上記基板処理部3への基板Wの搬入時と同
様の動作で、基板搬送機構4は、搬送路5に沿った水平
移動と、昇降移動と、軸芯Q周りの回転とによって、基
板Wの搬出に用いる一方の基板搬送アーム21(基板W
を保持していない空の基板保持アーム21)を、基板W
を搬出する基板処理部3の正面において、その基板処理
部3に対する基板Wの搬出高さに位置させるとともに、
その基板搬送アーム21の進退方向を基板Wを搬出する
基板処理部3側に向ける。そして、スピンチャック11
Aの保持台14やスピンチャック11Bの各基板保持部
材16に支持された基板Wの若干下方の高さで、上記空
の基板搬送アーム21を開口10から基板処理部3内に
進入させ、アーム基台24を所定量上昇移動させて、処
理済の基板Wをその基板搬送アーム21に受け取って保
持し、その基板搬送アーム21を後退させて、基板処理
部3から基板Wを搬出する。
【0066】本実施例では、上述したような基板処理部
3に対する基板Wの搬入・搬出を、表面洗浄処理部3A
と裏面洗浄処理部3Bとに対して順次行って、基板Wの
表裏両面に対する洗浄処理が行われる。
【0067】最後の洗浄処理を行った基板処理部3から
搬出された基板Wは、以下のようにして基板収容器1に
収納される。
【0068】上記基板収容器1からの基板Wの取り出し
時と同様の動作で、搬送路5に沿った水平移動と、昇降
移動と、軸芯Q周りの回転とによって、処理済の基板W
を保持している一方の基板搬送アーム21を、その基板
Wを収容する基板収容器1の正面において、その基板W
を収納する収納溝1aの高さ位置に応じた高さに位置さ
せるとともに、その基板搬送アーム21の進退方向をそ
の基板Wを収容する基板収納器1の正面側に向ける。そ
して、処理済の基板Wを保持した基板搬送アーム21を
基板収容器1内に進入させてその基板Wを収納溝1aに
収納し、アーム基台24を所定量下降移動させて、その
基板Wを収納溝1aに引き渡し、空になった基板搬送ア
ーム21を後退させ、基板収容器1への基板Wの収納を
行う。
【0069】基板搬送機構4は、基板収容器1から基板
Wを1枚ずつ順次取り出し、例えば、2つの裏面洗浄処
理部3Bに基板Wを振り分けて搬入し、2つの裏面洗浄
処理部3Bで裏面洗浄を並行して行わせ、裏面洗浄を終
えた基板Wを2つの表面洗浄処理部3Aに振り分けて搬
入し、2つの表面洗浄処理部3Aで表面洗浄を並行して
行わせ、表裏両面の洗浄処理を終えた基板Wを基板収容
器1に順次収容するように動作する。
【0070】このように動作させる際、本実施例の基板
搬送機構4は複数の基板搬送アーム21を備えているの
で、基板収容器1に対する基板Wの取り出し・収容や、
基板処置部3に対する基板Wの搬入・搬出を、基板Wを
交換しながら行うことができる。すなわち、例えば、あ
る基板処理部3で処理する基板Wを1つの基板搬送アー
ム21に保持した状態で、基板Wを保持していない別の
空の基板搬送アーム21を用いて、まず、その基板処理
部3から処理済の基板Wを搬出し、それに続いて、その
基板処理部3で処理する基板Wを保持している基板搬送
アーム21を用いて、その基板処理部3に処理前の基板
Wを搬入することで、ある基板処理部3に対して基板W
を交換して基板Wを搬入・搬出することができる。基板
収容器1に対する基板Wの取り出し・収容も同様にして
基板Wを交換しながら行うことができる。
【0071】以上のように、この第1実施例によれば、
基板収容器1から基板Wを取り出し、基板処理部3に対
する基板Wの搬入・搬出を行い、処理済の基板Wを基板
収容器1に収容する一連の基板Wの搬送を同じ1つの基
板搬送機構4で行うように構成したので、基板収容器1
に対する基板Wの取り出し・収容を行う基板搬送機構1
10と、基板処理部3(3A、3B)に対する基板Wの
搬入・搬出を行う基板搬送機構210とを個別に備えた
従来装置よりも装置構成を簡単にできるとともに、装置
の設置面積を小さくすることができる。
【0072】また、異なる基板搬送機構間の基板Wの受
け渡し動作を省略でき、スループットを向上させること
ができるとともに、基板搬送機構間の位置調整を不要に
することもできる。
【0073】また、この第1実施例装置では、基板処理
部3(3A、3B)を上下に積層配置しているので、各
基板処理部3(3A、3B)を水平方向に1段に並べて
配置させている従来装置よりも、装置に搭載された基板
処理部3が占める設置面積を小さくできるとともに、基
板搬送機構4の搬送路5の長さを長くすることなく、各
基板処理部3を上記搬送路5に沿って配置させることも
できる。従って、装置の設置面積の一層のコンパクト化
を図ることができる。
【0074】なお、基板収容器1に対する基板Wの取り
出し・収容のみが可能な基板搬送アームと、基板処理部
3に対する基板Wの搬入・搬出のみが可能な基板搬送ア
ームとを基板搬送機構4に備えるように構成してもよい
が、その場合には、基板搬送機構4の構造が複雑になる
とともに、2つの基板搬送アーム間での基板Wの受渡し
も必要になってスループットが低下することになる。こ
れに対して、上記実施例のように基板収容器1に対する
基板Wの取り出し・収容が可能で、かつ、基板処理部3
に対する基板Wの搬入・搬出も可能な基板搬送アーム2
1を基板搬送機構4に備えれば、基板搬送機構4の構造
を簡略化できるとともに、2つの基板搬送アーム間の基
板Wの受渡しも省略できてスループットの向上を図るこ
ともできる。
【0075】また、上記実施例では、基板収容器1に対
する基板Wの取り出し・収容が可能で、かつ、基板処理
部3に対する基板Wの搬入・搬出も可能な基板搬送アー
ム21として、平面視で「U」の字型に形成した基板搬
送アーム21を用いているので、簡単な形状の基板搬送
アーム21で、基板収容器1に対する基板Wの取り出し
・収容と、基板処理部3に対する基板Wの搬入・搬出と
を行うことができる基板搬送アーム21を実現すること
ができる。
【0076】なお、上記実施例では、基板収容器1に対
する基板Wの取り出し・収容が可能で、かつ、基板処理
部3に対する基板Wの搬入・搬出も可能な基板搬送アー
ムとして、平面視で「U」の字型に形成した基板搬送ア
ーム21を用いていたが、例えば、基板処理部3のスピ
ンチャックとして全てを図5に示すようなメカニカル式
のスピンチャック11Bで構成するような場合には、基
板搬送アームとして基板の周縁部を支持する基板支持部
と基板の外周端縁に接触して基板の水平移動を規制する
水平移動規制部とをその前後に設けた平面視で「I」の
字型の形状を有する基板保持アームを用いるようにして
もよい。
【0077】なお、基板搬送機構4に基板搬送アーム2
1を1つだけ備えるように構成してもよいが、この場合
には、例えば、上述した基板収容器1や基板処理部3に
対する基板Wの交換が行えなくなる。すなわち、ある基
板処理部3に基板Wを搬入する場合には、まず、その基
板処理部3で処理を終えた基板Wを搬出してその基板W
を別の基板処理部3に搬入するか、基板収容器1に収容
した後でなければ、基板搬送アーム21が空にならない
ので、上記ある基板処理部3への基板Wの搬入が行え
ず、スループットが低下することになる。これに対し
て、上記実施例のように基板搬送機構4に基板搬送アー
ム21を複数(2つに限らず3つ以上でもよい)備える
ことで、これら複数の基板搬送アーム21を用いて、基
板収容器1に対する基板Wの取り出し・収容や、基板処
理部3に対する基板Wの搬入・搬出を、基板Wを交換し
ながら行うことができ、1つの基板搬送アーム21を用
いて、基板収容器1に対する基板Wの取り出し・収容
や、基板処理部3に対する基板Wの搬入・搬出を行う場
合に比べて、スループットを向上させることができる。
【0078】なお、載置台2に載置する基板収容器1の
数は2つに限らず、1つまたは3つ以上であってもよ
い。
【0079】また、例えば、載置台2の上に棚などを設
けて、基板収容器1をZ方向に多段に積層して載置支持
するように構成してもよい。このように構成すれば、基
板搬送機構4の搬送路5の長さを長くすることなく、よ
り多くの基板収容器1を支持部に支持させることが可能
となる。
【0080】また、基板処理部3の数は4つに限定され
ず、2つ以上であればいくつ備えていてもよい。また、
基板処理部3の上下関係を含めた配置は、上記実施例の
配置に限定されない。
【0081】さらに、基板処理部3としては基板Wに洗
浄処理を施すものに限定されず、例えば、スピンチャッ
ク11Aや11Bで基板Wを保持して回転させながら基
板Wにレジスト膜を塗布するレジスト塗布装置(スピン
コーター)や、スピンチャック11Aや11Bで基板W
を保持して回転し、現像処理を施す現像処理装置(スピ
ンデベロッパー)などの基板処理部3を備えた基板処理
装置にも請求項1に記載の発明は同様に適用することが
できる。
【0082】また、同種類の基板処理部3のみを備える
装置に限定されず、例えば、図8に示すように、上記洗
浄処理部などの基板処理部3(3Aや3B)と、その他
の種類の基板処理部3である熱処理部3Cとを備えるな
ど、複数種類の基板処理部3を備えた基板処理装置にも
請求項1に記載の発明は同様に適用することができる。
【0083】なお、熱処理部3Cは、図9に示すよう
に、ヒーターやペルチェ素子などの熱源が内設され、基
板Wを上面で支持して基板Wに熱処理(加熱処理や冷却
処理)を施すホットプレートやクールプレートなどの熱
処理プレート31や、熱処理プレート31を貫通して昇
降可能に構成され、基板搬送アーム21との間での基板
Wの受け渡しに用いられる複数本(図では3本)の昇降
ピン32などが、外囲内に収納されて構成されている。
外囲には、基板Wの搬入搬出用の開口33(図8参照)
が設けられ、この開口33を開閉する図示しないシャッ
ターなども設けられている。なお、図9(a)、(b)
は基板Wの外周部を部分的に保持するエッジホールドタ
イプの昇降ピン32を備えた場合を示し、図9(c)、
(d)は基板Wの下面を支持する昇降ピン32を備えた
場合を示している。
【0084】この熱処理部3Cへの基板Wの搬入は以下
のようにして行われる。基板搬送機構4は、搬送路5に
沿った水平移動と、昇降移動と、軸芯Q周りの回転とに
よって、搬入する基板Wを保持している一方の基板搬送
アーム21を、その基板Wを搬入する熱処理部3Cの正
面において、その熱処理部3Cに対する基板Wの搬入高
さに位置させるとともに、その基板搬送アーム21の進
退方向をその基板Wを搬入する熱処理部3C側に向け
る。そして、搬入する基板Wを保持している基板搬送ア
ーム21を開口33から熱処理部3C内に進入させ、基
板Wを熱処理プレート31の上方に位置させる。この状
態で、昇降ピン32が上昇される。そして、アーム基台
24を所定量下降移動させて、その基板Wを昇降ピン3
2に引き渡し、空になった基板搬送アーム21を後退さ
せて熱処理部3Cから退出させる。その後、基板Wを受
け取った昇降ピン32を下降させることでその基板Wが
熱処理プレート31の上面に支持され、その基板Wに熱
処理が施される。
【0085】なお、図9に示すように、基板搬送アーム
21は平面視で「U」の字型の形状に構成しているの
で、基板搬送アーム21は昇降ピン32と干渉せずに、
基板Wを熱処理部3Cに搬入する(昇降ピン32に引き
渡す)ことができ、また、搬出する(昇降ピン32から
受け取る)こともできる。なお、基板搬送アームを平面
視で「I」の字型の形状に構成した場合も熱処理部3C
に対する基板Wの搬入・搬出は可能である。
【0086】熱処理を終えた基板Wの熱処理部3Cから
の搬出は以下のようにして行われる。
【0087】すなわち、熱処理部3C側では、昇降ピン
32を上昇させて熱処理を終えた基板Wを持ち上げ、熱
処理プレート31の上方に位置させる。一方で、上記熱
処理部3Cへの基板Wの搬入時と同様の動作で、搬送路
5に沿った水平移動と、昇降移動と、軸芯Q周りの回転
とによって、基板Wの搬出に用いる一方の基板搬送アー
ム21(基板Wを保持していない空の基板保持アーム2
1)を、基板Wを搬出する熱処理部3Cの正面におい
て、その熱処理部3Cに対する基板Wの搬出高さに位置
させるとともに、その基板搬送アーム21の進退方向を
基板Wを搬出する熱処理部3C側に向ける。そして、昇
降ピン32に支持された基板Wの若干下方の高さで、上
記空の基板搬送アーム21を開口33から熱処理部3C
内に進入させ、アーム基台24を所定量上昇させて基板
Wを昇降ピン32から受け取って保持し、その基板搬送
アーム21を後退させて、熱処理部3Cから基板Wを搬
出する。
【0088】次に、本発明の第2実施例装置の構成を図
10を参照して説明する。図10(a)は本発明の第2
実施例装置の全体構成を示す平面図であり、図10
(b)は第2実施例装置の側面図、図10(c)は基板
搬送機構の搬送路から基板処理部を見た図である。
【0089】この第2実施例装置も上記第1実施例装置
と同様に、1つ以上(図では2つ)の基板収容器1を載
置支持する載置台2と、基板Wに所定の処理を施す1つ
以上(図では2つ)の基板処理部3とが、基板搬送機構
4の搬送路5に沿って、搬送路5を挟んで対向配置され
ている。
【0090】基板収容器1や載置台2、基板搬送機構
4、搬送路5の構成は、上記第1実施例装置と同様であ
るので、その詳細は省略する。また、第1実施例と共通
する部分は、図1ないし図3などと同一符号を付してそ
の説明を省略する。
【0091】この第2実施例装置では、基板処理部3と
して、基板Wの表裏両面に対する洗浄処理が可能な両面
洗浄処理部3Dを備えている。この両面洗浄処理部3D
の一例の構成を図11、図12を参照して説明する。
【0092】この両面洗浄処理部3Dは、回転モーター
40と基板保持手段に相当する基板保持部材50とを備
えている。
【0093】回転モーター40は、中央部が開口された
中空部41aを有するリング状の回転子41と、回転子
41と同芯状に中央部が開口された中空部(回転子41
の中空部41aと回転子41を含む中空部)を有するリ
ング状のステータ42とを備えている。
【0094】ステータ42は、図示しない装置フレーム
などに固設されている。回転子41は、ステータ42の
内側に嵌め込まれている。回転子41には、永久磁石4
3がリング状に内設されている。ステータ42には、コ
イル44が前記永久磁石43に対向するようにリング状
に内設されている。コイル44に交流電流を流して発生
する磁場の極性を切り換え制御することで、固定された
ステータ42に対して回転子41が一定方向に回転駆動
されるようになっている。
【0095】上述のように、中央部に開口が形成された
中空部41aを有するリング状の回転子41と、回転子
41と同芯状に設けられ、中央部に開口が形成された中
空部を有するリング状のステータ42とを備えて回転モ
ーター40を構成することにより、回転モーター40の
中央部に中空部(回転子の中空部41a)が形成され
る。
【0096】ステータ42には、空気や不活性ガス(窒
素ガス等)などの気体の供給源(図示せず)に連通接続
された気体バッファ45が内設されていて、この気体バ
ッファ45から気体供給路46を経て、回転子41とス
テータ42との間の隙間47に気体を供給してステータ
42に対して回転子41を静圧気体軸受けで軸受けする
ように構成されている。
【0097】ステータ42に対する回転子41の軸受け
としては、ベアリングなどを用いた動圧軸受けで構成し
てもよいが、動圧軸受けの場合、静圧気体軸受けに比べ
てステータ42に対する回転子41の回転時の摩擦抵抗
が高くなるので、それだけ高速回転が実現し難い。ま
た、基板Wに対する洗浄処理に薬液を用いる場合には、
ステータ42と回転子41との間の隙間47に薬液が流
れ込むことがあるので、動圧軸受けの場合は、隙間47
に設けられるベアリングなどに対して耐薬処置を施さな
ければならないなど製作上面倒になる。これに対して、
静圧気体軸受けの場合は、ベアリングなどの部材が不要
であるし、隙間47に供給された気体が、隙間47から
外部に吹き出すので、その気体の吹き出しによって隙間
47に薬液が流れ込むことを防止することもできる。従
って、高速回転にする場合や、基板Wに対する洗浄処理
に薬液を用いる場合などには、ステータ42に対する回
転子41の軸受けとして、動圧軸受けよりも静圧気体軸
受けで構成する方が好ましい。
【0098】また、ステータ42には、永久磁石43の
下面に対向してホール素子48が内設されている。この
ホール素子48は、磁力線の強弱や極性の判別が可能で
あるので、ホール素子48からの出力電圧に基づき、永
久磁石43の位置検出が可能となる。従って、このホー
ル素子48を位置センサとして用いて、回転中の回転子
41を所定の停止位置で停止させることができる。ホー
ル素子48を複数箇所に設ければ、回転中の回転子41
を複数の停止位置で停止させることもできる。
【0099】回転子41には、3個以上(図では3個)
の基板保持部材50が設けられている。これら基板保持
部材50により基板Wの外周端部が3箇所以上で保持さ
れ、ステータ42に対する回転子41の回転により、基
板Wが回転中心J周りに回転される。
【0100】なお、基板保持部材50は、基板Wを保持
する保持状態と保持を解除する非保持状態とを採り得る
ように構成されている。この切替えは、例えば、以下の
ような構成で実現することができる。
【0101】図13ないし図15は、基板保持部材50
による基板Wの保持とその解除を行う切替え機構の一例
の構成を示す図である。
【0102】各基板保持部材50は、それぞれ基端部が
揺動アーム51の先端部に連結されている。この揺動ア
ーム51が図13に示す実線と二点鎖線との間で揺動さ
れることで、基板Wを保持する保持状態と保持を解除す
る非保持状態とが切り替えられる。すなわち、図の実線
の状態で、各基板保持部材50の先端部のくびれ部50
aで基板Wの外周端部を3箇所で保持する。一方、図の
二点鎖線の状態で、各基板保持部材50が基板Wから離
れて基板Wの保持を解除する。
【0103】上記揺動アーム51の揺動は以下のような
構成で実現されている。図14、図15に示すように、
各揺動アーム51は、それぞれ基端部に筒状部材52が
連結されている。各筒状部材52は回動自在に回転子4
1に支持されている。各筒状部材52の中空部にはロー
タ53が昇降自在に挿嵌されている。各ロータ53の上
端部には下降を規制するストッパー53aが設けられて
いる。また、各ロータ53の下端部は、1個のリング状
部材54に固定されていて、リング状部材54の昇降に
よって各ロータ53が同期して昇降されるようになって
いる。リング状部材54の下方には、揺動部材55の先
端部55aが配置されている。この揺動部材55の基端
部55bには、エアシリンダ56のロッド56aの先端
が連結されていて、エアシリンダ56のロッド56aを
収縮・伸長させることで、揺動部材55の基端部55b
が上昇・下降され、揺動部材55の先端部55aが下降
・上昇される。揺動部材55の先端部55aが下降され
ている状態では、リング状部材54や各ロータ53の自
重で、図15の実線で示すように、各ロータ53は各筒
状部材52に対して下降されている。一方、揺動部材5
5の先端部55aが上昇されると、リング状部材54が
揺動部材55の先端部55aに押し上げられて、各ロー
タ53が各筒状部材52に対して同期して上昇される。
【0104】各ロータ53には図14に示すような溝カ
ム53bが刻設されている。図15に示すように、各筒
状部材52は内側にピン52aを突出させていて、この
ピン52aがロータ53の溝カム53bに係合されてい
る。エアシリンダ56のロッド56aが収縮され、各筒
状部材52に対して各ロータ53が下降されている状態
では、図13、図15の実線で示すように、各基板保持
部材50は基板Wの外周端部を3箇所で保持している。
そして、エアシリンダ56のロッド56aが伸長され
て、各ロータ53が各筒状部材52に対して上昇されて
いくと、各筒状部材52のピン52aが各ロータ53の
溝カム53bをなぞる結果、各筒状部材52は、各ロー
タ53に対してZ方向の軸芯周りに回転され、この回転
によって各揺動アーム51が揺動され、図13の二点鎖
線に示すように基板Wの保持が解除される。なお、各ロ
ータ53は、リング状部材54に固定されているので、
回転せずに昇降動作のみ行われる。
【0105】なお、図13ないし図15は、各基板保持
部材50による基板Wの保持とその解除を行う切替え機
構の一例を示すもので、上記以外の機構で各基板保持部
材50による基板Wの保持とその解除を実現することも
可能である。また、基板保持部材50の構成も図に示す
構成に限定されない。
【0106】回転モーター40は、回転モーター40の
中央部に形成される中空部(回転子41の中空部41
a)の大きさが、各基板保持部材50に保持された基板
Wを回転させたときの基板Wの回転中心Jから最も離れ
た基板Wの端部が描く円と同等またはそれより大きくな
るように構成することが好ましい。保持された基板W
は、基板Wの回転中心Jと回転中心Jから最も離れた基
板Wの端部との間の長さを半径とした回転円内で回転さ
れる。例えば、図16(a)に示すように、半導体ウエ
ハのような円形基板Wを基板Wの中心CJ周りに回転さ
せるときには回転円は円形基板Wの外周になる。また、
図16(b)に示すように、液晶表示器用のガラス基板
のような角形基板Wを基板Wの中心CJ周りに回転させ
るときには回転円は図の一点鎖線で示す円になる。
【0107】図11に示すように、各基板保持部材50
に保持された基板Wの上方と下方には、薬液や純水など
の洗浄液を基板Wの上下(表裏)両面に向けて噴射供給
するノズル57、58が設けられている。
【0108】この両面洗浄処理部3Dでは、基板搬送機
構4によって搬入された基板Wを各基板保持部材50で
受け取って保持し、ステータ42に対して回転子41を
回転させて、保持した基板Wを回転させながら、基板W
の表裏両面にノズル57、58から洗浄液を噴出供給し
て、基板Wの表裏両面に対して洗浄液による洗浄処理を
同時に施す。なお、この両面洗浄処理部3Dの基板保持
部材50も、基板Wの外周部を部分的に保持する構成で
あるので、図5に示すメカニカル式のスピンチャック1
1Bの基板保持部材16や図9(a)、(b)に示す熱
処理部3C内のエッジホールドタイプの昇降ピン32と
同様に、基板搬送アーム21と干渉せずに基板Wの搬入
・搬出(基板Wの受渡し)が行える。
【0109】また、洗浄液による洗浄処理を終えて、ノ
ズル57、58からの洗浄液の噴射供給を停止した後
も、基板Wの回転を継続すれば、基板Wに付着している
洗浄液を振り切って基板Wを乾燥させることができる。
【0110】上記構成の両面洗浄処理部3Dによれば、
保持された基板Wの上方には障害物がないので、基板W
の上面(通常は表面)に対する洗浄処理を支障なく行う
ことができる。また、回転モーター40の中央部には中
空部(回転子41の中空部41a)が形成されているの
で、この回転モーター40の中空部を介して基板Wの下
面(通常は裏面)に対する洗浄処理も支障なく行うこと
ができる。
【0111】また、上述したように、回転モーター40
の中空部の大きさを、基板Wの前記回転円(図16参
照)と同等またはそれより大きくすることで、基板Wの
下面に対する処理をその面全面に対して施し易くなる。
【0112】例えば、ブラシを用いた洗浄は、通常、基
板Wを回転させながら、基板Wの面に洗浄液を供給し、
回転中の基板Wの面にブラシの毛を当接または若干浮か
せた状態でブラシを基板Wの回転中心と外周との間で往
復移動させて基板Wの面全面をブラシで洗浄する。回転
モーター40の中空部の大きさを、基板Wの前記回転円
(図16参照)と同等またはそれより大きくすれば、こ
のようなブラシ洗浄を、基板Wの上面はもちろんのこ
と、基板Wの下面に対しても支障なく施すことができ、
また、基板Wの両面に対するブラシ洗浄を同時に施すこ
とも可能である。
【0113】また、基板Wを回転させながら超音波ノズ
ルや高圧ノズルなどの洗浄具を基板Wの回転中心と外周
との間で往復移動させながら超音波が付加された洗浄液
や高圧噴射された洗浄液などを回転中の基板Wに噴射し
て基板Wの面全面に洗浄処理を施す場合にも、基板Wの
両面に対して前記洗浄処理を同時に施すことが可能とな
る。
【0114】なお、上記回転モーター40は、回転子4
1の外側にステータ42を配設する構成に限らず、ステ
ータ42の外側に回転子41を同芯状に配設してもよ
い。ただし、ステータ42の外側に回転子41を配設す
る構成では、一般的に、ステータ42に対して回転子4
1が大きくなり、回転子41を回転するトルクが十分に
得られず、そのため、回転子41(基板W)を高速に回
転させ難くなる。従って、回転モーター40は、上記例
のように回転子41の外側にステータ42を同芯状に配
設して構成する方が好ましい。
【0115】また、上記例では、回転モーター40の上
方で基板Wを保持するように構成したが、回転モーター
40の下方で基板Wを保持したり、基板Wを回転モータ
ー40の中空部(回転子41の中空部41a)内で保持
したりするように構成してもよい。
【0116】なお、この種の洗浄処理部3は、図4、図
5に示すように、一般的に、回転モーター12や回転軸
13、保持台14、スピンベース15などが、保持され
た基板Wの下方に配設されてZ方向に場所がとられる。
これに対して上記構成の両面洗浄処理部3Dによれば、
回転モーターや回転軸、スピンベースなどが保持された
基板Wの下方に配設されず、また、回転モーター40自
体を薄型に形成できるので、両面洗浄処理部3Dの高さ
方向の寸法を低くすることができ、例えば、基板処理部
3を上下に積層配置し易くなるなど、装置の高さ方向の
自由度が高くなる。
【0117】次に、両面洗浄処理部3Dの別の構成例を
図17を参照して説明する。図17に示す両面洗浄処理
部3Dは、スピンチャック60と、スピンチャック60
に保持された基板Wの上面に近接配置され、基板Wの上
面を覆う円盤状の上部雰囲気遮断部材70とを備えてい
る。
【0118】スピンチャック60は、図5に示すスピン
チャック11Bと略同様の構成を有しており、回転モー
ター61の駆動によってZ方向の軸芯J周りに回転され
る回転軸62の上端部に、円盤状のスピンベース63が
一体回転可能に取り付けられ、このスピンベース63の
上面に図5と同様の基板保持部材64が設けられて構成
されている。
【0119】回転軸62は中空部を有する円筒状の部材
で形成され、スピンベース63の中央部にも中空部が形
成されている。スピンベース63の中空部及び回転軸6
2の中空部には洗浄液供給管65が配設されている。洗
浄液供給管65には図示しない洗浄液供給部から洗浄液
が供給されるようになっていて、洗浄液供給管65の上
端の洗浄液供給口65aから基板保持部材64に保持さ
れた基板Wの下面の中央部に洗浄液を供給できるように
なっている。
【0120】また、スピンベース63の中空部及び回転
軸62の中空部の内壁と、洗浄液供給管65の外壁との
間の空間は、窒素ガスなどの不活性ガスやドライエアな
どの気体の供給路66となっており、この気体供給路6
6の上端の気体供給口66aから、スピンベース63の
上面と基板保持部材64に保持された基板Wの下面との
間の空間に気体を供給できるようになっている。気体供
給路66には、図示しない気体供給部から気体が供給さ
れる。
【0121】上部雰囲気遮断部材70は、中空部を有す
る円筒状の支軸71の下端部に連結されている。支軸7
1は、図示しない昇降機構によって昇降可能に構成され
ている支持アーム72に懸垂支持されている。支持アー
ム72を昇降させることで、基板保持部材64に保持さ
れた基板Wに対して上部雰囲気遮断部材70を離間・近
接させることができる。また、例えば、支持アーム72
に回転モーター73を設けて、支軸71及び上部雰囲気
遮断部材70をZ方向の軸芯周りに回転可能に構成して
もよい。なお、上部雰囲気遮断部材70を回転可能に構
成する場合は、支軸71及び上部雰囲気遮断部材70の
回転軸芯を、スピンチャック60(回転軸62やスピン
ベース63)の回転軸芯と一致させる。
【0122】上部雰囲気遮断部材70の中央部に形成さ
れた中空部及び支軸71の中空部には、図示しない洗浄
液供給部から洗浄液が供給される洗浄液供給管74が配
設され、洗浄液供給管74の下端の洗浄液供給口74a
から基板保持部材64に保持された基板Wの上面の中央
部に洗浄液を供給できるようになっている。
【0123】また、上部雰囲気遮断部材70の中空部及
び支軸71の中空部の内壁と、洗浄液供給管74の外壁
との間の空間が、図示しない気体供給部から気体が供給
される気体供給路75となっており、気体供給路75の
下端の気体供給口75aから、上部雰囲気遮断部材70
の下面と基板保持部材64に保持された基板Wの上面と
の間の空間に気体を供給できるようになっている。
【0124】この図17に示す構成の両面洗浄処理部3
Dでは、上部雰囲気遮断部材70を、スピンベース63
の上方に離間させた状態で、基板搬送機構4によって搬
入された基板Wを各基板保持部材64で受け取って保持
し、基板Wを保持すると上部雰囲気遮断部材70を下降
させて保持した基板Wの上面に近接配置させる。そし
て、回転モーター61を駆動して、回転軸62、スピン
ベース63、各基板保持部材64とともに、保持した基
板Wを回転させながら、基板Wの上下(表裏)両面に洗
浄液供給口65a、74aから洗浄液を噴出供給して、
基板Wの表裏両面に対して洗浄液による洗浄処理を同時
に施す。
【0125】また、洗浄液による洗浄処理を終えて、洗
浄液供給口65a、74aからの洗浄液の噴射供給を停
止した後も、基板Wの回転を継続すれば、基板Wに付着
している洗浄液を振り切って基板Wを乾燥させることが
できる。
【0126】なお、上記洗浄処理または/および乾燥処
理の際に、必要に応じて、上部雰囲気遮断部材70を回
転させてもよいし、気体供給口66a、75aから気体
を供給してもよい。
【0127】この図17に示す構成の両面洗浄処理部3
Dでも、基板Wの表裏両面に対する洗浄処理を好適に行
え、かつ、基板Wの表裏両面に対する洗浄処理を同時に
施すことができる。
【0128】なお、図17の構成では、上部雰囲気遮断
部材70を備えたが、上部雰囲気遮断部材70を省略し
て、その代わりに、基板保持部材64に保持した基板W
の上面に洗浄液を供給する洗浄液供給ノズルを備えた構
成でも、基板Wの表裏両面に対する洗浄処理を同時に施
すことができる。
【0129】その他、両面洗浄処理部3Dとしては、以
下のような構成のものであってよい。
【0130】すなわち、基板Wの片面に対する洗浄処理
のみが可能な洗浄機構と、基板Wの表面と裏面の向きを
反転する反転機構とを備える。そして、基板Wが搬入さ
れると、まず、基板Wの一方の面を洗浄機構で洗浄し、
その片面の洗浄を終えると、反転機構によって基板Wの
表面と裏面の向きを反転して、基板Wの他方の面を洗浄
機構で洗浄するものである。このような構成であって
も、1つの洗浄処理部3D内で基板Wの表裏両面に対し
て洗浄処理を行うことができる。従って、従来装置のよ
うに、基板Wの表裏両面を洗浄するために、基板Wの搬
入・搬出を複数回行う必要がなく、また、異なる洗浄処
理部3A、3B間で基板Wを搬送する必要がなくなり、
スループットを向上させることができる。
【0131】また、上述した図11、図12や図17に
示したように基板Wの表裏両面に対する洗浄処理を同時
に行えるように構成すれば、上述した基板Wの片面ずつ
の洗浄を順番に行うよりもスループットをさらに向上さ
せることができる。
【0132】この第2実施例装置によれば、上記第1実
施例と同様に、基板収容器1に対する基板Wの取り出し
・収容と、基板処理部3に対する基板Wの搬入・搬出と
を同じ1つの基板搬送機構4で行うので、基板搬送機構
110、210を個別に備えた従来装置よりも装置構成
を簡単にでき、装置の設置面積を小さくすることができ
る。また、異なる基板搬送機構間の基板Wの受け渡し動
作を省略でき、スループットを向上させることができる
とともに、基板搬送機構間の位置調整を不要にすること
もできる。
【0133】また、この第2実施例装置では、基板処理
部3として両面洗浄処理部3Dを備えているので、基板
Wの表裏両面を洗浄する基板処理を行う場合、表面洗浄
処理部3Aと裏面洗浄処理部3Bとの2種類の基板処理
部3を水平方向に1段に並べて配置している従来装置に
比べて、基板処理部3の数を半分にでき、装置の設置面
積の一層のコンパクトがを図ることができる。また、1
つの洗浄処理部3D内で、基板Wの両面に対する洗浄処
理を行うので、従来装置で必要であった基板Wの表裏両
面を洗浄する基板処理の間の、複数の洗浄処理部3A、
3Bに対する基板Wの搬入・搬出や各洗浄処理部3A、
3Bの間の基板Wの搬送などの動作を省略することがで
き、スループットの一層の向上を図ることもできる。
【0134】なお、上記第2実施例装置では、両面洗浄
処理部3Dを搬送路5に沿って水平方向に1段に並べて
配置したが、第1実施例と同様に両面洗浄処理部3Dを
搬送路5に沿って上下に積層配置するようにしてもよ
い。このように構成すれば、装置の設置面積を一層小さ
くすることができる。
【0135】また、第1実施例において説明した図8と
同様に、基板処理部3として、両面洗浄処理部3Dと、
それ以外の、例えば、熱処理部3Cなどの適宜の基板処
理部3とを備えるように構成してもよい。
【0136】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1、2に記載の発明によれば、基板収容器から基板を取
り出し、基板処理部に対する基板の搬入・搬出を行い、
処理済の基板を基板収容器に収容する一連の基板の搬送
を同じ基板搬送手段で行うように構成したので、装置構
成を簡単にでき、装置の設置面積を小さくすることがで
きる。また、異なる基板搬送手段間の基板の受け渡し動
作を省略でき、スループットを向上させることができる
とともに、基板搬送手段間の位置調整を不要にすること
もできる。
【0137】特に、請求項1に記載の発明によれば、基
板処理部の少なくとも1部を上下に積層配置しているの
で、各基板処理部を水平方向に1段に並べて配置させて
いる従来装置よりも、装置に搭載された基板処理部が占
める設置面積を小さくできるとともに、基板搬送手段の
搬送路の長さを長くすることなく、各基板処理部を上記
搬送路に沿って配置させることもできる。従って、装置
全体の設置面積を一層小さくすることができる。
【0138】また、請求項2に記載の発明によれば、基
板処理部の少なくとも1つに、基板の両面に対する洗浄
処理が可能な両面洗浄処理部を備えているので、基板の
表裏両面を洗浄する基板処理を行う場合、表面洗浄処理
部と裏面洗浄処理部との2種類の基板処理部を水平方向
に1段に並べて配置している従来装置に比べて、基板処
理部の個数を半分にでき、装置の設置面積を一層小さく
することができる。また、1つの洗浄処理部内で、基板
の両面に対する洗浄処理を行うので、従来装置で必要で
あった基板の表裏両面を洗浄する基板処理の間の、複数
の洗浄処理部に対する基板の搬入・搬出や、各洗浄処理
部の間の基板の搬送などの動作を省略することができ、
スループットの一層の向上を図ることもできる。
【0139】請求項3に記載の発明によれば、両面洗浄
処理部で、基板の両面に対する洗浄処理を同時に行うの
で、基板の両面に対する洗浄処理を片面ずと順番に行う
場合に比べて、スループットをさらに向上させることが
できる。
【0140】請求項4に記載の発明によれば、洗浄処理
を行う際に基板を回転させる回転モーターは、中央部に
開口が形成された中空部を有する回転子とステータとを
同芯状に設けて構成したので、回転モーターの中央部に
は中空部が形成される。従って、保持された基板の回転
モーター側と反対側の面に対しては何ら障害物がなく、
自由に洗浄処理を施すことができ、また、保持された基
板の回転モーター側の面に対しても、回転モーターの中
空部から洗浄処理を施すことができ、基板の両面に対す
る同時洗浄処理を好適に行うことができる。また、一般
的なスピンチャックのように基板の下面側にモーターや
回転軸などが配設されないので、鉛直方向に場所をとる
ことがなく、基板処理部の1つである両面洗浄処理部の
鉛直方向の寸法を低くすることができ、例えば、基板処
理部を上下に積層し易くなる。
【0141】請求項5に記載の発明によれば、基板収容
器に対する基板の取り出し・収容が可能で、かつ、基板
処理部に対する基板の搬入・搬出も可能な基板搬送アー
ムを基板搬送手段に備えたので、基板収容器に対する基
板の取り出し・収容のみが可能な基板搬送アームと、基
板処理部に対する基板の搬入・搬出のみが可能な基板搬
送アームとを基板搬送手段に備えた場合に比べて、基板
搬送手段の構成を簡略化することができるとともに、2
つの基板搬送アーム間の基板の受渡しも省略できてスル
ープットも向上できる。
【0142】請求項6に記載の発明によれば、基板搬送
アームを平面視で「U」の字型に形成したので、簡単な
形状の基板搬送アームで、基板収容器に対する基板の取
り出し・収容と、基板処理部に対する基板の搬入・搬出
とを行うことができる基板搬送アームを実現することが
できる。
【0143】請求項7に記載の発明によれば、基板搬送
手段に基板搬送アームを複数備えたので、これら複数の
基板搬送アームを用いて、基板収容器に対する基板の取
り出し・収容や、基板処理部に対する基板の搬入・搬出
を、基板を交換しながら行うことができ、1つの基板搬
送アームを用いて、基板収容器に対する基板の取り出し
・収容や、基板処理部に対する基板の搬入・搬出を行う
場合に比べて、スループットを向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る基板処理装置の全体
構成を示す平面図である。
【図2】第1実施例装置の側面図である。
【図3】基板搬送機構の搬送路から基板処理部を見た図
である。
【図4】真空吸着式のスピンチャックの構成と、そのス
ピンチャックと基板搬送アームとの間の基板の受渡し状
態を示す平面図と正面図である。
【図5】メカニカル式のスピンチャックの構成と、その
スピンチャックと基板搬送アームとの間の基板の受渡し
状態を示す平面図と正面図である。
【図6】基板搬送機構の構成を示す平面図とA−A矢視
断面図とアーム移動機構の動作概念図とアーム基台の縦
断面図である。
【図7】基板搬送機構に備える昇降機構の一例の構成を
示す縦断面図である。
【図8】洗浄処理部と熱処理部とを搭載した装置構成例
を基板搬送機構の搬送路から見た図である。
【図9】熱処理部の構成と、熱処理部に備えた昇降ピン
と基板搬送アームとの間の基板の受渡し状態を示す平面
図と正面図である。
【図10】本発明の第2実施例装置の全体構成を示す平
面図と側面図と基板搬送機構の搬送路から基板処理部を
見た図である。
【図11】両面洗浄処理部の一例の構成を示す縦断面図
である。
【図12】図11に示す例に係る両面洗浄処理部の平面
図である。
【図13】図11に示す例に係る両面洗浄処理部に備え
た基板保持部材の保持状態と非保持状態との切替え機構
の一例の構成を示す平面図である。
【図14】同じく、基板保持部材の切替え機構の一例の
構成を示す図である。
【図15】同じく、基板保持部材の切替え機構の一例の
構成を示す図である。
【図16】図11に示す例に係る両面洗浄処理部に備え
た回転モーターの中空部の好ましい大きさを説明するた
めの図である。
【図17】両面洗浄処理部の別の例の構成を示す一部省
略正面図である。
【図18】従来装置の全体構成を示す平面図と基板搬送
機構の搬送路から基板処理部を見た図である。
【符号の説明】
1:基板収容器 2:載置台 3:基板処理部 3D:両面洗浄処理部 4:基板搬送機構 5:基板搬送機構の搬送路 21:基板搬送アーム 40:回転モーター 41:回転子 42:ステータ 50:基板保持部材 W:基板
フロントページの続き Fターム(参考) 3B116 AA03 AB23 AB27 AB34 AB47 BA11 BB24 BB62 BB83 BB90 CC03 CD33 3B201 AA03 AB24 AB27 AB34 AB47 BA11 BB24 BB62 BB83 BB90 BB93 BB94 CB25 CC13 CD33 5F031 CA05 FA01 FA07 FA12 FA21 GA04 GA08 GA47 GA50 MA02 MA09 MA23 PA30

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に対して所定の処理を施す基板処理
    装置であって、 基板を収容可能な基板収容器に対する基板の取り出し・
    収容と、基板に所定の処理を施す基板処理部に対する基
    板の搬入・搬出とを行う基板搬送手段を備え、 前記基板搬送手段の搬送路を挟んで前記基板収容器を支
    持する支持部と前記基板処理部とを対向配置し、かつ、 少なくとも一部の前記基板処理部を上下に積層配置した
    ことを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 基板に対して所定の処理を施す基板処理
    装置であって、 基板を収容可能な基板収容器に対する基板の取り出し・
    収容と、基板に所定の処理を施す基板処理部に対する基
    板の搬入・搬出とを行う基板搬送手段を備え、 前記基板搬送手段の搬送路を挟んで前記基板収容器を支
    持する支持部と前記基板処理部とを対向配置し、かつ、 前記基板処理部の少なくとも1つは、基板の両面に対す
    る洗浄処理が可能な両面洗浄処理部であることを特徴と
    する基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の基板処理装置におい
    て、 前記両面洗浄処理部は、基板の両面に対する同時洗浄処
    理が可能であることを特徴とする基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項2または3に記載の基板処理装置
    において、 前記両面洗浄処理部は、 中央部が開口された中空部を有する回転子と、前記回転
    子と同芯状に設けられ、中央部が開口された中空部を有
    するステータとを備えた回転モーターと、 前記回転子に設けられた基板を保持する基板保持手段
    と、 を備えていることを特徴とする基板処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
    板処理装置において、 前記基板搬送手段は、前記基板収容器に対する基板の取
    り出し・収容が可能で、かつ、前記基板処理部に対する
    基板の搬入・搬出も可能な基板搬送アームを備えている
    ことを特徴とする基板処理装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の基板処理装置におい
    て、 前記基板搬送アームは、平面視で「U」の字型に形成さ
    れていることを特徴とする基板処理装置。
  7. 【請求項7】 請求項5または6に記載の基板処理装置
    において、 前記基板搬送手段は、前記基板搬送アームを複数備えて
    いることを特徴とする基板処理装置。
JP10309919A 1998-10-30 1998-10-30 基板処理装置 Pending JP2000135475A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10309919A JP2000135475A (ja) 1998-10-30 1998-10-30 基板処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10309919A JP2000135475A (ja) 1998-10-30 1998-10-30 基板処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000135475A true JP2000135475A (ja) 2000-05-16

Family

ID=17998929

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10309919A Pending JP2000135475A (ja) 1998-10-30 1998-10-30 基板処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000135475A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002110609A (ja) * 2000-10-02 2002-04-12 Tokyo Electron Ltd 洗浄処理装置
JP2003111352A (ja) * 2001-09-26 2003-04-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2006281002A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Hitachi Zosen Corp ボトル洗浄装置
JP2007165528A (ja) * 2005-12-13 2007-06-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
US7451515B2 (en) 2000-10-02 2008-11-18 Tokyo Electron Limited Cleaning processing system and cleaning processing apparatus
JP2013206975A (ja) * 2012-03-27 2013-10-07 Mitsubishi Electric Corp ウエハ吸着方法、ウエハ吸着ステージ、ウエハ吸着システム
JP2015156509A (ja) * 2012-04-30 2015-08-27 セメス株式会社SEMES CO., Ltd 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
JP2019021859A (ja) * 2017-07-21 2019-02-07 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム
CN112509955A (zh) * 2019-09-13 2021-03-16 株式会社斯库林集团 基板处理装置

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002110609A (ja) * 2000-10-02 2002-04-12 Tokyo Electron Ltd 洗浄処理装置
US7451515B2 (en) 2000-10-02 2008-11-18 Tokyo Electron Limited Cleaning processing system and cleaning processing apparatus
JP2003111352A (ja) * 2001-09-26 2003-04-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
US7073521B2 (en) 2001-09-26 2006-07-11 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus comprising ring-shaped motor
JP4671733B2 (ja) * 2005-03-31 2011-04-20 日立造船株式会社 ボトル洗浄装置
JP2006281002A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Hitachi Zosen Corp ボトル洗浄装置
JP2007165528A (ja) * 2005-12-13 2007-06-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
US7867337B2 (en) 2005-12-13 2011-01-11 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP4514700B2 (ja) * 2005-12-13 2010-07-28 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置および基板処理方法
JP2013206975A (ja) * 2012-03-27 2013-10-07 Mitsubishi Electric Corp ウエハ吸着方法、ウエハ吸着ステージ、ウエハ吸着システム
JP2015156509A (ja) * 2012-04-30 2015-08-27 セメス株式会社SEMES CO., Ltd 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
JP2019021859A (ja) * 2017-07-21 2019-02-07 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム
JP7002874B2 (ja) 2017-07-21 2022-01-20 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム
CN112509955A (zh) * 2019-09-13 2021-03-16 株式会社斯库林集团 基板处理装置
KR20210031839A (ko) * 2019-09-13 2021-03-23 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 장치
KR102416391B1 (ko) * 2019-09-13 2022-07-05 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 장치
US11581208B2 (en) 2019-09-13 2023-02-14 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treating apparatus
TWI795665B (zh) * 2019-09-13 2023-03-11 日商斯庫林集團股份有限公司 基板處理裝置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5054218B2 (ja) 基板処理装置
KR100646906B1 (ko) 기판처리장치 및 기판처리방법
JP4999487B2 (ja) 基板処理装置
US8757180B2 (en) Substrate processing apparatus
JP4744426B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
US9050635B2 (en) Substrate processing apparatus
US6874515B2 (en) Substrate dual-side processing apparatus
JP3566475B2 (ja) 処理装置
JP2000124301A (ja) 容器載置ユニット、容器収納装置、及び処理装置
JP2002110609A (ja) 洗浄処理装置
KR20210002433A (ko) 기판 반전 장치, 기판 처리 장치 및 기판 협지 장치
JP2000135475A (ja) 基板処理装置
JP2004288720A (ja) 基板搬送装置及び基板処理装置
JP2000223460A (ja) 基板洗浄装置
JP5279554B2 (ja) 基板処理装置
JP2000294616A (ja) 仮置台付位置合わせ機構及びポリッシング装置
JP2002313769A (ja) 基板洗浄装置
JP4869097B2 (ja) 基板処理装置
JP4972607B2 (ja) 基板処理装置、基板処理方法、基板処理プログラム、及び基板処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP5330031B2 (ja) 基板処理装置
JP5385965B2 (ja) 基板処理装置
JP2001298011A (ja) 基板洗浄装置
JP5396460B2 (ja) 基板処理装置、基板処理方法、基板処理プログラム、及び基板処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2004296646A (ja) 基板処理装置
JP2003100695A (ja) 基板洗浄装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040303