JP2000067413A - 磁気ヘッド - Google Patents

磁気ヘッド

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JP2000067413A
JP2000067413A JP11225917A JP22591799A JP2000067413A JP 2000067413 A JP2000067413 A JP 2000067413A JP 11225917 A JP11225917 A JP 11225917A JP 22591799 A JP22591799 A JP 22591799A JP 2000067413 A JP2000067413 A JP 2000067413A
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Alberto Emilio Santini Hugo
ヒューゴ・アルベルト・エミリオ・サンティーニ
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International Business Machines Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率的な縫合書込みヘッドを提供する。 【解決手段】 本発明では、第2の磁極片の第2の磁極
ヨーク構成要素が、第2の磁極片の第2の磁極端構成要
素の小さな面積の上面、ならびに第2の磁極端構成要素
の後端、第1の側端および第2の側端に接続(縫合)さ
れる。後端および側端の追加の縫合によって、エア・ベ
アリング面で第2の磁極端へまたは第2の磁極端から磁
束を伝達するのに必要な構成要素間の磁気結合が得られ
る。上面の縫合領域の長さが短くなる構成により、絶縁
スタック中の1層または複数層のコイル層をABSによ
り近い位置に配置することが可能となり、ヘッドのデー
タ転送率が向上する。さらにこの構成によって、第1の
磁極片層に近接する部分の第2の磁極片層の材料の量を
減らすことができ、これらの層の間の漏れ磁束が最小限
に抑えられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多重縫合された第
2の極片を有する書込みヘッドに関し、より具体的に
は、第2の極片の第2の層構成要素が、第1の層構成要
素の上端、後端、第1の側端および第2の側端に縫合
(stitch)された(かみ合いによって磁気的に接続され
た)書込みヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータの心臓部は、磁気ディスク
・ドライブと呼ばれるアセンブリである。磁気ディスク
・ドライブは、回転磁気ディスク、サスペンション・ア
ームによって回転ディスクの上方の空間に配置された書
込み/読取りヘッド、および回転ディスク上の選択され
た円形トラックの上に書込み/読取りヘッドを配置する
目的でサスペンション・アームをスウィングさせるアク
チュエータを含む。書込み/読取りヘッドは、エア・ベ
アリング面(ABS)を有するスライダの上に直接に装
着される。ディスクが回転していないときには、サスペ
ンション・アームがスライダをディスクの表面に押しつ
け、スライダはディスクの表面に接触しているが、ディ
スクが回転しているときには、ABSに隣接した回転デ
ィスクによって空気が回転運動し、これによってスライ
ダが、回転ディスクの表面からわずかに距離を置いてエ
ア・ベアリングの上に浮かぶ。書込み/読取りヘッド
は、回転ディスクへの磁気的刻印(impression)の書込
み、および回転ディスクからの磁気的刻印の読取りに使
用される。読取り/書込みヘッドは、書込みおよび読取
り機能を実行するコンピュータ・プログラムに基づいて
動作する処理回路に接続される。
【0003】書込みヘッドは、第1の磁極片層と第2の
磁極片層の間にはさみ込まれた第1、第2および第3の
絶縁層(絶縁スタック)中に組み込まれたコイル層を含
む。第1の磁極片層と第2の磁極片層の間には、書込み
ヘッドのエア・ベアリング面(ABS)のところにギャ
ップ層によってギャップが形成される。磁極片層は、バ
ック・ギャップで相互に接続される。コイル層を流れる
電流によって、磁極片間のギャップを横切って磁界が誘
導される。この磁界は、回転ディスク上の円形トラック
などの運動している媒体上のトラックに情報を書き込む
目的で、ABSのギャップを横切ってフリンジする(fr
inge)。
【0004】第2の磁極片層は、ABSからフレア点ま
で延びる磁極端部分、およびフレア点からバック・ギャ
ップまで延びるヨーク部分を有する。フレア点は、第2
の磁極片が、ABSがヨーク部分を形成した後で最初に
広がり(フレア)始める点である。フレア点の位置は、
記録媒体上の書込み磁界の大きさに直接に影響を及ぼ
す。磁束は、第2の磁極端の長さ方向へ進むにつれて減
衰するので、第2の磁極端の長さを短くするとより多く
の磁束が記録媒体に達する。したがって最適性能は、フ
レア点を極力ABSの近くに配置し、これにより第2の
磁極端を短くすることによって得られる。
【0005】書込みヘッドの設計で重要なパラメータに
はそのほか、ゼロ・スロート・ハイト(ZTH)の位置
がある。ZTHは、第1の磁極片と第2の磁極片とがA
BSの後方で最初に分離する場所である。ZTHの分離
は、絶縁層、一般には絶縁スタックの第1の絶縁層の輪
郭によって生じる。ZTHの位置をABSにできるだけ
近づけることによって、第1の磁極片と第2の磁極片の
間の漏れ磁束が最小限に抑えられる。
【0006】残念ながら前述の設計パラメータは、第2
の磁極端の製作におけるジレンマとなる。回転ディスク
上に明確に画定された書込みトラックを形成させるため
には第2の磁極端が明確に画定されていなければならな
い。第2の磁極端が不明確であると、隣接するトラック
のオーバライトが生じる可能性がある。明確に画定され
た第2の磁極端は、平行かつ平坦で、第1の磁極片層の
水平面に垂直な側壁を有しなければならない。多くの従
来技術の書込みヘッドで第2の磁極端は、絶縁スタック
の第1の絶縁層、コイル層、第2の絶縁層および第3の
絶縁層を形成した後にヨークとともに形成される。それ
ぞれの絶縁層は、傾斜した前面を有するハードベークし
たフォトレジストを含む。
【0007】それぞれの絶縁層の傾斜面は、ABSに垂
直な平面に対してある頂点角度を有する。構築後、第
1、第2および第3の絶縁層はABSに面した傾斜面を
与える。第2の磁極片層をフレームめっきする目的でシ
ード層で傾斜面をコーティングする際、ハードベークし
たレジストの傾斜面は高い光反射率を示す。第2の磁極
端およびヨークを構築するときには、コーティングされ
た絶縁層の表面に厚いフォトレジスト層を回転塗布し、
従来のフォトリソグラフィ手法を使用して第2の磁極端
の形状に光パターン形成する。フォトリソグラフィ段階
では、不透明なマスクのスリットを通して光を垂直に導
き、後段の現像段階で除去するフォトレジストの露光領
域に当てる。除去する領域の1つは、めっきによって第
2の磁極片(磁極端およびヨーク)を形成する領域であ
る。残念ながら、フレア点が絶縁層の傾斜面上に位置す
る場合には、光が、ABSに向かって前方に反射され、
第2の磁極端領域の側面のフォトレジスト領域に照射さ
れる。現像後のフォトレジストの側壁にはノッチが見ら
れ、これによってめっき後に不完全に形成された磁極端
が残る。これは「反射ノッチング」と呼ばれ、回転ディ
スク上の隣接するトラックのオーバーライトにつなが
る。反射ノッチングは傾斜面の後方で起こるので、フレ
ア点をヘッド内の十分に奥まった位置に配置した場合に
は、反射ノッチングの影響が低減されるか、または排除
されることが明らかである。しかしこの解決策では、第
2の磁極端が長くなり、これによって記録媒体上に有効
に書き込むヘッドの能力が急激に減衰する。
【0008】前述の反射ノッチングの問題を克服するた
め、いくつかの第2の磁極片が2つ以上の層構成要素か
ら構築されている。すなわち、前部の層構成要素によっ
て第2の磁極端が形成され、後部の層構成要素によって
第2の磁極片のヨーク部分が形成される。反射ノッチン
グの問題を排除するため、第2の磁極端構成要素を、ゼ
ロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する絶縁層を構
築した後、その他の絶縁層を構築する前に構築してもよ
い。書込みギャップ層およびZTHを画定する絶縁層を
形成した後、フォトレジスト層を、部分的に完成したヘ
ッドの上に回転塗布する。フォトレジスト層は概ね平坦
であり、そのため、光パターン形成段階で光が前方の磁
極端領域中に反射されることがない。次いでフォトレジ
スト層の明確に形成された開口中に第2の磁極端構成要
素をフレームめっきし、その後、フォトレジスト層を除
去する。次いで、第1の絶縁層、コイル層、第2の絶縁
層、第3の絶縁層の順で構築する。次いで第2の磁極ヨ
ーク構成要素をフレームめっきし、これにより、これを
第2の磁極端構成要素の上面に縫合する。このプロセス
によって形成された書込みヘッドは、縫合書込みヘッド
と呼ばれる。
【0009】縫合書込みヘッドは、反射ノッチングの問
題を克服する一方で追加の問題を引き起こす。第2の磁
極端構成要素の上面には、それを第2の磁極ヨーク構成
要素に縫合するために十分に広い領域があることが必要
である。従来技術の縫合方法では、第2の磁極端構成要
素がより広い領域にわたって第1の磁極片層に近接する
ので、第2の磁極端構成要素と第1の磁極片層の間で追
加の漏れ磁束が生じる。さらに従来技術の縫合方法で
は、1つまたは複数のコイル層をヘッドのより後方の位
置に配置する必要があり、これにより書込みヘッド回路
の磁気抵抗が増大し、この磁気抵抗の増大によって、立
上り時間が増大し、信号のデータ転送率が低下する。さ
らに、第2の磁極端構成要素がABSまで延びると、第
2の磁極端構成要素と第1の磁極片層とがT字形構成を
形成する。ヘッドの動作中、磁束は、T字の水平部分か
らT字の直立部分へ並び、これによって隣接するトラッ
クのオーバーライトが引き起こされる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、1つ
または複数のコイル層をABSに近づけて、磁気抵抗を
最低限に抑え、書込みヘッド回路のデータ転送率を向上
させることができる縫合書込みヘッドを提供することに
ある。
【0011】他の目的は、第1の磁極片と第2の磁極片
の間の漏れ磁束が低減された縫合書込みヘッドを提供す
ることにある。
【0012】他の目的は、反射ノッチングが排除され、
データ転送率が向上し、第1の磁極片と第2の磁極片の
間の漏れ磁束が低減されたより効率的な書込みヘッドを
提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、第2の磁極端
構成要素の上面の縫合(stitch)領域を小さくすること
ができる類例のない縫合方式を提供する。これは、第2
の磁極ヨーク構成要素を、第2の磁極端構成要素のより
小さな面積の上面、ならびに第2の磁極端構成要素の後
端、第1の側端および第2の側端に縫合することによっ
て達成される。第2の磁極端構成要素の後端ならびに第
1および第2の側端と第2の磁極ヨーク構成要素の追加
の縫合によって、第2の磁極端構成要素と第2の磁極ヨ
ーク構成要素の間で磁束を伝達するのに必要な構成要素
間の磁気結合が得られる。この構成によって、上面の縫
合領域の長さが短くなり、これによって、1層または複
数層のコイル層をABSにより近い位置に配置すること
が可能となって、ヘッドのデータ転送率が向上する。さ
らにこの構成によって、第1の磁極片層に近接する部分
の第2の磁極片層の材料の量を減らすことができ、これ
らの層の間の漏れ磁束が最小限に抑えられる。
【0014】本発明の好ましい実施形態では、前述の絶
縁層とは別のZTH画定層によって第2の磁極端構成要
素を第1の磁極片層から分離し、これによって磁極片間
の漏れ磁束がさらに抑制される。第2の磁極端構成要素
のフレア点がZTH画定層の平坦部分の上に配置され、
反射ノッチングが防止されることが好ましい。他の好ま
しい実施形態では、絶縁スタックの絶縁層のうちの1層
が、第2の磁極端構成要素の後端、第1の側端および第
2の側端から間隔を置いて配置され、これによりU字形
のトレンチが形成され、この中に第2の磁極ヨーク構成
要素の前部が配置される。本発明を、単一または複式コ
イル層式、および挿入ZTH画定層式の書込みヘッド、
ならびに第1の磁極片が埋設されたタイプの書込みヘッ
ドに容易に適合させることができる。さらに、第2の磁
極端構成要素をABSから奥まった位置に下げ、これに
よってABSでの磁極端間の漏れ磁束を最小限に抑える
ことが好ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】磁気ディスク・ドライブ 次に図面を参照する。図面全体を通じて同じ参照符号は
同じまたは同種の部品を表す。図1ないし3に磁気ディ
スク・ドライブ30を示す。ドライブ30は、磁気ディ
スク34を支持しこれを回転させるスピンドル32を含
む。スピンドル32は、モータ制御装置38によって制
御されたモータ36によって回転する。結合型読取り/
書込み磁気ヘッド40はスライダ42の上に装着され、
スライダ42は、サスペンション44およびアクチュエ
ータ・アーム46によって支持される。大容量の直接ア
クセス記憶装置(DASD)では図3に示すように、複
数のディスク、スライダおよびサスペンションが使用さ
れることがある。サスペンション44およびアクチュエ
ータ・アーム46は、磁気ヘッド40が、磁気ディスク
34の表面と変換(transducing)関係となるようにス
ライダ42を配置する。ディスク34がモータ36によ
って回転しているとき、スライダは、ディスク34の表
面とエア・ベアリング面(ABS)48の間の空気の薄
い(一般に0.05μm)クッション(エア・ベアリン
グ)の上に支持される。磁気ヘッド40を使用して、デ
ィスク34の表面の複数の円形トラックに情報を書き込
んだり、そこから情報を読み取ったりすることができ
る。処理回路50は、このような情報を表す信号をヘッ
ド40と交換し、磁気ディスク34を回転させるモータ
・ドライブ信号を供給し、スライダをさまざまなトラッ
クに移動させる制御信号を供給する。図4に、サスペン
ション44に装着されたスライダ42を示す。以上に記
載した構成要素を図3に示すようにフレーム54の上に
装着してもよい。
【0016】図5は、スライダ42および磁気ヘッド4
0のABSを示す図である。スライダは、磁気ヘッド4
0を支持するセンター・レール56およびサイド・レー
ル58、60を有する。レール56、58、60はクロ
ス・レール62から延びる。磁気ディスク34の回転に
関して、クロス・レール62はスライダの前縁64に、
磁気ヘッド40はスライダの後縁66にある。
【0017】従来技術の組合せヘッド 図6は、MRまたはスピン・バルブ・センサ74を使用
した読取りヘッド部分72、および従来技術の書込みヘ
ッド部分70を有する組合せMRヘッドまたはスピン・
バルブ・ヘッド40の横断面立面図である。図7は、図
6のABSを示す図である。センサ74は、第1のギャ
ップ層76と第2のギャップ層78の間に位置し、ギャ
ップ層は、第1のシールド層80と第2のシールド層8
2の間に位置する。センサ74の抵抗は外部磁界に応答
して変化する。感知電流Isをセンサに流すことによっ
て、この抵抗変化が電位変化となって現れる。次いでこ
の電位変化はリードバック信号として、図3に示した処
理回路50によって処理される。
【0018】この組合せヘッドの従来技術の書込みヘッ
ド部分は、第1の絶縁層86と第2の絶縁層88の間に
位置するコイル層84を含む。コイル層84に起因する
第2の絶縁層の波状起伏を排除するために、ヘッドを平
坦化する第3の絶縁層90を使用してもよい。 第1、
第2および第3の絶縁層を合わせて当技術分野では「絶
縁スタック」と呼んでいる。コイル層84、第1、第2
および第3の絶縁層86、88、90は、第1の磁極片
層92と第2の磁極片層94の間に配置される。第1の
磁極片層92と第2の磁極片層94はバック・ギャップ
96のところで磁気的に結合されており、また、書込み
ギャップ層102によって分離された第1の磁極端98
および第2の磁極端100をABSのところに有する。
図2および4に示すように、第1および第2のはんだ接
続104、106が、センサ74からから延びるリード
をサスペンション44上のリード112、114に接続
し、第3および第4のはんだ接続116、118が、コ
イル84(図8参照)から延びるリード120、122
をサスペンション上のリード124、126に接続す
る。磁気ヘッドの敏感な部品を保護するため、図2、
4、6、7に示すような摩耗層128を使用してもよ
い。組合せヘッド50が、読取りヘッドの第2のシール
ド層としての機能および書込みヘッドの第1の磁極片層
としての機能の2つを果たす単一の層82/92を使用
していることに留意されたい。ピギーバック・ヘッド
は、これらの機能に対して別々の2つの層を使用する。
【0019】第2の磁極片層94は磁極端領域およびヨ
ーク領域を有する。これらの構成要素のマージングは、
ヘッドの奥に向かっていったときに第2の磁極片層94
がABSの後方で最初に広がり始める位置であるフレア
点によって画定される。第2の磁極端領域はABSから
フレア点までであり、ヨーク領域はフレア点からバック
・ギャップ96までである。
【0020】フレア点の位置は書込みヘッドの重要な設
計パラメータである。フレア点がヘッドのより奥まった
場所に位置するほど、磁極端は長くなり、これによって
磁気抵抗は増大し、コイル層84からの磁束に応答して
磁極端が飽和する可能性も大きくなる。第2の磁極端を
製作する製造上の問題から、過去には、フレア点の位置
をABSから10μm以内に配置することは困難であっ
た。
【0021】書込みヘッドの製作における他の重要な設
計パラメータは、第1の磁極片層92と第2の磁極片層
94とがABSの後方で最初に分離する場所であるゼロ
・スロート・ハイト(ZTH)の位置である。磁界がA
BSの書込みギャップ層102に到達する前に磁束が磁
極片間で損失する磁束損を減らすために、ZTHをAB
Sにできるだけ近づけて(一般に約1μm以内)配置す
ることが重要である。従来技術では、ZTHをABSの
近くに配置することが明確に画定された第2の磁極端を
製作する前述の課題に貢献している。
【0022】図9に、第2の磁極片94(図6参照)の
構築段階における図6の従来技術のヘッドを示す。図9
には、頂点136、138および140を終端とする傾
斜面130、132および134をそれぞれ有する第
1、第2および第3の絶縁層(I1、I2およびI3)
が示されている。先に述べたように第1、第2および第
3の絶縁層はハードベークしたフォトレジストである。
第2の磁極片層をフレームめっきするためにこれらの層
の上にシード層を付着させると、傾斜面130、132
および134の光に対する反射率は非常に高くなる。傾
斜面130、132および134は全て、第2の磁極片
94の第2の磁極端が形成される磁極端領域に面してい
る。第2の磁極片は、部分的に完成したヘッドの表面に
フォトレジスト層を回転塗布し、全体に平坦とすること
で形成される。フォトレジストの厚さは、磁極端領域で
12μmの厚さにすることもできるが、一般には第3の
絶縁層(I3)の上で約4.5μmである。
【0023】第2の磁極片94(図6参照)のフレア点
142は絶縁層の傾斜面の上に位置するので、光は、傾
斜面130、132および134(図9参照)からAB
Sに向かって前方に反射し、磁極端領域のフォトレジス
ト側壁領域に侵入して、フォトレジストのノッチングを
引き起こす。これによって、磁極端領域のフォトレジス
トの側壁がパターン形成に使用したマスクよりも広が
る。この現象は「反射ノッチング」と呼ばれる。第2の
磁極片のフォトレジスト・パターンを図9の144に示
す。これには、磁極端パターンおよびヨーク・パターン
が含まれる。これは「P2フレーム」と呼ばれる。絶縁
層の傾斜層からある入射角で反射した光によるフォトレ
ジストの反射ノッチングを図9の「A」および「B」に
示す。フォトレジストのフォトイメージング段階中に光
線「A」が下向きに導かれると、この光線は、第2の磁
極端の反射ノッチングを一切生じさせることなくある入
射角で磁極端領域中に反射される。しかし、フォトイメ
ージング・プロセスで光線「B」が、フレア点142の
後方の絶縁層の傾斜面から反射されると、光線は、目的
の磁極端の側面に沿ってある入射角でフォトレジスト中
に反射される。反射ノッチングを引き起こすのは光反射
Bおよび同様の光反射である。第2の磁極片94をめっ
きし、フォトレジスト層を除去すると、第2の磁極端1
00(図7参照)の形成は不完全であり、不規則な側壁
が見られる。
【0024】図10に、第2の磁極片152が、第2の
磁極端154および第2の磁極ヨーク構成要素156か
ら構築される点が図6に示した従来技術のヘッドと異な
る他の従来技術のヘッド150を示す。第2の磁極端構
成要素154は、第1の絶縁層158(ZTH画定層)
を形成した後にABSのところに構築され、その後に第
2および第3の絶縁層160、162ならびにコイル層
164が形成される。この構造では、第2の磁極端構成
要素154を形成するフォトリソグラフィ段階が、書込
みギャップ102および第1の絶縁層158の形成段階
の直後に実施される。この段階では、傾斜した絶縁層1
60、162がまだ形成されていないので表面はほぼ平
坦である。したがって、明確に画定された側壁を有する
第2の磁極端構成要素154を構築することができる。
第2の磁極端構成要素154を構築した後、コイル層1
64を第1の絶縁層の上に、第2の絶縁層160をコイ
ル層164および第1の絶縁層158の上に、第3の絶
縁層162を第2の絶縁層160の上にそれぞれ形成す
る。その後、フォトレジスト層(図示せず)をフォトイ
メージングし、ABSからバック・ギャップ(図示せ
ず)に至る第2の磁極ヨーク構成要素156を構築す
る。残念ながら、166の縫合領域の面積が大きいた
め、コイル層164をヘッドのさらに後方に配置するこ
とが必要となる。これにより、磁気抵抗が増大しヘッド
のデータ転送率が低下する。さらに、縫合領域が大きい
ために、第2の磁極端構成要素154と第1の磁極片層
168の間で漏れる磁束が増大する。図11のABS図
に、第2の磁極ヨーク構成要素156を示す。これは、
第1の構成要素154とともに、ABSのところで
「T」字形構成を有する第2の磁極端を構成する。残念
ながら図11の磁束線に示すように、前部磁極端154
と第2の磁極ヨーク156の間に磁束が並び、これによ
り、回転磁気ディスク上の隣接するトラックでオーバー
ライトが起きる。本発明は以上に述べた問題を克服す
る。
【0025】発明 図12に、本発明の多重縫合書込みヘッド部分を有する
組合せヘッド200の前部を示す。図12に示すとおり
第1の絶縁層202は、図10の実施形態150と同様
にヘッドのZTHを画定するが、絶縁スタックの第2お
よび第3の絶縁層204、206は書込みギャップ層2
08上で終端し、絶縁層204、206と第2の磁極端
構成要素212の後端210の間に空間が生じている。
図12および14に示すように、第2の磁極ヨーク構成
要素214は、第2の磁極端構成要素212の小面積の
上面部分216、後端210、第1の側端218、およ
び第2の側端220とかみ合う。後に詳細に説明する
が、書込み済みトラックの側方からの書込みを最小限に
抑えるため、第2の磁極ヨーク構成要素の前端222が
ABSから奥まった位置に配置されることが好ましい。
図12に示した本発明の磁気ヘッドによって、コイル層
224をABSにより近い位置に配置し、これによって
磁気抵抗を低下させ、書込みヘッド回路のデータ転送率
を高めることができる。上面216、後端210、第1
の側端218、および第2の側端220の縫合領域の設
計は、第2の磁極ヨーク構成要素214と第2の磁極端
構成要素212の間で磁束が十分に伝達されるようにな
されている。
【0026】縫合は、後端210、第1および第2の側
端218、220で実施されるので、上面領域216で
の縫合を、図10に示した従来技術の教示よりもはるか
に小さいものとすることができる。したがってこれによ
り、磁束を伝達するのに十分な縫合領域を得るために第
2の磁極端構成要素212をさらに奥まった位置にまで
延ばすことなく、第2の磁極ヨーク構成要素の前端22
2を奥まった位置に配置することができる。第2の磁極
ヨーク構成要素214を第2の磁極端構成要素212に
多重縫合する他の利点は、コイル224の前方の第1の
磁極片と第2の磁極片の間の漏れ磁束が減ることであ
る。これは、第1の磁極片層226に隣接する第2の磁
極片の量が減るためである。
【0027】図13は、図12のABSの図であり、第
2の磁極端構成要素212だけがABSに露出している
ことが分かる。絶縁層204、206およびコイル層2
24を含む絶縁スタックを、第2の磁極端構成要素21
2を構築する前に構築しても、後に構築してもよいこと
に留意されたい。好ましい実施形態では、絶縁層および
コイル層が第2の磁極端構成要素212を構築する前に
構築され、これによって、絶縁層およびコイル層を製作
する処理段階によって第2の磁極端構成要素212が改
変されることがない。図14に示すように第2の磁極ヨ
ーク構成要素214の前部の周囲にはオーバコート層2
28が置かれる。
【0028】図15ないし17に、第2の磁極端構成要
素302および第2の磁極ヨーク構成要素303を備え
た第2の磁極片を有する本発明の組合せ磁気ヘッドの他
の実施形態300を示す。この実施形態では第2の磁極
端構成要素302の後部が、絶縁スタックの第1の絶縁
層304の前部の上に構築される。絶縁層304は、ヘ
ッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する前
端306を有する。したがって第2の磁極端構成要素3
02は、第1の絶縁層304を構築してからフレームめ
っきによって構築される。図15および17に示すよう
に第2の磁極ヨーク構成要素303は、第2の磁極端構
成要素の上面308、後端310、第1の側端312お
よび第2の側端314に縫合される。後端310への縫
合は、第2および第3の絶縁層316、318を後端3
10から間隔を置いて配置することによって実施可能と
なる。好ましい実施形態では、第2の磁極ヨーク構成要
素303の前端320が図15および16に示すとお
り、ヘッドの内部の奥まった位置にフレア点(FP)か
らある距離を置いて配置される。先に述べたとおりフレ
ア点は、第2の磁極端構成要素が図16に示すように磁
極端部分322の後方で最初に広がり始める点である。
本発明の全ての実施形態では、フレア点(FP)がZT
Hよりも奥まった位置に置かれ、第2の磁極ヨーク構成
要素の前端320がフレア点よりも奥まった位置に置か
れることが好ましい。この実施形態では図17に示すよ
うに、第2の磁極ヨーク構成要素303の周囲にオーバ
コート層324が置かれる。
【0029】図18および19に、ABSとコイル層4
04の間に全体が位置したゼロ・スロート・ハイト(Z
TH)画定層402を使用した本発明の他の実施形態4
00を示す。ZTH画定層402は、ZTHをより正確
に画定するのみならず、第1の磁極片と第2の磁極片の
間の漏れ磁束を低減させる。第2の磁極片は、第2の磁
極端構成要素408に複数の場所で縫合された第2の磁
極ヨーク構成要素406を含む。図19に示すとおりZ
TH画定層402は、前端410および後端412を有
し、その間が平坦部分414となっている。ZTH画定
層402は、ハードベークしたフォトレジスト、または
2層のフォトレジスト層の上にスパッタリングすること
によって形成されたアルミナ(Al23)から構築する
ことができる。この材料は、第2の磁極端構成要素40
8と第1の磁極片層の間に優れた磁気絶縁を与え、これ
により漏れ磁束が最小限に抑えられる。
【0030】絶縁スタックは、アルミナの薄層からなる
第1の絶縁層416、ならびにベークしたフォトレジス
トからなる第2および第3の絶縁層417、418を含
む。層416の上にはコイル層420が配置される。第
2の層417または第3の層418、あるいはその両方
が、ZTH画定層402の後部傾斜部分を完全におおう
ことが好ましい。これによって、第2の磁極ヨーク構成
要素406を第2の磁極端構成要素408に縫合する際
に第2の磁極ヨーク構成要素406を第1の磁極片層4
19からさらに離して配置することができ、これによっ
て漏れ磁束が最小限に抑えれる。図19および20に示
すように第2の磁極ヨーク構成要素406は、第2の磁
極端構成要素408の上面422、後端424、第1の
側端426および第2の側端428に縫合される。フレ
ア点は、図19の仮想線430で示されている。好まし
い実施形態では、第2の磁極ヨーク構成要素406の前
端432がフレア点430よりも後方のヘッド内部に配
置される。フレア点430が、ZTH画定層の平坦部分
414の上に位置することに留意されたい。したがって
先に論じたように、第2の磁極端構成要素408を構築
する際に、光パターン形成段階中にZTH画定層402
から反射した光による反射ノッチングが起こらない。反
射ノッチングは、フレア点430が傾斜部分の上に位置
する場合にのみ生じる。
【0031】好ましい実施形態では書込みギャップ層4
34の延長部分433が絶縁スタックの上に配置され
る。ヘッドの構築では層416が当初、ABSまで延ば
される。次にコイル層420および絶縁層417、41
8が形成される。好ましい実施形態では層416の当初
436の前方に延びていた部分(図示せず)を除去し、
ギャップ層434およびその延長部分433を付着させ
る。こうすると、絶縁スタックおよびコイル層を製作す
る処理段階によってギャップ層434が改変されること
がない。層416の位置436よりも前方の部分が存在
する間は、絶縁スタックおよびコイル層の処理段階中、
ZTH画定層の前端410が保護されており、ヘッドの
ZTHが改変されないことに留意されたい。
【0032】図21に、本発明の多重縫合方式を使用し
た2層磁気ヘッド500を示す。図18に示した磁気ヘ
ッド400と同様に図21のヘッド500は、第2の磁
極端構成要素504の後部の下に配置されたZTH画定
層502を使用する。図22に示すようにZTH画定層
502は前端506および後端508を有し、その間が
平坦部分510となっている。絶縁スタックは、第1お
よび第2のコイル層512、514、ならびに第1、第
2、第3、第4および第5の絶縁層516、518、5
20、522、524を含む。第1の絶縁層516は書
込みギャップ層526と接する。第1のコイル層512
は第1の絶縁層516の上に直接に置かれ、絶縁層51
8、520が第1のコイル層512の上に置かれる。第
2のコイル層514は第3の絶縁層520の上に直接に
置かれ、第4および第5の絶縁層522、524によっ
て覆われる。第2、第3、第4および/または第5の絶
縁層がZTH画定層502の後部を覆い、その結果、Z
TH画定層の平坦部分510が絶縁スタックの前方に延
びる。第2の磁極片の第2の磁極端構成要素504がギ
ャップ層526の上に直接に配置され、フレア点526
がZTH画定層の平坦部分510の上に配置され、これ
により第2の磁極片の反射ノッチングが先に論じたとお
りに排除される。
【0033】絶縁スタックは、その前端とZTH画定層
の側端の間に空間を提供する。図22に示すとおり、第
2の磁極片の第2の磁極ヨーク構成要素530は、第2
の磁極端構成要素の上面532、第1の側端534およ
び第2の側端536(図23参照)とかみ合う。コイル
層512、514を有する絶縁スタックは、第2の磁極
端構成要素504を構築する前に構築しても後に構築し
てもよい。好ましい実施形態では、第2の磁極端構成要
素504が絶縁スタックを構築する前に構築される。絶
縁スタックを構築した後、ZTH画定層502と第2の
磁極端構成要素504の間に位置する第1の絶縁層51
6とともに共通層部分(図示せず)を除去し、アルミナ
のギャップ層526を形成する。
【0034】図24ないし27に、図27に示した従来
技術の2連コイル磁気ヘッド600を構築する一連の段
階を示す。図24では、第1および第2のコイル層60
4、606を含む絶縁スタック602を構築した後、フ
ォトレジスト層608をウェーハの上に回転塗布し光パ
ターン形成して、仮想線610で示すような開口を得
る。図25では、図24の開口610中に第2の磁極片
の第2の磁極端構成要素612をフレームめっきし、フ
ォトレジスト・フレーム608を除去して、図25に示
すような部分的に完成したヘッドを残す。次いで図26
で示すように、別のフォトレジスト・フレーム614を
ヘッドの上に回転塗布し光パターン形成して、第2の磁
極片の第2の磁極ヨーク構成要素618を構築するため
の開口616を得る。次いで開口616中に第2の層構
成要素618をフレームめっきし、フォトレジスト・フ
レーム614を除去して、図27に示すような部分的に
完成したヘッド600を残す。この実施形態では、絶縁
スタックが、第2の磁極端構成要素の後部または後端6
20をおおい、第2の磁極ヨーク構成要素618が後端
620とかみ合うことを妨げることに留意されたい。
【0035】図28ないし30に、図21に示した本発
明の2連コイル層磁気書込みヘッド500を構築する一
連の段階を示す。図28では、フォトレジスト層540
をヘッドの上に回転塗布し、光パターン形成して開口5
42を得る。図29ではすでに、図28の開口542の
中に第2の磁極片の第2の磁極端構成要素504がフレ
ームめっきされ、フォトレジスト・パターン540が除
去されており、これに、別のフォトレジスト層544を
ヘッドの上に回転塗布し、光パターン形成して開口54
6を得る。図29の開口546の中に第2の磁極ヨーク
構成要素530をフレームめっきし、次いでフォトレジ
スト・フレーム544を除去して、図30に示す部分的
に完成したヘッドを残す。この実施形態では、絶縁スタ
ック550が、第2の磁極端構成要素の後端528から
間隔を置いて配置され、図28のフォトレジスト・フレ
ーム540の開口542が、図23に示した第1および
第2の側端534、536から間隔を置いて配置され
る。したがってこれにより、第2の磁極端構成要素50
4の後端および側端の周囲に第2の磁極ヨーク構成要素
530を構成するためのトレンチが得られる。
【0036】図31に、従来技術の縫合構成を、ABS
とコイル層704の間に全体が配置されたZTH画定層
702とともに使用した部分的に完成した磁気ヘッドの
実施形態700を示す。この実施形態から、第2の磁極
片の第2の磁極端構成要素706と第2の磁極ヨーク構
成要素708の間の縫合領域が、これらの層と層の間の
必要な磁束伝達を得るために非常に大きくなっているこ
とが分かる。
【0037】図32では磁気ヘッド800の縫合構成が
本発明を使用することによって改良されている。これに
よれば第2の磁極ヨーク構成要素802が複数の面で第
2の磁極端構成要素804に縫合される。第2の磁極ヨ
ーク構成要素802は、はるかに小さな面積の上面80
6、後端808、第1の側端810および第2の側端8
12に縫合される。ZTH画定層は814で示されてい
る。
【0038】図33ないし36に、本発明の磁気ヘッド
の他の実施形態900を示す。この実施形態では、ZT
H画定層902およびその上の書込みギャップ層903
を構築した後、その上に細長い第2の磁極端構成要素9
04をフレームめっきによって構築する。コイル層90
5を構築した後、第2および第3の絶縁層906、90
8を構築する。第2の絶縁層906が、第2の磁極端構
成要素の後端910、第1の側端912および第2の側
端914から間隔を置いて配置されるように形成される
ことが好ましい。代わりに、コイル層905および絶縁
層906、908を構築した後に第2の磁極端構成要素
904を構築してもよい。この間隔によって、第2の磁
極端構成要素904の後部の周囲に、第2の磁極ヨーク
構成要素916の前部を配置するためのU字形のトレン
チが得られる。これについては後に論じる。図34に、
第2の絶縁層と第1および第2の側端912、914の
間に間隔のある構成を示す。図35では、図36に示す
ように前部がU字形のトレンチの中にある第2の磁極ヨ
ーク構成要素916が構築されている。絶縁スタックの
第2の絶縁層はフォトレジストから構築され、図36の
918、920に傾斜面を与える。これにより、第2の
磁極ヨーク構成要素916の前部の第1の磁極片に隣接
した部分の材料をその間の漏れ磁束を最小限に抑えるた
めにより少なくして、第2の磁極ヨーク構成要素の前部
と第1および第2の側端912、914の間の領域を全
体的に縫合することが可能となる。
【0039】図37に、ZTH画定層1002が第1の
磁極片層1004の凹部の中に挿入された本発明の他の
実施形態1000を示す。ZTH画定層は、ヘッドのZ
THを画定する前端1006を有する。ZTH層100
2は絶縁スタックの第1の絶縁層(I1)でもある。書
込みギャップ層1008はZTH画定層1002の上に
直接に置かれる。第2の磁極端構成要素1009は書込
みギャップ層1008の上に直接に置かれ、絶縁スタッ
ク1010は、第2の磁極端構成要素の後部または後端
1012から間隔を置いて配置される。第2の磁極ヨー
ク構成要素1014は先に論じたように、第2の磁極端
構成要素の上面1016、後端1012、第1の側端お
よび第2の側端とかみ合う。挿入されたZTH画定層1
002によって、第2の磁極片と第1の磁極片1004
の間の追加の絶縁が得られ、その間の漏れ磁束が最小限
に抑えれる。
【0040】図38に、第1の磁極片層1102がAB
Sからある距離のところでくぼみ、少なくとも1つのコ
イル層1106を有する絶縁スタック1104の少なく
とも1部分を配置するためのウェルが提供される本発明
の他の実施形態1100を示す。この実施形態は、その
後端1110が、絶縁スタック1104の前部から間隔
を置いて位置する第2の磁極端構成要素1108を有す
る。第2の磁極ヨーク構成要素1112がこの間隔に配
置され、第2の磁極端構成要素の後端1110、上面1
114、第1の側端および第2の側端とかみ合い、本発
明の多重縫合方式が実施される。図37の実施形態10
00で説明したのと同様に、ZTHは、前端1118に
ZTHを有する挿入絶縁層1116によって画定され
る。
【0041】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
【0042】(1)前部に位置するエア・ベアリング面
(ABS)、後部に位置するバック・ギャップ、上部、
および下部を有する磁気ヘッドにおいて、第1の磁極片
層、ならびに前部に位置する第2の磁極端構成要素およ
び後部に位置する第2の磁極ヨーク構成要素を有する第
2の磁極片層、ギャップ層、および複数の絶縁層および
これに組み込まれた少なくとも1層のコイル層を含む絶
縁スタックを含み、前記第1の磁極片層と前記第2の磁
極端構成要素が前記ギャップ層によって前記ABSのと
ころで分離されており、前記第1の磁極片層と前記第2
の磁極ヨーク構成要素が前記バック・ギャップのところ
で接続されており、前記絶縁スタックが、前記第1の磁
極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要素の間にはさまれ
ており、前記絶縁スタックが、前記第2の磁極端構成要
素と前記バック・ギャップの間に位置し、前記第2の磁
極端構成要素が、前端、後端、第1の側端、第2の側
端、上面および下面によって境されており、前記前端が
前記ABSのところに位置し、前記第2の磁極ヨーク構
成要素が、前記第2の磁極端構成要素の前記上面、前記
後端、前記第1の側端、および前記第2の側端とかみ合
った前部を有する磁気ヘッド。 (2)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記A
BSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位置
するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定層を含み、
前記ZTH画定層が前端および後端を有し、前記前端
が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が
ABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッ
ドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する上記
(1)に記載の磁気ヘッド。 (3)前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極端
構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する
広がった部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端
部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、
フレア点から後方に向かうにつれて次第に広がってい
き、前記第2の磁極ヨーク構成要素が、前記第2の磁極
端構成要素と前記フレア点の後方でかみ合う上記(2)
に記載の磁気ヘッド。 (4)前記フレア点が前記ZTHの後方に位置する上記
(3)に記載の磁気ヘッド。 (5)前記ZTH画定層がギャップ層の上にある上記
(3)に記載の磁気ヘッド。 (6)前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上にある上
記(3)に記載の磁気ヘッド。 (7)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定層
の前記後端および後部を覆っており、前記第2の磁極端
構成要素が前記ZTH画定層の前部を覆っている上記
(2)に記載の磁気ヘッド。 (8)前記少なくとも1層のコイル層が唯一のコイル層
である上記(7)に記載の磁気ヘッド。 (9)前記少なくとも1層のコイル層が2層のコイル層
である上記(7)に記載の磁気ヘッド。 (10)前記ZTH画定層が、その前端と後端の間に平
坦な面を有し、前記第2の磁極端構成要素が、前記第2
の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に
位置する広がった部分とに分割するフレア点を有し、前
記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった
部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広が
っていき、前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記Z
TH画定層の前記平坦な上面の上に位置し、前記第2の
磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成要素と前記
フレア点の後方でかみ合う上記(2)に記載の磁気ヘッ
ド。 (11)前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極
端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置す
る広がった部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極
端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分
が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広がって
いき、前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極
端構成要素と前記フレア点の後方でかみ合う上記(1
0)に記載の磁気ヘッド。 (12)前記フレア点が前記ZTHの後方に位置する上
記(10)に記載の磁気ヘッド。 (13)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定
層の前記後端および後部を覆っており、前記第2の磁極
端構成要素が前記ZTH画定層の前部を覆っている上記
(12)に記載の磁気ヘッド。 (14)前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上にある
上記(13)に記載の磁気ヘッド。 (15)前記少なくとも1層のコイル層が唯一のコイル
層である上記(14)に記載の磁気ヘッド。 (16)前記少なくとも1層のコイル層が2層のコイル
層である上記(14)に記載の磁気ヘッド。 (17)前記ギャップ層が、前記絶縁スタックの第1の
絶縁層でもある上記(13)に記載の磁気ヘッド。 (18)前記少なくとも1層のコイル層が唯一のコイル
層である上記(17)に記載の磁気ヘッド。 (19)前記少なくとも1層のコイル層が2層のコイル
層である上記(17)に記載の磁気ヘッド。 (20)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を置い
て位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字形
のトレンチが形成され、前記第2の磁極ヨーク構成要素
の前記前部が前記U字形のトレンチの中に位置する上記
(1)に記載の磁気ヘッド。 (21)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記
ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位
置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定層を含
み、前記ZTH画定層が前端および後端を有し、前記前
端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素
がABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘ
ッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する上
記(20)に記載の磁気ヘッド。 (22)前記ZTH画定層が、その前端と後端の間に平
坦な面を有し、前記第2の磁極端構成要素が、前記第2
の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に
位置する広がった部分とに分割するフレア点を有し、前
記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった
部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広が
っていき、前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記Z
TH画定層の前記平坦な上面の上に位置し、前記第2の
磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成要素と前記
フレア点の後方でかみ合う上記(21)に記載の磁気ヘ
ッド。 (23)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定
層の前記後端および後部を覆っており、前記第2の磁極
端構成要素が前記ZTH画定層の前部を覆っている上記
(22)に記載の磁気ヘッド。 (24)前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上にある
上記(23)に記載の磁気ヘッド。 (25)前記ギャップ層が、前記絶縁スタックの第1の
絶縁層でもある上記(24)に記載の磁気ヘッド。 (26)前記絶縁スタックが、第1、第2および第3の
絶縁層を少なくとも有し、前記第1の絶縁層が最下部に
位置する絶縁層である上記(25)に記載の磁気ヘッ
ド。 (27)前記絶縁スタックが、第1、第2および第3の
絶縁層を少なくとも有し、それぞれの絶縁層が前端を備
えた前部を有し、前記第2の磁極端構成要素の後部が、
前記第1の絶縁層の前記前部の上にあり、これにより、
前記第1の絶縁層の前記前端が、前記第2の磁極端構成
要素がABSの後方で前記第1の磁極片層から最初に分
離し始める位置であるゼロ・スロート・ハイト(ZT
H)を画定し、前記第2の絶縁層が、前記第2の磁極端
構成要素から間隔を置いて位置する上記(1)に記載の
磁気ヘッド。 (28)前記第1の磁極片層が、前記ABSからある間
隔を置いて位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)
位置に始まり、前記ZTH位置から前記ヘッドの内部に
後方へ延びる凹部を有し、前記凹部の中に位置し、前記
ZTH位置に前端を有し、前記第1の磁極片と前記第2
の磁極端構成要素がABSの後方で最初に分離し始める
位置である前記ヘッドのゼロ・スロート・ハイト(ZT
H)を画定するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
層を含む上記(1)に記載の磁気ヘッド。 (29)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を置い
て位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字形
のトレンチが形成され、前記第2の磁極ヨーク構成要素
の前記前部が前記U字形のトレンチの中に位置する上記
(28)に記載の磁気ヘッド。 (30)前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極
端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置す
る広がった部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極
端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分
が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広がって
いき、前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極
端構成要素と前記フレア点の後方でかみ合う上記(2
9)に記載の磁気ヘッド。 (31)前記第1の磁極片層が、前記ABSの後方に位
置する凹部を有し、前記絶縁スタックおよび前記少なく
とも1つのコイル層が前記凹部の中に位置する上記
(1)に記載の磁気ヘッド。 (32)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を置い
て位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字形
のトレンチが形成され、前記第2の磁極ヨーク構成要素
の前記前部が前記U字形のトレンチの中に位置する上記
(31)に記載の磁気ヘッド。 (33)前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極
端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置す
る広がった部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極
端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分
が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広がって
いき、前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極
端構成要素と前記フレア点の後方でかみ合う上記(3
2)に記載の磁気ヘッド。 (34)エア・ベアリング面(ABS)を有する組合せ
磁気ヘッドにおいて、書込みヘッド、および読取りヘッ
ドを含み、前記書込みヘッドが、第1の磁極片層、なら
びに第2の磁極端構成要素および第2の磁極ヨーク構成
要素を有する第2の磁極片層、ギャップ層、および複数
の絶縁層およびこれに組み込まれた少なくとも1層のコ
イル層を含む絶縁スタックを含み、前記第1の磁極片層
と前記第2の磁極端構成要素が前記ギャップ層によって
前記ABSのところで分離されており、前記第1の磁極
片層と前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記バック・ギ
ャップのところで接続されており、前記絶縁スタック
が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要
素の間にはさまれており、前記絶縁スタックが、前記第
2の磁極端構成要素と前記バック・ギャップの間に位置
し、前記第2の磁極端構成要素が、前端、後端、第1の
側端、第2の側端、上面および下面によって境されてお
り、前記前端が前記ABSのところに位置し、前記第2
の磁極ヨーク構成要素が、前記第2の磁極端構成要素の
前記上面、前記後端、前記第1の側端、および前記第2
の側端とかみ合った前部を有し、前記読取りヘッドが、
センサ、第1のギャップ層および第2のギャップ層、な
らびに第1および第2の強磁性シールド層を含み、前記
センサが、前記第1のギャップ層と前記第2のギャップ
層の間にはさまれており、前記第1および第2のギャッ
プ層が前記第1のシールド層と前記第2のシールド層の
間にはさまれており、前記第2のシールド層と前記第1
の磁極片層が共通の層である組合せ磁気ヘッド。 (35)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を置い
て位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字形
のトレンチが形成され、前記第2の磁極ヨーク構成要素
の前記前部が前記U字形のトレンチの中に位置する上記
(34)に記載の組合せ磁気ヘッド。 (36)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記
ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位
置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定絶縁層を
含み、前記ZTH画定絶縁層が前端および後端を有し、
前記前端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構
成要素がABSの後方で最初に分離し始める位置である
前記ヘッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定
する上記(35)に記載の組合せ磁気ヘッド。 (37)前記ZTH画定絶縁層が、その前端と後端の間
に平坦な面を有し、前記第2の磁極端構成要素が、前記
第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後
部に位置する広がった部分とに分割するフレア点を有
し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広
がった部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第
に広がっていき、前記フレア点が、前記ZTHの後方の
前記ZTH画定層の前記平坦な上面の上に位置し、前記
第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成要素
と前記フレア点の後方でかみ合う上記(36)に記載の
組合せ磁気ヘッド。 (38)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定
層の前記後端および後部を覆っており、前記第2の磁極
端構成要素が前記ZTH画定層の前部を覆っている上記
(37)に記載の組合せ磁気ヘッド。 (39)エア・ベアリング面(ABS)を有する少なく
とも1つの組合せ磁気ヘッドを含む磁気ディスク・ドラ
イブにおいて、前記組合せ磁気ヘッドが、書込みヘッド
部分、および読取りヘッド部分を含み、前記書込みヘッ
ド部分が、第1の磁極片層、ならびに第2の磁極端構成
要素および第2の磁極ヨーク構成要素を有する第2の磁
極片層、ギャップ層、および複数の絶縁層およびこれに
組み込まれた少なくとも1層のコイル層を含む絶縁スタ
ックを含み、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構
成要素が前記ギャップ層によって前記ABSのところで
分離されており、前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記
第1の磁極片層と前記バック・ギャップのところで接続
されており、前記絶縁スタックが、前記第1の磁極片層
と前記第2の磁極ヨーク構成要素の間にはさまれてお
り、前記絶縁スタックが、前記第2の磁極端構成要素と
前記バック・ギャップの間に位置し、前記第2の磁極端
構成要素が、前端、後端、第1の側端、第2の側端、上
面および下面によって境されており、前記前端が前記A
BSのところに位置し、前記第2の磁極ヨーク構成要素
が、前記第2の磁極端構成要素の前記上面、前記後端、
前記第1の側端、および前記第2の側端とかみ合った前
部を有し、前記読取りヘッド部分が、読取りセンサ、第
1のギャップ層および第2のギャップ層、ならびに第1
および第2の強磁性シールド層を含み、前記読取りセン
サが、前記第1のギャップ層と前記第2のギャップ層の
間にはさまれており、前記第1および第2のギャップ層
が前記第1のシールド層と前記第2のシールド層の間に
はさまれており、前記第2のシールド層と前記第1の磁
極片層が共通の層であり、前記磁気ディスク・ドライブ
がさらに、フレーム、前記フレームの上に回転自在に支
持された磁気ディスク、前記フレームの上に装着され、
組合せ磁気ヘッドを、前記磁気ディスクと変換関係に支
持する支持体、前記磁気ディスクを回転させる手段、前
記支持体に接続され、前記組合せ磁気ヘッドを、前記磁
気ディスクに対して複数の位置に移動させる位置決め手
段、および前記組合せ磁気ヘッド、磁気ディスクを回転
させる前記手段および前記位置決め手段に接続され、前
記組合せ磁気ヘッドと信号を交換し、前記磁気ディスク
の移動を制御し、前記組合せ磁気ヘッドの位置を制御す
る手段を含む磁気ディスク・ドライブ。 (40)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を置い
て位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字形
のトレンチが形成され、前記第2の磁極ヨーク構成要素
の前記前部が前記U字形のトレンチの中に位置する上記
(39)に記載の磁気ディスク・ドライブ。 (41)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記
ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位
置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定層を含
み、前記ZTH画定層が前端および後端を有し、前記前
端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素
がABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘ
ッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する上
記(40)に記載の磁気ディスク・ドライブ。 (42)前記ZTH画定層が、その前端と後端の間に平
坦な面を有し、前記第2の磁極端構成要素が、前記第2
の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に
位置する広がった部分とに分割するフレア点を有し、前
記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった
部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広が
っていき、前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記Z
TH画定層の前記平坦な上面の上に位置し、前記第2の
磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成要素と前記
フレア点の後方でかみ合う上記(41)に記載の磁気デ
ィスク・ドライブ。 (43)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定
層の前記後端および後部を覆っており、前記第2の磁極
端構成要素が前記ZTH画定層の前部を覆っている上記
(42)に記載の磁気ディスク・ドライブ。 (44)前部に位置するエア・ベアリング面(AB
S)、後部に位置するバック・ギャップ、上部、および
下部を有する磁気ヘッドを製作する方法において、第1
の磁極片層、ならびに第2の磁極端構成要素および第2
の磁極ヨーク構成要素を有する第2の磁極片層を形成す
る段階、ギャップ層を形成する段階、前記第1の磁極片
層と前記第2の磁極端構成要素を前記ギャップ層によっ
て前記ABSのところで分離し、前記第1の磁極片層と
前記第2の磁極ヨーク構成要素を前記バック・ギャップ
のところで接続する段階、複数の絶縁層およびこれに組
み込まれた少なくとも1層のコイル層を含む絶縁スタッ
クを、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成
要素の間、および前記第2の磁極端構成要素と前記バッ
ク・ギャップの間に形成する段階、後端、第1の側端、
第2の側端、上面、下面、および前記ABSのところに
位置する前端を有する前記第2の磁極端構成要素を形成
する段階、および前記第2の磁極端構成要素の前記上
面、前記後端、前記第1の側端、および前記第2の側端
とかみ合った前部を有する前記第2の磁極ヨーク構成要
素を形成する段階を含む方法。 (45)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記
ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位
置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定絶縁層を
形成する段階、および前端および後端を有し、前記前端
が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が
ABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッ
ドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する前記
ZTH画定絶縁層を形成する段階を含む上記(44)に
記載の方法。 (46)その前端と後端の間に平坦な上面を有する前記
ZTH画定層を形成する段階、前記第2の磁極端構成要
素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
点から後方に向かうにつれて次第に広がっていく前記第
2の磁極端構成要素を形成する段階、前記ZTHの後方
の前記ZTH画定層の前記平坦な上面の上に前記フレア
点を形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成要
素を前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方で
かみ合わせる段階を含む上記(45)に記載の方法。 (47)前記第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁
極端部分と後部に位置する広がった部分とに分割するフ
レア点を有し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有
し、前記広がった部分が、フレア点から後方に向かうに
つれて次第に広がっていく前記第2の磁極端構成要素を
形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成要素を
前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方でかみ
合わせる段階を含む上記(46)に記載の方法。 (48)前記フレア点が、前記ZTHの後方に形成され
る上記(47)に記載の方法。 (49)前記フレア点が、前記ZTHの後方に形成され
る上記(48)に記載の方法。 (50)前記ギャップ層が、前記ZTH画定絶縁層の上
に形成される上記(46)に記載の方法。 (51)前記少なくとも1つのコイル層が唯一のコイル
層として形成される上記(50)に記載の方法。 (52)前記少なくとも1つのコイル層が2層のコイル
層として形成される上記(50)に記載の方法。 (53)前記ギャップ層が、前記絶縁スタックの第1の
絶縁層としても形成される上記(49)に記載の方法。 (54)前記少なくとも1つのコイル層が唯一のコイル
層として形成される上記(53)に記載の方法。 (55)前記少なくとも1つのコイル層が2層のコイル
層として形成される上記(53)に記載の方法。 (56)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔を置
いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字
形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の磁極
ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチの中
に形成する段階を含む上記(44)に記載の方法。 (57)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記
ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位
置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定層を形成
する段階、および前端および後端を有し、前記前端が、
前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素がAB
Sの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッドの
ゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する前記ZT
H画定層を形成する段階を含む上記(56)に記載の方
法。 (58)その前端と後端の間に平坦な上面を有する前記
ZTH画定層を形成する段階、前記第2の磁極端構成要
素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
点から後方に向かうにつれて次第に広がっていく前記第
2の磁極端構成要素を形成する段階、前記ZTHの後方
の前記ZTH画定層の前記平坦な上面の上に前記フレア
点を形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成要
素を前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方で
かみ合わせる段階を含む上記(57)に記載の方法。 (59)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定
層の前記後端および後部を覆うように形成され、前記第
2の磁極端構成要素を前記ZTH画定層の前部を覆うよ
うに形成する段階を含む上記(58)に記載の方法。 (60)前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上に形成
される上記(59)に記載の方法。 (61)前記ギャップ層が、前記絶縁スタックの第1の
絶縁層としても形成される上記(60)に記載の方法。 (62)第1、第2および第3の絶縁層を少なくとも有
し、前記第1の絶縁層が最下部に位置する絶縁層である
前記絶縁スタックを形成する段階を含む上記(61)に
記載の方法。 (63)前記ABSからある間隔を置いて位置するゼロ
・スロート・ハイト(ZTH)位置に始まり、前記ZT
H位置から前記ヘッドの内部に後方へ延びる凹部を有す
る前記第1の磁極片層を形成する段階、および前記凹部
の中に位置し、前記ZTH位置に前端を有し、前記第1
の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素がABSの後方
で最初に分離し始める位置である前記ヘッドのゼロ・ス
ロート・ハイト(ZTH)を画定するゼロ・スロート・
ハイト(ZTH)画定層を形成する段階を含む上記(4
4)に記載の方法。 (64)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔を置
いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字
形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の磁極
ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチの中
に形成する段階を含む上記(63)に記載の方法。 (65)前記第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁
極端部分と後部に位置する広がった部分とに分割するフ
レア点を有し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有
し、前記広がった部分が、フレア点から後方に向かうに
つれて次第に広がっていく前記第2の磁極端構成要素を
形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成要素を
前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方でかみ
合わせる段階を含む上記(64)に記載の方法。 (66)前記ABSの後方に位置する凹部を有する前記
第1の磁極片層を形成する段階、および前記絶縁スタッ
クおよび前記少なくとも1つのコイル層を前記凹部の中
に形成する段階を含む上記(44)に記載の方法。 (67)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔を置
いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字
形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の磁極
ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチの中
に形成する段階を含む上記(66)に記載の方法。 (68)前記第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁
極端部分と後部に位置する広がった部分とに分割するフ
レア点を有し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有
し、前記広がった部分が、フレア点から後方に向かうに
つれて次第に広がっていく前記第2の磁極端構成要素を
形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成要素を
前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方でかみ
合わせる段階を含む上記(67)に記載の方法。 (69)エア・ベアリング面(ABS)を有する組合せ
磁気ヘッドを製作する方法において、読取りヘッド部分
を製作する段階、および書込みヘッド部分を製作する段
階を含み、前記読取りヘッド部分を製作する段階が、第
1および第2のギャップ層、ならびに前記第1のギャッ
プ層と前記第2のギャップ層の間にはさまれたセンサを
形成する段階、および前記第1および第2のギャップ層
を間にはさんで第1および第2の強磁性シールド層を形
成する段階を含み、前記書込みヘッド部分を製作する段
階が、第2のシールド層と共通の層である第1の磁極片
層、ならびに第2の磁極端構成要素および第2の磁極ヨ
ーク構成要素を有する第2の磁極片層を形成する段階、
ギャップ層を形成する段階、前記第1の磁極片層と前
記第2の磁極端構成要素を前記ギャップ層で前記ABS
のところで分離し、前記第1の磁極片層と前記第2の磁
極ヨーク構成要素を前記バック・ギャップのところで接
続する段階、複数の絶縁層およびこれに組み込まれた少
なくとも1層のコイル層を含む絶縁スタックを、前記第
1の磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要素の間、お
よび前記第2の磁極端構成要素と前記バック・ギャップ
の間に形成する段階、後端、第1の側端、第2の側端、
上面、下面、および前記ABSのところに位置する前端
を有する前記第2の磁極端構成要素を形成する段階、お
よび前記第2の磁極端構成要素の前記上面、前記後端、
前記第1の側端、および前記第2の側端とかみ合った前
部を有する前記第2の磁極ヨーク構成要素を形成する段
階を含む方法。 (70)前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの1層
を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第1の
側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔を置
いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU字
形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の磁極
ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチの中
に形成する段階を含む上記(69)に記載の方法。 (71)前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、前記
ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体が位
置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定絶縁層を
形成する段階、および前端および後端を有し、前記前端
が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が
ABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッ
ドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する前記
ZTH画定絶縁層を形成する段階を含む上記(70)に
記載の方法。 (72)その前端と後端の間に平坦な上面を有する前記
ZTH画定層を形成する段階、前記第2の磁極端構成要
素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
点から後方に向かうにつれて次第に広がっていく前記第
2の磁極端構成要素を形成する段階、前記ZTHの後方
の前記ZTH画定層の前記平坦な上面の上に前記フレア
点を形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成要
素を前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方で
かみ合わせる段階を含む上記(71)に記載の方法。 (73)前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH画定
層の前記後端および後部を覆うように形成され、前記第
2の磁極端構成要素を前記ZTH画定層の前部を覆うよ
うに形成する段階を含む上記(72)に記載の方法。
【図面の簡単な説明】
【図1】例示的な磁気ディスク・ドライブの平面図であ
る。
【図2】図1の平面2−2に沿って得られたスライダの
端面(後縁)図である。磁気ヘッドが隠線で示されてい
る。
【図3】複数のディスクおよび磁気ヘッドが使用された
図1の磁気ディスク・ドライブの立面図である。
【図4】スライダおよび磁気ヘッドを支持する例示的な
サスペンション・システムの等角図である。
【図5】図2の平面5−5に沿って得られた磁気ヘッド
のABSを示す図である。
【図6】図2の平面6−6で見たスライダおよび従来技
術の磁気ヘッドの部分図である。
【図7】従来技術の磁気ヘッドの読取りおよび書込み部
品を示す図6の平面7−7に沿って得られたスライダの
ABSの部分図である。
【図8】図6の平面8−8に沿って得られた図である。
第2の磁極片およびその上方の材料は全て取り除かれて
いる。
【図9】従来技術の第2の磁極片構築の一段階を示す等
角図である。レジスト・フレームの輪郭が、絶縁スタッ
クの第1、第2および第3の絶縁層の上に仮想線で示さ
れている。
【図10】従来技術の縫合書込みヘッド部分を有する組
合せ磁気ヘッドの縦断面図である。
【図11】図10の平面11−11に沿って得られたA
BSを示す図である。
【図12】多重縫合書込みヘッド部分を有する本発明の
磁気ヘッドの部分縦断面図である。
【図13】図12の平面13−13に沿って得られたA
BSの図である。
【図14】図12の平面14−14に沿って得られた断
面図である。
【図15】他の実施形態の多重縫合書込みヘッド部分を
有する組合せ磁気ヘッドの部分縦断面図である。
【図16】図15の平面16‐16に沿って得られた図
である。オーバコート層は除去されている。
【図17】図15の平面17−17に沿って得られた断
面図である。
【図18】他の実施形態の多重縫合書込みヘッド部分を
有する組合せMRヘッドの部分縦断面図である。
【図19】図18の前部の拡大図である。
【図20】読取りヘッド部分の追加層を有する図19の
平面20−20に沿って得られた断面図である。
【図21】本発明を使用した2連コイル組合せMRヘッ
ドの部分縦断面図である。
【図22】図21の前部の拡大図である。
【図23】図22の平面23−23に沿ってとった断面
図である。
【図24】単一領域縫合方式を用いた2連コイル磁気ヘ
ッドの構築の一段階を示す図である。絶縁スタック構築
後、フォトレジスト層を設け、パターニングするところ
を示す。
【図25】単一領域縫合方式を用いた2連コイル磁気ヘ
ッドの構築の一段階を示す図である。第2の磁極端を形
成したところを示す。
【図26】単一領域縫合方式を用いた2連コイル磁気ヘ
ッドの構築の一段階を示す図である。別のフォトレジス
ト層を設け、パターニングするところを示す。
【図27】単一領域縫合方式を用いた2連コイル磁気ヘ
ッドの構築の一段階を示す図である。第2の磁極ヨーク
を形成し、部分的に完成したヘッドを示す。
【図28】図21に示した本発明の2連コイル磁気ヘッ
ドの構築の一段階を示す図である。ZTH画定層及び絶
縁スタックを構築後、フォトレジスト層を設け、パター
ニングするところを示す。
【図29】図21に示した本発明の2連コイル磁気ヘッ
ドの構築の一段階を示す図である。第2の磁極端を形成
した後、別のフォトレジスト層と設け、パターニングす
るところを示す。
【図30】図21に示した本発明の2連コイル磁気ヘッ
ドの構築の一段階を示す図である。第2の磁極ヨークを
形成し、部分的に完成したヘッドを示す。
【図31】単一領域縫合磁気ヘッドの等角図である。
【図32】本発明の多重縫合磁気ヘッドの等角図であ
る。
【図33】絶縁スタックの1層の絶縁層が、第2の磁極
片のヨーク構成要素をめっきするためのトレンチを形成
する本発明の一実施形態の等角図である。
【図34】トレンチを詳細に示す、図33の第2の磁極
端構成要素および絶縁スタックの絶縁層の断面図であ
る。
【図35】第2の磁極ヨーク構成要素および第2の磁極
片が形成されている以外は図33と同じものを示す図で
ある。
【図36】第2の磁極端、第2の磁極ヨーク構成要素、
およびトレンチを形成する絶縁スタックの絶縁層を示す
図35の断面図である。
【図37】本発明を第1の磁極片に挿入されたZTH画
定層とともに使用した組合せMRヘッドの部分縦断面図
である。
【図38】本発明を、ZTH挿入層を有し、第1の磁極
片がくぼんだタイプのヘッドとともに使用した組合せM
Rヘッドの部分縦断面図である。

Claims (56)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】前部に位置するエア・ベアリング面(AB
    S)、後部に位置するバック・ギャップ、上部、および
    下部を有する磁気ヘッドにおいて、 第1の磁極片層、ならびに前部に位置する第2の磁極端
    構成要素および後部に位置する第2の磁極ヨーク構成要
    素を有する第2の磁極片層、 ギャップ層、および複数の絶縁層およびこれに組み込ま
    れた少なくとも1層のコイル層を含む絶縁スタックを含
    み、 前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が前記
    ギャップ層によって前記ABSのところで分離されてお
    り、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要
    素が前記バック・ギャップのところで接続されており、 前記絶縁スタックが、前記第1の磁極片層と前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の間にはさまれており、前記絶縁ス
    タックが、前記第2の磁極端構成要素と前記バック・ギ
    ャップの間に位置し、 前記第2の磁極端構成要素が、前端、後端、第1の側
    端、第2の側端、上面および下面によって境されてお
    り、前記前端が前記ABSのところに位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が、前記第2の磁極端構
    成要素の前記上面、前記後端、前記第1の側端、および
    前記第2の側端とかみ合った前部を有する磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】前記第1の磁極片層の上に直接に位置し、
    前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に全体
    が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定層を
    含み、 前記ZTH画定層が前端および後端を有し、前記前端
    が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が
    ABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッ
    ドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する請求
    項1に記載の磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の
    磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に位
    置する広がった部分とに分割するフレア点を有し、前記
    磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった部
    分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広がっ
    ていき、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が、前記第2の磁極端構
    成要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項2に記載
    の磁気ヘッド。
  4. 【請求項4】前記フレア点が前記ZTHの後方に位置す
    る請求項3に記載の磁気ヘッド。
  5. 【請求項5】前記ZTH画定層がギャップ層の上にある
    請求項3に記載の磁気ヘッド。
  6. 【請求項6】前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上に
    ある請求項3に記載の磁気ヘッド。
  7. 【請求項7】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZTH
    画定層の前記後端および後部を覆っており、 前記第2の磁極端構成要素が前記ZTH画定層の前部を
    覆っている請求項2に記載の磁気ヘッド。
  8. 【請求項8】前記ZTH画定層が、その前端と後端の間
    に平坦な面を有し、 前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極端構成要
    素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
    た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
    実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
    点から後方に向かうにつれて次第に広がっていき、 前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記ZTH画定層
    の前記平坦な上面の上に位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成
    要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項2に記載の
    磁気ヘッド。
  9. 【請求項9】前記フレア点が前記ZTHの後方に位置す
    る請求項8に記載の磁気ヘッド。
  10. 【請求項10】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZT
    H画定層の前記後端および後部を覆っており、 前記第2の磁極端構成要素が前記ZTH画定層の前部を
    覆っている請求項9に記載の磁気ヘッド。
  11. 【請求項11】前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上
    にある請求項10に記載の磁気ヘッド。
  12. 【請求項12】前記ギャップ層が、前記絶縁スタックの
    第1の絶縁層でもある請求項10に記載の磁気ヘッド。
  13. 【請求項13】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を
    置いて位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU
    字形のトレンチが形成され、 前記第2の磁極ヨーク構成要素の前記前部が前記U字形
    のトレンチの中に位置する請求項1に記載の磁気ヘッ
    ド。
  14. 【請求項14】前記第1の磁極片層の上に直接に位置
    し、前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に
    全体が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
    層を含み、 前記ZTH画定層が前端および後端を有し、前記前端
    が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が
    ABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッ
    ドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する請求
    項13に記載の磁気ヘッド。
  15. 【請求項15】前記ZTH画定層が、その前端と後端の
    間に平坦な面を有し、 前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極端構成要
    素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
    た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
    実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
    点から後方に向かうにつれて次第に広がっていき、 前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記ZTH画定層
    の前記平坦な上面の上に位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成
    要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項14に記載
    の磁気ヘッド。
  16. 【請求項16】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZT
    H画定層の前記後端および後部を覆っており、 前記第2の磁極端構成要素が前記ZTH画定層の前部を
    覆っている請求項15に記載の磁気ヘッド。
  17. 【請求項17】前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上
    にある請求項16に記載の磁気ヘッド。
  18. 【請求項18】前記ギャップ層が、前記絶縁スタックの
    第1の絶縁層でもある請求項17に記載の磁気ヘッド。
  19. 【請求項19】前記絶縁スタックが、第1、第2および
    第3の絶縁層を少なくとも有し、前記第1の絶縁層が最
    下部に位置する絶縁層である、請求項18に記載の磁気
    ヘッド。
  20. 【請求項20】前記絶縁スタックが、第1、第2および
    第3の絶縁層を少なくとも有し、それぞれの絶縁層が前
    端を備えた前部を有し、 前記第2の磁極端構成要素の後部が、前記第1の絶縁層
    の前記前部の上にあり、これにより、前記第1の絶縁層
    の前記前端が、前記第2の磁極端構成要素がABSの後
    方で前記第1の磁極片層から最初に分離し始める位置で
    あるゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定し、 前記第2の絶縁層が、前記第2の磁極端構成要素から間
    隔を置いて位置する請求項1に記載の磁気ヘッド。
  21. 【請求項21】前記第1の磁極片層が、前記ABSから
    ある間隔を置いて位置するゼロ・スロート・ハイト(Z
    TH)位置に始まり、前記ZTH位置から前記ヘッドの
    内部に後方へ延びる凹部を有し、 前記凹部の中に位置し、前記ZTH位置に前端を有し、
    前記第1の磁極片と前記第2の磁極端構成要素がABS
    の後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッドのゼ
    ロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定するゼロ・スロ
    ート・ハイト(ZTH)画定層を含む請求項1に記載の
    磁気ヘッド。
  22. 【請求項22】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を
    置いて位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU
    字形のトレンチが形成され、 前記第2の磁極ヨーク構成要素の前記前部が前記U字形
    のトレンチの中に位置する請求項21に記載の磁気ヘッ
    ド。
  23. 【請求項23】前記第2の磁極端構成要素が、前記第2
    の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に
    位置する広がった部分とに分割するフレア点を有し、前
    記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった
    部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広が
    っていき、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成
    要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項22に記載
    の磁気ヘッド。
  24. 【請求項24】前記第1の磁極片層が、前記ABSの後
    方に位置する凹部を有し、 前記絶縁スタックおよび前記少なくとも1つのコイル層
    が前記凹部の中に位置する請求項1に記載の磁気ヘッ
    ド。
  25. 【請求項25】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を
    置いて位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU
    字形のトレンチが形成され、 前記第2の磁極ヨーク構成要素の前記前部が前記U字形
    のトレンチの中に位置する請求項24に記載の磁気ヘッ
    ド。
  26. 【請求項26】前記第2の磁極端構成要素が、前記第2
    の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分と後部に
    位置する広がった部分とに分割するフレア点を有し、前
    記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記広がった
    部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次第に広が
    っていき、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成
    要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項25に記載
    の磁気ヘッド。
  27. 【請求項27】エア・ベアリング面(ABS)を有する
    組合せ磁気ヘッドにおいて、 書込みヘッド、および読取りヘッドを含み、 前記書込みヘッドが、 第1の磁極片層、ならびに第2の磁極端構成要素および
    第2の磁極ヨーク構成要素を有する第2の磁極片層、 ギャップ層、および複数の絶縁層およびこれに組み込ま
    れた少なくとも1層のコイル層を含む絶縁スタックを含
    み、 前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が前記
    ギャップ層によって前記ABSのところで分離されてお
    り、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要
    素が前記バック・ギャップのところで接続されており、 前記絶縁スタックが、前記第1の磁極片層と前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の間にはさまれており、前記絶縁ス
    タックが、前記第2の磁極端構成要素と前記バック・ギ
    ャップの間に位置し、 前記第2の磁極端構成要素が、前端、後端、第1の側
    端、第2の側端、上面および下面によって境されてお
    り、前記前端が前記ABSのところに位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が、前記第2の磁極端構
    成要素の前記上面、前記後端、前記第1の側端、および
    前記第2の側端とかみ合った前部を有し、 前記読取りヘッドが、 センサ、第1のギャップ層および第2のギャップ層、な
    らびに第1および第2の強磁性シールド層を含み、 前記センサが、前記第1のギャップ層と前記第2のギャ
    ップ層の間にはさまれており、 前記第1および第2のギャップ層が前記第1のシールド
    層と前記第2のシールド層の間にはさまれており、 前記第2のシールド層と前記第1の磁極片層が共通の層
    である組合せ磁気ヘッド。
  28. 【請求項28】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を
    置いて位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU
    字形のトレンチが形成され、 前記第2の磁極ヨーク構成要素の前記前部が前記U字形
    のトレンチの中に位置する請求項27に記載の組合せ磁
    気ヘッド。
  29. 【請求項29】前記第1の磁極片層の上に直接に位置
    し、前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に
    全体が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
    絶縁層を含み、 前記ZTH画定絶縁層が前端および後端を有し、前記前
    端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素
    がABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘ
    ッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する請
    求項28に記載の組合せ磁気ヘッド。
  30. 【請求項30】前記ZTH画定絶縁層が、その前端と後
    端の間に平坦な面を有し、 前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極端構成要
    素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
    た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
    実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
    点から後方に向かうにつれて次第に広がっていき、 前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記ZTH画定層
    の前記平坦な上面の上に位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成
    要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項29に記載
    の組合せ磁気ヘッド。
  31. 【請求項31】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZT
    H画定層の前記後端および後部を覆っており、 前記第2の磁極端構成要素が前記ZTH画定層の前部を
    覆っている請求項30に記載の組合せ磁気ヘッド。
  32. 【請求項32】エア・ベアリング面(ABS)を有する
    少なくとも1つの組合せ磁気ヘッドを含む磁気ディスク
    ・ドライブにおいて、 前記組合せ磁気ヘッドが、 書込みヘッド部分、および読取りヘッド部分を含み、 前記書込みヘッド部分が、 第1の磁極片層、ならびに第2の磁極端構成要素および
    第2の磁極ヨーク構成要素を有する第2の磁極片層、 ギャップ層、および複数の絶縁層およびこれに組み込ま
    れた少なくとも1層のコイル層を含む絶縁スタックを含
    み、 前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が前記
    ギャップ層によって前記ABSのところで分離されてお
    り、前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第1の磁極片
    層と前記バック・ギャップのところで接続されており、 前記絶縁スタックが、前記第1の磁極片層と前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の間にはさまれており、前記絶縁ス
    タックが、前記第2の磁極端構成要素と前記バック・ギ
    ャップの間に位置し、 前記第2の磁極端構成要素が、前端、後端、第1の側
    端、第2の側端、上面および下面によって境されてお
    り、前記前端が前記ABSのところに位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が、前記第2の磁極端構
    成要素の前記上面、前記後端、前記第1の側端、および
    前記第2の側端とかみ合った前部を有し、 前記読取りヘッド部分が、 読取りセンサ、第1のギャップ層および第2のギャップ
    層、ならびに第1および第2の強磁性シールド層を含
    み、 前記読取りセンサが、前記第1のギャップ層と前記第2
    のギャップ層の間にはさまれており、 前記第1および第2のギャップ層が前記第1のシールド
    層と前記第2のシールド層の間にはさまれており、 前記第2のシールド層と前記第1の磁極片層が共通の層
    であり、 前記磁気ディスク・ドライブがさらに、 フレーム、 前記フレームの上に回転自在に支持された磁気ディス
    ク、 前記フレームの上に装着され、組合せ磁気ヘッドを、前
    記磁気ディスクと変換関係に支持する支持体、 前記磁気ディスクを回転させる手段、 前記支持体に接続され、前記組合せ磁気ヘッドを、前記
    磁気ディスクに対して複数の位置に移動させる位置決め
    手段、および前記組合せ磁気ヘッド、磁気ディスクを回
    転させる前記手段および前記位置決め手段に接続され、
    前記組合せ磁気ヘッドと信号を交換し、前記磁気ディス
    クの移動を制御し、前記組合せ磁気ヘッドの位置を制御
    する手段を含む磁気ディスク・ドライブ。
  33. 【請求項33】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層が、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれから間隔を
    置いて位置し、前記第2の磁極端構成要素に隣接したU
    字形のトレンチが形成され、 前記第2の磁極ヨーク構成要素の前記前部が前記U字形
    のトレンチの中に位置する請求項32に記載の磁気ディ
    スク・ドライブ。
  34. 【請求項34】前記第1の磁極片層の上に直接に位置
    し、前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に
    全体が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
    層を含み、 前記ZTH画定層が前端および後端を有し、前記前端
    が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素が
    ABSの後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッ
    ドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する請求
    項33に記載の磁気ディスク・ドライブ。
  35. 【請求項35】前記ZTH画定層が、その前端と後端の
    間に平坦な面を有し、 前記第2の磁極端構成要素が、前記第2の磁極端構成要
    素を前部に位置する磁極端部分と後部に位置する広がっ
    た部分とに分割するフレア点を有し、前記磁極端部分が
    実質的に一定の幅を有し、前記広がった部分が、フレア
    点から後方に向かうにつれて次第に広がっていき、 前記フレア点が、前記ZTHの後方の前記ZTH画定層
    の前記平坦な上面の上に位置し、 前記第2の磁極ヨーク構成要素が前記第2の磁極端構成
    要素と前記フレア点の後方でかみ合う請求項34に記載
    の磁気ディスク・ドライブ。
  36. 【請求項36】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZT
    H画定層の前記後端および後部を覆っており、 前記第2の磁極端構成要素が前記ZTH画定層の前部を
    覆っている請求項35に記載の磁気ディスク・ドライ
    ブ。
  37. 【請求項37】前部に位置するエア・ベアリング面(A
    BS)、後部に位置するバック・ギャップ、上部、およ
    び下部を有する磁気ヘッドを製作する方法において、 第1の磁極片層、ならびに第2の磁極端構成要素および
    第2の磁極ヨーク構成要素を有する第2の磁極片層を形
    成する段階、 ギャップ層を形成する段階、 前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素を前記
    ギャップ層によって前記ABSのところで分離し、前記
    第1の磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要素を前記
    バック・ギャップのところで接続する段階、 複数の絶縁層およびこれに組み込まれた少なくとも1層
    のコイル層を含む絶縁スタックを、前記第1の磁極片層
    と前記第2の磁極ヨーク構成要素の間、および前記第2
    の磁極端構成要素と前記バック・ギャップの間に形成す
    る段階、 後端、第1の側端、第2の側端、上面、下面、および前
    記ABSのところに位置する前端を有する前記第2の磁
    極端構成要素を形成する段階、および前記第2の磁極端
    構成要素の前記上面、前記後端、前記第1の側端、およ
    び前記第2の側端とかみ合った前部を有する前記第2の
    磁極ヨーク構成要素を形成する段階を含む方法。
  38. 【請求項38】前記第1の磁極片層の上に直接に位置
    し、前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に
    全体が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
    絶縁層を形成する段階、および前端および後端を有し、
    前記前端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構
    成要素がABSの後方で最初に分離し始める位置である
    前記ヘッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定
    する前記ZTH画定絶縁層を形成する段階を含む請求項
    37に記載の方法。
  39. 【請求項39】その前端と後端の間に平坦な上面を有す
    る前記ZTH画定層を形成する段階、 前記第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分
    と後部に位置する広がった部分とに分割するフレア点を
    有し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記
    広がった部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次
    第に広がっていく前記第2の磁極端構成要素を形成する
    段階、 前記ZTHの後方の前記ZTH画定層の前記平坦な上面
    の上に前記フレア点を形成する段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素を前記第2の磁極端構成要素と前記
    フレア点の後方でかみ合わせる段階を含む請求項38に
    記載の方法。
  40. 【請求項40】前記ギャップ層が、前記ZTH画定絶縁
    層の上に形成される請求項39に記載の方法。
  41. 【請求項41】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔
    を置いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接した
    U字形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチ
    の中に形成する段階を含む請求項37に記載の方法。
  42. 【請求項42】前記第1の磁極片層の上に直接に位置
    し、前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に
    全体が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
    層を形成する段階、および前端および後端を有し、前記
    前端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要
    素がABSの後方で最初に分離し始める位置である前記
    ヘッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定する
    前記ZTH画定層を形成する段階を含む請求項41に記
    載の方法。
  43. 【請求項43】その前端と後端の間に平坦な上面を有す
    る前記ZTH画定層を形成する段階、 前記第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分
    と後部に位置する広がった部分とに分割するフレア点を
    有し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記
    広がった部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次
    第に広がっていく前記第2の磁極端構成要素を形成する
    段階、 前記ZTHの後方の前記ZTH画定層の前記平坦な上面
    の上に前記フレア点を形成する段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素を前記第2の磁極端構成要素と前記
    フレア点の後方でかみ合わせる段階を含む請求項42に
    記載の方法。
  44. 【請求項44】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZT
    H画定層の前記後端および後部を覆うように形成され、 前記第2の磁極端構成要素を前記ZTH画定層の前部を
    覆うように形成する段階を含む請求項43に記載の方
    法。
  45. 【請求項45】前記ギャップ層が前記ZTH画定層の上
    に形成される請求項44に記載の方法。
  46. 【請求項46】前記ABSからある間隔を置いて位置す
    るゼロ・スロート・ハイト(ZTH)位置に始まり、前
    記ZTH位置から前記ヘッドの内部に後方へ延びる凹部
    を有する前記第1の磁極片層を形成する段階、および前
    記凹部の中に位置し、前記ZTH位置に前端を有し、前
    記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素がABS
    の後方で最初に分離し始める位置である前記ヘッドのゼ
    ロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定するゼロ・スロ
    ート・ハイト(ZTH)画定層を形成する段階を含む請
    求項37に記載の方法。
  47. 【請求項47】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔
    を置いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接した
    U字形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチ
    の中に形成する段階を含む請求項46に記載の方法。
  48. 【請求項48】前記第2の磁極端構成要素を前部に位置
    する磁極端部分と後部に位置する広がった部分とに分割
    するフレア点を有し、前記磁極端部分が実質的に一定の
    幅を有し、前記広がった部分が、フレア点から後方に向
    かうにつれて次第に広がっていく前記第2の磁極端構成
    要素を形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成
    要素を前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方
    でかみ合わせる段階を含む請求項47に記載の方法。
  49. 【請求項49】前記ABSの後方に位置する凹部を有す
    る前記第1の磁極片層を形成する段階、および前記絶縁
    スタックおよび前記少なくとも1つのコイル層を前記凹
    部の中に形成する段階を含む請求項37に記載の方法。
  50. 【請求項50】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔
    を置いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接した
    U字形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチ
    の中に形成する段階を含む請求項49に記載の方法。
  51. 【請求項51】前記第2の磁極端構成要素を前部に位置
    する磁極端部分と後部に位置する広がった部分とに分割
    するフレア点を有し、前記磁極端部分が実質的に一定の
    幅を有し、前記広がった部分が、フレア点から後方に向
    かうにつれて次第に広がっていく前記第2の磁極端構成
    要素を形成する段階、および前記第2の磁極ヨーク構成
    要素を前記第2の磁極端構成要素と前記フレア点の後方
    でかみ合わせる段階を含む請求項50に記載の方法。
  52. 【請求項52】エア・ベアリング面(ABS)を有する
    組合せ磁気ヘッドを製作する方法において、 読取りヘッド部分を製作する段階、および書込みヘッド
    部分を製作する段階を含み、 前記読取りヘッド部分を製作する段階が、 第1および第2のギャップ層、ならびに前記第1のギャ
    ップ層と前記第2のギャップ層の間にはさまれたセンサ
    を形成する段階、および前記第1および第2のギャップ
    層を間にはさんで第1および第2の強磁性シールド層を
    形成する段階を含み、 前記書込みヘッド部分を製作する段階が、 第2のシールド層と共通の層である第1の磁極片層、な
    らびに第2の磁極端構成要素および第2の磁極ヨーク構
    成要素を有する第2の磁極片層を形成する段階、 ギャ
    ップ層を形成する段階、 前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構成要素を前記
    ギャップ層で前記ABSのところで分離し、前記第1の
    磁極片層と前記第2の磁極ヨーク構成要素を前記バック
    ・ギャップのところで接続する段階、 複数の絶縁層およびこれに組み込まれた少なくとも1層
    のコイル層を含む絶縁スタックを、前記第1の磁極片層
    と前記第2の磁極ヨーク構成要素の間、および前記第2
    の磁極端構成要素と前記バック・ギャップの間に形成す
    る段階、 後端、第1の側端、第2の側端、上面、下面、および前
    記ABSのところに位置する前端を有する前記第2の磁
    極端構成要素を形成する段階、および前記第2の磁極端
    構成要素の前記上面、前記後端、前記第1の側端、およ
    び前記第2の側端とかみ合った前部を有する前記第2の
    磁極ヨーク構成要素を形成する段階を含む方法。
  53. 【請求項53】前記絶縁スタックの前記絶縁層のうちの
    1層を、前記第2の磁極端構成要素の前記後端、前記第
    1の側端、および前記第2の側端のそれぞれに対し間隔
    を置いて形成し、前記第2の磁極端構成要素に隣接した
    U字形のトレンチを形成させる段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素の前記前部を前記U字形のトレンチ
    の中に形成する段階を含む請求項52に記載の方法。
  54. 【請求項54】前記第1の磁極片層の上に直接に位置
    し、前記ABSと前記少なくとも1層のコイル層の間に
    全体が位置するゼロ・スロート・ハイト(ZTH)画定
    絶縁層を形成する段階、および前端および後端を有し、
    前記前端が、前記第1の磁極片層と前記第2の磁極端構
    成要素がABSの後方で最初に分離し始める位置である
    前記ヘッドのゼロ・スロート・ハイト(ZTH)を画定
    する前記ZTH画定絶縁層を形成する段階を含む請求項
    53に記載の方法。
  55. 【請求項55】その前端と後端の間に平坦な上面を有す
    る前記ZTH画定層を形成する段階、 前記第2の磁極端構成要素を前部に位置する磁極端部分
    と後部に位置する広がった部分とに分割するフレア点を
    有し、前記磁極端部分が実質的に一定の幅を有し、前記
    広がった部分が、フレア点から後方に向かうにつれて次
    第に広がっていく前記第2の磁極端構成要素を形成する
    段階、 前記ZTHの後方の前記ZTH画定層の前記平坦な上面
    の上に前記フレア点を形成する段階、および前記第2の
    磁極ヨーク構成要素を前記第2の磁極端構成要素と前記
    フレア点の後方でかみ合わせる段階を含む請求項54に
    記載の方法。
  56. 【請求項56】前記絶縁スタックの一部分が、前記ZT
    H画定層の前記後端および後部を覆うように形成され、 前記第2の磁極端構成要素を前記ZTH画定層の前部を
    覆うように形成する段階を含む請求項55に記載の方
    法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6738222B2 (en) 2000-11-10 2004-05-18 Tdk Corporation Thin-film magnetic head and method of manufacturing same
US6850390B2 (en) 2000-11-10 2005-02-01 Tdk Corporation Thin-film magnetic head and method of manufacturing same
US6901651B2 (en) 2000-11-10 2005-06-07 Tdk Corporation Method of manufacturing thin-film magnetic head
US6922316B2 (en) 2000-11-10 2005-07-26 Tdk Corporation Thin-film magnetic head and method of manufacturing same
US7032295B2 (en) * 1998-11-12 2006-04-25 Tdk Corporation Method of manufacturing a thin-film magnetic head
US7379268B2 (en) 2000-11-10 2008-05-27 Tdk Corporation Thin-film magnetic head including non-magnetic layer for maintaining flatness of the top surface of pole portion layer

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6104576A (en) * 1998-04-10 2000-08-15 International Business Machines Corporation Inductive head with reduced height insulation stack due to partial coverage zero throat height defining insulation layer
US6130809A (en) * 1998-04-10 2000-10-10 International Business Machines Corporation Write head before read head constructed merged magnetic head with track width and zero throat height defined by first pole tip
US6134080A (en) * 1998-08-21 2000-10-17 International Business Machines Corporation Magnetic head with precisely defined zero throat height
JP3469473B2 (ja) * 1998-08-26 2003-11-25 Tdk株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3530064B2 (ja) * 1999-03-29 2004-05-24 Tdk株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッド用素材およびその製造方法
JP3526787B2 (ja) * 1999-06-25 2004-05-17 Tdk株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3455155B2 (ja) * 1999-06-28 2003-10-14 アルプス電気株式会社 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法
JP2001028107A (ja) * 1999-07-14 2001-01-30 Tdk Corp 薄膜磁気ヘッド、磁気ヘッド装置、磁気ディスク装置及び薄膜磁気ヘッドの製造方法
US6594122B1 (en) * 2000-01-11 2003-07-15 Seagate Technology Llc GMR head with reduced topology for high speed recording with submicron track width
US6631546B1 (en) * 2000-02-01 2003-10-14 International Business Machines Corporation Self-aligned void filling for mushroomed plating
US7023658B1 (en) * 2000-02-08 2006-04-04 Western Digital (Fremont), Inc. Submicron track-width pole-tips for electromagnetic transducers
JP2001256610A (ja) * 2000-03-09 2001-09-21 Alps Electric Co Ltd 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法
JP3854031B2 (ja) * 2000-03-09 2006-12-06 アルプス電気株式会社 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法
JP3883357B2 (ja) * 2000-03-22 2007-02-21 Tdk株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
US6430806B1 (en) * 2000-06-23 2002-08-13 Read-Rite Corporation Method for manufacturing an inductive write element employing bi-layer photoresist to define a thin high moment pole pedestal
JP3602038B2 (ja) * 2000-07-24 2004-12-15 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ 磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置
JP2002170208A (ja) * 2000-11-22 2002-06-14 Shinka Jitsugyo Kk 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3999469B2 (ja) * 2001-03-21 2007-10-31 Tdk株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
US7133253B1 (en) 2002-06-03 2006-11-07 Western Digital (Fremont), Inc. Pole tip with sides flared at media-facing surface
US6754050B2 (en) * 2002-06-14 2004-06-22 Seagate Technology Llc Shared pole design for reduced thermal pole tip protrusion
US7227719B2 (en) * 2003-01-24 2007-06-05 Headway Technologies, Inc. Thin film magnetic head and method of manufacturing the same
US7684150B2 (en) * 2003-07-09 2010-03-23 Seagate Technology Llc Recording head for reducing side track erasure
US7116518B2 (en) * 2003-08-01 2006-10-03 Headway Technologies, Inc. Short yoke length planar writer with low DC coil resistance
US7133255B2 (en) * 2003-08-27 2006-11-07 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. Magnetic head having magnetic pole with lengthened neck pole tip and coplanar yoke, and method of fabrication thereof
US7130153B2 (en) * 2003-09-29 2006-10-31 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Stitched write head with staircase P2 defined throat height
US7110217B2 (en) * 2003-10-15 2006-09-19 Hitachi Global Storage Technologies Write head design with improved bump to control write saturation
JP2005166176A (ja) * 2003-12-03 2005-06-23 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁気ディスク用磁気ヘッド
US7310204B1 (en) 2003-12-19 2007-12-18 Western Digital (Fremont), Llc Inductive writer design for using a soft magnetic pedestal having a high magnetic saturation layer
US7102852B2 (en) * 2004-02-11 2006-09-05 Headway Technologies, Inc. Yoke structure with a step
US7413845B2 (en) * 2004-04-23 2008-08-19 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Elimination of write head plating defects using high activation chemically amplified resist
US7394621B2 (en) * 2004-06-30 2008-07-01 Headway Technologies, Inc. Using bilayer lithography process to define neck height for PMR
US7417825B2 (en) * 2004-11-12 2008-08-26 Headway Technologies, Inc. Thin film magnetic head structure, adapted to manufacture a thin film magnetic head
US7804177B2 (en) * 2006-07-26 2010-09-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Silicon-based thin substrate and packaging schemes
US8108985B2 (en) * 2007-11-02 2012-02-07 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method for manufacturing a perpendicular magnetic write head
US8537494B1 (en) 2007-11-06 2013-09-17 Western Digital (Fremont), Llc PMR head with an angled stitch layer
US8077434B1 (en) 2007-11-19 2011-12-13 Western Digital (Fremont), Llc Perpendicular magnetic recording head having a recessed magnetic base layer
US7881010B2 (en) * 2007-12-13 2011-02-01 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Process for self-aligned flare point and shield throat definition prior to main pole patterning
US20110075299A1 (en) * 2009-09-30 2011-03-31 Olson Trevor W Magnetic write heads for hard disk drives and method of forming same
US8724258B2 (en) * 2009-09-30 2014-05-13 HGST Netherlands B.V. Slanted bump design for magnetic shields in perpendicular write heads and method of making same
US8449752B2 (en) * 2009-09-30 2013-05-28 HGST Netherlands B.V. Trailing plated step
US8947827B1 (en) 2013-07-24 2015-02-03 HGST Netherlands B.V. Stitched pole having a tapered tip

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5778613A (en) 1980-10-30 1982-05-17 Canon Inc Thin film magnetic head and its manufacture
US4589042A (en) 1983-06-27 1986-05-13 International Business Machines Corporation Composite thin film transducer head
US4839197A (en) 1988-04-13 1989-06-13 Storage Technology Corporation Process for fabricating thin film magnetic recording heads having precision control of the width tolerance of the upper pole tip
JPH0810485B2 (ja) 1989-03-20 1996-01-31 株式会社日立製作所 磁気ディスク装置及びこれに搭載する薄膜磁気ヘッドとその製造方法並びに情報の書込み・読出方法
US5282308A (en) 1992-12-29 1994-02-01 International Business Machines Corporation Thin film planarization process for fabricating magnetic heads employing a stitched pole structure
SG46191A1 (en) 1993-01-15 1998-02-20 Ibm Layered magnetic structure for use in a magnetic head
MY121538A (en) * 1993-04-30 2006-02-28 Victor Company Of Japan Thin film magnetic head
JP2784431B2 (ja) 1994-04-19 1998-08-06 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 薄膜磁気書込みヘッド、読取り/書込み磁気ヘッド、ディスク駆動装置及び薄膜磁気書込みヘッドの製造方法
US5805391A (en) * 1996-10-28 1998-09-08 International Business Machines Corporation Write head with recessed stitched yoke on a planar portion of an insulation layer defining zero throat height
US6104576A (en) * 1998-04-10 2000-08-15 International Business Machines Corporation Inductive head with reduced height insulation stack due to partial coverage zero throat height defining insulation layer

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7032295B2 (en) * 1998-11-12 2006-04-25 Tdk Corporation Method of manufacturing a thin-film magnetic head
US6738222B2 (en) 2000-11-10 2004-05-18 Tdk Corporation Thin-film magnetic head and method of manufacturing same
US6850390B2 (en) 2000-11-10 2005-02-01 Tdk Corporation Thin-film magnetic head and method of manufacturing same
US6901651B2 (en) 2000-11-10 2005-06-07 Tdk Corporation Method of manufacturing thin-film magnetic head
US6922316B2 (en) 2000-11-10 2005-07-26 Tdk Corporation Thin-film magnetic head and method of manufacturing same
US7379268B2 (en) 2000-11-10 2008-05-27 Tdk Corporation Thin-film magnetic head including non-magnetic layer for maintaining flatness of the top surface of pole portion layer

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