ITMI20000882A1 - Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con leghe getter idrogenate. - Google Patents
Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con leghe getter idrogenate. Download PDFInfo
- Publication number
- ITMI20000882A1 ITMI20000882A1 IT2000MI000882A ITMI20000882A ITMI20000882A1 IT MI20000882 A1 ITMI20000882 A1 IT MI20000882A1 IT 2000MI000882 A IT2000MI000882 A IT 2000MI000882A IT MI20000882 A ITMI20000882 A IT MI20000882A IT MI20000882 A1 ITMI20000882 A1 IT MI20000882A1
- Authority
- IT
- Italy
- Prior art keywords
- process according
- diethyl diethyl
- alloy
- gas
- compounds
- Prior art date
Links
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 title claims description 50
- 239000000956 alloy Substances 0.000 title claims description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 44
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims description 36
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 title claims description 16
- 238000000746 purification Methods 0.000 title claims description 11
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 title claims description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 40
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 25
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 24
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 17
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 15
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 claims description 11
- -1 phero-pentacarbonyl Chemical compound 0.000 claims description 11
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000011572 manganese Substances 0.000 claims description 10
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims description 9
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 9
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims description 8
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 claims description 6
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims description 4
- TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N dimethylalumane Chemical compound C[AlH]C TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims description 4
- YWWDBCBWQNCYNR-UHFFFAOYSA-N trimethylphosphine Chemical compound CP(C)C YWWDBCBWQNCYNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims description 3
- 238000011068 loading method Methods 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 3
- RHUYHJGZWVXEHW-UHFFFAOYSA-N 1,1-Dimethyhydrazine Chemical compound CN(C)N RHUYHJGZWVXEHW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- VQNPSCRXHSIJTH-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);carbanide Chemical compound [CH3-].[CH3-].[Cd+2] VQNPSCRXHSIJTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- UJYLYGDHTIVYRI-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);ethane Chemical compound [Cd+2].[CH2-]C.[CH2-]C UJYLYGDHTIVYRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 2
- HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N diethylzinc Chemical compound CC[Zn]CC HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N dimethylzinc Chemical compound C[Zn]C AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GCPCLEKQVMKXJM-UHFFFAOYSA-N ethoxy(diethyl)alumane Chemical compound CCO[Al](CC)CC GCPCLEKQVMKXJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 claims description 2
- HKOOXMFOFWEVGF-UHFFFAOYSA-N phenylhydrazine Chemical compound NNC1=CC=CC=C1 HKOOXMFOFWEVGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229940067157 phenylhydrazine Drugs 0.000 claims description 2
- VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N triethylaluminium Chemical compound CC[Al](CC)CC VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- RGGPNXQUMRMPRA-UHFFFAOYSA-N triethylgallium Chemical compound CC[Ga](CC)CC RGGPNXQUMRMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- KKOFCVMVBJXDFP-UHFFFAOYSA-N triethylstibane Chemical compound CC[Sb](CC)CC KKOFCVMVBJXDFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PORFVJURJXKREL-UHFFFAOYSA-N trimethylstibine Chemical compound C[Sb](C)C PORFVJURJXKREL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WGLLSSPDPJPLOR-UHFFFAOYSA-N 2,3-dimethylbut-2-ene Chemical group CC(C)=C(C)C WGLLSSPDPJPLOR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 6
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims 4
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims 2
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ATZBPOVXVPIOMR-UHFFFAOYSA-N dimethylmercury Chemical compound C[Hg]C ATZBPOVXVPIOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- DALUDRGQOYMVLD-UHFFFAOYSA-N iron manganese Chemical compound [Mn].[Fe] DALUDRGQOYMVLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims 1
- QBJCZLXULXFYCK-UHFFFAOYSA-N magnesium;cyclopenta-1,3-diene Chemical compound [Mg+2].C1C=CC=[C-]1.C1C=CC=[C-]1 QBJCZLXULXFYCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- QSLGKGJRFUIAEG-UHFFFAOYSA-N n-[bis(dimethylamino)arsanyl]-n-methylmethanamine Chemical compound CN(C)[As](N(C)C)N(C)C QSLGKGJRFUIAEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ZUSRFDBQZSPBDV-UHFFFAOYSA-N n-[bis(dimethylamino)stibanyl]-n-methylmethanamine Chemical compound CN(C)[Sb](N(C)C)N(C)C ZUSRFDBQZSPBDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- YBRBMKDOPFTVDT-UHFFFAOYSA-N tert-butylamine Chemical compound CC(C)(C)N YBRBMKDOPFTVDT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ZGNPLWZYVAFUNZ-UHFFFAOYSA-N tert-butylphosphane Chemical compound CC(C)(C)P ZGNPLWZYVAFUNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WMXCDAVJEZZYLT-UHFFFAOYSA-N tert-butylthiol Chemical compound CC(C)(C)S WMXCDAVJEZZYLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WXRGABKACDFXMG-UHFFFAOYSA-N trimethylborane Chemical compound CB(C)C WXRGABKACDFXMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N trimethylgallium Chemical compound C[Ga](C)C XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- FECHVIJLJQUVMZ-UHFFFAOYSA-N tripropylstibane Chemical compound CCC[Sb](CCC)CCC FECHVIJLJQUVMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- RTAKQLTYPVIOBZ-UHFFFAOYSA-N tritert-butylalumane Chemical compound CC(C)(C)[Al](C(C)(C)C)C(C)(C)C RTAKQLTYPVIOBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Substances [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 6
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 5
- 241000894007 species Species 0.000 description 5
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 2
- RVIXKDRPFPUUOO-UHFFFAOYSA-N dimethylselenide Chemical compound C[Se]C RVIXKDRPFPUUOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 125000003698 tetramethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- 101100215641 Aeromonas salmonicida ash3 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000008331 Pinus X rigitaeda Nutrition 0.000 description 1
- 235000011613 Pinus brutia Nutrition 0.000 description 1
- 241000018646 Pinus brutia Species 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004337 Ti-Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910011209 Ti—Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001476 alcoholic effect Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N diboron trioxide Chemical compound O=BOB=O JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KBLZFQBDODEHJH-UHFFFAOYSA-N dibutylalumane Chemical compound C(CCC)[AlH]CCCC KBLZFQBDODEHJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- JMMJWXHSCXIWRF-UHFFFAOYSA-N ethyl(dimethyl)indigane Chemical compound CC[In](C)C JMMJWXHSCXIWRF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- OHFDBBFDFZXHJQ-UHFFFAOYSA-N phenylarsane Chemical compound [AsH2]C1=CC=CC=C1 OHFDBBFDFZXHJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 1
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 150000004760 silicates Chemical class 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000002436 steel type Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- OHCFIQBNVPRBOO-UHFFFAOYSA-N tert-butylarsane Chemical compound CC(C)(C)[AsH2] OHCFIQBNVPRBOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWWNQEOPUOCKGR-UHFFFAOYSA-N tetraethyltin Chemical compound CC[Sn](CC)(CC)CC RWWNQEOPUOCKGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MNWRORMXBIWXCI-UHFFFAOYSA-N tetrakis(dimethylamido)titanium Chemical compound CN(C)[Ti](N(C)C)(N(C)C)N(C)C MNWRORMXBIWXCI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- OTRPZROOJRIMKW-UHFFFAOYSA-N triethylindigane Chemical compound CC[In](CC)CC OTRPZROOJRIMKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IBEFSUTVZWZJEL-UHFFFAOYSA-N trimethylindium Chemical compound C[In](C)C IBEFSUTVZWZJEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Description
DESCRIZIONE deirinvenzione industriale dal titolo:
“PROCESSO PER LA PURIFICAZIONE DI COMPOSTI ORGANOMETALLICI O COMPOSTI ORGANICI ETEROATOMICI CON LEGHE GETTER IDROGENATE”
La presente invenzione si riferisce ad un processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con leghe getter idrogenate.
I composti organometallici sono caratterizzati dalla presenza di un legame tra un atomo di un metallo (comprendendo tra i metalli anche arsenico, selenio e tellurio) ed un atomo di carbonio facente parte di un radicale organico come per esempio i radicali idrocarburici saturi o insaturi, alitatici o aromatici; per estensione, con la definizione di composti organometallici si intendono generalmente anche i composti comprendenti atomi metallici legati a radicali organici tramite un atomo diverso dal carbonio, come per esempio i radicali alcolici (-OR) o di esteri (-O-CO-R).
I composti organici eteroatomici (nel seguito anche indicati semplicemente come eteroatomici) sono quei composti organici che comprendono, oltre a carbonio e idrogeno, anche atomi come ossigeno, azoto, alogeni, zolfo, fosforo, silicio e boro.
Molti di questi composti sono stati impiegati da molto tempo in applicazioni chiyiiche tradizionali. In questo settore non sono generalmente richiesti reageuti con purezze elevatissime, e la purificazione degli stessi viene geueralmeute effettuata con tecniche come la distillazione (eventualmente a pressione ridotta, per diminuire la temperatura di ebollizione e quindi i rischi di decomposizione termica dei composti) o la ricristallizzazione da solventi.
Recentemente però questi composti sono stati impiegati in applicazioni di alta tecnologia, in particolare nell'industria dei semiconduttori. In queste applicazioni, i composti organometallici e i composti eteroatomici vengono impiegati come reagenti nei processi di deposizione eli unica da stato gassoso (noti nel settore con la definizione inglese "Chemical Vapor Deposition" o con ('acronimo CVD). In queste tecniche, si fa anivare in una camera di processo ini flusso gassoso di uno o più composti organometallici o eteroatomici (o un flusso di un gas di trasporto contenente una concentrazione nota di questi); all'interno della camera i composti vengono poi fatti decompone o reagire, di modo da formare in loco materiali (generalmente sotto forala di strati sottili su un substrato) contenenti detti atomi metallici o eternatomi.
I principali composti organometallici impiegati in queste applicazioni sono trimetilalluminio, trietilalluminio, tii-t-butilalluminio , idruro di di -i-butilalluminio, cloniro di dimetilalluminio, etossido di dietilalluminio, idruro di dimetilalluminio, trimetilantimonio, trietilantimonio, tri-i-propilantimonio, tris-dimetilammino -antimonio, fenilarsina, trimetilarsenico, tris-diinetilammino -arsenico, t-butilarsina, bario bis-tetrametileptandionato, bismuto tris-tetrametileptandionato, dimetilcadmio, dietilcadmio, ferro pentacarbonile, bis-ciclopentadienil-ferro, ferro trisacetilacetonato, ferro tris-tetrametileptandionato, triinetilgallio, trietilgallio, tri-ipropilgallio, tri-i-butilgallio, trimetilindio, trietilindio, etildimetilindio, ittrio tristetrametileptandionato, lantanio tris-tetrametileptandionato, bis-metilciclopentadienilmagnesio, bis-ciclopentadienil- magnesio, magnesio bis-tetrametileptandionato, dimetilmercurio, acetilacetonato di dimetiloro, piombo bis-tetrametileptandionato, acetilacetonato di bis-esafiuororame, rame bis-tetrametileptandionato, dimetilselenio, dietilseleuio, scandio tris-tetrametileptandionato, tetiametilstagno, tetraetilstagno, stronzio bis-tetrametileptandionato, tantalio tetraetossitetrametileptandionato, tantalio tetrametossitetrametileptandionato, tantalio tetra-i-propossitetrametileptandionato, tantalio tri-dietilammido -t-butilimmide, dietiltellurio, di-i-propiltellurio, dimetiltellurio, titanio bis-i-propossi-bis-tetrametileptandionato, titanio tetradimetilammide , titanio tetradietilammide, dimetilzinco, dietilzinco, zinco bistetrametileptandionato, zirconio tetra-tetranietileptandiouato, zirconio tri-i-propossitetrametileptandionato, zinco bis-acetilacetonato.
I principali composti eleroatoinici impiegati in queste applicazioni sono trimetilborauo, dimetilidrazina asimmetrica (cioè, in cui entrambi i gruppi metile sono legati allo stesso atomo di azoto), t-butilaimmina fenilidrazina, trimetilfosforo, tbutilfosfina e t-butilmercaptano.
Alcuni tipici esempi di applicazione di questi metodi sono la produzione dei semiconduttori di tipo I1I-V, come GaAs o InP, o di tipo M-Vl come ZnSe; l'impiego per il drogaggio p (per esempio con boro) o n (per esempio con fosforo) di dispositivi semiconduttori tradizionali al silicio; la produzione di materiali ad elevata costante dielettrica (per esempio, composti come impiegati nelle memorie ferroelettriche; oppure la produzione di materiali a bassa costante dielettrica (come SiO’z) per l'isolamento dei contatti elettrici nei dispositivi semiconduttori.
Per queste applicazioni sono richiesti reagenti di purezza estremamente elevata, con livelli dell'ordine di IO'1- IO'2 ppm, mentre le tradizionali tecniche chimiche non consentono in genere di scendere a livelli di impurezze inferiori alla decina di ppm. Inoltre, anche nel caso in cui si producano composti organometallici o eteroatomici di elevatissima purezza, lo stoccaggio è fonte di contaminazione dovuta al rilascio di gas dalle pareti del contenitore, il che rende comunque necessario l'impiego di un purificatore immediatamente a monte dell'applicazione (purificatori cosiddetti "a punto d'uso").
Il brevetto US 5.470.555 descrive la rimozione dai composti organometallici dell'ossigeno gassoso presente come impurezza tramite l'impiego di un catalizzatore costituito da rame o nichel metallici, oppin e i relativi ossidi attivati per riduzione con idrogeno, depositati su mi supporto come allumina, silice o silicati. Secondo il brevetto, con questo metodo si può ottenere la rimozione dell'ossigeno gassoso da un flusso del composto organometallico fino a valori di IO'2 ppm.
L'ossigeno non è però l'unica impurezza che è necessario rimuovere dai composti organometallici o eteroatomici. Altre impurezze dannose nei processi CVD sono per esempio l'acqua e, particolarmente, le specie derivate dall'alterazione del composto organometallico o eteroatomico stesso, in seguito a reazioni indesiderate generalmente con acqua o ossigeno. Per esempio, nel caso di un generico composto organometallico MR,,, in cui M rappresenta il metallo, R. un radicale organico ed n la valenza del metallo M, si può avere contaminazione da parte di specie MRu-x(-OR)x, in cui x è un intero che può variare tra I ed n. Queste specie ossigenate sono dannose nel processi CVD perché introducono atomi di ossigeno nel materiale in formazione, alterandone sensibilmente le proprietà elettriche.
Scopo della presente invenzione è quello di fornire un processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici da ossigeno, acqua e dai composti derivati dalla reazione di acqua e ossigeno con i composti organometallici o eteroatomici di cui si vuole effettuare la purificazione.
Questo scopo viene ottenuto secondo la presente invenzione con un processo in cui il composto organometallico o eteroatomico da purificare viene messo in contatto, sotto fonila di vapore puro o in un gas di trasporto, con una lega getter idrogenata.
E anche possibile impiegare, in aggiunta alla lega getter, altri materiali assorbitori di gas, come per esempio palladio supportato su γ-allumina o una miscela di ferro e manganese supportata su zeoliti.
L'impiego di leghe getter per la purificazione di gas nobili, azoto o idrogeno da impiegare nell'industria microelettronica , è noto. È altresì noto dal brevetto EP-B-470936 l'impiego di leghe getter idrogenate per la purificazione di idruri semplici, come SiFL, PH, e ASH3.
È stato però trovato che una lega getter idrogenata è anche in grado di rimuovere da un flusso di vapore di un composto organometallico o eteroatomico (puro o in un gas di trasporto) l'acqua e l'ossigeno, e di convertire le specie contenenti ossigeno del tipo al composto originario o a composti di tipo MRn-xHx, che non sono damiosi ai fini dei processi CVD in quanto non contenenti ossigeno.
L’invenzione verrà descritta nel seguito con riferimento alle Figure in cui:
- la Fig. 1 mostra in spaccato un purificatore con cui è possibile mettere in pratica una prima forma realizzativa del processo dell'iuvenzioiie;
- la Fig. 2 mostra in spaccato un purificatore con cui è possibile mettere in pratica una seconda forma realizzativa del processo dell'invenzione.
Nella sua prima forma realizzativa, il processo deH'inveuzione consiste nel mettere in contatto il flusso di gas da purificare solo con la lega getter idrogenata.
Le leghe getter utili per l'invenzione sono le leghe a base di titanio e/o zirconio con uno o più elementi scelti tra i metalli di transizione e alluminio, e miscele tra una o più di queste leghe con titanio e/o zirconio, hi particolare, utili per l'invenzione sono:
- le leghe ZrM2, dove M è uno 0 più tra i metalli di transizione Cr, M11, Fe, Co 0 Ni, descritte nel brevetto US 5. 180.568 a nome della Richiedente;
- il composto intemietallico prodotto e venduto dalla Richiedente con il nome St 909;
- le leghe Zr-V-Fe descritte nel brevetto US 4.312.669 a nome della Richiedente, la cui composizione percentuale in peso riportata in un diagramma ternario di composizioni è compresa in un triangolo avente per vertici i seguenti punti:
a) Zi 75% - V 20% - Fe 5%;
b) Zr 45% - V 20% - Fe 35%;
c) Zi- 45% - V 50% - Fe 5%,
ed in particolare la lega di composizione percentuale in peso Zr 70% - V 24.6% -Fe 5.4%, prodotta e venduta dalla Richiedente sotto il nome St 707;
- Il composto intermetallico prodotto e venduto dalla Richiedente sotto il nome St 737;
- le leghe Zr-Co-A descritte nel brevetto US 5.961.750 a nome della Richiedente, la cui composizione percentuale in peso riportata in un diagramma ternario di composizioni è compresa in un poligono avente per vertici i seguenti punti:
a) Zr 81% - Co 9% - A 10%
b) Zr 68% - Co 22% - A 10%
. c) Zr 74% - Co 24% - A 2%
d) Zr 88% - Co 10% - A 2%,
in cui con A si intende un elemento qualunque scelto tra ittrio, lantanio, Terre Rare o miscele di questi elementi, ed in particolare la lega di composizione percentuale in peso Zr 80,8% - Co 14,2% - A 5%, prodotta e venduta dalla Richiedente sotto il nome St 787;
: - le leghe Ti-Ni;
- le leghe Ti-V-Mn descritte nel brevetto US 4.457.891.
Il caricamento con idrogeno delle leghe sopra elencate viene generalmente effettuato con la lega già nel contenitore finale (il colpo del purificatore). Questa operazione si può effetuare a temperature comprese tra temperatura ambiente e circa 400 °C. Temperature superiori a 400 °C sono sconsigliabili in quanto all'aumentare della temperatura diminuisce la quantità massima di idrogeno che è possibile caricare nella lega. Si può operare con pressioni di idrogeno fino a circa 10 bar, e preferibilmente sopra la pressione atmosferica. Pressioni sopra i 10 bar sono sconsigliabili perchè, senza offrire particolari vantaggi rispetto a pressioni inferiori, richiedono l'impiego di attrezzature e sistemi di sicurezza particolari, mentre pressioni inferiori a quella atmosferica richiedono l'adozione di sistemi da vuoto a valle del purificatore per poter stabilire il flusso di gas necessario all'idrogenazione. In pratica, l idrogenazione può essere effettuata in molti modi. Pei- esempio, è possibile inviare un flusso di mia miscela di idrogeno in un altro gas (per esempio, una miscela idrogeno-argon al 50%) sulla lega e monitorar la composizione del gas in uscita, interrompendo la procedura quando in questo si rileva ima pressione di idrogeno superiore ad un valore prefissato. In alternativa, si può arivare sperimentalmente a stabilire una procedura defluita per ogni lega. Per esempio, nel caso della lega St 707 sopra citata, si invia un flusso di argon per eliminare l'aria intrappolata nel sistema; dopo pochi minuti si inizia il preriscaldamento a 350 °C in flusso di argon, e si immette idrogeno con un flusso uguale a quello di argon, così da forniate una miscela al 50% dei due gas, mantenendo questa condizione per 3 ore; si interrompe il flusso di argon, riducendo nel contempo la temperatura a 150 °C e mantenendo questa condizione per un'ora e mezzo; si interrompe poi il flusso di idrogeno riaprendo quello di argon per mezz'ora, interrompendo il riscaldamento; alla fine, il purificatore viene isolato chiudendo due valvole poste a monte e a valle dello stesso.
L'intervallo di temperature utili per la purificazione di gas organometallici o eteroatomici è compreso tra temperatura ambiente e circa I00°C; a temperature inferiori a quella ambiente la rimozione di ossigeno risulta limitata, mentre a temperature superiori a circa 100 °C potrebbero avvenire reazioni di decomposizione del gas da purificare.
Il flusso del gas da purificare può variare tra circa 0, 1 e 20 slpm (litri di gas, misurati in condizioni standard, al minuto), a pressioni assolute preferibilmente comprese tra cir ca 1 e 10 bar.
Questo flusso può essere costituito dai soli vapori del composto da purificare, oppure da detti vapori al'interno di un flusso di un gas di trasporto. 11 gas di trasporto può essere un qualunque gas che non interferisca né con la lega getter idrogenata (o con gli altri materiali assorbitori di gas eventualmente impiegati), né con il processo di deposizione in cui il composto organometallico o eteroatomico viene impiegato. Comunemente si impiegano argon, azoto, o anche idrogeno.
In figura 1 è mostrato in spaccato un possibile purificatore da impiegare nella prima forma realizzativa del processo dell'invenzione. Il purificatore 10 è costituito da un corpo 1 1, generalmente cilindrico; alle due estremità del coipo 1 1 sono presenti una tubazione 12 per l'ingresso del gas nel purificatore, ed una tubazione 13 per l'uscita del gas. All'interno del coipo l ! è contenuta la lega getter 14. L'ingresso 12 e l'uscita 13 del gas sono preferibilmente fomiti di connessioni standard del tipo VCRnote nel settore (non mostrate in figura) per il collegamento con le linee di gas a monte e a valle del purificatore. Il coipo del purificatore può essere realizzato in vari materiali metallici; il materiale preferito per questo scopo è l'acciaio AISI 316. Le superfìci interne del coipo del purificatore, che vengono a contatto col gas, sono preferibilmente elettropulite fino ad ottenere una rugosità superficiale inferiore a circa 0,5 μιη. Per evitare che tracce di polvere della lega getter vengano trasportate a valle del purificatore dal flusso di gas in uscita, al'interno del coipo del purificatore in corrispondenza dell'uscita 13 possono essere disposti mezzi di ritenzione di particolato, come reticelle o setti porosi generalmente metallici con dimensioni delle "luci” o dei pori tali da trattenere particelle senza però causare un'eccessiva caduta di pressione nel flusso di gas; le dimensioni di queste aperture possono variare generalmente tra circa 10 e 0,003 pm. Al'intero del purificatore, la lega getter 14 può essere presente in forma di polvere, ma preferibilmente è impiegata sotto forma di pastiglie ottenute per compressione delle polveri come mostrato iu figura.
In una seconda fonila di realizzazione del processo, il flusso di gas da purificare può essere messo in contatto, oltre che con la lega getter idrogenata, con almeno un materiale assorbitore di gas aggiuntivo, scelto tra palladio supportato su γ-allumina o una miscela di ferro e manganese supportata su zeoliti, o entrambi.
11 materiale assorbitore di gas costituito da palladio supportato su γ-allumina contiene preferibilmente dallo 0,3 al 4 % in peso di palladio. Questo materiale è venduto da varie ditte produttrici di catalizzatori per l'industria chimica, coma le ditte Sud-Chemie , Degussa e Engelhard. L'intervallo di temperature ottimale per l'impiego di questo materiale è compreso tra circa -20 e 100 °C, e preferibilmente tra temperatura ambiente e 50 °C.
11 materiale assorbitore di gas costituito dalla miscela di ferro e manganese su zeoliti ha preferibilmente un rapporto iu peso tra ferro e manganese compreso tra 7:1 e 1: 1; ancor più preferibilmente questo rapporto è circa di 2: 1. Questo materiale può essere prodotto secondo le modalità descritte nel brevetto US 5.716.588 a nome della Richiedente. L'intervallo di temperature ottimale per l'impiego di questo materiale è compreso tra circa -20 e 100 °C, e preferibilmente tra temperatura ambiente e 50 °C.
Il materiale aggiuntivo (o i materiali aggiuntivi) può trovarsi indifferentemente a monte o valle della lega getter idrogenala lungo la direzione del flusso di gas. È anche possibile, quando si impieghino entrambi i materiali aggiuntivi citati, che uno di questi si trovi a monte e l'altro a valle della lega getter idrogenata.
U materiale aggiuntivo (o i materiali aggiuntivi) può essere presente in un corpo separato, collegato al corpo 1 1 del purificatore contenente la lega getter idrogenata tramite tubature e raccordi, per esempio del tipo VCR. sopra citato. Anche questo secondo coipo sarà preferibilmente realizzalo con i materiali e con il livello di finitura delle superfici descritte per il corpo 1 1.
Preferibilmente, il materiale aggiuntivo (o i materiali aggiuntivi) sono disposti nello stesso coipo del purificatore in cui è presente la lega getter idrogenata. In questo caso, i diversi materiali assorbitori di gas possono essere mescolati, ma preferibilmente sono separati nel coipo dei purificatore.
La figura 2 mostra in spaccato un possibile purificatore da impiegare nella secónda forma realizzativa del processo del'invenzione; in particolare, la figura mostra un purificatore realizzato secondo la modalità preferita in cui i diversi materiali assorbitori di gas sono mantenuti separati all'interno del corpo del purificatore. Il purificatore 20 è composto da un colpo 21, un ingresso del gas 22 e un’uscita per il gas 23; all'interno del corpo 21 è disposta, dalla parte dell'ingresso 22 la lega getter idrogenata 24, e dalla parte del l'uscita 23 un materiale 25 scelto tra palladio supportato su γ-allumina o una miscela di ferro e manganese supportata su zeoliti; preferibilmente, tra i due materiali viene disposto un elemento meccanico 26 facilmente permeabile ai gas, come una reticella metallica, per aiutare a mantenere la separazione e la disposizione geometrica originale dei materiali stessi.
Nel caso della contemporanea presenza di due materiali diversi nello stesso corpo (situazione esemplificata in figura 2), il purificatore deve essere mantenuto ad una temperatura compatibile con le temperature di funzionamento di tutti i materiali presenti, di conseguenza preferibilmente tra temperatura ambiente e circa 50 °C. Infine, è anche possibile aggiungere ai vari materiali assorbitori di gas anche un assorbitore chimico di acqua, per esempio ossido di calcio o l'ossido di boro preparato secondo gli insegnamenti della domanda di brevetto EP-A-960647 a nome della Richiedente.
L’invenzione verà ulteriormente illustrata dal seguente esempio. Questo esempio non è limitativo della portata dell'invenzione, e serve ad illustrare una possibile forma realizzativa destinate ad insegnare agli esperti del ramo come mettere in pratica l invenzione ed a rappresentare il modo migliore considerato per la realizzazione dell’ invenzione.
ESEMPIO 1
Viene realizzato un purificatore del tipo mostrato in figura l. Il purificatore ha un coipo in acciaio A1SI 3 16 ed un volume interno di 50 cm3 Nel purificatore vengono immessi 72 g di St 707 in pastiglie, che viene idrogenata secondo la procedura descritta in precedenza. Il purificatore viene poi collegato, tramite connessioni del tipo VCR, a monte ad una bombola di azoto contenente 40 ppm.in volume (ppmv ) di acqua e 100 ppmv di ossigeno, e a valle ad uno spettrometro di massa di tipo APGVIS (spettrometro di massa a ionizzazione a pressione atmosferica) mod. TOF 2000 della ditta Sensar, che ha. una soglia di rilevazione di IO-4 ppmv sia per acqua che per ossigeno. La prova viene effettuata in azoto anziché in un flusso di vapore di un composto organometallico, perché lo strumento di analisi impiegato (APIMS) ha tuia sensibilità ridotta nei vapori di questi composti, tale che una prova con un composto organometallico non consentirebbe rottenimeuto di dati significativi. Il gas da pini ficaie viene fatto passare a 5 bar nel purificatore mantenuto ad 100 °C, con un flusso di 0, 1 slpm. All'inizio della prova la quantità di acqua e ossigeno nel gas in uscita dal purificatore è sotto la soglia di sensibilità dell'analizzatore, indicando il funzionamento della lega getter idrogenata nella rimozione di queste specie. La prova viene proseguita fino a quando l'analizzatore non rileva nel gas in uscita dal purificatole una quantità di contaminante pari a 10- ppmv questo valore di contaminazione del gas in uscita viene adottato come indicatore del'esaurimento del purificatore. Dalla conoscenza dei dati della prova, si ricava che il purificatore ha una capacità di 6 l/l (litri di gas misurato a condizioni standard su volume della lega getter) per ossigeno, e di 4 i/l per acqua.
Claims (21)
- RIVENDICAZIONI 1. Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici da ossigeno, acqua e dai composti derivati dalla reazione di acqua e ossigeno con i composti di cui si vuole effettuare la purificazione, comprendente l'operazione di mettere in contatto il composto organometallico o organico eteroatomico da purificare, sotto fonila di vapore puro o in mi gas di trasporto, con una lega getter idrogenata.
- 2. Processo secondo la rivendicazione I in cui la lega getter idrogenata è una lega a base di titanio e/o zirconio con uno o più elementi scelti tra i metalli di transizione e alluminio, e miscele tra una o più di queste leghe con titanio e/o zirconio, ed in cui il caricamento con idrogeno viene effettuato ad una temperatura compresa tra temperatura ambiente e 400 °C e ad una pressione di idrogeno inferiore a 10 bar.
- 3. Processo secondo la rivendicazione 2 in cui il caricamento con idrogeno della lega getter viene effettuato ad una pressione di idrogeno superiore alla pressione atmosferica.
- 4. Processo secondo la rivendicazione 2 in cui la lega getter idrogenata è una lega di formula generale ZrM2, dove M è uno o più tra i metalli di transizione Cr, Mn, Fe, Co o Ni.
- 5. Processo secondo la rivendicazione 2 in cui la lega getter idrogenata è una lega comprendente zirconio, vanadio e ferro, la cui composizione percentuale in peso riportata in un diagramma ternario di composizioni è compresa in un triangolo avente per vertici i seguenti punti: a) Zr 75% - V 20% - Fe 5%; b) Zr 45% - V 20% - Fe 35%; . c) Zr 45% - V 50% - Fe 5%.
- 6. Processo secondo la rivendicazione 2 in cui la lega geter idrogenata è una lega comprendente zirconio, cobalto ed uno o più elementi scelti tra ittrio, lantanio e Tene Rare la cui composizione percentuale in peso riportata in un diagramma ternario di composizioni è compresa in un poligono avente pervertici i seguenti punti: a) Zr 81 % - Co 9% - A 10% b) Zr 68% - Co 22% - A 10% . c) Zr 74% - Co 24% - A 2% • d) Zr 88% - Co 10% - A 2%, in cui con A si intende un elemento qualunque scelto tra ittrio, lantanio, Terre Rare o miscele di questi elementi.
- 7. Processo secondo la rivendicazione 2 in cui la lega geter idrogenata è una lega comprendente titanio e nichel.
- 8. Processo secondo la rivendicazione 2 in cui la lega getter idrogenata è una lega comprendente titanio, vanadio e manganese.
- 9. Processo secondo la rivendicazione I in cui deta operazione viene effettuata ad una temperatura compresa tra temperatura ambiente e circa 100 °C.
- 10. Processo secondo la rivendicazione 1 in cui detta operazione viene effettuata con un flusso di gas da purificare tra circa 0, 1 e 20 slpm, a pressioni assolute comprese tra circa 1 e 10 bar.
- 11. Processo secondo la rivendicazione 1 in cui il composto organometallico è scelto tra trimetilalluminio, trietilalluminio, tri-t-butilalluminio, idruro di di-ibutilalluminio. cloniro di dimetilalluminio , etossido di dietilalluminio, idruro di dimetilalluminio, trimetilantimonio, trietilantimonio, tri-i-propilantimonio, trisdimetilammino-antimonio, fenilarsimi, trimetilarsenico, tris-dimetilammino-arsenico, t-butilarsilia, bario bis-tetrametileptandionato, bismuto tris-tetrametileptandionato, dimetilcadmio, dietilcadmio, fero pentacarbonile, bis-ciclopentadienil-ferro, ferro tris-acetilacetonato, ferrotris-tetrametileptandiouato,trimetilgallio, trietilgallio,tri-ipropilgallio, tri-i-butilgallio, trimetilindio, trietilindio, etildimetilindio, ittrio tristetrametileptaudionato,lantaniotris-tetranietileptandionato,bis-metilciclopentadienilmaguesio, bis-ciclopentadienil- magnesio, magnesio bis-tetrametileptandionato, dimetilmercurio, acetilacetonato di dimetiloro, piombo bis-tetrametileptandionato, acetilaeetonatodi bis-esafluororame, ramebis-tetrametileptandionato, dimetilselenio, dietilselenio, scandio tris-tetramelileptandionato, tetrametilstagno, tetraetilstagno, stronziobis-tetrametileptandionato,tantaliotetraetossitetrametileptaudionato,tantalio tetrametossitetrametileptandionato, tantalio tetra-i-propossitetrametileptandionato, tantalio tri-dietilainmido-i-butilimmide, dietiltellurio, di-i-propiltellurio, dimetiltellurio, titanio bis-i-propossi-bis-tetiametileptandionato, titanio tetradimetilammide, titanio letradìetilammide, dimetilzinco, dietilzinco, zinco bistetrametileptandionato, zirconio tetra-tetrametileptandionato, zirconio tri-i-propossitettametileptandionatoezincobis-acetilacetonato.
- 12. Processo secondo la rivendicazione I in cui il composto organico eteioatomico e scelto tra trimetilborano. dimetilidrazina asimmetrica, t-butilammina, fenilidrazina, trimetilfosforo. t-butilfosfina e t-butilmercaptano.
- 13. Processo secondo la rivendicazione 1 comprendente inoltre l'operazione di mettere in contatto il composto organometallico o organico eteioatomico da purificare, sotto forma di vapore puro o in un gas di trasporto, con almeno un secondo materiale assorbitore di gas scelto tra palladio supportato su γ-allumiua e una miscela di 'ferro e manganese supportata su zeoliti.
- 14. Processo secondo la rivendicazione 13 in cui il secondo materiale assorbitore è un catalizzatole a base di palladio supportato su γ-alluruina con un contenuto in peso dal 0,3 al 4% di palladio.
- 15. Processo secondo la rivendicazione 14 in cui il contatto tra il gas da purificare e il palladio supportato avviene ad una temperatura compresa tra circa -20 e 100 °C.
- 16. Processo secondo la rivendicazione 15 in cui detto contatto avviene ad una temperatura compresa tra temperatura ambiente e 50 °C.
- 17. Processo secondo la rivendicazione 13 in cui il secondo materiale assorbitore è una miscela di ferro e manganese supportata su zeoliti, ed in cui il rapporto in peso tra ferro e manganese è compreso tra 7: 1 e 1: 1
- 18. Processo secondo la rivendicazione 17 in cui detto rapporto in peso è circa di 2: 1.
- 19. Processo secondo la rivendicazione 17 in cui il contatto tra il gas da purificare e la miscela di ferro e manganese supportata avviene ad una temperatura compresa tra cir ca -20 e 100 °C.
- 20. Processo secondo la rivendicazione 19 in cui detto contatto avviene ad una temperatura compresa tra temperatura ambiente e 50 °C.
- 21. Processo secondo la rivendicazione 1 comprendente inoltre l'operazione di mettere in contatto il composto organometallico o organico eteroatomìco da purificare, sotto fonila di vapore puro o in un gas di trasporto, con un assorbitore chimico di acqua.
Priority Applications (12)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT2000MI000882A IT1318475B1 (it) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | Processo per la purificazione di composti organometallici o compostiorganici eteroatomici con leghe getter idrogenate. |
TW090108461A TW550307B (en) | 2000-04-19 | 2001-04-09 | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
AU52549/01A AU5254901A (en) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
EP01925877A EP1274879A1 (en) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
CN01808355A CN1425078A (zh) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | 用负载于沸石的铁和锰基催化剂纯化有机金属化合物或杂原子有机化合物的方法 |
KR1020027014012A KR20030001435A (ko) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | 수소첨가된 게터 합금으로 유기금속 화합물 또는 이종원자유기 화합물을 정제하는 방법 |
JP2001576967A JP2003531151A (ja) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | 水素化されたゲッター合金による有機金属化合物又はヘテロ原子化合物の純化方法 |
PCT/IT2001/000185 WO2001079587A1 (en) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
CA002404195A CA2404195A1 (en) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
CN018082920A CN1218065C (zh) | 2000-04-19 | 2001-04-13 | 用氢化的吸气剂合金纯化有机金属化合物或杂原子有机化合物的方法 |
MYPI20011828A MY127172A (en) | 2000-04-19 | 2001-04-17 | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
US10/273,862 US6797182B2 (en) | 2000-04-19 | 2002-10-18 | Process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT2000MI000882A IT1318475B1 (it) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | Processo per la purificazione di composti organometallici o compostiorganici eteroatomici con leghe getter idrogenate. |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ITMI20000882A0 ITMI20000882A0 (it) | 2000-04-19 |
ITMI20000882A1 true ITMI20000882A1 (it) | 2001-10-19 |
IT1318475B1 IT1318475B1 (it) | 2003-08-25 |
Family
ID=11444896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
IT2000MI000882A IT1318475B1 (it) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | Processo per la purificazione di composti organometallici o compostiorganici eteroatomici con leghe getter idrogenate. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
IT (1) | IT1318475B1 (it) |
-
2000
- 2000-04-19 IT IT2000MI000882A patent/IT1318475B1/it active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ITMI20000882A0 (it) | 2000-04-19 |
IT1318475B1 (it) | 2003-08-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3336344B2 (ja) | 高効率金属膜ゲッター素子及びその製造方法 | |
JP3231781B2 (ja) | 室温でアンモニアから酸素を除去するための方法 | |
KR102476970B1 (ko) | 가스 공급 용기 | |
US6797182B2 (en) | Process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with hydrogenated getter alloys | |
KR20030034065A (ko) | 가스 공급 장치, 이온 주입 장치, 가스 시약 공급 방법,흡착 탈착 방법 및 반도체 제조 설비 | |
US8900344B2 (en) | Hydrogen selective protective coating, coated article and method | |
JP2004515344A (ja) | 水素化物ガス、不活性ガス及び非反応性ガスを精製するための方法及び材料 | |
KR19990008289A (ko) | 유체의 여과 및/또는 정화와 관련된 장치 및 방법 | |
EP0484301B1 (en) | Process for the purification of ammonia | |
ITMI20000882A1 (it) | Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con leghe getter idrogenate. | |
CA2404130A1 (en) | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with a catalyst based on iron and manganese supported on zeolites | |
IT9020924A1 (it) | Processo per eliminare impurita' da un gas idruro | |
ITMI20000892A1 (it) | Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con leghe getter idrogenate. | |
ITMI20000881A1 (it) | Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con un catalizzatore a base di palladio | |
ITMI20000880A1 (it) | Processo per la purificazione di composto organometallici o composti organici eteroatomici con un catalizzatore a base di ferro e manganese | |
ITMI20000891A1 (it) | Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con un catalizzatore a base di palladio. | |
ITMI20000893A1 (it) | Processo per la purificazione di composti organometallici o composti organici eteroatomici con un catalizzatore a base di ferro e manganese | |
US9707507B2 (en) | Oil removing device and ammonia purification apparatus using the same | |
JPS58120511A (ja) | シランの精製法 | |
WO2001078869A9 (en) | A process for the purification of organometallic compounds or heteroatomic organic compounds with a palladium-based catalyst | |
JPH02188409A (ja) | 水素化物ガスの精製方法 |