FI91450C - Laite koeliuskan koekenttien aseman toteamiseksi ja liuskan kääntämiseksi - Google Patents

Laite koeliuskan koekenttien aseman toteamiseksi ja liuskan kääntämiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI91450C
FI91450C FI873291A FI873291A FI91450C FI 91450 C FI91450 C FI 91450C FI 873291 A FI873291 A FI 873291A FI 873291 A FI873291 A FI 873291A FI 91450 C FI91450 C FI 91450C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
guide
test
test strip
roll
strip
Prior art date
Application number
FI873291A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI91450B (fi
FI873291A0 (fi
FI873291A (fi
Inventor
Juergen Gross
Ruediger Simonek
Original Assignee
Hoechst Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoechst Ag filed Critical Hoechst Ag
Publication of FI873291A0 publication Critical patent/FI873291A0/fi
Publication of FI873291A publication Critical patent/FI873291A/fi
Publication of FI91450B publication Critical patent/FI91450B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI91450C publication Critical patent/FI91450C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G01N2035/00039Transport arrangements specific to flat sample substrates, e.g. pusher blade
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G01N2035/00099Characterised by type of test elements
    • G01N2035/00108Test strips, e.g. paper

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Slide Fasteners (AREA)
  • Manufacture Of Motors, Generators (AREA)

Description

91450
Laite koeliuskan koekenttien aseman toteamiseksi ja liuskan kSSntåmiseksi
KeksinnSn kohteena on laite koeliuskan koekentti-5 en aseman toteamiseksi ja liuskan kåantamiseksi, jollai-sia liuskoja kåytetSan esim, kaåketieteellisiin kokei-siin, erityisesti virtsan tutkimiseen. Laite on asa linjaa, jonka tehtåvåna on koeliuskojen automaattinen sySttaminen, lajittelu, kostutus ja sijoittaminen analyy-10 silaitteistoon, esim. monikanavavalomittariin.
Yleisesti tunnettua virtsadiagnoosia vårten on kåytettåvissa niin kutsuttuja monikerroskoeliuskoja bilirubiinin, urobiliinin, ketonisolujen askorbiinihapon, rypalesokerin, valkuaisaineen, nitriitin, pH-arvon ja 15 veren måarittåmiseksi. Sellaiset koeliuskat sisaltavat useita koekenttiå, joille kulloiseenkin kokeeseen kuu-luvat nåyttimet on sovitettu indikaattoreiksi. Koeliuskat kostutetaan kåsin virtsalla ja sijoitetaan sen jSlkeen ana-lysaattoriin. TårnS tyS halutaan automatisoida. Tåtå tar-20 koitusta vårten on mm. koekenttien aseman toteamiseksi ja mahdollisesti koeliuskojen kaantamiseksi tarkoitettu laite valttåmaton, jotta kaikkien liuskojen koekentat ovat yldspSin suunnattuina.
KeksintS ratkaisee tehtavSn siten, ettH ohjain au-25 keaa koeliuskojen kaåntdlaitteeseen, ohjaimen ja kaantS-laitteen valiin on sovitettu ohjaimen suljin, joka on vi-vun valityksellS yhdistetty koeliuskojen pidåtyslaittee-seen, joka tyontyy sisSSn ohjaimeen, on laakeroitu tahdis-tetusti sulkimen kanssa kiertyvaksi ja varustettu kayttQ-30 laitteella, kSantSlaite kasittSa liikkuvan esteen, jota kSytetaan ohjaimeen sovitetun asemantuntolaitteen valityk-sellS ja joka aikaansaa koeliuskojen kaantymisen.
KSantolaite voi muodostua evakuoitavasta, pyori-vasti laakeroidusta, ontosta telasta, joka on sovitettu 35 vSlin paåhån koeliuskojen siirtolaitteen ylapuolelle ja 2 muodostaa tSmSn kanssa raon, ja jossa on kehSpinnallaan vuotoaukko, jonka pSSlle koeliuska imeytyy ja tela ottaa sen mukaansa, kun este, joka on sovitettu telan ja siir-tolaitteen vSliseen rakoon, on pysayttanyt koeliuskan.
5 Mutta kSSntolaite voi muodostua myos telasta, joka on yh-densuuntaisesti kiertoakselinsa suhteen leikattu T-muotoi-sesti, ja T-SSriviivan uumaa vastapaata oleva osa on teh-ty esteeksi. Ohjaimeen voi olla sovitettu koeliuskavaras-ton valvontalaite.
10 KeksintSS selitetSSn seuraavassa IShemmin ainoas- taan yhta suoritusmuotoa esittavien pUrustusten yhteydessS.
Kuvio 1 esittaa laitteen sivukuvantoa leikkauksena, kuvio 2 esittaa laitteen erasta muunnelmaa, samoin sivukuvantona leikkauksena, 15 kuvio 3 esittaa kuvion 2 mukaista telaa isometri- sena esityksena, osittain leikattuna.
Laite kasittaa ohjaimen 8, joka aukeaa koeliusko-jen 2 kååntolaitteeseen 1, 1a. Ohjaimen 8 ja kaantolait-teen 1, 1a valiin on sovitettu ohjaimen suljin 9. Suljin 20 9 on yhdistetty vivun 5 valityksella koeliuskojen 2 pi- dStyslaitteeseen 10, esim. jousikuormitettuun painimeen. PidStyslaite 10 tyontyy sisaan ohjaimeen 8 ja se on laa-keroitu tahdistetusti sulkimen kanssa kiertyvMksi. Kun suljin 9 vapauttaa koeliuskan ulospaasyn ohjaimesta 8, pi-25 tSa pidatyslaite 10 seuraavaa koeliuskaa paikallaan ohjai-messa, kunnes ohjain on jalleen suljettuna. PidStyslaite ja suljin on varustettu kayttolaitteella 7. KaSntSlaite 1, 1a kSsittaa liikkuvan esteen 4, 4a, jota asemantunto-laitteen 3, esim. heijastusvalopuomin aikaansaamat impuls-30 sit kSyttavSt. Asemantuntolaitteen 3 avulla todetaan koe- kentan asema koeliuskalla. MikSli se osoittaa vaSrSan suun-taan, este estaa koeliuskan siirtSmisen edelleen analyysi-laitteistoon (ei esitetty). Koeliuska kaannetaan. Kaanta-minen voi tapahtua kuvion 1 mukaisesti onton telan 6 avul-35 la, joka voidaan avakuoida ja joka kSsittaa vuotoaukon 11.
91450 3
Jos este 4 pysayttaa koeliuskan, tyhjio imee sen vuoto-aukon valityksella ja se pysyy telankehMlla ja kåantyy telan py6riess3 nuolen suuntaan. Kaapimella 13 koelius-ka poistetaan telalta.
5 Kuvion 2 mukaisesti kaSntSminen tapahtuu telan 6a avulla, joka on yhdensuuntaisesti kiertoakselinsa suh-teen varustettu poikkileikkaukseltaan T-muotoisella raol-la. Aukko 15 on sovitettu telaan 6a lapimenevaksi aukok-si, kun taas T-aariviivan uuma 14 paattyy esteeseen 4a.
10 Jos asemantuntolaite 3 ilmoittaa koeliuskan oikean asen-non, koeliuska voi esteettomSsti ohittaa telan 6a. Muus-sa tapauksessa este 4a pysSyttaa sen ja se kaånnetåSn kiertamSllS telaan 6a 180°. Ohjaimessa olevan koeliuska-varaston valvomieeksi tSma voi olla varustettu valvonta-15 laitteella 16.

Claims (4)

1. Laite koeliuskan koekenttien aseman toteami-seksi ja liuskan kaåntåmiseksi, tunnettu siita, 5 etta ohjain (8) aukeaa koeliuskojen (2) kaantSlaitteeseen (1, 1a), ohjaimen (8) ja kaantolaitteen (1, 1a) vSliin on sovitettu ohjaimen (8) suljin (9), joka on vivun (5) valityksellS yhdistetty koeliuskojen (2) pidatyslaittee-seen (10), joka tyontyy sisaan ohjaimeen (8), on laakeroi- 10 tu tahdistetusti sulkimen (9) kanssa kiertyvaksi ja va-rustettu kayttolaitteella (7), kaantolaite (1, 1a) ka-sittåå liikkuvan esteen (4, 4a), jota kaytetaan ohjaimeen (8) sovitetun asemantuntolaitteen (3) valityksella ja joka aikaansaa koeliuskojen kåantymisen.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, t un net t t u siita, etta kSSntolaite muodostuu evakuoita-vasta, pyorivasti laakeroidusta, ontosta telasta (6), joka on sovitettu valin paåhSn koeliuskojen (2) siirtolait-teen (12) ylapuolelle ja muodostaa tamån kanssa raon, 20 johon este (4) on sovitettu ja telassa on kehapinnallaan vuotoaukko (11), jonka paalle koeliuska imeytyy ja tela ottaa sen mukaansa, kun este (4) on pysSyttanyt koeliuskan.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitå/ etta kSantdlaite muodostuu telasta 25 (6a), joka on yhdensuuntaisesti kiertoakselinsa suhteen leikattu T-muotoisesti, ja T-MeLriviivan uumaa (14) vasta-paata oleva telan (6a) osa ontehty esteeksi (4a).
4. Patenttivaatimuksen 2 tai 3 mukainen laite, tunnettu siita, etta ohjaimeen (8) on sovitettu 30 koeliuskavaraston valvontalaite (16). 91450
FI873291A 1986-07-30 1987-07-28 Laite koeliuskan koekenttien aseman toteamiseksi ja liuskan kääntämiseksi FI91450C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3625704 1986-07-30
DE19863625704 DE3625704A1 (de) 1986-07-30 1986-07-30 Vorrichtung zum feststellen der lage der testfelder eines teststreifens und wenden desselben

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI873291A0 FI873291A0 (fi) 1987-07-28
FI873291A FI873291A (fi) 1988-01-31
FI91450B FI91450B (fi) 1994-03-15
FI91450C true FI91450C (fi) 1994-06-27

Family

ID=6306265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI873291A FI91450C (fi) 1986-07-30 1987-07-28 Laite koeliuskan koekenttien aseman toteamiseksi ja liuskan kääntämiseksi

Country Status (11)

Country Link
US (1) US4972935A (fi)
EP (1) EP0255077B1 (fi)
JP (1) JPS6337244A (fi)
AT (1) ATE85708T1 (fi)
AU (1) AU7624387A (fi)
CA (1) CA1321160C (fi)
DE (2) DE3625704A1 (fi)
DK (1) DK167129B1 (fi)
ES (1) ES2039383T3 (fi)
FI (1) FI91450C (fi)
NO (1) NO172366C (fi)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3807565A1 (de) * 1988-03-08 1989-09-21 Boehringer Mannheim Gmbh Vorrichtung zur ueberfuehrung von teststreifen zu einer untersuchungseinrichtung
DE8804264U1 (de) * 1988-03-29 1988-05-19 Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim Vorrichtung zur Überführung eines Teststreifens von einer ersten Unterlage zu einer zweiten Unterlage
DE3844105A1 (de) * 1988-12-28 1990-07-05 Boehringer Mannheim Gmbh Testtraeger-analysesystem
GB9018608D0 (en) * 1989-08-30 2013-11-13 Texas Instruments Inc Durable wideband anti-reflection coating for infrared windows
US5133636A (en) * 1990-05-08 1992-07-28 International Business Machines Corporation System for chip orientation
JP2771367B2 (ja) * 1991-11-14 1998-07-02 株式会社日立製作所 試験片供給装置およびそれを用いた分析装置
DE4204245A1 (de) * 1992-02-13 1993-08-19 Boehringer Mannheim Gmbh Vorrichtung zum lagerichtigen zufuehren von teststreifen zu einer analyseeinrichtung
DE4310583A1 (de) * 1993-03-31 1994-10-06 Boehringer Mannheim Gmbh Teststreifenanalysesystem
JP3331256B2 (ja) * 1994-05-10 2002-10-07 バイエルコーポレーション 試験片表裏判別手段
DE4431902C2 (de) * 1994-09-07 1997-04-30 Franz Gaertner Vereinzelungsvorrichtung
DE4438574A1 (de) * 1994-10-28 1996-05-02 Smr Sondermasch Ruhla Gmbh Vorrichtung zum Sortieren von Werkstücken
JP3557042B2 (ja) * 1996-04-19 2004-08-25 ペガサスミシン製造株式会社 生地片移送装置
WO2005119268A1 (ja) * 2004-06-02 2005-12-15 Arkray, Inc. 分析用具の向き選択機構および分析装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1551104A (fi) * 1966-10-29 1968-12-27
US3724648A (en) * 1971-04-14 1973-04-03 Sundstrand Engelberg Bar feeder apparatus
GB1485508A (en) * 1973-07-31 1977-09-14 Olympus Optical Co System for detecting the chemical composition of a fluid
JPS56413A (en) * 1979-06-14 1981-01-06 Bridgestone Corp Discharging method and apparatus for multilayer rubber dam
DE3625705A1 (de) * 1986-07-30 1988-02-11 Hoechst Ag Vorrichtung zum automatischen zufuehren von teststreifen in eine analysenapparatur

Also Published As

Publication number Publication date
AU7624387A (en) 1988-02-04
EP0255077A3 (en) 1989-06-14
NO873179D0 (no) 1987-07-29
EP0255077B1 (de) 1993-02-10
FI91450B (fi) 1994-03-15
FI873291A0 (fi) 1987-07-28
ES2039383T3 (es) 1993-10-01
NO873179L (no) 1988-02-01
DK395787A (da) 1988-01-31
CA1321160C (en) 1993-08-10
NO172366C (no) 1993-07-07
DK395787D0 (da) 1987-07-29
US4972935A (en) 1990-11-27
FI873291A (fi) 1988-01-31
DE3784113D1 (de) 1993-03-25
NO172366B (no) 1993-03-29
JPS6337244A (ja) 1988-02-17
DK167129B1 (da) 1993-08-30
DE3625704A1 (de) 1988-02-11
EP0255077A2 (de) 1988-02-03
ATE85708T1 (de) 1993-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI91450C (fi) Laite koeliuskan koekenttien aseman toteamiseksi ja liuskan kääntämiseksi
JP2954436B2 (ja) 試験片供給装置およびそれを用いた分析装置
FI91453C (fi) Laite koeliuskojen automaattiseksi syöttämiseksi analyysilaitteistoon
DE69117229T2 (de) Stuhlartige Einrichtung zur Probenahme und Untersuchung des Urins mit schwenkbarer Fördereinrichtung
JPS6327654B2 (fi)
KR20150106910A (ko) 체액을 분석하기 위한 휴대용 의료 장치 및 시스템
US20200041482A1 (en) Waste ramp for reagent cards
DE3403264A1 (de) Traegertransportvorrichtung und -behaelter fuer die immunologische analyse von substanzen
US5178835A (en) Biochemical analysis apparatus
EP2373221B1 (en) A body fluid sampling device
JP2771367B2 (ja) 試験片供給装置およびそれを用いた分析装置
CN113614506A (zh) 用于组织切片、染色和扫描的自动系统和方法
JP3036353B2 (ja) 試験片供給装置
US5236078A (en) Apparatus for fixing the position of the test zones of a test strip and for reversing the latter
JPS6191571A (ja) 試験片を用いる連続自動分析方法及び装置
JPS63313063A (ja) 化学分析装置及び方法
CN211014003U (zh) 紫外可见分光光度计进样装置
JPS63142264A (ja) 自動尿検査装置
JPS6033397Y2 (ja) 自動試薬テ−プ作製装置
JPH01158360A (ja) テストフイルムカセット
RU1805298C (ru) Устройство дл определени аэрозольных примесей в воздухе
JPH0322207Y2 (fi)
JPS5916662B2 (ja) 電気泳動法における自動比色定量装置
JPH05264557A (ja) 試験片供給装置
JPH06341995A (ja) 試験片供給装置

Legal Events

Date Code Title Description
BB Publication of examined application
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: HOECHST AKTIENGESELLSCHAFT