JPH06131154A - シーケンシャル・メモリ及び該シーケンシャル・メモリとデータを入出力する方法 - Google Patents

シーケンシャル・メモリ及び該シーケンシャル・メモリとデータを入出力する方法

Info

Publication number
JPH06131154A
JPH06131154A JP3333695A JP33369591A JPH06131154A JP H06131154 A JPH06131154 A JP H06131154A JP 3333695 A JP3333695 A JP 3333695A JP 33369591 A JP33369591 A JP 33369591A JP H06131154 A JPH06131154 A JP H06131154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
signal
data
output
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3333695A
Other languages
English (en)
Inventor
Morris D Ward
ディー.ウオード モリス
L Williams Kenneth
エル.ウイリアムズ ケネス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JPH06131154A publication Critical patent/JPH06131154A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1042Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using interleaving techniques, i.e. read-write of one part of the memory while preparing another part

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Information Transfer Systems (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 シーケンシャル・メモリ(10)が関連の複
数の出力バッファ(22a,22b)によりインタリー
ブされたメモリを用いて高いデータ速度を達成する。 【構成】 データ・アクセス制御回路(18)及びバン
ク選択回路(20)がメモリ・バンク(12a,12
b)を書き込み、かつ読み出す順序を制御する。複数の
出力バッファ制御回路(22a,22b)は、シーケン
シャル・メモリ(10)にデータ・ワードを書き込んだ
直後に、このデータ・ワードを読み出せるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、概して電子回路及びそ
の動作方法に関し、特にシーケンシャル・メモリ及び該
シーケンシャル・メモリとデータを入出力する方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】FIFO及びLIFOのようなシーケン
シャル・メモリは、2つの回路間のバッファとしてしば
しば用いられる。それらのメモリは、データを入力した
順序に対応する所定のシーケンスによりこのデータを出
力するので、“シーケンシャル”と呼ばれる。シーケン
シャル・メモリは、異なる入出力速度で動作している装
置が互いに通信可能にする。初期のシーケンシャル・メ
モリは、所望の速度で入力データ・ユニットを直列的に
記憶し、記憶したデータを異なる速度で読み出すシフト
・レジスタから構成されていた。一般的に、シーケンシ
ャル・メモリをシフト・レジスタにより実現したもの
は、限定されたメモリのものであって、許容できない遅
延時間があるので、多くの動作に適していない。最近、
ポインタを用いてファースト・イン、ファースト・アウ
ト、又はラスト・イン、ラスト・アウト・シーケンスを
実現するランダム・アクセス・メモリが開発された。
【0003】CMOS SRAMの実施は広く採用され
ているが、一個のシーケンシャル・メモリが動作可能な
データ速度を増加させることは望ましいことである。C
MOS SRAMにおいて、メモリの書き込みには、3
つの特徴的な動作が含まれている。第1は、書き込みの
ビットラインが電圧レールのうちの一つ(通常はVc
c)に予備充電され、その後に予備充電がディセーブル
される。2つのビットライン(C及び反転D)はメモリ
に書き込むべき値に従って、Vcc及び接地に、又はそ
の逆に接続される。最後に、書き込まれるべきセルのワ
ードライン及び行選択がパルス駆動されて選択されたセ
ルに対する書き込み動作が完了する。
【0004】重要なことは、全ての書き込みビットライ
ンが書き込みの間で予備充電されることである。従っ
て、ビットラインを予備充電することは、電力を消費す
る動作となる。更に、書き込み中のセルと共に、共通の
ワードラインを有するあらゆるセルが選択されることで
ある。これらセルに記憶されるデータは、重ね書きされ
ることはないが、そのビットラインは行選択により選択
されないので、依然として電源電圧になっている。ビッ
トラインを予備充電すると、パルス駆動されている多数
のセルのために、大電流状態が形成される。メモリから
読み出すための動作は、メモリに書き込む動作とよく類
似しており、従ってCMOS RAMセルの性質のため
に同じような電力損失を示す。
【0005】電力消費の問題を減少させるために、設計
者は、通常、ブロック選択構造に依存してビットライン
長を減少させ(典型的にはアクセス時間を改善する)、
かつワードライン長を減少させる。従って、SRAMは
2又はそれ以上の別個のアレーに分割される。即ち、第
1のアレーがフルとなると、書き込みが第2のアレーか
ら開始され、以下同様となる。当然、ブロック数とブロ
ックを一緒に結合するために必要な多重化レベルとの間
には、妥協点が存在する。
【0006】それにもかかわらず、メモリ・セルの読み
出し又は書き込みに必要な3つの動作のために、シーケ
ンシャル・メモリのデータ速度が制限される。書き込み
動作は書き込みを実行するために、及び書き込みから復
帰するために(即ち、書き込みビットラインを電源電圧
のうちの一つに予備充電して次の書き込みに備えるため
に)は、典型的に約10ナノ秒を必要とする。従って、
シーケンシャル・メモリの速度の改善は、CMOS S
RAMアレーの速度に行った改善に多かれ少なかれ関連
される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従って、利用可能な技
術を用いて高いデータ速度を有するシーケンシャル・メ
モリを得る必要がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、従来の
シーケンシャル・メモリに関連した欠点及び問題点をほ
ぼ除去又は回避するシーケンシャル・メモリ装置及びこ
の装置とデータを入出力する方法が提供される。本発明
のシーケンシャル・メモリは、それぞれデータ・ユニッ
トを格納するように動作可能な複数のメモリを備えてい
る。入力されるワードを連続的なメモリに書き込むため
の書き込み制御回路が備えられる。所定のシーケンスに
より連続メモリからデータ・ユニットを読み出すための
読み出し制御回路が備えられている。そのメモリにおけ
る次の読み出し動作により入力データ・ユニットのアク
セスが可能ならば、それぞれのメモリに関連した複数の
高速ラッチがそのメモリに記憶されるべき入力データ・
ユニットをラッチする。
【0009】
【作用】本発明は従来の技術に対していくつかの利点を
備えている。読み出し動作及び書き込み動作の実効転送
速度は、連続的なメモリのインタリーブ構造のために、
大幅に増加している。更に、それぞれのメモリから読み
出される次のデータ・ユニットが関連するラッチに格納
されるので、連続的なメモリがこのデータ・ユニットを
受け取ると直ちに、データ・ユニットの読み出しが可能
となる。
【0010】本発明及びその利点を更によく理解するた
めに、ここで、添付する図面に関連させて以下の説明の
ために参照する。
【0011】
【実施例】本発明の好ましい実施例及びその効果は図面
の図1〜図3を参照することにより最もよく理解される
ものであり、種々の図面の同一部分及び対応する部分に
は同一番号が用いられている。
【0012】図1は連続メモリの好ましい実施例のブロ
ック図を示す。シーケンシャル・メモリ10はメモリ・
バンク12を備えており、個別的にメモリ・バンク12
a,12bとして表わされている。各メモリ・バンク1
2はNメモリ・セルを備えている。各メモリ・セルは、
データ・ユニットを格納するように動作可能である。こ
の実施例において、各メモリ・セルは1ビット用のメモ
リを備えているものと仮定するが、当該技術分野に習熟
する者に知られているように、多数ビットのデータ・ユ
ニットを備えることもできる。各メモリ・バンク12
は、個別的に読み出しポインタ回路14a,14bとし
て示す読み出しポインタ回路14と、個別的に書き込み
ポインタ回路16a,16bとして示す書き込みポイタ
ン回路16とに関連されている。読み出しポインタ回路
14は関連するメモリから読み出すべき次のメモリ・セ
ルを指示するポインタを保持しており、また書き込みポ
インタ回路16は入力データを格納するために利用可能
な次のセルを指示するポインタを保持している。更に、
読み出しポインタ回路14a,14b、書き込みポイン
タ回路16a及び16bは、メモリ・バンク12内の適
当なアドレスに対してデータ・イン(DIN)上に存在
する値の読み出すための信号、書き込むための信号、及
び出力すべき次のワードを読み出すための信号を発生す
る回路を備えている。
【0013】データ・アクセス制御回路18(18a,
18bとして個別的に参照される)は、シーケンシャル
・メモリ10に入力される制御信号に応答する制御信
号、更に内部的に発生した制御信号に応答する制御信号
を発生する。各データ・アクセス制御回路18はシーケ
ンシャル・メモリ10に対する読み出しクロック信号、
書き込みクロック信号、及びリセット信号を入力してい
る。データ・アクセス制御回路18aは以下で説明する
バンク選択回路20からREN1信号及びWEN1信号
を入力している。データ・アクセス制御回路18bはバ
ンク選択回路20からREN2信号及びWEN2信号を
入力している。フラグ発生回路(図示なし)はデータ・
アクセス制御回路18aに対してEPTY1信号、FU
LL1信号及びNEP11信号、またデータ・アクセス
制御回路18bに対してEPTY2信号、FULL2信
号及びNEP12信号を発生する。EPTY1信号は、
メモリ・バンク12aが空であることを表わし、FUL
L1信号はメモリ・バンク12aがフルであることを表
わしている。NEP11信号(空き+1ではない)は、
読み出しが可能な少なくとも2つの位置を有する。EP
TY2信号、FULL2信号及びNEP12信号は、メ
モリ・バンク12bについて同様の状態を表わしてい
る。
【0014】データ・アクセス制御回路18aは読み出
しパルス信号RP1及び書き込みパルス信号WP1を発
生する。書き込みパルス信号WP1は書き込みポインタ
回路16aに入力され、読み出しパルス信号RP1はフ
ラグ発生回路に入力される。書き込みパルス信号WP1
及び読み出しパルス信号RP1は、それぞれ書き込み及
び読み出しに応答して発生するパルスである。更に、デ
ータ・アクセス制御回路18aは、読み出しポインタ回
路14aに対して読み出しクロック信号(RCK1)、
読み出しポインタ回路14aに対してRB1信号、かつ
出力バッファ制御回路22aに対してFALL1信号及
びP1信号を発生する。同様に、データ・アクセス制御
回路18bは、書き込みポインタ回路16bに対してW
P2信号、フラグ発生回路に対してRP2信号、読み出
しポインタ回路14bに対してRCK2信号、読み出し
ポインタ回路14bに対してRB2信号、出力バッファ
制御回路22bに対してFALL2及びP2信号を発生
する。DINはメモリ・バンク12a,12b、出力バ
ッファ制御回路22a、及び22bに対する入力であ
る。データ出力信号(DOUT1)はメモリ・バンク1
2aから出力され、かつ出力バッファ制御回路22aに
入力される。
【0015】RCK1信号は読み出し信号に応答して発
生するパルスであり、かつ読み出しポインタ回路14a
に記憶されたポインタを増加させるために用いられる。
RB1信号は、メモリ・バンク12aから出力バッファ
制御回路22aにデータを読みだすときにのみ、読み出
しクロック信号に応答して発生するパルスである。この
ような本発明の特徴は、以下で更に詳細に説明される。
FALL信号は、「フォール・スルー」をエネーブルす
るために、即ち出力バッファ制御回路22aにおいてD
IN上の値をラッチするために発生するパルスである。
更に、このような本発明の特徴は、以下で更に詳細に説
明される。P1信号はRB1信号を遅延したものであ
り、データがメモリ・バンク12aから出力バッファ制
御回路22aに読み出されるときに、フォール・スルー
を防止するために用いられる。WP2、RP2、RCK
2、RB2、FALL2及びP2信号は、メモリ・バン
ク12b及び出力バッファ制御回路22bに関して同一
機能を有する。データ・アクセス制御装置は、ここで、
引用により関連され、「データ・アクセス制御装置及び
方法(Data Access Controller
and Method)」と題し、1989年11月
28日に出願されたタイ(Tai)ほかに対する米国特
許出願第44,100号に関連して更に詳細に説明され
る。
【0016】バンク選択回路20はデータ・アクセス制
御回路18a,18bからWP1、WP2、RP1及び
RP2信号を入力している。バンク選択回路20はWE
N1、WEN2、REN1及びREN2信号を出力して
いる。これらの信号はデータ・アクセス制御回路18
a、18b及び出力制御回路24に供給される。
【0017】出力バッファ制御回路22aはNANDゲ
ート26を備えており、NANDゲート26はFALL
1信号及びP1信号を入力している。NANDゲート2
6の出力はインバータ28の入力及びトランスミション
・ゲート30の反転制御入力に接続されている。インバ
ータ28の出力はトランスミション・ゲート30の非反
転制御入力に接続されている。DIN信号はトランスミ
ション・ゲート30の入力に供給されている。インバー
タ34及び36を備えているラッチ32は、トランスミ
ション・ゲート30の出力に接続されている。第2のト
ランスミション・ゲート38はその反転制御入力がパル
ス発生器40の出力に接続されており、パルス発生器4
0は制御信号RB1を入力し、これに応答してDOUT
1信号をラッチ32にラッチさせるパルスを発生してい
る。更に、パルス発生器40の出力はインバータ42に
も接続されており、インバータ42はその出力をトラン
スミション・ゲート38の非反転制御入力に接続されて
いる。DOUT1信号はトランスミション・ゲート38
の入力に接続されている。トランスミション・ゲート3
8の出力はラッチ32に接続されている。ラッチ32の
出力は出力制御回路24に接続されている。同様に、F
ALL1信号及びP2信号はNANDゲート44の入力
に接続されている。NANDゲート44の出力はインバ
ータ46の入力及びトランスミション・ゲート48の反
転制御入力に接続されている。インバータ46の出力は
トランスミション・ゲート48の非反転制御入力に接続
されている。DINはトランスミション・ゲート48の
入力に接続されており、トランスミション・ゲート48
の出力はインバータ52及び54からなるラッチ50に
接続されている。ラッチ50に対する入力は、出力トラ
ンスミション・ゲート56に接続されており、出力トラ
ンスミション・ゲート56はインバータ58の出力に接
続された非反転制御入力、及びパルス発生器60の出力
に接続された反転入力を有する。DOUT2信号は出力
トランスミション・ゲート56の入力に接続されてい
る。パルス発生器60はRB2信号を入力し、かつイン
バータ58の入力に出力している。ラッチ50の出力は
出力制御回路24に接続されている。出力制御回路24
は2つのANDゲート62及び64を備えており、それ
らの出力はORゲート66に接続されている。ANDゲ
ート62はREN1信号及びラッチ32の出力をその入
力に接続しており、またアンド・ゲート64はその入力
にREN2信号及びラッチ50の出力を接続している。
ORゲート66の出力はメモリ10の出力(QOUT)
をなす。
【0018】バンク選択回路20はNANDゲート6
8,70,72及び74を備えている。NANDゲート
68はWP1信号及びNANDゲート70の出力を入力
している。NANDゲート70は、NANDゲート68
の出力、WP2信号、リセット信号を入力している。N
ANDゲート72はPR1信号及びNANDゲート74
の出力を入力している。NANDゲート74は、RP2
信号、NANDゲート72の出力、リセット信号を入力
している。NANDゲート68の出力はWEN2信号を
発生し、NANDゲート70の出力はWEN1信号を発
生し、NANDゲート72の出力はREN2信号を発生
し、NANDゲート74の出力はREN1信号を発生す
る。
【0019】多くの応用において、書き込み信号及び読
み出し信号は同期している。書き込み信号の活性なエッ
ジにおいて(説明のために、書き込み信号の立ち上がり
端は活性なエッジであると仮定することにする。)、D
IN信号により表わされた値は、メモリ・バンク12が
フルでない限り、次に利用可能なメモリ位置に書き込ま
れる。読み出し信号の活性なエッジ(これも立ち上がり
であると仮定する。)において、読み出されるべき次の
位置は、DOUT1信号及びDOUT2信号に基づき適
当なメモリ・バンク12a又は12bから出力される。
【0020】EPTY1信号、FULL1信号、EPT
Y2信号及びFULL2信号はフラグ発生回路により発
生され、それぞれのメモリ・バンク12a,12bの空
き又はフルを表わしている。フラグ発生回路は、「プロ
グラマブル・ステータス・フラグ発生器FIFO(Pr
ogrammable Status Flag Ge
nerator FIFO))」と題し、1989年8
月14日に出願され、ウイリアム(K.L.Willa
ms)他に対する米国特許出願第393,440号(代
理人文書番号第TI−14075号)に関連して説明さ
れており、ここでは引用により関連される。リセット信
号が論理ローのときは、データ・アクセス制御回路18
が初期化され、バンク選択回路20が初期状態にセット
されると共に、WEN1信号及びREN1信号がハイで
あり、かつWEN2信号及びREN2信号がローであ
る。
【0021】WEN1信号及びWEN2信号は、どのメ
モリが活性であるのか(即ち、どのメモリが次の入力デ
ータ・ユニットを記憶することになるのか)を表わす。
WEN1信号がハイのときは、メモリ・バンク12aが
活性となり、またWEN2信号がハイのときは、メモリ
・バンク12bが活性となる。NANDゲート68及び
70はSR(セット−リセット)フリップ・フロップを
形成している。WEN1信号がハイ、かつWEN2信号
がローのときは、NANDゲート68及び70の出力
は、WP1信号がローにパルス駆動されるまで、この状
態を保持する。同様に、WEN2信号が論理ハイ、かつ
WEN1信号が論理ローときに、NANDゲート68及
び70の出力は、WP2信号がローにパルス駆動される
まで、変化しないままである。従って、メモリ・バンク
12aに対する書き込みの後、WP1信号はデータ・ア
クセス制御回路18aによりローにパルス駆動され、従
ってWEN2信号をハイにし、かつWEN1信号をロー
にする。メモリ・バンク12bに対する書き込みの後、
データ・アクセス制御回路18はWP2信号をローにパ
ルス駆動させ、従ってWEN1信号をハイにし、かつW
EN2信号をローにする。NANDゲート72及び74
の動作はNANDゲート68及び70の動作と同一であ
る。メモリ・バンク12aからの読み出しの後、RP1
信号はローにパルス駆動され、またメモリ・バンク12
bからの読み出しの後、RP2はローにパルス駆動され
る。
【0022】シーケンシャル・メモリ10の動作は、こ
れに対する書き込み動作用のクロック信号を示している
図2に関連して、最もよく説明される。書き込み信号の
各活性なエッジ76において、DIN信号の値がWEN
1信号及びWEN2信号により表わされたメモリに書き
込まれることになる。従って、t1 のときに、書き込み
信号はハイに遷移し、WP1信号をローに遷移させる。
WEN1信号はt1 でハイであるので、DIN信号のデ
ータ値がメモリ・バンク12aに書き込まれる。WP1
信号がローにパルス駆動された後に、WEN1信号はロ
ーに遷移し、かつWEN2信号はハイに遷移して次の書
き込みの準備をする。シーケンシャル・メモリ10は、
メモリ・バンク12aが時刻t3 まで他の書き込み動作
の準備をしていなくとも、時刻t2 で更に多くのデータ
を受け取るように動作することができる。この時刻t2
で、書き込み信号がハイに遷移すると、WP2信号をロ
ーにパルス駆動する。従って、時刻t2 でDINにおけ
るデータ値がメモリ・バンク12bに書き込まれる。W
P2信号がローにパルス駆動されると、WEN1信号が
ハイに遷移し、かつWEN2信号がローに遷移して次の
メモリ・バンク12aに対する書き込みの準備をする。
【0023】説明から理解されるように、シーケンシャ
ル・メモリ10は、非インタリーブのメモリ構造で可能
とする速度の2倍の速度でデータ・ユニットを格納する
ことができる。データ速度は付加的なメモリ・バンクを
インタリーブすることにより、更に増加することも可能
される。例えば、4つのメモリ・バンク12が利用可能
ならば、単独のメモリ・バンクがデータ・ユニットを格
納し、かつ読み出すために必要とする時間内に4つの書
き込み動作を実行することができる。
【0024】前述の書き込み動作と同様に、書き込み動
作は、非インタリーブのメモリのデータ速度の2倍のデ
ータ速度で第1図のシーケンシャル・メモリ10による
実行可能である。データ転送速度は、付加的なメモリ・
バンク12により、更に増加することもできる。データ
出力速度の増加に適応するために、出力バッファ制御回
路22a,22b及び出力制御回路24からなる入出力
回路が設けられている。
【0025】図1、図3a及び図3bを参照すると、出
力バッファ制御回路22a,22b及び出力制御回路2
4の動作が説明されている。図3a、図3bは、データ
を出力バッファ制御回路22にロードして出力制御回路
24を介して出力する方法を概略的に示されている。メ
モリ・バンク12a,12bが空きのときは、これらの
メモリに転送された新しいデータが、メモリ・バンク1
2a又は12bと、関連した出力バッファ制御回路22
a(P1信号及びFALL1信号に応答して)又は22
b(P2信号及びFULL2信号に応答して)とに格納
される。従って、最初はメモリ・バンク12a,12b
が空きであると仮定すると、最初の入力データ・ユニッ
トはメモリ・バンク12a及び出力バッファ制御回路2
2aの両方に書き込まれ、また第2のデータ・ユニット
はメモリ・バンク12b及び出力バッファ制御回路22
bの両方に書き込まれることになる。
【0026】出力バッファ制御回路22は非常に高速度
なので、データが関連したメモリ・バンク12に格納さ
れるかなり前に、データがラッチされることになる。読
み出し動作の前に、第3のデータ・ユニットがシーケン
シャル・メモリ10に書き込まれれば、第3のデータ・
ユニットがメモリ・バンク12aに書き込まれることに
なる(シーケンシャル・メモリ10がFIFOであると
仮定する)。出力回路は、REN1信号及びREN2信
号に応答して出力バッファ制御回路22a,22bのう
ちから選択したものより読み出す。
【0027】図3bに示すように、読み出し動作の後に
3つの書き込み動作が発生すると、出力バッファ制御回
路22aから出力バッファ制御回路22bに切り換わる
と同時に、第3のデータ・ユニットがDOUT1信号を
介してメモリ・バンク12aから読み出され、出力バッ
ファ制御回路22aに格納され(RB1信号に応答し
て)、次の読み出しの準備をする。従って、次の読み出
しのために、出力バッファ制御回路22aが出力バッフ
ァ制御回路22bへ切り換われば、これに適正なデータ
・ユニットが格納される。
【0028】高速の出力バッファ制御回路22a,22
bの効果は、実施例からよく理解される。最初に出力バ
ッファ制御回路22a,22bが空きであると仮定する
と、第1のワードはメモリ・バンク12aに格納され、
第2のワードはメモリ・バンク12bに格納される。読
み出し動作及び書き込み動作が本質的に同一速度で実行
されるものとすると、第1のワードについての読み出し
が第2のワードの書き込みの前に発生することになる。
しかし、メモリ・バンク12a上の書き込み動作が完全
に実行されるまでは、第1のワードはメモリ・バンク1
2aから読み出されない。これは、図2で説明したよう
に、第2の書き込み動作の後、しばらくは発生しない。
同様に、第3の書き込み動作後のしばらくは、第2のワ
ードをメモリ・バンク12bから読み出すことができな
い。しかし、本発明は、関連するメモリ・バンク12a
又は12bから読み出すべき次のワードを格納する高速
バッファを備えている。出力バッファ制御回路22a,
22bはメモリ・バンク12a,12bよりはるかに速
くデータ値を格納することができるので、出力すべき次
のデータは常に用意されている。
【0029】シーケンシャル・メモリ10がLIFOメ
モリであるならば、入力データ・ユニットは、各書き込
み動作後に、適正な出力バッファ制御回路22に格納さ
れることになる。出力バッファの内容を読み出すと、そ
の出力バッファがメモリ・バンク12a又は12bから
データを受け取ることになる。
【0030】
【発明の効果】本発明は従来技術より大きな効果を有す
る。即ち、読み出し動作及び書き込み動作はインタリー
ブされたメモリ上で実行されるので、付加的な電力を必
要とするより高速のトランジスタ技術に頼らなくとも、
データの入出力転送速度が大幅に高められる。更に、出
力バッファ制御回路22は、シーケンシャル・メモリ1
0にデータ・ユニットが入力された後、直ちにデータ・
ユニットを読み出せるようにする。
【0031】本発明及びその効果的を詳細に説明した
が、ここで、特許請求の範囲により定められる本発明の
精神及び範囲から逸脱することなく、種々の変更、代替
及び置換をすることができる。
【0032】以上の説明に関して更に次の行を開示す
る。
【0033】(1) データ・ユニットを格納するように
それぞれ動作可能な複数のメモリと、入力ワードを連続
するメモリに書き込むための書き込み制御回路と、所定
のパターンにより前記メモリからデータ・ユニットを読
み出すための読み出し制御回路と、それぞれのメモリに
関連され、それぞれのメモリについての次の読み出し動
作により前記入力データ・ユニットをアクセスすること
が可能なときに、前記それぞれのメモリに格納されるべ
き入力データ・ユニットを格納するための複数の高速メ
モリ回路とを備えていることを特徴とするシーケンシャ
ル・メモリ。
【0034】(2) 更に、前記高速メモリ回路のうちの
一つに格納されたデータを選択的に出力する回路を備え
ていることを特徴とする第1項記載のシーケンシャル・
メモリ。
【0035】(3) 更に1またはそれ以上の制御信号を
発生する回路を備え、次の読み出し動作によりいずれの
メモリが読み出されるかを表示することを特徴とする第
2項記載のシーケンシャル・メモリ。
【0036】(4) 更に、前記メモリのうちの一つから
それぞれの高速メモリ回路へデータ・ユニットを選択的
に転送する回路を備えていることを特徴とする第1項記
載のシーケンシャル・メモリ。
【0037】(5) 前記シーケンシャル・メモリはFI
FOメモリを備え、前記高速メモリ回路は、前記それぞ
れのメモリが空きのときに、前記入力データ・ユニット
をラッチする制御回路を備えていることを特徴とする第
1項記載のシーケンシャル・メモリ。
【0038】(6) 前記シーケンシャル・メモリはLI
FOメモリを備え、前記高速メモリ回路はその高速メモ
リ回路のうちの一つにそれぞれ入力データ・ユニットを
格納する制御回路を含むことを特徴とする第1項記載の
シーケンシャル・メモリ。
【0039】(7) それぞれデータ・ユニットを格納す
るように動作可能な複数のメモリと、連続するメモリに
入力ワードを書き込むための制御回路と、ファースト・
イン・ファースト・アウト・シーケンスにより前記メモ
リからデータ・ユニットを読み出すための読み出し制御
回路と、それぞれのメモリに関連され、それぞれメモリ
について次の読み出し動作により読み出しが期待される
データ・ユニットを格納するための複数の高速メモリ回
路とを備えていることを特徴とするファースト・イン・
ファースト・アウト・メモリ。
【0040】(8) 更に、前記高速メモリ回路のうちの
一つに格納されたデータを選択的に出力するための回路
を備えていることを特徴とする第7項記載のファースト
・イン・ファースト・アウト・メモリ。
【0041】(9) 更に1又はそれ以上の制御信号を発
生する回路を備え、次の読み出し動作によりいずれのメ
モリが読み出されるかを表示することを特徴とする第8
項記載のファースト・イン・ファースト・アウト・メモ
リ。
【0042】(10) 更に、前記メモリのうちの一つから
それぞれの高速メモリ回路へデータ・ユニットを選択的
に転送するための回路を備えていることを特徴とする請
求項7記載のファースト・イン・ファースト・アウト・
メモリ。
【0043】(11) 更に、出力すべき次の高速メモリ回
路を表示するための回路を備えていることを特徴とする
第7項記載のファースト・イン・ファースト・アウト・
メモリ。
【0044】(12) 前記メモリはランダム・アクセス・
メモリを備えていることを特徴とする第7項記載のファ
ースト・イン・ファースト・アウト・メモリ。
【0045】(13) 前記高速メモリ回路のうちの一つの
出力を格納するための出力レジスタを備えていることを
特徴とする第7項記載のファースト・イン・ファースト
・アウト・メモリ。
【0046】(14) シーケンシャル・メモリとデータを
入出力する方法において、複数のメモリのうちの連続す
る一つにおける入力データ・ユニットを格納するステッ
プと、それぞれのメモリについての次の読み出し動作に
より前記入力データ・ユニットのアクセスが可能なとき
に、それぞれの高速メモリ回路における前記入力データ
・ユニットのうちの一つを選択的に格納するステップと
を備えていることを特徴とするシーケンシャル・メモリ
とデータを入出力する方法。
【0047】(15) 更に、前記高速メモリ回路のうちの
一つに格納された前記データ・ユニットを選択的に出力
するステップを備えていることを特徴とする第14項記
載のシーケンシャル・メモリとデータを入出力する方
法。
【0048】(16) 更に、格納した前記データを出力し
た後に、前記高速メモリ回路のうちの一つに新しいデー
タを転送するステップを備えていることを特徴とする第
14項記載のシーケンシャル・メモリとデータを入出力
する方法。
【0049】(17) 前記転送するステップは前記それぞ
れのメモリから前記高速メモリ回路のうちの一つにデー
タを転送するステップを備えていることを特徴とする第
16項記載のシーケンシャル・メモリとデータを入出力
する方法。
【0050】(18) 前記転送するステップは前記高速メ
モリ回路のうちの一つに新しい入力データ・ユニットを
格納するステップを備えていることを特徴とする第14
項記載のシーケンシャル・メモリとデータを入出力する
方法。
【0051】(19) 前記シーケンシャル・メモリはFI
FOメモリを備え、前記高速メモリ回路は、前記それぞ
れのメモリが空きのときに、前記入力データ・ワードを
前記高速メモリ回路に格納するステップを備えているこ
とを特徴とする第14項記載のシーケンシャル・メモリ
とデータを入出力する方法。
【0052】(20) 前記シーケンシャル・メモリはLI
FOメモリを備え、前記高速メモリ回路のうちの一つに
おける各入力データ・ワードを格納するステップを備え
ていることを特徴とする第14項記載のシーケンシャル
・メモリとデータを入出力する方法。
【0053】(21) シーケンシャル・メモリ10が関連
の複数の出力バッファ22a,22bによりインタリー
ブされたメモリを用いて高いデータ速度を達成するため
に、データ・アクセス制御回路18及びバンク選択回路
20がメモリ・バンク12a,12bを書き込み、かつ
読み出す順序を制御するものであって、複数の出力バッ
ファ制御回路22a,22bは、シーケンシャル・メモ
リ10にデータ・ワードを書き込んだ直後に、このデー
タ・ワードを読み出せるようにする。
【図面の簡単な説明】
【図1】FIFOメモリの好ましい実施例を示す図。
【図2】図1の回路に関連するタイミング図。
【図3】好ましい実施例に用いられる高速入出力回路の
動作を示す図。
【符号の説明】
10 シーケンシャル・メモリ 12,12a,12b メモリ・バンク 14,14a,14b 読み出しポインタ回路 16,16a,16b 書き込みポインタ回路 18,18a,18b データ・アクセス制御回路 20 バンク選択回路 22,22a,22b 出力バッファ制御回路 24 出力制御回路 40 パルス発生器
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年10月5日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データ・ユニットを格納するようにそれ
    ぞれ動作可能な複数のメモリと、 入力ワードを連続するメモリに書き込むための書き込み
    制御回路と、 所定のパターンにより前記メモリからデータ・ユニット
    を読み出すための読み出し制御回路と、 それぞれのメモリに関連され、それぞれのメモリについ
    ての次の読み出し動作により前記入力データ・ユニット
    をアクセスすることが可能なときに、前記それぞれのメ
    モリに格納されるべき入力データ・ユニットを格納する
    ための複数の高速メモリ回路とを備えていることを特徴
    とするシーケンシャル・メモリ。
  2. 【請求項2】 シーケンシャル・メモリとデータを入出
    力する方法において、 複数のメモリのうちの連続する一つにおける入力データ
    ・ユニットを格納するステップと、 それぞれのメモリについての次の読み出し動作により前
    記入力データ・ユニットのアクセスが可能なときに、そ
    れぞれの高速メモリ回路における前記入力データ・ユニ
    ットのうちの一つを選択的に格納するステップとを備え
    ていることを特徴とするシーケンシャル・メモリとデー
    タを入出力する方法。
JP3333695A 1990-12-17 1991-12-17 シーケンシャル・メモリ及び該シーケンシャル・メモリとデータを入出力する方法 Pending JPH06131154A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US628279 1984-07-06
US62827990A 1990-12-17 1990-12-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06131154A true JPH06131154A (ja) 1994-05-13

Family

ID=24518214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3333695A Pending JPH06131154A (ja) 1990-12-17 1991-12-17 シーケンシャル・メモリ及び該シーケンシャル・メモリとデータを入出力する方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5594700A (ja)
EP (1) EP0495217B1 (ja)
JP (1) JPH06131154A (ja)
KR (1) KR100275182B1 (ja)
DE (1) DE69126514T2 (ja)
TW (1) TW198116B (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5305281A (en) * 1992-08-06 1994-04-19 National Semiconductor Corporation Multiple array memory device with staggered read/write for high speed data access
US5838631A (en) 1996-04-19 1998-11-17 Integrated Device Technology, Inc. Fully synchronous pipelined ram
US5748539A (en) * 1997-03-05 1998-05-05 Sun Microsystems, Inc. Recursive multi-channel interface
US5933385A (en) * 1997-07-31 1999-08-03 Integrated Silicon Solution Inc. System and method for a flexible memory controller
US6115320A (en) 1998-02-23 2000-09-05 Integrated Device Technology, Inc. Separate byte control on fully synchronous pipelined SRAM
US6038185A (en) * 1998-05-12 2000-03-14 Atmel Corporation Method and apparatus for a serial access memory
US7069406B2 (en) * 1999-07-02 2006-06-27 Integrated Device Technology, Inc. Double data rate synchronous SRAM with 100% bus utilization
JP4081963B2 (ja) * 2000-06-30 2008-04-30 セイコーエプソン株式会社 記憶装置および記憶装置に対するアクセス方法
EP1313644B1 (en) * 2000-08-10 2007-12-19 Baxa Corporation Article for handling, labeling, filling, and capping syringes
US7392638B2 (en) * 2000-08-10 2008-07-01 Baxa Corporation Method, system, and apparatus for handling, labeling, filling, and capping syringes with improved cap
US6745277B1 (en) * 2000-10-04 2004-06-01 Force10 Networks, Inc. Intelligent interleaving scheme for multibank memory
US6430099B1 (en) 2001-05-11 2002-08-06 Broadcom Corporation Method and apparatus to conditionally precharge a partitioned read-only memory with shared wordlines for low power operation
KR100452640B1 (ko) * 2002-11-11 2004-10-14 한국전자통신연구원 데이터 패킷 수신 장치 및 방법

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4862419A (en) * 1983-11-10 1989-08-29 Advanced Micro Devices, Inc. High speed pointer based first-in-first-out memory
US4864543A (en) * 1987-04-30 1989-09-05 Texas Instruments Incorporated First-in, first-out memory with counter address pointers for generating multiple memory status flags
JPH0817029B2 (ja) * 1986-12-19 1996-02-21 富士通株式会社 半導体記憶装置
EP0272869B1 (en) * 1986-12-19 1993-07-14 Fujitsu Limited Dual port type semiconductor memory device realizing a high speed read operation
JP2764908B2 (ja) * 1988-02-04 1998-06-11 日本電気株式会社 カスケード・バッファ回路
JP2805761B2 (ja) * 1988-08-29 1998-09-30 日本電気株式会社 スタティックメモリ
US5027326A (en) * 1988-11-10 1991-06-25 Dallas Semiconductor Corporation Self-timed sequential access multiport memory
US4888741A (en) * 1988-12-27 1989-12-19 Harris Corporation Memory with cache register interface structure
GB2232797B (en) * 1989-06-16 1993-12-08 Samsung Semiconductor Inc RAM based serial memory with pipelined look-ahead reading
US4954987A (en) * 1989-07-17 1990-09-04 Advanced Micro Devices, Inc. Interleaved sensing system for FIFO and burst-mode memories
US5012408A (en) * 1990-03-15 1991-04-30 Digital Equipment Corporation Memory array addressing system for computer systems with multiple memory arrays
US5036493A (en) * 1990-03-15 1991-07-30 Digital Equipment Corporation System and method for reducing power usage by multiple memory modules
US5255242A (en) * 1990-12-17 1993-10-19 Texas Instruments Incorporated Sequential memory

Also Published As

Publication number Publication date
EP0495217A2 (en) 1992-07-22
KR920013452A (ko) 1992-07-29
TW198116B (ja) 1993-01-11
EP0495217A3 (en) 1992-08-12
DE69126514D1 (de) 1997-07-17
US5594700A (en) 1997-01-14
EP0495217B1 (en) 1997-06-11
DE69126514T2 (de) 1997-12-04
KR100275182B1 (ko) 2000-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6795360B2 (en) Fifo memory devices that support all four combinations of DDR or SDR write modes with DDR or SDR read modes
JP3004525B2 (ja) 先入れ先出しメモリを有する回路
US4839866A (en) Cascadable first-in, first-out memory
JP4493116B2 (ja) 読み取り/書き込みアドレスバスを有するランダムアクセスメモリ並びに同メモリへの書き込み及び同メモリからの読み取り方法
JPH06131154A (ja) シーケンシャル・メモリ及び該シーケンシャル・メモリとデータを入出力する方法
US6259648B1 (en) Methods and apparatus for implementing pseudo dual port memory
JP4456687B2 (ja) ランダムアクセスメモリ並びに、同メモリへの書込み及び同メモリからの読出し方法
US7082071B2 (en) Integrated DDR/SDR flow control managers that support multiple queues and MUX, DEMUX and broadcast operating modes
US7778105B2 (en) Memory with write port configured for double pump write
US5042007A (en) Apparatus for transposing digital data
US6463000B2 (en) First-in first-out memory device and method of generating flag signal in the same
US5177704A (en) Matrix transpose memory device
EP0575829B1 (en) Serial access memory with column address counter and pointers
US6240031B1 (en) Memory architecture
US6201756B1 (en) Semiconductor memory device and write data masking method thereof
US6178139B1 (en) Semiconductor memory device comprised of a double data rate-synchronous dynamic random access memory
US5255242A (en) Sequential memory
US6400642B1 (en) Memory architecture
JP2008077768A (ja) 半導体記憶装置
US5732011A (en) Digital system having high speed buffering
US6961280B1 (en) Techniques for implementing address recycling in memory circuits
KR100298181B1 (ko) 다중리드/라이트및바이패스경로를가지는레지스터파일
US6366979B1 (en) Apparatus and method for shorting retransmit recovery times utilizing cache memory in high speed FIFO
JPH09180433A (ja) ファーストイン・ファーストアウトメモリ装置
JP3489982B2 (ja) マルチポートメモリ装置及びatmスイッチ装置