JP2000031446A - 固体カラ―イメ―ジ素子及びその製造方法 - Google Patents

固体カラ―イメ―ジ素子及びその製造方法

Info

Publication number
JP2000031446A
JP2000031446A JP11058852A JP5885299A JP2000031446A JP 2000031446 A JP2000031446 A JP 2000031446A JP 11058852 A JP11058852 A JP 11058852A JP 5885299 A JP5885299 A JP 5885299A JP 2000031446 A JP2000031446 A JP 2000031446A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
layer
solid
image device
color filter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11058852A
Other languages
English (en)
Inventor
Sang-Sik Kim
相植 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2000031446A publication Critical patent/JP2000031446A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14623Optical shielding

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 入射光の効率的な利用で画質を向上させ、レ
ンズの間、粒子が容易に除去できる固体カラーイメージ
素子及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 本発明の固体カラーイメージ素子は、要
素部分と伝送部分とを有する半導体基板100を含み、
前記要素部分は、入射光に反応して変化キャリアを発生
する複数の光反応要素102を含み、前記伝送部分は、
前記光反応要素102から発生されたキャリアを伝送す
るチャンネル領域の前記半導体基板100上に形成され
たゲート電極層110を含む。前記固体カラーイメージ
素子は、前記各光反応要素102に入射される光を集め
る集光レンズ120と該レンズ120間に入射される光
を前記各光反応要素102に分散させる光分散層122
とを含むレンズ層124と、該レンズ層124によって
集まった光がカラーフィルタリングされて各光反応要素
102に入射させる光透過層118を含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体カラーイメー
ジ素子(solid-state color imaging device)及びその
製造方法に関するものであり、より詳しくは画質を向上
させ、安定的な工程を行わせる固体カラーイメージ素子
及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】オン−チップ(on-chip)方式でCCD
カラーフィルタ(Charge Coupled Device colorfilte
r)を形成することによって、CCD素子の感度向上の
ため、素子の最上部に集光効率を向上させる集光レンズ
を形成して使用している。
【0003】集光レンズ108は、通常のフォトレジス
ト膜をサーマルフロー(thermal flow)によって凸レン
ズ形態の曲率(curvature)を有するように形成する。
これにより、単位画素(pixel)当たり入射表面積を広
げて感度増加効果を得るようになる。
【0004】図1は、従来の固体カラーイメージ素子の
構造を示す断面図である。
【0005】図1を参照すると、まず従来の固体カラー
イメージ素子は、光ダイオード4及びゲート電極層10
が形成された半導体基板2上に交互に形成された第1平
坦層12及びカラーフィルタアレー14を含む。ゲート
電極層10下部の半導体基板2内にCCD素子のチャン
ネル領域5が形成されている。カラーフィルタアレー1
4は、各々光ダイオード4、即ち画素に各々対応される
ように形成され、例えばレッドカラーフィルタ層R、グ
リーンカラーフィルタ層G、そしてブルーカラーフィル
タ層Bとを含む。
【0006】前記素子は、カラーフィルタアレー14を
含んで第1平坦層12上に形成された第2平坦層16を
含み、第2平坦層16上に各々の画素に対応されるよう
に形成された集光レンズ18を含む。集光レンズ18
は、モザイク(mosaic)形状の画素は位置によって楕円
形態の長方形(rectangular type)模様を有する。従っ
て、画素と画素との間に非活用部分が存在するようにな
る。
【0007】非活用部分に入射された光(参照番号2
0)は、乱反射されたり、隣接画素に入射され、各カラ
ーフィルタ層R、G、Bのエッジ部分から発生される不
均一なフィルタリングデータ(filtering data)を含む
ため、画質の低下を催すようになる。また、図1に図示
されたように集光レンズ18が凸な形態(convex typ
e)である場合、後続工程であるパッケージ(package)
工程において、素子切断(sawing)時、発生される粒子
(particle)がレンズ18とレンズ18との間に付着さ
れる。このような粒子が清浄で除去できなくて、欠陥
(defect)で作用するようになり、これは収率(yiel
d)に大きい影響を及ぼすようになる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の諸般
問題点を解決するため提案されたものとして、入射光の
効率的な利用で画質を向上させることができ、レンズの
間、粒子が容易に除去できる固体カラーイメージ素子及
びその製造方法を提供することがその目的である。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明によると、固体カラーイメージ素子は、要素
部分(element part)及び伝送部分(transfer part)
を有する半導体基板と、要素部分は、入射光に反応して
変化キャリア(change carriers)を発生させる半導体
基板内に形成された複数の光反応要素(light responsi
ve element)を含み、伝送部分は、光反応要素から発生
されたキャリアを伝送するチャンネル領域の半導体基板
上に形成されたゲート電極層を含み、各光反応要素に入
射される光を集める集光レンズ及びレンズとレンズとの
間に入射される光を各光反応要素に分散させる光分散層
(light dispersion layer)を含むレンズ層(lens lay
er)と、レンズ層によって集まった光がカラーフィルタ
リングされて各光反応要素に入射させる光透過層(ligh
t transmissive layer)を含む。
【0010】この装置の望ましい態様において、光反応
要素は、光ダイオードである。
【0011】この装置の望ましい態様において、集光レ
ンズは、凸レンズである。
【0012】この装置の望ましい態様において、集光レ
ンズ及び光分散層は、相異なる屈折率を有する。
【0013】この装置の望ましい態様において、光分散
層は、集光レンズより相対的に低い屈折率を有する。
【0014】この装置の望ましい態様において、集光レ
ンズは、約1.65〜1.7の屈折率を有し、光分散層
は、約1.45〜1.5の屈折率を有する。
【0015】この装置の望ましい態様において、光分散
層は、siloxane系列のSOG膜である。
【0016】この装置の望ましい態様において、光分散
層は、少なくともレンズとレンズとの間の領域を満たす
ように形成された。
【0017】この装置の望ましい態様において、光透過
層は、光反応要素及びゲート電極層を含んで半導体基板
上に形成された第1平坦層と、第1平坦層上に形成され
たカラーフィルタアレーと、カラーフィルタアレーを含
んで第1平坦層上に形成された第2平坦層を含む。
【0018】この装置の望ましい態様において、第1及
び第2平坦層は、絶縁膜である。
【0019】この装置の望ましい態様において、カラー
フィルタアレーは、各光反応要素に対応されるように形
成されたレッドカラーフィルタ層、グリーンカラーフィ
ルタ及びブルーカラーフィルタ層を含む。
【0020】上述の目的を達成するための本発明による
と、固体カラーイメージ素子の製造方法は、要素部分及
び伝送部分を有する半導体基板上に光透過層を形成する
段階と、要素部分は、入射光に反応して変化キャリアを
発生させる半導体基板内に形成された複数の光反応要素
を含み、伝送部分は、光反応要素から発生されたキャリ
アを伝送するチャンネル領域の半導体基板上に形成され
たゲート電極層を含み、光透過層上に各光反応要素に入
射される光を集めるレンズを形成するが、光透過層上に
各光反応要素に対応される複数の集光レンズを形成し、
集光レンズを含んで、光透過層上に少なくともレンズと
レンズとの間の領域が満たされるように光分散層を形成
する段階とを含む。
【0021】この装置の望ましい態様において、光反応
要素は、半導体基板上の不純物イオンを注入して形成さ
れた光ダイオードである。
【0022】この装置の望ましい態様において、光透過
層は、半導体基板上に第1平坦層を形成する段階と、第
1平坦層上にカラーフィルタアレーを形成する段階と、
カラーフィルタアレーを含んで第1平坦層上に第2平坦
層を形成する段階とを含む。
【0023】この装置の望ましい態様において、第1平
坦層及び第2平坦層は、絶縁膜である。
【0024】この装置の望ましい態様において、カラー
フィルタアレーは、各光反応要素に対応されるように形
成されたレッドカラーフィルタ層、グリーンカラーフィ
ルタ層及びブルーカラーフィルタ層を含む。
【0025】この装置の望ましい態様において、集光レ
ンズは、凸レンズである。
【0026】この装置の望ましい態様において、集光レ
ンズと光分散層は、相異なる屈折率を有する。
【0027】この装置の望ましい態様において、光分散
層は、集光レンズより相対的に低い屈折率を有する。
【0028】この装置の望ましい態様において、集光レ
ンズの屈折率は、約1.65〜1.7であり、光分散層
の屈折率は、1.45〜1.5である。
【0029】この装置の望ましい態様において、光分散
層は、siloxane系列のSOG膜で形成される。
【0030】この装置の望ましい態様において、光分散
層は、1.5〜2.5μmの厚さで形成される。
【0031】本発明の一態様による新規した固体カラー
イメージ素子及びその製造方法は、要素部分及び伝送部
分を有する半導体基板上に光透過層及びレンズ層を順序
に形成する。レンズ層は、要素部分に形成された各光反
応要素に入射される光を集める光レンズ及びレンズとレ
ンズとの間に入射される光を各光反応要素で分散させる
光分散層を含む。このような半導体装置及びその製造方
法によって、レンズとレンズとの間の領域をレンズの屈
折率より相対的に低い屈折率を有する物質で満たすこと
によって、外部からの入射光を各光ダイオードで殆ど1
00%集光させることができ、従って、感度を増加され
ることができ、結果的に画質を向上させることができ
る。また、後続工程であるチップの電気的な特性を検査
するEDS(Electric Die Sorting)及びパッケージ切
断(package sawing)工程から発生される粒子がレンズ
上に付着されてもこれを清浄工程によって容易に除去で
きる。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、図2及び図3〜図6を参照
して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
【0033】図2は、本発明の実施形態による固体カラ
ーイメージ素子の構造を示す断面図である。
【0034】図2を参照すると、本発明の実施形態によ
る固体カラーイメージ素子は、半導体基板100と、光
透過層(light transmissive layer)118と、レンズ
層(lens layer)124を含む。
【0035】半導体基板100は、要素部分(element
part)と伝送部分(transfer part)を有する。要素部
分は、入射光に反応して、変化キャリア(change carri
ers)を発生させるように半導体基板100内に形成さ
れた複数の光反応要素(light response element)10
2を含む。光反応要素102は、半導体基板100上
に、例えば不純物イオンを注入して形成された光ダイオ
ード(photo diode)102である。伝送部分は、光反
応要素102から発生されたキャリアを伝送するチャン
ネル領域(channel region)103を含み、またチャン
ネル領域103の半導体基板100上に形成されたゲー
ト電極層(gate electrode layer)110を含む。ゲー
ト電極層110は、チャンネル領域103の半導体基板
100上に形成されたゲート酸化膜106と各々CCD
ゲート電極で使用される第1ポリシリコン膜108a及
び第2ポリシリコン膜108bを含む。第1及び第2ポ
リシリコン膜108a,108bは、絶縁膜によって囲
まれるように形成される。ゲート電極層110上には、
光遮蔽膜(light shielding film)(図示せず)がもっ
と形成されている。
【0036】レンズ層124は、各光反応要素102に
入射される光を集める集光レンズ120及びレンズ12
0とレンズ120との間に入射される光(参照番号13
0)を各光反応要素102で分散させる光分散層(ligh
t dispersion layer)122を含む。集光レンズ120
は、ここで凸レンズである。集光レンズ120と光分散
層122は、相異なる屈折率を有する。ここでは、光分
散層122が集光レンズ120より相対的に低い屈折率
を有する。集光レンズ120は、約1.65〜1.7の
屈折率を有し、例えばフォトレジスト膜であり、光分散
層122は、1.45〜1.5の屈折率を有し、例えば
siloxane系列のSOG(Spin-On Glass)膜である。こ
のとき、光分散層122は、少なくともレンズ120と
レンズ120との領域を満たすように形成されている。
【0037】光透過層118は、レンズ層124によっ
て集まった光がカラーフィルタリングされて各光反応要
素102に入射されるようにする。光透過層118は、
第1平坦層112、カラーフィルタアレー114、そし
て第2平坦層116を含む。第1平坦層112は、ゲー
ト電極層110を含んで半導体基板100上に形成され
ている。カラーフィルタアレー114は、第1平坦層1
12上に形成されている。カラーフィルタアレー114
は、各光反応要素102に対応されるように形成された
レッドカラーフィルタ層R、グリーンカラーフィルタ層
G、そしてブルーカラーフィルタ層Bを含む。
【0038】第2平坦層116は、カラーフィルタアレ
ー114を含んで第1平坦層112上に形成されてい
る。第1及び第2平坦層112,116は絶縁膜、例え
ばSiO2及びポリマー(polymer)のうち、1つで形
成される。
【0039】上述のような固体カラ−イメージ素子は、
相対的に低い屈折率を有する光分散層122を使用して
レンズ120とレンズ120との間の領域に入射された
光(参照番号130)を分散させて各該当光反応要素1
02に入射させることによって、外部の入射光を殆ど1
00%活用できられる。
【0040】上述のような固体カラーイメージ素子の製
造方法は、次のようである。
【0041】図3を参照すると、本発明の実施形態によ
る固体カラーイメージ素子の製造方法は、まず、要素部
分(element)及び伝送部分(transfer part)を有する
半導体基板100上に光透過層118を形成する。
【0042】要素部分は、複数の光反応要素(light re
sponse element)102を含む。各光反応要素102
は、半導体基板100上に不純物イオンを注入して形成
された光ダイオード102として、入射光に反応して変
化キャリア(changecarriers)を発生させる。
【0043】伝送部分は、光反応要素102から発生さ
れたキャリアを伝送するチャンネル領域103を含み、
またチャンネル領域103の半導体基板100上に絶縁
膜によって囲まれるように形成されたゲート電極層11
0を含む。ゲート電極層110は、ゲート酸化膜106
上に順序に形成された第1ポリシリコン膜108a及
び、第2ポリシリコン膜108bを含む。第1及び第2
ポリシリコン膜108a,108bは、各々CCDゲー
ト電極で使用される。ゲート電極層110上部に光遮蔽
膜(図示せず)を形成する。
【0044】光透過層118形成工程は、まず、半導体
基板100上に第1平坦層112を形成する工程と、第
1平坦層112上にカラーフィルタアレー114を形成
する工程と、カラーフィルタアレー114を含んで第1
平坦層112上に第2平坦層116を形成する工程を含
む。第1平坦層112は、パッド11保護及びカラーフ
ィルタアレー114形成のため使用される。第2平坦層
116は、カラーフィルタアレー114の保護及び後続
工程に形成される集光レンズ120の焦点長さ(focal
length)調節のため使用される。第1及び第2平坦層1
12,116は絶縁膜、例えばSiO2とポリマーのう
ち、いずれ1つで形成される。カラーフィルタアレー1
14は、各光反応要素102に対応されるように形成さ
れたレッドカラーフィルタ層R、グリーンカラーフィル
ター層G、そしてブルーカラーフィルタ層Bを含む。
【0045】図4において、光透過層118上に各光反
応要素102に入射される光を集めるレンズ層124を
形成する。レンズ層124は、複数の集光レンズ120
及び光分散層122を含む。集光レンズ120は、第2
平坦層116上に各光反応要素102に対応されるよう
に形成される。集光レンズ120は、ここでは、凸レン
ズ(convex lens)として、この分野で通常的に使用す
るフォトレジスト膜を使用して形成される。このとき、
レンズ120とレンズ120との間は、サブマイクロン
(sub-micron)程度の間隙を有するように形成される。
【0046】光分散層122は、集光レンズ120を含
んで光透過層118である第2平坦層116上に少なく
ともレンズ120とレンズ120との間の領域が満たさ
れるように、即ちレンズ120とレンズ120との間の
段差がないように形成される。光分散層122は、約
1.5〜2.5μm程度の厚さを有するように形成され
る。光分散層122は、レンズ120と相異なる屈折
率、即ち光分散層122がレンズ120に対して相対的
に低い屈折率を有する物質で形成される。レンズ120
は、約1.65〜1.7程度の屈折率を有し、光分散層
122は、約1.45〜1.5範囲内の屈折率を有す
る。より望ましく、光分散層122は、屈折率1.45
であるsiloxane系列のSOGで形成される。
【0047】図5を参照すると、レンズ層124上にパ
ッド111を露出させるためのマスク層126を形成す
る。マスク層126は、プラズマに耐エッチング性のあ
る物質、例えば、フォトレジスト膜で形成する。
【0048】最後に、マスク層126を使用して光分散
層122、第2平坦層116、そして第1平坦層112
をプラズマでエッチングした後、マスク層126を除去
すると、図6に図示されたようにパッド11が露出され
た固体カラーイメージ素子が完成される。
【0049】
【発明の効果】本発明は、従来の固体カラーイメージ素
子がレンズとレンズとの間の領域に入射される光の乱反
射及び隣接画素で入射される問題点とカラーフィルタ層
のエッジ部分から発生される不均一なフィルタリングデ
ータを有させる問題点と、後続工程であるEDS及びパ
ッケージ切断工程で発生される粒子がレンズとレンズと
の間に付着されて欠陥を発生させる問題点を解決したも
のである。
【0050】即ち、レンズとレンズとの領域をレンズの
屈折率より相対的に低い屈折率を有する物質で満たされ
ることによって、外部からの入射光を殆ど100%集光
させることができ、従って、感度を増加させることがで
き、結果的に画質を向上させることができる効果があ
る。
【0051】また、後続工程であるEDS及びパッケー
ジ切断工程で発生される粒子がレンズ上に付着されても
これを清浄工程によって容易に除去できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の固体カラーイメージ素子の構造を示す
断面図である。
【図2】 本発明の実施形態による固体カラーイメージ
素子の構造を示す断面図である。
【図3】 本発明の実施形態による固体カラーイメージ
素子の製造方法を示す断面図である。
【図4】 図3と同様の図である。
【図5】 図3と同様の図である。
【図6】 図3と同様の図である。
【符号の説明】
2,100 半導体基板 4,102 光ダイオード 5,103 チャンネル領域 6,106 ゲート酸化膜 8a,108a 第1ポリシリコン膜 8b,108b 第2ポリシリコン膜 10,110 ゲート電極層 12,112 第1平坦層 13,111 パッド 14,114 カラーフィルタアレー 16,116 第2平坦層 18,120 集光レンズ 118 光透過層 122 光分散層 124 レンズ層 126 マスク層

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 要素部分及び伝送部分を有する半導体基
    板と、 前記要素部分は、入射光に反応して変化キャリアを発生
    させる半導体基板内に形成された複数の光反応要素を含
    み、前記伝送部分は、光反応要素から発生されたキャリ
    アを伝送するチャンネル領域の半導体基板上に形成され
    たゲート電極層を含み、 前記各光反応要素に入射される光を集める集光レンズ及
    び前記レンズとレンズとの間に入射される光を前記各光
    反応要素に分散させる光分散層を含むレンズ層と、 前記レンズ層によって集まった光がカラーフィルタリン
    グされて各光反応要素に入射させる光透過層とを含むこ
    とを特徴とする固体カラーイメージ素子。
  2. 【請求項2】 前記光反応要素は、光ダイオードである
    ことを特徴とする請求項1に記載の固体カラーイメージ
    素子。
  3. 【請求項3】 前記集光レンズは、凸レンズであること
    を特徴とする請求項1に記載の固体カラーイメージ素
    子。
  4. 【請求項4】 前記集光レンズ及び光分散層は、相異な
    る屈折率を有することを特徴とする請求項1に記載の固
    体カラーイメージ素子。
  5. 【請求項5】 前記光分散層は、前記集光レンズより相
    対的に低い屈折率を有することを特徴とする請求項1に
    記載の固体カラーイメージ素子。
  6. 【請求項6】 前記集光レンズは、約1.65〜1.7
    の屈折率を有し、前記光分散層は、約1.45〜1.5
    の屈折率を有することを特徴とする請求項5に記載の固
    体カラーイメージ素子。
  7. 【請求項7】 前記光分散層は、siloxane系列のSOG
    膜であることを特徴とする請求項1に記載の固体カラー
    イメージ素子。
  8. 【請求項8】 前記光分散層は、少なくとも前記レンズ
    とレンズとの間の領域を満たすように形成されたことを
    特徴とする請求項5に記載の固体カラーイメージ素子。
  9. 【請求項9】 前記光透過層は、前記光反応要素及びゲ
    ート電極層を含んで半導体基板上に形成された第1平坦
    層と、 前記第1平坦層上に形成されたカラーフィルタアレー
    と、 前記カラーフィルタアレーを含んで第1平坦層上に形成
    された第2平坦層を含むことを特徴とする請求項1に記
    載の固体カラーイメージ素子。
  10. 【請求項10】 前記第1及び第2平坦層は、絶縁膜で
    あることを特徴とする請求項9に記載の固体カラーイメ
    ージ素子。
  11. 【請求項11】 前記カラーフィルタアレーは、前記各
    光反応要素に対応されるように形成されたレッドカラー
    フィルタ層、グリーンカラーフィルタ及びブルーカラー
    フィルタ層を含むことを特徴とする請求項9に記載の固
    体カラーイメージ素子。
  12. 【請求項12】 要素部分及び伝送部分を有する半導体
    基板上に光透過層を形成する段階と、 前記要素部分は、入射光に反応して変化キャリアを発生
    させる前記半導体基板内に形成された複数の光反応要素
    を含み、前記伝送部分は、前記光反応要素から発生され
    たキャリアを伝送するチャンネル領域の半導体基板上に
    形成されたゲート電極層を含み、 前記光透過層上に前記各光反応要素に入射される光を集
    めるレンズを形成するが、前記光透過層上に前記各光反
    応要素に対応される複数の集光レンズを形成し、 前記集光レンズを含んで、前記光透過層上に少なくとも
    レンズとレンズとの間の領域が満たされるように光分散
    層を形成する段階を含むことを特徴とする固体カラーイ
    メージ素子製造方法。
  13. 【請求項13】 前記光反応要素は、前記半導体基板上
    の不純物イオンを注入して形成された光ダイオードであ
    ることを特徴とする請求項12に記載の固体カラーイメ
    ージ素子の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記光透過層は、前記半導体基板上に
    第1平坦層を形成する段階と、 前記第1平坦層上にカラーフィルタアレーを形成する段
    階と、 前記カラーフィルタアレーを含んで第1平坦層上に第2
    平坦層を形成する段階とを含むことを特徴とする請求項
    12に記載の固体カラーイメージ素子の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記第1平坦層及び第2平坦層は、絶
    縁膜であることを特徴とする請求項14に記載の固体カ
    ラーイメージ素子の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記カラーフィルタアレーは、前記各
    光反応要素に対応されるように形成されたレッドカラー
    フィルタ層、グリーンカラーフィルタ層及びブルーカラ
    ーフィルタ層を含むことを特徴とする請求項14に記載
    の固体カラーイメージ素子の製造方法。
  17. 【請求項17】 前記集光レンズは、凸レンズであるこ
    とを特徴とする請求項12に記載の固体カラーイメージ
    素子の製造方法。
  18. 【請求項18】 前記集光レンズと光分散層は、相異な
    る屈折率を有することを特徴とする請求項12に記載の
    固体カラーイメージ素子の製造方法。
  19. 【請求項19】 前記光分散層は、前記集光レンズより
    相対的に低い屈折率を有することを特徴とする請求項1
    2に記載の固体カラーイメージ素子の製造方法。
  20. 【請求項20】 前記集光レンズの屈折率は、約1.6
    5〜1.7であり、前記光分散層の屈折率は、1.45
    〜1.5であることを特徴とする請求項19に記載の固
    体カラーイメージ素子の製造方法。
  21. 【請求項21】 前記光分散層は、siloxane系列のSO
    G膜で形成されることを特徴とする請求項12に記載の
    固体カラーイメージ素子の製造方法。
  22. 【請求項22】 前記光分散層は、1.5〜2.5μm
    の厚さで形成されることを特徴とする請求項12に記載
    の固体カラーイメージ素子の製造方法。
JP11058852A 1998-03-05 1999-03-05 固体カラ―イメ―ジ素子及びその製造方法 Pending JP2000031446A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980007218A KR100310102B1 (ko) 1998-03-05 1998-03-05 고체 컬러 이미지 소자 및 그의 제조 방법
KR19987218 1998-03-05

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006322232A Division JP2007067444A (ja) 1998-03-05 2006-11-29 固体カラーイメージ素子及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000031446A true JP2000031446A (ja) 2000-01-28

Family

ID=19534250

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11058852A Pending JP2000031446A (ja) 1998-03-05 1999-03-05 固体カラ―イメ―ジ素子及びその製造方法
JP2006322232A Withdrawn JP2007067444A (ja) 1998-03-05 2006-11-29 固体カラーイメージ素子及びその製造方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006322232A Withdrawn JP2007067444A (ja) 1998-03-05 2006-11-29 固体カラーイメージ素子及びその製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6157017A (ja)
JP (2) JP2000031446A (ja)
KR (1) KR100310102B1 (ja)
DE (1) DE19815899C2 (ja)
GB (1) GB2335078A (ja)
TW (1) TW393784B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002100755A (ja) * 2000-08-18 2002-04-05 Hynix Semiconductor Inc Cmosイメージセンサ及びその製造方法
JP2007242771A (ja) * 2006-03-07 2007-09-20 Toppan Printing Co Ltd 撮像素子の製造方法及び撮像素子

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3620237B2 (ja) * 1997-09-29 2005-02-16 ソニー株式会社 固体撮像素子
TW400657B (en) * 1998-06-09 2000-08-01 United Microelectronics Corp The manufacture method of CMOS sensor device
JP2001033237A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Seiko Precision Inc 光学検知装置
KR100648800B1 (ko) * 2000-08-17 2006-11-23 매그나칩 반도체 유한회사 이미지 센서의 칼라필터 및 마이크로 렌즈 형성 방법
KR100790209B1 (ko) * 2001-06-30 2008-01-02 매그나칩 반도체 유한회사 시모스 이미지센서
KR100399937B1 (ko) * 2001-11-06 2003-09-29 주식회사 하이닉스반도체 광감도 개선을 위한 이미지 센서의 제조방법
KR100402936B1 (ko) * 2001-11-22 2003-10-30 주식회사 하이닉스반도체 비대칭 페브리페로 공동구조를 갖는 시모스 이미지센서 및그 제조방법
US7095026B2 (en) * 2002-11-08 2006-08-22 L-3 Communications Cincinnati Electronics Corporation Methods and apparatuses for selectively limiting undesired radiation
US7351977B2 (en) 2002-11-08 2008-04-01 L-3 Communications Cincinnati Electronics Corporation Methods and systems for distinguishing multiple wavelengths of radiation and increasing detected signals in a detection system using micro-optic structures
US6953925B2 (en) * 2003-04-28 2005-10-11 Stmicroelectronics, Inc. Microlens integration
US7507598B2 (en) * 2003-06-06 2009-03-24 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Image sensor fabrication method and structure
DE102004018182B4 (de) * 2003-09-20 2008-04-24 Diehl Bgt Defence Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung einer Abbildung einer Objektszene
US7115853B2 (en) * 2003-09-23 2006-10-03 Micron Technology, Inc. Micro-lens configuration for small lens focusing in digital imaging devices
US20050274871A1 (en) * 2004-06-10 2005-12-15 Jin Li Method and apparatus for collecting photons in a solid state imaging sensor
US7068432B2 (en) * 2004-07-27 2006-06-27 Micron Technology, Inc. Controlling lens shape in a microlens array
KR100644521B1 (ko) 2004-07-29 2006-11-10 매그나칩 반도체 유한회사 마이크로렌즈의 겉보기 크기가 향상된 이미지센서 및 그제조 방법
TWI251931B (en) * 2004-12-29 2006-03-21 Advanced Chip Eng Tech Inc Imagine sensor with a protection layer
KR100720509B1 (ko) * 2005-11-10 2007-05-22 동부일렉트로닉스 주식회사 이미지 센서 및 이의 제조 방법
US7583444B1 (en) 2005-12-21 2009-09-01 3M Innovative Properties Company Process for making microlens arrays and masterforms
KR100720461B1 (ko) * 2005-12-28 2007-05-22 동부일렉트로닉스 주식회사 이미지 센서 및 그의 제조방법
US20070152139A1 (en) * 2005-12-30 2007-07-05 Moores Mark D Techniques to control illumination for image sensors
US7941013B2 (en) * 2006-05-18 2011-05-10 3M Innovative Properties Company Process for making light guides with extraction structures and light guides produced thereby
KR101176545B1 (ko) * 2006-07-26 2012-08-28 삼성전자주식회사 마이크로 렌즈의 형성방법과 마이크로 렌즈를 포함한이미지 센서 및 그의 제조방법
KR100796522B1 (ko) 2006-09-05 2008-01-21 삼성전기주식회사 전자소자 내장형 인쇄회로기판의 제조방법
KR100929349B1 (ko) * 2007-01-30 2009-12-03 삼성전자주식회사 유기물 컬러 필터를 포함하지 않는 컬러 픽셀, 이미지 센서, 및 컬러 보간방법
JP4344759B2 (ja) * 2007-06-15 2009-10-14 シャープ株式会社 固体撮像素子およびその製造方法、固体撮像装置、電子情報機器
KR100967648B1 (ko) * 2007-12-24 2010-07-07 주식회사 동부하이텍 씨모스 이미지 센서 및 그 제조방법
JP5422914B2 (ja) * 2008-05-12 2014-02-19 ソニー株式会社 固体撮像装置の製造方法
DE102009038028B4 (de) * 2009-08-18 2024-06-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Detektoranordnung mit erhöhter Empfindlichkeit durch Lichtablenkelemente mit einer ebenen Lichteintrittsfläche
JP2012124405A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Toshiba Corp 固体撮像装置の製造方法および固体撮像装置
US8952309B2 (en) 2011-10-04 2015-02-10 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with micro-lens coating
JP6833597B2 (ja) * 2017-04-11 2021-02-24 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4689291A (en) * 1985-08-30 1987-08-25 Xerox Corporation Pedestal-type microlens fabrication process
JP2572626B2 (ja) * 1988-04-28 1997-01-16 旭光学工業株式会社 焦点板及び微細構造配列体の形成方法
JPH0264501A (ja) * 1988-08-30 1990-03-05 Sharp Corp マイクロレンズアレイ及びその製造方法
US5166755A (en) * 1990-05-23 1992-11-24 Nahum Gat Spectrometer apparatus
US5543830A (en) * 1990-10-12 1996-08-06 Minnesota Mining And Manufacturing Company Apparatus with light emitting element, microlens and gradient index lens characteristics for imaging continuous tone images
JPH04229802A (ja) * 1990-12-27 1992-08-19 Toshiba Corp 固体撮像装置及びその製造方法
JP2723686B2 (ja) * 1991-04-01 1998-03-09 松下電子工業株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
JPH04304672A (ja) * 1991-04-01 1992-10-28 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JP2566087B2 (ja) * 1992-01-27 1996-12-25 株式会社東芝 有色マイクロレンズアレイ及びその製造方法
JPH06102509A (ja) * 1992-06-17 1994-04-15 Xerox Corp 光カップリング・レンズアレイ付きフルカラー表示装置
JPH0653458A (ja) * 1992-08-03 1994-02-25 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置
JP3254759B2 (ja) * 1992-09-25 2002-02-12 ソニー株式会社 光学素子およびオンチップレンズの製造方法
JP2863422B2 (ja) * 1992-10-06 1999-03-03 松下電子工業株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
JP3018782B2 (ja) * 1992-10-08 2000-03-13 日本電気株式会社 固体撮像素子
JP2833941B2 (ja) * 1992-10-09 1998-12-09 三菱電機株式会社 固体撮像装置とその製造方法
JPH0759099A (ja) * 1992-12-23 1995-03-03 Loral Fairchild Corp 高解像度モノクローム全フレームccd撮像装置を用いた電子カラー写真撮影方法及び装置
JPH06232379A (ja) * 1993-02-01 1994-08-19 Sharp Corp 固体撮像素子
US5581379A (en) * 1993-02-15 1996-12-03 Omron Corporation Rectangular based convex microlenses surrounded within a frame and method of making
JP3461828B2 (ja) * 1993-03-25 2003-10-27 デ モントフォート ユニヴァーシティ レンズ装置
US5439621A (en) * 1993-04-12 1995-08-08 Minnesota Mining And Manufacturing Company Method of making an array of variable focal length microlenses
JPH0774331A (ja) * 1993-09-02 1995-03-17 Nikon Corp マイクロレンズ付き固体撮像素子及びその製造方法
JPH07225303A (ja) * 1993-12-16 1995-08-22 Sharp Corp マイクロレンズ基板及びそれを用いた液晶表示素子ならびに液晶プロジェクタ装置
KR0147401B1 (ko) * 1994-02-23 1998-08-01 구본준 고체촬상소자 및 그 제조방법
US5717453A (en) * 1995-06-07 1998-02-10 Meso Scale Technology, Inc. Three dimensional imaging system
JP3399495B2 (ja) * 1996-07-08 2003-04-21 ソニー株式会社 固体撮像装置とその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002100755A (ja) * 2000-08-18 2002-04-05 Hynix Semiconductor Inc Cmosイメージセンサ及びその製造方法
JP2007242771A (ja) * 2006-03-07 2007-09-20 Toppan Printing Co Ltd 撮像素子の製造方法及び撮像素子

Also Published As

Publication number Publication date
DE19815899A1 (de) 1999-09-09
GB2335078A (en) 1999-09-08
US6157017A (en) 2000-12-05
KR100310102B1 (ko) 2001-12-17
GB9818253D0 (en) 1998-10-14
KR19990073943A (ko) 1999-10-05
DE19815899C2 (de) 2002-06-27
TW393784B (en) 2000-06-11
JP2007067444A (ja) 2007-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000031446A (ja) 固体カラ―イメ―ジ素子及びその製造方法
US7816169B2 (en) Colors only process to reduce package yield loss
KR100540421B1 (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
US6940654B1 (en) Lens array and method of making same
US7656453B2 (en) Solid-state imaging device having characteristic color unit depending on color, manufacturing method thereof and camera
US6495813B1 (en) Multi-microlens design for semiconductor imaging devices to increase light collection efficiency in the color filter process
EP2195844A1 (en) Photoelectric conversion device and imaging system
JPH10270672A (ja) 固体撮像素子
US20070102621A1 (en) Image sensor and fabricating method thereof
KR20000044587A (ko) 개선된 광감도를 갖는 씨모스이미지센서 제조방법
KR20000041461A (ko) 개선된 이미지센서 제조방법
JP2000180621A (ja) オンチップカラーフィルタ及びこれを用いた固体撮像素子
KR20080058549A (ko) 이미지 센서 및 이미지 센서의 제조 방법
JP2011171328A (ja) 固体撮像素子およびその製造方法
JP4998310B2 (ja) 固体撮像素子およびそれを用いた撮像装置
JP2008034521A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
JP2008016760A (ja) 固体撮像素子及びその製造方法
JP3269644B2 (ja) マイクロレンズの製造方法
JP2009124053A (ja) 光電変換装置及びその製造方法
KR20000044590A (ko) 높은광감도를 갖는 이미지센서 및 그 제조방법
JP2000156485A (ja) 固体撮像素子およびその製造方法
US6998595B2 (en) Color filter configuration for a silicon wafer to be diced into photosensitive chips
KR100521969B1 (ko) 높은 광감도를 갖는 이미지센서 및 그 제조방법
KR100731060B1 (ko) 이미지 센서 및 그의 제조방법
JP5353356B2 (ja) 固体撮像素子及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050323

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050719

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051019

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060131

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060428

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061129

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070215

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20070316