JP2000075154A - 薄膜積層型光学部品及び要素部品の被覆構造 - Google Patents
薄膜積層型光学部品及び要素部品の被覆構造Info
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Abstract
が容易な薄膜積層型光学部品及び要素部品の被覆構造を
提供することを目的とする。 【解決手段】 基板と前記基板に被着され、該基板より
も熱膨張係数が大きく且つ前記基板よりも可とう性があ
る光機能膜と、前記光機能膜が前記基板に接する面とは
反対の前記光機能膜の面に被着され、該光機能膜よりも
熱膨張係数が小さい低熱膨張膜とを具備して構成する。
Description
及び要素部品の被覆構造に関する。特に、シリコン基板
等の基板上に被着された基板よりも熱膨張係数の大きい
ポリイミド等のプラスチックで形成した薄膜の剥離防止
構造に関する。
る。この光機能膜の例として光導波路がある。光導波路
は、シリコン基板等の基板上にコアとクラッドからなる
薄膜により形成され、個別チップに分割されている。
起因する応力及び応力に起因する湾曲によって生じる。
この応力又は湾曲を低減させる技術には、例えば、特開
昭64−57207号公報(以下、従来技術1)、特開
平5−281424号公報(以下、従来技術2)、特開
平8−304623号公報(以下、従来技術3)等があ
る。
来技術1は、基板2と基板2の両面に被着された薄膜
4,6,12,14からなる。基板2の両面に被着され
た薄膜4,6,12,14の片方が光導波路10用の薄
膜4,6であり、もう一方が湾曲補償用薄膜12,14
である。例えば、シリコン基板(熱膨張係数4.2×1
0-6)の表面に石英(熱膨張係数0.4×10-6)の光
導波路10と湾曲補償層12,14が形成されている。
により形成されている。この光導波路10は、1000
°C以上の高温で製造される。高温で流動化した光導波
路材料が基板2に被着されるので高温では界面応力は発
生しない。図13は、湾曲のメカニズムを示す図であ
る。このため、図13(a)に示すように、光導波路1
0を形成した温度における状態では、光導波路10及び
基板2は、平坦である。
と、シリコン基板2の熱膨張係数の方が光導波路10の
熱膨張係数よりも大きいので、光導波路10に比べ、基
板2の方がより大きく収縮する。そのため、図13
(b)に示すように、バイメタルと同じ原理により湾曲
し、基板2と光導波路10の界面に応力が残留する。
導波路10と湾曲補償層12,14の厚さと熱膨張係数
を同じにすると基板2の両面の応力が等しくなり湾曲が
防止される。石英による光導波路膜4,6は硬く、厚膜
になると脆弱性があるので、湾曲するとクラックが生じ
るが、上記方法により湾曲を防止するとクラックも防止
される。
来技術2は、基板2と、基板20上に被着したバッファ
層20と、バッファ層20上に被着した光導波路膜10
よりなる。光機能膜は、光導波路膜10であり、光導波
路膜10は、クラッド6とコア8よりなる。基板2は、
例えば、シリコン基板(熱膨張係数2.6×10-6)、
バッファ層20は、金属(熱膨張係数10〜23×10
-6)、光導波路膜10は、石英(熱膨張係数0.16×
10-6)である。
板2より大きく、光導波路10の熱膨張係数がシリコン
基板2より小さいので、両者の厚みを調節することによ
り、巨視的に見た2層の総合的な熱膨張係数をシリコン
基板2に一致させることが可能になる。その結果、湾曲
が防止され、クラックの発生が防止される。
来技術3は、透明な基板30aと、透明な基板30a上
に設けられた光機能膜31と、透明な補助基板30bよ
りなる。基板30aは、例えば、ポリイミド、光機能膜
31は、無機誘電体膜である。基板30aがポリイミド
であるため、基板30aにクラックを生じることはない
が、無機誘電体料の光機能膜31は厚くなった場合に湾
曲により破損する。また、破損しなくても湾曲すると取
り扱いが不便である。しかし、従来技術3では、基板3
0aと補助基板30bの厚さと熱膨張係数を等しくする
ことにより湾曲が防止される。
低減や製造方法の容易さの観点等から光機能膜の材料と
してプラスチック薄膜が使用される。このプラスチック
薄膜は、従来技術1,2の光導波路材料である石英に較
べ、可とう性(曲げやすく曲げても破損しない性質)が
あるため、湾曲によるクラックの発生は起こりにくい。
×10-6〜60×10-6という広い範囲にわたってお
り、使用するプラスチックによっては、シリコンに対す
る熱膨張係数差は、シリコンと石英の熱膨張係数差に比
べてはるかに大きい。例えば、シリコンと石英の熱膨張
係数の差が2〜4×10-6であるのに対し、光導波路に
適した物性を有するプラスチック(例えば、炭素と結合
する水素をフッ素に置換し、透明性を高くしたポリイミ
ドの熱膨張係数は約50×10-6である)とシリコンの
熱膨張係数差は約45×10-6に達し、約1桁大きい。
せ、350°Cでイミド化したポリイミドは、全体(1
00mm)ではシリコンに対して約1.6mmも収縮し
ようとする。図16は、プラスチック薄膜を使用した光
導波路の場合の応力による湾曲と切断による剥離を示す
図である。図中、32はクラッド、34はコア、35は
光導波路である。
2 により大きく湾曲する。プラスチックは、可とう性が
あるのでこのように湾曲してもクラックを生じることは
ない。しかし、個別チップに分割するために、ダイヤモ
ンドソーで切断すると、図16(b)に示すように、剥
離力により、端部33に剥離が生じる。
波路の適用例を示す図である。図17に示すように、基
板2の裏面にもプラスチック膜32と同じ組成で同じ厚
さのプラスチック膜36を形成すると湾曲を防止するこ
とができた。しかし、ダイヤモンドソーで切断すると表
面についても切断部において基板2から膜32が剥離
し、従来技術1の構造による剥離防止の効果は認められ
なかった。
用した場合の剥離メカニズムを示す図である。図18
(a)に示すように、シリコン基板2に石英の光導波路
膜4,6からなる光導波路10が形成された温度におい
ては、同じ温度で光導波路10が形成されるので、シリ
コン基板2と光導波路10は同じ長さである。
図18(b)に示すように、シリコンの熱膨張係数は石
英よりも大きいので、基板2に比べて、光導波路膜4,
6が長くなる。この二つを密着させたまま常温まで温度
低下すると、基板2に被着した光機能膜10の方が基板
2よりも長くなるので、引っ張り応力f1 ,f2 により
基板2を左右の外側方向に引っ張る。
が変形し、中央が凸になるように湾曲する。湾曲するこ
とにより応力が低減され安定になる。ここで、光機能膜
10の端部に作用する剥離力を考えると、光機能膜10
の端部には光機能膜10が石英からなるためその剛性に
より平坦になろうとする力によって上向きの力(力1)
が生じる。
の抵抗が無ければ、更に伸びようとする。しかし、基板
2の抗力のため伸びが制限されるが、例えば、基板2が
縮み難いが容易に湾曲するものであれば、図18(c)
の破線に示すように更に湾曲する。これにより、光機能
膜10には、下向きの力(力2)も加わることになる。
上向きの力(力3)も加わる。剥離力はこの力1,2,
3を合成したものである。即ち、光機能膜10には、剥
離しようとする力1,3とこれを打ち消す力2が加わる
ことになり互いに相殺された剥離力は小さいものにな
る。
機能膜10よりも大きな場合、従来技術1の構造によっ
ても、剥離力は小さいものとなって、光機能膜10の剥
離が生じなかったものと考えられる。
波路に適用した場合の剥離メカニズムを示す図である。
ところが、図19(a)に示すように、基板2にプラス
チック膜32,34を被着すると、シリコン基板2より
も熱膨張係数の大きなプラスチック膜32は、基板2の
中央が凹になるよう湾曲する。
用する剥離力は、基板2が剛性により平坦になろうとす
る力F1 によって基板2に下向きの力1と光機能膜32
の上面が更に縮もうとする力F2 によって光機能膜35
に生じる上向きの力(力2)を合成したものである。こ
の力1と力2は互いに剥離力を増強する方向に作用す
る。これがプラスチックを用いる光機能膜を形成する基
板に従来技術1を適用した場合に剥離防止の効果が得ら
れない理由と考えられる。
面にプラスチック膜32,36を形成して強制的に基板
2を平坦にすることは、図19(b)に示すように、基
板2の中央を支点として基板2に上向きの力F3 をかけ
て、その両端を力F1 で下側に引っ張り強制的に基板2
を平坦にするのと同じことである。
り平坦になることによって基板2に生じる下向きの力F
1 は無くなるが、光機能膜32の上側の面が更に縮もう
とする力によって光機能膜10に生じる上向きの力2
は、図19(a)に比べて大きくなる。そのため、トー
タルの剥離力は低減されない。
光導波路を適用した図である。従来技術2は、基板2と
光導波路32の間にバッファ層38を挿入し、バッファ
層38と光導波路膜32のトータルの熱膨張係数を基板
2に近づけるというものである。ポリイミド光導波路
(熱膨張係数50×10-6)は、シリコン基板2に比べ
て、熱膨張係数が大きいので、バッファ層38に熱膨張
係数がシリコンよりも小さいものを用いることによりバ
ッファ層38と光導波路膜32のトータルの熱膨張係数
が基板2の熱膨張係数に近づけることができる。
32との間に熱膨張係数が小さい層、例えば、シリコン
酸化膜(熱膨張係数0.4×10-6)38を介在させる
と湾曲を防止することができた。しかし、ダイヤモンド
ソーで切断するとやはり端部に剥離を生じ、従来技術2
の構造による剥離防止の効果が認められなかった。
止効果が得られなかった理由についても従来術1と同様
の理由が考えられる。即ち、図20において、シリコン
基板2とプラスチック膜32の間に熱膨張係数が小さい
層であるシリコン酸化膜38を挿入することにより基板
2の湾曲が防止される。
示したように、基板2が湾曲することにより図19
(a)に比較して力2に起因する剥離力が低減されてい
ないにもかかわらず、図19(b)のように、基板2を
下側に引っ張って、基板2を強制的に平らにしたため、
力2に起因する剥離力が増強され、結局トータルの剥離
力が変化しないためである。
光導波路を適用した図である。この図に示すように、光
導波路膜35を上下からシリコン基板39a,39bで
挟んだ構成にすると、湾曲も切断時の剥離も防止され
た。しかし、上側の基板39bの張り合わせが困難(例
えば、ボイドが入る、二つの基板の調芯が困難)、全体
が厚くなる(光導波路32の厚さが30〜50μmであ
るのに対し、基板39a,39bの厚さは1mm)た
め、切断が困難になる。基板コストがかかる等の問題が
ある。
薄膜積層型光学部品を示す図であり、特に、同図(a)
は側面図、同図(b)は平面図である。図22に示すよ
うに、基板2の表面に、クラッド40,44、コア42
からなる光導波路46を形成し、基板2の表面の一部を
露出させて、その部分に電極52を形成した光半導体チ
ップ搭載部48を設け、コア42に光結合するよう、光
半導体チップ搭載部48に光半導体チップ50を固着さ
せてモジュール化が行われる。しかし、従来技術3の構
造を用いると、基板2の表面の一部を露出させるのが困
難になる問題も生じる。
されたものであり、剥離防止効果があり、且つ、低コス
トで製造が容易な薄膜積層型光学部品及び要素部品の被
覆構造を提供することである。
と、前記基板に被着され、該基板よりも熱膨張係数が大
きく且つ前記基板よりも可とう性がある光機能膜と、前
記光機能膜が前記基板に接する面とは反対の前記光機能
膜の面に被着され、該光機能膜よりも熱膨張係数が小さ
い低熱膨張膜とを具備したことを特徴とする薄膜積層型
光学部品が提供される。
よりも可とう性がある材料とする。更に、好ましくは、
前記基板と前記光機能膜との間に、該光機能膜よりもフ
ッ素含有量が少ないポリイミド膜よりなる接着補助層を
設ける。
品を示す図である。
は、基板2と、基板2上に被着され、クラッド32とコ
ア34からなり、基板2よりも熱膨張係数が大きくなる
光機能膜35と、光機能膜35の基板2に接する面とは
反対の面に被着され、光機能膜35よりも熱膨張係数が
小さい低熱膨張膜60とにより構成される。
35は、ポリイミド膜で形成された光機能膜で具体的に
は光導波路である。このポリイミドには、例えば、ポリ
イミドを構成する分子の炭素と水素の結合のうち、一部
の水素をフッ素に置き換えたもの(例えば、電子情報通
信学会研究会技術報告OPE95−93(1995年開
催)等に記載されている。)を用いている(以下、フッ
素化ポリイミド)。
条件を満足する必要がある。 光機能膜35よりも熱膨張係数が小さいこと。 光機能膜35の光学特性を変化させないこと。
に、シリコン基板2より可とう性があること。 フッ素化ポリイミドは、これらの条件を満足するため、
本実施形態では、低熱膨張膜60の材料として、フッ素
化ポリイミドを用いている。フッ素化ポリイミドは、フ
ッ素の含有量によって熱的物性、光学的物性及び化学的
物性が変化する。
量と熱膨張係数(室温から150°C付近の範囲の平均
値)の関係を示す図であり、横軸にフッ素化ポリイミド
のフッ素の含有量(wt%)、縦軸に熱膨張係数(pp
m)を示している。左にいく程フッ素含有量が多くなっ
ている。フッ素含有量の少ない(図中H:例えば、フッ
素含有量が22.7wt%)ものは熱膨張係数が小さく
(2×10-6程度)、フッ素含有量が多くなると(図中
A:例えば、フッ素含有量が31.3wt%)、熱膨張
係数が大きくなる(53×10-6程度)。
ッ素化ポリイミドのフッ素含有量と屈折率の関係を示す
図であり、横軸にフッ素化ポリイミドのフッ素の含有量
(wt%)、縦軸に屈折率を示している。
もの、nTMは厚さ方向(TM偏光)に対するものであ
る。TE偏光に対しては、フッ素量の低減に従い屈折率
が上昇するが、TM偏光に対しては、単調でなく途中で
逆転する。
35に使用するとき、コア34への入射光がTM偏光及
びTE偏光のいずれの場合でも、クラッド32とコア3
4との界面において全反射させるべく、コア34の屈折
率をクラッド32よりも大きくする必要がある。
折率が反転しない比較的フッ素量が多いもの、例えば、
C又はDより左側のものに限られる。上記複屈折性の他
にフッ素量が増えると発水性が向上し、吸湿性が低下す
る、吸収損失が低下する等の利点がある。
クラッド32にA(例えば、フッ素の含有量が31.3
wt%)の材料を使用し、コア34にD(例えば、フッ
素の含有量が29.2wt%)の材料を使用している。
光導波路35よりも熱膨張係数の小さい低熱膨張層60
には、H(例えば、フッ素の含有量が22.7wt%)
の材料を使用している。
導波路35のコア34より下側のクラッド層32の厚さ
が12μm、コア34の厚さが7μm、コア34より上
側のクラッド32の厚さが15μm、低熱膨張層60の
厚さが10μmである。
350°Cでイミド化させて形成した。光導波路35の
厚さが40μm未満の場合は、低熱膨張層60の厚さを
8μmよりも厚くすれば剥離防止効果が得られる。光導
波路35をこれより厚くすると、これにほぼ比例して、
低熱膨張層60の厚さも厚くすればよい。
品の効果説明図である。以下、これらの図面を参照し
て、図1の薄膜積層型光学部品の効果を説明する。
低熱膨張層60だけに着目しこの2層だけ取り出す。こ
れを高温(例えば350°C)から常温まで冷却した場
合、図4に示すように、上側の低熱膨張膜60の熱膨張
係数が下側の光機能膜35よりも小さいので、低熱膨張
膜60の方が光機能膜35よりも長くなり、引っ張り応
力f3 ,f4 により光機能膜35を左右の外側方向に引
っ張る。
膜35が変形し、中央が凸になるように湾曲する。低熱
膨張膜60は、光機能膜35の抵抗力が無ければ、更に
伸びようとする。光機能膜35の抗力のため低熱膨張膜
60の伸びが制限されるが、例えば、低熱膨張膜60
は、フッ素化ポリイミドからなり、可とう性のあるもの
なので、更に湾曲しようとする。これにより、光機能膜
35には、下向きの力F 3 ,F4 が加わることになる。
2に被着されている場合には、下向きの力F3 ,F4 に
より、光機能膜35の端部が基板2に押しつけられるよ
うになる。その結果、剥離力が低減され、剥離が防止さ
れる。
5よりも小さいので、基板2の中央が凹となるように湾
曲しようとする力と、低熱膨張膜60により光機能膜3
5の中央が凸となるように湾曲しようとする力とが相殺
して、図6に示すように、基板2の湾曲を防止すること
もできる。
積層型光学部品の剥離を防止すると共に、湾曲を防止す
ることができる。第2実施形態 図6は、本発明の第2実施形態を示す薄膜積層型光学部
品を示す図であり、図1中の構成要素と実質的に同一の
構成要素には同一の符号を附している。
薄膜積層型光学部品と異なる点は、基板2と光導波路3
5との間にフッ素含有量が光導波路35よりも少ないフ
ッ素化ポリイミドからなる接着補助層62を介在させた
ことである。
性が向上するが他の材料(基板2)との親和性が低下す
るため基板2との密着性が低下する。一方、シリコン基
板2とフッ素化ポリイミドとの密着性と、フッ素化ポリ
イミド同士の密着性を比較すると、フッ素化ポリイミド
同士のほうが、シリコン基板2とフッ素化ポリイミドと
の密着性に比べて良好である。これはフッ素含有量が異
なるフッ素化ポリイミド同士についても同様である(フ
ッ素化ポリイミド同士の密着性の方がシリコン基板とフ
ッ素化ポリイミドとの密着性に比べて良好である)。
導波路35の界面にフッ素の含有量の少ないフッ素化ポ
リイミドからなる接着補助層62を介在させると、基板
2と接着補助層62間の密着性が向上し、且つ接着補助
層62と光導波路35との密着性が良好になる。よっ
て、更に大きな剥離防止効果が得られる。
量が、例えば、図2中のG(例えば、フッ素含有量が2
3.9wt%)のものを使用する。接着補助層62の厚
さは、10μm程度とする。尚、接着補助層62の厚さ
は、基板2との密着性が向上する程度であれば十分であ
る。
実施形態よりも更に、薄膜積層型光学部品の剥離を防止
する効果がある。尚、接着補助層62のみを用い、上側
の低熱膨張層60を有しない構造の場合は、剥離面積を
低減させる効果は認められたが、剥離を無くすには不十
分であった。
品を示す図である。この図に示す薄膜積層型光学部品
は、光半導体チップ搭載領域71を有する基板の例であ
る。基板2の一部にフッ素化ポリイミドからなるクラッ
ド70,コア72を有する光導波路74が被着されてい
る。
の面に、低熱膨張層76が被着されている。光導波路7
4を除く基板2上に、光半導体チップ搭載領域71が形
成されている。光半導体チップ搭載領域71には、光半
導体チップ82を固着するための電極78、光半導体チ
ップ82の活性層とコア72の高さを一致させて光結合
させるための台座80を有する。
中のものと実質的に同一である。光半導体チップ82
は、半導体レーザ等の発光素子、電極78は、チタンと
金を積層した電極パターン、台座80は、例えば、光導
波路74と同じフッ素化ポリイミドである。
品の製造方法を示す図である。以下、これらの図面を参
照して、図7の薄膜積層型光学部品の製造方法を説明す
る。
シリコン基板2の表面にリフトオフ法によりチタンと金
を積層した電極パターン78を形成する。次に、図8
(b)に示すように光導波路74のクラッド70の下側
クラッド86を堆積させ、その一部の表面に突起形成用
マスク79を形成する。
ポリイミドを、その堆積には、スピンコーティング法
を、マスク79には、例えば、チタン薄膜を、その形成
には、例えば、リフトオフ法を用いる。
の活性層との高さを調節するための高さ調節層88、コ
ア90、上側クラッド92、低熱膨張層94を堆積す
る。高さ調節層88、コア90、上側クラッド92、低
熱膨張層94には、フッ素化ポリイミドを、その堆積に
は、スピンコーティング法を用いる。
側クラッド92のフッ素化ポリイミドのフッ素含有量は
等しくする。また、そのフッ素の含有量は、第1実施形
態と同じにする。尚、コア90を矩形に加工するには、
RIEを用いる。
ク96を形成する。端面形成用マスク96には、例え
ば、チタン薄膜を、その形成には、リフトオフ法を用い
る。次に、図9(b)に示すように、酸素プラズマによ
るRIEを行い、光導波路端面形成、台座80の形成、
電極パターン78の露出を行う。
けなので、製造工程が複雑になることや、従来技術3の
ように、加工がし難い等といったことがない。この次
に、端面形成用マスク96及び突起形成用マスク79を
エッチング除去する。
チップ搭載領域71を有する基板の場合の薄膜積層型光
学部品が作製される。光半導体チップ82を台座80に
載置して、電極78に半田バンプ等により固着する。
された光導波路の場合について述べたが、光機能膜は光
導波路に限られるものでなく、他の目的に用いられる皮
膜であってもよい。また、光部品や電子部品を封止する
ための被覆であってもよい。一例として、以下の実施形
態が考えられる。
部品を用いる要素部品の被覆構造を示す図である。
や電子部品等の要素部品100を載置する。次に、基板
98よりも熱膨張係数が大きい材料102を、要素部品
100の表面及び要素部品100の周囲の基板98に被
着させる。その次に、材料102に、材料102よりも
熱膨張係数が小さい低熱膨張層104を被着する。これ
により、第1実施形態と同様の作用により、要素部品1
00の基板98からの剥離を防止することができる。
部品を用いる要素部品の被覆構造を示す図であり、図1
0中の要素と実質的に同一の要素には同一の符号を附し
ている。
に被着された光部品や電子部品等の要素部品100を基
板98上に載置する。次に、基板98よりも熱膨張係数
が大きい材料102を、他の部材106の表面及び他の
部材106要素部品100の周囲の基板98に被着させ
る。
も熱膨張係数が小さい低熱膨張層104を被着する。こ
れにより、他の部材106が既に被着された要素部品の
場合でも、要素部品100の基板98からの剥離を防止
することができる。
に限られるものではなく他の材料であっても良い。例え
ば、通常のポリイミド、エポキシ系プラスチック、アク
リル系プラスチック、ポリカーボネイト系プラスチッ
ク、ポリオレフィン系プラスチック等である。
基板よりも熱膨張係数の大きな光機能膜が基板上に被着
された薄膜積層型光学部品の湾曲を防止することができ
ると共に、剥離を防止することができる。
品の構成図である。
数の関係を示す図である。
関係を示す図である。
る。
る。
品の構成図である。
品の構成図である。
る。
る。
構造を示す図である。
構造を示す図である。
の応力による湾曲と剥離を示す図である。
例を示す図である。
剥離メカニズムを示す図である。
た場合の剥離メカニズムを示す図である。
例を示す図である。
例を示す図である。
学部品の構成図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 基板と、 前記基板に被着され、該基板よりも熱膨張係数が大きく
且つ前記基板よりも可とう性がある光機能膜と、 前記光機能膜が前記基板に接する面とは反対の前記光機
能膜の面に被着され、該光機能膜よりも熱膨張係数が小
さい低熱膨張膜と、 を具備したことを特徴とする薄膜積層型光学部品。 - 【請求項2】 前記低熱膨張膜は、前記基板よりも可と
う性があることを特徴とする請求項1記載の薄膜積層型
光学部品。 - 【請求項3】 前記基板の一部に形成された光半導体チ
ップ搭載領域と、 前記光半導体チップ搭載領域に固着され、前記光機能膜
と光結合をする光半導体チップとを更に具備したことを
特徴とする請求項1記載の薄膜積層型光学部品。 - 【請求項4】 前記光機能膜及び前記低熱膨張膜は、フ
ッ素を含有するポリイミドで且つフッ素の含有量が増加
するほど熱膨張係数が大きくなるポリイミド膜で構成さ
れていることを特徴とする請求項1記載の薄膜積層型光
学部品。 - 【請求項5】 前記基板と前記光機能膜との間に、該光
機能膜よりもフッ素含有量の少ないポリイミド膜よりな
る接着補助層を設けたことを特徴とする請求項4記載の
薄膜積層型光学部品。 - 【請求項6】 基板と、 前記基板上に載置された要素部品と、 前記要素部品の表面と少なくとも該要素部品の周囲に位
置する前記基板の表面に被着され、前記基板よりも熱膨
張係数が大きく且つ前記基板よりも可とう性がある被覆
膜と、 前記被覆膜が前記基板に接する面とは反対の前記被覆膜
の面に被着され、前記被覆膜よりも熱膨張係数が小さく
且つ前記基板よりも可とう性がある低熱膨張膜と、 を具備したことを特徴とする要素部品の被覆構造。 - 【請求項7】 基板と、 前記基板上に載置された要素部品と、 前記要素部品の表面に被着された第1被覆膜と、 前記第1被覆膜の表面と少なくとも該第1被覆膜の周囲
に位置する前記基板の表面に被着され、前記基板よりも
熱膨張係数が大きく且つ前記基板よりも可とう性がある
第2被覆膜と、 前記第2被覆膜が前記基板に接する面とは反対の前記第
2被覆膜の面に被着され、前記第2被覆膜よりも熱膨張
係数が小さく且つ前記基板よりも可とう性がある低熱膨
張膜と、 を具備したことを特徴とする要素部品の被覆構造。
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- 1998-08-31 JP JP24498898A patent/JP3759841B2/ja not_active Expired - Fee Related
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