JP2000089817A

JP2000089817A - 耐久試験装置

Info

Publication number: JP2000089817A
Application number: JP25724398A
Authority: JP
Inventors: Takehiko Yamamura; 武彦山村
Original assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Current assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date: 1998-09-10
Filing date: 1998-09-10
Publication date: 2000-03-31

Abstract

(57)【要約】【課題】電子制御装置の耐久試験を好適に行えるよう
にする。【解決手段】入力信号パターン発生部３１はＥＣＵ１
への入力信号パターンを発生させるもので、スイッチ部
３２は入力信号パターンに従ってＥＣＵ１の入力部１３
〜１５に入力される信号と同一の模擬入力信号を発生さ
せるもので、これらによって模擬入力信号発生手段が構
成される。監視手段３４は模擬入力信号に応じてＥＣＵ
１の出力部１６，１７から出力される動作信号により作
動するアクチュエータ部３３の作動状態を監視し、模擬
入力信号に対して作動状態が正常であるか異常であるか
を判定する。ＣＰＵ４１は動作試験の実行毎にその回数
をカウントするとともに、監視手段３４により作動状態
が異常であると判定されたときの動作試験の回数及び当
該動作信号の異常内容をＣＲＴ３９に併記表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、各種のアクチュエ
ータの動作を制御する電子制御装置の動作試験を繰り返
し行って正常動作を行うか否かの試験を行うための耐久
試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子制御装置、当該電子制御装置
に信号を入力するセンサ回路、当該センサ回路からの入
力信号に基づいて出力される電子制御装置からの出力信
号によって動作する各種のアクチュエータが、それぞれ
正常に機能するか否かを自動的に診断するようにした電
子部品診断装置が提案されている（実開昭６４−１５１
７８号参照）。この電子部品診断装置は、センサ回路と
同一の信号を電子制御装置に入力するセンサ擬似回路を
備え、このセンサ擬似回路からの入力信号によって電子
制御装置から各種のアクチュエータを動作させる信号が
正常に出力されるか否かを監視することによって、上記
電子制御装置が正常に機能するか否かを診断している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】電子制御装置の信頼性
試験として、単に１回の動作で正否を判断するだけでな
く、多数回繰り返しても故障が生じないかどうかを判定
するための耐久試験を要する場合がある。この場合に
は、異常動作が生じたときの異常内容や回数などの情報
が必要になる。しかし、上記実開昭６４−１５１７８号
に記載の従来の電子部品診断装置では、そのような耐久
試験を行わせる機能及び必要情報を提供する機能がな
く、耐久試験に対応することは困難であった。

【０００４】本発明は、上記問題を解決するもので、電
子制御装置の耐久試験を好適に行えるようにした耐久試
験装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、入力部への入
力信号に応じて出力部から動作信号をアクチュエータに
送出して当該アクチュエータの動作を制御する電子制御
装置の動作試験を繰り返し実行させる耐久試験装置であ
って、上記動作試験として模擬入力信号を上記入力部に
入力させる模擬入力信号発生手段と、上記模擬入力信号
に応じて上記出力部から出力される動作信号を監視し、
入力された上記模擬入力信号に対して上記動作信号が正
常であるか異常であるかを判定する監視手段と、表示手
段と、動作試験の実行毎にその回数をカウントするカウ
ント手段と、上記監視手段により上記動作信号が異常で
あると判定されたときの上記動作試験の回数及び当該動
作信号の異常内容を上記表示手段に表示させる異常表示
制御手段とを備えたものである。

【０００６】この構成によれば、上記動作試験として模
擬入力信号が電子制御装置の入力部に入力され、この模
擬入力信号に応じて電子制御装置の出力部から出力され
る動作信号が監視され、入力された模擬入力信号に対し
て動作信号が正常であるか異常であるかが判定される。
一方、動作試験の実行毎にその回数がカウントされてお
り、監視手段により動作信号が異常であると判定された
ときの動作試験の回数及び当該動作信号の異常内容が表
示手段に表示されることにより、耐久試験結果が明確に
されることとなる。

【０００７】また、更に、上記動作試験を実行すべき回
数を予め設定する回数設定手段と、上記監視手段により
上記動作信号が異常であると判定されないうちは、設定
された回数に達するまで上記動作試験を反復させ、上記
監視手段により上記動作信号が異常であると判定された
時点で上記動作試験を停止させる試験制御手段とを備え
たものであるとしてもよい。

【０００８】この構成によれば、動作試験を実行すべき
回数が予め設定され、正常な動作信号が続くと設定され
た回数に達するまで動作試験が反復されることにより、
耐久試験の実行が確実に行われ、一方、動作信号が異常
であると判定された時点で動作試験が停止されることに
より、異常発生に直ぐに対応することが可能になる。

【０００９】また、更に、上記動作試験を実行すべき回
数を予め設定する回数設定手段と、設定された回数だけ
上記動作試験を行わせる試験制御手段とを備えたもので
あるとしてもよい。

【００１０】この構成によれば、動作試験を実行すべき
回数が予め設定され、設定された回数だけ動作試験が行
われることにより、動作信号が異常であると判定された
ときの回数及び異常内容が表示されるので、設定回数内
で異常が発生した時点や異常発生の頻度が容易に分かる
こととなる。

【００１１】また、更に、実行中の上記動作試験の回数
を表示する回数表示手段を備えたものであるとすること
により、耐久試験の進行状況が明確に示される。

【００１２】また、上記模擬入力信号発生手段は、１回
の動作試験として上記電子制御装置が有する複数の入力
部に各入力信号の全ての組合せパターンが入力されるよ
うに上記模擬入力信号を発生させるものであるとしても
よい。この構成によれば、１回の動作試験として電子制
御装置の複数の入力部に各入力信号の全ての組合せパタ
ーンが入力されるように模擬入力信号が発生されること
により、電子制御装置の動作試験が漏れなく行われるこ
ととなり、これによって耐久試験が更に一層好適に行わ
れる。

【００１３】また、上記模擬入力信号発生手段は、記憶
された入力信号パターンに従って上記模擬入力信号を発
生させるメモリを備えたものであるとしてもよい。この
構成によれば、異なる入力信号パターンを記憶するメモ
リに変更したり、メモリの記憶内容を変更することによ
り、入力信号パターンの変更が容易に可能になり、異な
る動作仕様の電子制御装置の耐久試験にも容易に対応可
能になる。

【００１４】また、更に、メモリ書換え手段を備え、上
記模擬入力信号発生手段のメモリは、記憶内容が書換え
可能なもので、上記メモリ書換え手段は、上記メモリの
記憶内容を書き換えることにより上記模擬入力信号の入
力信号パターンを変更するものであるとしてもよい。こ
の構成によれば、メモリの記憶内容を書き換えることに
より模擬入力信号の入力信号パターンが容易に変更可能
になり、異なる動作仕様の電子制御装置の耐久試験にも
容易に対応可能になる。

【００１５】

【発明の実施の形態】図１は本発明に係る耐久試験装置
の一実施形態の構成を示すブロック図、図２は入力信号
パターン発生部３１の構成を示すブロック図、図３は同
耐久試験装置の試験対象である電子制御装置１の一例を
示すブロック図、図４（ａ）（ｂ）は耐久試験結果の表
示例を示す図である。

【００１６】電子制御装置(ＥＣＵ)１は、本実施形態で
は自動車に用いられるもので、図３に示すように、制御
部１０及び駆動部１１，１２を備え、バッテリ２を電源
として、入力部１３，１４，１５にそれぞれ接続された
イグニションスイッチ２１、テールスイッチ２２及びド
アスイッチ２３のオンオフに応じて、出力部１６，１７
にそれぞれ接続されたテールランプ２４及びブザー２５
の作動、停止を制御するものである。

【００１７】すなわち、制御部１０は、テールスイッチ
２２がオンのときは、駆動部１１を介してテールランプ
２４を点灯させる。また、イグニションスイッチ２１が
オフのときに、テールスイッチ２２がオン、かつドアス
イッチ２３がオン（ドア開）のときは、駆動部１２を介
してブザー２５を作動させる。

【００１８】図１において、耐久試験装置３は、ＥＣＵ
１の動作試験を繰り返し実行させることにより耐久試験
を行うもので、入力信号パターン発生部３１、スイッチ
部３２、アクチュエータ部３３、監視手段３４、回数設
定部（回数設定手段）３５、カウンタ表示部（回数表示
手段）３６、スタートスイッチ３７、ストップスイッチ
３８、ＣＲＴ（表示手段）３９、プリンタ４０及びＣＰ
Ｕ４１を備えている。

【００１９】入力信号パターン発生部３１は、ＥＣＵ１
に模擬入力信号を入力させるべく入力信号パターンを発
生するもので、図２に示すように、基本クロックパルス
発生回路５１及び１／２分周回路５２，５３から構成さ
れている。そして、基本クロックパルス発生回路５１の
出力信号をドアスイッチ２３の入力信号、この信号を１
／２分周した１／２分周回路５２の出力信号をテールス
イッチ２２の入力信号、この信号を更に１／２分周した
１／２分周回路５３の出力信号をイグニションスイッチ
２１の入力信号とする。この構成によって、ＥＣＵ１へ
の複数（図３では３個）の入力信号の全てのパターンが
発生するようになされている。

【００２０】スイッチ部３２は、トランジスタなどで構
成され、図３に示す各スイッチ２１〜２３からＥＣＵ１
に入力される信号と同一の模擬入力信号を発生するもの
で、入力信号パターン発生部３１で発生される入力信号
パターンによりトランジスタのスイッチ動作を行って、
ハイレベル信号又はローレベル信号をＥＣＵ１に入力す
るものである。

【００２１】入力信号パターン発生部３１及びスイッチ
部３２により、模擬入力信号発生手段を構成している。

【００２２】アクチュエータ部３３は、トランジスタな
どで構成され、ＥＣＵ１から出力される動作信号、すな
わちハイレベル信号又はローレベル信号によってオンオ
フ動作を行うものである。

【００２３】監視手段３４は、アクチュエータ部３３の
作動状態を監視し、入力信号パターン発生部３１の入力
信号パターンと上記作動状態とを比較して、正常又は異
常を判定するものである。また、監視手段３４は、正常
である旨又は異常の内容を示すコード（後述）をＣＰＵ
３９に送出する。

【００２４】回数設定部３５は、例えばテンキーを備
え、動作試験を実行すべき回数を予め設定するものであ
る。カウンタ表示部３６は、ＬＣＤなどからなり、実行
中の動作試験の回数を表示するためのものである。スタ
ートスイッチ３７は、耐久試験を開始させるためのもの
で、ストップスイッチ３８は、耐久試験を停止させるた
めのものである。ＣＲＴ３９及びプリンタ４０は、耐久
試験結果などを表示したり記録するためのものである。

【００２５】ＣＰＵ４１は、各部の動作を制御するもの
で、以下の機能を有している。 (1) スタートスイッチ３７が操作されると、入力信号パ
ターン発生を開始させるトリガ信号を入力信号パターン
発生部３１に送出して耐久試験を開始させ、回数設定部
３５により設定された回数だけ動作試験を行わせるとと
もに、ストップスイッチ３８が操作されると、入力信号
パターン発生を停止させるトリガ信号を入力信号パター
ン発生部３１に送出して耐久試験を停止させる動作制御
手段としての機能。

【００２６】(2) 動作試験の１サイクルの実行毎にその
回数をカウントアップするカウント手段としての機能。

【００２７】(3) 実行中の動作試験の回数をカウンタ表
示部３６に表示させる回数表示制御手段としての機能。

【００２８】(4) 監視手段３４により異常判定があった
ときは、そのときの動作試験の回数及び異常内容を、図
４（ａ）に示すようにＣＲＴ３９に併記表示させる異常
表示制御手段としての機能。

【００２９】(5) 耐久試験が正常に終了したときは、そ
の旨及び動作試験の実行回数を、図４（ｂ）に示すよう
にＣＲＴ３９に併記表示させる正常表示制御手段として
の機能。

【００３０】(6) 監視手段３４によりアクチュエータ部
３３の作動状態が異常であると判定されないうちは、回
数設定部３５により設定された回数に達するまで動作試
験を反復させ、監視手段３４によりアクチュエータ部３
３の作動状態が異常であると判定された時点で動作試験
を停止させる試験制御手段としての機能。

【００３１】(7) ＣＲＴ３９の表示と同一内容をプリン
タ４０に記録させる記録制御手段としての機能。

【００３２】次に、図５、図６を用いてＥＣＵ１の耐久
試験について説明する。図５は入力信号パターン発生部
３１で発生する入力信号パターン及びアクチュエータ部
３３の作動状態を示すタイミングチャート、図６は図５
をビットデータで表わした図である。

【００３３】本実施形態では、図５に示すように、ＥＣ
Ｕ１の３個の入力部１３〜１５への入力信号について、
全ての入力信号パターンの組合せを実現すべく、動作試
験の１サイクルを第０タイミング〜第７タイミングの８
個の動作タイミングで構成している。ここで、第０タイ
ミング〜第７タイミングを、「００００」〜「０１１
１」の４ビットデータで表わしている。

【００３４】そして、ドアスイッチ用入力部１５への入
力信号は、各動作タイミングでオフオンを繰り返し、テ
ールスイッチ用入力部１４への入力信号は、動作タイミ
ング２個毎にオフオンを繰り返し、イグニションスイッ
チ用入力部１３への入力信号は、動作タイミング４個毎
にオフオンとしている。このような入力信号パターンに
よって、８個の動作タイミングからなる１サイクルで全
ての入力信号の組合せを実現している。

【００３５】このような入力信号パターンがＥＣＵ１の
入力部１３〜１５に入力されたときに、ＥＣＵ１の２個
の出力部１６，１７から正常な動作信号が出力される
と、アクチュエータ部３３の作動状態は図５に示すもの
になる。すなわち、テールスイッチ用入力部１４への入
力信号がオンのときに、テールランプ用アクチュエータ
が作動する。また、イグニションスイッチ用入力部１３
への入力信号がオフのときに、テールスイッチ用入力部
１４への入力信号がオン、かつドアスイッチ用入力部１
５への入力信号がオンのときは、ブザー用アクチュエー
タが作動する。

【００３６】図５のタイミングチャートをビットデータ
で表わしたものが図６である。すなわち、ビット２を入
力部１３、ビット１を入力部１４、ビット０を入力部１
５への入力信号として、入力部１３，１４，１５への入
力信号パターンを３ビットデータで表わすと、図６の左
欄に示すように「０００」〜「１１１」になる。

【００３７】そして、上位４ビットを動作タイミング、
ビット１をテールランプ用アクチュエータ、ビット０を
ブザー用アクチュエータとして、アクチュエータ部３３
の作動状態を６ビットデータで表わすと、図６の右欄に
示すようになる。但し、各信号のオンを「１」に、オフ
を「０」に対応させている。

【００３８】次に、図７、図８を用いて監視手段３４か
らＣＰＵ４１に送出されるデータについて説明する。図
７（ａ）（ｂ）（ｃ）は同データの一例を示す図、図８
は同データを構成するコードの一例を示す図である。監
視手段３４からＣＰＵ４１には、模擬入力信号に応じて
ＥＣＵ１から出力される動作信号によって作動するアク
チュエータ部３３の作動状態の監視結果を表わすデータ
が、動作タイミング毎に送出される。このデータは、図
７（ａ）に示すように、第０タイミング〜第７タイミン
グの動作タイミングを示す４ビットのデータと、アクチ
ュエータ部３３の作動状態が正常である旨又は異常の内
容を表わすコードからなる４ビットのデータとからなる
８ビットのデータで構成されている。

【００３９】動作タイミングを示す４ビットのデータ
は、上記図５で説明したように、「００００」〜「０１
１１」であり、１サイクル中の動作タイミングを表わす
データにされる。また、アクチュエータ部３３の作動状
態を表わすコードは、図８に示すように、正常であれば
「１１１１」のコード、異常であれば、その内容によっ
て「０１１１」、「１０１１」、「１１０１」又は「１
１１０」のコードにされる。

【００４０】例えば、１サイクル中の第１タイミングに
おいてアクチュエータ部３３の作動状態が正常であれ
ば、図７（ｂ）に示すように、「０００１１１１１」の
データが監視手段３４からＣＰＵ４１に送出される。ま
た、１サイクル中の第３タイミングにおいてアクチュエ
ータ部３３のブザー用アクチュエータが作動しなけれ
ば、図７（ｃ）に示すように、「００１１１１０１」の
データが監視手段３４からＣＰＵ４１に送出される。

【００４１】次に、図９のフローチャートを用いて本実
施形態における耐久試験の動作手順について説明する。

【００４２】まず、試験回数が設定されたか否かが判別
され（ステップＳ１０）、試験回数が設定されると（ス
テップＳ１０でＹＥＳ）、スタートスイッチがオンにさ
れたか否かが判別され（ステップＳ２０）、スタートス
イッチがオンにされると（ステップＳ２０でＹＥＳ）、
入力信号パターンの発生が開始されて耐久試験が開始さ
れる（ステップＳ３０）。

【００４３】そして、動作タイミング毎にアクチュエー
タ部３３の作動状態に異常があるか否かが判定され（ス
テップＳ４０）、異常がなければ（ステップＳ４０でＮ
Ｏ）、動作試験の１サイクルが終了したか否かが判別さ
れ（ステップＳ５０）、１サイクルが終了していなけれ
ば（ステップＳ５０でＮＯ）、ステップＳ４０に戻って
以上の手順が繰り返される。

【００４４】動作試験の１サイクルが終了すると（ステ
ップＳ５０でＹＥＳ）、カウンタ表示部３６の表示カウ
ンタが更新され（ステップＳ６０）、サイクル数がステ
ップＳ１０で設定された回数に達したか否かが判別され
（ステップＳ７０）、設定回数に達していなければ（ス
テップＳ７０でＮＯ）、ステップＳ４０に戻って以上の
手順が繰り返される。

【００４５】一方、設定回数に達すると（ステップＳ７
０でＹＥＳ）、正常に終了した旨がＣＲＴ３９に表示さ
れて（ステップＳ８０）、入力信号パターンの発生動作
が停止される（ステップＳ９０）。

【００４６】ステップＳ４０において、異常ありのとき
は（ステップＳ４０でＹＥＳ）、異常内容及びその回数
がＣＲＴ３９に表示されて（ステップＳ１００）、入力
信号パターンの発生動作が停止される（ステップＳ９
０）。

【００４７】このように、本実施形態によれば、ＥＣＵ
１への入力信号と同一の模擬入力信号を入力信号パター
ン発生部３１及びスイッチ部３２により発生させてＥＣ
Ｕ１の入力部に入力して動作試験を行い、回数設定部３
５で設定された回数だけ繰り返すようにしたので、ＥＣ
Ｕ１の耐久試験を自動的に行うことができる。

【００４８】また、ＥＣＵ１の出力部から出力される動
作信号により動作するアクチュエータ部３３の作動状態
を監視手段３４により監視して、模擬入力信号と比較し
て作動状態が正常であるか又は異常であるかを監視手段
３４により監視して、異常であればＣＰＵ４１により異
常内容及び異常が生じた回数をＣＲＴ３９に表示するよ
うにしたので、耐久試験結果を明確にすることができ、
ＥＣＵ１の耐久試験を好適に行うことができる。

【００４９】また、入力信号パターン発生部３１を基本
クロックパルス発生回路５１及び１／２分周回路５２，
５３などのロジック回路で構成することにより、構成を
簡素化することができるとともに、入力信号パターンの
変更が不可能であるので、誤動作する虞れをなくすこと
ができる。従って、量産品のＥＣＵ１の耐久試験を同時
に行うときに、多数の耐久試験装置を準備して対応する
のに好適である。

【００５０】なお、本発明は、上記実施形態に限られ
ず、以下の変形形態を採用することができる。（１）入力信号パターン発生部３１は、図１に破線で示
すように、メモリ３１ａを備え、このメモリ３１ａの記
憶内容に従って入力信号パターンを発生するようにして
もよい。この場合、メモリ３１ａとして例えばＰＲＯＭ
を用いて差し替え可能に構成することにより、単にセッ
トするＰＲＯＭを変更することのみによって発生する入
力信号パターンを容易に変更することができる。これに
よって、入力部及び出力部の仕様が同一で、入力部への
入力信号に対する出力部に接続されたアクチュエータの
動作仕様が異なるＥＣＵ１の耐久試験にも、容易に対応
することができる。

【００５１】（２）図１に破線で示すように、入力信号
パターン発生部３１に、更に、メモリ書換え手段として
のパーソナルコンピュータ(ＰＣ)３１ｂを接続するとと
もに、メモリ３１ａとして、ＲＡＭ又はＥＥＰＲＯＭを
用いて、パーソナルコンピュータ３１ｂによりメモリ３
１ａの記憶内容を書き換えるようにしてもよい。この形
態によれば、発生する入力信号パターンを容易に変更す
ることができ、これによって、入力部及び出力部の仕様
が同一で入力部への入力信号に対する出力部に接続され
たアクチュエータの動作仕様が異なるＥＣＵ１の耐久試
験にも、容易に対応することができる。

【００５２】なお、耐久試験は、通常、動作仕様の決定
したＥＣＵ１に対して行うが、ＥＣＵ１の動作仕様に変
更の可能性がある場合には、上記変形形態（１）、
（２）を採用することによって、仕様変更に容易に対応
することができる。

【００５３】例えば、図１０のタイミングチャートに示
すように、イグニションスイッチ２１がオフ、テールス
イッチ２２がオンの状態で、ドアスイッチ２３をオンに
したときに、直ぐにブザー２５を作動させず、所定時間
τだけ遅れてブザー２５を作動させるような仕様に変更
した場合でも、上記変形形態（１）、（２）によれば容
易に対応することができる。

【００５４】（３）上記実施形態では、図９に示したよ
うに、試験制御手段としてのＣＰＵ４１は、アクチュエ
ータ部３３の作動状態に異常が発生すると、その旨を表
示して動作試験を停止しているが、これに限られず、異
常が発生した場合でも、設定回数まで動作試験を続行す
るようにしてもよい。この形態によれば、ＣＲＴ３９に
各異常状況が表示されるので、異常発生時点や異常発生
頻度を容易に判別することができる。

【００５５】（４）上記実施形態では、監視手段３４に
より異常判定があったときは、そのときの動作試験の回
数及び異常内容を、図４（ａ）に示すようにＣＲＴ３９
に併記表示させ、耐久試験が正常に終了したときは、そ
の旨及び動作試験の実行回数を、図４（ｂ）に示すよう
にＣＲＴ３９に併記表示させているが、表示形態につい
ては、これに限られず、併記表示を行わずに、個別に表
示するようにしてもよい。例えば、操作スイッチを備え
ておき、その操作スイッチに対する操作に応じて、異常
判定があったときの動作試験の回数を表示したり、その
異常内容を表示するようにしてもよい。

【００５６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
動作試験として模擬入力信号を電子制御装置の入力部に
入力し、この模擬入力信号に応じて電子制御装置の出力
部から出力される動作信号を監視して、入力された模擬
入力信号に対して動作信号が正常であるか異常であるか
を判定し、動作試験の実行毎にその回数をカウントし
て、動作信号が異常であると判定されたときの動作試験
の回数及び当該動作信号の異常内容を表示手段に表示す
るようにしたので、耐久試験結果を明確にすることがで
き、耐久試験を好適に行うことができる。

【００５７】また、動作試験を実行すべき回数を予め設
定し、正常な動作信号が継続されると設定された回数だ
け動作試験を行うことにより、耐久試験を確実に実行す
ることができ、一方、動作信号が異常であると判定され
たときは、動作試験を停止することにより、異常発生に
直ぐに対応することができる。

【００５８】また、動作試験を実行すべき回数を予め設
定し、設定された回数だけ動作試験を行うことにより、
動作信号が異常であると判定されたときの回数及び異常
内容が表示されるので、設定回数内で異常が発生した時
点や異常発生の頻度を容易に判別することができる。

【００５９】また、実行中の動作試験の回数を表示する
ことにより、耐久試験の進行状況を明確に示すことがで
きる。

【００６０】また、１回の動作試験として電子制御装置
の複数の入力部に各入力信号の全ての組合せパターンが
入力されるように模擬入力信号を発生することにより、
電子制御装置の動作試験を漏れなく行うことができ、こ
れによって耐久試験を更に一層好適に行うことができ
る。

【００６１】また、模擬入力信号発生手段は、記憶され
た入力信号パターンに従って模擬入力信号を発生させる
メモリを備えたものであるとすることにより、異なる入
力信号パターンを記憶するメモリに変更したり、メモリ
の記憶内容を変更することにより、入力信号パターンの
変更を容易に行うことができ、異なる動作仕様の電子制
御装置の耐久試験にも容易に対応することができる。

【００６２】また、メモリ書換え手段を備え、模擬入力
信号発生手段のメモリは、記憶内容が書換え可能なもの
で、メモリ書換え手段は、メモリの記憶内容を書き換え
ることにより模擬入力信号の入力信号パターンを変更す
るものであるとすることにより、メモリの記憶内容を書
き換えることにより模擬入力信号の入力信号パターンを
容易に変更することができ、異なる動作仕様の電子制御
装置の耐久試験にも容易に対応することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る耐久試験装置の一実施形態の構成
を示すブロック図である。

【図２】入力信号パターン発生部の構成を示すブロック
図である。

【図３】同耐久試験装置の試験対象の一例を示す電子制
御装置の構成を示すブロック図である。

【図４】（ａ）（ｂ）は耐久試験結果の表示例を示す図
である。

【図５】入力信号パターン発生部の入力信号及びアクチ
ュエータ部の作動状態を示すタイミングチャートであ
る。

【図６】図５をビットデータで表わした図である。

【図７】監視手段からＣＰＵに送出されるデータの一例
を示す図である。

【図８】同データを構成するコードの一例を示す図であ
る。

【図９】本実施形態における耐久試験の動作手順を示す
フローチャートである。

【図１０】異なる動作仕様を示すタイミングチャートで
ある。

【符号の説明】

１ＥＣＵ３耐久試験装置３１入力信号パターン発生回路３１ａメモリ３１ｂパーソナルコンピュータ３２スイッチ部３３アクチュエータ部３４監視手段３５回数設定部３６カウンタ表示部４１ＣＰＵ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】入力部への入力信号に応じて出力部から
動作信号をアクチュエータに送出して当該アクチュエー
タの動作を制御する電子制御装置の動作試験を繰り返し
実行させる耐久試験装置であって、上記動作試験として模擬入力信号を上記入力部に入力さ
せる模擬入力信号発生手段と、上記模擬入力信号に応じて上記出力部から出力される動
作信号を監視し、入力された上記模擬入力信号に対して
上記動作信号が正常であるか異常であるかを判定する監
視手段と、表示手段と、動作試験の実行毎にその回数をカウントするカウント手
段と、上記監視手段により上記動作信号が異常であると判定さ
れたときの上記動作試験の回数及び当該動作信号の異常
内容を上記表示手段に表示させる異常表示制御手段とを
備えたことを特徴とする耐久試験装置。
【請求項２】請求項１記載の耐久試験装置において、
更に、上記動作試験を実行すべき回数を予め設定する回数設定
手段と、上記監視手段により上記動作信号が異常であると判定さ
れないうちは、設定された回数に達するまで上記動作試
験を反復させ、上記監視手段により上記動作信号が異常
であると判定された時点で上記動作試験を停止させる試
験制御手段とを備えたことを特徴とする耐久試験装置。
【請求項３】請求項１記載の耐久試験装置において、
更に、上記動作試験を実行すべき回数を予め設定する回数設定
手段と、設定された回数だけ上記動作試験を行わせる試験制御手
段とを備えたことを特徴とする耐久試験装置。
【請求項４】請求項２又は３記載の耐久試験装置にお
いて、更に、実行中の上記動作試験の回数を表示する回
数表示手段を備えたことを特徴とする耐久試験装置。
【請求項５】請求項１〜４のいずれかに記載の耐久試
験装置において、上記模擬入力信号発生手段は、１回の
動作試験として上記電子制御装置が有する複数の入力部
に各入力信号の全ての組合せパターンが入力されるよう
に上記模擬入力信号を発生させるものであることを特徴
とする耐久試験装置。
【請求項６】請求項１〜５のいずれかに記載の耐久試
験装置において、上記模擬入力信号発生手段は、記憶さ
れた入力信号パターンに従って上記模擬入力信号を発生
させるメモリを備えたものであることを特徴とする耐久
試験装置。
【請求項７】請求項６記載の耐久試験装置において、
更に、メモリ書換え手段を備え、上記模擬入力信号発生
手段のメモリは、記憶内容が書換え可能なもので、上記
メモリ書換え手段は、上記メモリの記憶内容を書き換え
ることにより上記模擬入力信号の入力信号パターンを変
更するものであることを特徴とする耐久試験装置。