JPH10302219A - 薄膜磁気ヘッドおよび製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘッドおよび製造方法Info
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- JPH10302219A JPH10302219A JP9112635A JP11263597A JPH10302219A JP H10302219 A JPH10302219 A JP H10302219A JP 9112635 A JP9112635 A JP 9112635A JP 11263597 A JP11263597 A JP 11263597A JP H10302219 A JPH10302219 A JP H10302219A
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- magnetic yoke
- magnetic
- yoke layer
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
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- G11B5/3109—Details
- G11B5/3116—Shaping of layers, poles or gaps for improving the form of the electrical signal transduced, e.g. for shielding, contour effect, equalizing, side flux fringing, cross talk reduction between heads or between heads and information tracks
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- G11B5/3109—Details
- G11B5/313—Disposition of layers
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3163—Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers
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- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/4902—Electromagnet, transformer or inductor
- Y10T29/49021—Magnetic recording reproducing transducer [e.g., tape head, core, etc.]
- Y10T29/49032—Fabricating head structure or component thereof
- Y10T29/49048—Machining magnetic material [e.g., grinding, etching, polishing]
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 レジストマスクの分解能による制限を受ける
ことなく、狭いコア幅を有する磁気ヨーク層を形成する
ことが可能な新しい方法を提案すること。 【解決手段】 基板に斜面を有する溝を設け、第1磁気
ヨーク層の先端部が斜面を覆うように形成し、溝を埋め
るように埋め込み層を成膜した後で、第1磁気ヨーク層
の先端部の膜厚方向の断面が表面に露出するように平面
化加工し、その膜厚法の幅をコア幅とすることにより、
磁気ヨーク層の狭コア幅化を実現する。
ことなく、狭いコア幅を有する磁気ヨーク層を形成する
ことが可能な新しい方法を提案すること。 【解決手段】 基板に斜面を有する溝を設け、第1磁気
ヨーク層の先端部が斜面を覆うように形成し、溝を埋め
るように埋め込み層を成膜した後で、第1磁気ヨーク層
の先端部の膜厚方向の断面が表面に露出するように平面
化加工し、その膜厚法の幅をコア幅とすることにより、
磁気ヨーク層の狭コア幅化を実現する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
のトラック密度を向上させるために、従来よりもコア幅
を狭くすることが可能な薄膜磁気ヘッド、およびその製
造方法に関する。
のトラック密度を向上させるために、従来よりもコア幅
を狭くすることが可能な薄膜磁気ヘッド、およびその製
造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の磁気トランデューサーを図4、図
5に示す。図4は磁気ベッドスライダ31の斜視図であ
り、スライダ31のレール面(浮上面)32には薄膜磁
気ヘッド素子33の先端部が表出するように形成されて
いる。図5は薄膜磁気ヘッド素子33の部分の拡大図で
あり、図5中、(ア)は平面図、(イ)は(ア)のA−
A断面図、(ウ)は(ア)のB−B断面図である。
5に示す。図4は磁気ベッドスライダ31の斜視図であ
り、スライダ31のレール面(浮上面)32には薄膜磁
気ヘッド素子33の先端部が表出するように形成されて
いる。図5は薄膜磁気ヘッド素子33の部分の拡大図で
あり、図5中、(ア)は平面図、(イ)は(ア)のA−
A断面図、(ウ)は(ア)のB−B断面図である。
【0003】基板11上に、第1磁気ヨーク層14、ギ
ャップ層20、コイル層17、層間絶縁層18、第2ヨ
ーク層19を順次積層して形成し、その後図示しない外
部接続端子や加工保護膜などが形成され、第1および第
2磁気ヨーク層14,19の先端部(A−A部)の位置
で切断加工されて、薄膜磁気ヘッドとされる。先端部
(A−A部)の位置で切断加工された部分は、媒体面4
1(図5(ウ)に仮想線で示した)に対向する面に相当
し、浮上面42と呼ばれる。コア幅は、この浮上面に露
出した第1磁気ヨーク層14と第2磁気ヨーク層19の
重なりあった部分(ただし、間にギャップがあるが)の
幅Wで決定される。
ャップ層20、コイル層17、層間絶縁層18、第2ヨ
ーク層19を順次積層して形成し、その後図示しない外
部接続端子や加工保護膜などが形成され、第1および第
2磁気ヨーク層14,19の先端部(A−A部)の位置
で切断加工されて、薄膜磁気ヘッドとされる。先端部
(A−A部)の位置で切断加工された部分は、媒体面4
1(図5(ウ)に仮想線で示した)に対向する面に相当
し、浮上面42と呼ばれる。コア幅は、この浮上面に露
出した第1磁気ヨーク層14と第2磁気ヨーク層19の
重なりあった部分(ただし、間にギャップがあるが)の
幅Wで決定される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の磁
気トランデューサーの製造方法では、第1磁気ヨーク層
14と第2磁気ヨーク層19はレジストマスクを用いた
選択めっき法や、レジストマスクによるイオンミリング
法などでパターン形成しており、これらの工程において
コア幅の確定が行われている。
気トランデューサーの製造方法では、第1磁気ヨーク層
14と第2磁気ヨーク層19はレジストマスクを用いた
選択めっき法や、レジストマスクによるイオンミリング
法などでパターン形成しており、これらの工程において
コア幅の確定が行われている。
【0005】ここで、磁気ディスク装置のトラック密度
の向上のために、コア幅を狭くすることが要求される
が、磁気ヨーク層の膜厚(約2〜4μm )よりも狭い、
コア幅1μm 以下を実現することは、レジストの分解能
の制限などで非常に困難であった。本発明は、レジスト
マスクの分解能による制限を受けることなく、狭いコア
幅を有する磁気ヨーク層を形成することが可能な新しい
方法を提案することを目的とする。
の向上のために、コア幅を狭くすることが要求される
が、磁気ヨーク層の膜厚(約2〜4μm )よりも狭い、
コア幅1μm 以下を実現することは、レジストの分解能
の制限などで非常に困難であった。本発明は、レジスト
マスクの分解能による制限を受けることなく、狭いコア
幅を有する磁気ヨーク層を形成することが可能な新しい
方法を提案することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、基板(または基板上に形成した下地層)
に斜面を有する溝を設け、第1磁気ヨーク層の先端部が
斜面を覆うように形成し、溝を埋めるように埋め込み層
を成膜した後で、第1磁気ヨーク層の先端部の膜厚方向
の断面が表面に露出するように平面化加工し、その膜厚
法の幅をコア幅とすることにより、磁気ヨーク層の狭コ
ア幅化を実現するものである。
成するために、基板(または基板上に形成した下地層)
に斜面を有する溝を設け、第1磁気ヨーク層の先端部が
斜面を覆うように形成し、溝を埋めるように埋め込み層
を成膜した後で、第1磁気ヨーク層の先端部の膜厚方向
の断面が表面に露出するように平面化加工し、その膜厚
法の幅をコア幅とすることにより、磁気ヨーク層の狭コ
ア幅化を実現するものである。
【0007】こうして、本発明によれば、下記の薄膜磁
気ヘッドおよびその製造方法が提供される。 基板または基板上に形成した下地層上に、第1磁気
ヨーク層、磁気ギャップ層、コイル層、層間絶縁膜およ
び第2磁気ヨーク層を順次積層した磁気トランスデュー
サを構成する薄膜磁気ヘッドにおいて、基板または下地
層が第1磁気ヨーク層の厚さより深い溝を有し、該溝内
に第1磁気ヨーク層が形成され、該溝が第1磁気ヨーク
層の先端部にコア幅方向に傾斜した斜面を有し、第1磁
気ヨーク層の先端部が該斜面上に形成されてその端部が
基板または下地層表面まで延在し、第1磁気ヨーク層の
その端部は基板または下地層表面と同一平面を形成し、
該溝の残部は埋め込まれ、基板または下地層及び第1磁
気ヨーク層の前記端部の上に磁気ギャップ層を介して第
2磁気ヨーク層が形成され、よって第1および第2磁気
ヨーク層のコア幅が第1磁気ヨーク層の略膜厚方向の寸
法によって決定されていることを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッド。
気ヘッドおよびその製造方法が提供される。 基板または基板上に形成した下地層上に、第1磁気
ヨーク層、磁気ギャップ層、コイル層、層間絶縁膜およ
び第2磁気ヨーク層を順次積層した磁気トランスデュー
サを構成する薄膜磁気ヘッドにおいて、基板または下地
層が第1磁気ヨーク層の厚さより深い溝を有し、該溝内
に第1磁気ヨーク層が形成され、該溝が第1磁気ヨーク
層の先端部にコア幅方向に傾斜した斜面を有し、第1磁
気ヨーク層の先端部が該斜面上に形成されてその端部が
基板または下地層表面まで延在し、第1磁気ヨーク層の
その端部は基板または下地層表面と同一平面を形成し、
該溝の残部は埋め込まれ、基板または下地層及び第1磁
気ヨーク層の前記端部の上に磁気ギャップ層を介して第
2磁気ヨーク層が形成され、よって第1および第2磁気
ヨーク層のコア幅が第1磁気ヨーク層の略膜厚方向の寸
法によって決定されていることを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッド。
【0008】 基板または基板上に形成した下地層上
に、第1磁気ヨーク層、磁気ギャップ層、コイル層、層
間絶縁膜および第2磁気ヨーク層を順次積層した磁気ト
ランスデューサを構成する薄膜磁気ヘッドの製造方法に
おいて、基板または下地層(1)の第1磁気ヨーク層
(4)の先端形成予定部に、コア幅(w)方向に傾斜し
た斜面(2)を持つ溝(3)を設ける工程と、前記基板
または下地層(1)上に第1磁気ヨーク層(4)を形成
する工程と、前記溝を含む基板または下地層(1)上お
よび前記第1磁気ヨーク層(4)上に埋め込み層(5)
を形成する工程と、前記斜面(2)の途中まで、前記基
板または下地層(1)、前記第1磁気ヨーク層(4)お
よび前記埋め込み層(5)を平面化加工して、前記第1
磁気ヨーク層の厚さ方向断面を表面に露出させる工程
と、その上に磁気ギャップ層(10)、コイル層
(7)、層間絶縁層(8)および第2磁気ヨーク層
(9)を順次積層する工程を含み、よって前記第1およ
び第2磁気ヨーク層のコア幅(Cw)を、前記第1磁気
ヨーク層(4)の前記表面に露出した前記断面の幅
(w)とすることを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方
法。
に、第1磁気ヨーク層、磁気ギャップ層、コイル層、層
間絶縁膜および第2磁気ヨーク層を順次積層した磁気ト
ランスデューサを構成する薄膜磁気ヘッドの製造方法に
おいて、基板または下地層(1)の第1磁気ヨーク層
(4)の先端形成予定部に、コア幅(w)方向に傾斜し
た斜面(2)を持つ溝(3)を設ける工程と、前記基板
または下地層(1)上に第1磁気ヨーク層(4)を形成
する工程と、前記溝を含む基板または下地層(1)上お
よび前記第1磁気ヨーク層(4)上に埋め込み層(5)
を形成する工程と、前記斜面(2)の途中まで、前記基
板または下地層(1)、前記第1磁気ヨーク層(4)お
よび前記埋め込み層(5)を平面化加工して、前記第1
磁気ヨーク層の厚さ方向断面を表面に露出させる工程
と、その上に磁気ギャップ層(10)、コイル層
(7)、層間絶縁層(8)および第2磁気ヨーク層
(9)を順次積層する工程を含み、よって前記第1およ
び第2磁気ヨーク層のコア幅(Cw)を、前記第1磁気
ヨーク層(4)の前記表面に露出した前記断面の幅
(w)とすることを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方
法。
【0009】第1磁気ヨーク層の膜厚により、コア幅が
確定されるが、膜厚の制御は比較的容易であり、2μm
以下、さらには1μm 以下の狭いコア幅が容易に達成で
きる。
確定されるが、膜厚の制御は比較的容易であり、2μm
以下、さらには1μm 以下の狭いコア幅が容易に達成で
きる。
【0010】
【実施例】本発明の実施例を図面(図1〜図3)を参照
して説明する。図1〜3の各々において、(ア)は平面
図、(イ)は(ア)のA−A断面図である。図1を参照
すると、シリコンおよびAl2 O3 ・TiC(アルチッ
ク)などの基板1に約45°の斜面2を持つ溝3を形成
する。図中、斜面2の枠で囲まれた内部が溝(凹部)3
である。溝3の形状は、第1磁気ヨーク層4が溝3の内
部に納まるようにし、かつ第1磁気ヨーク層4の先端部
形成予定部には溝3の縁の斜面が来るようにする。溝3
の深さは、形成する第1磁気ヨーク層の膜厚より充分に
深くして、後で平面化加工しても第1磁気ヨーク層が損
傷しないようにする。第1磁気ヨーク層の膜厚は形成す
べきコア幅を考慮して決める。ここでは、平面化加工を
考慮して、溝の深さは例えば3μmとする。基板1に斜
面を持つ溝を形成することは例えばエッチング条件を選
択することによって可能である。例えばシリコン基板1
に斜面を持つ溝を形成するには、(100)面を有する
基板面をKOH(水酸化カリウム)溶液中でエッチング
する方法が知られている。レジストマスクで基板面の一
部を露出しKOHエッチングすればよい。このとき形成
される斜面は(111)面となり、斜面の角度は約55
°が得られる。また、アルチック基板の場合は、反応性
プラズマエッチングにより同様にエッチングすればよ
い。このとき用いるガス種はフッ素系ガスが一般的であ
る。斜面の角度の制御はガス圧、パワー等で行い、最適
な条件を選択して行なえば約45°の斜面を得る事がで
きる。
して説明する。図1〜3の各々において、(ア)は平面
図、(イ)は(ア)のA−A断面図である。図1を参照
すると、シリコンおよびAl2 O3 ・TiC(アルチッ
ク)などの基板1に約45°の斜面2を持つ溝3を形成
する。図中、斜面2の枠で囲まれた内部が溝(凹部)3
である。溝3の形状は、第1磁気ヨーク層4が溝3の内
部に納まるようにし、かつ第1磁気ヨーク層4の先端部
形成予定部には溝3の縁の斜面が来るようにする。溝3
の深さは、形成する第1磁気ヨーク層の膜厚より充分に
深くして、後で平面化加工しても第1磁気ヨーク層が損
傷しないようにする。第1磁気ヨーク層の膜厚は形成す
べきコア幅を考慮して決める。ここでは、平面化加工を
考慮して、溝の深さは例えば3μmとする。基板1に斜
面を持つ溝を形成することは例えばエッチング条件を選
択することによって可能である。例えばシリコン基板1
に斜面を持つ溝を形成するには、(100)面を有する
基板面をKOH(水酸化カリウム)溶液中でエッチング
する方法が知られている。レジストマスクで基板面の一
部を露出しKOHエッチングすればよい。このとき形成
される斜面は(111)面となり、斜面の角度は約55
°が得られる。また、アルチック基板の場合は、反応性
プラズマエッチングにより同様にエッチングすればよ
い。このとき用いるガス種はフッ素系ガスが一般的であ
る。斜面の角度の制御はガス圧、パワー等で行い、最適
な条件を選択して行なえば約45°の斜面を得る事がで
きる。
【0011】次いで、第1磁気ヨーク層4のパターンを
溝の内側に形成するが、このパターンはヘッドの先端部
(A−A部)に位置する溝3の斜面2を覆うように延び
ている。第1磁気ヨーク層4の材質はNiFe(パーマ
ロイ)、FeNなどの軟磁性材料が用いられ、スパッタ
法、めっき法などで成膜し、前記のようにレジストマス
クを用いた選択めっき法や、レジストマスクによるイオ
ンシリング法などでパターニングできる。その後、Al
2 O3 などの埋め込み層5を基板1全面に成膜する。成
膜法は特に限定されず、例えば、スパッタ法でよい。埋
め込み層5の材質は、平面化加工を容易にする非磁性層
であれば特に限定されない。埋め込み層5は溝3を完全
に埋める膜厚であればよいが、実際には基板表面上の第
1磁気ヨーク層4の頂部よりも上までの厚さで成膜し
て、平坦化加工を容易にする。
溝の内側に形成するが、このパターンはヘッドの先端部
(A−A部)に位置する溝3の斜面2を覆うように延び
ている。第1磁気ヨーク層4の材質はNiFe(パーマ
ロイ)、FeNなどの軟磁性材料が用いられ、スパッタ
法、めっき法などで成膜し、前記のようにレジストマス
クを用いた選択めっき法や、レジストマスクによるイオ
ンシリング法などでパターニングできる。その後、Al
2 O3 などの埋め込み層5を基板1全面に成膜する。成
膜法は特に限定されず、例えば、スパッタ法でよい。埋
め込み層5の材質は、平面化加工を容易にする非磁性層
であれば特に限定されない。埋め込み層5は溝3を完全
に埋める膜厚であればよいが、実際には基板表面上の第
1磁気ヨーク層4の頂部よりも上までの厚さで成膜し
て、平坦化加工を容易にする。
【0012】図2を参照すると、埋め込み層5の上から
平面化ラッピング加工Pして、基板1表面上の第1磁気
ヨーク層4を完全に除去し、さらに基板の一部を除去し
て、斜面2上にある第1磁気ヨーク層4の膜厚方向の横
断面6が表面に露出するようにする。図3を参照する
と、次いで、磁気ギャップ層10、コイル層7、層間絶
縁層8、第2磁気ヨーク層9を、慣用の方法で順次積層
する。第2磁気ヨーク層9もパターニングする。磁気ギ
ャップ層10は、例えば、Al2 O3 ,SiO2 などの
非磁性材料であればよく、膜厚としては例えば0.1〜
0.5μmが採用される。その後、コイル層7は例えば
Cuの選択めっきにより例えば0.1〜0.5μmの厚
さに形成する。層間絶縁層8は例えばレジストのハード
ベーク(250℃)で形成する。また、第2磁気ヨーク
層9は、例えば、NiFeの選択めっきにより、あるい
はFeNのスパッタリング、イオンミリングなどによ
り、例えば1〜5μmの膜厚に形成する。
平面化ラッピング加工Pして、基板1表面上の第1磁気
ヨーク層4を完全に除去し、さらに基板の一部を除去し
て、斜面2上にある第1磁気ヨーク層4の膜厚方向の横
断面6が表面に露出するようにする。図3を参照する
と、次いで、磁気ギャップ層10、コイル層7、層間絶
縁層8、第2磁気ヨーク層9を、慣用の方法で順次積層
する。第2磁気ヨーク層9もパターニングする。磁気ギ
ャップ層10は、例えば、Al2 O3 ,SiO2 などの
非磁性材料であればよく、膜厚としては例えば0.1〜
0.5μmが採用される。その後、コイル層7は例えば
Cuの選択めっきにより例えば0.1〜0.5μmの厚
さに形成する。層間絶縁層8は例えばレジストのハード
ベーク(250℃)で形成する。また、第2磁気ヨーク
層9は、例えば、NiFeの選択めっきにより、あるい
はFeNのスパッタリング、イオンミリングなどによ
り、例えば1〜5μmの膜厚に形成する。
【0013】ここで、図3(ア)のA−A断面を示す図
3(イ)におけるコア幅Cwは、図2(ア)(イ)で表
面に露出した第1磁気ヨーク層6の膜厚方向の幅wで確
定される。第1磁気ヨーク層4の平面(基板表面および
溝底面)に成膜される膜厚をtとすると、角度θの斜面
に成膜される第1磁気ヨーク層4の膜厚(斜面に垂直方
向)はtcosθであり、従って、平面化加工で表面に
露出する第1磁気ヨーク層6の膜厚方向の幅w(即ちC
w)はtcosθ/sinθで求められる。例えば、θ
が45°の斜面であれば、Cw=tとなり、第1磁気ヨ
ーク層6の幅w、即ち、ヨークのコア幅Cwは、第1磁
気ヨーク層4の膜厚tと略等しくなることがわかる。第
1磁気ヨーク層の膜厚は1μm以下でも十分に制御でき
るので、コア幅も1μm以下に制御できる。
3(イ)におけるコア幅Cwは、図2(ア)(イ)で表
面に露出した第1磁気ヨーク層6の膜厚方向の幅wで確
定される。第1磁気ヨーク層4の平面(基板表面および
溝底面)に成膜される膜厚をtとすると、角度θの斜面
に成膜される第1磁気ヨーク層4の膜厚(斜面に垂直方
向)はtcosθであり、従って、平面化加工で表面に
露出する第1磁気ヨーク層6の膜厚方向の幅w(即ちC
w)はtcosθ/sinθで求められる。例えば、θ
が45°の斜面であれば、Cw=tとなり、第1磁気ヨ
ーク層6の幅w、即ち、ヨークのコア幅Cwは、第1磁
気ヨーク層4の膜厚tと略等しくなることがわかる。第
1磁気ヨーク層の膜厚は1μm以下でも十分に制御でき
るので、コア幅も1μm以下に制御できる。
【0014】従って、斜面2の角度に依存するが、コア
幅Cwをほぼ第1磁気ヨーク層4の膜厚tに等しいオー
ダーで所望に制御して形成することができる。斜面の角
度としては20〜70°の範囲内が好ましい。この角度
範囲内であれば、コア幅Cwを所望に制御してかつ狭く
形成できるからである。
幅Cwをほぼ第1磁気ヨーク層4の膜厚tに等しいオー
ダーで所望に制御して形成することができる。斜面の角
度としては20〜70°の範囲内が好ましい。この角度
範囲内であれば、コア幅Cwを所望に制御してかつ狭く
形成できるからである。
【0015】コイルに電流を流したとき、第1、第2磁
気ヨーク層が磁化され、磁気ヨーク層の先端部のギャッ
プ層付近で媒体側に磁界が発生する。このとき、コア幅
に相当する幅で媒体面に記録情報が記録される。コア幅
が狭ければ、媒体面に多くの情報が記録できるので、記
録密度(厳密にはトラック密度であり、長さ1インチ当
たりのトラック数、いわゆるTPI)が向上する。な
お、上記の実施例ではインダクタ型磁気ヘッドを基板上
に直接形成する態様を説明したが、近時MRヘッド(磁
気抵抗型ヘッド)が用いられるようになり、MRヘッド
は読出し用なので、基板上にMR素子を形成し、その上
に書込み用として上記の如きインダクタヘッドを形成す
る態様もある。この場合、MR素子を形成後、その上に
非磁性かつ電気絶縁性の材料で平坦化下地層を形成し、
その上にインダクタヘッドを形成する。本発明はこのよ
うに基板上に下地層が形成され、その下地層に溝を形成
してその中に磁気ヨークを埋める態様も含むものであ
る。
気ヨーク層が磁化され、磁気ヨーク層の先端部のギャッ
プ層付近で媒体側に磁界が発生する。このとき、コア幅
に相当する幅で媒体面に記録情報が記録される。コア幅
が狭ければ、媒体面に多くの情報が記録できるので、記
録密度(厳密にはトラック密度であり、長さ1インチ当
たりのトラック数、いわゆるTPI)が向上する。な
お、上記の実施例ではインダクタ型磁気ヘッドを基板上
に直接形成する態様を説明したが、近時MRヘッド(磁
気抵抗型ヘッド)が用いられるようになり、MRヘッド
は読出し用なので、基板上にMR素子を形成し、その上
に書込み用として上記の如きインダクタヘッドを形成す
る態様もある。この場合、MR素子を形成後、その上に
非磁性かつ電気絶縁性の材料で平坦化下地層を形成し、
その上にインダクタヘッドを形成する。本発明はこのよ
うに基板上に下地層が形成され、その下地層に溝を形成
してその中に磁気ヨークを埋める態様も含むものであ
る。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、従来製造が困難であっ
た、狭いコア幅を有する磁気トランデューサを容易に製
造することが可能になり、高トラック密度の大容量磁気
ディスク装置が実現できる。
た、狭いコア幅を有する磁気トランデューサを容易に製
造することが可能になり、高トラック密度の大容量磁気
ディスク装置が実現できる。
【図1】実施例の磁気トランデューサの製造工程(平面
化加工前)を説明する工程図である。
化加工前)を説明する工程図である。
【図2】実施例の磁気トランデューサの製造工程(平面
化加工後)を説明する工程図である。
化加工後)を説明する工程図である。
【図3】実施例の磁気トランデューサ(完成工後)を説
明する図である。
明する図である。
【図4】従来例の薄膜磁気ヘッドを搭載したスライダの
斜視図である。
斜視図である。
【図5】従来例の薄膜磁気ヘッドを説明する図である。
1…基板 2…斜面 3…溝 4…第1磁気ヨーク層 5…埋め込み層 6…平面化加工で露出した第1磁気ヨーク層の厚さ方向
断面 7…コイル層 8…層間絶縁層 9…第2磁気ヨーク層 10…磁気ギャップ層 Cw…コア幅
断面 7…コイル層 8…層間絶縁層 9…第2磁気ヨーク層 10…磁気ギャップ層 Cw…コア幅
Claims (3)
- 【請求項1】 基板または基板上に形成した下地層上
に、第1磁気ヨーク層、磁気ギャップ層、コイル層、層
間絶縁膜および第2磁気ヨーク層を順次積層した磁気ト
ランスデューサを構成する薄膜磁気ヘッドにおいて、基
板または基板上に形成した下地層が第1磁気ヨーク層の
厚さより深い溝を有し、該溝内に第1磁気ヨーク層が形
成され、該溝が第1磁気ヨーク層の先端部にコア幅方向
に傾斜した斜面を有し、第1磁気ヨーク層の先端部が該
斜面上に形成されてその端部が基板または下地層表面ま
で延在し、第1磁気ヨーク層のその端部は基板または下
地層表面と同一平面を形成し、該溝の残部は埋め込ま
れ、基板及び第1磁気ヨーク層の前記端部の上に磁気ギ
ャップ層を介して第2磁気ヨーク層が形成され、よって
第1および第2磁気ヨーク層のコア幅が第1磁気ヨーク
層の略膜厚方向の寸法によって決定されていることを特
徴とする薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項2】 前記コア幅が1μm 以下である請求項1
記載の薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項3】 基板または基板上に形成された下地層上
に、第1磁気ヨーク層、磁気ギャップ層、コイル層、層
間絶縁膜および第2磁気ヨーク層を順次積層した磁気ト
ランスデューサを構成する薄膜磁気ヘッドの製造方法に
おいて、 基板または基板上に形成された下地層(1)の第1磁気
ヨーク層(4)の先端形成予定部に、コア幅(w)方向
に傾斜した斜面(2)を持つ溝(3)を設ける工程と、 前記基板または下地層(1)上に第1磁気ヨーク層
(4)を形成する工程と、 前記溝を含む基板または下地層(1)上および前記第1
磁気ヨーク層(4)上に埋め込み層(5)を形成する工
程と、 前記斜面(2)の途中まで、前記基板または下地層
(1)、前記第1磁気ヨーク層(4)および前記埋め込
み層(5)を平面化加工して、前記第1磁気ヨーク層の
厚さ方向断面を表面に露出させる工程と、 その上に磁気ギャップ層(10)、コイル層(7)、層
間絶縁層(8)および第2磁気ヨーク層(9)を順次積
層する工程を含み、よって前記第1および第2磁気ヨー
ク層のコア幅(Cw)を、前記第1磁気ヨーク層(4)
の前記表面に露出した前記断面の幅(w)とすることを
特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9112635A JPH10302219A (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | 薄膜磁気ヘッドおよび製造方法 |
US08/957,092 US5894389A (en) | 1997-04-30 | 1997-10-24 | Thin-film Magnetic head having a narrow core width and process for its production |
DE19748875A DE19748875C2 (de) | 1997-04-30 | 1997-11-06 | Dünnschicht-Magnetkopf und Verfahren zu dessen Herstellung |
KR1019970060996A KR100263805B1 (ko) | 1997-04-30 | 1997-11-19 | 박막 자기 헤드 및 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9112635A JPH10302219A (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | 薄膜磁気ヘッドおよび製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10302219A true JPH10302219A (ja) | 1998-11-13 |
Family
ID=14591669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP9112635A Withdrawn JPH10302219A (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | 薄膜磁気ヘッドおよび製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
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JP (1) | JPH10302219A (ja) |
KR (1) | KR100263805B1 (ja) |
DE (1) | DE19748875C2 (ja) |
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-
1997
- 1997-04-30 JP JP9112635A patent/JPH10302219A/ja not_active Withdrawn
- 1997-10-24 US US08/957,092 patent/US5894389A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-11-06 DE DE19748875A patent/DE19748875C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-11-19 KR KR1019970060996A patent/KR100263805B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
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DE19748875A1 (de) | 1998-11-12 |
KR19980079474A (ko) | 1998-11-25 |
KR100263805B1 (ko) | 2000-08-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040706 |