JPH09257481A - 器械高測定アタッチメント付き測量機 - Google Patents

器械高測定アタッチメント付き測量機

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JPH09257481A
JPH09257481A JP8070305A JP7030596A JPH09257481A JP H09257481 A JPH09257481 A JP H09257481A JP 8070305 A JP8070305 A JP 8070305A JP 7030596 A JP7030596 A JP 7030596A JP H09257481 A JPH09257481 A JP H09257481A
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JP
Japan
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instrument
telescope
height
surveying
surveying instrument
Prior art date
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Pending
Application number
JP8070305A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Nakamura
昌弘 中村
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH09257481A publication Critical patent/JPH09257481A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 巻き尺を必要とせず、測量機の器械高が
測定誤差なく、入力ミスなく求めることができる器械高
測定アタッチメント付き測量機を提供すること。 【解決手段】 望遠鏡(8)と高低角測定手段を備える
電子式測量機(10)において、前記望遠鏡の対物レン
ズ先端部に、着脱可能に設けた前記望遠鏡の光軸を下向
きに偏向する光路偏向手段(2)と、前記視準望遠鏡の
偏向した光軸(O−A)を測量点(O)に向けたときの
前記高低角測定手段の出力に基づいて、機器の測点から
の高さを求める演算手段(9)とを備えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、機器高を必要とす
る測量に用いる電子式測量機、特にセオドライト、トー
タルステーションに関する。
【0002】
【従来の技術】セオドライト、トータルステーションな
ど望遠鏡を備える電子式測量機(以下、測量機と言
う。)による測量は、まず測量機の器械中心を測量点の
鉛直上方に設置する、求心とよばれる器械設置作業を行
う。前記作業を終えた測量機で間接水準測量などの三次
元測量をする場合、測量機の器械中心から測量点までの
高さを表す器械高を測量結果に反映させる必要がある。
ところで、測量機の器械中心は、望遠鏡内部にあり直接
は測れないので、普通測量機の側面に器械中心マークが
記されている。そこで、器械中心マークから測量点まで
の距離を巻き尺で測定しているが、この距離は斜め距離
になるので、器械中心マークからその鉛直下方の地面ま
での距離で代用される。その結果、機器高の測定精度は
約10mmである。このようにして測定された機器高は、
キーボードで測量機に入力される。測量機は演算手段を
内蔵し、測量機の測定データ(測距値、測角値)と機器
高のデータとを用いて三次元測量結果を求める。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述の如き巻き尺を用
いた構成では、機器高を直接測定できないため、器械中
心マークからその鉛直下方の地面までの距離を用いるの
で、巻き尺の精度と相俟って誤差が大きい。また、読み
取りミスやキー入力ミスの可能性もあり、さらに一人で
は巻き尺測定が困難であるという問題点があった。
【0004】本発明は、巻き尺を必要とせず、測量機の
器械高が測定誤差無く、入力ミス無く演算部に入力さ
れ、これを用いた測量結果を得ることができる、器械高
測定アタッチメント付き測量機を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、望遠鏡(8)
と高低角測定手段を備える電子式測量機(10)におい
て、前記望遠鏡の対物レンズ先端部に、着脱可能に設け
た前記望遠鏡の光軸を下向きに偏向する光路偏向手段
(2)と、前記視準望遠鏡の偏向した光軸(O−A)を
測量点(O)に向けたときの前記高低角測定手段の出力
に基づいて、機器の測点からの高さを求める演算手段
(9)とを備えた。
【0006】望遠鏡の偏向した光軸を測量点に向けたと
きの高低角測定手段の出力が演算手段に自動的に読み込
まれ、それに基づいて機器中心の測点からの高さHを求
める。
【0007】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施形態の器
械高測定アタッチメント20を装着した測量機10によ
って器械高を測定している状態を示す図である。測量機
10が三脚11を介してその機器中心Aが測量点Oの鉛
直上方に位置するように設置されている。機器中心Aか
ら測量点Oまでの距離が機器高Hである。測量機10
は、三脚11に固定された基部10Aに対して本体部1
0Bが水平回転自在である。本体部10Bには望遠鏡8
が上下方向に回動自在に設けられている。機器中心A
は、前記水平回転、垂直回転の夫々の回転中心軸の交点
である。前記水平回転と上下回転の角度は、本体10B
の内部に夫々設けられた、例えばエンコーダなどの水平
角検出手段、高低角検出手段によって検出される。トー
タルステーションでは、さらに測距装置が望遠鏡8に併
設されている。測量機10は、測定した測角値(水平
角、高低角)、測距値を読み込み、所定の演算を行って
所定の測量結果を求める演算手段9と、表示などの出力
を行う出力手段(不図示)と、前記演算に用いる各種定
数を記憶するメモリ9Aを備える。望遠鏡8の先端には
機器高測定アタッチメント20が着脱可能に取り付けら
れ、望遠鏡8の光軸を下向きに偏向している。
【0008】図2は、図1の装置の望遠鏡8及び器械高
測定アタッチメント20の一部断面側面図である。望遠
鏡8の対物レンズ7の枠6にアダプタ5をねじこみ固定
する。アダプタ5に嵌合するアタッチメント本体1が回
転クランプ4で摩擦力に抗して回転可能に固定されてい
る。アタッチメント本体1には反射鏡2が望遠鏡の光軸
に対して斜設され、望遠鏡8の光軸を下向きに偏向す
る。3は、偏向された光軸(B−O)が通過するように
アタッチメント本体1に設けられた穴である。
【0009】さて、測量機10は、前述の求心作業と同
時に整準作業がなされ、望遠鏡8の上下回転の軸が水平
にされているので、望遠鏡光軸(A−B)の回転面内に
測量点Oが存在する。アタッチメント本体1を望遠鏡光
軸(A−B)を中心に回転すると、偏向された光軸(B
−O)は、視準点が望遠鏡光軸(A−B)の回転面に垂
直方向に変化する。そこで、望遠鏡10を覗きながら望
遠鏡10を上下方向に回転させると共に、アタッチメン
ト本体1を望遠鏡光軸(A−B)を中心に回転して視準
点を左右に調節し、測量点Oを視準する。測量点Oを視
準できたら回転クランプ4をさらにねじ込んでアタッチ
メント本体1を固定し、測量機10の高低角微動機構に
よって、正確に視準する。この時の望遠鏡光軸(A−
B)の水平からの角度αが測量機10の高低角として検
出される。
【0010】演算手段9は、測量機10に設けられた押
しボタンスイッチなどの指令スイッチによって演算開始
を指令されると、前記検出された高低角αを読み込むと
共に、記憶手段9Aから線分ABの長さ=L、反射面と
視準望遠鏡光軸のなす角θを読み込み、予め記憶した所
定の(後述の式)演算をして機器高Hを求める。演算
手段9は、求めた機器高Hと測量機の測定データ(測距
値、測角値)とを用いて所定の演算をし、三次元測量結
果を求める。尚、前記メモリ9Aが記憶する各種定数に
は、測量機10の製品寸法で決定される機器定数、例え
ば前記線分ABの長さ=L、前記反射面2と望遠鏡光軸
(A−B)のなす角θが含まれる。また、前記機器定数
は必要に応じて、その一部又は全部を測量機10に設け
た、或いは必要に応じて接続した入力手段(不図示)に
よってその都度入力し、或いは前記メモリ9Aに記憶さ
せても良い。
【0011】図3は、演算手段9が後述の式の演算を
して機器高Hを求める過程を表す流れ図である。測量機
に設けた指令スイッチによって演算開始が指令される
と、記憶手段9Aから記憶手段9Aから線分ABの長さ
=L及び反射面と視準望遠鏡光軸のなす角θが読み込ま
れる(ステップ1)。次ぎに測量機10の高低角検出手
段から高低角αが読み込まれる(ステップ2)。そし
て、後述の式を演算し、機器高Hを求め(ステップ
3)、求めた機器高Hを記憶手段9Aに記憶して(ステ
ップ4)、処理を終了する。
【0012】図4は、図1のA、B、O各点の幾何学的
関係を表す図である。器械高Hは、三角形ABOを参照
して以下の式で求められる。ここで線分AO=Hが求め
る器械高である。角αは線分ABと水平線のなす角であ
り、測量機10の高低角から求める。 H=L・sinα+L・cosα×{tan(180°−2θ−α)}……
【0013】
【発明の効果】通常の測量の視準作業とほぼ同じ作業に
よって器械高Hが測定でき、自動的に演算手段に入力さ
れる。その結果、機器高測定作業が簡単になると共に、
読み誤り、入力ミスも無く、一人で測定できる。また、
巻き尺を用いないので巻き尺の持って行き忘れがない。
さらに、機器高Hを入力するための数値入力手段として
のキーボードを必要としないので、測量機の大きさが大
きくならないという効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施形態の測量機によって器械高を
測定している状態を示す図。
【図2】図1の装置の望遠鏡及びアタッチメント本体の
一部断面側面図。
【図3】演算手段のする演算の流れを表す図。
【図4】機器高を求める計算式の説明図。
【符号の説明】 1……アタッチメント本体 2……反射鏡(光軸偏向手段) 3……穴 4……回転クランプ 5……アダプタ 6……対物レンズの枠 7……対物レンズ 8……望遠鏡 9……演算手段 9A…メモリ 10…測量機 11…三脚 20…機器高測定アタッチメント A……機器中心 B……光軸偏向点 O……測量点

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 望遠鏡と高低角測定手段とを備える電子
    式測量機において、 前記望遠鏡の対物レンズ先端部に着脱可能に設けた前記
    望遠鏡の光軸を下向きに偏向する光軸偏向手段と、 前記望遠鏡の偏向した光軸を前記測量機を設置した測量
    点に向けたときの前記高低角測定手段の出力に基づい
    て、測量機の測量点からの高さを求める演算手段とを備
    えたことを特徴とする器械高測定アタッチメント付き測
    量機。
JP8070305A 1996-03-26 1996-03-26 器械高測定アタッチメント付き測量機 Pending JPH09257481A (ja)

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