JP2000074670A - 測量装置の機器高測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 三脚上に設置した測量装置の機器高を、
一人で、容易に、正確に測定することができる測量装置
の機器高測定装置を提供すること。 【解決手段】 測量装置の機器中心点高さを求める機器
高測定装置であって、前記機器高測定装置は、測量装置
部と地上に置かれた基準装置部とで構成され、前記測量
装置部は、下方に向いた光軸を有する光学系と、前記光
軸の方向を偏向させる偏向手段と、前記光軸の方向の変
化量を示す偏向角を検出する偏向角検出手段とを備え、
前記基準装置部は、所定の距離離して配設された２つの
ターゲットを有し、前記測量装置の機器高を求めるため
に、前記光軸を前記ターゲットの各々に一致させるため
の前記偏向角を求める機器高測定装置とした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測量装置の機器高
を求める機器高測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】地上の測量基準点の上に三脚を据え、測
量基準点の鉛直上方に設置した測量装置で、他の２点間
の水平角ならびに高度角を測定する場合は、測量装置の
機器中心を座標の原点として測定した測定値を、測量基
準点を座標の原点とした値に変換する必要がある。この
座標変換のために、測定基準点から測量装置の機器中心
までの高さ（機器高）を測定しなければならない。

【０００３】従来、機器高は、巻き尺を使って、測量装
置の外ケースの側面に形成された指標と測量基準点との
距離を測定していた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記の従来例の方法で
は、測量基準点を通る垂線に対して斜めに測定すること
になり、測量基準点から測量装置の機器中心までの高さ
を正確に測定することができなかった。また、作業者は
巻き尺のテープ始端を測量基準点に当て、テープ他端の
目盛りを読まなければならず、一人の作業者では困難で
あった。

【０００５】そこで、本発明の目的は、三脚上に設置し
た測量装置の機器高を、一人で、容易に測定することが
できる機器高測定装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の装置は、下方に
向いた光軸を有する光学系と、前記光軸を偏向させる偏
向手段と、前記光軸の変化量を示す偏向角を検出する偏
向角検出手段とを有する測量装置部で構成された測量装
置の機器中心点高さを求める機器高測定装置であって、
前記測量装置の機器高を求めるために、前記光軸の方向
を前記光軸と地表との交点が所定距離変位するように変
化させることを特徴とする機器高測定装置である。

【０００７】そして、上記装置において、地上に置かれ
た、所定の距離離して配設された２つのターゲットを有
する基準装置部を更に備え、前記測量装置の機器高を求
めるために、前記光軸を前記ターゲットの各々に一致さ
せるための前記偏向角を求めるようにした。前記各機器
高測定装置は、前記測量装置が設置された地表におい
て、前記光線を前記所定の距離移動させる前記光線の偏
向手段の偏向角から機器高を求めることができる。

【０００８】或いは、本発明の装置は、下方に向いた光
軸を有する光学系と、前記光軸の方向を所定の角度変化
させる偏向手段とを有する測量装置部で構成された測量
装置の機器中心点高さを求める機器高測定装置であっ
て、前記測量装置の機器高を求めるために、前記光軸の
方向を前記所定角度変化させることを特徴とする機器高
測定装置である。

【０００９】そして、上記装置において、地上に置かれ
た、離間距離を変更自在に配設された２つのターゲット
と、前記離間距離を検出する距離検出手段とを有する基
準装置部を更に備え、前記測量装置の機器高を求めるた
めに、前記所定の角度変化する光軸方向の夫々におい
て、前記各ターゲットの各々が前記光軸の各々に一致す
るようにしたときの前記離間距離を求めるようにした。

【００１０】前記各機器高測定装置は、前記光線の方向
を前記所定の角度させたときの、前記測量装置が設置さ
れた地表における前記光軸の変位量から機器高を求める
ことができる。そして、前記いずれの場合も、前記測量
装置部は、入力された前記偏向角と前記所定の距離、若
しくは入力された前記離間距離と前記所定の角度とに基
づいて機器高を求める演算手段を備えることが好まし
く、前記演算手段は、前記測量装置が備える演算手段で
兼ねることができる。

【００１１】なお、前記いずれの場合も、前記光学系
は、光線を下方に投射する投光装置とすることができ
る。前記のうち、基準装置部を備える場合においては、
少なくとも一方のターゲットは、前記光線を受光した時
に電気信号を前記演算手段に出力する受光手段を有し、
前記演算手段は、前記受光手段からの電気信号を受けた
時の前記偏向角検出手段から偏向角、又は前記距離検出
手段からの離間距離を受け、機器高を求める演算をなす
ようにすることが好ましい。

【００１２】このようにすることによって、機器高を更
に容易に求めることができる。前記基準装置部に代え
て、前記偏向手段によって方向が変化する光軸の、地表
における間隔を求めるための目盛を有する目盛板である
機器高測定装置としても良い。基準装置部を用いないの
で安価な装置を提供できる。そして、前記光学系の光軸
は、前記測量装置の機器中心点を通る鉛直線に一致して
いることが好ましい。前記測量装置を設置する際の求心
作業にも用いることができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の例を
図面を参照して説明する。なお、各図において、同一の
部分には同一の符号を付して説明を簡略にする。図１
は、本発明の実施の形態例の構成を示す図である。同図
において、測量装置１０が、その基準軸（後に詳述）が
鉛直で、且つ測量基準点である測量点Ｓを通る鉛直線上
にその機器中心点Ｐが来るように三脚５０上に設置され
ている。測量装置１０の下部には光線を下方に向けて投
光する光学系２０を含む測量装置部が設けられている。

【００１４】測量点Ｓの位置には、水平方向に所定の距
離離れた位置に前記投光された光線を一致させる２つの
ターゲットを有する基準装置部３０が配設されている。
基準装置部３０については後に詳述する。測量装置１０
は、各種の測量装置であって良い。例えばセオドライ
ト、トータルステーション、レベルの場合、いずれも図
１に示すように水平面内で回転自在な望遠鏡１１を有す
る。望遠鏡１１の水平回転の回転軸Ｂが前記基準軸であ
り、望遠鏡１１の光軸と前記水平回転の回転軸Ｂとの交
点が機器中心点Ｐである。レベル以外の測量装置の望遠
鏡１１は鉛直面内での回転も自在で、その回転軸Ａも前
記機器中心点Ｐを通る。

【００１５】測量装置１０がトータルステーションと共
に用いるコーナーキューブである場合には、コーナーキ
ューブの頂点が機器中心点であり、これらを三脚５０上
に支持する軸の軸線が基準軸である。測量装置１０が衛
星からの信号を受信して位置を求めるＧＰＳ装置のアン
テナである場合には、ＧＰＳアンテナの中心点が機器中
心点であり、これらを三脚５０上に支持する軸の軸線が
基準軸である。

【００１６】測量装置１０は、下面に設けられた３本の
整準ネジ２８で前記基準軸が鉛直になるように調整（こ
れを整準という）され、図示しない固定ネジで三脚５０
に固定される。測量装置部の詳細を図２（ａ）に示す。
図２（ｂ）は同図の側面図である。図２（ａ）、（ｂ）
において、２１は発光ダイオード、レーザダイオードな
どの光源である。光源２１からの光は集光レンズ２２に
よって細いビームとされ、光軸上に４５°に斜設された
反射鏡２３で反射され、装置の下面に設けた開口２９か
ら下方に投光される。上記２１〜２３で光学系２０を構
成する。

【００１７】反射鏡２３は、前記ビームの反射点を中心
として回動自在な回転軸２４に支持されている。回転軸
２４は、ねじりバネ２５などによって一回転方向に付勢
されており、反射鏡２３が４５°になる位置で反射鏡２
３が当接するように測量装置１０の筐体に設けられた当
接面２６に前記付勢力によって当接されている。そし
て、反射面２３が当接面２６に当接したとき、下方へ投
光されるビームの光軸は測量装置１０の基準軸と一致す
るように光学系２０の位置が調整されている。

【００１８】従って、反射面２３が当接面２６に当接し
た状態で、整準された測量装置１０からのビームが測量
点Ｓに投光されていれば、測量装置１０の機器中心点は
測量点Ｓの鉛直線上にある。このように測量装置１０を
設置する作業を求心作業という。回転軸２４は、測量装
置１０の筐体外に延び、外部からねじりバネ２５の付勢
力に抗して回転可能である。回転軸２４を回転させると
反射鏡２３が回転し、ビームの投光される方向が変化
し、基準装置部３０上における投光位置が移動する。
回転軸２４にはその回転角度を検出するエンコーダ２７
などの検出手段が設けられている。反射鏡２３を角度θ
回転させた時、反射鏡２３で反射されて下方に投光され
るビームの方向は角度２θ変化する。即ち、光軸の偏向
角は２θである。 基準装置部３０上における投光位置
の変化量Ｌは、図１を参照してＬ＝Ｈ１＊２θ（式１）
である。但しθは回転軸の回転角度（単位；ラジア
ン）、Ｈ１は反射鏡２３でのビームの反射点と基準装置
部３０との距離である。

【００１９】再び図２に戻って、測量装置１０は、後に
詳述する基準装置部３０のターゲット３１Ａ（図３参
照）からの受光信号の強度を表示する表示部４３と、あ
らかじめ記憶手段４１に記憶させた、基準装置部３０の
ターゲット３１Ａ、３１Ｂの間隔Ｄと測量装置１０に固
有の定数Ｈ２（反射鏡２３でのビームの反射点から機器
中心点Ｐまでの高さ）及び基準装置部３０に固有の定数
Ｈ３（詳細は後述する）と、ターゲット３１Ａ、３１Ｂ
から受けた受光信号に基づいて生成される一致信号が生
成されたときのエンコーダ２７からの出力とに基づい
て、測量装置１０の機器高を演算するＣＰＵなどで構成
された演算手段４２からなる処理部４０を更に備えてい
る。

【００２０】次に基準装置部３０の詳細を図３によって
説明する。同図（ａ）は平面図、（ｂ）はそのＡ−Ａ断
面図である。基準装置部３０は、保持部材３５の上面３
５Ａの既知の所定の距離Ｄ離れた位置に、測量装置１０
から投光されたビームを一致させる２つのターゲット３
１Ａ、３１Ｂを備えている。ターゲット３１Ａ、３１Ｂ
は、夫々その上面に投光されるビームの光束の径とほぼ
同径の開口を有する絞り３２Ａ、３２Ｂと、該絞り３２
Ａ、３２Ｂの直下に配置され、前記開口を通過したビー
ムを受光し、その受光強度を示す電気信号を受光信号Ｓ
Ａ、ＳＢとして処理部４０に出力する受光部３３Ａ、３
３Ｂとで構成されている。

【００２１】基準装置部３０は、支持部材３５の下面３
５Ｂの、一方のターゲット３１Ａの真下に前記開口と同
軸上に尖端を有する突起部３４を有し、該尖端を測量点
Ｓに一致させ、且つ２つのターゲットの開口を結ぶ直線
が前記測量装置１０から投光されたビームの移動方向に
一致するように配設されている。ターゲット３１Ａから
前記尖端までの高さが前記Ｈ３である。

【００２２】なお、基準装置部３０は、上面３５Ａに設
けられた支持部材の水平を検知する気泡管３６を参照し
て、下面３５Ｂの、他方のターゲット３１Ｂ側に設けら
れた下面３５Ｂからの長さが調整自在の支持脚３４Ａの
前記長さを調整して、支持部材３５が水平になるように
配設されている。支持脚３４Ａの地表側端面は基準装置
部３０が安定して設置されるよう平面とされている。

【００２３】従って、測量装置１０が整準され、且つ概
略求心されると、ビームがターゲット３１Ａの開口を通
して受光部３３Ａに受光され、ターゲット３１Ａからの
受光信号ＳＡが処理部４０に送出される。そして、正確
に求心されたとき、表示部４３に表示された受光信号の
強度は最大となる。即ち、表示部４３の表示が最大強度
を示す位置に測量装置１０の水平面内の位置を調節する
ことによって、測量装置１０の求心作業を正確に短時間
で行うことができる。

【００２４】図４に処理部４０の構成のブロック図を示
す。押しボタンスイッチ４４が前記表示部４３に隣接し
て設けられている（図２（ａ））。押しボタンスイッチ
４４を押すと、第１の一致信号Ｓ１が生成される。即
ち、押しボタンスイッチ４４が押されたことが演算手段
４２に認識され、エンコーダ２７の回転角度θ１が演算
手段４２に入力される。

【００２５】処理部４０は、ターゲット３１Ｂから受け
た受光信号ＳＢの強度が最大になったときに第２の一致
信号Ｓ２を発生する一致信号発生回路４５を備えてい
る。この第２の一致信号Ｓ２が演算手段４２によって認
識され、エンコーダ２７の回転角度θ２が演算手段４２
に入力される。そこで、回転軸２４を回転させてビーム
の投光位置を変化させ、ビームがターゲット３１Ｂの開
口３２Ｂを通過するように移動させる。すると、ビーム
がターゲット３１Ｂの開口の位置にきた時、ターゲット
３１Ｂの開口を通してビームを受光した受光部３３Ｂか
らの受光信号ＳＢは最大となり、第２の一致信号Ｓ２が
処理部４０の一致信号生成回路で生成され、この時のエ
ンコーダ２７の回転角度θ２が演算手段４２に入力され
る。

【００２６】エンコーダ２７に代えて反射鏡２３の回転
角度を示す機械式の目盛を設け、受光信号Ｓ１、Ｓ２が
最大となったときの値を読み取り数字キー等によって入
力しても良い。演算手段４２は、前記式１においてθ＝
θ２−θ１、Ｌ＝Ｄとして、Ｈ１＝Ｌ／２θの演算を行
い、更にＨ＝Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３を演算して機器高Ｈを求
める。なお、（θ２−θ１）は、前記光軸の偏向角であ
る。

【００２７】求めた機器高Ｈは、測量装置１０が備えた
演算手段（不図示）に伝達され、測量機による測定値の
補正に利用される。このような測量機による測定値の補
正は、従来の測量機においても手入力された機器高のデ
ータを用いて行われている。Ｄ＝３００mm、Ｈ１＝１５
００mmの場合、機器高測定精度１mmを得るためには反射
鏡の回転角度を１５”程度の分解能で検出することが必
要である。このようなエンコーダは高価であるので、適
当な拡大機構、例えば回転軸から離れた位置で反射鏡２
３を押して回転変位させるネジ軸を用いることもでき
る。

【００２８】なお、演算手段４２は、必ずしも機器高測
定装置専用に備える必要はなく、測量装置１０が備える
演算手段で上記処理を行うようにしても良い。図５は、
そのようにした場合の測量装置（この場合はトータルス
テーション）１０の構成の概略ブロック図である。同図
において、測量装置１０は、測距を行う光波測距装置
５、光波測距装置５の望遠鏡の光軸方向の測角を行うエ
ンコーダ６、各種の測量プログラムや測量データ等を記
憶するメモリ４、上述の機器高測定装置７等、及びこれ
らの制御と測量結果を求める演算をする制御演算部３で
構成されている。メモリ４、制御演算部３が、夫々図４
に示した機器高測定装置を構成する記憶手段４１、演算
手段４２を兼ねる。

【００２９】図６は、図５の測量装置が各種測量作業を
行うために備える測量プログラムのメニュー構造の例で
あり、図７は、前記測量プログラムによって表示部１に
表示されるメインメニュー等の画面である。作業者は、
表示部１に表示されたメニューの番号をキーボード２で
選択して特定の測量作業プログラムを実行させる。測量
装置１０の電源をＯＮにすると、図７のメインメニュー
画面（図６の５１に対応）が表示部１に表示される。
メインメニュー画面では、測距・測角を行うプログラ
ム「基本観測」等（図６の５２に対応）と共に、前述の
機器高測定装置によって測量装置１０の機器高を測定す
るプログラム「機器高測定」が選択可能である。測量装
置１０を整準した後、メインメニュー画面で「機器高
測定」を選択すると表示部１の表示が機器高測定画面
（図６の５３に対応）に変わり、光源２１が点灯されビ
ームが測量装置１０の下方に向けて射出される。このビ
ームを参照して前述の如くして測量装置１０の求心作業
を行う。

【００３０】そして、機器高測定画面で「求心完了」
を選択するキーボード２を押す。すると、処理部４０で
第１の一致信号Ｓ１が生成され、そのときのエンコーダ
２７の回転角度θ１が演算手段４２に入力される。次い
で、ビームがターゲット３１Ｂの開口３２Ｂを通過する
ように反射鏡２３を回転させる。これによって、第２の
一致信号Ｓ２が生成されて、そのときのエンコーダ２７
の回転角度θ２が演算手段４２に入力され、機器高Ｈが
演算され表示部１に表示されると共にメモリ４に記憶さ
れ、メインメニュー画面に戻る。

【００３１】そして、「基本観測」等を選択して、所要
の測量を行う。選択された「基本観測」等のプログラム
は、測量結果を求めるために所定の演算を為すときに、
メモリ４に記憶された機器高Ｈを参照し、必要な補正、
座標変換を行い、その結果を表示部１に表示する。な
お、反射鏡２３は、４５°になる位置に係止されると共
に、この位置を通過して、投光光軸をターゲット３１Ａ
側に偏向させる方向とは反対方向にも回転自在とし、且
つ、処理部４０にターゲット３１Ａからの受光信号ＳＡ
の強度が最大になったときに第１の一致信号Ｓ１を発生
する第２の一致信号発生回路を備え、ビームがターゲッ
ト３１Ａ及びターゲット３１Ｂに連続して一致し、これ
らを通過するように回転軸２４を回転させ、各ターゲッ
トの開口３２Ａ、３２Ｂにビームが一致した時のエンコ
ーダの回転角度θ１、θ２が自動的に演算手段４２に入
力されるようにすることもできる。押しボタンスイッチ
４４を押す操作が不要になるので操作が容易となる。こ
の場合も、反射鏡２３が４５°になる位置に係止された
状態において求心作業を行うことができる。

【００３２】さて、基準装置部３０は、所定の距離離間
した位置に２つのマーク（目盛）を有する指標板（目盛
板）に代えることができる。指標板上に投光されたビー
ムを前記マークの各々に一致するように反射鏡２３を回
転させ、前記ビームが前記指標の各々に一致した時に押
しボタンスイッチ４４や、機器高測定画面で指示され
たキーボード２を押して第１の一致信号Ｓ１及び第２の
一致信号Ｓ２を生成させれば、前記と同様にして機器高
Ｈを求めることができる。

【００３３】また、測量装置の下方を向いた光学系２０
は、ターゲット３１Ａ、３１Ｂを視準する望遠鏡とする
ことができる。この場合、基準装置部３０は前記指標板
で良い。この場合も、第１の一致信号Ｓ１及び第２の一
致信号Ｓ２は、前記２つのマークの各々を視準した状態
で押しボタンスイッチ４４や、機器高測定画面で指示
されたキーボード２を押すことによって生成されるよう
にする。

【００３４】前記指標板のマークを同心円状のものとす
ることによって、ビームの偏向方向に前記２つのマーク
Ｂを結ぶ方向を合わせることが不要となる。更にビーム
が直線に沿って偏向される必要もなくなる。又、別の実
施の形態の例として、反射鏡２３を、前記投光光軸の偏
向角が所定の値となる２カ所で係止可能とし、基準装置
部を２つのターゲットの間隔を変更自在とすると共に、
前記２つのターゲット間の距離を検出する距離検出手段
を設け、受光信号Ｓ１、Ｓ２が最大となったときの前記
距離検出手段の出力を演算手段４２に入力するようにし
ても良い。この実施の形態例にはエンコーダ２７は含ま
れない。

【００３５】本実施の形態例において、反射鏡２３の前
記２カ所（例えば、光軸に対し４５°の位置及びここか
ら角θだけ回転した位置）への係止は、測量装置１０の
筐体に設けられた反射鏡２３が前記２つの位置において
反射鏡２３が当接する２つの当接面と、例えば反射鏡２
３を前記２つの位置の中間点を境界としてより近い方の
当接面にスナップアクションによって当接させるスナッ
プアクションバネとによって実現され、反射鏡２３に反
射されたビームは反射鏡２３が前者位置の時、鉛直下方
に投光され、後者位置の時、鉛直から２θ傾斜して投光
される。

【００３６】図８に本実施の形態の例の基準装置部３０
０の平面図を示す。基準装置部３００のターゲット３１
０Ａ、３１０Ｂは前記ターゲット３１Ａ、３１Ｂと同様
の構成であるが、ターゲット３１０Ｂは支持部材３５０
にターゲット３１０Ａと３１０Ｂとを結ぶ直線方向に沿
って移動自在である。即ち、支持部材３５０には前記直
線方向に沿ってＴ型溝３２０が設けられており、ターゲ
ット３１０Ｂの下面に設けたＴ型部材が前記Ｔ型溝に嵌
合している。支持部材３５０の側面にはターゲット３１
０Ｂの移動量を検出するリニアエンコーダ３３０が距離
検出手段として設けられている。

【００３７】前記距離検出手段を距離を示す機械式の目
盛とし、受光信号Ｓ１、Ｓ２が最大となったときの値を
テンキー等で入力しても良い。演算手段４２は前記入力
された距離検出手段の出力Ｌと記憶手段４１に予め記憶
された所定の光軸の偏向角２θとからＨ１＝Ｌ／２θを
演算し、前記と同様にして測量装置１０の機器高Ｈを求
める。

【００３８】この場合、基準装置部３００は、前記光軸
が偏向されていない場合と前記所定量偏向された時の基
準装置３００上での投光位置の距離を測定する目盛板と
しても良い。前記目盛板は、長さを測る通常の物差しで
も良いし、前記物差しの目盛ｌをＨ１＝ｌ／２θによっ
て高さに換算した目盛を有する目盛板、或いは該目盛板
の目盛を測量装置の固有値Ｈ２及び基準装置部３００の
固有値Ｈ３だけオフセットした目盛を有する目盛板であ
っても良い。

【００３９】この場合も、測量装置の下方を向いた光学
系２０は、目盛板を視準する望遠鏡とすることができ、
更に前記目盛板の目盛を同心円状のものとすることがで
きる。上記いずれの場合も、反射鏡２３と回転軸２４と
で構成される偏向手段は、光軸を所定の角度偏向させる
種々の手段に変更することが可能である。例えば、図９
（ａ）に示した光軸を中心として回転自在な２枚の光学
くさび６０とすることができる。或いは、図９（ｂ）に
示した光軸上に配置され該光軸に垂直方向に偏位する投
光レンズ７０としても良い。前記偏向手段による光軸の
偏向角は光学くさび６０の回転量を検出する検出手段、
或いは投光レンズ７０の前記偏位量を検出する検出手段
によって検出され、処理部４０に入力される。

【００４０】以上説明に用いた実施の形態例では測量装
置部は測量装置１０の本体の下部に設けられていたが、
図１０に示したように測量装置１０の本体と三脚５０と
の間に測量機本体１０と共に整準されるユニット６０と
して設けても良く、この場合、光学系２０は測量装置１
０の機械中心点Ｐの鉛直下方を観察する測量装置の付属
機器である求心望遠鏡装置の光学系を利用し、その下方
に図９に示したような偏向手段を設けることもできる。

【００４１】

【発明の効果】三脚上に設置した測量装置の機器高を、
一人で、容易に、正確に測定することができる。更に、
同一装置を用いて、測量装置の求心作業を容易に行うこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施の形態例の構成を示す図

【図２】 測量装置部の構成を示す図

【図３】 基準装置部の構成を示す図

【図４】 処理部４０の構成のブロック図

【図５】 測量装置の概略ブロック図

【図６】 測量プログラムの階層構造を示す図

【図７】 表示部に表示される画面の例を示す図

【図８】 本発明の別の実施の形態例の基準装置部
を示す図

【図９】 別の光軸偏向手段を示す図

【図１０】 測量装置部を別ユニットとした例を示す
図

【符号の説明】

１０……測量装置 ３１……ターゲッ
ト ２０……光学系 ３３……受光部 ２１……光源 ４０……処理装置 ２３……反射鏡 ４１……記憶手段 ２４……回転軸 ４２……演算手段 ２７……エンコーダ ４３……表示部 ３０……基準装置部 ４４……押しボタ
ンスイッチ

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 下方に向いた光軸を有する光学系と、前
   記光軸の方向を変化させる偏向手段と、前記光軸の方向
   の変化量を示す偏向角を検出する偏向角検出手段とを有
   する測量装置部で構成された測量装置の機器中心点高さ
   を求める機器高測定装置であって、 前記測量装置の機器高を求めるために、前記光軸の方向
   を前記光軸と地表との交点が地表において所定の距離変
   位するように変化させることを特徴とする機器高測定装
   置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の装置に、 地上に置かれた、所定の距離離間して配設された２つの
   ターゲットを有する基準装置部を更に備え、 前記測量装置の機器高を求めるために、前記光軸を前記
   ターゲットの各々に一致させるための前記偏向角を求め
   ることを特徴とする機器高測定装置。
3. 【請求項３】 下方に向いた光軸を有する光学系と、前
   記光軸の方向を所定の角度変化させる偏向手段とを有す
   る測量装置部で構成された測量装置の機器中心点高さを
   求める機器高測定装置であって、 前記測量装置の機器高を求めるために、前記光軸の方向
   を前記所定の角度変化させることを特徴とする機器高測
   定装置。
4. 【請求項４】 請求項３に記載の装置に、 地上に置かれた、離間距離を変更自在に配設された２つ
   のターゲットと前記離間距離を検出する距離検出手段と
   を有する基準装置部を更に備え、 前記測量装置の機器高を求めるために、前記所定の角度
   変化する前記光軸方向のそれぞれにおいて、前記ターゲ
   ットの各々が前記光軸の各々に一致するようにしたとき
   の前記離間距離を求めることを特徴とする機器高測定装
   置。
5. 【請求項５】 請求項１〜請求項４のいずれかに記載の
   装置において、 前記測量装置部は、入力された前記偏向角と前記所定の
   距離、若しくは入力された前記離間距離と前記所定の角
   度とに基づいて機器高を求める演算手段を備えたことを
   特徴とする機器高測定装置。
6. 【請求項６】 請求項１〜請求項５に記載の装置におい
   て、 前記光学系は、光線を下方に投射する投光装置であるこ
   とを特徴とする機器高測定装置。
7. 【請求項７】 請求項２又は請求項４に記載の装置にお
   いて、 前記光学系は、光線を下方に投射する投光装置であり、 前記基準装置部の少なくとも一方のターゲットは、前記
   光線を受光した時に電気信号を前記演算手段に出力する
   受光手段を有し、 前記演算手段は、前記受光手段からの電気信号を受けた
   時の前記偏向角検出手段からの偏向角、又は前記距離検
   出手段からの離間距離を検出し、機器高を求める演算を
   なすことを特徴とする機器高測定装置。
8. 【請求項８】 請求項１又は請求項３に記載の装置であ
   って、 前記偏向手段によって方向が変化する光軸の、地表にお
   ける間隔を求めるための目盛を有する目盛板を更に備え
   ることを特徴とする機器高測定装置。
9. 【請求項９】 請求項１〜請求項８に記載の装置におい
   て、 前記偏向手段は、前記偏向手段からの光軸が前記測量装
   置の機器中心点を通る鉛直線に一致する位置に係止可能
   であることを特徴とする機器高測定装置。