JP3092302B2 - 光波測距システム - Google Patents

光波測距システム

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JP3092302B2
JP3092302B2 JP04083204A JP8320492A JP3092302B2 JP 3092302 B2 JP3092302 B2 JP 3092302B2 JP 04083204 A JP04083204 A JP 04083204A JP 8320492 A JP8320492 A JP 8320492A JP 3092302 B2 JP3092302 B2 JP 3092302B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】光波測距装置の機械高測定装置に
係り、特に光波測距装置の機械高を光波測距により容易
かつ正確に測定できるようにした光波測距装置の機械高
測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の測量機の電子化の成果として、光
波を用いて瞬時に測距作業を行える光波測距装置が開発
されている。この種の光波測距装置にはセオドライトに
搭載され斜距離を測定するタイプやセオドライトと一体
的に構成され、高度角と水平角を自動的に測定して座標
算出を即座に行えるトータルステーション等がある。い
ずれのタイプにおいてもその主な機能として光波測距装
置の機械原点と求点との水平距離や高低差(比高)を容
易に算出できる内部演算機能等がある。このとき機械原
点は測量機の内部の固有既知点であり、測距作業はこの
機械原点を地上測点の鉛直線上に一致させて行う。この
ため測距時の座標系のX,Y両座標は地上測点の座標と
一致するが、Z座標から実際の測点高度を算出するため
には機械原点と測点の鉛直距離(機械高)を求める必要
がある。そこで、通常は測量時にその都度、測点と機械
原点との距離を巻尺等により実測したり、測点の近くに
標尺を立ててその目盛を読んで機械高を求めたりしてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
巻尺で測定する方法では光波測距装置の構造上、測点か
ら機械原点までを斜距離でしか測定できない。このため
光波測距の測定精度に比べ、精度の低い値しか得ること
ができず、光波測距装置で高い精度の測距を行っても最
終的な測量成果精度は粗いものとなってしまうという問
題がある。
【0004】また、その測定法が確立されていないた
め、測量担当者の熟練度によりばらつきが生じるばかり
でなく、作業手順が一貫していないので、機械高測定を
忘れてしまうおそれもある。この場合には光波測距装置
で得られた測距データが無駄になるばかりでなく他の測
点の測量作業にも悪影響を及ぼす場合がある。
【0005】そこで、本発明の目的は上述した従来の技
術が有する問題点を解消し、光波測距装置の正確な機械
高を光波測距により直接求めることのできる機械高測定
装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、測距光学系、前記測距光学系から射出され、目標物
で反射され前記測距光学系に入射する光を受光して距離
を測定する測定手段、及び演算手段を備える光波測距装
置と、前記測距光学系の対物レンズ側の光軸上に、前記
光波測距装置の機械原点から第1の距離離間して着脱可
能に配置され、前記測距光学系から射出する光の光路を
下方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1の光学装置
と、測点から鉛直距離離間し、前記偏角部材に対向して
配置されたコーナーキューブを備える第2の光学装置を
具備し、前記測距光学系は前記偏角部材を介して前記コ
ーナーキューブに光を往復させ、前記測定手段は前記機
械原点と前記コーナーキューブとの間の第2の距離を測
定し、前記演算手段は前記第1の距離、前記鉛直距離、
及び前記第2の距離から機械高を演算することを特徴と
する光波測距システムを構成した。
【0007】又は、測距光学系、及び前記測距光学系か
ら射出され、目標物で反射され前記測距光学系に入射す
る光を受光して距離を測定する測定手段を備える光波測
距装置と、前記測距光学系の対物レンズ側の光軸上に、
前記光波測距装置の機械原点から第1の距離離間して着
脱可能に配置され、前記測距光学系から射出する光の光
路を下方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1の光学
装置と、測点から前記第1の距離と同値の鉛直距離離間
し、前記偏角部材に対向して配置されたコーナーキュー
ブを備える第2の光学装置を具備し、前記機械原点と前
記コーナーキューブとの間の第2の距離を測定し、機械
高を前記第2の距離と同値のものとして求めることを特
徴とする光波測距システムを好ましいものとして構成し
た。
【0008】望遠鏡が水平に視準していない場合には、
測距光学系、前記測距光学系の高度角を測定する測角手
段、前記測距光学系から射出され、目標物で反射され前
記測距光学系に入射する光を受光して距離を測定する測
定手段、及び演算手段を備える光波測距装置と、前記測
距光学系の対物レンズ側の光軸上に、前記光波測距装置
の機械原点から第1の距離離間して着脱可能に配置さ
れ、前記測距光学系から射出する光の光路を下方へ直角
に偏角する偏角部材を備える第1の光学装置と、測点か
ら鉛直距離離間し、前記偏角部材に対向して配置された
コーナーキューブを備える第2の光学装置を具備し、前
記測距光学系は前記偏角部材を介し、前記コーナーキュ
ーブに光を往復させ、前記測定手段は前記機械原点と前
記コーナーキューブとの間の第2の距離を測定し、前記
測角手段は前記高度角を測定し、前記演算手段は前記第
1の距離、前記鉛直距離、前記第2の距離、及び前記高
度角から機械高を演算することを特徴とする光波測距シ
ステムが好ましいものとして構成した。
【0009】又光波測距装置の測距光学系の対物レンズ
側の光軸上に、前記光波測距装置の機械原点から第1の
距離離間して配置され、前記測距光学系から射出する光
の光路を下方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1の
光学装置と、測点から鉛直距離離間し、前記偏角部材に
対向して配置されたコーナーキューブを備える第2の光
学装置とから構成され、 前記第2の光学装置は、基板
と、前記コーナーキューブを固設し、前記基板に対して
水平方向に摺動可能な可動部材と、前記基板を支持する
支持脚と、測点と前記コーナーキューブとの間の鉛直距
離を測定する測長器とを併せ有することを好ましいもの
として構成した。
【0010】
【作用】請求項1の発明によれば、光波測距装置の機械
原点と測点との間の機械高を求めるために、光波測距装
置の測距光学系から光を射出し、前記測距光学系の対物
レンズ側の光軸上に、前記光波測距装置の機械原点から
所定の第1の距離離間して着脱可能に配置され、前記測
距光学系から射出する光の光路を下方へ直角に偏角する
偏角部材を備える第1の光学装置を介して、第2の光学
装置に設置され、測点から所定の鉛直距離離間し、前記
偏角部材に対向して配置された機械原点からコーナーキ
ューブまでの第2の距離を測定する。機械高は所定の第
1の距離と、所定の鉛直距離、実測した第2の距離とか
ら演算される。
【0011】請求項2の発明によれば、機械原点から偏
角部材までの第1の距離と測点からコーナーキューブま
での鉛直距離とを等しく設定すれば、機械高は機械原点
からコーナーキューブまでの第2の距離と同一値のもの
として測定される。
【0012】請求項3の発明によれば、望遠鏡が水平に
視準していなくても、光波測距装置の機械原点と測点と
の間の機械高を求めるために、光波測距装置の測距光学
系から光を射出し、前記測距光学系の対物レンズ側の光
軸上に、前記光波測距装置の機械原点から所定の第1の
距離離間して着脱可能に配置され、前記測距光学系から
射出する光の光路を下方へ直角に偏角する偏角部材を備
える第1の光学装置を介して、第2の光学装置に設置さ
れ、測点から所定の鉛直距離離間し、前記偏角部材に対
向して配置された機械原点からコーナーキューブまでの
第2の距離を測定する。又高度角を測定する。機械高は
所定の第1の距離と、所定の鉛直距離、実測した第2の
距離、実測した高度角とから演算される。演算は本装置
に内蔵した演算手段により行われる。
【0013】請求項4の発明によれば、 光波測距装置
の測距光学系の対物レンズ側の光軸上に、前記光波測距
装置の機械原点から第1の距離離間して配置され、前記
測距光学系から射出する光の光路を下方へ直角に偏角す
る偏角部材を備える第1の光学装置と、測点から鉛直距
離離間し、前記偏角部材に対向して配置されたコーナー
キューブを備える第2の光学装置とは、一定の光波測距
装置にのみ対応するものでとなく、各種の光波測距装置
に対応であり、又第1の光学装置と第2の光学装置との
組合せも変更可能である。そして、第2の光学装置は、
基板と、前記コーナーキューブを固設し、前記基板に対
して水平方向に摺動可能な可動部材と、前記基板を支持
する支持脚と、測点と前記コーナーキューブとの間の鉛
直距離を測定する測長器とを併せ有するので容易に鉛直
距離の測定が可能である。
【0014】
【実施例】以下、本発明による機械高測定装置の一実施
例を図1乃至図4を参照して説明する。図1は光波測距
装置1に本発明の機械高測定装置をセットした状態を示
した全体図である。同図において、符号1は三脚2上に
設置された光波測距装置本体を示しており、この光波測
距装置1は地上の測点Pの鉛直線上に機械原点Cが来る
ように求心及び整準されている。
【0015】また、光波測距装置1の対物レンズ3の前
方には偏角光学系としての偏角プリズム4が取り付けら
れている。この偏角プリズム4は対物レンズ3に連結さ
れた鏡筒5内に収容され、光波測距装置1からの光線の
進行方向を下方に向け直角に曲げる役割を果たすように
なっている。偏角プリズム4としてはペンタプリズムが
使用されている。また、鏡筒5の下面には小開口5aが
形成されており、偏角プリズム4から下方に向けて出射
された光線を通過させるようになっている。このとき光
波測距装置1の望遠鏡6内の測距光学系は水平に設定さ
れているの光波測距装置1の対物レンズ3からは水平光
線が出射される。したがって、水平光線は偏角プリズム
4により直角に偏角され下向きの鉛直光線となる。
【0016】さらにこの光線の光路の延長線上、すなわ
ち鉛直下方の地上部にはプリズムシステム7が配置され
ている。このプリズムシステム7はコーナーキューブ8
と、コーナーキューブ8が固定されるベース9と、ベー
ス9を水平状態に保持する支持脚10、11とから構成
されている。このうちコーナーキューブ8はホルダ12
内に収容され、このホルダ12は地上の測点Pからプリ
ズム原点位置Dまでの距離が鉛直距離Bとなるようにベ
ース上面9aに固着されている。
【0017】ここで図2乃至図4を参照してプリズムシ
ステム7の構成について説明する。図2はプリズムシス
テム7の全体を示した正面図である。同図において、ベ
ース9は図3に示したように平面形状が小判型の肉厚板
をなし、その一端には貫通孔13が形成されている。こ
の貫通孔13はコーナーキューブ8のホルダ12の保持
面(ベース上面9a)と直角をなすように設けられてお
り、さらにこの貫通孔13にはその内径よりわずかに小
さい直径を有する丸棒状のスライド支持脚10が摺動自
在に嵌合されている。貫通孔13がベース上面9aと直
角をなして形成されていることからスライド支持脚10
はベース上面9aに対して常に直角をなした状態でその
位置を保持することができる。
【0018】またスライド支持脚10の周面の一部には
実寸長さの目盛14が刻まれており、ベース下面での支
持脚10の目盛14の読みにより支持脚先端部10aと
プリズム原点位置Dとの距離を設定できるようになって
いる。なお、ベース9の側面には止めネジ15が螺着さ
れている。この止めネジ15はスライド支持脚10を所
定位置に固定するためのもので、図4に示したようにネ
ジの締め込みによりスライド支持脚10をベース9と直
角をなした状態で所定位置に固定できる。
【0019】また、スライド支持脚10とともにベース
9を支持するために2本の可傾支持脚11、11がベー
ス下面9bに取り付けられている。この可傾支持脚11
はベース下面9bに固着された根元部11Aと、この根
元部11Aに枢着された可傾脚11Bとからなる。さら
に、ベース上面9aには円形気泡管16が埋設されてお
り、この円形気泡管16によりベース上面9aの水平状
態を確認することができる。したがって、ベース上面9
aが水平面状態を保持するようにプリズムシステム7を
設置するにはあらかじめ所定長さに設定されたスライド
支持脚10の先端10aを測点Pに合わせ、次いで2本
の可傾脚11Bを傾けるように開脚させ、円形気泡管1
6を見ながらベース上面9aが水平となるように可傾脚
11Bの開き具合を調整して整準すればよい。
【0020】一方、ベース上面の一部には摺動部17が
形成されている。この摺動部17はベース9の一部を切
欠いた角溝18に棒状摺動片19をはめ込んで形成した
ものである。また角溝18の底面にはスリット20が形
成され、このスリット20により摺動片19の底面に取
着された止めネジ21も摺動片19とともにスライド
し、止めネジ21を締め込むことにより摺動片19を所
定位置に固定できるようになっている。このとき摺動片
19の上面にはコーナーキューブ8のホルダ12が固着
されているので、摺動片19をスライドしてホルダ12
の位置を調整することによりコーナーキューブ8のほぼ
中心部に偏角プリズム4からの鉛直光線を入射させるこ
とができる。このときホルダ12の先端位置12aはプ
リズム原点位置Dと一致しており、このプリズム原点位
置Dを基準としてスライド支持脚10の目盛14が設定
されている。
【0021】ここで上述のように設置されたプリズムシ
ステム7と、光波測距装置1に取り付けられた偏角プリ
ズム4との位置関係について図1を参照して説明する。
図1において、測点Pと光波測距装置1の機械原点Cと
の鉛直距離Hは光波測距装置1の機械高を、測点Pとプ
リズム原点Dとの鉛直距離Bはプリズム原点高さを示し
ている。この状態で光波測距装置1によりコーナーキュ
ーブ8を視準するとその測距実測値として光波測距装置
1の機械原点Cとプリズム原点Dとの距離Lが得られ
る。
【0022】したがって、光波測距装置1の機械高H
は、下式で求まる。 H=L−A+B …式(1) ここで、A:光波測距装置の機械原点から偏角プリズム
までの距離(定数)
【0023】よって、光波測距装置1とこの光波測距装
置1に取り付けられた偏角プリズム4の偏角点との距離
Aがわかれば、光波測距装置1の機械高Hを容易に求め
ることができる。なお、距離Aの値は光波測距装置の型
式及び光波測距装置の対物レンズに連結される偏角光学
系の寸法や使用光学部材のタイプにより異なる。そこ
で、使用する光波測距装置に対応する偏角光学系の型式
をあらかじめ設定しておけば、距離Aを対象の光波測距
装置に固有の距離定数として取り扱うことができる。
【0024】この距離定数Aをあらかじめ求めるには各
光波測距装置の製品調整時等に調整済みの光波測距装置
を所定の既知高さに設置し、対応する偏角光学系アタッ
チメントを光波測距装置の対物レンズ部分に取り付けて
既知高さのターゲットのコーナーキューブを光波測距す
る。このときの測定結果と既知量により各光波測距装置
に対応する偏角光学系の距離定数Aを求めることができ
る。
【0025】また、光波測距装置の機械原点Cと偏角光
学系との距離Aと、測点Pとプリズム原点Dとの鉛直距
離Bとが等しく(A=B)なるようにスライド支持脚1
0の脚長を調整してベース位置を決定し、その状態でコ
ーナーキューブ8を所定位置に設置して光波測距装置で
コーナーキューブ8を視準すれば、光波測距装置の実測
値をそのまま機械高として求めることができる。したが
って、上述のスライド支持脚10に代えて偏角光学系の
距離定数Aに等しい脚長の支持脚を設けることにより、
プリズムシステム7を可動部のない一体化したものとす
るも可能である。
【0026】次に他の実施例として、光波測距装置の望
遠鏡の測距光学系が水平でない場合でも光波測距装置の
機械高を測定できるようにした機械高測定装置について
図5を参照して説明する。通常は光波測距装置の望遠鏡
の高度角がゼロになるように表示パネルを見ながら微調
整し、望遠鏡の水平出しを行っている。ところで、トー
タルステーション等の光波測距装置では測距測角を同時
に行えるので、光波測距により求まった斜距離とその測
角値とを用いて鉛直成分距離を同時に算出することがで
きる。そこで、本実施例ではこの機能を利用して機械高
測定を行う。
【0027】図5において、光波測距装置1の望遠鏡6
は水平から俯角θをなして固定されている。このときの
光波測距装置1の機械原点Cとプリズム原点Dとの実測
値をL′とすると、機械高Hは下式で求まる。 H=L′cos θ−A(cos θ+sin θ)+B …式(2 )
【0028】このとき光波測距装置1の内蔵の演算部に
は高度角の値を判定し、上述の2つの式のいずれかを選
択して演算を行う機械高測定モードが設定されている。
このモードではまず光波測距装置1の望遠鏡6の高度角
が0°(またはその装置において水平状態を示す角度)
かどうかの判定を行う。そして高度角が0°の場合には
式(1)を利用して機械高が求められる。また、高度角
が0°以外の場合には測角値θを用いて式(2)により
機械高が求められる。
【0029】したがって、測定作業者は機械高測定の際
にこのモード設定を行い、上述の測距作業を行えば、光
波測距装置1の望遠鏡6の高度角が水平状態からわずか
に振れていても、この内蔵された演算機能により補正計
算された機械高を得ることができる。このように本実施
例では光波測距装置1の測定光が水平でなくても機械高
を直接測定できるので、高度角の微調整を必要とせず機
械高測定の簡便化を図ることができる。
【0030】なお、上述の実施例においては、偏角光学
系の例としてペンタプリズムを使用したが、光線を直角
に偏角できる直角プリズムや平面反射鏡等の光学部品を
鏡筒5内に装着しても良いことはいうまでもない。
【0031】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば光波測距装置自身の光波測距によりその機械高
を高い精度で直接求めることができ、光波測距作業の効
率化と高い精度の測量成果を得ることができるという効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光波測距装置の機械高測定装置の
一実施例を示した全体図。
【図2】図1に示した機械高測定装置のプリズムシステ
ムを示した拡大正面図。
【図3】図2に示したプリズムシステムの平面図。
【図4】図2に示した機械高測定装置のプリズムシステ
ムのIV-IV 線断面図。
【図5】本発明による光波測距装置の機械高測定装置の
他の実施例を示した全体図。
【符号の説明】
1 光波測距装置 3 対物レンズ 4 偏角プリズム 6 望遠鏡 7 プリズムシステム 8 コーナーキューブ 10 スライド支持脚 11 可傾支持脚 16 円形気泡管 17 摺動部 A 距離定数 B 鉛直距離 C 光波測距装置機械原点 D プリズム原点 H 機械高
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−279190(JP,A) 実開 昭60−129610(JP,U) 実開 昭64−38507(JP,U) 実開 平1−118309(JP,U) 実開 昭62−81079(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01C 15/00 - 15/14

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測距光学系、前記測距光学系から射出さ
    れ、目標物で反射され前記測距光学系に入射する光を受
    光して距離を測定する測定手段、及び演算手段を備える
    光波測距装置と、前記測距光学系の対物レンズ側の光軸
    上に、前記光波測距装置の機械原点から第1の距離離間
    して着脱可能に配置され、前記測距光学系から射出する
    光の光路を下方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1
    の光学装置と、測点から鉛直距離離間し、前記偏角部材
    に対向して配置されたコーナーキューブを備える第2の
    光学装置を具備し、前記測距光学系は前記偏角部材を介
    して前記コーナーキューブに光を往復させ、前記測定手
    段は前記機械原点と前記コーナーキューブとの間の第2
    の距離を測定し、前記演算手段は前記第1の距離、前記
    鉛直距離、及び前記第2の距離から機械高を演算するこ
    とを特徴とする光波測距システム。
  2. 【請求項2】測距光学系、及び前記測距光学系から射出
    され、目標物で反射され前記測距光学系に入射する光を
    受光して距離を測定する測定手段を備える光波測距装置
    と、前記測距光学系の対物レンズ側の光軸上に、前記光
    波測距装置の機械原点から第1の距離離間して着脱可能
    に配置され、前記測距光学系から射出する光の光路を下
    方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1の光学装置
    と、測点から前記第1の距離と同値の鉛直距離離間し、
    前記偏角部材に対向して配置されたコーナーキューブを
    備える第2の光学装置を具備し、前記機械原点と前記コ
    ーナーキューブとの間の第2の距離を測定し、機械高を
    前記第2の距離と同値のものとして求めることを特徴と
    する光波測距システム。
  3. 【請求項3】測距光学系、前記測距光学系の高度角を測
    定する測角手段、前記測距光学系から射出され、目標物
    で反射され前記測距光学系に入射する光を受光して距離
    を測定する測定手段、及び演算手段を備える光波測距装
    置と、前記測距光学系の対物レンズ側の光軸上に、前記
    光波測距装置の機械原点から第1の距離離間して着脱可
    能に配置され、前記測距光学系から射出する光の光路を
    下方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1の光学装置
    と、測点から鉛直距離離間し、前記偏角部材に対向して
    配置されたコーナーキューブを備える第2の光学装置を
    具備し、前記測距光学系は前記偏角部材を介し、前記コ
    ーナーキューブに光を往復させ、前記測定手段は前記機
    械原点と前記コーナーキューブとの間の第2の距離を測
    定し、前記測角手段は前記高度角を測定し、前記演算手
    段は前記第1の距離、前記鉛直距離、前記第2の距離、
    及び前記高度角から機械高を演算することを特徴とする
    光波測距システム。
  4. 【請求項4】光波測距装置の測距光学系の対物レンズ側
    の光軸上に、前記光波測距装置の機械原点から第1の距
    離離間して配置され、前記測距光学系から射出する光の
    光路を下方へ直角に偏角する偏角部材を備える第1の光
    学装置と、測点から鉛直距離離間し、前記偏角部材に対
    向して配置されたコーナーキューブを備える第2の光学
    装置とから構成され、前記第2の光学装置は、基板と、
    前記コーナーキューブを固設し、前記基板に対して水平
    方向に摺動可能な可動部材と、前記基板を支持する支持
    脚と、測点と前記コーナーキューブとの間の鉛直距離を
    測定する測長器とを併せ有することを特徴とする請求項
    3に記載の光波測距装置の機械高測定装置。
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