JP2716121B2 - レーザ光軸検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、精密な光軸合わせを必要とする微小線幅測
定機やレーザー加工機等でレーザー光軸調整のために使
用するレーザ光軸検出装置に関する。 （従来技術） 従来、半導体製造装置におけるレチクルパターンや露
光されたウェハパターン等の線幅等をレーザービームを
用いて光学的に測定する装置にあっては、レーザー本体
から発射したレーザービームを光学系を通して試料面に
微小スポットとして照射しており、正確な光軸合わせを
必要とする。 このようなレーザービームの光軸調整は、例えば第５
図に示すように、レーザ本体101から発射されたレーザ
ービーム100の一部を２ケ所に設けたビームスプリッタ
ー102a,102bによって分割した焦点板103a,103bに投影
し、拡大レンズ104a,104bによって目視観察できるよう
にしており、拡大レンズ104a,104bを通して観察する焦
点板103a,103bのビーム投影像（ビームスポット）が同
一位置となるようにレーザ本体101の位置を調整するこ
とで規定の光軸位置となるように光軸調整を行なうこと
ができる。 またレーザービームの光軸ずれを電気的に検出する装
置として例えば第６図のものが知られている（特開昭57
−154389号）。 第６図において、レーザ本体101からのレーザービー
ム101は対物レンズ108により試料110上にビームスポッ
トとして結像されており、対物レンズ108に至る光路の
途中に設けたハーフミラー102によってレーザービーム1
00の一部を分割して光軸の平行移動、即ち偏心を検出す
る４分割ディテクターを用いた偏心検出器D1にビームス
ポットを当て、更にハーフミラー102で分割したレーザ
ービーム100の一部を更にハーフミラー102bで分割して
検出レンズ106により光軸の傾斜を検出する同じく４分
割ディテクターを用いて傾斜検出器D2にビームスポット
を結像させるようにしている。 この第６図の装置にあっては、レーザービームの光軸
が平行移動する偏心を起こすと、偏心検出器D1上に当っ
ているビームスポットが移動して偏心量に応じた受光出
力の変化が得られ、またレーザービームの光軸が傾斜す
ると、傾斜検出器D2に結像しているビームスポットが移
動して傾斜量に応じた受光出力が得られることを予定し
ている。 （発明が解決しようとする問題点） しかしながら、第５図に示した従来の光学的なモニタ
による光軸調整にあっては、２つのレーザースポットの
ずれを見て光軸調整を行なうようにしていたため、レー
ザースポットの相対的なずれがレーザ本体の偏心による
ものか、レーザ本体の傾斜によるものかが分かりにく
く、光軸の調整作業が行ないずらいという問題があっ
た。 更に、装置の使用中にレーザビームの位置が熱や衝撃
によりずれた場合、目視によるずれの判別には限界があ
るため、光軸ずれを検出することができず、レーザービ
ームによる線幅等の測定精度が落ちるという問題もあっ
た。 一方、第６図に示した従来装置にあっては、光軸の平
行移動による偏心と光軸の傾斜を独立に検出することを
予定しているが、対物レンズ108に入射するレーザービ
ームを単にハーフミラーで分割して偏心検出器D1にビー
ムスポットを当てると共に傾斜検出器D2にビームスポッ
トを結像させているにすぎないため、レーザービームが
規定の光軸に対し傾いていれば、傾斜検出器D2のビーム
スポットが中心位置からずれると共に、必然的に偏心検
出器D1のビームスポットも中心位置から若干移動し、検
出器D1,D2の両方の検出出力が得られ、傾斜による位置
ずれが偏心による位置ずれかが正確に区別できない。逆
に光軸が平行移動した偏心を起こしているときにも、同
様に検出器D1とD2の両方の検出出力が得られてしまう。 そのため、光軸調整にあっては、まずレーザービーム
の傾きを補正してから、光軸の平行移動による偏心を補
正するという手順を踏まなければならない（逆は不
可）。しかし、レーザ本体の傾きのみを独立に調整する
ことは困難であり、傾き調整に伴なって光軸の偏心も若
干生ずるようになり、この結果、偏心と傾斜調整を同時
に調整しなければならないために調整が煩雑になるとい
う問題が依然といて残されていた。 （問題点を解決するための手段） 本発明は、このような従来の問題点に鑑みて成された
もので、レーザービームの位置ずれがレーザー本体の偏
心によるものか傾斜によるものかを個別に検出して精密
な光軸調整を簡単且つ容易にできるようにしたレーザ光
軸検出装置を提供することを目的とする。 この目的を達成するために本発明にあっては、例えば
図１に示す如く、平行なレーザビームを射出しかつビー
ムウェスト（２）を射出側に形成するレーザ本体（１）
と；平行なレーザビームを集光して集光点（４）を形成
すると共に、ビームウェストの共役点を形成する光学系
（3,5）と；ビームウェストの共役点に配置される検出
器を有する偏心検出手段（D1）と；集光点の共役点を形
成する光学系（７〜14,19）と；集光点に共役点に配置
される検出器を有する傾斜検出手段（D2）とを備えるよ
うに構成され、偏心検出手段の検出器は、レーザ本体が
規定の光軸位置から偏心したときにビームウェストの偏
心量に応じた信号を出力し、傾斜検出手段の検出器は、
レーザ本体からのレーザビームが規定の光軸に対して傾
斜したときに生じる集光点の移動量を出力するように構
成したものである。 （作用） このような本発明の構成によれば、レーザ本体が光軸
に直交する方向に平行にずれる偏心を起こしたときに
は、レーザー本体のビームウェストに共役となるビーム
分割位置に配置した偏心検出手段に当たるビームスポッ
トが移動してビームウェストの偏心量に応じた検出信号
を出力し、このときレーザービームの集光点に共役とな
るビーム分割位置に配置している傾斜検出手段に当るビ
ームスポットの位置は変化しないことから、レーザービ
ームの偏心量のみを独立にモニタしてレーザービームを
規定光軸位置となるように偏心調整できる。 一方、レーザビームが規定の光軸に対し傾斜するレー
ザービームの位置ずれを起こしているときには、レーザ
ービームの集光点に共役となるビーム分割位置に配置し
た傾斜検出手段に当たるビームスポットが移動し、この
ときビームウェストに共役となるビーム分割位置に配置
した偏心検出手段に当たるビームスポットは移動しない
ことから、傾斜検出手段からのみ検出信号が得られ、こ
の傾斜検出信号をモニタすることによりレーザービーム
の傾斜調整を行なうことができる。 勿論、調整時にレーザービームが偏心及び傾斜による
位置ずれを同時に生じていたとしても、偏心量と傾斜量
を同時にモニタできるので、光軸合わせのための調整作
業が極めて行ない易く、また調整精度も大幅に高めるこ
とができる。 また、調整後の使用中に熱や衝撃等によりレーザービ
ームの位置ずれが起きても、ビームスポットの移動を電
気的に検出してモニタできるので、僅かな位置ずれであ
っても正確に検出して調整でき、常に高精度の光軸調整
状態に維持することができる。 更に、偏心及び傾斜検出手段の検出信号に基づくレー
ザー本体の調整機能のサーボ制御が可能となり、一度、
光軸の初期調整を行なっておけば、以後は自動的に規定
の光軸調整状態を維持することができる。 次に、第７図を参照して、本願発明が本願の目的を達
成できることについて説明する。 第７図は、本願の第１図に示される装置において、レ
ーザ本体１から偏心検出手段へ至る光路を抽出したもの
であって、（ａ）はレーザ本体１が、一点鎖線で示す基
準の光軸に対して傾いたときの光路を示す図であって、
（ｂ）はレーザ本体１が、一点鎖線で示す基準の光軸に
対して平行偏心したときの光路を示す図である。 第７図（ａ），（ｂ）において、レーザ本体１は、平
行なレーザビームを射出し、かつビームウェスト２をそ
の射出側に形成する。このレーザ本体からの平行なレー
ザビームは、レンズ３により集光されて集光点４に集光
される。この集光点４からのレーザビームはレンズ５に
よって平行なビームに戻されて、偏心検出手段D1の検出
器に達する。 まず、第７図（ａ）に破線で示す通り、レーザ本体１
が傾いたときには光学系3,5の内部に形成される集光点
４の位置が光軸を横切る方向に変位する。この変位した
集光点４からのレーザビームは、レンズ５を通過するこ
とによって平行なレーザビームに戻されて、偏心検出手
段D1の検出器へ向かう。ここで、レーザ本体１からのレ
ーザビームのビームウェスト２と偏心検出手段D1の検出
器とが共役な配置であるため、偏心検出手段D1の検出器
上では、図中実線で示すレーザ本体が傾いていないとき
のレーザが照射される位置と、図中破線で示すレーザ本
体が傾いたときのレーザが照射される位置とは一致す
る。 すなわち、レーザ本体１が基準の光軸に対して傾いた
状態となった場合には、光学系3,5が形成する集光点４
の位置は変位するが、偏心検出手段D1の検出器上でのレ
ーザが照射される位置は変化しない。 本願の第１図に戻って、傾斜検出手段D2の検出器は、
集光点４と共役に配置、すなわち傾斜検出手段D2の検出
器上には、集光点４の像が形成される。第７図（ａ）の
ように、集光点４が光軸を横切る方向に変位したときに
は、傾斜検出手段D2の検出器上に形成される集光点４の
像も変位する。 このように、レーザ本体１が基準の光軸に対して傾い
たときには、傾斜検出手段D2の検出器上での集光位置の
みが変位し、偏心検出手段D1の検出器上での照射位置は
変位しない。 次に、第７図（ｂ）を参照して、レーザ本体１が図中
一点鎖線で示す基準の光軸に対して平行偏心したときの
状態について説明する。 レーザ本体１が図中一点鎖線で示す基準の光軸に対し
て平行偏心したときには、レーザ本体１からのレーザビ
ームが平行であるため、レーザ本体１が平行偏心してい
ないときの集光点４と同じ位置に集光する。この集光点
４からのレーザビームはレンズ５によって平行なビーム
に戻されて、偏心検出手段D1の検出器に達する。このと
き、偏心検出手段D1の検出器へ向かうレーザビームは、
基準の光軸に対するレーザ本体１の平行偏心量に応じて
平行偏心したものとなる。 このように、レーザ本体１が基準の光軸に対して平行
偏心したときには、光学系3,5による集光点４の位置は
変位せず、偏心検出手段D1の検出器上ではレーザビーム
の照射位置が変位する。 このように、偏心検出手段D1の検出器とレーザ本体１
からの平行なレーザビームのビームウェストとを共役に
配置し、かつ傾斜検出手段D2の検出器とレーザビームの
集光点４との共役に配置することで、偏心検出手段D1で
は基準の光軸に対するレーザ本体１の平行偏心のみを、
傾斜検出手段D2では基準の光軸に対するレーザ本体１の
傾斜のみを独立に検出できる。 従って、本願発明は、目的を達成できる。 なお、付言すると、第７図（ａ）に破線で示す位置Ａ
に偏心検出手段D1の検出器を配置した場合には、基準の
光軸に対してレーザ本体１が傾斜したときに、偏心検出
手段D1の検出器上でのビーム照射位置が変化し、偏心検
出手段D1によって独立に偏心のみを検出できないことに
なる。このような位置Ａに偏心検出手段を配置したもの
は、従来の技術で説明した通りのものである。 （実施例） 第１図は試料面にレーザースポットをラスター走査す
るためのレーザー光学系を例にとって本発明の一実施例
を示した説明図である。 まず構成を説明すると、１は平行なレーザービームを
発射するレーザー本体であり、取付台に対し３次元方向
に調整自在に設置されている。1aは予備のレーザー装置
であり、メインのレーザー装置１が使用できなくなった
ときに予備のレーザー装置1aに切換えるようにしてい
る。この予備のレーザー装置1aにあってはも、メインの
レーザー装置１と同様、取付台に対し３次元方向に調整
自在に設置されている。 レーザー本体１より射出されたレーザービームの試料
面18までの光路系には、図示のようにビームエキスパン
ダー3,5、ビームスプリッター６、ビームエキスパンダ
ー7,8、集光レンズ９、一対の移動鏡10を備えたビーム
移動部11、スリット12、ラスター走査用の平行平面板、
ビームエキスパンダー14、ハーフミラー15、ビーム回転
用の像回転プリズム16、更に対物レンズ17が設けられ
る。 一方、予備のレーザー本体1aからのレーザービームの
光路系には、ビームエキスパンダー3a,5b,22,24が設け
られる。更にビームエキスパンダー24に続いては切換ミ
ラー32が配置され、メインのレーザー装置１を使用して
いるとき切換ミラー32は実線で示す位置にあるが、予備
のレーザー装置1aを使用するときには、切換ミラー32を
点線で示す位置に切換えて予備のレーザー装置1aからの
レーザービームをビームスプリッター６以降の光学系に
送り込むようにしている。 このような第１図に示すレーザービームの試料面18に
至る光学系について、本発明にあっては、レーザー本体
１のビームウェスト２に共役となる位置に偏心検出手段
としてのレーザービーム位置検出器D1を配置しており、
このレーザービーム位置検出器D1としては、例えば４分
割ディテクターを使用する。ビームウェスト２と共役と
なる位置に配置されたレーザービーム位置検出器D1に対
しては、ビームスプリッター６で分割した他方のビー
ム、即ちビームスプリッター６を透過したビームを当て
てビームスポットを結像させている。レーザービーム位
置検出器D1に結像されたビームスポットは、例えばレー
ザー本体１が軸ずれを起こして規定の光軸に直交する方
向に平行に移動する偏心を起こすと、レーザー本体１の
偏心によりビームウェスト２も偏心することから、ビー
ムウェスト２と共役になる位置に配置されたレーザービ
ーム位置検出器D1上のビームスポットはビームウェスト
２の偏心量に応じて移動することとなり、レーザービー
ム位置検出器D1の受光出力からレーザー本体１の偏心量
（光軸に直交する方向に平行にずれたずれ量）を検出す
ることができる。 一方、レーザー装置１から出射されたレーザービーム
つき、ビームエキスパンダー３と５の間に位置するレー
ザービームの集光点４に共役となる位置には傾斜検出手
段としてのレーザービーム位置検出器D2が配置される。
即ち、レーザー装置１から試料面18に至る光学系の途中
に設けたハーフミラー15によってレーザービームの一部
を分割し、レンズ19によってレーザービームの集光点４
と共役になる位置に設けたレーザービーム位置検出器D2
にレーザービームを入射してビームスポットを結像させ
ている。この傾斜検出手段としてのレーザービーム位置
検出器D2もD1と同様、例えば４分割ディテクターを使用
する。 レーザービームの集光点４に共役な位置に配置したレ
ーザービーム位置検出器D2に結像されるビームスポット
は、ビームウェスト２の光軸位置が規定の光軸上いあっ
ても、例えばレーザー本体１が傾斜した場合には、レー
ザービームの集光点４が規定の光軸上からシフトシ、集
光点４のシフトに応じてレーザービーム位置検出器D2上
のビームスポットも移動するようになり、ビームスポッ
トの移動に伴うレーザービーム位置検出器D2の検出出力
からレーザービームの傾斜を検出することができる。 勿論、偏心検出手段としてのレーザービーム位置検出
器D1上でのビームスポットの移動をもたらす偏心を生じ
ても、レーザービームの集光点４の位置は変化しないこ
とから、傾斜検出手段としてのレーザービーム位置検出
器D2上のビームスポットは移動せず、逆に傾斜検出手段
としてのレーザービーム位置検出器D2上のビームスポッ
トの移動をもたらすレーザービームの傾斜を生じても、
ビームウェスト２は移動しないことから、レーザービー
ム位置検出器D1上のビームスポットは移動せず、その結
果、レーザービーム位置検出器D1とD2により個別にレー
ザービームの偏心と傾斜を検出することができる。ま
た、レーザービーム位置検出器D1,D2に対する共役関係
は予備のレーザー装置1aについても同様に確立されてい
る。 次に、レーザー装置１から試料面18にレーザービーム
を送る光学系の機能を説明すると、次のようになる。 まず一対の移動鏡10を備えた移動部11は、矢印方向に
移動可能であり、移動部11による移動鏡10の動きを干渉
計等で読取ることにより、レーザースポットを試料面18
上で走査することができる。 移動鏡10に続いて設けられたスリット12は、試料面18
と共役な位置に配置されており、そのためスリット12に
よって試料面18上でのレーザースポットの照射領域を制
限することができる。 スリット12に続いて設けられた平行平面板13は、矢印
方向に回転することができ、この回転により移動鏡10に
よるレーザービームの走査方向と直角な方向にレーザー
ビームを移動することができる。従って、移動鏡10によ
るレーザービームの走査と平行平面板13の回転によるレ
ーザービームの走査の組合せで試料面18上においてレー
ザービームをラスター走査することができる。 ビームエキスパンダー14に続いて設けられたハーフミ
ラー15は、傾斜検出手段としてのレーザービーム位置検
出器D2にレーザービームを分割すると同時に、試料面18
から反射した反射ビームを信号検出部20に導く役割も兼
ねる。 更に、ハーフミラー15に続いて設けられたビーム回転
機構16は、イメージローテーターとして知られたもの
で、試料面18にスリット12の透過像として結像されるビ
ームスポットを回転することができる。 第２図は第１図のレーザービームの光学系に設けたレ
ーザービーム位置検出器D1,D2として使用する４分割デ
ィテクターを取出して示す。 この４分割ディテクターは、４分割された受光面A,B,
D,Cを有し、各受光面Ａ〜Ｄからは結像されるビームス
ポットの受光面積に応じた受光電流Ia,Ib,Ic,Idが得ら
れる。 ここで、第２図の４分割ディテクターの受光面に結像
されるビームスポット位置検出出力を、X,Y方向、若し
くは45゜ずれたＸ′,Y′方向について得ようとした場合
には、次表−１に示すような受光面Ａ〜Ｄの受光出力の
差動は得ればよい。 ここで、前記表−１におけるモード２の受光出力の差
動でＸ方向及びＹ方向のビームスポット位置情報を得る
場合には、例えば第３図の実施例に示すような４分割デ
ィテクターに基づくモニタ装置を用いれば良い。 第３図のモニタ装置において、40は４分割ディテクタ
ーであり、４分割ディテクター40は第２図に示すように
４つの受光面Ａ〜Ｄを有することから、各受光面Ａ〜Ｄ
からの受光出力をそれぞれＩ−Ｖ変換器42a〜42dに与え
て電圧信号に変換し、加算器44a,44b及び減算器48aによ
って前記表−１のモード２に示したＸ方向の位置検出信
号を演算する。また、加算器46a,46b及び減算器48bによ
って前記表−１のモード２に示すＹ方向の位置検出信号
を演算する。減算器48a,48bで得られたＸ及びＹ方向の
位置検出信号はそれぞれアンプ50a,50bで増幅され、Ｘ
メータ52a及びＹメータ52bのそれぞれでＸ及びＹ方向の
位置検出信号を表示させる。 第４図は第３図の減算器48aまたは48bから得られるＸ
またはＹ方向のビーム位置に対する位置検出電圧を示し
た特性グラフであり、前記表−１のモード２に示した４
分割ディテクターの受光出力の差動演算を行なうことに
より、４分割ディテクターの中心、即ち４つの受光面Ａ
〜Ｄに対するビームスポットの受光面積が等しくなる光
軸合せができた位置で位置検出電圧は0Vとなり、このビ
ームスポットの４分割ディテクターの中心に対するビー
ムスポットの位置がＸ方向、またはＹ方向に移動する
と、第４図の特性グラフに示すようなＳカーブとなる位
置検出電圧の変化が得られる。 従って、第３図に示すようなモニタ回路を第１図に示
した４分割ディテクターを使用したレーザービーム位置
検出器D1,D2について設けることにより、レーザー本体
１の偏心及び傾斜を例えばＸメータ52a及びＹメータ52b
を使用してモニタすることができる。 次に、前述した本発明の実施例によるレーザービーム
の光軸調整を説明する。 まず、第１図に示したようなレーザービームによる試
料の走査装置の完成段階でレーザー装置１を搭載し、レ
ーザー装置１の光軸初期調整が終了したならば、図示の
位置に配置された４分割ディテクターを用いたレーザー
ビーム位置検出器D1,D2に対するビームスポットの結像
位置の調整を行なう。 即ち、偏心検出手段としてのレーザービー位置検出器
D1の受光出力から第３図に示したモニタ装置により、そ
のときのビームスポットの位置により第４図に示したＳ
カーブに従ったＸ方向及びＹ方向の位置検出電圧がＸメ
ータ52a,52bに表示されることから、第４図のＳカーブ
における零点付近の位置検出電圧となるように、レーザ
ービーム位置検出器D1に対するビームスポットの結像位
置に調整する。 次に、傾斜検出手段としてのレーザービーム位置検出
器D2については、移動部11による移動鏡10の位置を集光
レンズ９のレンズ中心となる位置に設定し、そのときの
ビームスポットがレーザービーム位置検出器D2を構成す
る４分割ディテクターの中心位置となるようにレーザー
ビーム位置検出器D2の位置を調整する。即ち、レーザー
ビーム位置検出器D2についても、前述したレーザービー
ム位置検出器D1と同様、第３図に示したモニタ装置のＸ
メータ52a,Yメータ52bの表示を見て、第４図に示Ｓカー
ブの零点付近の位置検出電圧に収まるように粗調整す
る。 このようにしてレーザービーム位置検出器D1,D2のレ
ーザースポットが中心位置に結像させるための粗調整が
済んだならば、レーザービーム位置検出器D1,D2の各モ
ニタ装置に設けられている４つのメータ表示を見ながら
微調整を行ない、第４図のＳカーブにおける光学上許容
される矢印で示す範囲に入ったならば調整を完了し、レ
ーザービーム位置検出器D1,D2のそれぞれを調整位置に
固定する。 次に、予備のレーザー装置1aについてはメインのレー
ザー装置１の規定の光軸状態の調整に応じたレーザービ
ーム位置検出器D1,D2の位置調整が完了していることか
ら、切換ミラー32を破線で示すように切換えて予備のレ
ーザー装置1aからのレーザービームを試料面18に向けて
出射し、このときレーザービーム位置検出器D1のモニタ
でＸ及び又はＹ方向の位置検出電圧が得られていれば、
予備のレーザー装置1aは規定の光軸から偏心しているこ
とから、モニタとしている検出電圧が零電圧となるよう
に予備のレーザー装置1aを偏心調整し、一方、レーザー
ビーム位置検出器D2のモニタ表示にＸ及び又はＹ方向の
位置検出電圧が得られていれば、予備のレーザー装置1a
は規定の光軸に対し傾斜していることから、モニタ電圧
を零電圧とするように傾斜調整することで予備のレーザ
ー装置1aの光軸合せを行なうことができる。 更に装置の使用中に、メインのレーザー装置１を交換
した場合には、前述した予備のレーザー装置1aの光軸調
整を行なった場合と同様にして、レーザービーム位置検
出器D1のモニタ電圧による偏心調整、及びレーザービー
ム位置検出器Ｄのモニタ電圧に基づく傾斜調整を行なう
ことで、交換したレーザー装置１を規定の光軸位置に簡
単に位置合せすることができる。 更に、本発明にあってはレーザー装置１の調整機構に
３軸方向のサーボ調整機構を設けることにより自動的に
光軸調整状態を維持することができる。 即ち、第３図に示したモニタ装置のアンプ50a,50bで
得られた、例えば偏心によるＸ及びＹ方向の位置検出信
号を、A/D変換器54a,54bでデジタル変換してサーボ制御
用のCPU60a,60bに与え、更にコンパレータ56a,56bによ
って第４図に示した光軸調整領域を比較判別してCPU60
a,60bに与えるようにし、このA/D変換器54a,54b及びコ
ンパレータ56a,56bに基づく位置検出情報により、レー
ザー装置１の３軸方向のサーボ調整機構をフィードバッ
ク制御することにより、例えば使用中に熱や衝撃を受け
てレーザービームの位置ずれを生じたとしても、自動的
に光軸調整位置を維持するサーボ制御を行なうことがで
きる。 尚、上記の実施例は前記表−１におけるモード２の演
算による位置検出信号のモニタを例にとるものであった
が、モード１におけるX,Y方向の位置検出、更にはモー
ド３に示すＸ′,Y′方向の位置検出を同様にモニタして
光軸調整を行なうようにしても良い。 また、上記の実施例にあっては、レーザービーム位置
検出器D1,D2として４分割ディテクターを使用したが、
４分割ディテクター以外にビームスポットの位置に比例
したアナログ信号を出力する二次元ポジションセンサや
イメージ撮像素子を使用することができる。 更に本発明で用いたレーザービーム位置検出器D1,D2
は、レーザービームの位置ずれ検出のみならず、例えば
４分割ディテクターを使用した場合に、各受光部の出力
を加算することでレーザー装置のパワーモニタとして兼
用することができる。 更にまた、傾斜検出手段としてのレーザービーム位置
検出器D2は、試料面18及びスリット12と共役であること
から、レーザービーム位置検出器D2から得られる検出信
号を利用すれば、レーザービームをラスター走査するた
めの移動鏡10と平行平面板13の初期設定を行なうことも
できる。 （発明の効果） 以上説明してきたように本発明によれば、レーザ本体
や光学系の位置ずれや温度によるレーザービームの変移
等に基因したレーザービームの偏心と傾斜を各々独立し
て検出できるため、レーザ本体や光学部材を光軸合せす
るための調整が極めて容易となり、且つ高い精度の光軸
合せを行なうことができる。 また、レーザー装置の使用中に熱や機械的な衝撃等に
より光軸ずれを生じても、光軸ずれを電気的に検出して
モニタできるので、僅かな位置ずれであっても正確に検
出して再調整することができ、常に高精度の光軸調整状
態に維持することができる。 更に、偏心及び傾斜の位置ずれ検出手段の検出信号に
基づきレーザ本体の調整機構のサーボ制御が可能とな
り、１度光軸の初期調整を行なっておけば、以後は自動
的に規定の光軸調整状態を得ることができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例を示した説明図、第２図は第
１図の実施例で用いるレーザービーム位置検出器D1,D2
として使用する４分割ディテクターの説明図、第３図は
４分割ディテクターの受光出力に基づいて位置ずれ検出
信号を得るモニタ装置の一実施例を示したブロック図、
第４図は第３図のモニタ装置で得られるビームスポット
の位置に対する位置検出電圧に示した特性図、第5,6図
は従来例を示した説明図、第７図は本発明の作用説明図
である。 1:レーザ装置（メイン） 1a:レーザ装置（予備） 2,2a:ビームウェスト 3,5,7,8,9,14,22,24:ビームエキスパンダー 4,4a:集光点 6:ビームスプリッター 10:移動鏡 11:移動部 12:スリット 13:平板平面鏡 15:ハーフミラー 16:ビーム回転機構（ビームローテーター） 17:対物レンズ 18:試料面 19:集光レンズ 20:信号検出部 25:切換ミラー D1:レーザービーム位置検出器（偏心検出手段） D2:レーザービーム位置検出器（傾斜検出手段） 40:4分割ディテクター 42a〜42d:I−Ｖ変換器 44a,44b,46a,46b:加算器 48a,48b:減算器 50a,50b:アンプ 52a:Xメータ 52b:Yメータ 54a,54b:A/D変換器 56a,56b:コンパレータ 60a,60b:CPU

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 浜島 宗樹 東京都品川区西大井１−６−３ 日本光 学工業株式会社大井製作所内 (56)参考文献 特開 昭53−97796（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−154389（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 １．レーザビームを光学系を通して試料面に照射するレ
   ーザ装置において、 平行なレーザビームを射出しかつビームウェストを射出
   側に形成するレーザ本体と； 前記平行なレーザビームを集光して集光点を形成すると
   共に、該ビームウェストの共役点を形成する光学系と； 前記ビームウェストの共役点に配置される検出器を有す
   る偏心検出手段と； 前記集光点の共役点を形成する光学系と； 前記集光点の共役点に配置される検出器を有する傾斜検
   出手段とを備え、 前記偏心検出手段の前記検出器は、前記レーザ本体が規
   定の光軸位置から偏心したときに前記ビームウェストの
   偏心量に応じた信号を出力し、 前記傾斜検出手段の前記検出器は、前記レーザ本体から
   のレーザビームが規定の光軸に対して傾斜したときに生
   じる集光点の移動量を出力することを特徴とするレーザ
   光軸検出装置。