JP2000088562A - 変位測定器 - Google Patents

変位測定器

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JP2000088562A
JP2000088562A JP10276504A JP27650498A JP2000088562A JP 2000088562 A JP2000088562 A JP 2000088562A JP 10276504 A JP10276504 A JP 10276504A JP 27650498 A JP27650498 A JP 27650498A JP 2000088562 A JP2000088562 A JP 2000088562A
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JP
Japan
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counting
processing means
displacement measuring
measuring device
output
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JP10276504A
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English (en)
Inventor
Masashi Tsuboi
雅士 坪井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 機能および性能を柔軟に変えることができる 【解決手段】カウンタ2を構成する検出器入力手段21
n と、計数処理手段23m と、それぞれの前記検出器入
力手段21n を計数処理手段23m へ入力するため分配
手段22p とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、変位測定器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般にリニヤゲージやリニヤスケールの
ような変位測定器においては、使用される現場の状況に
応じて測定点数や測定方法が異なる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これまでの変
位測定器においては、機能および性能が出荷段階で固定
された状態にあるのが一般的である。すなわち、従来の
カウンタでは、検出器に対応する計数処理が固定的であ
ったため、ユーザはユーザ自身が必要な機能および性能
よりも高い機能を持った製品を購入して、ユーザの使用
したい部分の機能および性能を使っているのが現状であ
った。たとえば、ユーザの使用環境が5カ所の測定点を
持つものである場合、このユーザは、5本の接続機能を
持ったカウンタを購入すればよいのであるが、製品とし
て10本の接続機能を持ったカウンタしかない場合に
は、この製品を購入して5本分のみ使用し、残りの5本
分は未使用の状態にせざるを得ないことになる。
【0004】
【課題を解決するための手段】このような問題を解決す
るために、本発明は、カウンタを構成する検出器入力手
段と、計数処理手段と、それぞれの前記検出器入力手段
を計数処理手段へ入力するための分配手段を任意の組み
合わせにできる変位測定器を提供することによって、機
能および性能を柔軟に変えることができるようにし、こ
れによってユーザのニーズにあった製品を提供し、ユー
ザごとの最適コストパーフォーマンスを持った製品を得
るようにしたものである。
【0005】また本発明の他の実施の形態によれば、カ
ウンタに公差判定を設定する手段が設けられ、このよう
に構成すれば計数値の状態を容易に確認することができ
る。また、本発明の他の実施の形態によれば、軸間演算
を行う場合にもカウンタに軸間演算処理を行う手段を内
蔵させ、これによって、システム構成を低価格で高機能
を持ち柔軟性を持ったものにすることができることにな
る。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による変位測定器
の一実施の形態を示しており、この変位測定器は、n個
の検出器入力手段と、m個の計数処理手段と、それぞれ
の前記検出器入力手段を前記のm個の計数処理手段へ入
力するためのp個の分配手段とを有するカウンタが示さ
れており、n,m,pは正の整数であってn=m=p=
6個の検出処理系統を用いた場合を示している。
【0007】同図において、1n(n=1 〜6)は検出器、2
は検出器1n からの出力を受けて計数処理を行うカウン
タであり、このカウンタ2は、検出器1n からの検出信
号が供給される検出器入力手段21n(n=1 〜6)と、検出
器入力手段21n の出力が供給される分配手段22p(p=
1 〜6)ト 、この分配手段22 1〜226カらの出力がそれ
ぞれ供給される計数処理手段23 m(m=1〜6)と、各計
数処理手段231@236 からの出力が供給される計数結
果出力手段24とによって構成されている。計数結果出
力手段24は各計数処理手段231 〜236 の全てを出
力する構成であってもよいが、各計数処理手段231
236 のいずれか1つを選択して出力する構成でもよ
く、また、両構成を併用できる構成であってもよい。
【0008】このような構成にすると、任意の検出器1
n を任意の計数処理手段23m で計数処理を行わせるこ
とができる。たとえば、検出器11〜13はアナログ検
出器、検出器14〜16はディジタル検出器であっても
分配手段22p を適当な数に定め、この分配手段22p
の出力を適当な計数処理手段23m に分配することによ
って任意の検出器1n 任意の計数処理手段23m で計数
処理を行わせることができる。
【0009】この場合、n,m,p は同じ正の整数である必
要はなく、ユーザのニーズに応じた適当数に設定するこ
とができる。このことは製造ライン等における計測シス
テムの柔軟性を向上させ、製造機種変更によるライン変
更等にも容易に対応することができる。
【0010】図2は、図1に示される計数処理手段23
m の変形例を示しており、計数手段30に加えて、原点
設定手段31と複数の公差設定手段32と公差判定手段
33とを追加した例を示している。同図において、原点
設定手段31は、計数値のゼロリセットを行うためのも
のであり、公差設定手段32は、たとえば上限値,下限
値等の設定を行うものである。
【0011】通常は、一つの検出器に対して一つの計数
処理手段を対応させて使用するが、たとえば、1個の検
出器のみを使用し、分配手段によって全ての計数処理手
段への接続を行う構成にすることもできる。この場合に
は、一つの検出器で6個の公差設定を行うことができ、
ノミナル値の異なる6種類のワークの測定を一つの検出
器でカバーすることができる。また、一つの計数処理手
段によって+NG,OK,−NGの3段の公差判定を行
うとすれば、この接続では、計18段の公差判定を行う
ことができる。
【0012】図1の計数結果出力手段24は、各々の計
数処理手段に対応する複数の出力手段としてもよいが、
複数の計数処理手段に対して、一つの出力手段を切り替
えて使用することもできる。 この場合には、カウンタ
の寸法やコストを抑えることができる。
【0013】図3(a),図3(b) は、本発明の他の実施の
形態を示すものであり、計数結果出力手段として、全段
の計数処理手段の数(m)に対応する桁数を持った7セ
グメント表示器を用いたものであり、計数処理手段毎の
出力結果を7セグメント表示器の各桁に割り当てて表示
させるようにしたものである。
【0014】この場合の計数結果出力手段24は、計数
処理手段231 〜236 の各出力を図3(a),(b)ニ示され
る7セグメント表示器24A,24Bの各桁に対応させ
たものである。図3 (a)は、計数処理手段231@236
の出力のいずれか1つを選択して7セグメント表示器2
4Aの各桁に「0」〜「9」の数値で表示させたもので
ある。図3(b) は図2の計数処理手段を用いて公差判定
結果を示した場合である。図3(b) のように公差判定結
果を表示する場合には、左端の第1桁目の7セグメント
表示器を使用して、計数処理手段231 の公差判定結果
を表示し、第2桁目の7セグメント表示器を使用して、
計数処理手段232 の公差判定結果を表示し、・・・と
いうようにして、計数処理手段での公差判定結果を全て
表示させることができ、公差判定状況を非常にわかりや
すく表示することができる。
【0015】また、この7セグメント表示器のセグメン
トの点灯と点滅を使い分けることによって、さらに多く
の公差判定結果(図3(c) では、3段と5段が示されて
いる)の表示を行わせることができる。この図の黒丸と
白丸の意味は、計数値が公差値と同一の場合にOKとす
るかNGとするかの区別を表しており、計数値が公差上
限値または下限値と一致した場合は、OKの判定が行わ
れる。
【0016】前述のように、たとえば、1個の検出器の
みを使用し、分配手段によって、全ての計数処理手段へ
の接続を行う構成とすることも可能である。図1の計数
処理手段23m をソフトウエアで実現する場合は、たと
えば5mS毎のCPU実行フレームを設定して、第1フ
レームでは計数処理手段231 を実行し、第2フレーム
では計数処理手段232 を実行し、、、というようにし
て、第1〜6フレームで計数処理手段231@236 に相
当する処理を行わせる。
【0017】このように構成した場合、たとえば計数処
理手段の処理は30mS毎に実行されることになる。こ
こで、前述したように1個の検出器のみを使用し、分配
手段によって全ての計数処理手段への接続を行う構成と
した場合、全てのフレームで同一の検出器の処理が行わ
れるため、計数処理は5mS毎に行われることになり、
処理速度を6倍に高速化することができる。
【0018】図4は、本発明による変位測定器の他の実
施の形態を示しており、軸間演算手段を組み込んだ場合
である。図4において、図1と同じものは同符号を用い
ている。同図において、計数処理手段23m(m=1 〜6)の
出力は、軸選択手段41へ入力され、ここで選択された
出力が軸間演算手段42へ入力される。
【0019】たとえば、計数処理手段231 と計数処理
手段232 の出力が軸選択手段41を介して軸間演算手
段42へ供給され、軸間演算手段42では両者の差を演
算してその結果を軸間演算結果出力手段24Dへ出力す
る。
【0020】図4では、この軸間演算結果出力手段24
Dは、計数結果出力手段が兼用されている。 この構成
は、たとえば図5に示すような板厚を測定する場合に利
用することができる。前述と同様に、軸間演算手段42
の処理をソフトウエアで実行することも可能で、たとえ
ば第7フレームで軸間演算処理を行うことができる。
【0021】
【発明の効果】以上述べたように、本発明による変位測
定器によれば、カウンタを構成する検出器入力手段と、
計数処理手段と、それぞれの前記検出器入力手段を前記
計数処理手段へ入力するための分配手段を任意の組み合
わせにできる変位測定器を提供することによって、機能
および性能を柔軟に変えることができるようにし、これ
によってユーザのニーズにあった製品を提供し、ユーザ
ごとの最適コストパーフォーマンスを持った製品を得る
ことができる。
【0022】また、カウンタに公差判定を設定する手段
を設けることによって計数値の状態を容易に確認するこ
とができる。また、軸間演算を行う場合にもカウンタに
軸間演算処理を行う手段を内蔵させることによって、シ
ステム構成を低価格で高機能を持ち柔軟性を持ったもの
にすることができることになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による変位測定器の一実施の形態を示す
ブロック構成図である。
【図2】図1の計数処理手段の変形例を示す要部構成図
である。
【図3】(a),(b),(c)は本発明の他の実施の態様を説明
するためのセグメント表示器の表示を示す図である。
【図4】本発明の他の実施の形態を示すブロック構成図
である。
【図5】本発明の他の実施の形態を示すブロック構成図
である。
【符号の説明】 1n ・・・検出器、 2・・・カウンタ、 21n ・・・検出器入力手段、 22p ・・・分配手段、 23m ・・・計数処理手段、 24,24A,24B・・・計数結果出力手段、 24D・・・軸間演算結果出力手段、 30・・・計数手段、 31・・・原点設定手段、 32・・・公差設定手段、 41・・・軸選択手段、 42・・・軸間演算手段。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 n個の検出器入力手段と、m個の計数処
    理手段と、それぞれの前記検出器入力手段を前記のm個
    の計数処理手段へ入力するためのp個の分配手段を有
    し、n,m,pは正の整数であることを特徴とする変位
    測定器。
  2. 【請求項2】 前記計数処理手段は、原点設定手段と、
    複数の公差値を設定できる公差設定手段と、公差判定手
    段を有することを特徴とする請求項1記載の変位測定
    器。
  3. 【請求項3】 計数値あるいは公差判定結果の両方また
    はいずれかを出力する計数結果出力手段を有することを
    特徴とする請求項1または2記載の変位測定器。
  4. 【請求項4】 前記計数結果出力手段は、前記計数処理
    手段の数(m)に対応する桁数を持ったセグメント表示
    器であり、前記計数処理手段毎の出力結果をセグメント
    表示器の各桁に割り当てることを特徴とする請求項3記
    載の変位測定器。
  5. 【請求項5】 前記分配手段は、前記検出器入力手段の
    出力を一つまたは複数の任意の前記計数処理手段のいず
    れかへ入力することを特徴とする請求項1,2,3の何
    れかに記載の変位測定器。
  6. 【請求項6】 軸間演算手段と、前記計数処理手段毎の
    出力結果を選択して前記軸間演算手段へ入力する軸選択
    手段と、軸間演算結果出力手段を有することを特徴とす
    る請求項1,2,3,5の何れかに記載の変位測定器。
JP10276504A 1998-09-11 1998-09-11 変位測定器 Pending JP2000088562A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017078586A (ja) * 2015-10-19 2017-04-27 パナソニック デバイスSunx株式会社 変位検出装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017078586A (ja) * 2015-10-19 2017-04-27 パナソニック デバイスSunx株式会社 変位検出装置

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