JP2000068713A - 分布定数線路のフィードスルー構造およびそれを用いたパッケージ基板 - Google Patents
分布定数線路のフィードスルー構造およびそれを用いたパッケージ基板Info
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Abstract
スルー構造を提供する。 【解決手段】 基板2の一方主面2aに形成された第1
の分布定数線路3の一端と、基板2の他方主面2bに形
成された第2の分布定数線路5の一端を、第1のビアホ
ール7で接続し、第1の分布定数線路3の一端に近接し
て第1の接地電極4を形成し、第2の分布定数線路5の
一端に近接して第2の接地電極6を形成し、第1のビア
ホール7に近接して第1の接地電極4と第2の接地電極
6を接続する第2のビアホール11、12を形成する。 【効果】 フィードスルー部分を含む伝送線路全体の不
整合を小さくすることができる。
Description
ィードスルー構造およびそれを用いたパッケージ基板、
特に高周波の信号を使用する通信機器に用いられる分布
定数線路のフィードスルー構造およびそれを用いたパッ
ケージ基板に関する。
高周波化にともなって、パッケージ基板に設けられた信
号入出力用の分布定数線路の不整合が電子装置の高周波
特性を劣化させる可能性が高くなってきていて、分布定
数線路の不整合の改善が必要となってきている。
基板における、分布定数線路のフィードスルー構造を示
す。図10に示した分布定数線路のフィードスルー構造
1において、基板2の一方主面2aにはストリップ状の
第1の分布定数線路3が形成され、その周囲にはギャッ
プg1およびg2を介して近接して第1の接地電極4が
形成されている。また、基板2の他方主面2bにはスト
リップ状の第2の分布定数線路5が形成され、その周囲
にはギャップg3およびg4を介して近接して第2の接
地電極6が形成されている。ここで、ギャップg1は第
1の分布定数線路3の側縁方向における第1の接地電極
4との間のギャップを、ギャップg2は第1の分布定数
線路3の長手方向における第1の接地電極4との間のギ
ャップを示している。また、ギャップg3は第2の分布
定数線路5の側縁方向における第2の接地電極6との間
のギャップを、ギャップg4は第2の分布定数線路5の
長手方向における第2の接地電極6との間のギャップを
示している。そして、第1の分布定数線路3と第2の分
布定数線路5は、その一端同士が互いに対向して形成さ
れ、第1のビアホール7で接続されている。
接地電極4との関係で見ればコプレーナ線路(コプレー
ナウェーブガイド)となり、第2の接地電極6との関係
で見ればマイクロストリップ線路となる。また、分布定
数線路5も同様に、第2の接地電極6との関係で見れば
コプレーナ線路となり、第1の接地電極4との関係で見
ればマイクロストリップ線路となる。
した分布定数線路のフィードスルー構造のA−A断面図
を示す。図11において、第1の分布定数線路3から第
1のビアホール7を経由して第2の分布定数線路5まで
を、s1、s2、s3の3つの領域に分けている。ここ
で、s1は第1の分布定数線路3のみの部分を、s2は
基板2の一方主面2a側と他方主面2b側を接続するフ
ィードスルー部分を、s3は第2の分布定数線路5のみ
の部分を示している。
フィードスルー構造1の等価回路を、第1の分布定数線
路3から第1のビアホール7を経由して第2の分布定数
線路5までを、s1、s2、s3の3つの領域に分けて
示す。図12において、z1は第1の分布定数線路3
を、z2は第2の分布定数線路5を示している。また、
Lは第1のビアホール7のインダクタンス成分を、C2
は第1の分布定数線路3と第1の接地電極4との間のギ
ャップg2に形成された浮遊容量を、C4は第2の分布
定数線路5と第2の接地電極6との間のギャップg4に
形成された浮遊容量を示している。
ー構造1においては、第1のビアホール7の部分が比較
的大きなインダクタンス成分Lとなり、さらにその両端
において浮遊容量C2、C4を有するため、たとえ第1
の分布定数線路3と第2の分布定数線路5を同じ特性イ
ンピーダンスに設定してあっても、フィードスルー部分
を含む伝送線路全体に不整合が生じてしまうという問題
がある。そして、この分布定数線路のフィードスルー構
造の不整合は、この構造を用いたパッケージ基板の高周
波特性を劣化させ、ひいてはそのパッケージ基板を用い
た電子装置の高周波特性を劣化させる原因になるという
問題がある。
的とするもので、不整合の生じにくい分布定数線路のフ
ィードスルー構造およびそれを用いたパッケージ基板を
提供する。
に、本発明の分布定数線路のフィードスルー構造は、基
板の一方主面に第1の分布定数線路を形成し、前記基板
の他方主面に第2の分布定数線路を形成し、前記第1の
分布定数線路の一端と前記第2の分布定数線路の一端を
互いに対向して形成して第1のビアホールで接続し、前
記第1の分布定数線路の一端に近接して第1の接地電極
を形成し、前記第2の分布定数線路の一端に近接して第
2の接地電極を形成し、前記第1のビアホールに近接し
て前記第1の接地電極と前記第2の接地電極を接続する
第2のビアホールを設けたことを特徴とする。
1のビアホールを主線路とし、前記第2のビアホールを
接地電極とする分布定数線路の特性インピーダンスを、
前記第1および第2の分布定数線路の特性インピーダン
スより高くしたことを特徴とする。
分布定数線路のフィードスルー構造を用いたことを特徴
とする。
分布定数線路のフィードスルー構造によれば、フィード
スルー部分を含む伝送線路全体の不整合を小さくするこ
とができる。
高周波特性の劣化を防止し、ひいてはこれを用いた電子
装置の高周波特性の劣化を防止することができる。
フィードスルー構造の一実施例を示す。図1において、
図10と同一もしくは同等の部分には同じ記号を付し、
その説明を省略する。
ー構造10において、第1のビアホール7に近接して、
第1の接地電極4と第2の接地電極6を接続する第2の
ビアホール11および12が設けられている。
路のフィードスルー構造10のB−B断面図を示す。図
2において、C11は第1のビアホール7と第2のビア
ホール11との間に分布的に形成される容量を、C12
は第1のビアホール7と第2のビアホール12との間に
分布的に形成される容量を示している。これより、分布
定数線路のフィードスルー構造10においては、第1の
ビアホール7は、図12に示したような単なる集中定数
的なインダクタンスではなく、第1のビアホール7を主
線路とし、第2のビアホール11、12を接地電極とす
る分布定数線路とみなせることが分かる。
造10の等価回路を示す。図3において、図12と同一
の部分には同じ記号を付し、その説明を省略する。図3
において、図12でインダクタンス成分Lとなっていた
部分が第1のビアホールを主線路とし、第2のビアホー
ル11、12を接地電極とした分布定数線路z3に置き
換わっている。
て、第1のビアホール7に対して分布的な接地電極とな
る第2のビアホール11、12を設けることにより、第
1のビアホール7と第2のビアホール11、12をまと
めて積極的に分布定数線路z3とみなすことができる。
しかも、分布的な容量C11およびC12によって、分
布定数線路z3の集中定数的なインダクタンス成分が、
図10ないし図12に示した従来の分布定数線路のフィ
ードスルー構造1に比べて相対的に低下する。これによ
ってフィードスルー部分s2を含む伝送線路全体の不整
合を小さくすることができる。特に、分布定数線路z3
の特性インピーダンスが第1の分布定数線路3や第2の
分布定数線路5の特性インピーダンスと同じ値になるよ
うに設定すると、分布定数線路z3の集中定数的なイン
ダクタンス成分はなくなり、不整合の要因は浮遊容量C
2とC4のみになるため、フィードスルー部分を含む伝
送線路全体の不整合をさらに小さくすることができる。
第2のビアホール11、12を接地電極とする分布定数
線路z3の特性インピーダンスを、第1の分布定数線路
3や第2の分布定数線路5の特性インピーダンスよりも
少し高く設定してもよい。その場合には、分布定数線路
z3の集中定数的なインダクタンス成分が少し残るが、
これが特定の周波数範囲において比較的小さな浮遊容量
であるC2およびC4と相殺し合い、分布定数線路z3
の特性インピーダンスを第1の分布定数線路3や第2の
分布定数線路5の特性インピーダンスと同じにした場合
よりもさらにフィードスルー部分の不整合を小さくする
ことができる。
造の反射損失を示す。図4において、x1は図10に示
した従来の分布定数線路のフィードスルー構造1の反射
損失を示している。また、x2は分布定数線路z3の特
性インピーダンスを、第1の分布定数線路3や第2の分
布定数線路5の特性インピーダンスと同じにした場合の
分布定数線路のフィードスルー構造10の反射損失を示
している。そして、x3は分布定数線路z3の特性イン
ピーダンスを第1の分布定数線路3や第2の分布定数線
路5の特性インピーダンスよりも少し高く設定した場合
の、分布定数線路10のフィードスルー構造の反射損失
を示している。ここで、反射損失は大きい方(図4では
下の方)が不整合が少ないことを意味している。
スルー構造1の反射損失x1より、本発明の分布定数線
路のフィードスルー構造10の反射損失x2の方が高い
周波数まで大きい反射損失を得られることがわかる。そ
して、特に分布定数線路z3の特性インピーダンスを、
第1の分布定数線路3や第2の分布定数線路5の特性イ
ンピーダンスよりも少し高く設定した場合の分布定数線
路のフィードスルー構造10の反射損失x3の方がさら
に大きい反射損失を得ることができることがわかる。
数を1つとしたが、これは1つに限られるものではな
く、対向して形成された第1の分布定数線路3および第
2の分布定数線路4の一端同士の間で2つ以上形成して
も構わないものである。また、第2のビアホールの数も
2つに限られるものではなく、フィードスルー部分の特
性インピーダンスの目標とする値に応じて、1つであっ
ても、3つ以上であっても構わないものである。また、
第1のビアホールと第2のビアホールとの間隔も、同じ
くフィードスルー部分の特性インピーダンスの目標とす
る値に応じて、自由に決定されるものである。
スルー構造の別の実施例を示す。また、図6にその平面
図を示す。図5および図6において、図1と同一もしく
は同等の部分には同じ記号を付し、その説明を省略す
る。
ィードスルー構造20において、基体2の一方主面2a
の、第1の分布定数線路3の側縁と第1の接地電極4と
の間のギャップg5は、第1の分布定数線路3の一端か
ら他端の方向、すなわち領域s2から領域s1の方に向
かって、領域s2から領域s1にかかる一部でテーパー
状に広がって形成されている。ここで、ギャップg5が
テーパー状に広がっている部分を領域s4とする。ま
た、基体2の他方主面2bの、第2の分布定数線路5の
端部と第2の接地電極6との間のギャップg6は、領域
s4の範囲内で略3角形状に形成されている。
1においてはほとんどの容量が第2の接地電極6との間
に形成されるため、近接して第1の接地電極4があるに
もかかわらず、ほぼマイクロストリップ線路として動作
する。一方、領域s2においては、第1の接地電極4が
近接して形成されており、かつ、対向する面に第2の接
地電極6が形成されていないために、第1の分布定数線
路3はほぼコプレーナ線路として動作する。
方に向って第1の分布定数線路3と第1の接地電極4と
の間隔が徐々に大きくなり、かつ、対向する面に第2の
接地電極6が徐々に形成されてきているため、コプレー
ナ線路とマイクロストリップ線路の両方の特性が混在し
ながら、一方からもう一方へとスムーズに変化してい
る。これによって、フィードスルー部分だけでなく、コ
プレーナ線路とマイクロストリップ線路の変換部分にお
ける不整合も小さくすることができる。
ー構造20においては、領域s4を設けることによっ
て、フィードスルー部分を含めた全体の特性インピーダ
ンスの不整合をさらに小さくすることができる。
ィードスルー構造10を具体的な誘電体基板で実現する
場合に、たとえば基体として厚さ0.5mmのアルミナ
基板を用い、裏面にグランド電極を形成した厚さ0.8
mmのガラスエポキシ基板に搭載することを考えると、
特性インピーダンスを50Ωに設計した第1の分布定数
線路3の幅は約350μmとなる。そのため、このよう
な分布定数線路のフィードスルー構造10を用いたパッ
ケージ基板において、別の実装基板に搭載するための半
田ランドは、特性インピーダンスの不整合を避けるため
には第1の分布定数線路3の幅と同じ350μmとする
必要がある。しかしながら、350μm幅の半田ランド
では、パッケージ基板と実装基板との間の十分な接着強
度が得られないという問題がある。
本発明の分布定数線路のフィードスルー構造のさらに別
の実施例を示す。また、図8にその平面図を示す。図7
および図8において、図1と同一もしくは同等の部分に
は同じ記号を付し、その説明を省略する。
ィードスルー構造30において、基体2の一方主面2a
の、第1の分布定数線路31は、フィードスルー部分か
ら基体2の端部に達するまでの間に、その幅がテーパー
状に広がる領域を有している。この、第1の分布定数線
路31の幅がテーパー状に広がっている領域を領域s5
とし、第1の分布定数線路31の幅が広がった後の領域
を領域s6とする。そして、基体2の一方主面2aの、
第1の分布定数線路31の側縁と第1の接地電極4との
間のギャップg7は、領域s5において、第1の分布定
数線路31の一端から他端の方向、すなわち領域s1か
ら領域s6の方に向かって、テーパー状に広がって形成
されている。そのため、第1の分布定数線路31の側縁
と第1の接地電極4との間のギャップg7は、領域s1
においてよりも領域s6において大きくなっている。さ
らに、基体2の他方主面2bの、第1の分布定数線路3
1と対向する位置には、領域s5の範囲においてテーパ
ー状に広がり、領域s6において一定の幅となっている
電極削除部32が形成されている。
s1においてはほとんどの容量が第2の接地電極6との
間に形成されるため、近接して第1の接地電極4がある
にもかかわらず、ほぼマイクロストリップ線路として動
作する。一方、領域s6においては、対向する面の電極
削除部32のために、言い換えれば第2の接地電極6が
形成されていないために、第1の分布定数線路31はほ
ぼコプレーナ線路として動作する。しかも、領域s6に
おいては、領域s1に比べて第1の分布定数線路31の
幅が広がっているにもかかわらず、ギャップg7も大き
くなっているため、第1の分布定数線路31の特性イン
ピーダンスは領域s1と同じ値となっている。
方に向って第1の分布定数線路31と第1の接地電極4
との間隔が徐々に大きくなり、かつ、対向する面に電極
削除部32がテーパー状に徐々に形成されてきているた
め、第1の分布定数線路31はマイクロストリップ線路
とコプレーナ線路の両方の特性が混在しながら、しかも
特性インピーダンスを一定に保ったまま、一方からもう
一方へとスムーズに変化している。これによって、第1
の分布定数線路31の幅を変化させ、しかもマイクロス
トリップ線路からコプレーナ線路へと変換させているに
もかかわらず、変換部における不整合を小さくすること
ができる。
ー構造30においては、領域s5と領域s6を設けるこ
とによって、フィードスルー部分を含めた全体の特性イ
ンピーダンスの不整合を大きくすること無く第1の分布
定数線路31の幅を広くすることができ、これによって
パッケージ基板の半田ランドの幅を広くして、十分な接
着強度が得られるようにすることができる。
例を示す。ここで、図9(a)は平面図を、図9(b)
は底面図を示している。
する基板41の一方主面41aには、その端部から内側
に向けて6つの第1の分布定数線路42が形成され、そ
の周囲にはギャップg8を介して第1の接地電極43が
形成されている。また、基板41の他方主面41bに
は、6つの第2の分布定数線路44が形成され、その周
囲にはギャップg9を介して第2の接地電極45が形成
されている。そして、第1の分布定数線路42と第2の
分布定数線路44は、その一端同士が互いに対向して形
成され、第1のビアホール46で接続されている。ま
た、第1のビアホール46に近接して、第1の接地電極
43と第2の接地電極45を接続する2つの第2のビア
ホール47が形成されている。このように、第1の分布
定数線路42と第2の分布定数線路45を接続するフィ
ードスルー部は、図1に示した本発明の分布定数線路の
フィードスルー構造と同じ構造になっている。
において、基板41の他方主面41bの中央部分の、第
2の接地電極45の上に集積回路(図示せず)などを搭
載し、その入出力用のボンディングパッド(図示せず)
と第2の分布定数線路44をボンディングワイヤー(図
示せず)で接続して電子装置を構成する。そして、高周
波の信号は、集積回路から第2の分布定数線路44とビ
アホール46を介して第1の分布定数線路42へと流れ
ることになる。
おいては、第1の分布定数線路42と第2の分布定数線
路45との間のフィードスルー部の不整合が小さくなる
ため、パッケージ基板40の高周波特性の劣化を防止
し、ひいてはこれを用いた電子装置の高周波特性の劣化
を防止することができる。
構造によれば、基板の一方主面に第1の分布定数線路を
形成し、基板の他方主面に第2の分布定数線路を形成
し、第1の分布定数線路の一端と第2の分布定数線路の
一端を互いに対向して形成して第1のビアホールで接続
し、第1の分布定数線路の端部の周囲に第1のギャップ
を介して第1の接地電極を形成し、第2の分布定数線路
の端部の周囲に第2のギャップを介して第2の接地電極
を形成し、第1のビアホールに近接して第1および第2
の接地電極を接続する第2のビアホールを形成すること
によって、フィードスルー部分を含む伝送線路全体の不
整合を小さくすることができる。
布定数線路の特性インピーダンスを第1の分布定数線路
や第2の分布定数線路の特性インピーダンスよりも少し
高く設定することによって、フィードスルー部分を含む
伝送線路全体の不整合をさらに小さくすることができ
る。
本発明の分布定数線路のフィードスルー構造を用いるこ
とによって、これを用いた電子装置の高周波特性の劣化
を防止することができる。
一実施例を示す透視斜視図である。
−B断面図である。
価回路である。
射損失を示す図である。
別の実施例を示す透視斜視図である。
面図である。
さらに別の実施例を示す透視斜視図である。
面図である。
図である。
示す透視斜視図である。
のA−A断面図である。
の等価回路である。
領域 40…パッケージ基板
Claims (3)
- 【請求項1】 基板の一方主面に第1の分布定数線路を
形成し、前記基板の他方主面に第2の分布定数線路を形
成し、前記第1の分布定数線路の一端と前記第2の分布
定数線路の一端を互いに対向して形成して第1のビアホ
ールで接続し、 前記第1の分布定数線路の一端に近接して第1の接地電
極を形成し、前記第2の分布定数線路の一端に近接して
第2の接地電極を形成し、前記第1のビアホールに近接
して前記第1の接地電極と前記第2の接地電極を接続す
る第2のビアホールを設けたことを特徴とする分布定数
線路のフィードスルー構造。 - 【請求項2】 前記第1のビアホールを主線路とし、前
記第2のビアホールを接地電極とする分布定数線路の特
性インピーダンスを、前記第1および第2の分布定数線
路の特性インピーダンスより高くしたことを特徴とす
る、請求項1に記載の分布定数線路のフィードスルー構
造。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の分布定数線路
のフィードスルー構造を用いたことを特徴とするパッケ
ージ基板。
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JP23402098A JP3721796B2 (ja) | 1998-08-20 | 1998-08-20 | 分布定数線路のフィールドスルー構造およびそれを用いたパッケージ基板 |
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JP23402098A JP3721796B2 (ja) | 1998-08-20 | 1998-08-20 | 分布定数線路のフィールドスルー構造およびそれを用いたパッケージ基板 |
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