JP2000028362A - 測量機の求心位置測定装置及び測量機 - Google Patents
測量機の求心位置測定装置及び測量機Info
- Publication number
- JP2000028362A JP2000028362A JP10208689A JP20868998A JP2000028362A JP 2000028362 A JP2000028362 A JP 2000028362A JP 10208689 A JP10208689 A JP 10208689A JP 20868998 A JP20868998 A JP 20868998A JP 2000028362 A JP2000028362 A JP 2000028362A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light receiving
- target
- surveying
- image
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/02—Means for marking measuring points
- G01C15/06—Surveyors' staffs; Movable markers
- G01C15/08—Plumbing or registering staffs or markers over ground marks
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C1/00—Measuring angles
- G01C1/02—Theodolites
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C5/00—Measuring height; Measuring distances transverse to line of sight; Levelling between separated points; Surveyors' levels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
［目的］ 本発明は、測量機の求心位置測定装置等に係
わり、特に、基準点に対するズレ量ｘ、及びズレ量ｙ、
そして機械高さＨを演算することのできる測量機の求心
位置測定装置等を提供することを目的とする。 ［構成］ 本発明は、光学手段が、測量地点を特定する
ため、この測量地点に設置されたターゲットの像を形成
し、受光手段が、ターゲット像を受光し、この受光手段
からのターゲット像の受光信号に基づき、演算処理手段
が、ターゲットまでの距離である機械高さや、測量地点
からのズレ量等を演算することができる。
わり、特に、基準点に対するズレ量ｘ、及びズレ量ｙ、
そして機械高さＨを演算することのできる測量機の求心
位置測定装置等を提供することを目的とする。 ［構成］ 本発明は、光学手段が、測量地点を特定する
ため、この測量地点に設置されたターゲットの像を形成
し、受光手段が、ターゲット像を受光し、この受光手段
からのターゲット像の受光信号に基づき、演算処理手段
が、ターゲットまでの距離である機械高さや、測量地点
からのズレ量等を演算することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測量機の求心位置測定
装置等に係わり、特に、基準点に対するズレ量ｘ、及び
ズレ量ｙ、そして機械高さＨを演算することのできる測
量機の求心位置測定装置等に関するものである。
装置等に係わり、特に、基準点に対するズレ量ｘ、及び
ズレ量ｙ、そして機械高さＨを演算することのできる測
量機の求心位置測定装置等に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に測量作業は、既知の基準点に基づ
いて行われる。測量機を基準点又は与点上に設置し、こ
の基準点等に基づいて測量作業が実施される。例えば、
経緯儀は、鉛直軸周り及び水平軸周りに回動自在に取り
付けられた視準望遠鏡の視準方向を測定することにより
測量を実施する。また水準儀は、視準位置の高低差を測
量することができる。
いて行われる。測量機を基準点又は与点上に設置し、こ
の基準点等に基づいて測量作業が実施される。例えば、
経緯儀は、鉛直軸周り及び水平軸周りに回動自在に取り
付けられた視準望遠鏡の視準方向を測定することにより
測量を実施する。また水準儀は、視準位置の高低差を測
量することができる。
【０００３】これらの測量機は、三脚に取り付けて使用
するので、地上から視準望遠鏡までの高さ、高低計算に
必要となる機械高さを測定する必要がある。
するので、地上から視準望遠鏡までの高さ、高低計算に
必要となる機械高さを測定する必要がある。
【０００４】図９は、三脚９０００上に据え付けられた
経緯儀９１００と測標９２００を表している。図９に示
す様に測量機は正確な測量のため、基準点を通る鉛直線
と測量機の鉛直回転軸が一致する様に据え付けられてい
る。そして機械高さＨを測定する基点は、望遠鏡の水平
回転中心に一致する支架に設けられている。
経緯儀９１００と測標９２００を表している。図９に示
す様に測量機は正確な測量のため、基準点を通る鉛直線
と測量機の鉛直回転軸が一致する様に据え付けられてい
る。そして機械高さＨを測定する基点は、望遠鏡の水平
回転中心に一致する支架に設けられている。
【０００５】また図１０に示す様に、測量機９１００の
鉛直回転軸と鉛直線を一致させるための鉛直回転軸の倒
れを補正する整準機構９１１０と、水平位置を補正する
ための求心望遠鏡９１２０が設けられている。従って、
測量機９１００に設けられた求心望遠鏡９１２０は、反
射プリズム９１３０で反射され、鉛直回転軸に一致する
測量機下方を視準する様になっている。
鉛直回転軸と鉛直線を一致させるための鉛直回転軸の倒
れを補正する整準機構９１１０と、水平位置を補正する
ための求心望遠鏡９１２０が設けられている。従って、
測量機９１００に設けられた求心望遠鏡９１２０は、反
射プリズム９１３０で反射され、鉛直回転軸に一致する
測量機下方を視準する様になっている。
【０００６】そして測量者は、基準点上に測量機９１０
０を据え付け後、測量機９１００の機械高さＨを測定
し、更に、測量機支架の基点から測標９２００までを巻
尺等で測定する。
０を据え付け後、測量機９１００の機械高さＨを測定
し、更に、測量機支架の基点から測標９２００までを巻
尺等で測定する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の測量機９１００の機械高さＨの測定は、巻尺により
測量機下部から測標９２００までの距離を測り、三脚据
え付け部の厚み及び測量機の高さを加算することにより
測定していた。従って測量機の高さは、整準によって変
化するので、据え付け時に測定する必要があり、手間が
かかる上、正確さを期待できないという問題点があっ
た。
来の測量機９１００の機械高さＨの測定は、巻尺により
測量機下部から測標９２００までの距離を測り、三脚据
え付け部の厚み及び測量機の高さを加算することにより
測定していた。従って測量機の高さは、整準によって変
化するので、据え付け時に測定する必要があり、手間が
かかる上、正確さを期待できないという問題点があっ
た。
【０００８】そして、通常は基点から測標９２００まで
を概略で直接計測するが、機械高さＨを測定する基点
が、基準点上に直接ない場合もあり、高精度が得られな
いという深刻な問題点があった。
を概略で直接計測するが、機械高さＨを測定する基点
が、基準点上に直接ない場合もあり、高精度が得られな
いという深刻な問題点があった。
【０００９】また、正確な測量及び機械高さＨの測定の
ためには、測量機９１００が、基準点鉛直上に据え付け
られている必要がある。
ためには、測量機９１００が、基準点鉛直上に据え付け
られている必要がある。
【００１０】即ち、三脚３０００上に据え付けられた測
量機９１００は、まず、整準機構９１１０により鉛直に
設定される。次に、視準望遠鏡９１２０を視準しなが
ら、測量機９１００本体と三脚３０００を固定する固定
ネジ（図示せず）を少し緩め、測量機９１００本体を基
準点上に水平移動する。
量機９１００は、まず、整準機構９１１０により鉛直に
設定される。次に、視準望遠鏡９１２０を視準しなが
ら、測量機９１００本体と三脚３０００を固定する固定
ネジ（図示せず）を少し緩め、測量機９１００本体を基
準点上に水平移動する。
【００１１】この作業は、極めて高い熟練を要し、細心
の注意を払って作業を行わないと、測量機９１００本体
の整準が狂ったり、三脚３０００が移動してしまうとい
う問題点があった。
の注意を払って作業を行わないと、測量機９１００本体
の整準が狂ったり、三脚３０００が移動してしまうとい
う問題点があった。
【００１２】近年では、測量機９１００本体の測定精度
が飛躍的に向上し、精度の高い測量が可能となってい
る。例えば、水平角及び高度角の測角精度が、５秒程度
の測量機では、求心位置が５ｍｍずれると、本体側で
は、１００ｍで約１０秒の誤差を生じてしまうこととな
り、熟練者による高い精度の求心作業が要求されるとい
う問題点があった。
が飛躍的に向上し、精度の高い測量が可能となってい
る。例えば、水平角及び高度角の測角精度が、５秒程度
の測量機では、求心位置が５ｍｍずれると、本体側で
は、１００ｍで約１０秒の誤差を生じてしまうこととな
り、熟練者による高い精度の求心作業が要求されるとい
う問題点があった。
【００１３】従って、熟練者でなくとも、高精度の機械
高さＨの測定が可能となる手段の出現が強く望まれてい
る。
高さＨの測定が可能となる手段の出現が強く望まれてい
る。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
案出されたもので、測量地点を特定するため、この測量
地点に設置されたターゲットの像を形成するための光学
手段と、このターゲット像を受光するための受光手段
と、この受光手段からのターゲット像の受光信号に基づ
き、前記ターゲットまでの距離である機械高さを演算す
るための演算処理手段とから構成されている。
案出されたもので、測量地点を特定するため、この測量
地点に設置されたターゲットの像を形成するための光学
手段と、このターゲット像を受光するための受光手段
と、この受光手段からのターゲット像の受光信号に基づ
き、前記ターゲットまでの距離である機械高さを演算す
るための演算処理手段とから構成されている。
【００１５】そして本発明は、測量地点を特定するた
め、この測量地点に設置されたターゲットの像を形成す
るための光学手段と、このターゲット像を受光するため
の受光手段と、この受光手段からのターゲット像の受光
信号に基づき、前記測量地点からのズレ量を演算するた
めの演算処理手段とから構成されている。
め、この測量地点に設置されたターゲットの像を形成す
るための光学手段と、このターゲット像を受光するため
の受光手段と、この受光手段からのターゲット像の受光
信号に基づき、前記測量地点からのズレ量を演算するた
めの演算処理手段とから構成されている。
【００１６】また本発明の受光手段は、第１の受光手段
と、この第１の受光手段と直交して受光可能に配置され
ている第２の受光手段とから構成することもできる。
と、この第１の受光手段と直交して受光可能に配置され
ている第２の受光手段とから構成することもできる。
【００１７】そして本発明のターゲットは、同心円状に
形成することもできる。
形成することもできる。
【００１８】更に本発明の受光手段が、同心円状のター
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、前記交点の位置か
ら、前記各円像の直径を算出し、この直径の値から対応
する機械高さを演算する構成にすることもできる。
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、前記交点の位置か
ら、前記各円像の直径を算出し、この直径の値から対応
する機械高さを演算する構成にすることもできる。
【００１９】また本発明の受光手段が、同心円状のター
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、前記交点の位置か
ら、Ｘ軸方向のズレ量又はＹ軸方向のズレ量を演算する
構成にすることもできる。
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、前記交点の位置か
ら、Ｘ軸方向のズレ量又はＹ軸方向のズレ量を演算する
構成にすることもできる。
【００２０】そして本発明の測量機は、少なくとも水平
角及び高度角を電気的に検出するもので、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成するための光学手段と、このターゲット像を受光
するための受光手段と、この受光手段からのターゲット
像の受光信号に基づき、前記ターゲットまでの距離であ
る機械高さを演算すると共に、この機械高さから前記水
平角及び高度角を補正するための演算処理手段とを有す
る構成となっている。
角及び高度角を電気的に検出するもので、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成するための光学手段と、このターゲット像を受光
するための受光手段と、この受光手段からのターゲット
像の受光信号に基づき、前記ターゲットまでの距離であ
る機械高さを演算すると共に、この機械高さから前記水
平角及び高度角を補正するための演算処理手段とを有す
る構成となっている。
【００２１】更に本発明の測量機は、少なくとも水平角
及び高度角を電気的に検出するもので、測量地点を特定
するため、この測量地点に設置されたターゲットの像を
形成するための光学手段と、このターゲット像を受光す
るための受光手段と、この受光手段からのターゲット像
の受光信号に基づき、前記測量地点からのズレ量を演算
すると共に、このズレ量から前記水平角及び高度角を補
正するための演算処理手段とを有する構成となってい
る。
及び高度角を電気的に検出するもので、測量地点を特定
するため、この測量地点に設置されたターゲットの像を
形成するための光学手段と、このターゲット像を受光す
るための受光手段と、この受光手段からのターゲット像
の受光信号に基づき、前記測量地点からのズレ量を演算
すると共に、このズレ量から前記水平角及び高度角を補
正するための演算処理手段とを有する構成となってい
る。
【００２２】また本発明の測量機は、少なくとも距離を
電気的に検出するもので、測量地点を特定するため、こ
の測量地点に設置されたターゲットの像を形成するため
の光学手段と、このターゲット像を受光するための受光
手段と、この受光手段からのターゲット像の受光信号に
基づき、前記ターゲットまでの距離である機械高さを演
算すると共に、この機械高さから前記距離を補正するた
めの演算処理手段とを有する構成となっている。
電気的に検出するもので、測量地点を特定するため、こ
の測量地点に設置されたターゲットの像を形成するため
の光学手段と、このターゲット像を受光するための受光
手段と、この受光手段からのターゲット像の受光信号に
基づき、前記ターゲットまでの距離である機械高さを演
算すると共に、この機械高さから前記距離を補正するた
めの演算処理手段とを有する構成となっている。
【００２３】そして本発明の測量機は、少なくとも距離
を電気的に検出するもので、測量地点を特定するため、
この測量地点に設置されたターゲットの像を形成するた
めの光学手段と、このターゲット像を受光するための受
光手段と、この受光手段からのターゲット像の受光信号
に基づき、前記測量地点からのズレ量を演算すると共
に、このズレ量から前記距離を補正するための演算処理
手段とを有する構成となっている。
を電気的に検出するもので、測量地点を特定するため、
この測量地点に設置されたターゲットの像を形成するた
めの光学手段と、このターゲット像を受光するための受
光手段と、この受光手段からのターゲット像の受光信号
に基づき、前記測量地点からのズレ量を演算すると共
に、このズレ量から前記距離を補正するための演算処理
手段とを有する構成となっている。
【００２４】
【発明の実施の形態】以上の様に構成された本発明は、
光学手段が、測量地点を特定するため、この測量地点に
設置されたターゲットの像を形成し、受光手段が、ター
ゲット像を受光し、この受光手段からのターゲット像の
受光信号に基づき、演算処理手段が、ターゲットまでの
距離である機械高さを演算することができる。
光学手段が、測量地点を特定するため、この測量地点に
設置されたターゲットの像を形成し、受光手段が、ター
ゲット像を受光し、この受光手段からのターゲット像の
受光信号に基づき、演算処理手段が、ターゲットまでの
距離である機械高さを演算することができる。
【００２５】そして本発明は、光学手段が、測量地点を
特定するため、この測量地点に設置されたターゲットの
像を形成し、受光手段が、ターゲット像を受光し、この
受光手段からのターゲット像の受光信号に基づき、演算
処理手段が、測量地点からのズレ量を演算することがで
きる。
特定するため、この測量地点に設置されたターゲットの
像を形成し、受光手段が、ターゲット像を受光し、この
受光手段からのターゲット像の受光信号に基づき、演算
処理手段が、測量地点からのズレ量を演算することがで
きる。
【００２６】また本発明の受光手段は、第２の受光手段
が、この第１の受光手段と直交して受光可能に配置する
こともできる。
が、この第１の受光手段と直交して受光可能に配置する
こともできる。
【００２７】そして本発明のターゲットは、同心円状に
形成することもできる。
形成することもできる。
【００２８】更に本発明の受光手段が、同心円状のター
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、交点の位置から、
各円像の直径を算出し、この直径の値から対応する機械
高さを演算することもできる。
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、交点の位置から、
各円像の直径を算出し、この直径の値から対応する機械
高さを演算することもできる。
【００２９】また本発明の受光手段が、同心円状のター
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、交点の位置から、
Ｘ軸方向のズレ量又はＹ軸方向のズレ量を演算すること
もできる。
ゲットによる各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する
受光信号を形成し、演算処理手段が、交点の位置から、
Ｘ軸方向のズレ量又はＹ軸方向のズレ量を演算すること
もできる。
【００３０】そして本発明の測量機は、少なくとも水平
角及び高度角を電気的に検出するもので、光学手段が、
測量地点を特定するため、この測量地点に設置されたタ
ーゲットの像を形成し、受光手段が、ターゲット像を受
光し、演算処理手段が、受光手段からのターゲット像の
受光信号に基づき、ターゲットまでの距離である機械高
さを演算すると共に、この機械高さから水平角及び高度
角を補正することができる。
角及び高度角を電気的に検出するもので、光学手段が、
測量地点を特定するため、この測量地点に設置されたタ
ーゲットの像を形成し、受光手段が、ターゲット像を受
光し、演算処理手段が、受光手段からのターゲット像の
受光信号に基づき、ターゲットまでの距離である機械高
さを演算すると共に、この機械高さから水平角及び高度
角を補正することができる。
【００３１】更に本発明の測量機は、少なくとも水平角
及び高度角を電気的に検出するもので、光学手段が、測
量地点を特定するため、この測量地点に設置されたター
ゲットの像を形成し、受光手段が、ターゲット像を受光
し、演算処理手段が、受光手段からのターゲット像の受
光信号に基づき、測量地点からのズレ量を演算すると共
に、このズレ量から水平角及び高度角を補正することが
できる。
及び高度角を電気的に検出するもので、光学手段が、測
量地点を特定するため、この測量地点に設置されたター
ゲットの像を形成し、受光手段が、ターゲット像を受光
し、演算処理手段が、受光手段からのターゲット像の受
光信号に基づき、測量地点からのズレ量を演算すると共
に、このズレ量から水平角及び高度角を補正することが
できる。
【００３２】また本発明の測量機は、少なくとも距離を
電気的に検出するもので、光学手段が、測量地点を特定
するため、この測量地点に設置されたターゲットの像を
形成し、受光手段が、ターゲット像を受光し、演算処理
手段が、受光手段からのターゲット像の受光信号に基づ
き、ターゲットまでの距離である機械高さを演算すると
共に、この機械高さから距離を補正することができる。
電気的に検出するもので、光学手段が、測量地点を特定
するため、この測量地点に設置されたターゲットの像を
形成し、受光手段が、ターゲット像を受光し、演算処理
手段が、受光手段からのターゲット像の受光信号に基づ
き、ターゲットまでの距離である機械高さを演算すると
共に、この機械高さから距離を補正することができる。
【００３３】そして本発明の測量機は、少なくとも距離
を電気的に検出するもので、光学手段が、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成し、受光手段が、ターゲット像を受光し、演算処
理手段が、受光手段からのターゲット像の受光信号に基
づき、測量地点からのズレ量を演算すると共に、このズ
レ量から距離を補正することができる。
を電気的に検出するもので、光学手段が、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成し、受光手段が、ターゲット像を受光し、演算処
理手段が、受光手段からのターゲット像の受光信号に基
づき、測量地点からのズレ量を演算すると共に、このズ
レ量から距離を補正することができる。
【００３４】
【００３５】本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
【００３６】図１は、測量機本体１０００と測標２００
０とを説明する図であり、測量機本体１０００には求心
望遠鏡１１００が取り付けられており、測標２０００に
は機械高さ測定ターゲット２１００が形成されている。
０とを説明する図であり、測量機本体１０００には求心
望遠鏡１１００が取り付けられており、測標２０００に
は機械高さ測定ターゲット２１００が形成されている。
【００３７】なお図１の状態は、測量機本体１０００の
整準作業が完了しており、求心望遠鏡１１００による求
心作業の前の状態である。
整準作業が完了しており、求心望遠鏡１１００による求
心作業の前の状態である。
【００３８】機械高さ測定ターゲット２１００は、測標
２０００の中心に一致する様に形成されている。なお機
械高さ測定ターゲット２１００は、ターゲットに該当す
るものである。
２０００の中心に一致する様に形成されている。なお機
械高さ測定ターゲット２１００は、ターゲットに該当す
るものである。
【００３９】測量機本体１０００の底部の回転中心に
は、視準光を通過させるための穴部１２００が形成され
ており、測量機本体１０００の鉛直回転中心の位置に
は、視準光を直角に偏向させるための反射プリズム１３
００が取り付けられている。
は、視準光を通過させるための穴部１２００が形成され
ており、測量機本体１０００の鉛直回転中心の位置に
は、視準光を直角に偏向させるための反射プリズム１３
００が取り付けられている。
【００４０】また整準台３１００には、三脚３０００と
固定するための固定ネジ３１１０が形成されている。
固定するための固定ネジ３１１０が形成されている。
【００４１】基準点上に配置された機械高さ測定ターゲ
ット２１００からの視準光は、固定ネジ３１１０の中心
を通って、測量機本体１０００の穴部１２００から視準
される。
ット２１００からの視準光は、固定ネジ３１１０の中心
を通って、測量機本体１０００の穴部１２００から視準
される。
【００４２】そして、穴部１２００を通過した視準光
は、反射プリズム１３００で反射され、求心望遠鏡１１
００に向かう様になっており、求心望遠鏡１１００で
は、視準光と測定光とを分割する様に構成されている。
は、反射プリズム１３００で反射され、求心望遠鏡１１
００に向かう様になっており、求心望遠鏡１１００で
は、視準光と測定光とを分割する様に構成されている。
【００４３】次に図２に基づいて、求心望遠鏡１１００
の光学的構成を説明する。
の光学的構成を説明する。
【００４４】求心望遠鏡１１００は、接眼レンズ１１１
０と、レクチル１１２０と、第１のビームスプリッタ１
１３０と、対物レンズ１１４０と、第２のビームスプリ
ッタ１１５０と、第１のＣＣＤ１１６０と、第２のＣＣ
Ｄ１１７０とを備えている。
０と、レクチル１１２０と、第１のビームスプリッタ１
１３０と、対物レンズ１１４０と、第２のビームスプリ
ッタ１１５０と、第１のＣＣＤ１１６０と、第２のＣＣ
Ｄ１１７０とを備えている。
【００４５】対物レンズ１１４０は、反射プリズム１３
００を介して、測標２０００の機械高さ測定ターゲット
２１００の像（以下、ターゲット像と称する）を形成す
るためのものである。即ち対物レンズ１１４０は、十字
線を備えたレクチル１１２０上にターゲット像を形成す
るものである。なお、対物レンズ１１４０とレクチル１
１２０とは、光学手段に該当するものである。
００を介して、測標２０００の機械高さ測定ターゲット
２１００の像（以下、ターゲット像と称する）を形成す
るためのものである。即ち対物レンズ１１４０は、十字
線を備えたレクチル１１２０上にターゲット像を形成す
るものである。なお、対物レンズ１１４０とレクチル１
１２０とは、光学手段に該当するものである。
【００４６】測量者は、接眼レンズ１１１０により、レ
クチル１１２０上に形成されたターゲット像を視準する
ことができる。
クチル１１２０上に形成されたターゲット像を視準する
ことができる。
【００４７】対物レンズ１１４０とレクチル１１２０と
の間には、第１のビームスプリッタ１１３０が挿入され
ており、第１のビームスプリッタ１１３０は、視準光を
透過させてレクチル１１２０に向かわせると共に、一部
の光を直角上方に反射させて測定光を形成させる様にな
っている。第１のビームスプリッタ１１３０で反射され
た測定光は、上方に配置された第２のビームスプリッタ
１１５０により、第１測定光と第２測定光とに分離され
る。
の間には、第１のビームスプリッタ１１３０が挿入され
ており、第１のビームスプリッタ１１３０は、視準光を
透過させてレクチル１１２０に向かわせると共に、一部
の光を直角上方に反射させて測定光を形成させる様にな
っている。第１のビームスプリッタ１１３０で反射され
た測定光は、上方に配置された第２のビームスプリッタ
１１５０により、第１測定光と第２測定光とに分離され
る。
【００４８】即ち、第１のビームスプリッタ１１３０か
らの測定光は、第２のビームスプリッタ１１５０を透過
されたものが第１測定光となり、第２のビームスプリッ
タ１１５０で反射されて９０度偏向されたものが、第２
測定光となる。
らの測定光は、第２のビームスプリッタ１１５０を透過
されたものが第１測定光となり、第２のビームスプリッ
タ１１５０で反射されて９０度偏向されたものが、第２
測定光となる。
【００４９】第１測定光は、第１の受光手段である第１
のＣＣＤ１１６０に入射され、第２測定光は、第２の受
光手段である第２のＣＣＤ１１７０に入射される様に構
成されている。
のＣＣＤ１１６０に入射され、第２測定光は、第２の受
光手段である第２のＣＣＤ１１７０に入射される様に構
成されている。
【００５０】なお、第１のＣＣＤ１１６０と第２のＣＣ
Ｄ１１７０とは、レクチル１１２０と共役の位置にあ
る。
Ｄ１１７０とは、レクチル１１２０と共役の位置にあ
る。
【００５１】次に、機械高さＨの測定の原理を説明す
る。
る。
【００５２】本実施例の機械高さ測定ターゲット２１０
０は、図１に示す様に同心円状に形成されている。図３
は、レクチル１１２０上に現れたターゲット像である。
０は、図１に示す様に同心円状に形成されている。図３
は、レクチル１１２０上に現れたターゲット像である。
【００５３】ここで、第１のＣＣＤ１１６０と第２のＣ
ＣＤ１１７０とは、直交して受光する様に配置されてい
るので、第１のＣＣＤ１１６０は、図３のＸ軸方向の位
置を計測することができ、第２のＣＣＤ１１７０は、図
３のＹ軸方向の位置を計測することができる。即ち図３
は、レクチル１１２０上に現れたターゲット像と、第１
のＣＣＤ１１６０と第２のＣＣＤ１１７０の位置とを、
重ね合わせた状態を示すものである。
ＣＤ１１７０とは、直交して受光する様に配置されてい
るので、第１のＣＣＤ１１６０は、図３のＸ軸方向の位
置を計測することができ、第２のＣＣＤ１１７０は、図
３のＹ軸方向の位置を計測することができる。即ち図３
は、レクチル１１２０上に現れたターゲット像と、第１
のＣＣＤ１１６０と第２のＣＣＤ１１７０の位置とを、
重ね合わせた状態を示すものである。
【００５４】そして、機械高さ測定ターゲット２１００
の中心である基準点からのＸ方向のズレ量をｘとし、Ｙ
方向のズレ量をｙとすれば、ズレ量ｘは、各円像（ター
ゲット像の同心円の内、それぞれの各円像）のＸ軸との
クロス点の内、１つだけ違った間隔をもつクロス点の中
点の位置と、予め決められているＸ軸の０点との距離を
演算すればよいことになる。なお、この演算は適宜の演
算処理手段により実行される。
の中心である基準点からのＸ方向のズレ量をｘとし、Ｙ
方向のズレ量をｙとすれば、ズレ量ｘは、各円像（ター
ゲット像の同心円の内、それぞれの各円像）のＸ軸との
クロス点の内、１つだけ違った間隔をもつクロス点の中
点の位置と、予め決められているＸ軸の０点との距離を
演算すればよいことになる。なお、この演算は適宜の演
算処理手段により実行される。
【００５５】同様にして、ズレ量ｙは、各円像（ターゲ
ット像の同心円の内、それぞれの各円像）のＹ軸とのク
ロス点の内、１つだけ違った間隔をもつクロス点の中点
の位置と、予め決められているＹ軸の０点との距離を演
算すればよいことになる。更に、ズレ量ｘ又はズレ量
ｙ、及びクロス点の１／２距離を３平方の定理に適用す
れば、ターゲットの、特定の円像の半径を算出すること
ができる。
ット像の同心円の内、それぞれの各円像）のＹ軸とのク
ロス点の内、１つだけ違った間隔をもつクロス点の中点
の位置と、予め決められているＹ軸の０点との距離を演
算すればよいことになる。更に、ズレ量ｘ又はズレ量
ｙ、及びクロス点の１／２距離を３平方の定理に適用す
れば、ターゲットの、特定の円像の半径を算出すること
ができる。
【００５６】また、Ｘ軸又はＹ軸とクロスする交点の数
及び、交点の間隔を検出することにより、各円像の円周
は既知であることから、第１のＣＣＤ１１６０又は第２
のＣＣＤ１１７０を横切る円周の直径を算出することが
できる。
及び、交点の間隔を検出することにより、各円像の円周
は既知であることから、第１のＣＣＤ１１６０又は第２
のＣＣＤ１１７０を横切る円周の直径を算出することが
できる。
【００５７】更に、２つのゼロクロス点の距離の１／２
（１／２距離）も容易に計測できるので、特定の円像の
半径と、（１／２距離）とを、３平方の定理に適用すれ
ば、ズレ量ｘ、及びズレ量ｙとを算出することができ
る。
（１／２距離）も容易に計測できるので、特定の円像の
半径と、（１／２距離）とを、３平方の定理に適用すれ
ば、ズレ量ｘ、及びズレ量ｙとを算出することができ
る。
【００５８】そしてターゲットの各円像の円周の直径は
既知であるから、機械高さ測定ターゲット２１００まで
の距離である機械高さＨは、ターゲット像の光学的な倍
率を用いて換算すれば、簡便に求めることができる。
既知であるから、機械高さ測定ターゲット２１００まで
の距離である機械高さＨは、ターゲット像の光学的な倍
率を用いて換算すれば、簡便に求めることができる。
【００５９】なお本実施例では、第１の受光手段と第２
の受光手段の２つの受光手段を採用しているが、１方向
測定後、測量機本体１０００又は受光素子を９０度回転
させることにより、１つの受光手段でも実現可能であ
る。
の受光手段の２つの受光手段を採用しているが、１方向
測定後、測量機本体１０００又は受光素子を９０度回転
させることにより、１つの受光手段でも実現可能であ
る。
【００６０】以上の様に計測したズレ量ｘ、及びズレ量
ｙ、そして機械高さＨは、測量機本体１０００に設けら
れた適宜の表示部１４００に表示することができる。
ｙ、そして機械高さＨは、測量機本体１０００に設けら
れた適宜の表示部１４００に表示することができる。
【００６１】本実施例の機械高さ測定ターゲット２１０
０は、同心円状に形成されているが、同心円状に限定さ
れるものではなく、図４に示す様に、矩形にすることも
できる。また図４は、第１の受光手段と第２の受光手段
とが、矩形の中心線と直交する様に構成されているが、
回転している場合にも同様に適用することができる。
０は、同心円状に形成されているが、同心円状に限定さ
れるものではなく、図４に示す様に、矩形にすることも
できる。また図４は、第１の受光手段と第２の受光手段
とが、矩形の中心線と直交する様に構成されているが、
回転している場合にも同様に適用することができる。
【００６２】即ち、第１の受光手段と第２の受光手段の
交点から、ａｂとｃｄの長さを比較することにより、Ｘ
方向のズレ量を算出することができる。また、第１の受
光手段と第２の受光手段の交点の位置からＹ方向のズレ
量を算出することができる。
交点から、ａｂとｃｄの長さを比較することにより、Ｘ
方向のズレ量を算出することができる。また、第１の受
光手段と第２の受光手段の交点の位置からＹ方向のズレ
量を算出することができる。
【００６３】更に、回転し傾いている場合には、第１の
受光手段と第２の受光手段の交点の位置から、回転量を
算出し、そしてズレ量を演算することができる。また、
測量機本体１０００を回転してズレを補正してもよい。
受光手段と第２の受光手段の交点の位置から、回転量を
算出し、そしてズレ量を演算することができる。また、
測量機本体１０００を回転してズレを補正してもよい。
【００６４】そして機械高さＨは、ターゲットの矩形の
大きさが既知であるので、第１の受光手段と第２の受光
手段の受光位置からの比率により、機械高さ測定ターゲ
ット２１００までの距離である機械高さＨを算出するこ
とができる。
大きさが既知であるので、第１の受光手段と第２の受光
手段の受光位置からの比率により、機械高さ測定ターゲ
ット２１００までの距離である機械高さＨを算出するこ
とができる。
【００６５】同様に、図５の様な機械高さ測定ターゲッ
ト２１００を採用することもできる。
ト２１００を採用することもできる。
【００６６】図６は、受光手段が１つの場合であり、Ｗ
状のターゲット像を横切る様に受光手段が配置されてい
る。回転している場合には、交点ａｂ、交点ｂｃ、交点
ｃｄの間隔は、それぞれ異なることになる。従って、Ｘ
方向のズレ量は、交点ａｂ、交点ｂｃの間隔から算出す
ることができ、Ｙ方向のズレ量は、受光位置から同様に
算出することができる。
状のターゲット像を横切る様に受光手段が配置されてい
る。回転している場合には、交点ａｂ、交点ｂｃ、交点
ｃｄの間隔は、それぞれ異なることになる。従って、Ｘ
方向のズレ量は、交点ａｂ、交点ｂｃの間隔から算出す
ることができ、Ｙ方向のズレ量は、受光位置から同様に
算出することができる。
【００６７】なお、現在最も多く使用される測量機であ
るトータルステーションは、電気的に水平角、高度角を
測定すると共に、光波距離計を内蔵して距離の測定も可
能となっている。この様なトータルステーションは、高
速な演算手段が既に内蔵されており、求心位置のズレ量
及び機械高さＨを取り込み、測定値を瞬時に補正可能と
なっている。
るトータルステーションは、電気的に水平角、高度角を
測定すると共に、光波距離計を内蔵して距離の測定も可
能となっている。この様なトータルステーションは、高
速な演算手段が既に内蔵されており、求心位置のズレ量
及び機械高さＨを取り込み、測定値を瞬時に補正可能と
なっている。
【００６８】この様に構成されたトータルステーション
は、本体を基準点上に概略設置すれば、自動的に、求心
位置のズレ量及び機械高さＨを取り込んで、補正された
真の測定値を表示することができる。この様なトータル
ステーションは、角度検出手段には、光透過式エンコー
ダが用いられ、受光手段の受光信号を処理するための演
算手段が内蔵されている。このため、ターゲット像の受
光手段の受光信号を処理するための演算手段を追加する
必要はない。
は、本体を基準点上に概略設置すれば、自動的に、求心
位置のズレ量及び機械高さＨを取り込んで、補正された
真の測定値を表示することができる。この様なトータル
ステーションは、角度検出手段には、光透過式エンコー
ダが用いられ、受光手段の受光信号を処理するための演
算手段が内蔵されている。このため、ターゲット像の受
光手段の受光信号を処理するための演算手段を追加する
必要はない。
【００６９】ここで、具体的な使用方法を図７に基づい
て説明する。
て説明する。
【００７０】まず、ステップ１（以下、Ｓ１と略する）
で、測量機本体１０００を据え付ける。次に、Ｓ２に進
み、整準作業を完了させる。
で、測量機本体１０００を据え付ける。次に、Ｓ２に進
み、整準作業を完了させる。
【００７１】そしてＳ３では、基準点に機械高さ測定タ
ーゲット２１００を設置する。次にＳ４では、測量者
が、測量機本体１０００の概略の求心位置合わせを行
う。更にＳ５では、上述の方法により、ズレ量ｘ、及び
ズレ量ｙ、そして機械高さＨを測定する。
ーゲット２１００を設置する。次にＳ４では、測量者
が、測量機本体１０００の概略の求心位置合わせを行
う。更にＳ５では、上述の方法により、ズレ量ｘ、及び
ズレ量ｙ、そして機械高さＨを測定する。
【００７２】Ｓ５で測定された測定値は、Ｓ６で、測量
機本体１０００の記憶手段に記憶させる。そしてＳ７で
は、Ｓ６で記憶された測定値を、測量機本体１０００の
適宜の表示部１４００に表示する。
機本体１０００の記憶手段に記憶させる。そしてＳ７で
は、Ｓ６で記憶された測定値を、測量機本体１０００の
適宜の表示部１４００に表示する。
【００７３】更に、測量機本体１０００がトータルステ
ーションの場合は、Ｓ８で、測距、測角作業を実施し、
Ｓ９では、Ｓ６で記憶された測定値（ズレ量ｘ、ズレ量
ｙ、機械高さＨ）を利用して、Ｓ８で求めた距離、角度
の補正値を演算する。そしてＳ１０では、Ｓ９で求めた
補正値を図８で示すトータルステーションの適宜の表示
部１４００に表示する。
ーションの場合は、Ｓ８で、測距、測角作業を実施し、
Ｓ９では、Ｓ６で記憶された測定値（ズレ量ｘ、ズレ量
ｙ、機械高さＨ）を利用して、Ｓ８で求めた距離、角度
の補正値を演算する。そしてＳ１０では、Ｓ９で求めた
補正値を図８で示すトータルステーションの適宜の表示
部１４００に表示する。
【００７４】なお、Ｓ８の測距は、適宜の光波距離計を
使用することができ、Ｓ８の測角は、例えば図８の高度
角エンコーダ１５１０により高度角を測定し、水平角エ
ンコーダ１５２０により水平角を測定する構成にするこ
ともできる。
使用することができ、Ｓ８の測角は、例えば図８の高度
角エンコーダ１５１０により高度角を測定し、水平角エ
ンコーダ１５２０により水平角を測定する構成にするこ
ともできる。
【００７５】また、求心位置をレーザー光で示すレーザ
ー求心装置と組み合わせれば、概略の位置合わせを行え
ばよく、更に、作業能率が向上するという効果がある。
ー求心装置と組み合わせれば、概略の位置合わせを行え
ばよく、更に、作業能率が向上するという効果がある。
【００７６】
【効果】以上の様に構成された本発明は、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成するための光学手段と、このターゲット像を受光
するための受光手段と、この受光手段からのターゲット
像の受光信号に基づき、前記ターゲットまでの距離であ
る機械高さ又は前記測量地点からのズレ量を演算するた
めの演算処理手段とからなるので、自動的に機械高さや
ズレ量を測定することができるので、熟練者でなくと
も、高い精度で測量作業を行うことができるという卓越
した効果がある。
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成するための光学手段と、このターゲット像を受光
するための受光手段と、この受光手段からのターゲット
像の受光信号に基づき、前記ターゲットまでの距離であ
る機械高さ又は前記測量地点からのズレ量を演算するた
めの演算処理手段とからなるので、自動的に機械高さや
ズレ量を測定することができるので、熟練者でなくと
も、高い精度で測量作業を行うことができるという卓越
した効果がある。
【００７７】そして本発明は、少なくとも水平角及び高
度角を電気的に検出する測量機において、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成するための光学手段と、このターゲット像を受光
するための受光手段と、この受光手段からのターゲット
像の受光信号に基づき、前記ターゲットまでの距離であ
る機械高さ又は前記測量地点からのズレ量を演算すると
共に、前記水平角及び高度角を補正するか、又は、前記
距離を補正するための演算処理手段を有する構成とされ
ているので、作業能率が向上するのみならず、正確な測
量を実現することができるという卓越した効果がある。
度角を電気的に検出する測量機において、測量地点を特
定するため、この測量地点に設置されたターゲットの像
を形成するための光学手段と、このターゲット像を受光
するための受光手段と、この受光手段からのターゲット
像の受光信号に基づき、前記ターゲットまでの距離であ
る機械高さ又は前記測量地点からのズレ量を演算すると
共に、前記水平角及び高度角を補正するか、又は、前記
距離を補正するための演算処理手段を有する構成とされ
ているので、作業能率が向上するのみならず、正確な測
量を実現することができるという卓越した効果がある。
【図１】本発明の実施例である測量機本体１０００と測
標２０００とを説明する図である。
標２０００とを説明する図である。
【図２】求心望遠鏡１１００の光学的構成を説明する図
である。
である。
【図３】本実施例の原理を説明する図である。
【図４】本実施例の原理を説明する図である。
【図５】本実施例の原理を説明する図である。
【図６】本実施例の原理を説明する図である。
【図７】本実施例の作用を説明する図である。
【図８】トータルステーションの表示部１４００を説明
する図である。
する図である。
【図９】従来技術を説明する図である。
【図１０】従来技術を説明する図である。
１０００ 測量機本体 １１００ 求心望遠鏡 １１１０ 接眼レンズ １１２０ レクチル １１３０ 第１のビームスプリッタ １１４０ 対物レンズ １１５０ 第２のビームスプリッタ １１６０ 第１のＣＣＤ １１７０ 第２のＣＣＤ １２００ 穴部 １３００ 反射プリズム １４００ 表示部 １５１０ 高度角エンコーダ １５２０ 水平角エンコーダ ２０００ 測標 ２１００ 機械高さ測定ターゲット ３０００ 三脚 ３１００ 整準台 ３１１０ 固定ネジ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１０年１２月３１日（１９９８．１２．
３１）
３１）
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図１】
【図６】
【図８】
【図９】
【図７】
【図１０】
Claims (10)
- 【請求項１】 測量地点を特定するため、この測量地点
に設置されたターゲットの像を形成するための光学手段
と、このターゲット像を受光するための受光手段と、こ
の受光手段からのターゲット像の受光信号に基づき、前
記ターゲットまでの距離である機械高さを演算するため
の演算処理手段とからなる測量機の求心位置測定装置。 - 【請求項２】 測量地点を特定するため、この測量地点
に設置されたターゲットの像を形成するための光学手段
と、このターゲット像を受光するための受光手段と、こ
の受光手段からのターゲット像の受光信号に基づき、前
記測量地点からのズレ量を演算するための演算処理手段
とからなる測量機の求心位置測定装置。 - 【請求項３】 受光手段が、第１の受光手段と、この第
１の受光手段と直交して受光可能に配置されている第２
の受光手段とから構成されている請求項１又は請求項２
記載の測量機の求心位置測定装置。 - 【請求項４】 ターゲットが、同心円状に形成されてい
る請求項１から３何れか１項記載の測量機の求心位置測
定装置。 - 【請求項５】 受光手段が、同心円状のターゲットによ
る各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する受光信号を
形成し、演算処理手段が、前記交点の位置から、前記各
円像の直径を算出し、この直径の値から対応する機械高
さを演算する請求項４記載の測量機の求心位置測定装
置。 - 【請求項６】 受光手段が、同心円状のターゲットによ
る各円像のＸ軸又はＹ軸との交点を検出する受光信号を
形成し、演算処理手段が、前記交点の位置から、Ｘ軸方
向のズレ量又はＹ軸方向のズレ量を演算する請求項４記
載の測量機の求心位置測定装置。 - 【請求項７】 少なくとも水平角及び高度角を電気的に
検出する測量機において、測量地点を特定するため、こ
の測量地点に設置されたターゲットの像を形成するため
の光学手段と、このターゲット像を受光するための受光
手段と、この受光手段からのターゲット像の受光信号に
基づき、前記ターゲットまでの距離である機械高さを演
算すると共に、この機械高さから前記水平角及び高度角
を補正するための演算処理手段とを有する測量機。 - 【請求項８】 少なくとも水平角及び高度角を電気的に
検出する測量機において、測量地点を特定するため、こ
の測量地点に設置されたターゲットの像を形成するため
の光学手段と、このターゲット像を受光するための受光
手段と、この受光手段からのターゲット像の受光信号に
基づき、前記測量地点からのズレ量を演算すると共に、
このズレ量から前記水平角及び高度角を補正するための
演算処理手段とを有する測量機。 - 【請求項９】 少なくとも距離を電気的に検出する測量
機において、測量地点を特定するため、この測量地点に
設置されたターゲットの像を形成するための光学手段
と、このターゲット像を受光するための受光手段と、こ
の受光手段からのターゲット像の受光信号に基づき、前
記ターゲットまでの距離である機械高さを演算すると共
に、この機械高さから前記距離を補正するための演算処
理手段とを有する測量機。 - 【請求項１０】 少なくとも距離を電気的に検出する測
量機において、測量地点を特定するため、この測量地点
に設置されたターゲットの像を形成するための光学手段
と、このターゲット像を受光するための受光手段と、こ
の受光手段からのターゲット像の受光信号に基づき、前
記測量地点からのズレ量を演算すると共に、このズレ量
から前記距離を補正するための演算処理手段とを有する
測量機。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20868998A JP3965593B2 (ja) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | 測量機の求心位置測定装置及び測量機 |
| DE69934940T DE69934940T2 (de) | 1998-07-08 | 1999-07-07 | Vermessungsinstrument mit Lot |
| EP99113565A EP0971207B1 (en) | 1998-07-08 | 1999-07-07 | Surveying instrument having a plumbing device |
| US09/348,211 US6453569B1 (en) | 1998-07-08 | 1999-07-08 | Surveying instrument and plumbing device for plumbing surveying instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20868998A JP3965593B2 (ja) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | 測量機の求心位置測定装置及び測量機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000028362A true JP2000028362A (ja) | 2000-01-28 |
| JP3965593B2 JP3965593B2 (ja) | 2007-08-29 |
Family
ID=16560452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20868998A Expired - Fee Related JP3965593B2 (ja) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | 測量機の求心位置測定装置及び測量機 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6453569B1 (ja) |
| EP (1) | EP0971207B1 (ja) |
| JP (1) | JP3965593B2 (ja) |
| DE (1) | DE69934940T2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002303515A (ja) * | 2001-04-04 | 2002-10-18 | Topcon Corp | 求心案内装置 |
| US7200945B2 (en) | 2004-07-30 | 2007-04-10 | Sokkia Co., Ltd. | Surveying instrument |
| JP2009526209A (ja) * | 2006-02-08 | 2009-07-16 | ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト | 角度測定器具 |
| CN105300345A (zh) * | 2015-11-10 | 2016-02-03 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 光电经纬仪多目标跟踪方法 |
| CN105973191A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-09-28 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种多负载通用式跟踪平台 |
| JP2019109153A (ja) * | 2017-12-19 | 2019-07-04 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2292249C (en) * | 1999-11-19 | 2007-05-22 | Darrell G. B. Cline | Hydrant monument |
| JP4317639B2 (ja) * | 2000-03-29 | 2009-08-19 | 株式会社トプコン | レーザ測量機 |
| JP3840119B2 (ja) * | 2002-02-08 | 2006-11-01 | 株式会社ソキア | レーザ求心装置 |
| US7908752B2 (en) | 2006-12-27 | 2011-03-22 | Trimble Ab | Geodetic instrument and related method |
| US7748126B2 (en) * | 2007-10-17 | 2010-07-06 | Jianhong Lu | Laser straight liner |
| US8345928B2 (en) | 2008-02-12 | 2013-01-01 | Trimble Ab | Localizing a surveying instrument in relation to a ground mark |
| WO2009106141A1 (en) | 2008-02-29 | 2009-09-03 | Trimble Ab | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras |
| EP2247921B1 (en) | 2008-02-12 | 2014-10-08 | Trimble AB | Determining coordinates of a target in relation to a survey instruments having a camera |
| US8897482B2 (en) | 2008-02-29 | 2014-11-25 | Trimble Ab | Stereo photogrammetry from a single station using a surveying instrument with an eccentric camera |
| CN102128636A (zh) * | 2010-12-22 | 2011-07-20 | 王四明 | 垂直度盘偏心校正方法 |
| DE102011002696A1 (de) * | 2011-01-14 | 2012-07-19 | Homag Holzbearbeitungssysteme Gmbh | Bearbeitungsvorrichtung |
| US8539685B2 (en) | 2011-01-20 | 2013-09-24 | Trimble Navigation Limited | Integrated surveying and leveling |
| EP3264034B1 (de) | 2016-06-30 | 2020-02-26 | Leica Geosystems AG | Vermessungsgerät mit höhenmesssystem und verfahren zum messen einer höhe |
| CN106403916B (zh) * | 2016-12-02 | 2018-10-02 | 淮阴工学院 | 基于数码图像测定对中点的全站仪及其工作方法 |
| CN107727119B (zh) * | 2017-12-08 | 2023-09-29 | 江西省测绘成果质量监督检验测试中心 | 全站仪测距三轴重合度室内式检测调整装置 |
| CN108507531B (zh) * | 2018-04-18 | 2019-12-20 | 湖南科技大学 | 全站仪仪器高激光测量系统与使用方法 |
| EP3660451B1 (de) | 2018-11-28 | 2022-04-27 | Hexagon Technology Center GmbH | Intelligentes stationierungs-modul |
| CN109974673B (zh) * | 2019-03-11 | 2024-03-15 | 中国人民解放军63883部队 | 多功能快速精瞄对点器 |
| RU2730370C1 (ru) * | 2019-10-21 | 2020-08-21 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственный центр автоматики и приборостроения имени академика Н.А. Пилюгина" (ФГУП "НПЦАП") | Автоматизированный прибор привязки к обратным отвесам |
| JP7438881B2 (ja) * | 2020-07-29 | 2024-02-27 | 株式会社トプコン | 整準台及び測量装置及び測量システム |
| CN112483825B (zh) * | 2020-11-12 | 2021-10-29 | 武汉理工大学 | 一种自动校准调平的经纬仪 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4171907A (en) * | 1978-05-25 | 1979-10-23 | Cubic Western Data | Electro-optic distance measuring device |
| JPS6065870A (ja) * | 1983-09-19 | 1985-04-15 | 大成建設株式会社 | 柱建入垂直検出装置 |
| CH672024A5 (ja) * | 1987-03-02 | 1989-10-13 | Wild Leitz Ag Optik Feinmechan | |
| SE500856C2 (sv) * | 1989-04-06 | 1994-09-19 | Geotronics Ab | Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete |
| DE4007245C2 (de) * | 1990-03-08 | 1999-10-14 | Leica Geosystems Ag | Einrichtung zum Zentrieren eines geodätischen Instrumentes über einem definierten Bodenpunkt |
| US5218770A (en) * | 1990-11-27 | 1993-06-15 | Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha | Surveying machine for construction work |
| JP3226970B2 (ja) * | 1992-07-09 | 2001-11-12 | 株式会社トプコン | レーザ測量機 |
| US5392521A (en) * | 1993-06-10 | 1995-02-28 | Allen; Michael P. | Surveyor's prism target |
| JP3681198B2 (ja) * | 1995-05-25 | 2005-08-10 | 株式会社トプコン | レーザ測量機 |
| JP3670075B2 (ja) * | 1996-03-06 | 2005-07-13 | 株式会社トプコン | 適正高さ表示装置 |
| JPH09257481A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-10-03 | Nikon Corp | 器械高測定アタッチメント付き測量機 |
| US5949548A (en) * | 1997-01-22 | 1999-09-07 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Height sensing measurement device |
| JP3731021B2 (ja) * | 1997-01-31 | 2006-01-05 | 株式会社トプコン | 位置検出測量機 |
| DE19716304C1 (de) * | 1997-04-18 | 1998-05-20 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Geodätisches Gerät |
-
1998
- 1998-07-08 JP JP20868998A patent/JP3965593B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-07-07 EP EP99113565A patent/EP0971207B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-07-07 DE DE69934940T patent/DE69934940T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-07-08 US US09/348,211 patent/US6453569B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002303515A (ja) * | 2001-04-04 | 2002-10-18 | Topcon Corp | 求心案内装置 |
| JP4588240B2 (ja) * | 2001-04-04 | 2010-11-24 | 株式会社トプコン | 求心案内装置 |
| US7200945B2 (en) | 2004-07-30 | 2007-04-10 | Sokkia Co., Ltd. | Surveying instrument |
| DE102005024525B4 (de) | 2004-07-30 | 2019-08-08 | Topcon Corporation | Verfahren zur Vermessung sowie Verfahren zur Korrektur eines Messwerts |
| JP2009526209A (ja) * | 2006-02-08 | 2009-07-16 | ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト | 角度測定器具 |
| CN105300345A (zh) * | 2015-11-10 | 2016-02-03 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 光电经纬仪多目标跟踪方法 |
| CN105973191A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-09-28 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种多负载通用式跟踪平台 |
| CN105973191B (zh) * | 2016-06-16 | 2018-05-29 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种多负载通用式跟踪平台 |
| JP2019109153A (ja) * | 2017-12-19 | 2019-07-04 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
| JP6996961B2 (ja) | 2017-12-19 | 2022-01-17 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0971207A1 (en) | 2000-01-12 |
| EP0971207B1 (en) | 2007-01-24 |
| DE69934940T2 (de) | 2007-05-24 |
| DE69934940D1 (de) | 2007-03-15 |
| JP3965593B2 (ja) | 2007-08-29 |
| US6453569B1 (en) | 2002-09-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3965593B2 (ja) | 測量機の求心位置測定装置及び測量機 | |
| US11486704B2 (en) | Intelligent positioning module | |
| US7200945B2 (en) | Surveying instrument | |
| CN100580374C (zh) | 激光测定方法及激光测定系统 | |
| JP3583786B2 (ja) | 物体を対向して整合させる方法ならびにそのための位置測定センサ | |
| US11566897B2 (en) | Surveying instrument and method of calibrating a survey instrument | |
| JPH04220514A (ja) | 所定の地面測点に対して測地器具を求心するための装置 | |
| GB2354321A (en) | Geodetic device with a laser arrangement | |
| Walker et al. | Total station: measurements and computations | |
| JP7287824B2 (ja) | 測量装置 | |
| JPH10293029A (ja) | 機械高測定機能付測量機 | |
| EP3249352B1 (en) | Optical device, focal plate incorporated in optical device, and measuring method using optical device | |
| JP3718312B2 (ja) | 機械高測定装置 | |
| RU2428656C1 (ru) | Способ установки измерительного прибора в рабочее положение и устройство для его осуществления | |
| RU2452920C1 (ru) | Оптико-электронный центрир | |
| EP4257923A1 (en) | Surveying instrument | |
| JP3092302B2 (ja) | 光波測距システム | |
| JP2000074670A (ja) | 測量装置の機器高測定装置 | |
| RU2106600C1 (ru) | Автоколлимационный теодолит | |
| JP3000450B2 (ja) | 電子測板 | |
| JPH08114451A (ja) | 測量機の機械高測定方法および測定器 | |
| SU849005A1 (ru) | Устройство дл измерени угла междуНАпРАВлЕНи Ми HA ВизиРНыЕ цЕли | |
| CN115493492A (zh) | 一种用于六轴空间分配校准具有成像能力的新型彩色共焦传感器 | |
| SU1744453A1 (ru) | Устройство дл поверки двухкоординатных автоколлиматоров | |
| JPH10300510A (ja) | 移動量検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050621 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070201 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070213 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070412 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070413 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070515 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070516 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100608 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |