ES2629318T3 - Sensor electromagnético y calibración del mismo - Google Patents

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ES2629318T3 ES12775825.8T ES12775825T ES2629318T3 ES 2629318 T3 ES2629318 T3 ES 2629318T3 ES 12775825 T ES12775825 T ES 12775825T ES 2629318 T3 ES2629318 T3 ES 2629318T3
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Wuliang Yin
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Abstract

Un sensor (400) electromagnético para detectar una microestructura de un objetivo de metal, que comprende: un dispositivo (410, 420) magnético para proporcionar un campo magnético de excitación; un magnetómetro (430) para detectar un campo magnético resultante inducido en un objetivo de metal; y un circuito (450, 551, 552, 553, 554) de calibración para generar un campo magnético de calibración para calibrar el sensor electromagnético, en donde el campo magnético de calibración es generado por una corriente eléctrica inducida en el circuito de calibración por el campo magnético de excitación.

Description

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DESCRIPCION
Sensor electromagnetico y calibracion del mismo
Las realizaciones de la presente invencion se refieren a aparatos y metodos para monitorizar la microestructura de un objetivo de metal. En particular, aunque no exclusivamente, algunas realizaciones de la presente invencion se refieren a aparatos y metodos para calibrar sensores electromagneticos. En particular, aunque no exclusivamente, algunas realizaciones de la invencion se refieren a la monitorizacion de la formacion microestructural de un objetivo de metal.
Antecedentes
Durante el procesamiento de la produccion de metales, tal como el acero, el laminado del metal es seguido por enfriamiento controlado. Durante el proceso de produccion, particularmente el proceso de enfriamiento, una microestructura del metal evoluciona y da como resultado una microestructura final del metal procesado. La microestructura del metal procesado tiene un impacto en muchos aspectos del caracter del metal, tales como la resistencia a la traccion.
Las tecnicas convencionales de analisis microestructural son destructivas e implican la extraccion de muestras para el analisis de, por ejemplo, el extremo de una bobina del material procesado. Esto lleva mucho tiempo, es costoso, no permite una monitorizacion continua y evalua solo una pequena fraccion del material procesado. En el documento WO2007/122542 se describe un dispositivo y un metodo para detectar partfculas magneticas. En el documento WO2009/151449 se describe un metodo y un sistema para determinar las propiedades electricas de un fluido de formacion.
Cuando el material procesado es de acero, se sabe que las tecnicas electromagneticas pueden controlar las transformaciones de fase de acero detectando el cambio de fase ferromagnetico debido a los cambios en la conductividad electrica y la permeabilidad magnetica dentro del acero. Ademas, si se coloca una bobina en la proximidad del acero que se esta procesando, se produce un cambio en las mediciones de impedancia para la bobina porque la microestructura del acero influye en la conductividad y la permeabilidad. Por ejemplo, la austenita, fase estable de hierro a temperaturas elevadas, es paramagnetica, mientras que las fases estables de baja temperatura ferrita, perlita, bainita y martensita son ferromagneticas por debajo de la temperatura de Curie de aproximadamente 76o°C. Las propiedades del acero vanan fuertemente con las fracciones de volumen de estas fases, que se controlan en gran parte por la velocidad de enfriamiento y el contenido de aleacion del acero.
Sin embargo, existen problemas para monitorizar en tiempo real las propiedades electromagneticas de los metales durante el procesamiento. Muchos problemas resultan de las condiciones ambientales asociadas con el procesamiento de metales, tales como calor, humedad, humectacion, etc.
El documento EP177626A, titulado "System for Online-Detecting Transformation value and/or Flatness of Steel or Magnetic Material", describe un sistema para detectar la transformacion y/o la planitud de un acero o un material magnetico en lmea. El sistema consiste en una bobina de excitacion en un lado del objetivo de metal en forma de placa con una bobina de excitacion que genera un campo magnetico alterno. Dos o mas bobinas de deteccion estan dispuestas en posiciones diferentes en distancia de la bobina de excitacion, pero inducidas mutuamente con la bobina de excitacion en una disposicion similar a la mostrada en la Fig. 2. Las mediciones magneticas de las bobinas de deteccion se alimentan a una unidad aritmetica para obtener el valor de transformacion y la planitud del objetivo de metal.
El documento JP03262957A titulado "Transformation Ratio Measuring Instrument for Steel Material" describe un sistema que utiliza nucleos magneticos separados de diferentes tamanos.
El documento EP01308721 titulado "Device and Method for Detecting Magnetic Properties of a Metal Object" describe un sistema similar al documento EP177626A, pero en este caso se describe un dispositivo para detectar las propiedades magneticas de un objeto metalico objetivo. El sistema comprende un medio para generar un campo magnetico y un medio de deteccion para medir el efecto sobre una porcion del campo magnetico producido por el objetivo de metal. En este caso, sin embargo, el documento EP01308721 describe que el campo magnetico generado es un campo magnetico continuo de CC y los medios de deteccion son medios adecuados para detectar al menos un componente continuo del campo magnetico. Los medios de deteccion pueden estar situados en los polos de la unidad de sensor como se muestra en la Fig. 2. Ademas, el sistema informado tiene un blindaje metalico no magnetico situado entre los medios de generacion y deteccion y el objetivo de metal. El blindaje metalico no magnetico no afecta al campo magnetico de CC, que es una caractenstica clave de la utilizacion de Cc continua en lugar de alternar los campos magneticos de CA.
Para superar los problemas asociados con la interferencia de la magnetizacion de los rodillos que llevan el objetivo de metal cuando el objetivo de metal esta en forma de una placa o tira, el documento JP07325067A titulado " "Transformation Factor Measuring Device" describe un dispositivo de medicion del factor de transformacion en el que
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se proporciona una fuente de excitacion en un lado de una placa metalica objetivo y los componentes de deteccion se proporcionan en el otro lado de la placa metalica objetivo. Este enfoque ayuda a reducir los efectos de la magnetizacion del rodillo que lleva la placa metalica objetivo, pero tiene las desventajas de que diferentes partes del sistema estan situadas en diferentes posiciones, lo que hace que el sistema sea mas diffcil de desplegar y que los componentes del sistema sean mas diffciles de proteger desde la placa objetivo de metal de movimiento rapido.
Una desventaja de usar una unidad de sensor que emplea solamente una excitacion continua de CC o una excitacion de una sola frecuencia es que el sistema de medicion es sensible a un rango de deteccion limitado de la fraccion transformada de acero objetivo, con la respuesta de la unidad sensora para nivelacion para fracciones de fase ferntica por encima del contenido de ferrita tfpicamente del 30%, como se describe en (Yin y col., Journal of Material Science (2007), Vol. 42, paginas 6854-6861, "Exploring the relationship between ferrite fraction and morphology and the electromagnetic properties of steel") y como se muestra en la Fig. 3. Esta es una limitacion seria ya que la industria siderurgica esta interesada en controlar la transformacion en fracciones mucho mas altas. El documento de Yin y colaboradores discute que se puede usar una unidad de sensor para identificar la fraccion transformada en objetivos de acero a traves del rango completo (0-100%) de la fraccion transformada de ferrita usando mediciones de frecuencia multiple.
El documento JP60017350A describe un sistema para medir cuantitativamente la velocidad de transformacion de acero objetivo usando una bobina de excitacion y una bobina de deteccion en el mismo lado del objetivo de acero que se va a medir, pasando una corriente de frecuencia variable a la bobina de excitacion y obteniendo una permeabilidad magnetica del material de medicion para la direccion del espesor de ambas bobinas en cada frecuencia.
El uso de diferentes frecuencias tambien ha sido informado por (Dickinson et al., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (2007), Vol. 56 (3), paginas 879-886, "The development of a multi-frequency electromagnetic instrument for monitoring the phase transformation of hot strip steel"). En este trabajo se describe un instrumento dispuesto para analizar las transformaciones de fase de acero laminado en caliente utilizando un sensor electromagnetico.
El sensor explota variaciones en la conductividad electrica y la permeabilidad magnetica del acero para monitorizar la evolucion de la microestructura durante el procesamiento. El sensor es un dispositivo inductivo basado en un nucleo de ferrita en forma de H, que es interrogado con un analizador de impedancia multifrecuencia que contiene un procesador de senal digital. Se ejecuto transformada de Fourier rapida en lmea para extraer los cambios de inductancia de multiples frecuencias debido a la evolucion microestructural de la muestra. Se presenta una vision general del instrumento y las mediciones de una gama de muestras de acero al carbono. Los resultados verifican la capacidad del instrumento tanto para monitorizar los cambios microestructurales como para rechazar variaciones en la distancia de elevacion entre el sensor y la banda caliente.
El documento JP 2000-304725 titulado "Method for Measuring Thickness of Transformation Layer of Steel Material" tambien describe un metodo de multiples frecuencias para supervisar el progreso de la transformacion a traves de un objetivo de metal. En este caso, el objetivo de metal es grueso y el sistema mide el espesor de la capa transformada externa analizando los espectros medidos por la unidad de sensor.
Sin embargo, existen problemas significativos con el uso de tales sensores electromagneticos en un entorno de procesamiento de metales. Algunas realizaciones de la invencion apuntan a reducir uno o mas de tales problemas para que los sensores electromagneticos puedan ser utilizados con mayor fiabilidad y precision en tales ambientes. Hay desaffos para el diseno de una unidad de sensor electromagnetico. Una unidad de sensor ideal debe ser capaz de (i) rechazar o reducir la interferencia de otros parametros del proceso, tales como los efectos de la acena cercana y las variaciones en el despegue, (ii) medir una amplia gama de fracciones transformadas, como una gama completa 0 a 100% de las fracciones transformadas, y (iii) tener una baja sensibilidad a las variaciones causadas por el entorno de alta temperatura con metal caliente a temperaturas de 1000°C solo a una corta distancia, tal como unos pocos centfmetros del lado activo del sensor. Algunas realizaciones de la invencion pueden tener como objetivo tratar o reducir algunos de estos problemas.
Un objeto de las realizaciones de la invencion es al menos mitigar uno o mas de los problemas de la tecnica anterior. Resumen de la invencion
Segun aspectos de la invencion, se proporciona un aparato y metodos como se definen en las reivindicaciones adjuntas.
De acuerdo con un aspecto de la invencion, se proporciona un sensor electromagnetico para detectar una microestructura de un objetivo de metal, que comprende: un dispositivo magnetico para proporcionar un campo magnetico de excitacion; un magnetometro para detectar un campo magnetico resultante inducido en un objetivo de metal; y un circuito de calibracion para generar un campo magnetico de referencia para calibrar la unidad de sensor, en donde el campo magnetico de calibracion es generado por una corriente electrica inducida en el circuito de
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calibracion por el campo magnetico de excitacion.
El sensor electromagnetico puede comprender una pluralidad de circuitos de calibracion. Cada uno de la pluralidad de circuitos de calibracion puede estar dispuesto para generar un campo magnetico en una gama de frecuencias respectiva. Cada uno de la pluralidad de circuitos de calibracion puede comprender una impedancia respectiva. Uno o mas circuitos de calibracion pueden comprender una bobina de calibracion. El sensor electromagnetico puede comprender un medio de control para controlar selectivamente la generacion del campo magnetico de referencia. El campo magnetico de referencia es generado por una corriente electrica inducida en el circuito de calibracion por el campo magnetico. El magnetometro puede ser una bobina del detector de induccion o un sensor Hall. El sensor electromagnetico puede comprender un nucleo magnetico. El nucleo magnetico puede tener forma de U o forma de H. El magnetometro puede estar dispuesto proximal a un polo del nucleo. Los medios para generar el campo magnetico pueden comprender una o mas bobinas de excitacion. El sensor electromagnetico puede comprender una unidad de control dispuesta para determinar un penodo de calibracion y activar selectivamente el circuito de calibracion durante el periodo de calibracion. La unidad de control puede estar dispuesta para determinar el periodo de calibracion basandose en una senal de deteccion emitida desde el magnetometro. La unidad de control puede estar dispuesta para determinar el periodo de calibracion basandose en la senal de deteccion emitida desde el magnetometro y un nivel de referencia predeterminado. La unidad de control puede comprender una entrada para recibir una senal de un aparato de produccion indicativo de un periodo entre objetivos metalicos, en donde la unidad de control esta dispuesta para determinar el periodo de calibracion basado en el mismo. La unidad de control puede estar dispuesta para controlar selectivamente una pluralidad de circuitos de calibracion. La unidad de control puede estar dispuesta para hacer que cada uno de la pluralidad de circuitos de calibracion emita una frecuencia respectiva.
De acuerdo con un aspecto de la invencion, se proporciona un metodo para calibrar un sensor electromagnetico para detectar una microestructura de un objetivo de metal, que comprende: proporcionar un campo magnetico de excitacion; hacer que un circuito de calibracion emita un campo magnetico de calibracion en el que el campo magnetico de calibracion es generado por una corriente electrica inducida en el circuito de calibracion por el campo magnetico de excitacion; recibir un campo magnetico resultante en uno o mas magnetometros; y determinar una calibracion del sensor electromagnetico basado en el campo magnetico resultante.
El campo magnetico de excitacion puede incluir una forma de onda de multiples frecuencias. El metodo puede comprender causar una pluralidad de circuitos de calibracion a cada salida de un campo magnetico de calibracion en un intervalo de frecuencia respectivo, y determinar la calibracion del sensor magnetico en cada intervalo de frecuencias respectivo. El metodo puede comprender determinar una diferencia de fase entre el campo magnetico de excitacion y el campo magnetico resultante. El metodo puede comprender determinar un penodo de calibracion y hacer que el circuito de calibracion genere el campo magnetico de calibracion durante el periodo de calibracion. El periodo de calibracion puede ser un penodo entre objetivos metalicos.
El periodo de calibracion puede determinarse de acuerdo con una salida del uno o mas magnetometros. El penodo de calibracion puede determinarse en base a la salida de uno o mas magnetometros sin el campo magnetico de calibracion. El penodo de calibracion puede determinarse de acuerdo con una entrada recibida de un proceso de produccion.
Breve descripcion de los dibujos
A continuacion se describiran realizaciones de la invencion a modo de ejemplo solamente, con referencia a las figuras adjuntas, en las que:
La figura 1 es un esquema de un proceso de produccion de metales o "laminado en caliente";
La figura 2 es una ilustracion de un sensor electromagnetico de la tecnica anterior;
La Figura 3 es un grafico de ejemplo de la salida normalizada del sensor contra la fraccion de ferrita;
La figura 4 es una ilustracion de un sensor electromagnetico de acuerdo con una primera realizacion de la invencion;
La figura 5 es una ilustracion de un sensor electromagnetico de acuerdo con una segunda realizacion de la invencion;
La Figura 6 es un esquema de un sistema de acuerdo con una realizacion de la invencion;
La figura 7 es una ilustracion de fasores determinados en una pluralidad de frecuencias de senal;
La Figura 8 es un ejemplo de una salida de sensor de acuerdo con una realizacion de la invencion;
La Figura 9 es un aparato segun otra realizacion de la invencion; y
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La figura 10 es una ilustracion de fasores determinados a partir de una pluralidad de sensores segun realizaciones de la invencion.
Descripcion detallada de realizaciones de la invencion
Las realizaciones de la presente invencion estan destinadas a reducir los problemas asociados con el control de una evolucion de una microestructura de un objetivo de metal durante el procesamiento de la produccion del objetivo de metal. Un ejemplo de tal procesamiento puede ser en el caso de la produccion de acero en donde la laminacion en caliente del acero es seguida por enfriamiento controlado. Sin embargo, se comprendera que las realizaciones de la presente invencion no se limitan al uso con objetivos de acero y pueden utilizarse con una gama de metales, incluyendo objetivos metalicos ferrosos y no ferrosos. Los cambios en la microestructura del acero durante el enfriamiento controlado pueden deducirse mediante mediciones de las propiedades electromagneticas del material. Se describiran realizaciones de la invencion con referencia al procesamiento de acero. Sin embargo, se comprende que las realizaciones de la invencion tambien pueden ser utiles para monitorizar otros metales, particularmente metales ferrosos.
En la Figura 1 se muestra una vista general de una etapa de procesamiento de metales, a veces conocida como "laminado en caliente".
El acero 101 que se esta procesando se enrolla hasta una forma requerida y un tamano inicial con una o mas pasadas sucesivas a traves de uno o mas soportes 110 de laminacion. El proceso de produccion se instrumenta tipicamente con uno o mas sensores 120 para medir espesor, anchura, forma etc., y la temperatura del acero. Cuando el producto de acero abandona el ultimo soporte 110 de laminacion, la estructura del acero es usualmente una fase de austenita cubica centrada en la cara de alta temperatura.
A medida que el acero se enfna, a menudo en un proceso de enfriamiento acelerado con refrigerantes de aire, agua o aceite que pueden aplicarse al acero a traves de una o varias salidas 125 situadas en una zona de refrigeracion controlada, el acero se transforma en una estructura que consiste de la fase de ferrita cubica centrada en cuerpo y carburo, usualmente cementita (Fe3C), dependiendo la morfologfa de este ultimo de la velocidad de enfriamiento y la composicion. Aumentar la velocidad de enfriamiento o el contenido de aleacion hace que la transformacion ocurra a temperaturas mas bajas, dando una dispersion de carburo mas fina y, por lo tanto, un producto mas fuerte. Al alterar las microestructuras finales, se puede producir una amplia gama de resistencias en el producto metalico a partir de estructuras muy fernticas de muy bajo contenido de carbono, con resistencias a la traccion de aproximadamente 200 N/mm2 hasta aceros de alta resistencia con una resistencia a la traccion superior a 1000 N/mm2. Estos tienen contenidos de carbono mas altos con microestructuras que consisten en mezclas de ferrita, perlita, bainita, martensita y, en algunos casos, conocidos como aceros TRIP, austenita que por aleacion adecuada se ha estabilizado a temperaturas hasta ambientales. El proceso de enfriamiento es a menudo monitorizado y controlado por uno o mas sensores 140 de temperatura, tales como pirometros opticos, que pueden estar posicionados antes y/o despues y ocasionalmente en zonas especiales en el medio de las salidas 125.
Sena util monitorizar la estructura del acero durante el proceso de enfriamiento, tal como por sensores dentro de la zona de enfriamiento controlada.
Se han propuesto una serie de tecnicas para supervisar la microestructura de acero en lmea, es decir, en tiempo real, cada una con sus limitaciones. Los sensores opticos de temperatura se utilizan para implementar un control de realimentacion del enfriamiento, pero se ven afectados negativamente por las variaciones de la pulverizacion de agua y las irregularidades de la emisividad superficial. Ademas, la temperatura es solo un supuesto indicador de la microestructura y solo se mide la superficie del acero. Otros metodos posibles, como la difraccion de rayos X y el ultrasonido laser, se han demostrado en el laboratorio, pero no pueden desplegarse facilmente en la zona de enfriamiento con agua debido a los efectos del rociado de agua y la niebla.
Los intentos pasados de utilizar sensores electromagneticos para monitorizar la microestructura han sido limitados por:
1) la interferencia de otros parametros del proceso, tales como los efectos de la estructura metalica cercana y las variaciones en la elevacion (es decir, la distancia entre la cabeza del sensor y el material)
2) un rango de deteccion limitado, con la respuesta del sensor de nivelacion para las fracciones de fase fenitica por encima del contenido tfpicamente de ferrita del 30%. Esta es una limitacion seria ya que la industria esta interesada en controlar la transformacion en fracciones mucho mas altas.
3) la dificultad de conseguir que un sensor funcione a largo plazo en las condiciones hostiles encontradas en un laminador de acero caliente, especialmente con los efectos de la deriva termica debido a las temperaturas elevadas que tales sensores tendnan que soportar.
La figura 2 muestra una unidad de sensor de la tecnica anterior, designada generalmente con el numero de
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referencia 200, para detectar las propiedades electromagneticas de un objetivo 260 metalico.
^picamente, el objetivo 260 metalico puede estar moviendose rapidamente sobre una serie de rodillos y, por lo tanto, el acceso cercano al objetivo de metal esta restringido a un solo lado, con, por ejemplo, una unidad 200 de sensor situada entre un par de rodillos.
La unidad 200 de sensor puede contener un nucleo 210 magnetico, una fuente 220 de excitacion magnetica y uno o mas detectores 230, 240 magneticos. El nucleo 210 magnetico esta configurado para aplicar tanto de un campo 250 magnetico de interrogacion al objetivo 260 metalico como sea posible y, por consiguiente, se prefieren disenos basados en nucleos 210 en forma de U. La fuente 220 de excitacion puede ser un iman permanente o un electroiman. Los componentes 230, 240 de deteccion son magnetometros y se han descrito tanto bobinas de detector de induccion como sensor de sonda Hall. Los detectores 230, 240 magneticos estan montados en los polos del nucleo 210 magnetico.
Tambien se muestra en la Fig. 2 dos variaciones en el diseno basico del nucleo en U del sensor 200. La primera variacion muestra un polo 270 adicional y un magnetometro, que pueden anadirse para proporcionar una medida adicional del campo 250 magnetico. Las mediciones proporcionadas por el detector 270 magnetico adicional puede utilizarse para cancelar fuentes potenciales de error, tales como cambios causados por la variacion en la distancia entre la unidad 200 de sensor y el objetivo 260 metalico. Esta distancia se denomina a menudo elevacion. La segunda variacion es la combinacion de dos polos 280, 290 adicionales en una configuracion de espalda con espalda para realizar un sensor en forma de H.
Un primer aspecto de una realizacion de la invencion se refiere a un aparato y metodo para calibrar una unidad de sensor electromagnetico. En particular, el primer aspecto se refiere a un aparato y metodo para lograr una calibracion regular durante el funcionamiento de la unidad de sensor. La calibracion frecuente de la unidad de sensor es deseable debido al entorno de temperatura muy alta encontrado en operacion con cargas de calor radiante muy altas, tfpicamente ejercidas al menos en parte desde el objetivo de metal que esta siendo medido.
Algunas realizaciones de la invencion proporcionan un medio electronico de aplicacion de uno o mas niveles de calibracion de referencia a una unidad de sensor electromagnetico.
La figura 4 ilustra un aparato 400 de acuerdo con una primera realizacion de la invencion. El aparato es una unidad 400 de sensor electromagnetico para detectar una microestructura de un objetivo de metal.
La unidad 400 de sensor comprende un nucleo 410 magnetico, una o mas fuentes 420 de excitacion magnetica y uno o mas detectores 430 magneticos. El nucleo 410 magnetico esta configurado para aplicar un campo 440 magnetico de interrogacion generado por las fuentes 420 de excitacion, a un objetivo de metal (no mostrado). El nucleo 410 metalico puede tener forma de U, como se muestra en la figura 4, o puede configurarse como una forma diferente, tal como en forma de H. La fuente 420 de excitacion puede ser un iman permanente, un electroiman o una combinacion de los mismos. El detector 430 magnetico esta dispuesto para detectar un campo 440 magnetico y puede incluir una o mas bobinas de detector de induccion y/o sensores de sonda Hall. Tambien se preven otros magnetometros. En algunas realizaciones, la unidad 400 de sensor comprende dos detectores 430 magneticos, cada uno ajustado a un polo correspondiente del nucleo 410 magnetico. El nucleo 410 puede tener forma de U o forma de H (en forma de H incluye dos nucleos en forma de U dispuestos espalda-espalda). En algunas realizaciones, el nucleo puede tener forma de H y comprende una o mas bobinas 445 de deteccion de fondo. La unidad 400 de sensor comprende ademas una unidad 450 de calibracion para calibrar la unidad 400 de sensor.
La unidad 450 de calibracion comprende uno o mas circuitos de calibracion para generar un campo magnetico de calibracion que interactua con el campo 440 magnetico generado por una o mas fuentes 420 de excitacion para simular el efecto de un objetivo de metal que esta presente proximal al sensor 400 en algunas realizaciones de la invencion, el campo magnetico de calibracion se genera por las corrientes inducidas en el circuito de calibracion por el campo 440 magnetico de interrogacion. El circuito de calibracion puede comprender una bobina 451 de calibracion para aumentar la sensibilidad del circuito de calibracion al campo 440 magnetico, mientras que una bobina 451 de calibracion se muestra en la figura 4, se comprendera que la unidad 450 de calibracion puede comprender una pluralidad de bobinas 451 de calibracion.
La unidad 450 de calibracion puede comprender ademas un medio 452 de control o de conmutacion para controlar un funcionamiento de la bobina 451 de calibracion. Los medios 452 de control se muestran en la Figura 4 como un conmutador para activar selectivamente la bobina 451 de calibracion aplicando selectivamente la bobina inducida electrica a la bobina 451 de calibracion. Los medios de control pueden ser operados en respuesta a una senal de control de calibracion recibida, como se discutira. En otras realizaciones, los medios 452 de control pueden implementarse de otras maneras, tales como por una fuente de energfa controlable o generador de senal para generar y aplicar selectivamente una tension o senal a la bobina 451 de calibracion. Una impedancia 453 de referencia o resistencia puede estar prevista en el circuito con la bobina 451 de calibracion para limitar un flujo de corriente a traves de la bobina 451 de calibracion. Alternativamente, puede utilizarse una salida limitada de corriente de un generador de alimentacion o de senal. Aunque no se muestra en la figura 4, se puede incluir una fuente de
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potencia en la unidad 450 de calibracion para proporcionar una corriente o senal electrica para la bobina 451 de calibracion, que se aplica selectivamente a traves del conmutador 452.
Cada bobina 451 de calibracion puede estar situada alrededor de un polo del nucleo 410 magnetico para interactuar con una porcion del flujo 440 magnetico generado por la fuente 420 de excitacion que se aplicana al objetivo de metal.
Cuando el interruptor 452 esta cerrado, una corriente electrica es capaz de fluir alrededor del circuito de calibracion que contiene la bobina 451 de calibracion y la impedancia 453 de referencia. La unidad 450 de calibracion tiene un efecto sobre el sensor magnetico similar al flujo de las corrientes parasitas que se inducinan en el objetivo de metal por la fuente 420 de excitacion. Por consiguiente, la unidad 450 de calibracion puede proporcionar una entrada conocida a la unidad 400 de sensor que puede usarse para calibrar la unidad 400 de sensor. La unidad 450 de calibracion puede activarse manualmente, tal como por activacion del usuario del conmutador 452, o automaticamente es decir por el conmutador 452, fuente de alimentacion o generador de senal que es activado por una unidad de control, tal como un microprocesador o similar.
La figura 5 ilustra un aparato 500 de acuerdo con una realizacion adicional de la invencion. El aparato 500 comprende un sensor 410, 420, 430, 440, 445 electromagnetico como se ha descrito anteriormente con referencia a la figura 4 y se omitira una descripcion repetida de partes numeradas similares para mayor claridad. El aparato 500 incluye ademas una unidad 550 de calibracion que tiene una pluralidad de circuitos 551, 552, 553, 554 de calibracion. Cada circuito 551, 552, 553, 554 de calibracion puede considerarse cada uno como una unidad 450 de calibracion como se ha descrito anteriormente con referencia a la Figura 4, y se repetira la discusion de nuevo para mayor claridad. Como se ha expuesto anteriormente, cada circuito 551, 552, 553, 554 de calibracion puede incluir una o mas bobinas de calibracion.
Cada uno de los circuitos 551, 552, 553, 554 de calibracion puede controlarse individualmente para generar un campo magnetico correspondiente. Cada bobina de calibracion puede configurarse para operar dentro de una gama de frecuencias de calibracion respectiva diferente para calibrar la respuesta de la unidad 500 de sensor en cada intervalo de frecuencia. Una primera bobina 551 de calibracion puede estar configurada para operar dentro de una primera gama de frecuencias de calibracion, que es un intervalo de frecuencias relativamente bajas. La configuracion puede incluir proporcionar la primera bobina 551 de calibracion con una o relativamente pocas vueltas. De manera similar, la impedancia de referencia asociada con la primera bobina 551 de calibracion puede ser relativamente baja. Una cuarta bobina 554 de calibracion puede estar configurada para operar dentro de una cuarta gama de frecuencias, que es una gama de frecuencias de calibracion relativamente alta. La configuracion puede incluir proporcionar la cuarta bobina 554 de calibracion con un numero relativamente grande de vueltas. Las segunda y tercera bobinas 552, 553 de calibracion pueden estar configuradas para operar dentro de la segunda y tercera gamas respectivas de frecuencias de calibracion, que pueden estar separadas por igual o desigualmente entre la primera y la cuarta gamas de frecuencias de calibracion. Aunque se muestra la segunda realizacion con cuatro circuitos 551, 552, 553, 554 de calibracion, se comprendera que pueden proporcionarse mas o menos circuitos de calibracion.
La figura 6 ilustra un sistema 600 de acuerdo con una realizacion de la invencion. El sistema 600 esta dispuesto para detectar la microestructura de un objetivo de metal, tal como el acero que se forma en un proceso de produccion, tal como un laminado en caliente.
El sistema 600 comprende una unidad 400 de sensor electromagnetico como se muestra en la Figura 4 y una unidad 600 de control. Tambien pueden preverse las realizaciones del sistema 600 que incluyen la unidad 500 de sensor de la Figura 5. En cuyo caso, la unidad 600 de control puede tener una pluralidad, tal como cuatro, senales de control de calibracion de diferente frecuencia proporcionadas a las cuatro bobinas de calibracion.
La unidad 600 de control comprende una unidad 610 de senal para generar senales de excitacion y de control y recibir senales de deteccion para/desde la unidad 400 de sensor, respectivamente. En particular, la unidad 610 de senal puede emitir una o mas senales de excitacion a la bobina 420 de excitacion de la unidad 400 de sensor y puede recibir senales de deteccion de una o mas bobinas 430 de deteccion de la unidad 400 de sensor (la realizacion mostrada en la Figura 6 comprende una senal de excitacion proporcionada a una bobina 420 de excitacion y dos bobinas 430 de deteccion, aunque se pueden prever otros numeros de bobinas de excitacion y bobinas de deteccion). La unidad 610 de senal esta dispuesta ademas para enviar una senal de control de calibracion a la unidad 450 de calibracion para ser recibida por los medios 452 de control para controlar el funcionamiento del circuito de calibracion. La unidad 600 de control puede comprender ademas una unidad 620 de procesamiento de senales para procesar senales de deteccion recibidas de la unidad 400 de sensor, como se explicara.
Para calibrar la unidad 400 de sensor, la unidad 600 de control genera una senal de excitacion para la bobina 420 de excitacion de la unidad 400 de sensor. La senal de excitacion puede ser una forma de onda variable en el tiempo, tal como una forma de onda sinusoidal o cosinusoidal. La senal de excitacion puede comprender formas de onda sumadas entre sf para formar una forma de onda de multiples frecuencias. Un circuito accionador, aunque no se
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muestra en la figura 6, puede estar dispuesto entre la salida de la unidad 610 de senal y una o mas bobinas 420 de excitacion. La unidad 600 de control tambien genera una senal de control de calibracion para la unidad 450 de calibration. El control de calibracion de la senal puede controlar el conmutador 452, de manera que se forme selectivamente un circuito que incluya la bobina 451 de calibracion, o pueda generar directamente una senal de calibracion aplicada a la bobina de calibracion, tal como una senal que tiene una frecuencia f. Como resultado, se genera un campo magnetico de calibracion. El campo de calibracion modifica efectivamente el flujo magnetico generado por la bobina 420 de excitacion para producir un efecto conocido sobre el sensor 400, que es similar al del objetivo de metal. El campo de calibracion imita un flujo de corrientes parasitas que se inducirian en el objetivo de metal por la senal de excitacion. La unidad 600 de control esta dispuesta ademas para recibir una o mas senales de detector de las bobinas 430 de detection. La unidad 610 de senal puede digitalizar cada una de las senales recibidas y comunicar information indicativa de las senales recibidas y de la senal de excitacion generada a la unidad 620 de procesamiento de senales.
Basandose en la informacion recibida de la unidad 610 de senal, la unidad 620 de procesamiento de senales convierte las senales digitalizadas en equivalentes fasores utilizando tecnicas de conversion hacia abajo como se apreciara, por ejemplo a partir de las referencias citadas. La unidad 620 de procesamiento de senales esta dispuesta para determinar el cambio de impedancia en el sensor 500 electromagnetico resultante del objetivo de metal o del campo de calibracion, como apreciaran los expertos en la tecnica. El cambio de impedancia se determina teniendo componentes reales e imaginarios, es decir, como componentes de cuadratura y de fase, como se muestra en la figura 7. Estos pueden ser determinados por la unidad 620 de procesamiento de senales que compara las formas de onda de tension de salida de la bobina 420 de excitacion y de la bobina 430 de deteccion. Esto puede realizarse en cada una de una pluralidad de frecuencias de interes, particularmente para obtener un perfil dependiente de la profundidad, ya que las senales de mayor frecuencia penetran mas profundamente en el objetivo del metal. La impedancia compleja en cada frecuencia puede ser calculada por la unidad de procesamiento de senales aplicando Transformada de Fourier Rapida (FFT) a las formas de onda de voltaje y corriente para obtener la fase y la magnitud de las senales respectivas en cada frecuencia separada. Un ejemplo de mediciones multifrecuencia se muestra en la Figura 7 para un objetivo de metal no magnetico y pueden obtenerse mediciones de multifrecuencia similares con la aplicacion de la disposition de bobina 450 de calibracion, mostrada en la Figura 4.
Para calibrar el sensor 400 electromagnetico, la unidad 620 de procesamiento de senales esta dispuesta para determinar un gradiente o sensibilidad del sensor 620 electromagnetico a la salida de la unidad 450, 550 de calibracion en una o mas frecuencias de interes restando una respuesta de una o mas bobinas 430 detectoras en ausencia de un objetivo de metal o salida de la unidad 450 de calibracion (un nivel de fondo) a partir de una respuesta de las bobinas 430 detectoras en ausencia de un objetivo de metal pero con la unidad 450, 550 de calibracion generando una senal de calibracion conocida.
El funcionamiento de la unidad de calibracion se puede describir como sigue. Aqm se utiliza la notation fasorial compleja para describir la respuesta del sensor. Sea Z0fn la salida de impedancia compleja del sensor cuando no esta presente un objetivo de metal y el circuito de calibracion no esta activado a la frecuencia fn y ZCfn es la salida de impedancia compleja del sensor cuando no hay objetivo de metal y la bobina de calibracion esta activada, a la frecuencia fn, y Zfn es la salida de impedancia compleja del sensor cuando el objetivo de metal esta presente y la bobina de calibracion no esta activada, a la frecuencia fn. La salida normalizada y calibrada del sensor, NNfn se puede calcular de la siguiente manera:
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^ fn ^ Ofn
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^Cfn ^Ofn
Finalmente, la salida del sensor calibrado ZAfn a la frecuencia fn puede calcularse adicionalmente como
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en donde k es un factor de escala complejo que relaciona la respuesta del circuito de calibracion a la frecuencia fn con la respuesta ideal a esta frecuencia.
Algunas realizaciones de la invention explotan un intervalo de tiempo entre objetivos de metal, es decir, cuando ningun objetivo de metal esta proximal al sensor electromagnetico, para calibrar el sensor electromagnetico. El intervalo de tiempo, tfpicamente unos pocos segundos o mas, que se produce en los procesos de production de metales, tales como molinos calientes, entre operaciones de lamination sobre cada planchon, lupia o tocho metalicos al producto final tal como tira, placa, secciones medias, etc, como se muestra en la Fig. 8. La figura 8 ilustra un ejemplo de salida de un sensor 400, 500 electromagnetico, dispuesto para vigilar objetivos metalicos producidos a partir de un laminado en caliente. El numero de referencia 810 indica un nivel de salida cuando un objetivo de metal esta presente proximal al sensor 400, 500, mientras que 820 indica un nivel de salida cuando un objetivo de metal no es proximal al sensor, es decir, la unidad sensora esta situada entre objetivos metalicos sucesivos y su salida es relativamente baja. Se ha observado que un intervalo 820 de tiempo entre objetivos de
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metal puede, en algunas realizaciones, presentar una oportunidad para aplicar una o mas condiciones de entrada conocidas a una unidad de sensor para calibrar esa unidad de sensor. Un nivel 830 de umbral predeterminado puede ser utilizado por la unidad 600 de control para determinar cuando el objetivo de metal no es proximal al sensor.
Con el fin de calibrar el sensor 400, 500 se puede aplicar a la unidad 400, 500 de sensor, tanto cero (fondo) como un nivel de referencia predeterminado. El nivel de referencia cero se puede obtener directamente durante el intervalo de tiempo entre operaciones de laminacion cuando no hay material presente, es decir, sin salida de la bobina de calibracion. El nivel de referencia predeterminado corresponde a una salida de una o mas bobinas de calibracion. En la tecnica anterior, esto se ha conseguido colocando una muestra de referencia de material con propiedades electromagneticas conocidas proximas a la unidad de sensor. Sin embargo, esto es diffcil o inconveniente de conseguir en un corto penodo de tiempo y/o sobre una base regular, tal como entre los objetivos metalicos que se producen por un laminado en caliente.
La figura 9 ilustra un aparato 900 de acuerdo con una realizacion adicional de la invencion. El aparato 900 esta dispuesto para determinar un perfil dependiente del tiempo de las propiedades electromagneticas de un objetivo 950 metalico. En particular, el aparato 900 puede utilizarse para determinar o para supervisar la evolucion de las propiedades electromagneticas del objetivo 950 metalico a medida que se enfna despues de un proceso de produccion en caliente, tal como laminacion en caliente.
El aparato 900 incluye una pluralidad de sensores 911, 912, 913... 91n electromagneticos. Cada sensor 911, 912, 913 ... 91n electromagnetico puede ser como se describio anteriormente con referencia a la figura 4 o 5. Sin embargo, se apreciara que cada sensor 911, 912, 913... 91n electromagnetico puede no comprender una unidad 450, 550 de calibracion. Es decir, algunas realizaciones de la invencion incluyen sensores electromagneticos que no comprenden una unidad o circuito de calibracion, aunque se comprendera que pueden preverse realizaciones que lo hagan.
El sistema 900 comprende ademas una pluralidad de unidades 921, 922, 923, 92n de control, cada una asociada con un respectivo sensor 911, 912, 913... 91n electromagnetico para determinar una respuesta de fase del respectivo sensor electromagnetico 913...91n al blanco del metal. Las unidades de control pueden formarse individualmente, es decir, dispuestas separadamente para proporcionar una salida a un sistema de monitorizacion, o pueden estar dispuestas como se muestra en la Figura 9, donde cada unidad de control es una parte componente de un sistema 920 de control. Cuando se forman combinadas, como se muestra en la Figura 9, puede ser posible reducir un numero total de componentes mediante la reutilizacion de algunos subsistemas. Las unidades 921, 922, 923, 92n de control pueden ser como se muestra en y descritas con referencia a la figura 6. Sin embargo, cada unidad 921, 922, 923, 92n control puede no comprender una salida para controlar una unidad 450, 550 de calibracion. Cada unidad 921, 922, 923, 92n control puede comprender una o mas salidas de senal de excitacion y una o mas entradas de senal de detector para determinar la respuesta de fase del sensor electromagnetico cuando esta proximal al objetivo de metal. Cada unidad 921, 922, 923, 92n control esta dispuesta para determinar un cambio en la estructura del objetivo de metal que utiliza el respectivo sensor 911 electromagnetico, 912, 913 ... 91n.
Los sensores 911, 912, 913 ... 91n electromagneticos pueden estar dispuestos proximos a una trayectoria del objetivo de metal a traves de una o mas zonas de enfriamiento, como se ha explicado anteriormente. Las zonas de enfriamiento pueden incluir medios para enfriar de manera controlada el objetivo de metal. Los medios para enfriar de forma controlada el objetivo de metal pueden incluir uno o mas medios para aplicar un fluido al objetivo de metal, tal como aire u otros gases o lfquidos, tales como agua o aceite. A medida que se mueve el objetivo de metal en una direccion de laminacion (mostrada en la figura 10), pasa por un primer sensor 911 electromagnetico. Respondiendo a una senal de excitacion generada por la unidad 921 de control respectiva, se reciben una o mas senales de deteccion. La senal de excitacion puede incluir una pluralidad de componentes de frecuencia, como se indica en la figura 10, aunque la presencia de estos componentes de multiples frecuencias y su numero no es limitante. La primera unidad 921 de control esta dispuesta para determinar una respuesta de fase del sensor electromagnetico en cada frecuencia de la senal de excitacion. De manera similar, a medida que el objetivo de metal avanza mas alla de cada uno de los segundo, tercer y cuarto sensores 912, 913, 914 electromagneticos, la unidad de control respectiva esta dispuesta para determinar la respuesta del sensor en cada frecuencia de senal de excitacion y la respuesta de fase asociada, como se muestra en la Figura 10.
Puede observarse en la figura 10, aunque los diagramas de fase para cada sensor son meramente ilustrativos y no son a escala, que los cuatro fasores ilustrados se giran gradualmente en el sentido de las agujas del reloj indicando el desarrollo o evolucion de la estructura del objetivo de metal a medida se enfna. El sistema 920 de control puede por lo tanto determinar el desarrollo estructural del objetivo de metal en tiempo real. Basandose en la velocidad de desarrollo determinada, el sistema 920 de control puede estar dispuesto para emitir una senal 930 indicativa del desarrollo estructural a un controlador 940 de proceso dispuesto para controlar el proceso de produccion de metal. La senal puede indicar una desviacion del desarrollo estructural del objetivo de metal de una velocidad de desarrollo estructural predeterminada, de tal manera que el controlador 940 de proceso puede variar uno o mas parametros del proceso de produccion para optimizar el desarrollo estructural del objetivo de metal. Por ejemplo, si la senal 930 indica que la estructura del objetivo de metal se esta formando como resultado del enfriamiento mas rapido de lo
deseado, el controlador del proceso puede reducir la velocidad del flujo de fluido hacia el objetivo de metal, tal como reduciendo un caudal de agua desde los puntos 125 de salida descritos anteriormente. De esta manera, el enfriamiento del objetivo de metal puede ser retardado a una velocidad deseada. De esta manera, las cualidades resultantes del objetivo de metal pueden controlarse mediante monitorizacion en tiempo real de los cambios 5 estructurales del objetivo de metal.
Se apreciara a partir de la discusion anterior que algunas realizaciones de la invencion permiten la calibracion conveniente de sensores electromagneticos. En particular, en algunas realizaciones, la calibracion se puede llevar a cabo en un penodo determinado automaticamente entre objetivos metalicos. En algunas realizaciones, se utiliza un 10 conjunto de sensores electromagneticos para determinar la evolucion de una microestructura de un objetivo de metal. Mediante tal monitorizacion, pueden controlarse las propiedades del objetivo de metal.
Se apreciara que las realizaciones de la presente invencion pueden realizarse en forma de hardware, software o una combinacion de hardware y software. Cualquiera de dichos programas informaticos puede almacenarse en forma de 15 almacenamiento volatil o no volatil tal como, por ejemplo, un dispositivo de almacenamiento como una ROM, ya sea borrable o regrabable o no, o en forma de memoria tal como, por ejemplo, RAM, chips de memoria, dispositivos o circuitos integrados o sobre un medio opticamente o magneticamente legible tal como, por ejemplo, un CD, DVD, disco magnetico o cinta magnetica. Se apreciara que los dispositivos de almacenamiento y medios de almacenamiento son realizaciones de almacenamiento legible por maquina que son adecuadas para almacenar un 20 programa o programas que, cuando se ejecutan, implementan realizaciones de la presente invencion. Por consiguiente, las realizaciones proporcionan un programa que comprende un codigo para implementar un sistema o metodo segun cualquier reivindicacion precedente y un almacenamiento legible por la maquina que almacena dicho programa. Aun mas, las realizaciones de la presente invencion pueden ser transportadas electronicamente a traves de cualquier medio tal como una senal de comunicacion transportada sobre una conexion cableada o inalambrica y 25 las realizaciones abarcan adecuadamente la misma.

Claims (15)

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    REIVINDICACIONES
    1. Un sensor (400) electromagnetico para detectar una microestructura de un objetivo de metal, que comprende: un dispositivo (410, 420) magnetico para proporcionar un campo magnetico de excitacion;
    un magnetometro (430) para detectar un campo magnetico resultante inducido en un objetivo de metal; y
    un circuito (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion para generar un campo magnetico de calibracion para calibrar el sensor electromagnetico, en donde el campo magnetico de calibracion es generado por una corriente electrica inducida en el circuito de calibracion por el campo magnetico de excitacion.
  2. 2. El sensor electromagnetico de la reivindicacion 1, que comprende: una pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion; o
    una pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion en donde cada uno de la pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion esta dispuesto para generar el campo magnetico de calibracion en una gama de frecuencias respectiva; o
    una pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion en donde el circuito de calibracion o cada uno de la pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion comprende una respectiva impedancia (453); o
    una pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion en donde el circuito de calibracion o uno o mas de la pluralidad de circuitos (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion comprende una bobina (451) de calibracion.
  3. 3. El sensor electromagnetico de cualquier reivindicacion precedente que comprende un dispositivo (452) de control para controlar selectivamente la generacion del campo magnetico de calibracion.
  4. 4. El sensor electromagnetico de cualquier reivindicacion precedente, en donde el magnetometro (430) es una bobina detectora de induccion o un sensor de Hall.
  5. 5. El sensor electromagnetico de cualquier reivindicacion precedente que comprende: un nucleo (410) magnetico; o
    un nucleo (410) magnetico en donde el nucleo (410) magnetico tiene forma de U o forma de H.
  6. 6. El sensor electromagnetico de la reivindicacion 5, en donde el magnetometro (430) esta dispuesto proximal a un polo del nucleo (410); o en donde el magnetometro (430) esta dispuesto proximal a un polo del nucleo (410) y el dispositivo magnetico comprende una o mas bobinas de excitacion; o en donde el dispositivo magnetico comprende una o mas bobinas de excitacion.
  7. 7. El sensor electromagnetico de cualquier reivindicacion precedente, que comprende:
    una unidad (600, 610) de control dispuesta para determinar un periodo (820) de calibracion y para activar selectivamente el circuito de calibracion durante el periodo de calibracion; o
    una unidad (600, 610) de control dispuesta para determinar un periodo (820) de calibracion y para activar selectivamente el circuito de calibracion durante el periodo de calibracion, en la que la unidad (600, 610) de control esta dispuesta para determinar el periodo (820) de calibracion basado en una senal de deteccion emitida desde el magnetometro (430).
  8. 8. El sensor electromagnetico de la reivindicacion 7, en donde la unidad (600, 610) de control esta dispuesta para determinar el penodo de calibracion basado en la senal de deteccion emitida desde el magnetometro (430) y un nivel de referencia predeterminado; o en donde la unidad (600, 610) de control comprende una entrada para recibir una senal de un aparato de produccion indicativo de un periodo (820) entre objetivos metalicos, en donde la unidad de control esta dispuesta para determinar el penodo de calibracion con base en el mismo.
  9. 9. El sensor electromagnetico de cualquiera de las reivindicaciones 7 u 8, en donde la unidad (600, 610) de control esta dispuesta para controlar selectivamente una pluralidad de circuitos (420, 430, 440, 450) de calibracion.
  10. 10. El sensor electromagnetico de la reivindicacion 9, en donde la unidad (600, 610) de control esta dispuesta para hacer que cada uno de la pluralidad de circuitos (420, 430, 440, 450) de calibracion emita una frecuencia respectiva.
  11. 11. Un metodo para calibrar un sensor electromagnetico para detectar una microestructura de un objetivo de metal,
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    que comprende:
    proporcionar un campo magnetico de excitacion;
    hacer que un circuito (450, 551, 552, 553, 554) de calibracion emita un campo magnetico de calibracion en donde el campo magnetico de calibracion es generado por una corriente electrica inducida en el circuito de calibracion por el campo magnetico de excitacion;
    recibir un campo magnetico resultante en uno o mas magnetometros (430); y
    determinar una calibracion del sensor electromagnetico basado en el campo magnetico resultante.
  12. 12. El metodo de la reivindicacion 11, en donde el campo magnetico de excitacion incluye una forma de onda de multiples frecuencias.
  13. 13. El metodo de la reivindicacion 11 o 12, que comprende generar una pluralidad de circuitos (551, 552, 553, 554) de calibracion para emitir cada uno un campo magnetico de calibracion en un rango de frecuencia respectivo y que determina la calibracion del sensor magnetico en cada uno de los rangos de frecuencia.
  14. 14. El metodo de cualquiera de las reivindicaciones 11, 12 o 13, que comprende:
    determinar una diferencia de fase entre el campo magnetico de excitacion y el campo magnetico resultante; o
    determinar una diferencia de fase entre el campo magnetico de excitacion y el campo magnetico resultante y determinar un periodo (820) de calibracion y causar que el circuito de calibracion genere el campo magnetico de calibracion durante el periodo de calibracion; o
    determinar un periodo (820) de calibracion y hacer que el circuito de calibracion genere el campo magnetico de calibracion durante el periodo de calibracion.
  15. 15. El metodo de la reivindicacion 14, en donde el periodo (820) de calibracion es: un periodo entre objetivos metalicos; o
    se determina de acuerdo con una salida del uno o mas magnetometros; o
    se determina en base a la salida del uno o mas magnetometros (430) ausentes del campo magnetico de calibracion; o
    se determina de acuerdo con una entrada recibida de un proceso de produccion.
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