JP2000113476A - 光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置 - Google Patents
光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置Info
- Publication number
- JP2000113476A JP2000113476A JP10301703A JP30170398A JP2000113476A JP 2000113476 A JP2000113476 A JP 2000113476A JP 10301703 A JP10301703 A JP 10301703A JP 30170398 A JP30170398 A JP 30170398A JP 2000113476 A JP2000113476 A JP 2000113476A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focus
- light
- objective lens
- exposure
- microscope objective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系において、前
記2波長間の合焦位置ずれを解消する技術を提供する。 【解決手段】 フォーカス光学系調整装置として、光デ
ィスク原盤露光機の露光対物レンズ1に対向して、顕微
鏡対物レンズ21を配置する。顕微鏡対物レンズ21の
後段には、リレーレンズ22、カメラ23、表示装置2
4で構成されるモニタ装置を配置する。また、カメラ2
3の出力信号は、スポット径計測手段25へ供給する。
そして、スポット径計測手段25により露光光の合焦位
置を検出すると共に、フォーカス光源5、あるいはフォ
ーカスコリメートレンズ6の位置調整によりフォーカス
光のコリメーションを調整し、フォーカス光の合焦位置
を露光光の合焦位置に一致させる。
Description
光機のフォーカス光学系調整装置に関する。
構成図である。この図に基づいて、光ディスク原盤露光
機の一般的な構成を説明する。光ディスク原盤露光機で
は、原盤露光時に、対物レンズ(露光対物レンズ)1と
ガラス原盤2表面との距離が一定(=対物レンズの露光
波長に対する焦点距離)になるように、後述するフォー
カスエラー信号に基づき、対物レンズアクチュエータ3
をサーボ制御する。 ガラス原盤2表面には、露光波長
λ1に感光するフォトレジストが塗布されるので、フォ
ーカスエラー信号生成用のフォーカス光源波長λ2は、
露光波長λ1と異なり、一般的には露光波長λ1より長
波長となる。
源(図示は省略)からの光が、ビーム成形光学系(図示
は省略)、ビーム変調・偏向光学系(図示は省略)など
を経た後、ダイクロイックミラー4を経て、対物レンズ
1下に露光スポットが形成される。同時に対物レンズ1
には、波長λ2のフォーカス光源5からの光が、コリメ
ータ6、ビームスプリッタ7、ダイクロイックミラー4
を経て導かれ、対物レンズ1下にフォーカス光スポット
が形成される。原盤露光時には、ガラス原盤2からの反
射光が、対物レンズ1、ダイクロイックミラー4、ビー
ムスプリッタ7へと戻り、ビームスプリッタ7で反射さ
れて、検出光学系8、受光素子9へ導かれる。
は、非点収差法、ビームサイズ法、ナイフエッジ法、臨
界角法、斜め入射法などの公知フォーカスエラー検出法
により異なる。受光素子9への戻り光量を多くするた
め、ビームスプリッタ7として偏向ビームスプリッタを
利用する場合、さらに波長λ2の1/4波長板10が追
加される。
ー4(もしくは1/4波長板10)まで総称して、フォ
ーカス検出光学系11と呼ぶ(説明の都合上、ダイクロ
イックミラー4、ビームスプリッタ7はキューブ型とし
たが、プレート型の場合もある。また、ダイクロイック
ミラー4は、波長λ2を反射するとしたが、逆に波長λ
1を反射する場合もある)。
るフォーカスエラー信号を生成する。フォーカスエラー
信号は、フォーカス光合焦点からの対物レンズ変位量を
表し、合焦点(図9のP0)における出力がゼロのS字
形状になるが、このうちフォーカスエラーの検出に使え
る領域は、S字の谷(図9のPb)から山(図9のP
t)領域であり、通常の光ディスク原盤露光機では、た
かだか±3ミクロン程度のレンジになる。
光機では、一般に露光光源波長λ1とフォーカス光源波
長λ2が異なるため、対物レンズ1の色収差により、波
長λ1と波長λ2の合焦位置が光軸方向で異なる(図1
0のΔ)。λ1≒400nm、λ2≒800nmの典型
例の場合、2ミクロン程度のずれが生じる。
て、例えば特開平5−217173号公報に記載の技術
がある。この技術は、光ディスク面上の光ビームのフォ
ーカス、トラック状態を直接観察するためのものであ
る。光ピックアップ自身が持っている駆動機構(対物レ
ンズアクチュエータ)により、光ビームを光ディスク面
上の所定位置にフォーカシング・トラッキングさせ、そ
のときの光ビームスポットを直接観察することで、光ピ
ックアップを高精度に調整する。
装置も知られている。フォーカス光源5の光を、コリメ
ートレンズ6で平行光にして対物レンズ1に入射させ、
ミラーもしくはガラス原盤2上に集光し、その反射光を
拡大してカメラ12上に結像させると共にモニタ13上
に写し出す。ミラーあるいはガラス原盤2をZ方向に動
かして、対物レンズ1との距離を連続的に変え、モニタ
13上の光スポット径が最小となる位置を目視で判断
し、フォーカス光の合焦位置と見做す。続いて、この状
態を保ったまま受光素子(図示せず)の位置を調整し、
合焦状態でフォーカスエラー信号がゼロとなるように合
わせ込む。
レンズによる集光スポットの状態を直接観察するための
先願技術もある。フォーカス調整可能な顕微鏡対物レン
ズを露光対物レンズに対向させて、光スポットの状態を
観察し、合わせてスポット径測定も行う(光ディスクド
ライブ装置に比べ、光ディスク原盤露光機のフォーカス
アクチュエータは大型になり、定電流印加時に熱の影響
でクリープを起こし易いため、上記公報のようにフォー
カスアクチュエータ駆動ではなく顕微鏡対物レンズ駆動
で光スポットへフォーカシングを行う)。スポット径測
定が可能なため、露光スポット合焦位置とフォーカスス
ポット合焦位置の、光軸方向のずれ量を検出できる。
る従来技術では、対物レンズアクチュエータを駆動して
フォーカシングを行う場合、定電流を流して対物レンズ
位置を合焦位置に固定する必要がある。原盤露光機の対
物レンズは、ドライブ装置と比較して大きく重たいの
で、アクチュエータも大型化される。そのため、コイル
発熱により生じる抵抗変化により、一定電流を流しても
対物レンズ位置が徐々に動く(クリープ)場合がある。
すなわち、この従来技術では、光ビームの観察中にフォ
ーカス状態が微妙に変化し、合焦状態の光スポットを安
定して観察できないという問題がある。
焦位置のみを検出するため、当然ながら波長λ1,λ2
の合焦点位置ずれを解消できない。そのため、フォーカ
スエラー信号上の合焦位置(図9のP0)と、波長λ1
の合焦位置(図9のP1)が異なってしまうが、実験的
に求めたオフセット値を加算し、λ1の合焦位置を中心
にフォーカスサーボを掛けている。
フォーカスエラー信号検出レンジが±3ミクロンの場
合、実際にフォーカスエラー検出に使用できる領域は、
波長λ1の合焦位置に対し、遠方−5ミクロンから近方
+1ミクロンと非対称となるため、サーボ引き込みに失
敗する場合があることや、一方向(この場合、近方側)
に対するサーボ余裕度が少ないという問題がある。ま
た、上記先願技術では、波長λ1,λ2の合焦位置ずれ
を検知することは可能だが、そのずれを解消するための
方法は開示されていない。
ス光源波長が異なる光ディスク原盤露光機のフォーカス
光学系において、前記2波長間の合焦位置ずれを解消す
る技術を提供することである。
に、請求項1記載の発明は、露光光源とフォーカス光源
を別波長とする光ディスク原盤露光機のフォーカス光学
系調整装置において、フォーカス光軸方向に移動可能な
フォーカス光源と、露光対物レンズによって形成される
光スポット光束を集光する顕微鏡対物レンズと、前記顕
微鏡対物レンズを介して光スポットを観測するモニタ装
置と、前記顕微鏡対物レンズを前記光スポット光軸方向
に駆動する第1の駆動手段及び前記光スポット光軸に垂
直な平面内の2方向に駆動する第2の駆動手段と、前記
光スポットの強度ピーク値から光スポット径を算出する
スポット径計測手段とを備え、前記スポット径計測手段
により露光光の合焦位置を検出すると共に、前記フォー
カス光源の位置調整によりフォーカス光のコリメーショ
ンを調整し、フォーカス光の合焦位置を露光光の合焦位
置に一致させることを特徴とするものである。
記載の発明は、露光光源とフォーカス光源を別波長とす
る光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置に
おいて、フォーカス光軸方向に移動可能なフォーカスコ
リメートレンズと、露光対物レンズによって形成される
光スポット光束を集光する顕微鏡対物レンズと、前記顕
微鏡対物レンズを介して光スポットを観測するモニタ装
置と、前記顕微鏡対物レンズを前記光スポット光軸方向
に駆動する第1の駆動手段及び前記光スポット光軸に垂
直な平面内の2方向に駆動する第2の駆動手段と、前記
光スポットの強度ピーク値から光スポット径を算出する
スポット径計測手段とを備え、前記スポット径計測手段
により露光光の合焦位置を検出すると共に、前記フォー
カスコリメートレンズの位置調整によりフォーカス光の
コリメーションを調整し、フォーカス光の合焦位置を露
光光の合焦位置に一致させることを特徴とするものであ
る。
記載の発明は、請求項1及び請求項2記載の光ディスク
原盤露光機のフォーカス光学系調整装置において、前記
顕微鏡対物レンズ光軸の2軸あおり手段を備えたことを
特徴とするものである。
記載の発明は、請求項3記載の光ディスク原盤露光機の
フォーカス光学系調整装置において、前記スポット径計
測手段に、前記光スポット強度ピーク値の位置検出手段
を備えたことを特徴とするものである。
記載の発明は、請求項1ないし請求項4記載の光ディス
ク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置において、複
数の顕微鏡対物レンズを搭載し、任意の1つの顕微鏡対
物レンズを選択する選択手段を備えたことを特徴とする
ものである。
図面を参照しながら説明する。まず、請求項1記載の発
明の内容を説明する。図1は本発明の実施の形態を示す
光ディスク原盤露光機の全体構成図である。図8と同一
個所には同一符号を付して、その部分の説明は重複する
ことになるので省略する。
に対向して、顕微鏡対物レンズ21を配置する。顕微鏡
対物レンズ21の後段には、リレーレンズ22、カメラ
23、表示装置24で構成されるモニタ装置を配置す
る。また、カメラ23の出力信号は、スポット径計測手
段25へ供給する。
の光軸は、光ディスクガラス原盤2(露光時に原盤露光
機のターンテーブルにセッティングされる)と直交する
軸(Z軸)と一致させる。X・Y軸は光ディスクガラス
原盤2面内で直交する2方向である。X軸、Y軸、Z軸
はそれぞれが直交する。露光対物レンズ1により形成さ
れる光スポット26の光束を、顕微鏡対物レンズ21で
集光し、折り曲げミラー27、リレーレンズ22を介し
てカメラ23上に結像させ、カメラ23上に結像した光
スポット26の像を表示装置24上に写し出す。
によりZ方向に任意量変位できるようになっている。ま
た、顕微鏡対物レンズ21は、X・Y方向駆動手段によ
りX・Y方向に任意量変位できるようになっている。X
・Y・Z方向駆動手段は、顕微鏡対物レンズ21をホル
ダー28で受け、ホルダー28をX・Y・Zステージ2
9,30,31に固定するなどで実現する。
の焦点位置が丁度一致するように、顕微鏡対物レンズ2
1をZ方向に駆動して位置決めすると共に、モニタ装置
の視野に光スポット26の像が写るように、顕微鏡対物
レンズ21をX・Y方向に駆動して位置決めする。
す図である。光ディスク原盤露光用のレーザビームはガ
ウス分布と考えてよく、スポット径計測手段25は光ス
ポット像を写すカメラ23の出力信号から強度ピーク値
41を検出し、検出された光スポット像の強度ピーク値
に対し、強度相対値が0.5、もしくは1/e2 となる
2点間の距離42(カメラ23上の画素数単位)を光ス
ポット径として算出する。ピーク値及びスポット径はそ
れぞれ相対値で表現されるが、大小が判ればよいので十
分である。
の様子を示す図である。フォーカス光源5をフォーカス
光の光軸方向(図1のXX方向)に移動可能とし、露光
対物レンズ1に入射するフォーカス光のコリメーション
を調整できるようにする。コリメーション調整により、
収束・発散状態を変え、フォーカス光スポットの集光位
置(合焦位置)を調整する。
うに比較的大型の場合には、XX方向に移動する1軸ス
テージ上にフォーカス光源5を配置することで、フォー
カス光源5の移動機構を実現できる。フォーカス光源5
が半導体レーザ(LD)のように小型の場合は、一例と
して図4の構成で移動機構を実現できる。即ち、ベース
板51のガイド溝52に、フォーカス光源(LD)5の
ホルダー53に設けたピン54を嵌合し、このピン54
を動かすことでLD5を移動させることができる。
光の合焦点を露光光の合焦点に一致させる。 (1)光スポット径計測手段25によって、露光光源の
合焦位置を見つける。合焦状態にある光スポット26
は、スポット径が最小になり、かつ、光強度ピーク値が
最大になるので、顕微鏡対物レンズ21をZ方向に連続
的に駆動し、最小スポット径位置を見つけるか、ピーク
値が最大値となる位置を見つける。この位置が露光光源
の合焦位置であり、ここで光スポット径計測手段25を
(Z方向に)保持する。 (2)フォーカス光源位置を微動させ、フォーカス光の
コリメーションを調整し、フォーカス光の合焦位置を調
整する。 (3)スポット径測定により、この位置でフォーカス光
の合焦点が得られるまで(2)を逐次繰り返す。
る。上記の構成でフォーカス光源5は固定とし、フォー
カスコリメートレンズ(コリメータ)6をフォーカス光
の光軸方向(図1のXX方向)に移動可能とし、露光対
物レンズ1に入射するフォーカス光のコリメーションを
調整できるようにする。フォーカスコリメートレンズ6
が比較的大型の場合には、XX方向に移動する1軸ステ
ージ上にフォーカス光源5を配置することで、移動機構
を実現できる。フォーカスコリメートレンズ6が小型の
場合、一例として図5の構成で移動機構を実現できる。
即ち、ベース板61に設けたガイド板62と押さえばね
63の間に、コリメートレンズホルダー65を挟み、ガ
イド板62に形成したガイド溝64に、ホルダー65に
設けたピン66を嵌合し、ピン66を摘んでホルダー6
5を移動させるようにしたものである。
る。図6は顕微鏡対物レンズの傾き調整の様子を示す図
である。図6に示すように、2軸あおり調整手段により
顕微鏡対物レンズ傾きを調整し、顕微鏡対物レンズ光軸
を露光対物レンズ光軸と一致させる。2軸あおり調整手
段は、図1の顕微鏡対物レンズホルダー28を、2軸ゴ
ニオステージ32,33に固定することなどで実現す
る。
る。スポット径計測手段25に、光スポット像を写すカ
メラ23の出力信号から強度ピーク43の画素位置を検
出する手段を付加する。強度ピーク位置がカメラ視野先
頭からM画素目の場合、カメラ水平方向の画素数をNと
して、強度ピーク位置はカメラ23上の2次元座標位置
(〔M/N〕、MmodN)となる(〔〕は割り算の整
数部、modは割り算の余り)。合焦状態を変化させた
ときの強度ピーク位置ずれは、露光対物レンズ1と顕微
鏡対物レンズ21の光軸傾きの存在を示すので、ピーク
位置ずれが無くなるように、顕微鏡対物レンズ21の傾
きを調整する(図2参照)。
る。図7は複数の顕微鏡対物レンズを切り替える様子を
示す図である。図7に示すように、顕微鏡対物レンズホ
ルダー71を回転ダイヤル状にし、ホルダー71上の一
定半径円周上に複数の顕微鏡対物レンズ21を配置する
ことで、複数の顕微鏡対物レンズ21の搭載と、その選
択手段を実現する。始めに低倍率の顕微鏡対物レンズ2
1aで、モニタ装置に光スポット像を写し出すX・Y方
向位置決めを行い、続いて高倍率の顕微鏡対物レンズ2
1bに切り替えて、光スポットを観察する(X・Y・Z
ステージ、2軸ゴニオステージなどは省略)。
780nm(LD)で、NA=0.9の露光対物レンズ
を有する光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系の調
整に本発明を適用した。20倍の顕微鏡対物レンズ
(1)と200倍の顕微鏡対物レンズ(2)と、10倍
のリレーレンズ、CCDカメラ、ビデオモニタからなる
モニタ装置を用い、スポット径計測には画像処理装置を
用いた。光スポット光軸方向(Z方向)への駆動手段に
は、位置サーボ付きのピエゾZステージを用い、ピエゾ
への供給電圧を制御して、顕微鏡対物レンズとホルダー
が光スポット光軸方向に微動できるようにした。また、
光スポット光軸と直交する2方向への駆動手段には、モ
ータ付きXYステージを用いた。さらに、2軸あおり調
整手段にαβゴニオステージを用いた。一方、顕微鏡対
物レンズ(1)と(2)は、回転ダイヤル式のレンズホ
ルダーにマウントし、ホルダーを回転して任意選択でき
るようにした。
を使ってモニタ装置(視野は約100ミクロン平方)の
中央に光スポット像が写し出されるように、XYステー
ジを調整し、続いて顕微鏡対物レンズ(2)に切り替え
て、モニタ装置(視野は約10ミクロン平方)の中央に
光スポットが写し出されるように、XYステージを微調
整した。
間に配置され、CCDカメラからのビデオ信号から、輝
度ピーク値とカメラ上の輝度ピーク画素位置を検出する
機能を有する。また、輝度ピーク値と輝度ピーク画素位
置は、ビデオモニタ上に光スポット像とオーバーラップ
して表示される。露光対物レンズと顕微鏡対物レンズの
光軸ずれは、ピエゾZステージを駆動して合焦状態をず
らし、輝度ピーク画素位置がずれないように、顕微鏡対
物レンズの傾きをαβゴニオステージで調整した。
直交方向のスポット径(ピーク値の0.5及び1/
e2 )をカメラ上の画素数で計測でき、実移動量と画素
移動量の換算係数を指定すると、光スポット径を実寸法
で計測できる。予め、XYステージで光スポット像を一
定量移動させて移動画素数を計測し、実寸法への換算係
数を求めて設定しておき、光スポット径を0.01ミク
ロン精度の実寸法で計測した。
盤露光機の露光ビームとフォーカスビームの合焦位置ず
れを計測したところ、約1.5ミクロンのずれがあった
(フォーカスエラー信号オフセットで約100mV)。
ピエゾZステージを駆動して顕微鏡対物レンズを露光光
の合焦位置に保持し、図4の機構で止めねじを弛めてピ
ンを動かし、LDホルダーをスライドさせ、フォーカス
光源をコリメートレンズから遠ざけてビームを収束させ
ることで、フォーカス光の合焦位置を露光光の合焦位置
に合わせ込んだ。この結果、フォーカスエラー信号のオ
フセット電圧を略ゼロとでき、安定したサーボ引き込み
が可能となった。また、フォーカスサーボの余裕度も向
上した。
メーション調整のみ、図5の機構によりコリメートレン
ズの位置調整で行った。ピンにより、コリメートレンズ
を光源から遠ざけるように動かしてビームを収束させ、
フォーカス光の合焦位置を露光光の合焦位置に合わせ
た。実施例1と同様に、フォーカスエラー信号のオフセ
ット電圧を略ゼロとでき、安定したサーボ引き込みが可
能となり、フォーカスサーボの余裕度も向上した。
ば、露光光とフォーカス光のスポット径計測を行う際に
顕微鏡対物レンズを駆動するので、露光対物レンズアク
チュエータを駆動する場合に比べて安定した状態で精度
よく光スポット径を計測できる上、コリメーション調整
によりフォーカス光の合焦位置を露光光の合焦位置に合
わせるので、フォーカスエラー信号のゼロ点と露光光の
合焦位置を一致させることができる。
2の効果に加え、顕微鏡対物レンズ光軸の露光対物レン
ズ光軸に対する傾きを除去できるので、光軸傾きによる
顕微鏡対物レンズ収差が原因となる光スポット径測定精
度低下への影響を抑える効果がある。
効果に加え、光スポットのピーク位置を検出している
で、容易に顕微鏡対物レンズ光軸の露光対物レンズ光軸
に対する傾きを除去できる効果がある。
4の効果に加え、低倍率、高倍率の顕微鏡対物レンズを
切り替えて使用できるので、光スポット径測定に先立
ち、モニタ視野に光スポット像を写し出す際の位置決め
を容易に行える効果がある。
の全体構成図である。
る。
す図である。
る。
を示す図である。
ある。
す図である。
る。
子を示す模式図である。
カス光学系調整装置の構成図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 露光光源とフォーカス光源を別波長とす
る光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置に
おいて、 フォーカス光軸方向に移動可能なフォーカス光源と、 露光対物レンズによって形成される光スポット光束を集
光する顕微鏡対物レンズと、 前記顕微鏡対物レンズを介して光スポットを観測するモ
ニタ装置と、 前記顕微鏡対物レンズを前記光スポット光軸方向に駆動
する第1の駆動手段及び前記光スポット光軸に垂直な平
面内の2方向に駆動する第2の駆動手段と、 前記光スポットの強度ピーク値から光スポット径を算出
するスポット径計測手段とを備え、 前記スポット径計測手段により露光光の合焦位置を検出
すると共に、前記フォーカス光源の位置調整によりフォ
ーカス光のコリメーションを調整し、フォーカス光の合
焦位置を露光光の合焦位置に一致させることを特徴とす
る光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置。 - 【請求項2】 露光光源とフォーカス光源を別波長とす
る光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置に
おいて、 フォーカス光軸方向に移動可能なフォーカスコリメート
レンズと、 露光対物レンズによって形成される光スポット光束を集
光する顕微鏡対物レンズと、 前記顕微鏡対物レンズを介して光スポットを観測するモ
ニタ装置と、 前記顕微鏡対物レンズを前記光スポット光軸方向に駆動
する第1の駆動手段及び前記光スポット光軸に垂直な平
面内の2方向に駆動する第2の駆動手段と、 前記光スポットの強度ピーク値から光スポット径を算出
するスポット径計測手段とを備え、 前記スポット径計測手段により露光光の合焦位置を検出
すると共に、前記フォーカスコリメートレンズの位置調
整によりフォーカス光のコリメーションを調整し、フォ
ーカス光の合焦位置を露光光の合焦位置に一致させるこ
とを特徴とする光ディスク原盤露光機のフォーカス光学
系調整装置。 - 【請求項3】 請求項1及び請求項2記載の光ディスク
原盤露光機のフォーカス光学系調整装置において、 前記顕微鏡対物レンズ光軸の2軸あおり手段を備えたこ
とを特徴とする光ディスク原盤露光機のフォーカス光学
系調整装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の光ディスク原盤露光機の
フォーカス光学系調整装置において、 前記スポット径計測手段に、前記光スポット強度ピーク
値の位置検出手段を備えたことを特徴とする光ディスク
原盤露光機のフォーカス光学系調整装置。 - 【請求項5】 請求項1ないし請求項4記載の光ディス
ク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置において、 複数の顕微鏡対物レンズを搭載し、任意の1つの顕微鏡
対物レンズを選択する選択手段を備えたことを特徴とす
る光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30170398A JP3860670B2 (ja) | 1998-10-08 | 1998-10-08 | 光ディスク原盤露光機における合焦位置合わせ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30170398A JP3860670B2 (ja) | 1998-10-08 | 1998-10-08 | 光ディスク原盤露光機における合焦位置合わせ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000113476A true JP2000113476A (ja) | 2000-04-21 |
JP3860670B2 JP3860670B2 (ja) | 2006-12-20 |
Family
ID=17900149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30170398A Expired - Fee Related JP3860670B2 (ja) | 1998-10-08 | 1998-10-08 | 光ディスク原盤露光機における合焦位置合わせ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3860670B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106706476A (zh) * | 2015-07-22 | 2017-05-24 | 天津同阳科技发展有限公司 | 开放式扬尘在线监测系统的机械安装和调节机构 |
-
1998
- 1998-10-08 JP JP30170398A patent/JP3860670B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106706476A (zh) * | 2015-07-22 | 2017-05-24 | 天津同阳科技发展有限公司 | 开放式扬尘在线监测系统的机械安装和调节机构 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3860670B2 (ja) | 2006-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6080877B2 (ja) | スピンウェーハ検査システムおよび高周波高速オートフォーカス機構 | |
US5191200A (en) | Imaging apparatus having a focus-error and/or tilt detection device | |
JP2003533876A (ja) | レーザ処理サイト内のミクロ構造を処理するために材料処理用レーザビームのウェストを精密に位置決めする方法及びシステム | |
JP2015513219A (ja) | ウェーハなどのターゲットを処理するためのリソグラフィシステム及び方法 | |
CN112684572A (zh) | 一种兼具自动调平功能的自动对焦方法及装置 | |
WO2009139190A1 (ja) | 位置検出装置、基板重ね合わせ装置 | |
JPH10318718A (ja) | 光学式高さ検出装置 | |
JP2001091821A (ja) | 顕微鏡用オートフォーカスシステム | |
JP2001004491A (ja) | 光ビームの検査装置 | |
JP3279979B2 (ja) | ウエハとマスクとの位置検出装置及び変形誤差検出方法 | |
JP3860670B2 (ja) | 光ディスク原盤露光機における合焦位置合わせ方法 | |
JPS6161178B2 (ja) | ||
JPH11173821A (ja) | 光学式検査装置 | |
JP2020006392A (ja) | レーザ加工装置 | |
JP2716121B2 (ja) | レーザ光軸検出装置 | |
WO2005109420A1 (ja) | 光ピックアップの調整装置および調整方法 | |
JPH0588072A (ja) | 自動焦点装置 | |
JPH0545573A (ja) | 焦点検出装置 | |
CN220252272U (zh) | 一种光学系统及检测装置 | |
JP3517262B2 (ja) | 光軸調整装置および光軸調整方法 | |
JP4656880B2 (ja) | 光ピックアップの出射光測定装置、及び調整方法 | |
JPH11176027A (ja) | 光ディスクの原盤露光装置の光スポット観察装置 | |
JP2001273643A (ja) | 対物レンズの傾角調整方法および装置 | |
JP5241093B2 (ja) | 光ヘッド調整方法 | |
JP2001091211A (ja) | 高さ測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050316 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050511 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060418 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060607 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060829 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060922 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |