JP2000082282A - 先入れ先出しメモリを有する回路 - Google Patents

先入れ先出しメモリを有する回路

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JP2000082282A
JP2000082282A JP11258737A JP25873799A JP2000082282A JP 2000082282 A JP2000082282 A JP 2000082282A JP 11258737 A JP11258737 A JP 11258737A JP 25873799 A JP25873799 A JP 25873799A JP 2000082282 A JP2000082282 A JP 2000082282A
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Larry R Fenstermaker
レイ フェンスターメイカー ラリー
Kevin J O'connor
ジョン オーコナー ケビン
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AT&T Corp
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    • G06F5/10Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor having a sequence of storage locations each being individually accessible for both enqueue and dequeue operations, e.g. using random access memory
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    • G06F5/14Means for monitoring the fill level; Means for resolving contention, i.e. conflicts between simultaneous enqueue and dequeue operations for overflow or underflow handling, e.g. full or empty flags
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C8/16Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 カウンタなしで、読み出し/書き込み動作の
ためにアクセスされるマルチポートメモリを有する先入
れ先出しメモリ(FIFO)を実現する。 【構成】 FIFOは、読み出し動作を実行する際に読
み出しポインタ生成器101によって活動化される読み
出しワードラインによってアクセスされ、書き込み動作
を実行する際に書き込みポインタ生成器107によって
活動化される書き込みワードラインによってアクセスさ
れる行に配列されたメモリセルのアレイ100と、一方
のポインタ生成器によって順次活動化されそれぞれ一方
のポインタ生成器によって生成されたポインタが他方の
ポインタ生成器によって生成されたポインタから与えら
れた行数内に進んでいるかどうかを決定する複数の一致
回路207〜210、211を有しメモリに書き込まれ
たデータの量が完全に読み出されていないことを示す少
なくとも1つのフラグを生成する手段とからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、先入れ先出しメモリ
(FIFO)を有する集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】先入れ先出しメモリ(FIFO)は、F
IFOに書き込むデバイスとFIFOから読み出すデバ
イスの間の通信を容易にするためにシステムで通常使用
される。これらのデバイスは互いに非同期に動作するこ
とも多く、その場合FIFOはそれらの間のバッファメ
モリを提供する。(しかし、同期システムもFIFOを
使用することがある。)多くの場合、FIFOメモリを
実現するためにはデュアルポートメモリアレイが使用さ
れる。この場合、第1のポートは読み出しポートとして
使用され、第2のポートは書き込みポートとして使用さ
れる。これにより、別々のメモリ位置で読み書きを同時
に行うことが可能となる。(しかし、シングルポートメ
モリを使用した設計も知られている。)いくつかの物理
的構成が可能であるが、例示のためのFIFOメモリア
レイは、それぞれ一意的なアドレスによって指定される
一連の隣接するメモリセルとみなすことができる。書き
込み動作は最初のメモリ位置から始まり、最終位置に到
達するまで、すべての隣接するメモリ位置を通って順に
進む。その後、書き込み動作は再び最初の位置から開始
し、これによって、メモリアレイを通って反復的に巡回
する。同様に、読み出し動作はメモリアレイを通って反
復的に巡回する。
【0003】しかし、読み出し動作は、現在のサイクル
で書き込まれた位置よりも進んではならない。さもない
と、(前のサイクルの)古いデータが読み出されてしま
う。よく言われているように、書き込み「ポインタ」が
現在書き込みのために選択しているメモリ位置をマーク
し、読み出し「ポインタ」が、現在読み出しのために選
択しているメモリ位置をマークする。ポインタを生成す
る(すなわち、メモリ位置を選択する)何らかの方法が
備えられなければならず、かつ、少なくとも読み出しポ
インタが書き込みポインタより進まないことを保証する
範囲で、ポインタを追跡するための何らかの方法が備え
られなければならない。この目的のために、両方のポイ
ンタが同一のメモリ位置に進んだときに「フラグ」が通
常生成される。「フル(full)」フラグは、書き込みポイ
ンタが読み出しポインタをまる1周追い越したことを示
す。この場合、FIFOに書き込みをするマイクロプロ
セッサまたはその他の回路は、FIFOが読み出される
まで動作を停止するよう命令される。同様に、「エンプ
ティ(empty)」フラグは、読み出しポインタが書き込み
ポインタと同じ位置(または隣接する位置)まで進んだ
ことを示し、従って、FIFOに以前に格納されたすべ
ての情報が読み出されたことを示す。この場合、FIF
Oから読み出しをするマイクロプロセッサまたはその他
の回路は、さらに情報がFIFOに書き込まれるまで停
止するよう命令され、これによって、古い情報が誤って
現在の情報として読み出されることを防止する。さまざ
まな制御目的のために、部分的フル(例えば、半フル)
フラグを生成することも知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の「先入れ先出
し」(FIFO)メモリアーキテクチャには、読み出し
アドレスおよび書き込みアドレスを生成するために、デ
ュアルポートメモリブロックとは別のカウンタを必要と
するものがある。これらのアドレスは、デュアルポート
メモリ内の特定のワードをアクセスするためにデコード
され、フルフラグおよびエンプティフラグを生成するた
めに比較される。しかし、従来のアドレス生成器および
フラグ生成器はメモリブロック内に組み込まれていない
ので、異なるサイズのFIFOに対してそれぞれ別個の
レイアウトを必要とし、性能および設計サイクル時間に
悪い効果を及ぼしている。もう1つの既知のタイプのF
IFOメモリアーキテクチャは、読み出しアドレスおよ
び書き込みアドレスを整列させるためにシフトレジスタ
を使用する。現在のアドレスを示すために、いずれかの
シフトレジスタで「1」を前進させる。(このような設
計については、例えば、米国特許第4,535,427
号参照。)この方式では、読み出し側および書き込み側
のシフトレジスタの各ビットは、デュアルポートメモリ
からの別々のワードラインにアクセスする。しかし、従
来技術は、フルフラグおよびエンプティフラグを生成す
るためにいまだにカウンタの使用を必要とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、選択し
た読み出し/書き込みワードラインを活動化することに
よって、読み出し/書き込み動作のためにアクセスされ
るマルチポートメモリを有する先入れ先出しメモリが実
現される。「フル」フラグおよび「エンプティ」フラグ
を生成するために、活動化された読み出しワードライン
および書き込みワードラインのアドレスを定義する「ポ
インタ」を、一致回路のアレイによって比較する。好ま
しい実施例では、ワードラインアドレスは読み出しシフ
トレジスタおよび書き込みシフトレジスタによって生成
される。
【0006】
【実施例】以下の詳細な説明は、ステータスフラグを生
成するための「一致回路」のアレイを有する先入れ先出
しメモリ(FIFO)に関する。本発明の技術は、アク
ティブなワードラインを現在の読み出しポインタ値およ
び書き込みポインタ値と比較することによってステータ
スフラグを生成する。エンプティフラグは、1行ルック
アヘッドによってアクティブな読み出しワードラインを
書き込みポインタと比較することにより生成することが
できる。一致は、読み出しポインタが書き込みポインタ
に追いついたことを示しており、エンプティフラグをセ
ットする。同様に、フルフラグは、1行ルックアヘッド
によってアクティブな書き込みワードラインを読み出し
ポインタと比較することによって生成することができ
る。一致は、書き込みポインタが読み出しポインタに追
いついたことを示しており、フルフラグをセットする。
他のさまざまな条件(例えば、半フルなど)を示す他の
フラグも、複数行のルックアヘッドによって生成するこ
とができる。本願で使用する「ポインタ生成器」という
用語は、ワードラインを順次活動化する手段を意味す
る。実施例では、読み出しワードラインおよび書き込み
ワードラインの各セットに対してシフトレジスタがポイ
ンタ生成器として使用される。「ポインタ」という用語
は、ポインタ生成器によって活動化されているワードラ
インの位置を意味する。
【0007】図1に、本発明を利用したFIFOの例を
図示しているが、他の設計も可能である。デュアルポー
トメモリアレイ(100)は、Nワードのメモリを有
し、各ワードはZビットを含む。この目的のため、メモ
リはN行のメモリセル(0からN−1まで)に配列さ
れ、Z個の列を有する。アレイ100は、読み出しポイ
ンタシフトレジスタ101によって「読み出し」ワード
ラインを選択することにより読み出し動作のためにアク
セスされる。シフトレジスタ101は、行0から行N−
1へアレイを一方向に進む単一の「1」のビットを有す
る。この「1」ビットは、終点(行N−1)に到達した
後、アレイの始点(行0)に巡回する。同様に、アレイ
100は、「書き込み」ワードラインを選択することに
よって書き込み動作のためにアクセスされる。書き込み
ポインタシフトレジスタ107は、同様に行0から行N
−1へアレイで「1」ビットを進め、次のサイクルで行
0に戻ることによって、所与の書き込みワードラインを
選択する。FIFOの読み出しポインタシフトレジスタ
および書き込みポインタシフトレジスタは、例えば前掲
の米国特許第4,535,427号に記載のもののよう
な従来の技術に従って実現可能である。しかし、例えば
双方向シフトレジスタを実現する場合などには、他のシ
フトレジスタ設計も可能である。選択したセルへの書き
込みのための情報は、入力ラッチ105から供給され
る。選択したセルから読み出される情報はセンス増幅器
・ラッチ106によってセンスされラッチされる。書き
込み動作は書き込み制御ロジック109によって制御さ
れ、読み出し動作は読み出し制御ロジック103によっ
て制御される。
【0008】本発明は、選択したワードラインの電位状
態を判定する技術によってフルフラグ一致回路102お
よびエンプティフラグ一致回路108を実現する。これ
によって本発明は、少なくともこれらの関数を実行する
ためには、従来技術に必要とされるようなカウンタの使
用を回避する。フルフラグは手段104によってセンス
およびラッチされ、同様にエンプティフラグは手段11
0によってセンスおよびラッチされる。
【0009】図2に、本発明の回路実施例を示すが、他
の実施例も可能である。本実施例は「エンプティ」フラ
グを実現する。同様の回路(後述)が「フル」フラグを
実現するために使用することができる。メモリアレイ2
00は、読み出しワードライン(例えばR0〜R[N−
1])および書き込みワードライン(例えばW0〜W
[N−1])を通じてアクセスされるメモリセル(例え
ば201、202、203)を有するデュアルポートア
レイである。読み出しワードラインが活動化されると、
データがメモリアレイの行に沿ってセルから読み出さ
れ、センス増幅器へ送られる。データは、ラッチされ、
DATA OUTライン(図1)を通じて外部回路へ供
給することも可能である。書き込みワードラインが活動
化されると、データは入力回路から行に沿ってセルに書
き込まれる。これはラッチを含むことも可能である(図
1)。これらの目的のため、データは、ビットライン
(説明を簡単にするため図示せず)を通じてアレイで読
み書きされる。
【0010】本発明では、ワードラインは、ワードライ
ン電位が高い(例えばほぼVDD)ときに読み出しおよび
書き込みの動作のために活動化され、ワードライン電位
が低い(例えばほぼVSS)時に非活動化される。これ
は、nチャネルアクセストランジスタが読み出しおよび
書き込みの両方のワードラインに使用される場合であ
る。その理由は、このトランジスタは高ゲート電位で導
通するためである。しかし、本発明の技術とともに他の
マルチポートセル設計も使用可能である。例えば、米国
特許第4,660,177号では、nチャネルトランジ
スタによってあるポートにアクセスし、pチャネルトラ
ンジスタが他のポートへのアクセスのために使用され
る。この場合、pチャネルトランジスタは、対応するワ
ードライン電位が低いときにセルにアクセスするように
導通し、電位が高いときには導通しない。
【0011】図2の実施例で、書き込みワードライン
は、単一のビット(例えば「1」のビット)によって順
次活動化され、書き込みポインタシフトレジスタ204
を巡回する。「1」ビットは、ビット位置W[0]から
出発し、ビット位置W[N−1]まで進み、そこでライ
ン205を通じて最初のビット位置へ巡回する。シフト
レジスタ204はクロック(図示せず)によって制御す
ることができる。例えば、2つのクロック位相が使用さ
れる。高位相で、シフトレジスタは進められ、低位相中
に、選択したワードラインが活動化される。同様に、読
み出しワードラインは、読み出しポインタシフトレジス
タ(図1)を巡回する単一のビットによって順次活動化
される。これらの読み出しポインタおよび書き込みポイ
ンタの「1」ビットが巡回するにつれて、「読み出し/
書き込み一致回路」の一部を順次活動化する。この回路
は、一致回路のアレイからなり、1つの一致回路は各読
み出し/書き込みワードラインの対に対応する。一致回
路はそれぞれ単一の入力(例えばライン206)を有
し、その入力が高電位状態かそれとも低電位状態かを判
定する。本実施例では、各一致回路は所望のワードライ
ン(例えばR[m−1])によって活動化され、そのワ
ードラインは対応するポインタ生成器(例えば、読み出
しポインタ生成器)によって活動化される。図示のよう
に、一致回路の入力は書き込みポインタ生成器のある位
置に直接接続されている。しかし、他の設計も可能であ
り、例えば、一致回路はポインタ生成器のある位置によ
って直接活動化され、その一致回路の入力が所望のワー
ドラインに接続されることも可能である。
【0012】説明のため、「1」ビットが書き込みポイ
ンタシフトレジスタ204のビット位置W[m]にあ
り、高電位が導体206に現れているとする。導体20
6のこの高電位はトランジスタ207の導通を引き起こ
し、インバータ211は、トランジスタ210のゲート
に低電位を生じ、その導通を妨げる。206上の高電位
はまた、バッファ212を通じて、書き込みワードライ
ンWm上に高電位を生じさせる。一致回路トランジスタ
208および209のゲート電位は、読み出しワードラ
インR[m−1]からのものであり、これは、書き込み
ワードラインWmの直前のメモリセルからのものであ
る。(「前」とは、読み出しポインタシフトレジスタお
よび書き込みポインタシフトレジスタがワードラインを
活動化する順に関していう。)従って、読み出しポイン
タが読み出しラインR[m−1]まで進むと、高電位が
読み出しワードラインR[m−1]に現れ、トランジス
タ208および209を導通させる。207もまた導通
しているため、電流は一致回路ビットライン213(F
LGBUS)を通じてVDDからフラグセンス増幅器21
5へ流れる。逆に、トランジスタ210は導通していな
いため、ビットライン214(バーFLGBUS)を通
じて電流は流れない。この電流の差によって、相対的に
小さい差動電圧が一致回路ビットライン213、214
に現れる。これは一般的にVSSより約100〜300
ミリボルト上である。この差動電圧はセンス増幅器21
5によってセンスされ、バーO出力およびライン216
上に負方向遷移(高から低へ)を引き起こす。
【0013】このように、読み出しポインタに関して
は、トランジスタ207〜210およびインバータ21
1からなる一致回路は1行のメモリセルをルックアヘッ
ドし、読み出しポインタの現位置を書き込みポインタの
現位置と比較することがわかる。一致した場合、読み出
しポインタが、書き込みポインタ(m)の行の隣の行
(m−1)に進んだことを示しており、メモリは「エン
プティ」であるとみなされる。その結果ライン216が
ハイ(高電位)からロー(低電位)に遷移し、この遷移
は出力ラッチ回路217に伝導し、エンプティフラグE
Fをセットする。一致しない場合、ライン216は高電
位状態のままであり、エンプティフラグEFはセットさ
れない。
【0014】さまざまな形式のラッチ回路が周知であ
り、本発明を実施するために使用可能である。しかし、
図示した回路は、非同期回路を高電位レベルと低電位レ
ベルの間の中間状態にハングさせる可能性のある準安定
状態に対する高度の保護を提供する。この目的のため、
フラグセンス増幅器215からの出力(バーO)がエッ
ジ感応ラッチ218のデータ(D)入力に送られる。ラ
ッチ218は、RS入力に加えられる書き込みクロック
WCKによって非同期的にリセット(Q=0)される。
ラッチ218は、読み出しクロックRCKの立ち上がり
エッジによってクロックされ、書き込みクロックWCK
がハイである間リセットされる。このラッチの出力はS
Rラッチ(219)をセットする。書き込みクロックの
立ち下がりエッジがラッチ219をリセットする。セッ
トされたエンプティフラグは、読み出しクロックを禁止
し、読み出しクロックがラッチ218をクロックするこ
とを防ぐ。非同期書き込みは、センス増幅器215がオ
ンになりラッチへの新たなデータが216上に設定され
るまではエンプティフラグラッチ219をリセットしな
い。従って、ラッチ218は準安定状態へとクロックさ
れない。
【0015】現在好ましい形式のセンス増幅器の1つを
図3に示す。これは、差動電流モードセンシング方式を
実現したものである。電流センス増幅器デバイスMN
1、MN2およびMP1、MP2はMP3によってスイ
ッチされる高利得再生増幅器を形成する。デバイス対M
N1−MN3およびMN2−MN4の縦続接続は、フラ
グバスの高キャパシタンス電流入力ノードからの軽負荷
ノードN1およびN2をバッファリングする。ポインタ
とワードラインの一致によってFLGBUSに電流が生
成され、一方、不一致によって電流はバーFLGBUS
にシフトする。エンプティフラグの状態を判定するた
め、書き込みポインタの移動中、または、読み出しワー
ドラインの移動中は、センス増幅器クロックオン信号
(SAON)はハイに保持される。センス増幅器出力
(バーO)は、センス増幅器がオフである間はハイであ
る。読み出しワードラインは、読み出しクロック(RC
K)がローであるときのみアクティブであることに注意
する。RCKがハイであるとき、SAONはハイであ
り、一致回路は評価されない。SAONは、FLGBU
SまたはバーFLGBUSが安定状態に到達するまでは
ハイに保持される。それから、SAONの立ち下がりエ
ッジがセンス増幅器をオンにする。
【0016】上記の実施例のような、差動電流モードセ
ンス増幅器の使用によって、大きい容量性負荷が一致回
路ビットラインFLGBUS(213)およびバーFL
GBUS(214)上に存在する場合に高速動作が実現
される。しかし、センス増幅器の使用は本発明に関する
限り任意である。さらに、センス増幅器が使用される場
合、必ずしも上記のような平衡入力型である必要はな
い。すなわち、当業者に周知の単一端型のセンス増幅器
も使用可能である。この場合、ただ1つの一致回路ビッ
トライン(例えばFLGBUS)を使用すればよい。図
2の一致回路は、大きい容量性負荷を示すビットライン
で高速動作をするのに有用であるが、他の設計も可能で
ある。例えば、単一端設計が、伝送ゲート回路を使用し
て実現される。この場合、Nチャネルトランジスタは、
一方のソース/ドレイン領域が書き込みポインタ生成器
に(例えばライン206を通じて)接続され、他方のソ
ース/ドレイン領域は、センス増幅器なしで直接ラッチ
回路(例えば217)を駆動するドライバの入力に接続
される。そして、nチャネルトランジスタのゲートは、
比較される読み出しワードライン(例えばR[m−
1])に接続される。pチャネルトランジスタは、ソー
ス/ドレイン領域がnチャネルトランジスタのソース/
ドレイン領域に接続されるが、pチャネルトランジスタ
のゲートは、同じく比較される読み出しワードラインに
接続された入力を有するインバータの出力によって駆動
される。さらに他の一致回路設計も可能である。
【0017】上記の実施例はエンプティフラグを生成す
る場合に本発明を説明するものであるが、フルフラグも
同様にして生成される。この場合、読み出しポインタ位
置もまた、図2と同等の一致回路を使用して書き込みポ
インタ位置と比較される。しかし、1行ルックアヘッド
は、書き込みワードラインを、(前進方向で)次の読み
出しポインタの位置と比較することによって実行され
る。すなわち、208−209に相当する2つの一致回
路トランジスタのゲートは、書き込みワードライン(例
えばW[m−1])に接続される。207に相当する一
致回路トランジスタのゲートは、前進方向で次に続く読
み出しワードラインを活動化する読み出しポインタ位置
(例えばR[m])によって活動化されるように接続さ
れる。次に、一致は、書き込みポインタが読み出しポイ
ンタによって選択された行の隣の行のメモリセルに進ん
でおり、従ってFIFOがフルであることを示してい
る。上記のように、他のフラグ(半フルなど)は複数行
をルックアヘッドすることによってセットすることが可
能である。実際、どこで比較をするかを選択することが
できるようにプログラマブル回路を含めることができ
る。その場合、一方のポインタが、他方のポインタによ
って活動化された行より進んでいる行数が、プログラマ
ブルステータスフラグを生成するように選択することが
できる。
【0018】必要であれば、ワードラインは、データセ
ンス増幅器およびフラグ生成回路におけるパワー散逸を
最小にするためにパルス化することができる。この場
合、ワードラインは、ルックアヘッド一致を容易にする
ためにラッチすることができる。ワードラインが前進す
ると、非同期ラッチが現ワードライン位置をトラップ
し、前のワードラインラッチをリセットする。
【0019】本発明を実施する際に、メモリセル(20
1、202、203など)はさまざまな設計が可能であ
る。デュアルポートメモリを図1および図2に示した
が、一般的に、周知の技術に従い、セルへのアクセスト
ランジスタを追加することによって、ポートの追加も可
能である。この場合、ここで使用する「マルチポート」
メモリという用語は複数のポートを通じてアクセスされ
るメモリアレイを含む。さらに、上記のマルチポートメ
モリ設計は、セルの各ポートにアクセスするために空間
的に分離したワードライン(例えばRm,Wm)を利用
している。しかし、その代わりに、マルチポートメモリ
の機能を実行するために単一のワードラインを時間多重
化することも可能である。例えば、周知の調停回路によ
って、シングルポートメモリアレイがデュアルポート設
計として機能することが可能である(例えば、米国特許
第4,620,118号「自動非同期コンテンション解
決機能を有するデュアルポートアクセス回路」参照)。
本発明は、このような時間多重化マルチポートメモリ設
計とともに実施することも可能である。この場合、「読
み出しワードライン」および「書き込みワードライン」
という用語は、ワードラインがセルへのアクセス作用を
している時間をいう。
【0020】列多重化も本発明とともに使用可能であ
る。すなわち、メモリセルの行は、ワードラインによっ
てアクセスされる2つ(以上)のセルを含むことが可能
である。しかし、そのセルのうちの1つのみが、読み出
しまたは書き込みの動作を実行するために列マルチプレ
クサ(多重化器)によって選択される。これによって、
例えば特定用途向け集積回路(ASIC)で本発明を実
施する際に便利な、コンパクトで規則的なレイアウトが
可能となる。しかし、本発明は、メモリアレイとは別の
集積回路上に存在するポインタ生成器とともに実施する
ことも可能である。さらに、ポインタ生成器を実現する
ためにシフトレジスタを使用したが、他の方式(例えば
アドレスデコーダなど)も、本発明を実施する際にポイ
ンタを生成するために使用可能である。上記の実施例へ
のさらに他の変形も可能である。
【0021】
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明によれば、カ
ウンタを使用することなく、選択した読み出し/書き込
みワードラインを活動化することによって、読み出し/
書き込み動作のためにアクセスされるマルチポートメモ
リを有する先入れ先出しメモリが実現される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を利用した例示的なFIFOのブロック
図である。
【図2】本発明の実施例の図である。
【図3】本発明とともに使用可能な例示的な電流モード
センス増幅器の図である。
【符号の説明】
100 デュアルポートメモリアレイ 101 読み出しポインタシフトレジスタ 102 フルフラグ一致回路 103 読み出し制御ロジック 105 入力ラッチ 106 センス増幅器・ラッチ 107 書き込みポインタシフトレジスタ 108 エンプティフラグ一致回路 109 書き込み制御ロジック 200 メモリアレイ 201 メモリセル 202 メモリセル 203 メモリセル 204 書き込みポインタシフトレジスタ 211 インバータ 215 フラグセンス増幅器 217 出力ラッチ回路 218 エッジ感応ラッチ 219 SRラッチ
フロントページの続き (72)発明者 ケビン ジョン オーコナー アメリカ合衆国、08833 ニュージャージ ー、ハンタードン カウンティ、レボノ ン、クリスタル ドライブ 1

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 読み出し動作を実行する際に読み出しポ
    インタ生成器(101)によって活動化される読み出し
    ワードラインによってアクセスされ、書き込み動作を実
    行する際に書き込みポインタ生成器(107)によって
    活動化される書き込みワードラインによってアクセスさ
    れる行に配列されたメモリセルのアレイ(100)と、 メモリに書き込まれたデータの量が完全に読み出されて
    いないことを示す少なくとも1つのフラグを生成するフ
    ラグ生成手段とからなる先入れ先出しメモリを有する回
    路において、 前記フラグ生成手段は、複数の一致回路(207〜21
    0、211)を有し、各一致回路は、前記アレイ内の1
    つの行に対応し、前記読み出しポインタ生成器および前
    記書込みポインタ生成器のうちの一方のポインタ生成器
    に接続されるとともに、他方のポインタ生成器によって
    活動化された前記1つの行のワードラインにも接続さ
    れ、与えられたワードラインまで、前記一方のポインタ
    生成器によって生成されたポインタが進んだかどうかを
    判定することを特徴とする、先入れ先出しメモリを有す
    る回路。
  2. 【請求項2】 前記一方のポインタ生成器は前記書き込
    みポインタ生成器であり、前記与えられたワードライン
    は、前記読み出しポインタ生成器によって活動化された
    読み出しワードラインであることを特徴とする請求項1
    に記載の回路。
  3. 【請求項3】 前記一致回路のうちの1つが、与えられ
    た位置(R[m−1])の読み出しワードラインによっ
    て活動化され、次に続く位置(Rm)の書き込みポイン
    タ生成器の状態を判定することにより、前記少なくとも
    1つのフラグがエンプティフラグとなることを特徴とす
    る請求項1に記載の回路。
  4. 【請求項4】 前記一方のポインタ生成器は前記読み出
    しポインタ生成器であり、前記与えられたワードライン
    は、前記書き込みポインタ生成器によって活動化された
    書き込みワードラインであることを特徴とする請求項1
    に記載の回路。
  5. 【請求項5】 前記一致回路のうちの1つが、与えられ
    た位置の書き込みワードラインによって活動化され、次
    に続く位置の読み出しポインタ生成器の状態を判定する
    ことにより、前記少なくとも1つのフラグがフルフラグ
    となることを特徴とする請求項1に記載の回路。
  6. 【請求項6】 前記メモリセルはマルチポートセルであ
    り、前記読み出しポインタ生成器によって活動化される
    ワードラインは該マルチポートセルの第1ポートに接続
    され、前記書き込みポインタ生成器によって活動化され
    るワードラインは該マルチポートセルの第2ポートに接
    続されたことを特徴とする請求項1に記載の回路。
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Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5473756A (en) * 1992-12-30 1995-12-05 Intel Corporation FIFO buffer with full/empty detection by comparing respective registers in read and write circular shift registers
US5469088A (en) * 1993-03-19 1995-11-21 Advanced Micro Devices, Inc. Cascade array cell partitioning for a sense amplifier of a programmable logic device
KR950015189B1 (ko) * 1993-10-28 1995-12-23 대우전자주식회사 광폭의 선입선출버퍼(fifo)의 에러검출장치
US5528588A (en) * 1994-09-14 1996-06-18 Fore Systems, Inc. Multicast shared memory
JPH08153387A (ja) * 1994-11-30 1996-06-11 Mitsubishi Electric Corp Fifoメモリ
US6189077B1 (en) * 1994-12-15 2001-02-13 Texas Instruments Incorporated Two computer access circuit using address translation into common register file
US5781802A (en) * 1995-02-03 1998-07-14 Vlsi Technology, Inc. First-in-first-out (FIFO) controller for buffering data between systems which are asynchronous and free of false flags and internal metastability
US5623449A (en) * 1995-08-11 1997-04-22 Lucent Technologies Inc. Flag detection for first-in-first-out memories
US5610573A (en) * 1995-09-13 1997-03-11 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for detecting assertion of multiple signals
US5712820A (en) * 1995-11-17 1998-01-27 Cypress Semiconductor Corporation Multiple word width memory array clocking scheme
US5712992A (en) * 1995-12-06 1998-01-27 Cypress Semiconductor Corporation State machine design for generating empty and full flags in an asynchronous FIFO
US5809339A (en) * 1995-12-06 1998-09-15 Cypress Semiconductor Corp. State machine design for generating half-full and half-empty flags in an asynchronous FIFO
US5844423A (en) * 1995-12-14 1998-12-01 Cypress Semiconductor Corporation Half-full flag generator for synchronous FIFOs
US5963056A (en) * 1995-12-14 1999-10-05 Cypress Semiconductor Corp. Full and empty flag generator for synchronous FIFOs
US5802003A (en) * 1995-12-20 1998-09-01 International Business Machines Corporation System for implementing write, initialization, and reset in a memory array using a single cell write port
US5850568A (en) * 1995-12-22 1998-12-15 Cypress Semiconductor Corporation Circuit having plurality of carry/sum adders having read count, write count, and offset inputs to generate an output flag in response to FIFO fullness
US5852748A (en) * 1995-12-29 1998-12-22 Cypress Semiconductor Corp. Programmable read-write word line equality signal generation for FIFOs
US5661418A (en) * 1996-03-13 1997-08-26 Cypress Semiconductor Corp. Signal generation decoder circuit and method
US6510486B1 (en) 1996-03-25 2003-01-21 Cypress Semiconductor Corp. Clocking scheme for independently reading and writing multiple width words from a memory array
US5764967A (en) * 1996-03-29 1998-06-09 Cypress Semiconductor Corporation Multiple frequency memory array clocking scheme for reading and writing multiple width digital words
US5860160A (en) * 1996-12-18 1999-01-12 Cypress Semiconductor Corp. High speed FIFO mark and retransmit scheme using latches and precharge
US5956748A (en) * 1997-01-30 1999-09-21 Xilinx, Inc. Asynchronous, dual-port, RAM-based FIFO with bi-directional address synchronization
US6055616A (en) * 1997-06-25 2000-04-25 Sun Microsystems, Inc. System for efficient implementation of multi-ported logic FIFO structures in a processor
US6033441A (en) * 1997-12-23 2000-03-07 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for synchronizing data transfer
US6000037A (en) * 1997-12-23 1999-12-07 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for synchronizing data transfer
JPH11305990A (ja) * 1998-04-24 1999-11-05 Oki Micro Design:Kk Fifo回路
US6669267B1 (en) * 1999-10-15 2003-12-30 Donnelly Corporation Exterior accessory module for vehicular modular door
US6671835B1 (en) 2000-05-15 2003-12-30 International Business Machines Corporation Error detection in digital scanning device having parallel data streams
US7130984B2 (en) * 2003-12-03 2006-10-31 Texas Instruments Incorporated First-in first-out memory system with shift register fill indication
US7230868B2 (en) * 2005-07-28 2007-06-12 Texas Instruments Incorporated Stable source-coupled sense amplifier
DE602006013444D1 (de) * 2006-07-11 2010-05-20 St Microelectronics Srl Verfahren und System zur Steuerung von Datensynchronisation in FIFO-Speichern und zugehöriger Synchronisierer
ITTO20070172A1 (it) * 2007-03-06 2008-09-07 St Microelectronics Srl Procedimento per comunicare dati e segnali d'orologio, segnale, trasmettitore e ricevitore relativi"
US9142268B2 (en) * 2012-01-17 2015-09-22 Qualcomm Incorporated Dual-voltage domain memory buffers, and related systems and methods
TWI673711B (zh) * 2018-10-04 2019-10-01 華邦電子股份有限公司 記憶體裝置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4535427A (en) * 1982-12-06 1985-08-13 Mostek Corporation Control of serial memory
EP0206743A3 (en) * 1985-06-20 1990-04-25 Texas Instruments Incorporated Zero fall-through time asynchronous fifo buffer with nonambiguous empty/full resolution
US4694426A (en) * 1985-12-20 1987-09-15 Ncr Corporation Asynchronous FIFO status circuit
US4875196A (en) * 1987-09-08 1989-10-17 Sharp Microelectronic Technology, Inc. Method of operating data buffer apparatus
US5027330A (en) * 1988-12-30 1991-06-25 At&T Bell Laboratories FIFO memory arrangement including a memory location fill indication
US5228002A (en) * 1991-04-26 1993-07-13 Quality Semiconductor Inc. First-in first-out memory device and method for accessing the device

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Publication number Publication date
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