JP2000088919A - Ｉｃ試験システム及びその制御ソフトウェア管理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の課題は、複数の制御ソフトウェアを
記憶し、かつ制御ソフトウェアを切り換えてＩＣ試験を
実行することのできる制御ソフトウェア管理方式を備え
たＩＣ試験システム及びその制御ソフトウェア管理方法
を提供することである。 【解決手段】 外部記憶装置２０の選択部２２は、制御
装置１０の制御部１１の指示に応じて外部記憶装置２０
に記憶された制御ソフトウェアを切り換えて選択する。
また、制御部１１は、選択部２２が選択指示した制御ソ
フトウェアを読み出して、読み出した制御ソフトウェア
の制御手順に従ってＩＣ試験装置３０を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣ試験システム
に係り、詳細には、ＩＣ試験装置を制御するための制御
ソフトウェアを管理するＩＣ試験システム、及びその制
御ソフトウェア管理方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のＩＣ試験システムにおけるＩＣ試
験装置を制御するための制御ソフトウェアの利用形態の
一例を、図３を参照して説明する。図３は、従来のＩＣ
試験システム１００の構成と、各装置間のデータの流れ
と、を示すブロック図である。ＩＣ試験システム１００
は、制御装置１１０と、外部記憶装置１２０と、ＩＣ試
験装置１３０と、入力装置１４０とから構成され、制御
装置１１０によりＩＣ試験装置１３０が制御され、ＩＣ
の測定試験等を行うシステムである。

【０００３】また、制御装置１１０は、入力装置１４０
から入力されるＩＣ試験の開始・終了等の指示信号を入
力して、外部記憶装置１２０内に組み込まれた制御ソフ
トウェアを読み出し、読み出した制御ソフトウェアの制
御手順に従ってＩＣ試験装置１３０に制御信号を出力す
る制御部１１１を有している。また、外部記憶装置１２
０は、制御装置１１０により読み出され、ＩＣ試験装置
１３０の制御手順を記した制御ソフトウェアａを記憶す
るインストールエリア１２１を有している。

【０００４】このＩＣ試験システム１００がＩＣ試験を
開始する場合、まず、入力装置１４０から実行開始の指
示信号を入力した制御装置１１０の制御部１１１が、外
部記憶装置１２０のインストールエリア１２１に記憶さ
れた制御ソフトウェアａを読み出して、制御ソフトウェ
アａの制御手順に従ってＩＣ試験装置１３０の制御を開
始・実行する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ＩＣ試験システム１００では、記憶する制御ソフトウェ
アが１つであったため複数の制御ソフトウェアを記憶す
ることができなかった。また、複数のＩＣ試験装置に対
応する複数の制御ソフトウェアをインストールエリア１
２１に組み込んだとしても、制御装置１１０の制御部１
１１が、予め決められている制御ソフトウェアを読み出
して制御を行うため、制御できるＩＣ試験装置が、組み
込んだ制御ソフトウェアの数に関わらず一意に決まって
しまう課題がある。このため、１つのＩＣ試験システム
が異なるＩＣ試験装置に対応するためには制御ソフトウ
ェアを組み込み直す必要があり、また、制御装置に異な
る複数のＩＣ試験装置を接続してＩＣ試験システムを構
成することはできなかった。

【０００６】さらに、同じＩＣ試験装置１３０であって
も、ＩＣ試験装置の仕様が変更されたり、また制御手順
に問題が発見されたために制御手順を変更したい場合に
は、制御手順を変更する度に新しい制御ソフトウェアを
組み込み直す必要がある。また、問題発生時に安定な制
御手順に戻すといった場合にも同様の処理が必要であ
り、問題発生時の処理に時間を要していた。

【０００７】本発明の課題は、複数の制御ソフトウェア
を記憶し、かつ制御ソフトウェアを切り換えてＩＣ試験
を実行することのできる制御ソフトウェア管理方式を備
えたＩＣ試験システム及びその制御ソフトウェア管理方
法を提供することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
ＩＣ試験装置と、該ＩＣ試験装置の制御手順が記述され
た制御ソフトウェアに従って、該ＩＣ試験装置に制御信
号を出力して該ＩＣ試験装置を制御する制御装置と、か
ら構成されたＩＣ試験システムにおいて、前記制御装置
は、異なる制御手順が記述された複数の制御ソフトウェ
アを記憶する記憶手段を備えたことを特徴としている。

【０００９】この請求項１記載の発明によれば、ＩＣ試
験装置と、該ＩＣ試験装置の制御手順が記述された制御
ソフトウェアに従って、該ＩＣ試験装置に制御信号を出
力して該ＩＣ試験装置を制御する制御装置と、から構成
されたＩＣ試験システムにおいて、前記制御装置の記憶
手段は、異なる制御手順が記述された複数の制御ソフト
ウェアを記憶する。

【００１０】したがって、請求項１記載の発明によっ
て、記憶手段が複数の制御ソフトウェアを記憶できるた
め、同一のＩＣ試験装置に対する異なる制御手順による
制御ソフトウェアや、他のＩＣ試験装置に対する制御ソ
フトウェア等、種々の制御ソフトウェアを記憶させるこ
とができる、実用性の高いＩＣ試験システムを実現でき
る。

【００１１】また、請求項２記載の発明のように、請求
項１記載のＩＣ試験システムにおいて、前記制御装置
は、前記記憶手段に記憶された複数の制御ソフトウェア
を択一的に選択指示する選択手段を更に備え、この選択
手段により選択指示された制御ソフトウェアに従って前
記ＩＣ試験装置を制御することを特徴とすることとして
も良い。

【００１２】この請求項２記載の発明によれば、前記制
御装置は、選択手段が、前記記憶手段に記憶された複数
の制御ソフトウェアを択一的に選択指示し、この選択手
段により選択指示された制御ソフトウェアに従って前記
ＩＣ試験装置を制御する。

【００１３】また、請求項６記載の発明は、ＩＣ試験装
置と、該ＩＣ試験装置の制御手順が記述された制御ソフ
トウェアに従って、該ＩＣ試験装置に制御信号を出力し
て該ＩＣ試験装置を制御する制御装置と、から構成され
たＩＣ試験システムにおける該制御装置の制御ソフトウ
ェア管理方法において、異なる制御手段が記述された複
数の制御ソフトウェアを記憶する記憶手段を備え、前記
記憶手段に記憶された複数の制御ソフトウェアを択一的
に選択指示する工程と、前記選択指示された制御ソフト
ウェアに従って、前記ＩＣ試験装置に制御信号を出力す
る工程と、を有することを特徴としている。

【００１４】この請求項６記載の発明によれば、ＩＣ試
験装置と、該ＩＣ試験装置の制御手順が記述された制御
ソフトウェアに従って、該ＩＣ試験装置に制御信号を出
力して該ＩＣ試験装置を制御する制御装置と、から構成
されたＩＣ試験システムにおける該制御装置の制御ソフ
トウェア管理方法において、記憶手段は、異なる制御手
段が記述された複数の制御ソフトウェアを記憶し、前記
記憶手段に記憶された複数の制御ソフトウェアを択一的
に選択指示した後、前記選択指示された制御ソフトウェ
アに従って、前記ＩＣ試験装置に制御信号を出力する。

【００１５】したがって、請求項２及び請求項６記載の
発明によって、記憶手段に異なる制御手順を記述した複
数の制御ソフトウェアを記憶させた後、制御ソフトウェ
アを切り換えて選択することにより、異なる制御手順に
よるＩＣ試験装置の制御が可能であるため、同一のＩＣ
試験装置における異なる制御手順によるＩＣ試験を行う
ことのできる、実用性の高いＩＣ試験システム及び制御
ソフトウェア管理方法を提供することができる。

【００１６】請求項３記載の発明は、請求項２記載のＩ
Ｃ試験装置において、前記ＩＣ試験装置は、複数のＩＣ
試験装置により構成され、前記記憶手段は、前記複数の
ＩＣ試験装置それぞれに対応する制御ソフトウェアを更
に記憶し、前記選択手段は、前記記憶手段に記憶された
前記複数のＩＣ試験装置それぞれに対応する前記制御ソ
フトウェアを選択指示することとしても良い。

【００１７】この請求項３記載の発明によれば、ＩＣ試
験装置は、異なる複数のＩＣ試験装置から構成され、選
択手段が、ＩＣ試験を実行するＩＣ試験装置に対応する
制御ソフトウェアを記憶手段から読み出して、当該ＩＣ
試験装置の制御を行うことができるため、制御手順の異
なる複数台のＩＣ試験装置を共通の制御装置が切り換え
てＩＣ試験の実行を行うことが可能となるため、ＩＣ試
験装置の変更に係る時間の短縮、及びＩＣ試験装置の交
換等に係る手間を省略することができ、ＩＣ試験の効率
化を推進することのできる実用性の高いＩＣ試験システ
ムを提供することができる。

【００１８】請求項４記載の発明は、請求項２記載の発
明において、前記ＩＣ試験装置は、ＩＣ試験中の異常状
態を検知して、前記制御装置に異常状態信号を出力する
異常検知手段を備え、前記記憶手段は、異常状態用の制
御ソフトウェアを更に記憶し、前記制御装置は、前記Ｉ
Ｃ試験装置の前記異常検知手段から異常状態信号が入力
されると、前記選択手段が、前記異常状態用の制御ソフ
トウェアを選択指示することとしても良い。

【００１９】この請求項４記載の発明によれば、例え
ば、制御ソフトウェアの改善に伴う試験運用の際等に、
変更前のプログラムを異常状態用の制御ソフトウェアと
することで、ＩＣ試験中に問題が発生した時には、選択
手段により自動的に異常状態用の制御ソフトウェアに切
り替わる。このため、新たな制御ソフトウェアの適用に
おける問題発生に際して、ＩＣ試験の再実行の際の制御
ソフトウェアの選択ミス防止や、安定して安全に動作す
る制御ソフトウェアに切り替わることによる復旧処理時
間の短縮化を図ることのできる実用性の高いＩＣ試験シ
ステムを提供することができる。

【００２０】請求項５記載の発明は、請求項２記載の発
明において、前記選択手段は、外部の入力手段から入力
される指示により、前記複数の制御ソフトウェアを択一
的に選択指示することとしても良い。

【００２１】この請求項５記載の発明によれば、ユーザ
により外部から制御ソフトウェアを選択指示することが
できるため、操作性に優れたＩＣ試験システムを提供す
ることができる。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、図１〜図２を参照して本発
明を適用したＩＣ試験システムの実施の形態を詳細に説
明する。

【００２３】まず構成を説明する。図１は、本発明を適
用したＩＣ試験システム１の構成を示す図である。ＩＣ
試験システム１は、制御装置１０と、外部記憶装置２０
と、ＩＣ試験装置３０と、入力装置４０とから構成さ
れ、制御装置１０が外部記憶装置２０に記憶された制御
ソフトウェアを読み出して、読み出した制御ソフトウェ
アに従ってＩＣ試験装置３０の制御を行うことにより、
ＩＣの試験を行うシステムである。

【００２４】制御装置１０は、外部記憶装置２０に組み
込まれている制御ソフトウェアＡ〜Ｃの内、選択部２２
の指示する制御ソフトウェアを読み出して、読み出した
制御ソフトウェアの制御手順に従ってＩＣ試験装置３０
に制御信号を出力し、ＩＣ試験装置３０を制御する制御
部２１を有している。また制御部２１は、入力装置４０
と接続されており、入力装置４０から入力される入力信
号に応じて読み出す制御ソフトウェアＡ〜Ｃを切り換え
る旨の信号を選択部２２に出力する。

【００２５】外部記憶装置２０は、制御装置１０により
読み出されて実行される、ＩＣ試験装置３０の制御手順
を記した制御ソフトウェアＡ〜Ｃを記憶するインストー
ルエリア２１を有している。また、インストールエリア
２１は、制御部１１の指示信号に応じて、制御ソフトウ
ェアＡ〜Ｃの内の１つを切り換えて選択指示し、常に何
れかの制御ソフトウェアを指示する選択部２２を有して
いる。また、制御ソフトウェアＡ〜Ｃは、ＩＣ試験装置
３０を制御するための異なった制御手順が記述された制
御用プログラムである。

【００２６】ＩＣ試験装置３０は、ＩＣの搬送や、ＩＣ
の測定等を行い、ＩＣの良否を判定する装置であり、制
御部１１の制御信号を入力し、入力した制御信号に応じ
てＩＣ試験装置３０を構成する各機器（不図示）を制御
するＩＣ試験制御部３１を有している。

【００２７】入力装置４０は、ＩＣ試験システムの起動
や終了の他、制御ソフトウェアの変更等を指定して、指
定した指示信号を制御装置１０の制御部１１に出力する
装置である。

【００２８】次に動作を説明する。図２は、ＩＣ試験シ
ステム１の各装置間のデータの流れを示すブロック図で
ある。まず、選択部２２は経路（ａ）に示すように制御
ソフトウェアＢを指示しており、ここで入力装置４０に
よりＩＣ試験の実行が指示されたとする。制御装置１０
の制御部１１は、ＩＣ試験装置を制御実行するために、
制御ソフトウェアを外部記憶装置２０から読み出すが、
選択部２２が、制御ソフトウェアＢを選択指示している
ため、制御部１１は、選択部２２を介して制御ソフトウ
ェアＢを読み出し、ＩＣ試験装置３０に制御ソフトウェ
アＢの制御手順に従った制御信号を出力することによ
り、ＩＣ試験装置３０を制御してＩＣ試験を実行する。

【００２９】次に、制御対象のＩＣ試験装置３０の仕様
が変更された等の理由により制御手順を変更する場合を
説明する。まず、ユーザにより入力装置４０に制御ソフ
トウェアを制御ソフトウェアＡに変更する入力がなされ
ると、入力装置４０は、制御装置１０の制御部１１に、
使用する制御ソフトウェアを制御ソフトウェアＡに変更
する旨の指示信号を出力する。そして、この指示信号を
入力した制御部１１は、選択指示している制御ソフトウ
ェアを制御ソフトウェアＡに変更する旨の指示信号を選
択部２２に出力して、選択部２２は経路（ａ）を経路
（ｂ）とすることで、選択指示する制御ソフトウェアを
制御ソフトウェアＡに変更する。

【００３０】このため、制御ソフトウェアを変更後は、
制御部１１が選択部２２を介して制御ソフトウェアＡを
読み出すこととなり、ＩＣ試験装置３０の制御手順が制
御ソフトウェアＢに記述されているものから制御ソフト
ウェアＡへと切り替わる。

【００３１】以上のように、本発明を適用したＩＣ試験
システム１によれば、外部記憶装置２０の選択部２２
は、制御装置１０の制御部１１の指示に応じて外部記憶
装置２０に記憶された制御ソフトウェアを切り換えて選
択する。また、制御部１１は、選択部２２が選択指示し
た制御ソフトウェアを読み出して、読み出した制御ソフ
トウェアの制御手順に従ってＩＣ試験装置３０を制御す
る。

【００３２】したがって、ＩＣ試験システム１の外部記
憶装置２０内に複数の制御ソフトウェアを記憶すること
が可能であり、また記憶した制御ソフトウェアを切り換
えて実行することが可能であるため、異なる制御手順を
記述した複数の制御ソフトウェアを記憶させた後、制御
ソフトウェアを切り換えて選択することにより、異なる
制御手順によるＩＣ試験装置３０の制御が可能である。

【００３３】なお、本実施の形態では、ＩＣ試験システ
ム１は１台のＩＣ試験装置３０からなる構成として説明
したが、異なる複数のＩＣ試験装置から構成され、制御
装置１０の制御部１１が、ＩＣ試験を実行するＩＣ試験
装置に対応する制御ソフトウェアを外部記憶装置から読
み出して、当該ＩＣ試験装置の制御を行うこととしても
良い。その場合には、制御手順の異なる複数台のＩＣ試
験装置を共通の制御装置が切り換えてＩＣ試験の実行を
行うことが可能となるため、ＩＣ試験装置の変更に係る
時間の短縮、及びＩＣ試験装置の交換等に係る手間を省
略することができ、ＩＣ試験の効率化を推進することが
可能である。

【００３４】また、インストールエリア２１に、異常状
態となった場合に備えて、異常状態用の制御ソフトウェ
アを組み込み、ＩＣ試験装置３０がＩＣ試験中に異常を
検知した場合には、制御装置１０の制御部１１に異常状
態を示す信号を出力して、制御部１１は、ＩＣ試験を中
止すると共に、選択部２２に上記異常状態用の制御ソフ
トウェアを選択指示する旨の指示信号を出力することと
しても良い。この場合には、例えば、制御ソフトウェア
の改善に伴う試験運用の際等に、変更前のプログラムを
異常状態用の制御ソフトウェアとすることで、ＩＣ試験
中に問題が発生した時には、自動的に異常状態用の制御
ソフトウェアに切り替わる。このため、新たな制御ソフ
トウェアの適用における問題発生に際して、ＩＣ試験の
再実行の際の制御ソフトウェアの選択ミス防止や、安定
して安全に動作する制御ソフトウェアに切り替わること
による復旧処理時間の短縮化を図ることができる。

【００３５】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、記憶手段
が複数の制御ソフトウェアを記憶できるため、同一のＩ
Ｃ試験装置に対する異なる制御手順による制御ソフトウ
ェアや、他のＩＣ試験装置に対する制御ソフトウェア
等、種々の制御ソフトウェアを記憶させることができ
る、実用性の高いＩＣ試験システムを実現できる。

【００３６】請求項２及び請求項６記載の発明によれ
ば、記憶手段に異なる制御手順を記述した複数の制御ソ
フトウェアを記憶させた後、制御ソフトウェアを切り換
えて選択することにより、異なる制御手順によるＩＣ試
験装置の制御が可能であるため、同一のＩＣ試験装置に
おける異なる制御手順によるＩＣ試験を行うことのでき
る、実用性の高いＩＣ試験システム及び制御ソフトウェ
ア管理方法を提供することができる。

【００３７】請求項３記載の発明によれば、ＩＣ試験装
置は、異なる複数のＩＣ試験装置から構成され、選択手
段が、ＩＣ試験を実行するＩＣ試験装置に対応する制御
ソフトウェアを記憶手段から読み出して、当該ＩＣ試験
装置の制御を行うことができるため、制御手順の異なる
複数台のＩＣ試験装置を共通の制御装置が切り換えてＩ
Ｃ試験の実行を行うことが可能となるため、ＩＣ試験装
置の変更に係る時間の短縮、及びＩＣ試験装置の交換等
に係る手間を省略することができ、ＩＣ試験の効率化を
推進することのできる実用性の高いＩＣ試験システムを
提供することができる。

【００３８】請求項４記載の発明によれば、例えば、制
御ソフトウェアの改善に伴う試験運用の際等に、変更前
のプログラムを異常状態用の制御ソフトウェアとするこ
とで、ＩＣ試験中に問題が発生した時には、選択手段に
より自動的に異常状態用の制御ソフトウェアに切り替わ
る。このため、新たな制御ソフトウェアの適用における
問題発生に際して、ＩＣ試験の再実行の際の制御ソフト
ウェアの選択ミス防止や、安定して安全に動作する制御
ソフトウェアに切り替わることによる復旧処理時間の短
縮化を図ることのできる実用性の高いＩＣ試験システム
を提供することができる。

【００３９】請求項５記載の発明によれば、ユーザによ
り外部から制御ソフトウェアを選択指示することができ
るため、操作性に優れたＩＣ試験システムを提供するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したＩＣ試験システム１の構成を
示す図。

【図２】本発明を適用したＩＣ試験システム１の各装置
間のデータの流れを示すブロック図。

【図３】従来のＩＣ試験システム１００の構成と、各装
置間のデータの流れと、を示すブロック図。

【符号の説明】

１ ＩＣ試験システム １０ 制御装置 １１ 制御部 ２０ 外部記憶装置 ２１ インストールエリア ２２ 選択部 ３０ ＩＣ試験装置 ４０ 入力装置

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ＩＣ試験装置と、該ＩＣ試験装置の制御手
   順が記述された制御ソフトウェアに従って、該ＩＣ試験
   装置に制御信号を出力して該ＩＣ試験装置を制御する制
   御装置と、から構成されたＩＣ試験システムにおいて、 前記制御装置は、 異なる制御手順が記述された複数の制御ソフトウェアを
   記憶する記憶手段を備えたことを特徴とするＩＣ試験シ
   ステム。
2. 【請求項２】前記制御装置は、 前記記憶手段に記憶された複数の制御ソフトウェアを択
   一的に選択指示する選択手段を更に備え、 この選択手段により選択指示された制御ソフトウェアに
   従って前記ＩＣ試験装置を制御することを特徴とする請
   求項１記載のＩＣ試験システム。
3. 【請求項３】前記ＩＣ試験装置は、複数のＩＣ試験装置
   により構成され、 前記記憶手段は、前記複数のＩＣ試験装置それぞれに対
   応する制御ソフトウェアを更に記憶し、 前記選択手段は、前記記憶手段に記憶された前記複数の
   ＩＣ試験装置それぞれに対応する前記制御ソフトウェア
   を選択指示することを特徴とする請求項２記載のＩＣ試
   験システム。
4. 【請求項４】前記ＩＣ試験装置は、ＩＣ試験中の異常状
   態を検知して、前記制御装置に異常状態信号を出力する
   異常検知手段を備え、 前記記憶手段は、異常状態用の制御ソフトウェアを更に
   記憶し、 前記制御装置は、前記ＩＣ試験装置の前記異常検知手段
   から異常状態信号が入力されると、前記選択手段が、前
   記異常状態用の制御ソフトウェアを選択指示することを
   特徴とする請求項２記載のＩＣ試験システム。
5. 【請求項５】前記選択手段は、外部の入力手段から入力
   される指示により、前記複数の制御ソフトウェアを択一
   的に選択指示することを特徴とする請求項２記載のＩＣ
   試験システム。
6. 【請求項６】ＩＣ試験装置と、該ＩＣ試験装置の制御手
   順が記述された制御ソフトウェアに従って、該ＩＣ試験
   装置に制御信号を出力して該ＩＣ試験装置を制御する制
   御装置と、から構成されたＩＣ試験システムにおける該
   制御装置の制御ソフトウェア管理方法において、 異なる制御手段が記述された複数の制御ソフトウェアを
   記憶する記憶手段を備え、 前記記憶手段に記憶された複数の制御ソフトウェアを択
   一的に選択指示する工程と、 前記選択指示された制御ソフトウェアに従って、前記Ｉ
   Ｃ試験装置に制御信号を出力する工程と、 を有することを特徴とする制御ソフトウェア管理方法。