ES2902421T3

ES2902421T3 - Compensación térmica en proyección de imagen

Info

Publication number: ES2902421T3
Application number: ES16725302T
Authority: ES
Inventors: Christopher John Orlick; Jerome D Shields
Original assignee: Dolby Laboratories Licensing Corp
Current assignee: Dolby Laboratories Licensing Corp
Priority date: 2015-05-06
Filing date: 2016-05-06
Publication date: 2022-03-28
Anticipated expiration: 2036-05-06
Also published as: US11323669B2; EP3292686B1; US20180146176A1; EP4050895A1; US20220239872A1; CN111147836A; EP3292686A1; CN107580779B; US20200099903A1; CN107580779A; CN111147836B; US11889233B2; US10506206B2; WO2016179542A1

Abstract

Un método (1800) para controlar un modulador (106) de luz espacial de un proyector (100) de imágenes, comprendiendo, el proyector (100) de imágenes, una fuente (102) de iluminación configurada para transmitir luz al modulador (106) de luz espacial, comprendiendo, la fuente (102) de iluminación, una pluralidad de emisores controlables individualmente divididos en grupos de emisores para emitir un haz (114) de iluminación modulado, comprende adicionalmente, el proyector (100) de imágenes, una óptica (104) de función de dispersión de puntos dispuesta entre la fuente (102) de iluminación y el modulador (106) de luz espacial, y configurada para iluminar el modulador (106) de luz espacial con un campo (116) de luz iluminante, comprendiendo el método: recibir (1802) datos de imagen para ser exhibidos por el modulador (106) de luz espacial; determinar (1804), para cada grupo de emisores, un primer estado térmico indicativo de los cambios de forma de la función de dispersión de puntos, y un segundo estado térmico indicativo de los desplazamientos de la función de dispersión de puntos; seleccionar, para cada grupo de emisores con emisores en estado encendido, una función de dispersión de puntos de entre una pluralidad de funciones de dispersión de puntos asociadas a un grupo correspondiente de emisores en base al primer estado térmico del grupo correspondiente de emisores; aplicar, para cada función de dispersión de puntos seleccionada, un desplazamiento a la función de dispersión de puntos seleccionada respectiva en base al segundo estado térmico del grupo correspondiente de emisores para generar una función de dispersión de puntos desplazada; agregar las funciones de dispersión de puntos desplazadas para crear (1806) un modelo (712) de dicho campo (116) de luz iluminante; ajustar (1808) los datos de imagen recibidos en base al campo (712) de luz iluminante modelado para generar datos de imagen ajustados térmicamente como para compensar los cambios térmicos en al menos un elemento de entre la fuente (102) de iluminación y la óptica (104) de función de dispersión de puntos; y emitir los datos de imagen ajustados térmicamente al modulador (106) de luz espacial.

Description

DESCRIPCIÓN

Compensación térmica en proyección de imagen

Antecedentes de la invención

Campo técnico

La presente invención se refiere en general a la compensación térmica, y, más particularmente, a la compensación térmica en proyectores de imágenes.

Antecedentes

Se puede conseguir un contraste mejorado en un sistema de proyección al modular la incidencia de luz de iluminación en los moduladores de luz espacial (SLM) del sistema de proyección. Por ejemplo, si un píxel de un SLM va a exponer un 5% de brillo y está iluminado con el brillo total (100%), entonces el píxel debe atenuar el 95% de la luz de iluminación. La fuga de luz inherente a la mayoría de los SLM hace que sea difícil conseguir niveles de oscuridad cuando se requiere una atenuación significativa. Por otro lado, si el píxel está iluminado con un brillo del 10%, entonces el píxel solo necesita atenuar el 50% de la luz incidente para conseguir un nivel de brillo del 5%, y la fuga de luz por el píxel es mucho menos significativa.

Con el fin de que el píxel consiga niveles de exhibición precisos, la intensidad de la luz incidente sobre el píxel debe conocerse con un alto grado de precisión. Si la intensidad de la luz incidente varía de la intensidad esperada, la salida del píxel también variará, degradándose por ello la calidad de la imagen proyectada.

El documento US 2005/179854 A1 divulga un proyector de cristal líquido del tipo de tres placas, en el que se producen diferencias en las temperaturas generadas en cada uno de los tres paneles de cristal líquido, ya que la energía de la luz irradiada a los paneles de cristal líquido varía según cada color. Debido a las diferencias en las temperaturas, se generan diferencias en las velocidades de respuesta de las moléculas de cristal líquido, lo que hace que los contornos se vean con colas borrosas cuando se exhibe una imagen en movimiento. Una cantidad de corrección realizada en las señales de vídeo suministradas a tres paneles de cristal líquido se cambia por cada uno de los tres paneles de cristal líquido de acuerdo a temperaturas, cuando se determina que una temperatura detectada ha alcanzado un valor prescrito a través de la detección de la temperatura de al menos uno de los tres paneles de cristal líquido, o de la temperatura periférica de al menos uno de los tres paneles de cristal líquido, o de la temperatura de una parte prescrita de un proyector de cristal líquido.

El documento WO 2015/054032 A1 divulga un sistema de proyector de gama dinámica perfeccionada (EDR) y un método para renderizar datos de imágenes compatibles con ^dCⁱen el sistema. El sistema de proyector comprende un primer modulador y un segundo modulador. El método comprende recibir datos de imagen de entrada, comprendiendo, dichos datos de imagen, una pluralidad de formatos de imagen, determinar si los datos de imagen de entrada comprenden datos de imagen de DCI, si es que los datos de imagen de entrada comprenden datos de imagen de DCI, realizar luego el procesamiento de gama dinámica (DR) en los datos de imagen de DCI, y renderizar los datos de imagen de DCI procesados de gama dinámica en el sistema.

El documento WO 2015/054797 A1 divulga un sistema de exposición o proyección de modulación dual en el que algunos o todos los moduladores no solo atenúan la amplitud, sino que también amplifican la amplitud o cambian la fase, frecuencia y polarización de la luz proporcionada por la fuente de luz. El campo de luz deseado se genera más bien mediante la redirección de la luz y luego mediante la atenuación de la luz, lo que reduce el consumo de energía del sistema de proyección o exposición.

Sumario de la invención

Los proyectores requieren una cantidad significativa de energía durante su funcionamiento, especialmente los proyectores para lugares con pantallas grandes. Los proyectores de alto brillo aumentan aún más los requisitos de energía luminosa. La disipación de energía en tales proyectores genera una cantidad significativa de calor, la cual, según los inventores, provoca cambios físicos en los componentes del proyector. Los inventores también han determinado que los cambios físicos en los componentes del proyector pueden afectar la intensidad de la luz incidente en los píxeles del modulador o de los moduladores de luz en los proyectores y degradar la calidad de la imagen proyectada.

La invención está definida por las reivindicaciones independientes. Las reivindicaciones dependientes definen realizaciones ventajosas.

Un proyector de imágenes de ejemplo útil para comprender la invención incluye una entrada de datos de imagen, un controlador, una fuente de luz, una óptica de iluminación, un modulador de luz espacial (SLM) de formación de imágenes y una óptica de formación de imágenes. La entrada de datos de imagen recibe datos de imagen. El controlador está acoplado para recibir los datos de la imagen y es operativo para determinar el estado térmico del proyector de imágenes. El controlador también ajusta los datos de imagen dependiendo del estado térmico del proyector de imágenes para generar datos de imagen ajustados térmicamente. La fuente de luz es operativa para emitir un haz de iluminación. Las ópticas de iluminación están dispuestas en la trayectoria del haz de iluminación y son operativas para convertir el haz de iluminación en un campo de luz. El modulador de luz espacial de formación de imágenes está acoplado para recibir los datos de imagen ajustados térmicamente desde el controlador, está dispuesto para recibir el campo de luz y es operativo para modular el campo de luz en respuesta a los datos de imagen ajustados térmicamente para generar un haz de formación de imágenes. La óptica de formación de imágenes está dispuesta en la trayectoria del haz de formación de imágenes y es operativa para enfocar el haz de formación de imágenes en una superficie de visualización.

La fuente de luz incluye una pluralidad de emisores individuales. En una realización particular, los emisores individuales se pueden controlar por separado. En una realización aún más particular, los emisores individuales son píxeles de un modulador de luz espacial (SLM) de iluminación acoplado para recibir datos de iluminación del controlador y es operativo para modular el haz de iluminación dependiendo de los datos de iluminación. El controlador es operativo para generar los datos de iluminación a partir de los datos de imagen y para proporcionar los datos de iluminación al SLM de iluminación. Además, el controlador es operativo para actualizar el estado térmico del proyector de imágenes, en base, al menos en parte, a los datos de iluminación, y para ajustar los datos de imagen dependiendo del estado térmico actualizado del proyector de imágenes para generar los datos de imagen ajustados térmicamente.

En un proyector de imágenes de ejemplo útil para comprender la invención, se acopla un conjunto de sensores térmicos para proporcionar datos de temperatura al controlador. El controlador determina el estado térmico del proyector de imágenes en base, al menos en parte, a los datos de temperatura. El proyector incluye una entrada de aire para introducir aire en el proyector de imágenes para enfriar el proyector de imágenes, y al menos uno de los sensores térmicos está dispuesto para detectar la temperatura del aire que entra en el proyector de imágenes. Otro de los sensores térmicos está dispuesto para detectar la temperatura dentro de la fuente de luz. Otro de los sensores térmicos está acoplado a un soporte óptico de la óptica de iluminación. El controlador determina el estado térmico del proyector de imágenes en base, al menos en parte, al contenido de los datos de la imagen, y, opcionalmente, en base a la entrada de los sensores térmicos.

En un proyector de imágenes de ejemplo útil para comprender la invención, el controlador determina el estado térmico del proyector de imágenes en base, al menos en parte, a un estado térmico anterior del proyector de imágenes. El controlador también determina el estado térmico del proyector de imágenes en base, al menos en parte, al contenido de los datos de la imagen. Por ejemplo, el controlador determina el estado térmico del proyector de imágenes en base, al menos en parte, a un promedio de los valores de intensidad de los datos de la imagen. El controlador emplea un filtro temporal para determinar el estado térmico del proyector de imágenes.

En proyectores de imágenes de ejemplo útiles para comprender la invención, la fuente de luz incluye una pluralidad de emisores. Los emisores se dividen en grupos y cada grupo está asociado a una porción correspondiente del campo de luz. El estado térmico del proyector de imágenes incluye un estado térmico independiente para cada grupo de emisores. Opcionalmente, el estado térmico del proyector de imágenes incluye una pluralidad de estados térmicos para cada grupo de emisores. Los emisores son píxeles de un modulador de luz espacial, y el controlador es operativo para determinar el estado o los estados térmico/s por separado para cada grupo de emisores, en base, al menos en parte, a los estados térmicos por separado de grupos adyacentes de emisores.

En un proyector de imágenes de ejemplo útil para comprender la invención, el controlador está configurado para ajustar los datos de imagen, dependiendo del estado térmico del proyector, creando un modelo del campo de luz, en base, al menos en parte, al estado térmico del proyector de imágenes, y ajustando los datos de la imagen en base al modelo del campo de luz. La fuente de luz incluye una pluralidad de emisores individuales, y el controlador está configurado para seleccionar una función de dispersión de puntos asociada a cada uno de los emisores individuales en base al estado térmico del proyector. Luego, el controlador convoluciona las funciones de dispersión de puntos seleccionadas para crear el modelo del campo de luz. Las formas de las funciones de dispersión de puntos varían dependiendo del estado térmico del proyector de imágenes. Además, las posiciones de las funciones de dispersión de puntos varían según el estado térmico del proyector de imágenes.

La creación del modelo del campo de luz en base, al menos en parte, al estado térmico del proyector de imágenes incluye también la creación de un modelo específico de color diferente del campo de luz para cada color perteneciente a una pluralidad de colores diferentes dependiendo del estado térmico del proyector. El controlador está configurado para seleccionar las funciones de dispersión de puntos en base, al menos en parte, a los diferentes colores.

En un proyector de imágenes de ejemplo útil para comprender la invención, los emisores se dividen en grupos, estando cada grupo asociado a una porción correspondiente del campo de luz. El estado térmico del proyector de imágenes incluye un estado térmico separado para cada grupo de emisores, y las funciones de dispersión de puntos se seleccionan en base a qué grupo particular es miembro el emisor correspondiente, y también en base al estado térmico separado asociado al grupo particular. Opcionalmente, el estado térmico del proyector de imágenes incluye al menos dos estados térmicos separados para cada grupo de emisores. El controlador selecciona una función de dispersión de puntos de una forma particular dependiendo de uno de los estados térmicos asociados al grupo de emisores, y el controlador determina un desplazamiento de la función de dispersión de puntos seleccionada dependiendo de un segundo estado de entre los estados térmicos asociados al grupo de emisores. Además, la pluralidad de emisores incluye píxeles de un SLM de iluminación, y las funciones de dispersión de puntos se seleccionan en base, al menos en parte, a los datos de iluminación proporcionados al SLM de iluminación por el controlador.

Los proyectores de imágenes de ejemplo útiles para comprender la invención incluyen una pluralidad de estados térmicos predefinidos que abarcan el intervalo de temperatura de funcionamiento del proyector. El controlador está configurado para determinar los estados térmicos del proyector de imágenes seleccionando uno de los estados térmicos predefinidos.

Opcionalmente, el estado térmico del proyector se actualiza en respuesta a cada trama de los datos de imagen. Se describe también un método de ejemplo para activar un modulador de luz espacial en un proyector útil para comprender la invención. El método incluye recibir datos de imagen para ser expuestos por el modulador de luz espacial (SLM) y determinar el estado térmico del proyector. El método incluye adicionalmente ajustar los datos de imagen en base al estado térmico del proyector para generar datos de imagen ajustados térmicamente y proporcionar los datos de imagen ajustados térmicamente al SLM. El método incluye adicionalmente generar datos de iluminación en base a los datos de imagen y proporcionar los datos de iluminación a una fuente de luz configurada para iluminar el SLM en base a los datos de iluminación. El método incluye adicionalmente actualizar el estado térmico del proyector en base a los datos de iluminación para generar un estado térmico actualizado del proyector y ajustar los datos de imagen subsiguientes en base al estado térmico actualizado del proyector.

Un método de ejemplo particular útil para comprender la invención incluye recibir datos de temperatura de un conjunto de sensores térmicos. Luego, determinar el estado térmico del proyector incluye determinar el estado térmico del proyector en base, al menos en parte, a los datos de temperatura. Recibir los datos de temperatura del conjunto de sensores térmicos incluye la recepción de datos de temperatura indicativos de la temperatura del aire ambiente que fluye hacia el proyector. Recibir los datos de temperatura del conjunto de sensores térmicos también incluye recibir datos de temperatura indicativos de la temperatura de un componente de una fuente de luz configurada para iluminar el SLM. Recibir los datos de temperatura del conjunto de sensores térmicos incluye también recibir datos de temperatura indicativos de la temperatura de la óptica dispuesta entre el SLM y una fuente de luz configurada para iluminar el SLM. Además, determinar el estado térmico del proyector incluye determinar el estado térmico del proyector en base, al menos en parte, al contenido de los datos de la imagen.

En un método de ejemplo útil para comprender la invención, determinar el estado térmico del proyector incluye determinar el estado térmico del proyector en base, al menos en parte, al contenido de los datos de la imagen y/o determinar el estado térmico del proyector en base, al menos en parte, a un estado térmico anterior del proyector de imágenes. Además, determinar el estado térmico del proyector incluye adicionalmente recibir datos de temperatura de un conjunto de sensores térmicos y determinar el estado térmico del proyector en base, al menos en parte, a los datos de temperatura. Determinar el estado térmico del proyector incluye también el filtrado temporal y la determinación del estado térmico del proyector en base, al menos en parte, a los valores de intensidad promedio de los datos de la imagen.

En un método de ejemplo útil para comprender la invención, determinar el estado térmico del proyector incluye definir grupos de emisores individuales que iluminan el SLM y determinar un estado térmico separado para cada uno de los grupos de emisores individuales. Determinar estado térmico del proyector también puede incluir determinar una pluralidad de estados térmicos separados para cada uno de los grupos de emisores individuales. Definir grupos de emisores individuales que iluminan el SLM incluye definir bloques de píxeles de un modulador de luz espacial de iluminación. Opcionalmente, determinar el estado térmico separado para cada uno de los grupos de emisores individuales incluye determinar el estado térmico por separado de cada uno de los grupos de emisores individuales en base, al menos en parte, a los estados térmicos por separado de grupos adyacentes de emisores.

En un método de ejemplo particular útil para comprender la invención, el ajuste de los datos de imagen en base al estado térmico del proyector incluye determinar las características de la incidencia de campo de luz iluminante en el SLM en base, al menos en parte, al estado térmico del proyector, y, luego, ajustar los datos de la imagen en base a las características del campo de luz iluminante. Además, determinar las características del campo de luz iluminante incluye seleccionar una función de dispersión de puntos asociada a cada emisor de entre una pluralidad de emisores que iluminan el SLM en base al estado térmico del proyector, y convolucionar las funciones de dispersión de puntos seleccionadas para crear un modelo del campo de luz iluminante. Las formas y posiciones de las funciones de dispersión de puntos varían dependiendo del estado térmico del proyector.

En un método de ejemplo más particular útil para comprender la invención, determinar las características del campo de luz iluminante incluye crear un modelo específico de color diferente del campo de luz para cada color de una pluralidad de colores diferentes dependiendo del estado térmico del proyector. Seleccionar las funciones de dispersión de puntos incluye la selección de las funciones de dispersión de puntos en base, al menos en parte, a los diferentes colores.

En un método de ejemplo útil para comprender la invención, la selección de una función de dispersión de puntos asociada a cada emisor de entre la pluralidad de emisores incluye definir los grupos de los emisores, estando cada grupo asociado a una porción correspondiente del campo de luz iluminante. Determinar un estado térmico del proyector incluye determinar un estado térmico por separado para cada grupo de emisores. Además, seleccionar las funciones de dispersión de puntos incluye seleccionar las funciones de dispersión de puntos dependiendo de qué grupo particular sea miembro el emisor correspondiente, y dependiendo también del estado térmico asociado al grupo particular por separado. Opcionalmente, en el método de ejemplo, determinar el estado térmico del proyector incluye determinar al menos dos estados térmicos por separado para cada grupo de emisores. Determinar las características del campo de luz iluminante incluye seleccionar una función de dispersión de puntos de una forma particular dependiendo del primero de los estados térmicos asociados a un grupo de emisores y determinar un desplazamiento de la función de dispersión de puntos seleccionada dependiendo de un segundo estado de entre los estados térmicos asociados al grupo emisor.

En un método de ejemplo útil para comprender la invención, la pluralidad de emisores incluye píxeles de un SLM de iluminación, y seleccionar las funciones de dispersión de puntos incluye seleccionar las funciones de dispersión de puntos dependiendo al menos en parte de los datos de iluminación proporcionados al SLM de iluminación.

Los métodos de ejemplo útiles para comprender la invención incluyen también actualizar el estado térmico del proyector cada vez que se recibe una trama de los datos de imagen.

En algunos métodos de ejemplo útiles para comprender la invención, determinar el estado térmico del proyector incluye recibir una pluralidad de estados térmicos predefinidos, que abarcan el intervalo de temperatura de funcionamiento del proyector, y seleccionar algunos de los estados térmicos predefinidos.

Otro ejemplo de proyector de imágenes útil para comprender la invención incluye una entrada de datos de imagen para recibir datos de imagen, una fuente de luz operativa para emitir un haz de iluminación, y ópticas de iluminación dispuestas en la trayectoria del haz de iluminación y que están operativas para convertir el haz de iluminación en un campo de luz. Además, el proyector de imágenes de ejemplo incluye medios para ajustar los datos de la imagen en base a un estado térmico del proyector para generar datos de imagen ajustados térmicamente y un modulador de luz espacial de formación de imágenes acoplado para recibir los datos de imagen ajustados térmicamente. El modulador de luz espacial de formación de imágenes está dispuesto para recibir el campo de luz y es operativo para modular el campo de luz en respuesta a los datos de imagen ajustados térmicamente para generar un haz de formación de imágenes. La óptica de formación de imágenes está dispuesta en la trayectoria del haz de formación de imágenes y es operativa para enfocar el haz de formación de imágenes en una superficie de visualización.

Se divulga también un ejemplo de medio legible electrónicamente, no transitorio, útil para comprender la invención. El medio legible electrónicamente no transitorio tiene un código incorporado en el mismo que, cuando sea ejecutado por un procesador, hará que el dispositivo electrónico reciba datos de imagen que van a ser expuestos por el modulador de luz espacial (SLM), que determine el estado térmico de un proyector, que ajuste los datos de imagen en base al estado térmico del proyector para generar datos de imagen ajustados térmicamente y que proporcione los datos de imagen ajustados térmicamente al SLM.

Se divulga asimismo un sistema de ejemplo para configurar un proyector para compensación térmica útil para comprender la invención. El sistema de ejemplo incluye memoria para almacenar datos y código y una fuente de datos de imagen configurada para proporcionar datos de imagen de estabilización térmica y datos de imagen de prueba al proyector. Los datos de imagen de estabilización térmica definen imágenes de estabilización para estabilizar el proyector en estados térmicos particulares. Los datos de la imagen de prueba definen una o más imágenes de prueba. El sistema incluye adicionalmente un dispositivo de captura de imágenes configurado para capturar las imágenes de prueba proyectadas por el proyector y un controlador. El controlador es operativo para hacer que el proyector exhiba una primera de las imágenes de estabilización durante un tiempo suficiente para estabilizar el proyector en un primer estado de entre los estados térmicos, para hacer que el proyector exhiba una imagen de prueba cuando el proyector esté en el primer estado de entre los estados térmicos, y para hacer que el dispositivo de captura de imágenes capture una imagen de la imagen de prueba proyectada por el proyector cuando el proyector se encuentre en el primero de los estados térmicos. El controlador también es operativo para hacer que el proyector exhiba una segunda imagen de entre las imágenes de estabilización durante un tiempo suficiente para estabilizar el proyector en un segundo estado de entre los estados térmicos, para hacer que el proyector exhiba la imagen de prueba cuando el proyector esté en el segundo estado de entre los estados térmicos, y para hacer que el dispositivo de captura de imágenes capture una imagen de la imagen de prueba proyectada por el proyector cuando el proyector se encuentre en el segundo de los estados térmicos. El controlador también es operativo para analizar las imágenes de prueba capturadas para determinar cambios en una fuente de iluminación del proyector asociada al segundo estado térmico con respecto al primer estado térmico, y para almacenar un registro en la memoria que asocia los cambios al segundo estado térmico.

En el sistema de ejemplo útil para comprender la invención, ciertas imágenes de entre las imágenes de estabilización definen, cada una, una intensidad uniforme particular a través de la imagen completa. La intensidad uniforme particular es un porcentaje de brillo máximo que corresponde a un estado en particular de entre los estados térmicos.

Opcionalmente, al menos una imagen de entre las imágenes de estabilización define una intensidad uniforme diferente para múltiples regiones a través de la imagen. Cada intensidad uniforme es un porcentaje de brillo máximo que corresponde a un estado en particular de entre los estados térmicos asociados a cada una de las regiones. En el sistema de ejemplo útil para comprender la invención, el registro que asocia los cambios al segundo estado térmico incluye datos indicativos de las características de una función de dispersión de puntos asociada a una fuente de luz del proyector. Los datos indicativos de la función de dispersión de puntos incluyen datos indicativos de una forma de la función de dispersión de puntos y/o datos indicativos de un desplazamiento de la función de dispersión de puntos.

Se divulga también un método de ejemplo de configuración de un proyector para compensación térmica útil para comprender la invención. El método de ejemplo incluye colocar el proyector en un primer estado térmico, hacer que el proyector exhiba una imagen de prueba mientras está en el primer estado térmico, y capturar la imagen de prueba exhibida mientras el proyector está en el primer estado térmico. El método de ejemplo incluye adicionalmente colocar el proyector en un segundo estado térmico, hacer que el proyector exhiba una imagen de prueba mientras está en el segundo estado térmico, y capturar la imagen de prueba exhibida mientras el proyector está en el segundo estado térmico. El método de ejemplo incluye adicionalmente analizar las imágenes de prueba capturadas para determinar cambios en una fuente de iluminación del proyector asociada al segundo estado térmico con relación al primer estado térmico, y generar datos de configuración que asocian los cambios al segundo estado térmico.

Un método de ejemplo más detallado útil para comprender la invención incluye colocar el proyector en estados térmicos adicionales, hacer que el proyector exhiba una imagen de prueba mientras se encuentra en cada uno de los estados térmicos adicionales, y capturar las imágenes de prueba mientras el proyector está en cada uno de los estados térmicos adicionales. El método incluye adicionalmente analizar las imágenes de prueba capturadas para determinar cambios en la fuente de iluminación del proyector, asociados a los estados térmicos adicionales con relación al primer estado térmico, y generar datos de configuración que asocian los cambios a los estados térmicos adicionales.

En un método de ejemplo particular útil para comprender la invención, el paso de colocar el proyector en el primer estado térmico incluye hacer que el proyector exhiba una primera imagen predeterminada durante un tiempo suficiente para colocar el proyector en el primer estado térmico. La primera imagen predeterminada incluye un primer nivel de intensidad espacialmente constante correspondiente al primer estado térmico. Adicionalmente, el paso de colocar el proyector en el segundo estado térmico incluye hacer que el proyector exhiba una segunda imagen predeterminada durante un tiempo suficiente para colocar el proyector en el segundo estado térmico. La primera imagen predeterminada incluye un nivel de intensidad promedio correspondiente al primer estado térmico, y la segunda imagen predeterminada incluye un nivel de intensidad promedio correspondiente al segundo estado térmico.

En un método de ejemplo útil para comprender la invención, el paso de analizar las imágenes de prueba capturadas incluye determinar una función de dispersión de puntos para cada emisor de entre un grupo de emisores de la fuente de iluminación.

En un método de ejemplo particular útil para comprender la invención, el paso de analizar las imágenes de prueba capturadas incluye determinar una primera función de dispersión de puntos asociada al primer estado térmico para cada uno de los emisores, y determinar una segunda función de dispersión de puntos asociada al segundo estado térmico para cada uno de los emisores. El paso de generar datos de configuración incluye almacenar las primeras funciones de dispersión de puntos en asociación con los emisores y el primer estado térmico, y almacenar las segundas funciones de dispersión de puntos en asociación con los emisores y el segundo estado térmico.

El paso de analizar las imágenes de prueba capturadas incluye opcionalmente determinar los desplazamientos de las segundas funciones de dispersión de puntos con respecto a las correspondientes funciones de entre las primeras funciones de dispersión de puntos.

Un método de configuración de ejemplo útil para comprender la invención incluye adicionalmente recibir la entrada de los sensores térmicos asociados al proyector, y definir los estados térmicos en base, al menos parcialmente, a la entrada.

Los métodos de configuración de ejemplo incluyen adicionalmente proporcionar los datos de configuración al proyector.

El fundamento de la invención reivindicada se puede encontrar particularmente en los dibujos 1, 7 y 18 que se acompañan, en combinación con la descripción asociada. Los otros dibujos y pasajes de la descripción son útiles para comprender los antecedentes de la invención.

Breve descripción de los dibujos

La presente invención se describe con referencia a los siguientes dibujos, en los que los mismos números de referencia indican elementos substancialmente similares:

La figura 1 es un diagrama de bloques de un proyector de imágenes con capacidades térmicas de compensación; la figura 2 muestra un ejemplo de realización física del proyector de la figura 1;

la figura 3 es un gráfico compuesto que muestra un campo de luz de ejemplo generado por una pluralidad de funciones de dispersión de puntos;

la figura 4 es un gráfico que muestra un cambio en la forma de una función de dispersión de puntos, resultante de cambios térmicos en un proyector;

la figura 5 es un gráfico que muestra un desplazamiento de una función de dispersión de puntos, resultante de cambios térmicos en un proyector;

la figura 6 es un diagrama de bloques que representa bloques de emisores asociados a un campo de luz;

la figura 7 es un diagrama de bloques que muestra ciertos componentes funcionales de un controlador del proyector de imágenes de la figura 1;

la figura 8 es un diagrama de bloques que muestra un ejemplo de componente de modelado del estado térmico del controlador de la figura 7;

la figura 9 es un diagrama de bloques que muestra un componente alternativo de modelado del estado térmico del controlador de la figura 7;

la figura 10 es un gráfico que muestra la respuesta de un filtro temporal de ejemplo, empleado por el componente de modelado del estado térmico del controlador de la figura 7;

la figura 11 es un diagrama de representación de la difusión térmica a través de un componente óptico;

la figura 12 es un diagrama de bloques que muestra un componente alternativo de modelado del estado térmico que incluye un filtro espacial;

la figura 13 es un diagrama de bloques que muestra otro componente alternativo de modelado del estado térmico que incluye un filtro espacial;

la figura 14 es un diagrama de bloques que muestra otro componente alternativo de modelado del estado térmico que incluye un filtro espacial;

la figura 15 es un diagrama de bloques que muestra un componente combinado de modelado de estado térmico configurado para recibir datos de sensores térmicos;

la figura 16 es un diagrama de bloques que muestra un modelo de estado térmico que genera múltiples estados térmicos en paralelo;

la figura 17 es un diagrama de bloques de un sistema para configurar un proyector para compensación térmica; la figura 18 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo para accionar un modulador de luz espacial en un proyector;

la figura 19 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo para realizar el paso de "Determinar el estado térmico del proyector" del método de la figura 18;

la figura 20 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo para realizar el paso de "Determinar la incidencia de campo de luz en el SLM en base al estado térmico" del método de la figura 18; y

la figura 21 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo para configurar un proyector para compensación térmica.

Descripción detallada

La presente invención supera los problemas asociados a la técnica anterior al proporcionar compensación térmica en un proyector de imágenes. En la siguiente descripción, se establecen numerosos detalles específicos (por ejemplo, tipo de fuente de iluminación, modulación dual, posiciones de sensor de ejemplo, etc.) con el fin de proporcionar una comprensión completa de la invención. El experto en la técnica reconocerá, sin embargo, que la invención se puede poner en práctica aparte de estos detalles específicos. En otros casos, se han omitido detalles de prácticas de proyección de imagen (por ejemplo, procesamiento de datos de imágenes, ensamblaje del proyector, temporización del modulador, etc.) y componentes (ópticas, circuitos electrónicos, etc.) bien conocidos, para no oscurecer innecesariamente la presente invención.

La figura 1 es un diagrama de bloques de un proyector 100 de imágenes con capacidades de compensación térmica. El proyector 100 de imágenes incluye una fuente 102 de iluminación, una óptica 104 de función de dispersión de puntos (PSF), un modulador o unos moduladores 106 de luz de formación de imágenes, una óptica 108 de formación de imágenes, un controlador 110 y un conjunto 112 de sensores térmicos.

En esta realización de ejemplo particular, el proyector 100 es un proyector de modulación dual. La modulación dual aumenta la gama dinámica del proyector 100. Por ejemplo, los píxeles del modulador 106 de luz de formación de imágenes, que exhiben las áreas más oscuras de una imagen, se iluminan con luz menos intensa, disminuyendo por ello la cantidad de atenuación requerida por el modulador 106 de luz de formación de imágenes. Como resultado, la salida de luz de los píxeles oscuros está más cerca del 0%, lo que mejora la gama dinámica del proyector 100. La fuente 102 de iluminación incluye una pluralidad de emisores controlables individualmente, que facilitan la emisión de un haz 114 de iluminación modulado. En esta realización de ejemplo, la fuente 102 de iluminación incluye una fuente 109 de luz, una óptica 111 de iluminación y un modulador o unos moduladores 120 de luz de iluminación. La fuente 109 de luz genera un haz 122 de iluminación en bruto, y dirige el haz 122 de iluminación en bruto hacia la óptica 111 de iluminación. La óptica 111 de iluminación acondiciona el haz de iluminación en bruto para generar un haz 124 de iluminación acondicionado, y dirige el haz 124 de iluminación acondicionado para que afecte uniformemente a los moduladores 120 de luz de iluminación. Los moduladores 120 de luz de iluminación son moduladores de luz espaciales SLM, que modulan el haz 124 de iluminación acondicionado para producir el haz 114 de iluminación modulado en respuesta a los datos de iluminación proporcionados por el controlador 110.

En esta realización de ejemplo, los emisores controlables individualmente de la fuente 102 de iluminación son píxeles (o grupos de píxeles) del modulador o de los moduladores 120 de luz de iluminación, que es/son dispositivo/s de microespejos digitales (DMD). Sin embargo, el experto en la técnica reconocerá que este elemento en particular (así como otros elementos descritos, incluso si no se indica explícitamente) no es un elemento esencial de la presente invención. Por ejemplo, la presente invención se puede poner en práctica con SLM alternativos que incluyen, pero no se limitan a, matrices de cristal líquido. De hecho, la invención se puede poner en práctica con fuentes de luz multipunto alternativas que incluyen, pero no se limitan a, matrices de diodos emisores de luz (LED), múltiples bombillas incandescentes, múltiples lámparas de arco, etc.

La óptica 104 de PSF recibe el haz 114 de formación de imágenes modulado y difumina las funciones de dispersión de puntos (PSF) de la luz procedente de los emisores individuales de los moduladores 120 de luz de iluminación para iluminar los moduladores 106 de luz de formación de imágenes con un campo 116 de luz. Aunque se muestre a modo de haz que es transmitido desde la óptica 104 de PSF a los moduladores 106 de luz de formación de imágenes con fines ilustrativos, el campo 116 de luz se describe con mayor precisión como la luz que afecta a la/s superficie/s moduladora/s de los moduladores 106 de luz de formación de imágenes.

El/los modulador/es de luz de formación de imágenes, que responde/n a los datos de imagen compensados térmicamente del controlador 110, modula/n el campo 116 de luz para infundir un haz 118 de formación de imágenes con una imagen correspondiente a los datos de la imagen, y dirige/n el haz 118 de formación de imágenes a la óptica 108 de formación de imágenes. La óptica 108 de formación de imágenes enfoca el haz 118 de formación de imágenes hacia una superficie 125 de visualización, en la que puedan verse las imágenes proyectadas (por ejemplo, en una pantalla de cine).

El controlador 110 recibe datos de imagen/vídeo de una fuente (no mostrada) mediante la entrada 126 de datos, ajusta los datos de imagen dependiendo del estado térmico actual del proyector 100, y proporciona los datos de imagen ajustados térmicamente al/a los modulador/es 106 de luz de formación de imagen. En la realización de ejemplo, el controlador 110 determina el estado térmico del proyector 100 en base a los datos de temperatura recibidos del conjunto 112 de sensores térmicos, y el contenido (por ejemplo, los valores de intensidad) de los datos de imagen/vídeo. En un ejemplo útil para comprender la invención, el controlador 110 determina el estado térmico del proyector 100 en base a los datos de configuración recibidos mediante la entrada/salida del usuario y el conjunto 128 de terminales de configuración.

Los estados térmicos están predefinidos para abarcar el intervalo de temperatura de funcionamiento del proyector 100. Por ejemplo, el estado térmico asociado a la temperatura de funcionamiento más fría del proyector 100 se puede definir como 0,0, y el estado térmico asociado a la temperatura de funcionamiento más cálida del proyector.

100 se puede definir como 1.0. Los estados térmicos intermedios se pueden definir a través de todo el intervalo de temperatura de funcionamiento en incrementos de 0,1. Una vez que se definen los estados térmicos, los cambios en el campo 116 de luz (por ejemplo, los cambios de forma de PSF, desplazamientos, etc.) pueden asociarse con los estados térmicos particulares. Entonces, el estado térmico actual del proyector 100 en cualquier momento particular puede usarse para modelar con mayor precisión el campo 116 de luz.

Como se describirá con mayor detalle, el controlador 110 usa los estados térmicos actuales para modelar con mayor precisión el campo 116 de luz, y ajusta los datos de imagen en base a ese modelo. Por ejemplo, si el controlador 110 determina que, debido al estado térmico actual del proyector 100, la intensidad del campo 116 de luz en un píxel particular del/de los modulador/es 106 de luz de formación de imágenes aumenta, entonces el controlador 110 reducirá el valor de intensidad de los datos de imagen proporcionados a ese píxel. El valor de intensidad reducido de los datos de imagen ajustados hace que el píxel atenúe la incidencia de luz un grado más, compensando por ello el aumento de intensidad del campo 116 de luz en el píxel. De manera similar, si el controlador 110 determina que, debido al estado térmico actual del proyector 100, la intensidad del campo 116 de luz en un píxel particular del/de los modulador/es 106 de luz de formación de imágenes disminuye, entonces el controlador 110 aumentará el valor de intensidad de los datos de imagen proporcionados a ese píxel. El valor de intensidad aumentado de los datos de imagen ajustados hace que el píxel atenúe la incidencia de luz un grado menos, compensando así la disminución de la intensidad del campo 116 de luz en el píxel.

En realizaciones alternativas, además o en lugar de ajustar los datos de vídeo proporcionados a los moduladores de luz de formación de imágenes, el controlador 110 puede reducir los artefactos causados por cambios térmicos en el proyector 100 al proporcionar señales de control a un elemento o más de entre fuentes 102 de iluminación, óptica 104 de PSF y óptica 108 de formación de imágenes. Por ejemplo, si el estado térmico actual del proyector 100 indica que una parte del campo 116 de luz va a ser demasiado intensa o no lo suficientemente intensa, el controlador 110 puede ajustar los datos de iluminación proporcionados al/a los modulador/es 120 de luz de iluminación para corregir ^{la intensidad de esa porción del campo}116 ^{de luz.}

Se proporciona un análisis más completo del modelado de campo de luz en el documento WO/2015/023762, titulado Systems and Methods for Light Field Modeling Techniques for Multi-Modulation Displays, que se incorpora en el presente documento como referencia en su totalidad.

La figura 2 es un diagrama de una realización física de ejemplo del proyector 100 como proyector 100A. Los elementos correspondientes están etiquetados con los mismos índices que en la figura 1.

En esta realización, la fuente 109 de luz incluye una pluralidad de láseres que proporcionan tres colores diferentes de luz (por ejemplo, rojo, verde y azul) a la óptica 111 de iluminación. La óptica 111 de iluminación incluye un combinador 202, un vástago 204 de integración, y un difusor 206. El combinador 202 combina la luz de diferentes colores en un único haz blanco. El vástago 204 de integración mejora la uniformidad de la luz blanca, y el difusor 206 introduce diversidad angular en la luz.

Los moduladores 120 de luz de iluminación están empotrados en un prisma RGB (también conocido como prisma de Philips). El prisma RGB incluye una pluralidad de prismas y una pluralidad de SLM reflectantes (por ejemplo, DMD) 208(r), 208(g) y 208(b). Los prismas dividen el haz 124 de iluminación blanco condicionado en haces constituyentes rojo, verde y azul, y dirigen cada haz de color al correspondiente SLM reflectante 208(r), 208(g) y 208(b). Los SLM 208 modulan los haces de colores para infundir cada haz de color con un patrón de iluminación (por ejemplo, una imagen de semitono) en base a los datos de iluminación del controlador 110. Los SLM 208 reflejan los haces de colores modulados de nuevo en los prismas, que recombinan los haces de colores modulados para formar el haz 114 de iluminación modulado y el haz 114 de iluminación modulado directo en la óptica 104 de PSF. La luz 210 de estado apagado, que resulta de la atenuación de los haces de iluminación de colores, se refleja en una dirección alejada del haz 114 de iluminación modulado.

La óptica 104 de PSF incluye lentes 212, difusores 214 y un reflector 216. Juntos, las lentes 212, los difusores 214 y el reflector 216 proporcionan el desenfoque deseado de las imágenes de semitono transportadas por el haz 114 de iluminación modulado, y dirigen el haz de iluminación desenfocado, modulado, hacia los moduladores 106 de luz de formación de imágenes.

Los moduladores 106 de luz de formación de imágenes están también incorporados en un prisma RGB. Los prismas dividen el haz de iluminación modulado y desenfocado en componentes rojo, verde y azul, y dirigen cada uno de los componentes rojo, verde y azul al respectivo SLM 218(r), 218(g) y 218(b). La óptica 104 de PSF dirige el haz de de formación de imágenes desenfocado y modulado hacia los moduladores 106 de luz de formación de imágenes, de modo que los componentes coloreados (r, g, y b) de la imagen de semitono desenfocada inciden cada uno en el correspondiente SLM 218(r), 218(g) y 218(b) como componentes coloreados 116(r), 116(g) y 116(b) del campo 116 de luz. En respuesta a los datos de imagen ajustados térmicamente recibidos del controlador 110, los SLM 218 modulan los campos 116 (r, g, b) de luz incidentes y reflejan la luz modulada de vuelta a los prismas, que recombinan la luz de color modulada para formar el haz 118 de formación de imágenes. La óptica 108 de formación de imágenes es una lente de proyección que enfoca el haz 118 de formación de imágenes sobre la superficie 125 de exhibición.

En la realización física de ejemplo de la figura 2, el conjunto 112 de sensores térmicos (figura 1) incluye una pluralidad de sensores individuales dispuestos en diferentes ubicaciones. Un sensor térmico 220 está dispuesto en la trayectoria del aire 222 de refrigeración forzado a través de una pared 224 del proyector 100A por un ventilador 226 de refrigeración. Los datos provenientes del sensor 220 son indicativos de la temperatura del aire ambiente que rodea al proyector 100A. Otro sensor 228 de temperatura está en contacto térmico con un prisma de moduladores 120 de luz de iluminación cerca de la salida de luz de estado apagado. Los datos del sensor 228 son indicativos de la temperatura del prisma RGB del modulador 120 de luz de iluminación. Otro sensor 230 de temperatura está en contacto térmico con una montura óptica de la óptica 104 de PSF. Los datos del sensor 230 son indicativos de la temperatura de las lentes 212 y/o de los difusores 214. Un cuarto sensor 232 de temperatura está en contacto térmico con el lado posterior del reflector 216, y proporciona datos indicativos de la temperatura del reflector 216. Los sensores 220, 228, 230 y 232 proporcionan de este modo un medio de modelar los efectos en el estado térmico del proyector 100A por condiciones que no dependen directamente del contenido de los datos de imagen.

La figura 3 es un gráfico compuesto 300 que muestra cualitativamente cómo un ejemplo de campo 302 de luz depende de una pluralidad de funciones 304 de dispersión de puntos (PSF). Aunque, por simplicidad, el campo 302 de luz se muestra sólo en una dimensión, debe entenderse que el campo 302 de luz se extiende en dos dimensiones, como, por ejemplo, a través de la superficie de un modulador de luz de formación de imágenes. La porción inferior 306 del gráfico 300 muestra las funciones 304 de dispersión de puntos individualmente. Cada una de las PSF 304 está asociada a un emisor individual de una fuente de iluminación, y representa la intensidad de luz incidente en una superficie desde el emisor asociado. El eje horizontal representa la distancia en píxeles de un SLM sobre el que incide el campo 302 de luz. El eje vertical 310 representa el porcentaje de brillo máximo de un solo emisor.

La parte superior 312 del gráfico 300 muestra la intensidad del campo 302 de luz resultante de la convolución de las PSF individuales 304. El eje horizontal 308 es el mismo que para la porción inferior 306 del gráfico 100. Sin embargo, el eje vertical 314 representa el porcentaje de brillo máximo, colectivamente, de todos los emisores de la fuente de iluminación cuando todos los emisores están en el estado encendido.

Con fines explicativos, asúmase que los emisores son píxeles controlables individualmente de un SLM similar al SLM sobre el que incide el campo 302 de luz. En la porción del gráfico 300 entre el primer píxel y el decimoctavo píxel, sólo se enciende cada tercer píxel de la fuente de iluminación. Como resultado, la intensidad del campo 302 de luz en esta parte del gráfico 300 es sólo aproximadamente el 33% del brillo máximo. Además, el campo 302 de luz es menos uniforme entre los píxeles 1-20. Entre los píxeles 22-32, todos los emisores de la fuente de iluminación están encendidos. Por lo tanto, el campo 302 de luz está cerca del 100% de brillo total, y el campo 302 de luz es mucho más suave. Finalmente, entre los píxeles 32-50, sólo se activan todos los demás emisores (por ejemplo, los emisores pares). Como resultado, el campo 302 de luz tiene cerca del 50% de brillo total y brilla con suavidad en algún lugar entre las dos porciones anteriores del campo 302 de luz.

Nótese a la vista de la figura 3 que los cambios (por ejemplo, en forma, desplazamiento, etc.) en las PSF 304 asociadas con los emisores individuales darán lugar a cambios en el campo 302 de luz. Teniendo en cuenta tales cambios en las PSF en relación con los cambios en el estado térmico de un proyector, se facilita un modelado más preciso del campo 302 de luz, y, por lo tanto, la capacidad de ajustar los datos de la imagen para corregir tales cambios.

La figura 4 es un gráfico 400 que muestra cambios en la forma de una PSF 402 de un emisor que resulta de cambios térmicos en componentes ópticos entre el emisor y el campo de luz. El eje vertical 404 representa el porcentaje de brillo total, y el eje horizontal 406 representa la distancia en píxeles. Aunque se muestra en una dimensión para simplificar la explicación, debe entenderse que la PSF 402 es bidimensional, y que los cambios de forma se producen en ambas dimensiones. La curva 408 muestra la forma de la PSF 402 en un primer estado térmico, y la curva 410 muestra la forma de la PSF 402 en un segundo estado térmico (por ejemplo, más cálido). El estrechamiento de la PSF 402 afecta significativamente al campo de luz en los píxeles de un SLM. Por ejemplo, en el primer estado térmico, la luz del emisor contribuye al campo de luz en los píxeles 1-3 y 24-26, pero en el segundo estado térmico no lo hace. Este es sólo un ejemplo de cambio en el campo de luz debido a efectos térmicos, que se pueden compensar.

La figura 5 es un gráfico 500 que muestra el desplazamiento de una PSF 502 de un emisor resultante de cambios térmicos en los componentes ópticos entre el emisor y el campo de luz. El eje vertical 504 representa el porcentaje de brillo total, y el eje horizontal 506 representa la distancia en píxeles. Aunque se muestra en una dimensión para simplificar la explicación, debe entenderse que la PSF 502 es bidimensional, y que los desplazamientos se producen en ambas dimensiones. La curva 508 muestra la posición de la PSF 502 en un primer estado térmico, con una intensidad pico alrededor del píxel 13. La curva 510 muestra la posición de la PSF 402 en un segundo estado térmico (por ejemplo, más cálido), con una intensidad pico en algún lugar entre los píxeles 15 y 16, alrededor de un desplazamiento de 2,5 píxeles. El desplazamiento de la PSF 502 afecta significativamente el campo de luz en los píxeles de un SLM. Por ejemplo, en el primer estado térmico, la intensidad de luz procedente del emisor alrededor del píxel 13 es del 100% del brillo total. Sin embargo, en el segundo estado térmico, la intensidad en la misma posición es inferior al 90% del brillo total. Este es otro ejemplo de cambio en el campo de luz debido a efectos térmicos, que se puede compensar.

La figura 6 es un diagrama de bloques que representa bloques de emisores asociados a un campo de luz generado por esos emisores. La agrupación de emisores en bloques facilita la determinación de un estado térmico independiente para cada bloque. Modelar un estado térmico por separado para diferentes grupos de píxeles supone una ventaja, porque los gradientes térmicos a través de los componentes ópticos no están bien representados por un sólo estado térmico. Además, los cambios en las PSF resultantes de cambios en el estado térmico pueden variar espacialmente a través de un campo de luz. Dividir los elementos de píxeles de un SLM en 32 bloques y modelar un estado térmico por separado para cada bloque compensa adecuadamente tales variaciones espaciales y hace más probable que las PSF de los emisores de un bloque en particular reaccionen de manera similar a los cambios térmicos.

Los gradientes térmicos a través de componentes ópticos pueden resultar, por ejemplo, de diferencias espaciales en la modulación del haz de iluminación. Si una primera área de una imagen proyectada es relativamente oscura durante un período de tiempo, los bloques de emisores (por ejemplo, los bloques 0, 1, 8 y 9) correspondientes a esa porción de la imagen transmitirán menos energía óptica a lo largo de una trayectoria óptica asociada a través de la óptica 104 de PSF. Si una segunda área de la imagen proyectada es mucho más brillante durante el mismo período de tiempo, entonces los bloques de emisores (por ejemplo, los bloques 14, 15, 22 y 23) correspondientes a esa porción de la imagen transmitirán más energía óptica a lo largo de una trayectoria óptica diferente a través de la óptica 104 de PSF. Las porciones de los componentes ópticos de la óptica 104 de PSF (por ejemplo, un lado de una lente, difusor, reflector, etc.) expuestas a la mayor cantidad de energía óptica (por ejemplo, de los bloques 14, 15, 22 y 23) sufrirán mayores cambios físicos que las porciones (por ejemplo, el otro lado de la lente, difusor, reflector, etc.) de los componentes ópticos expuestas a la menor cantidad de energía (por ejemplo, de los bloques 0, 1, 8 y 9). Los diferentes cambios térmicos en los componentes ópticos afectan a las PSF de los emisores asociados de manera diferente, y se compensan con mayor precisión utilizando un estado térmico por separado para cada bloque de emisores.

la figura 7 es un diagrama de bloques que muestra los componentes funcionales relevantes del controlador 110. Los componentes convencionales (por ejemplo, unidad/es de procesamiento, circuitos de temporización, memorias intermedias de tramas de datos de imagen, etc.) del controlador 110 se omiten para no oscurecer innecesariamente la explicación de los aspectos de compensación térmica de la realización de ejemplo. La siguiente descripción hace también referencia a los componentes del proyector 100 mostrado en la figura 1.

El controlador 110 incluye un generador 702 de datos de iluminación, datos 704 de modulación de iluminación, un modelo 706 de estado térmico, una biblioteca 708 de PSF, un generador 710 de modelo de campo de luz, un campo 712 de luz de modelo y un ajustador 714 de datos de imagen. El generador 702 de datos de iluminación está acoplado para recibir datos de imagen que representan imágenes que van a ser exhibidas por el proyector 100. El generador 702 de datos de iluminación usa los datos de imagen para generar datos 704 de modulación de iluminación (por ejemplo, datos de imagen de semitono), que se proporcionan al modulador/es 120 de luz de iluminación y al modelo 706 de estado térmico. El modelo 706 de estado térmico almacena el estado térmico actual y actualiza el estado térmico actual en base a los datos 704 de modulación de iluminación y a los datos 112 de sensor del conjunto de sensores térmicos.

En esta realización de ejemplo, el estado térmico del proyector 100 incluye dos estados térmicos por separado (TS(m) y TS(n)) para cada bloque de emisores mostrado en la figura 6. El uso de estados térmicos para modelar diferentes fenómenos de cambio de PSF facilita la compensación separada para diferentes tipos de cambios de PSF. Por ejemplo, los cambios de forma de la PSF dependen significativamente de la ubicación, mientras que el desplazamiento de la PSF es relativamente independiente de la ubicación. En esta realización de ejemplo, el estado térmico TS(n) se usa para determinar los cambios de forma de la PSF, y el estado térmico TS(m) se usa para determinar el desplazamiento de la PSF. Además, se proporcionan estados térmicos por separado para cada canal de color (rojo, verde y azul). Como resultado, el estado térmico del proyector 100 incluye 192 valores por separado: TS(n)(0-31) y TS(m)(0-31) para cada color (r, g, b).

El generador de modelo de campo de luz genera el campo 712 de luz de modelo de la siguiente manera. La biblioteca 708 de PSF está acoplada para recibir TS(n) del modelo 706 de estado térmico, y proporciona un conjunto de PSF de formas particulares al generador 710 de modelo de campo de luz, dependiendo del valor de TS(n). El generador 710 de modelo de campo de luz también está acoplado para recibir el estado térmico TS(m) y los datos 704 de iluminación. A partir de los datos de modulación de iluminación, el generador 710 de modelo de campo de luz determina qué emisores/píxeles de los moduladores 120 de luz de iluminación están en estado encendido. Luego, en base al estado térmico actual TS(n), el generador 710 de modelo de campo de luz recupera una PSF(n) para cada uno de los emisores en estado encendido. A continuación, el generador 710 de modelo de campo de luz aplica un desplazamiento (por ejemplo, x, y) a cada una de las PSF(n), y agrega las PSF(n) desplazadas para generar el campo 712 de luz de modelo. El contenido de la biblioteca 708 de PSF y las funciones de desplazamiento dependientes del estado térmico aplicadas por el generador 710 de modelo de campo de luz se determinan empíricamente para el proyector 100 en un proceso de configuración, que se explicará con mayor detalle a continuación.

En esta realización de ejemplo, el modelo 706 de estado térmico proporciona el estado térmico TS(n) a la biblioteca 708 de PSF para seleccionar los PSF de una forma particular, y proporciona TS(m) al generador 710 de modelo de campo de luz para aplicar el desplazamiento correspondiente a la PSF seleccionada. En una realización alternativa, el generador 710 de modelo de campo de luz usa TS(n) para recuperar las PSF(n) de la biblioteca 708 de PSF. En otra realización alternativa, la biblioteca 708 de PSF incluye algoritmos de producción de PSF que dependen tanto de TS(n) como de TS(m), y el desplazamiento requerido está "integrado" en las PSF producidas.

En esta realización de ejemplo, los estados térmicos TS(m) y TS(n) y el modelo 712 de campo de luz se actualizan para cada trama de datos de vídeo. El ajustador 714 de datos de imagen ajusta luego los datos de imagen en base al modelo 712 de campo de luz, y proporciona los datos de imagen ajustados a los SLM 106 de formación de imágenes. El ajustador 714 de datos de imagen es similar a los componentes análogos de los sistemas de modulación dual conocidos, excepto en que el ajustador de datos de imagen usa un campo 712 de luz de modelo compensado térmicamente.

La figura 8 es un diagrama de bloques que muestra una realización de ejemplo del modelo 706 de estado térmico para incluir un divisor 802 de datos, una calculadora 804 de estadísticas y un actualizador 806 de estado térmico. El actualizador 806 de estado térmico incluye filtros 808 (temporales y/o espaciales) y datos 810 de estado térmico anteriores para cada bloque.

El modelo de estado térmico 706 funciona como sigue. El divisor 802 de datos divide los datos de modulación de iluminación de acuerdo con bloques predefinidos, como se muestra, por ejemplo, en la figura 6. La calculadora 804 de estadísticas analiza el contenido de los datos asociados a cada bloque para generar estadísticas (por ejemplo, valor de intensidad promedio, luminancia, etc.) para cada bloque. Los datos 810 de estado térmico anteriores incluyen uno o más valores previos para cada uno de los estados térmicos predefinidos. Los filtros 808 incluyen filtros temporales y/o espaciales y algoritmos que determinan nuevos estados térmicos actuales en base a las estadísticas de bloque recibidas de la calculadora 804 de estadísticas, a los datos de sensor recibidos del conjunto 112 de sensores (véase la figura 1) y a los valores previos de los datos 810 de estado térmico anteriores. Los filtros 808 proporcionan luego los nuevos estados térmicos actuales a la biblioteca 708 de PSF y al generador 710 de modelo de campo de luz, y almacenan los nuevos estados térmicos actuales en los datos 810 de estado térmico anteriores.

La figura 9 es un diagrama de bloques que muestra un actualizador 806A de estado térmico alternativo que incluye un filtro temporal 902. En esta realización de ejemplo, el filtro temporal 902 es similar a un filtro de respuesta de impulso infinito (IIR), pero se determina en un procedimiento de calibración para rastrear con precisión las respuestas de los componentes del proyector 100. El filtro temporal 902 recibe estadísticas de bloque de la calculadora 804 de estadísticas (figura 8), actualiza los datos 810 de estado térmico anteriores en base a las estadísticas de bloque, y proporciona los datos de estado térmico actualizados al generador 710 de modelo de campo de luz (véase la figura 7).

La figura 10 es un gráfico 1000 que muestra cualitativamente la respuesta 1002 del filtro temporal 902. El gráfico 1000 incluye un eje vertical 1004, que representa estados térmicos, y un eje horizontal 1006, que representa el tiempo en unidades de tramas de datos. La línea discontinua 1008 indica un cambio abrupto en la entrada, que podría ocurrir, por ejemplo, cuando la intensidad de iluminación promedio para un bloque particular pasa del 100% al 0%. Por supuesto, el estado térmico no bajará a cero tan pronto como cambie la entrada, porque los componentes necesitan tiempo para enfriarse. En general, la respuesta 1002 sigue una curva "exponencial", respondiendo al cambio abrupto en la entrada rápidamente al principio, disminuyendo luego asintóticamente a medida que se acerca al valor de salida final.

Aunque la curva 1002 muestra un cambio continuo suave en el valor del estado térmico, en la realización de ejemplo los estados térmicos se usan como argumentos de búsqueda, y, por lo tanto, sólo pueden tener valores predefinidos discretos (por ejemplo, 0.0, 0.1, 0,2, ..., 1,0). Como resultado, el filtro temporal 902 redondea la salida al más cercano de los estados térmicos predefinidos. En realizaciones alternativas, los estados térmicos se usan computacionalmente y, por lo tanto, pueden tener cualquier valor dentro de un intervalo continuo de valores.

La figura 11 es un diagrama que ilustra la difusión térmica a través de componentes ópticos cuando existe una variación espacial en la energía óptica que pasa a través de esos componentes. El bloque 1100 más exterior representa un área de un componente óptico. Los bloques interiores representan áreas a través de las cuales pasa la iluminación desde los bloques de emisores indicados. Por ejemplo, el bloque superior izquierdo está iluminado principalmente por los emisores del bloque 10. El bloque central está iluminado principalmente por los emisores del bloque 19, y así sucesivamente. Los números entre paréntesis representan la intensidad promedio de iluminación que pasa por el bloque respectivo. Por ejemplo, la iluminación a través del bloque 18 es del 90% de la intensidad máxima, la iluminación a través del bloque 11 es del 50% de la intensidad máxima, y así sucesivamente. Las flechas representan la difusión térmica entre los bloques debido a la variación de temperatura.

Los anchos de las flechas representan, cualitativamente, la cantidad de difusión térmica entre bloques adyacentes. Por ejemplo, el bloque 20 tiene una intensidad promedio del 30% y el bloque 12 tiene una intensidad promedio del 20%. Por lo tanto, la temperatura del bloque 20 debería ser sólo ligeramente superior a la temperatura del bloque 12, por lo que la difusión térmica desde el bloque 20 hasta el bloque 12 sería bastante limitada. Por otro lado, el bloque 27 tiene una intensidad promedio del 80% y el bloque 28 adyacente tiene una intensidad promedio de sólo el 30%. Por lo tanto, la temperatura del bloque 27 debería ser significativamente más alta que la temperatura del bloque 28, por lo que la difusión térmica desde el bloque 27 hasta el bloque 28 sería significativa, y podría afectar potencialmente a los estados térmicos asociados a los bloques 27 y 28 (por ejemplo, podría reducir el estado térmico del bloque 27 y elevar el estado térmico del bloque 28).

La figura 12 es un diagrama de bloques que muestra un actualizador 806B de estado térmico alternativo que incluye un filtro temporal 902 y un filtro espacial 1202. El filtro espacial 1202 recibe los estados térmicos actualizados del filtro temporal 902, y modifica los estados térmicos actualizados, si es necesario, debido a la difusión térmica a través de los bloques. El filtro espacial 1202 proporciona luego los estados térmicos modificados y actualizados a la biblioteca 708 de PSF y/o al generador 710 de modelo de campo de luz.

La figura 13 es un diagrama de bloques que muestra otro actualizador 806C de estado térmico alternativo que incluye un filtro temporal 902 y un filtro espacial alternativo 1302. El filtro espacial 1302 recibe las estadísticas de bloque (por ejemplo, intensidades de media) y modifica las estadísticas de bloque, si es necesario, debido a la difusión térmica a través de los bloques. El filtro espacial 1202 proporciona luego las estadísticas de bloque modificadas al filtro temporal 902, que utiliza las estadísticas de bloque modificadas para actualizar los estados térmicos de los bloques como se describió anteriormente. El filtro temporal 902 almacena luego los estados térmicos actualizados en los datos 810 de estado térmico anteriores y proporciona los estados térmicos actualizados a la biblioteca 708 de PSF y/o al generador 710 de modelo de campo de luz.

La figura 14 es un diagrama de bloques que muestra otro actualizador 806D de estado térmico alternativo que incluye un filtro 1402 espacial alternativo y un filtro 1404 temporal alternativo. El filtro 1402 espacial alternativo recibe las estadísticas de bloque (por ejemplo, intensidades de media) y los datos 810 de estado térmico anteriores, actualiza las estadísticas de bloque y/o los estados térmicos anteriores si es necesario, debido a la difusión térmica a través de los bloques, y proporciona las estadísticas de bloque actualizadas y/o los estados térmicos al filtro temporal 1404. El filtro temporal 1404 actualiza adicionalmente el estado térmico, almacena los estados térmicos actualizados en los datos 810 de estado térmico anteriores, y proporciona los estados térmicos actualizados a la biblioteca 708 de PSF y/o al generador 710 de modelo de campo de luz.

Los datos de sensor térmico y los modelos basados en datos de modulación de iluminación se pueden combinar para proporcionar ventajas adicionales. Por ejemplo, los modelos basados en datos de iluminación pueden proporcionar una respuesta instantánea a los cambios de entrada y proporcionar discriminación espacial entre los componentes. Además, los datos de sensor térmico pueden proporcionar información relacionada con las condiciones ambientales y de otros componentes que cambian lentamente que no se pueden determinar a partir de los datos de la imagen y/o de los datos de iluminación.

La figura 15 es un diagrama de bloques que muestra un modelo 1502 de estado térmico combinado para incluir un actualizador 806E de estado térmico alternativo y un combinador 1504. El actualizador 806E de estado térmico es similar en función a los actualizadores 806A-D de estado térmico descritos anteriormente, actualizando los estados térmicos del proyector 100 en base a los datos de modulación de iluminación. Sin embargo, el actualizador 806E de estado térmico proporciona luego los estados térmicos actualizados al combinador 1504. Luego, el combinador 1504 actualiza adicionalmente los estados térmicos en base a los datos de sensor térmico recibidos del conjunto 112 de sensores térmicos. Por ejemplo, el combinador 1502 puede determinar un estado térmico en base a los datos de sensor, y combinar luego ese estado térmico con un estado térmico proporcionado por el actualizador 806E de estado térmico para obtener un único estado térmico que se base tanto en los datos de modulación de iluminación como en los datos de sensor térmico.

La figura 16 es un diagrama de bloques de un modelo de estado térmico que combina múltiples modelos paralelos 1502(1-x). Cada modelo 1502(1-x) corresponde a un componente diferente o a grupos de componentes diferentes, y cada actualizador 806(1-x) de estado térmico y cada combinador 1504(1-x) incluye características de filtrado temporal y espacial únicas, configuradas específicamente para los componentes particulares que se están modelando. Cada modelo 1502(1-x), por lo tanto, genera un único valor de estado térmico correspondiente al componente modelado.

Aunque los modelos 1502(1) y 1502(x) parecen similares en estructura, no es necesario que lo sean. Por ejemplo, es posible que algunos de los modelos paralelos 1502 no reciban o no dependan de los datos de sensor térmico. Es posible que otros modelos paralelos 1502 no reciban o no dependan de los datos de modulación de iluminación.

La figura 17 es un diagrama de bloques de un sistema 1700 de configuración para configurar el proyector 100 para compensación térmica. El sistema 1700 de configuración incluye un controlador 1702, una fuente 1704 de datos de imagen y un dispositivo 1706 de captura de imágenes. El sistema 1700 de configuración genera los datos 1708 de configuración, que están instalados en el proyector 100. Ejemplos de datos 1708 de configuración en la realización de ejemplo descrita anteriormente incluyen la biblioteca 708 de PSF y porciones del generador 710 de modelo de campo de luz (véase la figura 7).

El controlador 1702 incluye una unidad de procesamiento y una memoria para almacenar datos y código (no mostrados) que, cuando son ejecutados por la unidad de procesamiento, imparten la siguiente funcionalidad al controlador 1702.

El sistema 1700 de configuración genera los datos 1708 de configuración como sigue. Primero, el controlador 1702 proporciona los primeros datos de imagen predeterminados al proyector 100. El proyector 100 exhibe la primera imagen predeterminada (por ejemplo, la pantalla negra en su totalidad) durante un tiempo suficiente para asegurar que el proyector 100 se ha estabilizado en un primer estado térmico (por ejemplo, el más frío). Luego, mientras el proyector está en el primer estado térmico, el controlador 1702 proporciona datos de imagen de prueba al proyector 100. El proyector 100 proyecta la imagen de prueba en el dispositivo 1706 de captura de imagen, que captura una imagen de la imagen de prueba y transfiere la imagen de prueba capturada al controlador 1702. El controlador 1702 analiza la imagen de prueba capturada para determinar las PSF generadas por los emisores (por ejemplo, por el/los modulador/es 120 de luz de iluminación) del proyector 100. Luego, el controlador 1702 almacena datos que asocian las PSF determinadas con el primer estado térmico en los datos 1708 de configuración.

A continuación, el controlador 1702 proporciona unos segundos datos de imagen predeterminados al proyector 100. El proyector 100 exhibe la segunda imagen predeterminada (por ejemplo, una imagen plana en escala de grises al 10%) durante un tiempo suficiente para garantizar que el proyector 100 se haya estabilizado en un segundo estado térmico (por ejemplo, en TS = 0,1). Luego, mientras el proyector 100 está en el segundo estado térmico, el controlador 1702 proporciona datos de imagen de prueba al proyector 100. El proyector 100 proyecta la imagen de prueba en el dispositivo 1706 de captura de imagen, que captura una imagen de la imagen de prueba y transfiere la imagen de prueba capturada al controlador 1702. El controlador 1702 analiza la imagen de prueba capturada para determinar las PSF generadas por los emisores (por ejemplo, por el/los modulador/es 120 de luz de iluminación) del proyector 100. Luego, el controlador 1702 almacena datos que asocian las PSF determinadas con el segundo estado térmico en los datos 1708 de configuración. Además, el controlador 1702 determina los desplazamientos de las PSF del segundo estado térmico con respecto a las PSF del primer estado térmico y almacena datos que asocian los desplazamientos con el segundo estado térmico.

El controlador 1702 continúa el proceso anterior, estabilizando el proyector 100 en cada estado térmico (0,2, 0,3, ..., 1,0), capturando y analizando datos de prueba y almacenando datos de configuración que asocian PSF y desplazamientos con cada uno de los estados térmicos. Una vez que se completa el proceso de configuración, el controlador 1702 copia los datos 1708 de configuración en el proyector 100.

La figura 18 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo 1800 de accionar un modulador de luz espacial en un proyector con capacidades de compensación térmica. En un primer paso 1802, se reciben datos de imagen. Luego, en un segundo paso 1804, se determina el estado térmico del proyector. A continuación, en un tercer paso 1806, se determina la incidencia de campo de luz en un SLM en base, al menos en parte, al estado térmico. Luego, en un cuarto paso 1808, los datos de imagen se ajustan en base al campo de luz determinado, y, en un quinto paso 1810, los datos de imagen ajustados se proporcionan al SLM. En un sexto paso 1812, se determina si hay más datos de imagen para exhibir. Si no es así, el método 1800 finaliza. De lo contrario, el método 1800 vuelve al primer paso 1802.

La figura 19 es un diagrama de flujo que resume un método 1900 de ejemplo para realizar el paso 1804 "Determinar el estado térmico del proyector" del método 1800. En un primer paso 1902, se definen subconjuntos de datos de iluminación. Luego, en un segundo paso 1904, se inicializan los estados térmicos para cada subconjunto de datos de iluminación. A continuación, en un tercer paso 1906, se reciben los datos de iluminación. Luego, en un cuarto paso 1908, se reciben los datos del estado térmico anterior para cada subconjunto de datos de iluminación. Luego, en un quinto paso 1910, se determina un valor de una característica predefinida para cada subconjunto de datos de iluminación. A continuación, en un sexto paso 1912, se determina un nuevo estado térmico para cada subconjunto de datos de iluminación en base a los datos del estado térmico anterior y a los valores determinados. Luego, en un séptimo paso 1914, se proporcionan los nuevos estados térmicos. En un octavo paso 1916, se determina si hay más datos de iluminación disponibles. Si es así, el método 1900 vuelve al tercer paso 1906. De lo contrario, el método 1900 finaliza.

La figura 20 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo para realizar el paso 1806 "Determinar la incidencia de campo de luz en el SLM en base al estado térmico" del método 1800. En un primer paso 2002, se definen subconjuntos de datos de iluminación. Luego, en un segundo paso 2004, se reciben los datos de iluminación. A continuación, en un tercer paso 2006, se recibe el estado térmico actual para cada subconjunto de datos de iluminación. Luego, en un cuarto paso de 2008, se determinan las funciones de dispersión de puntos (PSF) para cada subconjunto de datos de iluminación en base a los estados térmicos actuales. A continuación, en un quinto paso 2010, se determinan los desplazamientos de PSF para cada subconjunto de los datos de iluminación en base a los estados térmicos actuales. Luego, en un sexto paso de 2012, las pSf se combinan para determinar un campo de luz de modelo, y, en un séptimo paso de 2014, se proporciona el campo de luz de modelo. En un octavo paso de 2016, se determina si hay más datos de iluminación disponibles. Si es así, entonces el método 2000 vuelve al tercer paso 2006. Si no, el método 2000 finaliza.

La figura 21 es un diagrama de flujo que resume un método de ejemplo 2100 para configurar un proyector para compensación térmica. En un primer paso 2102, se proyecta una primera imagen predeterminada de un nivel de brillo particular. Luego, en un segundo paso 2104, se determina si el proyector está en un estado térmico estable. Si no, el segundo paso 2104 se repite hasta que el proyector se encuentra en un estado térmico estable, y luego pasa al tercer paso 2106 donde se proyecta una imagen de prueba. Luego, en un cuarto paso 2108, se captura la imagen de prueba. A continuación, en un quinto paso 2110, se analiza la imagen de prueba para determinar la forma y el desplazamiento de las PSF. Luego, en un sexto paso 2112, se hace un registro que asocia la forma y el desplazamiento de las PSF con el estado térmico actual. A continuación, en un séptimo paso 2114, se determina si el estado térmico actual corresponde al último nivel de brillo (por ejemplo, el más alto) del proyector. Si es así, finaliza el método 2100. De lo contrario, el método 2100 vuelve al primer paso 2102, donde se proyecta la siguiente imagen predeterminada del siguiente nivel de brillo particular, y el método 2100 continúa.

Claims

REIVINDICACIONES

1. Un método (1800) para controlar un modulador (106) de luz espacial de un proyector (100) de imágenes, comprendiendo, el proyector (100) de imágenes, una fuente (102) de iluminación configurada para transmitir luz al modulador (106) de luz espacial, comprendiendo, la fuente (102) de iluminación, una pluralidad de emisores controlables individualmente divididos en grupos de emisores para emitir un haz (114) de iluminación modulado, comprende adicionalmente, el proyector (100) de imágenes, una óptica (104) de función de dispersión de puntos dispuesta entre la fuente (102) de iluminación y el modulador (106) de luz espacial, y configurada para iluminar el modulador (106) de luz espacial con un campo (116) de luz iluminante, comprendiendo el método:

recibir (1802) datos de imagen para ser exhibidos por el modulador (106) de luz espacial;

determinar (1804), para cada grupo de emisores, un primer estado térmico indicativo de los cambios de forma de la función de dispersión de puntos, y un segundo estado térmico indicativo de los desplazamientos de la función de dispersión de puntos;

seleccionar, para cada grupo de emisores con emisores en estado encendido, una función de dispersión de puntos de entre una pluralidad de funciones de dispersión de puntos asociadas a un grupo correspondiente de emisores en base al primer estado térmico del grupo correspondiente de emisores;

aplicar, para cada función de dispersión de puntos seleccionada, un desplazamiento a la función de dispersión de puntos seleccionada respectiva en base al segundo estado térmico del grupo correspondiente de emisores para generar una función de dispersión de puntos desplazada;

agregar las funciones de dispersión de puntos desplazadas para crear (1806) un modelo (712) de dicho campo (116) de luz iluminante;

ajustar (1808) los datos de imagen recibidos en base al campo (712) de luz iluminante modelado para generar datos de imagen ajustados térmicamente como para compensar los cambios térmicos en al menos un elemento de entre la fuente (102) de iluminación y la óptica (104) de función de dispersión de puntos; y

emitir los datos de imagen ajustados térmicamente al modulador (106) de luz espacial.

2. El método (1800) de la reivindicación 1, que comprende adicionalmente:

recibir datos de sensor;

en el que los estados térmicos primero y segundo de uno o más grupos de emisores se determina en base a los datos de sensor recibidos.

3. El método (1800) de la reivindicación 2, en el que los datos de sensor comprenden datos de temperatura, y en el que los datos de temperatura son indicativos de al menos una temperatura de entre: la temperatura dentro de la fuente (102) de iluminación; la temperatura ambiente; o la temperatura de la óptica (104) de función de dispersión de puntos.

4. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, que comprende adicionalmente:

obtener una pluralidad de valores de intensidad de los datos de imagen recibidos;

en el que los estados térmicos primero y segundo de uno o más grupos de emisores se determinan en base a los valores de intensidad obtenidos.

5. El método (1800) de la reivindicación 4, en el que los estados térmicos primero y segundo de uno o más grupos de emisores se determinan en base a un promedio de los valores de intensidad obtenidos.

6. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 5, en el que los estados térmicos primero y segundo de uno o más grupos de emisores se determinan en base al correspondiente estado térmico anterior del grupo respectivo de emisores.

7. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, en el que los grupos de emisores definen bloques de píxeles de un modulador (120) de luz espacial iluminante.

8. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 7, en el que la determinación de los estados térmicos primero y segundo para uno o más grupos de emisores se basa en los correspondientes estados térmicos de los respectivos grupos adyacentes de emisores.

9. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 8, en el que cada una de las funciones de dispersión de puntos tiene una forma que depende del primer estado térmico con el que está asociada.

10. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 9, en el que las posiciones de las funciones de dispersión de puntos varían dependiendo del segundo estado térmico con el que está asociado.

11. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 10, en el que el campo (712) de luz iluminante modelado es específico de color, y las funciones de dispersión de puntos se seleccionan en base, al menos en parte, a colores diferentes.

12. El método (1800) de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 11, en el que las funciones de dispersión de puntos se seleccionan según de qué grupo particular es miembro el emisor correspondiente, y dependiendo también de los estados térmicos primero y segundo asociados al grupo particular. de emisores.

13. Aparato para controlar un modulador (106) de luz espacial de un proyector (100) de imágenes, comprendiendo el proyector (100) de imágenes una fuente (102) de iluminación configurada para transmitir luz al modulador (106) de luz espacial, comprendiendo, la fuente (102) de iluminación, una pluralidad de emisores controlables individualmente divididos en grupos de emisores para emitir un haz (114) de iluminación modulado, comprendiendo adicionalmente, el proyector (100) de imágenes, una óptica (104) de función de dispersión de puntos dispuesta entre la fuente (102) de iluminación y el modulador (106) de luz espacial, y estando configurado para iluminar el modulador (106) de luz espacial con un campo (116) de luz iluminante, comprendiendo el aparato:

una entrada (126) para recibir datos de imágenes;

una salida para emitir datos de imagen ajustados térmicamente al modulador (106) de luz espacial; y

un controlador (110) en comunicación con la entrada (126) y la salida, estando el controlador (110) configurado para realizar el método (1800) de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 12.

14. Un proyector (100) de imágenes que comprende: un aparato de acuerdo con la reivindicación 13; la fuente (102) de iluminación; el modulador (106) de luz espacial; y la óptica (104) de función de dispersión de puntos dispuesta entre la fuente (102) de iluminación y el modulador (106) de luz espacial.

15. Un medio legible por ordenador no transitorio que tiene almacenado en el mismo un programa de ordenador que comprende instrucciones para hacer que el controlador (110) en el aparato de la reivindicación 13 ejecute los pasos del método (1800) de cualquiera de las reivindicaciones 1 a 12.