FR2632743A1 - Circuit de detection de temperature pour un dispositif de panification automatique et procede de commande pour un tel dispositif - Google Patents

Abstract

Le circuit de détection de température permet, dans un dispositif de panification automatique, de régler la température en fonction d'un programme mis en mémoire dans un micro-processeur afin de réaliser la préparation et la cuisson du pain. Il comporte : un microprocesseur 11 muni d'au moins une borne de sortie PO1 à PO7 reliée par l'intermédiaire de plusieurs résistances R10 à R16 présentant des valeurs de résistances différentes les unes des autres, à une thermistance TH11, des moyens de comparaison COMP de la tension à laquelle est soumise la thermistance TH11 à une tension de référence et d'adresser un signal de comparaison au microprocesseur. Application à des installations automatisées de fabrication du pain.

Description

CIRCUIT DE DETECTION-DE TEMPERATURE POUR UN DISPOSITIF
DE PANIFICATION AUTOMATIQUE ET PROCEDE DE
COMMANDE POUR UN TEL DISPOSITIF
La présente invention se rapporte par un circuit de détection de température pour un dispositif de panification automatique et à un procédé de commande pour un tel dispositif permettant de détecter-la variation de température en fonction de l'avancement du processus de panification, concernant par exemple le pétriss-age des constituants du pain (fabrication de la pâte), la double fermentation de la pâte et la cuisson-de la pâte, dans un processus de panification automatique.

On connaît deux types classiques de machines dé panification automatique utilisant un microprocesseur muni de moyens de fonction aptes à convertir des signaux analogiques en signaux numériques, ainsi qu'un microprocesseur ne comportant pas cette fonction de conversion de signaux et qui sont aptes à détecter la température de la machine de panification; mais dans le cas où l'on utilise un microprocesseur ne comportant pas la fonction de conversion de-signaux, le circuit dedétec- tion de température et le convertisseur analogique/numérique reliés au microprocesseur pour détecter la température, ainsi que le convertisseur sont généralement complexes et leur coût de fabrication est très élevé.

Si l'on utilise un microprocesseur comportant la fonction de conversion, un exemple de réalisation typique est-représenti à la figure 1. Dans ce mode de réalisation, un microprocesseur 1 est muni d'un circuit de détection de température comportant une thermistance TH1, des résistances R1 et R2, un condensateur C1 et une dione Zener de tension constante ZD1.

Dans ce montage, lorsoue la valeur de la résistance de la thermistance Till varie en fonction de la variation de la température, la tension appliquée à la borne d'entrée IN du microprocesseur varie pour détecter la température, mais du fait que cette machine n'utilise pas le convertisseur analogique/numérique relativement onéreux, le microprocesseur qui comporte la fonction de conversion est plus onéreux que celui qui ne la comporte pas. Du fait de cette situation, les coûts de fabrication sont accrus, tandis que si le microprocesseur est programmé en fonction de la détermination de la donnée de température sur la base de la tension à la borne d'entrée IN, les données concernant la température ne varient pas du fait d'un état d'anomalie.Ainsi si l'on est obligé de changer la configuration de la machine de panification ou les types de thermistance, les tensions à l'entrée en fonction des variations de températures diffèrent l'une de l'autre. Les données concernant la température en fonction de la tension doivent en conséquence être changées, et il faut reprogrammer le microprocesseur. I1 s'ensuit qu'il est nécessaire de connaître la détermination des données de température en fonction de la tension d'entrée correspondant au développement de nouveaux produits qui. exige beaucoup de temps et de frais.

Une telle machine classique de panification automatique fonctionne sur la base du graphique de courbes de température représentée à la figure 2, pour réaliser la cuisson du pain.

Ceci signifie que l'on réalise tout d'abord le brassage des constituants du pain, la fermentation préalable de la pâte, la fermentation secondaire de la pâte et ensuite la cuisson du pain fermentée ou levé, le pain étant soumis au cours de la cuisson à deux ou trois vagues de chaleur correspondant à la courbe de température standard L1, à la courbe de température supérieure L2 et de la courbe de température inférieure L3, en fonction de 3a sélection du niveau de cuisson, la combinaisor des boutons de réglage de la cuisson correspondants, on rencontre cependant des inconvenients dus au faits que par suite de l'erreur d'assemblage des parties môcaniques et des bléments de circuit montés sur la machine de panifi c ti on au.omatique, lå cuisson du pain n'est pas réalisée de façon unifornle lors que 1a mise à disposition des trois types de cuisson décrits ci-dessus ne permet pas de satisfaire les goûts variés des consommateurs.

Un exemple typique de réalisation d'une telle machine est données par le brevet US-A-4 538 509 au nom de Shin Ojima,
Yao, et ayant pour titre "MACHINE DE PANIFICATION AUTOMATIQUE".

Ce brevet comporte une partie de commande munie d'un microordinateur permettant de régler la température en fonction de la commande de cycle sur la base des températures détectées par des capteurs montés dans la chambre de cuisson et la cuve de pétrissage.

Selon la présente invention, le dispositif de panification automatique comporte des moyens pour régler la température en fonction d'un programme mis en mémoire dans un microprocesseur et pour réaliser la cuisson du pain, dans lequel le microprocesseur comporte au moins une borne reliée à une thermistance via au moins une résistance-dont-la valeur est différente de celles de résistances voisines, de façon à détecter la tension correspondant à la température détectée par la thermistance, le comparateur comparant ensuite la tension détectée avec la tension de référence pour transmettre au microprocesseur un signal de comparaison.

La présente invention concerne également un procédé de commande de deux programmes dont l'un constitue le programme de détection de la température et l'autre le programme de détection des anomalies de la thermistance, dans lequel l'un des programmes comporte de-s étapes consistant à décaler d'un bit la mémoire tampon de sortie et à mettre le signal O en provenance de la borne-de sortie, jusqu'à ce que l'on ait reçu le signal faible en provenance de la borne d'entrée, tandis que l'on ajoute le signal 1 à là mémoire tampon afin de le mettre en mémoire comme donnée de température, tandis que l'autre programme comporte les étapes consistant à déterminer si la valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon de stockage est 0 ou 6, après avoir réalisé ledit programme uniquement dans le cas où le bouton de démarrage a t actionné afin de déterminer si la thermistance est en anomalie, et de stopper alors le dispositif de panification si ' thermistance est en anomalie.

Ainsi, l'objet principal de l'invention consiste utiliser un microprocesseur ne comportant pas la fonction de conversion et à réduire ainsi les coûts de fabrication du dispositif de panification et de la panification.

Un autre objet de l'invention consiste à réduire la durée de développement et le coût de détermination des données de température nécessaires pour changer le type de produit réalisé dans le dispositif; lorsque l'on change le type de produit panifié fabriqué, on peut changer facilement des données relatives à la température en faisant varier les facteurs extérieurs au microprocesseur.

Un autre objet de l'invention consiste à déterminer si le circuit de détection de température peut détecter de façon précise la température sur la base de la détection de l'état de court-circuit ou d'interruption de la thermistance au départ de la réalisation de la cuisson du pain, en évitant ainsi un fonctionnement erroné au dispositif de panification.

Un autre but de la présente invention consiste à régler l'aspect et l'épaisseur de la croûte du pain afin de mieux satisfaire le goût du consommateur, ce qui exige le contrôle continu de la température de cuisson du pain.

D'autres buts, avantages et caractéristiques apparaîtront à la lecture de la description de divers modes de réalisation de l'invention, faite à titre non limitatif et en regard du dessin annexé dans lequel:
- la figure 1 représente un circuit de détection de
température classique pour un dispositif
automatique de panification;
- la figure 2 est un graphique représentant diverses
courbes de variation de la température au
cours du processus de panification dans un
dispositif de panification classique;
- la figure 3 représente un circuit de détection de
température pour un dispositif automatique
ae panification selon la présente invention; ;
- la figure 4 est un schéma logique représentant le
programme de détection de la valeur de la
tempr]-.ture selon le procédez de commande ce
la présente invention;
- la figure 5 est un circuit logique représentant le
programme de détection d'anomalie de ther
mistance selon le procédé de commande de la
présente invention;
- la figure 6 est un circuit représentant un autre mode
de réalisation du circuit de détection de
température selon la -présente invention;
- la figure 7 est un circuit représentant encore un autre
mode de réalisation du circuit de détection
de température selon la présente invention;;
Sur la figure 3 qui représente schématiquement le circuit de la d'une machine automatique de panification selon la présente invention, on voit un microprocesseur 11 qui sert à commander-le fonctionnement complet de la machine automatique de panification en fonction du signal de sortie-émis par le combiné de-boutons de commande 12. Le microprocesseur 11 est relié à un circuit à tension constante 13 fournissant la tension d'alimentation des constituants ou éléments du circuit de commande.Le microprocesseur ll est relié également à divers autres constituants: une partie d'affichage 14 destinée à afficher l'heure, le processus en cours et les états de défaillance; un klaxon 15 destiné à émettre une alarme sonore; un moteur de pétrin 16 servant au pétrissage-des ingrédients du pain; un moteur de ventilateur-17 servant à la mise en circulation de l'air; un organe de chauffage 18- servant à la cuisson de la pâte; et un ei-rcuit- 19 de détection de la température servant à détecter la température de l'enceinte de cuisson du pain.Le circuit de détection de la température 19 comporte des résistances R10 à R15 qui sont reliées à des bornes de sortie PO1 à P06 pour émettre le signal de la mémoire tampon de sortie 21, qui est montée dans la mémoire vive RAM20 du microprocesseur 11. La borne de sortie P07 est reliée simultanément, via une résistance R16 et une résistance va- riable VRll1 aux bornes de sortie POI à P06 pour régler la température de cuisson sur la thermistance TElll. Le pcint de liaison entre les résistances et la thermistance Tlill est relié par une résistance Ri7 à la borne inversive (-) du comparateur COUP.La borne non inversive (+) du compara teur COMP11 est reliée à un point de liaison située entre les résistances R18 et R19 et qui est coupée en série à la source de puissance VDD pour fixer la tension de référence. La borne de sortie du comparateur COMP est reliée à la borne d'entrée PI du microprocesseur 11, en parallèle à la résistance R20 à laquelle est appliquée la source de tension VDD.

Comme décrit ci-dessus, le circuit de détection de température 19 utilise sept bornes constituant les bornes de sortie PO1 à PO7 du microprocesseur 11, mais dans les modes de réalisation préférés de la présente invention, il est possible de faire varier le nombre de bornes de sortie PO1 à PO7 en fonction de la gamme de température, pour réaliser les processus de pétrissage, de préfermentation, de fermentation secon daine et de cuisson, etc. Les valeurs des résistances R10 à
R16 sont réglées à une valeur compatible avec la valeur de la résistance de la thermistance THîl pour la température à contrôler.Ceci signifie que la résistance R10 est réglée à quelques centaines d'ohms pour détecter le court circuit de la thermistance TH11 dans les gammes de température inférieure à OOC. La résistance Rîl est réglée pour détecter la température minimale au cours du pétrissage, la résistance R12 est réglée pour détecter la température au cours-de la préfermentation préliminaire, la résistance R13 est réglée pour détecter la température au cours de la fermentation secondaire et les résistances R15 et R16 sont respectivement réglées pour que la valeur de la résistance de la thermistance THîl corresponde à la température de cuisson. Les résistances R17 et-R18 sont ré-.

glées à la même valeur afin d'appliquer la tension de référence de 1/2 VDD à la borne non inversive (+) du comparateur COMP.

Le circuit de détection de température réalise un programme de détection de la température de manière à capter ;a valeur de la température selon le programme représenté à la figure 4. Le microprocesseur 11 active la mémoire tampon de sortie 21 à l'intérieur de la mémoire vive RAMi 20, de façon à mettre en mémoire le signal fort au bit 0 de la mémoire tarpon de sortie 21, au cours de l'étape 101. On passe ensuite à l'étape 102 pour décaler vars la gauche de 1 bit le signal mis en mémoire dans la mémoire tampon 21 et pour estimer ensuite à ltétape 103 si le transfert a été réalisé.A ce moment, si le transfert n'a pas été réalisé, on passe de l'étape 103 à l'étape 104 pour émettre le signal stocké à chaque bit de la mémoire tampon de sortie 21, à partir des bornes de sortié PO1 à P07, et ensuite pour estimer si le signal fort a été amené à l'entrée de la borne d'entrée PI.

En d'autres termes, le microprocesseur 11 émet le signal fort afin d'alimenter les bornes de sortie POl à P07. A ce moment, le signal fort est divisé par les valeurs de la résistance R10 reliée à la borne de sortie PO1 ou des résistances R11 à R5 respectivement reliées aux bornes de sortie P02 à PO6 et la valeur de la résistance de la thermistance TH11 est appliquée par l'intermédiaire de la résistance R17 à la borne inversive du comparateur COMP.Le comparateur COMP compare la tension appliquée à sa borne inversive-à la'ten sion 1/2 VDD appliquée à sa borne non inversive et qui est constituée par la tension d'alimentation VDD divisée par les résistances R18 et R19, et il émet le signal faible pour l'appliquer à la borne d'entrée PI du microprocesseur 11 si la tension initiale est supérieure à la tension 1/2 VDD. Dans le cas contraire si la première tension est inférieure à la tension 1/2 VDD, le comparateur COMP émet le signal fort pour l'appliquer à la borne d'entrée PI.

Les valeurs des résistances R10 à-R16 respectivement reliées aux bornes de sortie PO1 à P07 sont par ailleurs ajustées à la même valeur que celle de la résistance corres- pondant à la température de détection de la thermistance Tell.

Si l'on suppose, par exemple, que chacune des températures choisies est inférieure à OOC, 250C, 320C, 340C, 38 C, 130 C et 1700C, la valeur correspondante de la thermistance THIl est respectivement de 500 Ka, 200 Kn, 160 KP, 140 K#., 120 K#, 8 K# et 4 XR, la valeur des résistances R10 à R16 est respective- ment de 500 K#, 200 Ss, 160 K#, 140 K#,120 K#, 8 K# et 4 K#, de façon à être identique à la valeur de la résistance de la thermistance Tell. Ainsi, si ).'-on suppose que la température instantanée est inférieure à 250oC et Si la valeur de la résistance de la thermistance TH11 est supérieure à 200 K#, si le microprocesseur 11 émet le signal ïort en provenance de ia borne de sortie PO1 à l'étape 104, la tension appliquée à la borne inversive du comparateur COMP est inférieure à 1/2 VDD, de façon à obliger le comparateur COMP à émettre le signal fort à la borne d'entrée PI du microprocesseur 11.

Si le signal fort est amené de cette façon à la borne d'entrée PI, le microprocesseur 11 ajoute un bit 1 à la mé mojre tampon de détection de température 21 montée dans la mémoire RAM 20 à l'étape 106 et revient ensuite à l'étape 102 pour décaler le signal mis en mémoire dans la mémoire tampon de sortie 21 d'un bit vers la gauche. Le microprocesseur 11 émet ensuite à l'étape 104 le signal fort à la borne de sortie P04. A cet instant, la thermistance THîl présente une valeur de résistance supérieure à 200 KQ du fait que la température est inférieure à 250C et que la tension appliquée à la borne inversive du comparateur COMF est supérieur à 1/2 VDD.

Le comparateur COMP émet alors le signal faible et l'adresse à la borne d'entrée PI.

On doit comprendre que le microprocesseur 11 se décale de façon ordonnée de la borne de sortie PO1 à P02, P03, POS,
P06 et P07 tandis qu'il émet le signal fort jusqu'à ce que la borne d'entrée PI reçoive le signal faible et qu'il ajoute ce signal à la mémoire tampon de détection de température 22.

Cette opération se poursuit de façon répétitive de l'étape 102 à l'étape 106 jusqu'à ce que le signal faible soit adressé à la borne d'entree PI ou bien que le signal fort soit émis par la borne de sortie PO7. Le signal fort est transmis à la barre d'entrée PI de façon à ajouter 1 bit à la mémoire tampon de détection de température 22 et à y mettre en mémoire une valeur 6 dans la mémoire tampon de détection de température 22.

Si le transfert est réalisé ensuite au cours de l'étape 1-, le microprocesseur 11 passe à l'étape 107 pour mettre en mémoire dans la mémoire tampon de stockage de température 23 la valeur de température mise en mémoire dans la mécroire tampon de détection de température 22. Le microprocesseur 21 passe ensuite à l'étape 108 pour effacer la valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon de détection, de température 22 au début de l'étape 108 et pour émettre le signal faible e provenance des bornes de sortie PO1 à PO7 afin de réaliser la suite du programme à l'étape 109.

Le programme de détection de la valeur de température .comprend ainsi les étapes consistant à émettre le signal fort en provenance des bornes de sortie PO1 å PO7 jusqu'à ce que la borne d'entrée PI reçoive le signal faible, à mettre en mémoire la valeur de la température détectée par la thermistance Tell, à mettre en mémoire dans la, mémoire tampon de la valeur de la température 23 la valeur de la température mise en mémoire dans la mémoire tampon 22, à commander la rotation du moteur de pétrissage 16 et du moteur de ventilateur 17 ainsi que le chauffage de l'organe de chauffage 18 afin de réaliser la cuisson du pain.

Lorsque le processus est mis en route par pression sur le bouton de démarr-age et que le processus de cuisson du pain a commencé, le microprocesseur 11 réalise le programme de détection des anomalies de fonctionnement de la thermistance selon le schéma logique représenté à la figure 5 et détermine si la thermistance doit être court-circuitée ou coupée pour commander le fonctionnement de la machine automatique de panification. Selon ce processus représenté à'1a figure 5, après que l'on ait appuyé sur le bouton de démarrage, le microprocesseur 11 réalise le programme de détecti-on de la valeur de la température à l'étape 111 de la figure 5.On passe ensuite de l'étape 111 à l'étape 112 pour déterminer si la valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon de la valeur de la température 23 est égale à 0, c'est-à-dire que si le signal fort est émis à partir de la borne de sortie PO1, le microprocesseur 1-1 détermine si le signal faible a été introduit à la borne d'entrée PI. Si la valeur mise en mémoire est 0, on passe de l'étape 112 à l'étape 113 pour déterminer si la thermistance THîl est court-circuitée et arrêter ensuite le fonctionnement de la machine automatique de panification à l'étape 114. Si au contraire, la valeur mise en mémoire n'est pas nulle, on passe de l'étape 112 à l'étape 115 pour déterminer si la valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon de valeur de température 23 est égale à'6.En d'autres termes, le microprocesseur 11 détermine si le signal fort a été introduit à la borne d'entrée PI mEme si le signal fort est émis à la borne de sortie P07. Si la valeur mise en mémoire est égale à 6, on passe de ltétape 115 à l'étape 116 pour déterminer si la thermistance TH11 a été court-circuitée, auquel cas on arrête le fonctionnement de la machine automatique de panification. Par ailleurs, si la valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon de la valeur de température 23 n'est pas égale ni à 0 ni à 6, le microprocesseur 11 considère que l'état normal de la thermistance THîl conduit la machine automatique de panification à fonctionner normalement.

Ensuite, au cours du processus de cuisson du pain, on atteint une température de 1700C pour réaliser une cuisson correcte du pain. Pendant cette période, si la température captée par la thermistance THîl est supérieure à 170 cl, le microprocesseur 11 considérant que la température est supérieure à 1700C, oblige l'organe de chauffage 18 à arrêter le chauffage, ce qui a pour effet de porter à 6 la valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon de la valeur de la température 23.Si la température de la thermistance TH11 est inférieure à 170 cl, le microprocesseur 11 tient compte du fait que la température est inférieure à 1700C pour obliger l'organe de chauffage à chauffer en continu jusqu'à 170 C, ce qui a pour résultat de porter à 5 la valeur de la température mise en mémoire dans la mémoire tampon 23.

On a expliqué précédemment que le dispositif selon l'invention peut permettre de régler le degré de cuisson et l'épaisseur de la croûte, ce qui a pour conséquence qu'ilest nécessaire de faire varier la température de cuisson du pain d'environ + 10 à 200C à laide de la résistance variable VR11 si la valeur combinée de la résistance entre la résistance variable VRll et de la résistance R16 est ajustée à la valeur 4 KS qui constitue la valeur de la résistance pour la température de cuisson du pain de 1700C telle que captée par la thermistance TH11.

La figure 6 représente par ailleurs un autre mode de réalisation du circuit de détection de température 19 selon l'invention. Chacune des résistances P10 à R16 et la résistance variable VRll, est respectivemer.t reliée par l'intermé diaire de diodes D11 à D17 à la thermistance TH11 et à la résistance R17. Les autres configurations sont similaires à celles du premier mode de réalisation.

Ce mode de réalisation du circuit de détection de température selon la présente invention peut empêcher le fonctionnement erroné du circuit de détection de température 19r car si l'une quelconque des bornes de sortie POll à PO17 émet sélectivement le signal fort, les diode Dli à D17 empêchent le renversement du sens du courant dans l'une quelconque des bornes de sortie PO10 à P017 émettant le signai faible.

On a représenté à la figure 7 un autre mode de réalisation du circuit de détection-de température utilisant un microprocesseur apte à convertir le signal numérique en un signal analogique selon la présente invention. Le circuit de détection de température 31 comporte: une thermistance TH21 permettant de capter la température de pétrissage et. de fermentation, une thermistance TH22 apte à capter la température de cuisson; des réSistancesR21 et R22, des condensateurs C21 et C22, une résistance variable VR21 permettant de régler la température de cuisson, ainsi que le microprocesseur 30.

Le fonctionnement du circuit de détection de- température selon ce dernier mode de réalisation va maintenant être décrit.

La valeur de la résistance-de la thermistance TH21 varie en fonction de la température qui y est captée, ce qui fait que la tension appliquée à la borne rentrée IN 21 varie. Le microprocesseur 30 commande ensuite les opératïons de pétrissage, ainsi que les fermentations préliminaire et secondaire.

Par ailleurs, la valeur de la-résistance de la thermistac- ce TH22 varie en fonction de la température qui y est captée, ce qui fait varier de façon correspondante'la tension appliquée à la borne d'entrée IN22. Le microprocesseur 30 commande ainsi par la tension de la borne d'entrée IN22 la température de cuisson pour qu'elle soit maintenue à 170 C. La résistance variable VR21, reliée en série à la résistance R22, peut ainsi faire varier la température de cuisson du pain de + 10 à 20"C en fonction des conditions de fonctionnement.

Comme décrit ci-dessus, la présente invention n'utilise pas de microprocesseur onéreux comportant une fonction de conversion du signal numérique en un signal analogiquet mais uniquement un microprocesseur relativement bon marché qui ne comporte pas cette fonction pour détecter la température. Le coût des dispositifs et des circuits selon l'invention est ainsi réduit et lorsqu'il est nécessaire de changer le type de produit soumis à la panification, il suffit de changer la valeur de la résistance à l'extérieur du microprocesseur. La durée et le coût de développement pour déterminer les données concernant la température et qui sont nécessaire pour changer le type de produit panifié peut donc être réduit. Le fonctionnement erroné de la machine automatique de panification provoqué par le fonctionnement anormal de la thermistance est évité, du fait que la cuisson du pain est réalisée après avoir estimé si la thermistance peut détecter avec précision la température en cas d'anomalie. Ces dispositions présentent l'avantage de permettre de réaliser la cuisson du pain de telle façon que la dureté et l'épaisseur de la croûte puissent satisfaire tous les goûts du consommateur.

Bien entendu, la présente invention n'est pas'limitée aux modes de réalisation décrits et représentés, mais elle est susceptible de nombreuses variantes accessibles à l'homme de l'art sans que l'on ne s~'écarte de l'esprit de l'invention.

Claims (4)

REVENDICATIONS

1.- Circuit de détection de température permettant, dans un dispositif de panification automatique, de régler la température en fonction d'un programme mis en mémoire dans un microprocesseur afin de réaliser la préparation et la cuisson du pain, caractérisé en ce qu'il comporte: un microprocesseur (il) muni d'au moins une borne de sortie (Pol à PO7) reliée par l'intermédiaire de plusieurs résistances (R10 à R16) présentant des valeurs de résistance différentes les une des autres, à une thermistance (il), de manière à émettre un signal fort; et, des moyens de comparaison de la tension à laquelle est soumise ladite thermistance (THI1) à une tension de référence et d'adresser un signal dé comparaison audit microprocesseur (11).

2.- Circuit de détection de-température selon la reven dication 1, caractérisé en ce qu'il comporte une résistance variable (VRli) qui est reliée à une borne de sortie (P07) du microprocesseur (11) de manière à faire varier la température de cuisson du dispositif automatique de panification.

3.- Circuit de détection de température selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il comporte au moins une diode (D11 à D17) interposée entre l'une des résistances (R10 à R16) et ladite thermistance (TH11), de manière à empêcher le signal fort d'inverser la polarité du courant dans l'une quelconque des bornes de sortie (PO1 à P07) soumise à un signal faible.

4.- Procédé de commande d'un circuit de détection de température selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce qu'il utilise deux programmes:

- un programme de détection de la valeur de la température

comportant les étapes consistant à: émettre un signal

fort en réponse à des ordres émis par des bornes de

sortie (PO1 à PO7) jusqu'à ce que des bornes d'entrées

reçoivent un signal faible; mettre en mémoire la valeur

de la température captée par une thermistance (TH11);

mettre en mémoire danSune mémoire tampon (23) de la

va leur de la température la valeur de la température

mise en mémoire dans une moire tampon (22) de détection

de la valeur de la température; commander la mise en

route du moteur de pétrissage (16) et du moteur de

ventilateur (17) ainsi que le chauffage d'un organe de

chauffage (18) afin de réaliser la cuisson du pain, - un programme de détection d'anomalie de thermistance

comportant les étapes consistant à: déterminer si la

valeur mise en mémoire dans la mémoire tampon (23) est O

ou 6 après avoir mis en route ledit programme uniquement

dans le cas où l'on a pressé un bouton de démarrage pour

déterminer si la thermistance est en anomalie, et ensuite

à arrêter la machine de panification s'il se confirme

que la thermistance (TH11) est en anomalie.