FR2651069A1 - Transducteur multicouches a contacts lies et procedes de realisation de la liaison - Google Patents

Transducteur multicouches a contacts lies et procedes de realisation de la liaison Download PDF

Info

Publication number
FR2651069A1
FR2651069A1 FR9010329A FR9010329A FR2651069A1 FR 2651069 A1 FR2651069 A1 FR 2651069A1 FR 9010329 A FR9010329 A FR 9010329A FR 9010329 A FR9010329 A FR 9010329A FR 2651069 A1 FR2651069 A1 FR 2651069A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
transducer
pellet
contact zones
separated
electrical contacts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR9010329A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2651069B1 (fr
Inventor
Ari Lehto
Juha Lahdenperae
Heikki Kuisma
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Vaisala Oy
Original Assignee
Vaisala Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vaisala Oy filed Critical Vaisala Oy
Publication of FR2651069A1 publication Critical patent/FR2651069A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2651069B1 publication Critical patent/FR2651069B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0042Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/43Electric condenser making
    • Y10T29/435Solid dielectric type

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

Pour fabriquer les zones de contact du transducteur multicouches 1', on forme des zones de contacts liées 5' sur la surface latérale 7 du transducteur en utilisant un dépôt de métal par laser, par bombardement ou par une autre méthode adéquate de métallisation. Application à la fabrication de transducteurs 1' de taille réduite, ces transducteurs 1' pouvant être liés à une carte de circuits en utilisant une technique de montage de surface.

Description

La présente invention est relative à un transducteur multicouches à
contacts liés, ce transducteur étant fabriqué par dépÈt de couches planes conductrices et isolantes dans une pastille munie d'un dessin matriciel à partir duquel chaque élément de matrice peut être séparé, en opérant perpendiculairement au plan de la pastille, en transducteurs individuels, de sorte que plusieurs couches conductrices séparées électriquement l'une de l'autre s'étendent sur les
surfaces verticales des transducteurs séparés.
L'invention concerne aussi un procédé de
réalisation de l'opération de liaison.
L'invention est prévue pour servir à la fabrication de contacts électriques dans des structures semi-conductrices multicouches, particulièrement des transducteurs, qui sont fabriqués sur un substrat en forme de pastille, dans une matrice de dizaines ou même de centaines d'éléments par pastille. Après la fabrication, la pastille est divisée en puces transducteur séparées, typiquement par sciage. Chaque transducteur individuel comprend plusieurs couches conductrices s'étendant jusqu'aux surfaces sciées. Les couches conductrices sont galvaniquement isolées l'une de l'autre. Les contacts électriques avec les circuits extérieurs sont généralement réalisés par l'intermédiaire de zones de contact séparées. Une zone de contact est une zone métallisée, généralement carrée, qui peut être utilisée pour souder des conducteurs électriques provenant des cartes de circuits électroniques. La zone de contact est connectée électriquement à l'intérieur du transducteur aux parties appropriées de la structure du détecteur. Un transducteur classique est représenté sur la figure 1. La construction est représentative de l'état
de la technologie, et connue, par exemple, d'après le US-
A-4 597 027.
Les zones de contact du type décrit ci-dessus sont placées dans un transducteur dans un plan de liaison unique, parallèle au plan du substrat, car de telles zones de liaison sont faciles à faire, par exemple par photolithographie et dépôt sous vide par évaporation
avant découpage en dès de la pastille de transducteurs.
La zone du plan de liaison réservée pour ies zones de contact augmente cepandant très substantiellement les dimensions externes du transducteur. Comme la taille du transducteur contribue linéairement au coût unitaire du transducteur, il est de l'intérêt majeur du fabricant de concevoir le transducteur avec une surface aussi petite que possible. Par conséquent, l'existence des zones de contact de la technologie classique augmente le coût du transducteur. Un autre inconvénient est la formation fastidieuse des contacts ohmiques entre l'intérieur du transducteur et les zones de contact du plan de liaison, car le processus de fabrication doit fournir quelque moyen pour empêcher les court-circuits entre les conducteurs ohmiques et d'autres parties conductrices du transducteur. Le but de la présente invention est de pallier
les inconvénients de la technique antérieure décrits ci-
dessus, et de réaliser un type nouveau de transducteur multicouches à contacts liées, ainsi qu'un procédé pour
la réalisation de cette liaison.
L'invention est basée sur la formation de contacts sur les parois verticales, des couches conductrices du transducteur, qui sont formées quand le transducteur est finalement découpé en dés à partir de la pastille fabriquée. En d'autres termes, l'invention est caractérisée par la fabrication des zones de couches conductrices à utiliser pour la liaison sur les surfaces qui ne sont pas l'une des surfaces d'origine des
matériaux de base plans ou en pastilles.
Plus spécifiquement, le transducteur multicouches conforme à l'invention est caractérisé en ce que les contacts électriques du transducteur sont placés sur les parties conductrices des surfaces verticales du transducteur qui sont formées quand le transducteur est
séparé de la pastille.
De plus, le procédé de l'invention est caractérisé en ce qu'on place les contacts électriques du transducteur sur les parties conductrices des surfaces verticales du transducteur qui sont formées quand le
transducteur est séparé de la pastille.
L'invention procure des avantages significatifs. D'abord, l'aire de la puce du transducteur peut être diminuée d'un tiers, ce qui entraîne une réduction
correspondante du coût de fabrication du transducteur.
Ceci a une grande importance si le transducteur est fabriqué en utilisant des processus de production de masse. Deuxièmement, la construction du transducteur est simplifiée, car il n'est pas nécessaire d'amener les contacts ohmiques du transducteur à l'extérieur de la zone de détection. Un troisième avantage est que la structure du transducteur conforme à l'invention peut être liée à une carte de circuits en utilisant par exemple une technique de montage en surface, alors qu'une
structure classique nécessite une liaison par fils.
L'invention va maintenant être exposée en détail à l'aide d'un mode de réalisation donné à titre
d'exemple, et illustré sur les dessins joints.
La figure 1 montre la liaison ohmique d'un
transducteur classique, en perspective.
La figure 2 montre de manière analogue un
transducteur conforme à l'invention, en perspective.
La figure 3 montre en vue de dessus un substrat plan à partir duquel le transducteur peut être découpé en
dès conformément à l'invention.
La figure 1 illustre un transducteur classique 1 comprenant une première couche semi-conductrice 2, une seconde couche semi-conductrice 4, et une couche isolante 3 entre les couches semi-conductrices. Des zones de contact 5 sont formées sur le plan de liaison 6. Structurellement, le plan de liaison 6 constitue une extension de la seconde couche semiconductrice 4, et les contacts ohmiques partent par exemple de la première couche semi-conductrice 2 à l'intérieur de la structure
du transducteur pour aboutir au plan de liaison 6.
Le procédé de formation de contacts conforme à l'invention est illustré sur la figure 2. Une puce transducteur typique 1 comprend deux ou plusieurs couches semi-conductrices conductrices 2' et 4' sur lesquelles
des zones de contact 5' sont formées sur une face -
verticale 7 de la puce transducteur. Une couche électriquement isolante 3' se trouve entre les couches
semi-conductrices 2' et 4'.
Une pastille multicouches typique 8 est illustrée sur la figure 3, avec un dessin matriciel dans lequel les éléments de matrice 1' représentent les éléments transducteurs individuels. Les éléments transducteurs 1' sont typiquement séparés de la pastille 8 par des moyens mécaniques, en sciant le long des lignes 9 et 10. En variante, on peut utiliser un laser pour
séparer les transducteurs 1'.
La structure représentée sur la figure 2 ne possède pas de plans de contact au sens de'la technique classique, mais les zones de contact 5 sont fabriquées directement sur la surface latérale 7 de la puce transducteur, en utilisant par exemple des procédés de dépôt de couches métalliques à base de laser. La surface latérale 7 apparaît quand on scie les puces du transducteur 1' pour les séparer les unes des autres, le long des lignes 9 et 10 des pastilles multicouches 8
illustrées sur la figure 3.
Les zones de contact ohmique 5' sont fabriquées individuellement sur chaque puce séparée, en utilisant par exemple des procédés de dépôt de couches métalliques à base de 'laser, qui sont décrits, entre autres, dans les publications suivantes: R. Solanki et autres: "Low Temperature Refractory Metal Film Deposition" (Dépôt de film métallique réfractaire à basse température); Applied
Physics Letter, 41, (11), ler Décembre 1982.
R.M. Osgood et autres: "Laser Microchemistry for Direct Writing of Microstructures" (Microchimie laser pour écriture directe de microstructures); Proceedings
SPIE, 385, 112... 117, 1983.
Dieter Bâuerle: "Laser Induced Chemical Vapor Deposition" (Dépôt chimique de vapeur induit par laser), dans "Laser Processing and Diagnostics" (Traitement et diagnostic par laser), auteur D. Bâuerle, Springer
Verlag, 1984.
T. Cacouris et autres: "Laser Direct Writing of Aluminium Conductors" (Ecriture directe au laser, de conducteurs en aluminium); Applied Physics Letter, 52,
(22), 30 Mai 1988.
Les puces transducteur 1' sont métallisées dans une chambre étanche aux gaz, dont la construction permet d'introduire un gaz approprié et qui possède sur sa face supérieure une fenêtre capable de transmettre un rayonnement laser. Les puces transducteur 1' sont alignées individuellement une par une sous la lumière du laser, de sorte que le faisceau focalisé peut frapper l'une des zones 5' de la couche conductrice 2'. La tache illuminée 5' est chauffée par la lumière laser qui la frappe, et le gaz de remplissage de la chambre qui contient un métal désiré, par exemple de l'aluminium, de l'or ou du nickel, est pyrolysé (ou, en variante, photolysé) sur la tache chaude 5'. Il en résulte la réduction du métal, ce qui entraîne un dépôt de métal pour former la zone de contact 5' sur la surface du matériau semi-conducteur. La zone de contact a typiquement un diamètre de 0,1 à 0,5 mm, et une épaisseur de couche métallique de 0,1 à 0,5.m. A l'aide du laser, la température de la tache chaude 5' peut être aussi élevée, typiquement à plusieurs centaines de degrés centigrades, que cela est nécessaire pour donner un bon contact ohmique entre la métallisation et le matériau semi- conducteur. Après achèvement du processus de métallisation sur une tache, le faisceau laser est focalisé sur la tache suivante 5', et le processus est répété. Pour la métallisation de la tache 5', des procédés utilisables en variante sont, par exemple, le dépôt de vapeur, le bombardement, et le dépôt d'une couche de métal par électrolyse ou autocatalyse (placage non électrolytique) sur la surface latérale sciée de la structure du transducteur, après quoi le dessin de la zone de contact désiré peut être réalisé en enlevant la métallisation des zones voulues par nettoyage au laser, décapage à travers une couche de résist polymère ayant des contours voulus, ou par nettoyage mécanique par sablage ou abrasion. Le procédé de placage électrolytique peut s'appliquer pour métalliser toutes les surfaces conductrices de la structure du transducteur. Cette approche laisse automatiquement les couches isolantes non métallisées. Si la métallisation d'une grande zone ne produit pas d'effet indésirable, ce procédé est le plus simple possible pour déposer la couche métallique. Une variante de procédé consiste à métalliser directement les zones désirées à travers un masque fabriqué mécaniquement ou autrement. Le masque peut être fabriqué, par exemple, à partir d'un polymère photosensible en exposant et en développant le dessin désiré sur le polymère, ou, alternativement, en modelant les contours d'une couche de plastique polyimide à l'aide d'un laser à excimère, ou
d'une source de lumière analogue.
Les contacts ohmiques peuvent être formés sur la surface latérale de la structure transducteur en utilisant par exemple un alliage eutectique orsilicium, qui peut aussi être utilisé pour lier des conducteurs métalliques ou analogues sur le côté de la structure multicouches. Une liaison par la chaleur et la compression peut alors être exécutée pour donner un contact ohmique à l'aide de l'alliage métallique entre le
matériau semi-conducteur et le conducteur métallique.
26510-69

Claims (9)

REVENDICATIONS
1. Transducteur (1') comprenant des contacts électriques (5'), ce transducteur étant fabriqué par dépôt de couches planes conductrices et isolantes (2', 3', 4') pour former une pastille (8) munie d'un dessin matriciel à partir duquel chaque élément de matrice peut être sépare, en opérant perpendiculairement au plan de la pastille (8), en transducteurs individuels (1'), de sorte que plusieurs couches conductrices séparées électriquement l'une de l'autre s'étendent sur les surfaces verticales des transducteurs séparés, caractérisé en ce que les contacts électriques (5') du transducteur (1') sont placés sur les parties conductrices des surfaces verticales (7) du transducteur (1') qui sont formées quand le transducteur (1') est
séparé de la pastille (8).
2. Procédé pour former des contacts électriques dans une structure de transducteur qui est fabriquée par dépôt de couches planes conductrices et isolantes pour former une pastille (8) munie d'un dessin matriciel à partir duquel chaque élément de matrice peut être séparé, en opérant perpendiculairement au plan de la pastille (8), en transducteurs individuels (1'), de sorte que plusieurs couches conductrices séparées électriquement l'une de l'autre s'étendent sur les surfaces verticales des transducteurs séparés, caractérisé en ce qu'on place les contacts électriques (5') du transducteur (1') sur les parties conductrices des surfaces verticales (7) du transducteur(l') qui sont formées quand le transducteur
(1') est séparé de la pastille (8).
3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'on forme les zones de contact (5')
en utilisant un processus de dépôt basé sur le laser.
4. Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'on place le transducteur (1') dans une chambre étanche aux gaz, remplie d'un gaz contenant un métal désiré, cette chambre étant munie à sa partie supérieure d'une fenêtre pouvant transmettre un rayonnement laser, et en ce que la surface latérale (7) du transducteur (1') est chauffée par un faisceau laser en un endroit désiré (5'), ce qui entraîne la pyrolyse du
gaz contenant le métal sur la tache chaude (5').
5. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'on forme les zones de contact (5')
en utilisant un processus de dépôt de vapeur.
6. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'on forme les zones de contact (5')
en utilisant un processus 'de dépôt par bombardement.
7. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'on forme les zones de contact (5')
en utilisant un processus de placage électrolytique.
8. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'on forme les zones de contact (5')
en utilisant un processus de placage autocatalytique.
9. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on forme les zones de contact (5') aux endroits désirés en utilisant un masque fabriqué, par exemple, à partir d'un plastique polymère photosensible en exposant et en développant les ouvertures désirées
dans le masque.
FR9010329A 1989-08-17 1990-08-14 Transducteur multicouches a contacts lies et procedes de realisation de la liaison Expired - Fee Related FR2651069B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI893874A FI893874A (fi) 1989-08-17 1989-08-17 Kontaktfoersedd givare med skiktstruktur samt foerfarande foer utfoerande av kontakteringen.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2651069A1 true FR2651069A1 (fr) 1991-02-22
FR2651069B1 FR2651069B1 (fr) 1998-04-03

Family

ID=8528855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR9010329A Expired - Fee Related FR2651069B1 (fr) 1989-08-17 1990-08-14 Transducteur multicouches a contacts lies et procedes de realisation de la liaison

Country Status (11)

Country Link
US (1) US5083234A (fr)
JP (1) JP2866167B2 (fr)
CH (1) CH681581A5 (fr)
DE (1) DE4023776C2 (fr)
ES (1) ES2023345A6 (fr)
FI (1) FI893874A (fr)
FR (1) FR2651069B1 (fr)
GB (1) GB2235090B (fr)
IT (1) IT1241544B (fr)
NO (1) NO307488B1 (fr)
SE (1) SE508914C2 (fr)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR930011143A (ko) * 1991-11-14 1993-06-23 김광호 반도체장치 및 그 제조방법
CA2115947A1 (fr) * 1993-03-03 1994-09-04 Gregory C. Smith Traitement des plaquettes pour semiconducteurs apres l'etape de la separation
DE4321804A1 (de) * 1993-06-30 1995-01-12 Ranco Inc Verfahren zur Herstellung von Kleinbauelementen
US5912796A (en) * 1996-11-15 1999-06-15 Illinois Tool Works, Inc. Metallized film capacitor and manufacturing process
DE10309869A1 (de) * 2003-03-06 2004-09-23 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Herstellung mindestens eines Halbleiterchips und Halbleiterchip
DE10321214A1 (de) * 2003-05-12 2004-12-30 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Aufbringen elektrischer Kontaktierungselemente auf einen Chip eines Chip-Wafers und Chip
DE10326804A1 (de) * 2003-06-13 2004-11-18 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Herstellung mindestens eines Halbleiterchips und Halbleiterchip
DE10334634B3 (de) * 2003-07-29 2005-01-13 Infineon Technologies Ag Verfahren zum seitlichen Kontaktieren eines Halbleiterchips
DE10334633A1 (de) * 2003-07-29 2004-10-07 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Herstellung einer Anordnung mit zwei Halbleiterchips und Anordnung mit zwei Halbleiterchips
TWI559349B (zh) * 2014-10-28 2016-11-21 鈺邦科技股份有限公司 導電端子改良之固態電解電容器封裝結構之製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2159957A (en) * 1984-06-07 1985-12-11 Vaisala Oy Capacitive pressure transducers
WO1988000335A1 (fr) * 1986-06-30 1988-01-14 Rosemount Inc. Detecteur de pression differentielle
US4769738A (en) * 1986-12-12 1988-09-06 Fuji Electric Co., Ltd. Electrostatic capacitive pressure sensor
DE3827138A1 (de) * 1987-08-13 1989-02-23 Fuji Electric Co Ltd Mit elektrostatischer kapazitaet arbeitender druckdetektor

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL128146C (fr) * 1963-03-05
GB1115259A (en) * 1966-05-20 1968-05-29 Gen Dynamics Corp Load measuring system
GB1342468A (en) * 1969-10-16 1974-01-03 Chubb Alarms Mfg Ltd Security detection systems
GB1533191A (en) * 1977-03-30 1978-11-22 G Ni I P I Redkometallich Prom Pressure-sensitive semiconductor bodies and pressure-sensitive devices including such bodies
US4267634A (en) * 1978-04-05 1981-05-19 American Components Inc. Method for making a chip circuit component
US4386453A (en) * 1979-09-04 1983-06-07 Ford Motor Company Method for manufacturing variable capacitance pressure transducers
JPS58159360A (ja) * 1982-03-17 1983-09-21 Fujitsu Ltd 半導体装置
DE3378393D1 (en) * 1982-05-11 1988-12-08 Nec Corp Multilayer electrostrictive element which withstands repeated application of pulses
JPS6127688A (ja) * 1984-07-02 1986-02-07 Nec Corp 電歪効果素子およびその製造方法
DE3727142C2 (de) * 1987-08-14 1994-02-24 Kernforschungsz Karlsruhe Verfahren zur Herstellung von Mikrosensoren mit integrierter Signalverarbeitung
FI78784C (fi) * 1988-01-18 1989-09-11 Vaisala Oy Tryckgivarkonstruktion och foerfarande foer framstaellning daerav.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2159957A (en) * 1984-06-07 1985-12-11 Vaisala Oy Capacitive pressure transducers
WO1988000335A1 (fr) * 1986-06-30 1988-01-14 Rosemount Inc. Detecteur de pression differentielle
US4769738A (en) * 1986-12-12 1988-09-06 Fuji Electric Co., Ltd. Electrostatic capacitive pressure sensor
DE3827138A1 (de) * 1987-08-13 1989-02-23 Fuji Electric Co Ltd Mit elektrostatischer kapazitaet arbeitender druckdetektor

Also Published As

Publication number Publication date
IT9048226A1 (it) 1992-02-14
GB2235090B (en) 1993-11-17
FR2651069B1 (fr) 1998-04-03
ES2023345A6 (es) 1992-01-01
CH681581A5 (fr) 1993-04-15
FI893874A (fi) 1991-02-18
NO903622L (no) 1991-02-18
NO903622D0 (no) 1990-08-16
SE9002663L (sv) 1991-02-18
SE9002663D0 (sv) 1990-08-15
US5083234A (en) 1992-01-21
DE4023776C2 (de) 2003-07-03
IT1241544B (it) 1994-01-17
DE4023776A1 (de) 1991-02-21
IT9048226A0 (it) 1990-08-14
JPH03104167A (ja) 1991-05-01
GB9017035D0 (en) 1990-09-19
NO307488B1 (no) 2000-04-10
FI893874A0 (fi) 1989-08-17
JP2866167B2 (ja) 1999-03-08
SE508914C2 (sv) 1998-11-16
GB2235090A (en) 1991-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0565391B1 (fr) Procédé et dispositif d'encapsulation en trois dimensions de pastilles semi-conductrices
EP0638933B1 (fr) Procédé d'interconnexion de pastilles semi-conductrices en trois dimensions, et composant en résultant
TWI420693B (zh) 發光二極體及其製程
TWI313075B (en) Method for producing a semiconductor component with a planar contact and the semiconductor component
CN101295758A (zh) 含有碳基衬底的铟镓铝氮发光器件以及其制造方法
FR2651069A1 (fr) Transducteur multicouches a contacts lies et procedes de realisation de la liaison
FR2923081A1 (fr) Procede d'interconnexion verticale de modules electroniques 3d par des vias.
JP2007158133A5 (fr)
WO2006045968A1 (fr) Structure multicouche monolithique pour la connexion de cellules a semi-conducteur
FR2646018A1 (fr) Dispositif semiconducteur et son procede de fabrication
FR2767223A1 (fr) Procede d'interconnexion a travers un materiau semi-conducteur, et dispositif obtenu
EP0751556A1 (fr) Procédé de réalisation d'un substrat d'interconnexion permettant de connecter une puce sur un substrat de réception
FR2847385A1 (fr) Substrat multicouche en ceramique et procede de fabrication de celui-ci
FR2572849A1 (fr) Module monolithique haute densite comportant des composants electroniques interconnectes et son procede de fabrication
FR3047604A1 (fr) Dispositif electronique hybride protege contre l'humidite et procede de protection contre l'humidite d'un dispositif electronique hybride
FR2536209A1 (fr) Substrat de cablage, procede de fabrication de ce substrat et dispositif a semi-conducteurs utilisant un tel substrat
JPS62120049A (ja) 絶縁状の金属フイルムを用いて電気的接続を行う方法及び装置
WO1999024175A1 (fr) Procede de fabrication d'une sonde acoustique
KR20080013068A (ko) 레이저를 이용한 플렉서블 소자의 제조방법 및 플렉서블소자
US10660202B1 (en) Carrier structure and manufacturing method thereof
FR2466102A1 (fr) Procede de fabrication d'elements composites pour circuits integres
JPS59167038A (ja) 光半導体素子用サブマウントの構造
US8147927B2 (en) Methods of making multilayered structures
FR2976720A1 (fr) Procede de connexion electrique entre des elements d'une structure integree tridimensionnelle, et dispositif correspondant
FR2754416A1 (fr) Module electronique et son procede de fabrication

Legal Events

Date Code Title Description
ST Notification of lapse

Effective date: 20100430