JP2000114312A - 半導体装置の実装方法 - Google Patents

半導体装置の実装方法

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JP2000114312A
JP2000114312A JP32126298A JP32126298A JP2000114312A JP 2000114312 A JP2000114312 A JP 2000114312A JP 32126298 A JP32126298 A JP 32126298A JP 32126298 A JP32126298 A JP 32126298A JP 2000114312 A JP2000114312 A JP 2000114312A
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semiconductor devices
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Mitsuru Chino
満 千野
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Misuzu Industries Corp
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    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基材の表裏に配設された半導体装置と導体パ
ターンとの接続が容易にでき基材の製造コストを安くで
き,作業効率のよい半導体装置の実装方法を提供する。 【構成】 あらかじめ形成された金属ボールを圧着ツー
ルに吸着し半導体装置上に配列された外部接続端子に接
合し,それぞれにボールバンプを形成する第1の工程
と、ボールバンプに対応する位置に貫通穴を形成した基
材を半導体装置に位置決めし接着剤で固着する第2の工
程と、貫通穴を通してボールバンプ上に金属ボールを一
括で積み重ね接合させる第3の工程とを有してなり、半
導体装置と基板の導体パターンとの電気的導通を複数個
同時にとる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置と基材に形
成された導体パターンとを電気的に接続する半導体装置
の実装方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から半導体装置と基材に形成された
導体パターンとを電気的に接続する方法としては、半導
体装置と基材の導体パターンとを金属細線で接続し電気
的に導通させるワイヤーボンディング方式と、半導体装
置に設けたバンプと対向する基材の導体パターンとを接
続し電気的に導通させるフリップチップボンディング方
式が知られている。
【0003】従来の半導体装置の実装方法における実施
例を図面により説明する。図5は、ワイヤーボンディン
グ方式によるボールグリッドアレイ(BGA、以下BG
Aという)パッケージの実施例を示す部分断面図であ
る。図において、11は半導体装置、15は金属細線、
18は基材、19は導体パターン、23はスルーホー
ル、22はBGAボールである。図に示すように、この
方式では、基材18の半導体装置11を装着した面と同
一面側に基材の導体パターン19を形成し、導体パター
ン19と半導体装置11とを金属細線15で接続して電
気的導通をとっている。しかし、BGAボール22を裏
面に設けるためには、基材18にスルーホール23を形
成させて基材18の表裏の導通をスルーホール23を介
してとる必要がある。この場合に、半導体装置11とB
GAボール22とを導通させるためのスルーホール23
を基材18に半導体装置の端子数と同じ数だけ形成させ
る必要がある。このために、半導体装置11の端子数が
多くなるほど基材18のコストが高くなってしまうとい
う問題点があった。
【0004】また、図6は、フリップチップボンディン
グ方式によるBGAパッケージの実施例を示す部分断面
図である。図において、21は半導体装置、18は基
材、19は導体パターン、23はスルーホール、22は
BGAボール、24はバンプである。図に示すように、
この方式でも、ワイヤーボンディング方式と同様に、基
材18の半導体装置21を接着した面と同一面側に基材
の導体パターン19を形成して、導体パターン19と半
導体装置21とをバンプ24を介して接続させ電気的導
通をとっている。しかし、BGAボール22を裏面に設
けるためには、前述の実施例と同様に基材18にスルー
ホール23を形成させて基材18の表裏の導通をスルー
ホール23を介してとる必要がある。この場合にも、半
導体装置21とBGAボール22とを導通させるための
スルーホール23を基材18に半導体装置の端子数と同
じ数だけ形成させる必要がある。このために、半導体装
置の端子数が多くなるほど基材のコストが高くなってし
まうという問題点があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の問題
点を解決させるためになされたもので、基材の半導体装
置の取り付け面と反対側の面に有する導体パターンとの
接続が容易にでき基材の製造コストを安くできる作業効
率のよい半導体装置の実装方法を提供することを目的と
するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体装置
の実装方法は,あらかじめ形成された金属ボールを配列
された圧着ツールに吸着し,半導体装置上に配列された
外部接続端子に接合し,それぞれにボールバンプを形成
する第1の工程と、ボールバンプに対応する位置に貫通
穴を形成した基材を半導体装置に位置決めし接着剤で固
着する第2の工程と、貫通穴を通してボールバンプ上に
金属ボールを積み重ね接合させる第3の工程とを有して
なり、半導体装置と基板の導体パターンとの電気的導通
を複数個同時にとることを特徴とするものである。
【0007】
【作用】半導体装置上の外部接続端子に1個以上のボー
ルバンプを同時に形成し、貫通穴を形成した基材を半導
体装置上に位置決め固着し、形成されたボールバンプ上
に1個以上の圧着ボールをそれぞれ積み重ね接合させる
ことにより、一度に基材裏側の半導体装置上の外部接続
端子と基材表面側の導体パターンとの電気的な導通が可
能になり、基材のコストを低減させることができる。さ
らに,同時に多数の接合を行うことにより,作業効率が
良く,加工コストを低減させることが出来る。
【0008】
【実施例】本発明による半導体装置の実装方法の実施例
を図面に基づいて説明する。図1は、本発明による半導
体装置の外部接続端子上に金属ボールを吸着した圧着ツ
ールを位置決めした状態を示す状態図であり,図2は本
発明による半導体装置の外部接続端子上にボールバンプ
を形成させた状態を示す状態図である。図1図2におい
て、1は半導体装置、2は半導体装置1上の外部接続端
子、3は金属ボール、4は金属ボール3を圧着して外部
接続端子2に接合するための圧着ツール,5は金属ボー
ル3を圧着ツールにより圧着する事により形成したボー
ルバンプである。図1の過程では、半導体装置1上の複
数箇所に形成された外部接続端子2の上方に金属ボール
3を保持した圧着ツール4が複数個配設される。図2の
過程では、下降させた圧着ツール4により外部接続端子
2にそれぞれ超音波振動などを併用して熱圧着させて,
ボールバンプ5を形成する。この実施例では,3個の金
属ボールを同時に圧着しているが,1個づつ圧着する事
もできるし,もっと多くのボールを同時に圧着する事も
できる。
【0009】図3は、本発明における半導体装置に基材
を接着させた状態の一部を示す状態図である。図におい
て、1は半導体装置、2は半導体装置1上に形成された
外部接続端子、5は外部接続端子2に熱圧着されたボー
ルバンプ、8は貫通穴13が形成されている基材、9は
基材8に形成された導体パターン、10は半導体装置1
と基材8を接着する接着剤である。半導体装置1に設け
られたボールバンプ5に基材8の貫通穴13を位置合わ
せして接着剤10により半導体装置1と基材8を接着す
る。基材8には本実施例ではポリイミドフイルムを使用
した。接着時に貫通穴13内に接着剤10が残らないよ
うに接着剤の塗布後に貫通穴13をプレス等で成形し、
半導体装置1と基材8を接着した。
【0010】図4は、本発明による半導体装置と基材の
導体パターンとの接合状態を示す状態図である。図にお
いて、1は半導体装置、2は半導体装置1上に形成され
た外部接続端子、5は外部接続端子2上に形成されたボ
ールバンプ、6は金属ボールを圧着するためのツール、
8は貫通穴13が形成された基材、9は基材8に形成さ
れた導体パターン、10は半導体装置1と基材8を接着
する接着剤、12は圧着ツール6により,圧着された圧
着ボールである。少なくとも1個の金属ボールをそれそ
れの圧着ツール6に吸着し,図1,図2および図3を経
て半導体装置と基材が接着された基材の貫通穴13内の
ボールバンプ5および基材の導体パターン9にそれそれ
熱圧着させる。この時,金属ボールは圧着ツールに複数
同時に吸着させ,圧着する事も可能であるし,吸着に超
音波振動を併用して圧着する事もできる。これにより、
基材の表裏にある半導体装置と基材の導体パターンとを
圧着ボール12を介して電気的な導通を取ることができ
る。本実施例における半導体装置の実装方法によれば、
基材を介して表裏にある半導体装置と導体パターンとの
接合を容易にかつ半導体装置の端子数と同数のスルーホ
ールを形成する必要もなく基材の製造コストを低減させ
ると同時に,複数箇所の導通を一度に取ることができる
という大きな効果が期待できる。
【0011】
【発明の効果】本発明による半導体装置の実装方法によ
れば、半導体装置上の外部接続端子に一括で複数のボー
ルバンプを形成し、貫通穴を形成した基材を半導体装置
上に位置決め固着し、形成されたボールバンプ上に複数
の圧着ボールを一括で積み重ね接合させることにより、
基材を介して裏面側の半導体装置上の外部接続端子と表
面側の導体パターンとの電気的な導通が確実かつ容易な
方法で可能となり、半導体装置の端子数と同数のスルー
ホールを形成する必要もなく基材のコストを低減させる
と同時に,接続を一括で取ることが出来ることにより,
加工コストを低減させることができ,安価なBGAパッ
ケージを提供できるという大きな効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体装置の外部接続端子上に金
属ボールを吸着した圧着ツールを位置決めした状態を示
す状態図。
【図2】本発明による半導体装置の外部接続端子上にボ
ールバンプを形成させた状態を示す状態図。
【図3】本発明における半導体装置に基材を接着させた
状態を示す状態図。
【図4】本発明による半導体装置と基材の導体パターン
との接合状態を示す状態図。
【図5】従来のワイヤーボンディング方式によるBGA
パッケージの実施例を示す部分断面図。
【図6】従来のフリップチップボンディング方式による
BGAパッケージの実施例を示す部分断面図。
【符号の説明】
1,11,21 ・・・ 半導体装置 2 ・・・ 外部接続端子 3 ・・・ 金属ボール 4,6 ・・・ 圧着ツール 5 ・・・ ボールバンプ 8,18 ・・・ 基材 9,19 ・・・ 導体パターン 10 ・・・ 接着剤 12 ・・・ 圧着ボール 13 ・・・ 貫通穴 22 ・・・ BGAボール 23 ・・・ スルーホール 24 ・・・ バンプ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】本発明は,あらかじめ形成された1個以上
    の金属ボールを配列された圧着ツールに吸着し,半導体
    装置(1)上に配列された外部接続端子(2)に接合
    し,前記半導体装置上にそれぞれボールバンプ(5)を
    形成する第1の工程と、前記ボールバンプに対応する位
    置に貫通穴(13)を形成した基材(8)を前記半導体
    装置に位置決めし接着剤(10)で固着する第2の工程
    と、前記貫通穴を通して前記ボールバンプ上に前記金属
    ボール(12)を積み重ね接合させる第3の工程とを有
    してなり、前記半導体装置と前記基板の導体パターンと
    の電気的導通を複数個同時にとることを特徴とする半導
    体装置の実装方法
JP32126298A 1998-10-07 1998-10-07 半導体装置の実装方法 Pending JP2000114312A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6413850B1 (en) * 1999-11-18 2002-07-02 Hitachi, Ltd. Method of forming bumps

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6413850B1 (en) * 1999-11-18 2002-07-02 Hitachi, Ltd. Method of forming bumps

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