JPS5920114B2 - 透磁率測定装置 - Google Patents
透磁率測定装置Info
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- JPS5920114B2 JPS5920114B2 JP6326379A JP6326379A JPS5920114B2 JP S5920114 B2 JPS5920114 B2 JP S5920114B2 JP 6326379 A JP6326379 A JP 6326379A JP 6326379 A JP6326379 A JP 6326379A JP S5920114 B2 JPS5920114 B2 JP S5920114B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、透磁率測定装置に関するものである。
一般に、オーステナイト系ステンレス鋼は耐蝕性および
耐熱性が優れていることから、各種化学工業、石油工業
をはじめ、家庭器具、建築、電気機械、航空機、各種車
輛、船舶または原子炉関係などにその応用方面はきわめ
て広い。またオーステナイト系ステンレス鋼は非磁性で
あるため、各種電子計器、テレビの電子銃および時計部
品等にも使用されている。しかし、鉄鋼メーカやステン
レスメーカにおいて製造されるオーステナイト系ステン
レス鋼の代表的なものとして、低炭素鋼にクロム18%
iニッケル8%含有した18−8ステンレス鋼(例SU
S304)等は、オーステナイトの限界に近い組成で準
安定であるために、冷間加工により容易にマルテンサイ
トが生成したり、また組成バランスの関係からデルタ・
フェライトがじ、一部に強磁性の性質を示すものがある
。これらの強磁性相(デルタ・フエライト訃よびマルテ
ンサイト)の量は6オーステナイト系ステンレス鋼の透
磁率に非常に関係があり6製鋼メーカや部品メーカにお
いては.鋼材の誘磁率や成形後の部品の透磁率の測定を
行い.この値が規格値以上の場合には.強磁性相(デル
タ・フエライト訃よびマルテンサイト)を測定し、この
測定値に基づき6デルタ・フエライトが問題の場合はオ
ーステナイト安定化元素(Ni,C,N等)を増加した
り6製造工程の変更すなわち熱間圧延の前に高温に長時
間保持してデルタ・フエライトを分解する等を行い、ま
たマルテンサイトが問題の場合は、同様にオーステナイ
ト安定化元素を増加したり,製造工程の変更を行う。こ
のように,オーステナイト系ステンレス鋼の透磁率を測
定し.強磁性相(デルタ・フエライトおよびマルテンサ
イト)の量を制御することは極めて重要な問題である。
耐熱性が優れていることから、各種化学工業、石油工業
をはじめ、家庭器具、建築、電気機械、航空機、各種車
輛、船舶または原子炉関係などにその応用方面はきわめ
て広い。またオーステナイト系ステンレス鋼は非磁性で
あるため、各種電子計器、テレビの電子銃および時計部
品等にも使用されている。しかし、鉄鋼メーカやステン
レスメーカにおいて製造されるオーステナイト系ステン
レス鋼の代表的なものとして、低炭素鋼にクロム18%
iニッケル8%含有した18−8ステンレス鋼(例SU
S304)等は、オーステナイトの限界に近い組成で準
安定であるために、冷間加工により容易にマルテンサイ
トが生成したり、また組成バランスの関係からデルタ・
フェライトがじ、一部に強磁性の性質を示すものがある
。これらの強磁性相(デルタ・フエライト訃よびマルテ
ンサイト)の量は6オーステナイト系ステンレス鋼の透
磁率に非常に関係があり6製鋼メーカや部品メーカにお
いては.鋼材の誘磁率や成形後の部品の透磁率の測定を
行い.この値が規格値以上の場合には.強磁性相(デル
タ・フエライト訃よびマルテンサイト)を測定し、この
測定値に基づき6デルタ・フエライトが問題の場合はオ
ーステナイト安定化元素(Ni,C,N等)を増加した
り6製造工程の変更すなわち熱間圧延の前に高温に長時
間保持してデルタ・フエライトを分解する等を行い、ま
たマルテンサイトが問題の場合は、同様にオーステナイ
ト安定化元素を増加したり,製造工程の変更を行う。こ
のように,オーステナイト系ステンレス鋼の透磁率を測
定し.強磁性相(デルタ・フエライトおよびマルテンサ
イト)の量を制御することは極めて重要な問題である。
そこで6この問題となる透磁率を測定する方法として、
第1図Aに示した磁気天秤法は.均一磁場に被測定物1
が吸引される力Fを天秤の錘り2(質量M)で釣合を取
り6の式から磁化率xを求めている。また第1図Bの電
磁誘導法は,コイル3(f)鉄心として被測定物1を入
れ、コイルを一定周波数で振動させると,このコイル3
に誘導される電圧V(t)より6被測定物1の磁化率は
6(但しKは定数)で求めることができる。
第1図Aに示した磁気天秤法は.均一磁場に被測定物1
が吸引される力Fを天秤の錘り2(質量M)で釣合を取
り6の式から磁化率xを求めている。また第1図Bの電
磁誘導法は,コイル3(f)鉄心として被測定物1を入
れ、コイルを一定周波数で振動させると,このコイル3
に誘導される電圧V(t)より6被測定物1の磁化率は
6(但しKは定数)で求めることができる。
更に6第1図Cの交流磁場中での電磁誘導法は1次コイ
ル4,5に交流電流を流し61次コイル4と2次コイル
4″の間に被測定物1を入れ,電圧計6で2コイル45
,5″に誘起される電圧を測定し,コイル5,5″のリ
アクタンスをL。、コイル4,4′のリアクタンスをL
,とすると,磁化率Xは、から求めることができる。
ル4,5に交流電流を流し61次コイル4と2次コイル
4″の間に被測定物1を入れ,電圧計6で2コイル45
,5″に誘起される電圧を測定し,コイル5,5″のリ
アクタンスをL。、コイル4,4′のリアクタンスをL
,とすると,磁化率Xは、から求めることができる。
以上に説明した方法では、いずれも被測定ステンレス鋼
から小片の被測定物1を切り出し,その被測定物の透磁
率を測定するので、切り出した小片を測定した透磁率の
値が規格値を満足していても、被測定物を切り出す位置
によつては6?KUステンレスの透磁率の最大値あるい
は平均値ではなく.不均一分布が問題になる場合6実用
性に乏しいという欠点があり6また現場での非破壊測定
が不可能で、迅速に測定出来ないために.非常に大きな
労力を要する。
から小片の被測定物1を切り出し,その被測定物の透磁
率を測定するので、切り出した小片を測定した透磁率の
値が規格値を満足していても、被測定物を切り出す位置
によつては6?KUステンレスの透磁率の最大値あるい
は平均値ではなく.不均一分布が問題になる場合6実用
性に乏しいという欠点があり6また現場での非破壊測定
が不可能で、迅速に測定出来ないために.非常に大きな
労力を要する。
実際上の問題として6非破壊測定するためには,任意の
形状を測定する場合に対して精度よく測定する必要がで
てくる。そこで.測定すべき範囲を最小限に限定し6測
定範囲以外の周囲の影響を受けないように配慮した。本
発明は6上記従来例の欠点を解消するために6差動変圧
器構成の検出器の出力信号を基準ベクトルの回転により
位相解析し6透過率に対応する電圧信号を表示すること
により,位相解析し、透磁率に対応する電圧信号を表示
することによりオーステナイト系ステンレス鋼の透磁率
を現場で非破壊にかつ迅速に測定することが容易で作業
性にすぐれ簡便に測定できる磁気誘導を応用した一点探
触子型の透磁率測定装置を提供することができる。
形状を測定する場合に対して精度よく測定する必要がで
てくる。そこで.測定すべき範囲を最小限に限定し6測
定範囲以外の周囲の影響を受けないように配慮した。本
発明は6上記従来例の欠点を解消するために6差動変圧
器構成の検出器の出力信号を基準ベクトルの回転により
位相解析し6透過率に対応する電圧信号を表示すること
により,位相解析し、透磁率に対応する電圧信号を表示
することによりオーステナイト系ステンレス鋼の透磁率
を現場で非破壊にかつ迅速に測定することが容易で作業
性にすぐれ簡便に測定できる磁気誘導を応用した一点探
触子型の透磁率測定装置を提供することができる。
本発明の構成は、所定の長さを有する強磁性体棒に励磁
コイルと検出コイルが取り巻かれた作動変圧器構成のプ
ローブ形コイルで励磁コイルを交流電流信号によつて励
磁し6検出コイル両端の電圧信号6すなわち励磁コイル
と検出コイルが取り巻いた強磁性体棒を被測定試料に探
触させた時に検出される被測定試料の透磁率と被測定試
料が導電性である事により発生する渦電流の影響による
情報に基づく電圧信号を差動変圧器出力電圧信号として
検出する検出器と6この検出器を被測定試料に探触させ
,磁気誘導によつて検出される前記検出器の出力電圧信
号が被測定試料の透磁率と被測定試料が導電性であるこ
とにより発生する渦電流の影響とによる情報に基づく電
圧信号のベクトル和で6該2つの情報に基づく電圧信号
は、各々位相と大きさに関連するベクトルであるため6
位相解析を行ない6直流変換することにより6被測定試
料の透磁率に応する直流電圧信号を得る処理装置と,前
記検出器の励磁コイルを励磁するための交流電流信号を
発生させる機能と,被測定試料が導電性であることによ
り発生する渦電流の影響を除去するために.前記処理装
置で行う位相解析用の基準ベクトル電圧信号を発生する
機能を有する基準信号発生装置と,前記被測定試料の透
磁率に応する直流電圧信号を得る前記処理装置の出力信
号を斜覚確認のために表示させる表示装置から成る。こ
の構成によれば.電磁気的にバランスのとれた差動変圧
器構成の検出器の一端を被測定試料に探触させると、こ
の検出器の励磁コイルによつて発生する交流磁界によつ
て,この検出器と被測定定試料とが磁気的に結合され,
被測定試料の透磁率と被測定試料の導電性であることに
よる渦電流の影響とによる情報により.本来の検出器の
バランスがくずれ、励磁コイルと検出コイルとの磁気誘
導作用によつて検出器には該2つの情報に基づく電圧信
号がベクトル加算された信号として現われ.処理装置に
よつてこの検出器の出力電圧信号は被測定試料の導電性
であることにより試料内に発生する渦電流の影響を基準
信号発生装置からの基準ベクトル電圧信号により位相解
析することによつて除去し、被測定試料の透過率に基づ
く情報成分のみを直流電圧変換し、この直流電圧信号を
視覚確認するために表示装置によつて表示することがで
きる。従つて、本発明を実施すれば、被測定試料に検出
器を一点探触することによつて被測定試料の透磁率を非
破壊で、迅速にしかも作業性にすぐれ、簡便に測定する
ことが可能になる。以下.図面によリ実施例を詳細Vc
説明する。第2図は,本発明の原理を示したもので.7
は1本の強磁性体棒に励磁コイルと検出コイルが巻かれ
た差動変圧器構成のプローブ形検出コイルを有する検出
器であり.励磁コイルを交流電流信号によつて励磁し,
検出コイルの両端の電圧信号は励磁コイルと検出コイル
が取り巻いた強磁性体棒を被測定試料に探触させた時に
検出される被測定試料の透磁率と被測定試料が導電性で
ある事により発生する渦電流の影響とによる情報に基づ
く電圧信号を差動変圧器出ガ電圧信号として検出する。
8は検出器rで検出された2つの情報に基づく電圧信号
が各々位相と大きさに関連するベクトルであるため6そ
の位相解析を行い.直流変換して被測定試料の透磁率に
応じた直流信号を出力する処理回路,9は検出器7の励
磁コイルを励磁する交流電流信号と.被測定試料が導電
性であることにより発生する渦電流の影響を除去するた
めに6処理装置8へ送る解析用基準ベクトル電圧信号と
を発生する基準信号発生装置610は処理装置8からの
被測定試料1の透磁率に応じた直流出力電圧を,視覚確
認のために表示させる表示器である。
コイルと検出コイルが取り巻かれた作動変圧器構成のプ
ローブ形コイルで励磁コイルを交流電流信号によつて励
磁し6検出コイル両端の電圧信号6すなわち励磁コイル
と検出コイルが取り巻いた強磁性体棒を被測定試料に探
触させた時に検出される被測定試料の透磁率と被測定試
料が導電性である事により発生する渦電流の影響による
情報に基づく電圧信号を差動変圧器出力電圧信号として
検出する検出器と6この検出器を被測定試料に探触させ
,磁気誘導によつて検出される前記検出器の出力電圧信
号が被測定試料の透磁率と被測定試料が導電性であるこ
とにより発生する渦電流の影響とによる情報に基づく電
圧信号のベクトル和で6該2つの情報に基づく電圧信号
は、各々位相と大きさに関連するベクトルであるため6
位相解析を行ない6直流変換することにより6被測定試
料の透磁率に応する直流電圧信号を得る処理装置と,前
記検出器の励磁コイルを励磁するための交流電流信号を
発生させる機能と,被測定試料が導電性であることによ
り発生する渦電流の影響を除去するために.前記処理装
置で行う位相解析用の基準ベクトル電圧信号を発生する
機能を有する基準信号発生装置と,前記被測定試料の透
磁率に応する直流電圧信号を得る前記処理装置の出力信
号を斜覚確認のために表示させる表示装置から成る。こ
の構成によれば.電磁気的にバランスのとれた差動変圧
器構成の検出器の一端を被測定試料に探触させると、こ
の検出器の励磁コイルによつて発生する交流磁界によつ
て,この検出器と被測定定試料とが磁気的に結合され,
被測定試料の透磁率と被測定試料の導電性であることに
よる渦電流の影響とによる情報により.本来の検出器の
バランスがくずれ、励磁コイルと検出コイルとの磁気誘
導作用によつて検出器には該2つの情報に基づく電圧信
号がベクトル加算された信号として現われ.処理装置に
よつてこの検出器の出力電圧信号は被測定試料の導電性
であることにより試料内に発生する渦電流の影響を基準
信号発生装置からの基準ベクトル電圧信号により位相解
析することによつて除去し、被測定試料の透過率に基づ
く情報成分のみを直流電圧変換し、この直流電圧信号を
視覚確認するために表示装置によつて表示することがで
きる。従つて、本発明を実施すれば、被測定試料に検出
器を一点探触することによつて被測定試料の透磁率を非
破壊で、迅速にしかも作業性にすぐれ、簡便に測定する
ことが可能になる。以下.図面によリ実施例を詳細Vc
説明する。第2図は,本発明の原理を示したもので.7
は1本の強磁性体棒に励磁コイルと検出コイルが巻かれ
た差動変圧器構成のプローブ形検出コイルを有する検出
器であり.励磁コイルを交流電流信号によつて励磁し,
検出コイルの両端の電圧信号は励磁コイルと検出コイル
が取り巻いた強磁性体棒を被測定試料に探触させた時に
検出される被測定試料の透磁率と被測定試料が導電性で
ある事により発生する渦電流の影響とによる情報に基づ
く電圧信号を差動変圧器出ガ電圧信号として検出する。
8は検出器rで検出された2つの情報に基づく電圧信号
が各々位相と大きさに関連するベクトルであるため6そ
の位相解析を行い.直流変換して被測定試料の透磁率に
応じた直流信号を出力する処理回路,9は検出器7の励
磁コイルを励磁する交流電流信号と.被測定試料が導電
性であることにより発生する渦電流の影響を除去するた
めに6処理装置8へ送る解析用基準ベクトル電圧信号と
を発生する基準信号発生装置610は処理装置8からの
被測定試料1の透磁率に応じた直流出力電圧を,視覚確
認のために表示させる表示器である。
次に,本実施例の動作を説明する。まず.電磁的にバラ
ンスのとれた差動変圧器構成の検出器7の一端を被測定
試料117C接触させると6検出器7の励磁コイルで発
生する交流磁界によつて,この検出器7と被測定試料1
が電気的に結合され6この被測定試料1の透磁率と、こ
の被測定試料が導電性であることにより発生する渦電流
の情報とにより6この検出器7のバランスがくずれ,こ
の励磁コイルと検出コイルの磁気誘導作用によつて.こ
の検出器7にはこの2つの情報に基づく電圧信号がベク
トル的に加算された信号が生じる。この信号は処理装置
8に入力され、試料1内に発生する渦電流による情報は
基準信号発生装置9からの基準ベクトル電圧信号で位相
解析することによつて除去し,被測定試料の透磁率に基
づく情報成分のみを直流電圧に変換し.視覚確認のため
に,この直流電圧信号を表示装置10で表示する。本実
施例は以上のように構成したので.検出器を被測定試料
の一点に接触するだけで、この被測定試料の透磁率を非
破壊で迅速に6しかも簡便に測定することができる。次
に,処理装置8によつて被測定誘磁率に対応した電気信
号を得る手段を説明する。
ンスのとれた差動変圧器構成の検出器7の一端を被測定
試料117C接触させると6検出器7の励磁コイルで発
生する交流磁界によつて,この検出器7と被測定試料1
が電気的に結合され6この被測定試料1の透磁率と、こ
の被測定試料が導電性であることにより発生する渦電流
の情報とにより6この検出器7のバランスがくずれ,こ
の励磁コイルと検出コイルの磁気誘導作用によつて.こ
の検出器7にはこの2つの情報に基づく電圧信号がベク
トル的に加算された信号が生じる。この信号は処理装置
8に入力され、試料1内に発生する渦電流による情報は
基準信号発生装置9からの基準ベクトル電圧信号で位相
解析することによつて除去し,被測定試料の透磁率に基
づく情報成分のみを直流電圧に変換し.視覚確認のため
に,この直流電圧信号を表示装置10で表示する。本実
施例は以上のように構成したので.検出器を被測定試料
の一点に接触するだけで、この被測定試料の透磁率を非
破壊で迅速に6しかも簡便に測定することができる。次
に,処理装置8によつて被測定誘磁率に対応した電気信
号を得る手段を説明する。
まず.検出器7は,基準信号発生装置9からの正弦波交
流電流信号で励磁コイルが励磁されるが6被測定試料1
に検出器7を探触させた時の電気的等価回路は6第3図
に示したようになる。即ち61]は励磁電流6E0は検
出電圧6R,は励磁コイル抵抗6L3は励磁コイルの自
已インダクタンス,L5}よびL6は検出コイルの自己
インダクタンス.L4およびR2は被測定試料が導電性
であるために発生する渦電流効果による等価自己インダ
クタンスと等価抵抗,M,,M2,M3,M4,M5は
L3,L4,L5,L6間の相互インダクタンスである
。この等価回路から検出コイル7の両端の電圧E。は,
と表わすことができ,この式の第1項は6初?1定試料
が導電性であるために発生する渦電流効果による検出電
圧Ecであり、材料の抵抗率により変化する項で6第2
項は被測定試料の透磁率に基づく電圧Eμであり,励磁
コイルと検出コイルの相互インダクタンスの差(M,−
M,)が変化することによつて検出される。従つて6検
出コイル7の両端の電圧E。であり,励磁電流1,を基
準にベクトルで描けば、第4図に示したようになる。
流電流信号で励磁コイルが励磁されるが6被測定試料1
に検出器7を探触させた時の電気的等価回路は6第3図
に示したようになる。即ち61]は励磁電流6E0は検
出電圧6R,は励磁コイル抵抗6L3は励磁コイルの自
已インダクタンス,L5}よびL6は検出コイルの自己
インダクタンス.L4およびR2は被測定試料が導電性
であるために発生する渦電流効果による等価自己インダ
クタンスと等価抵抗,M,,M2,M3,M4,M5は
L3,L4,L5,L6間の相互インダクタンスである
。この等価回路から検出コイル7の両端の電圧E。は,
と表わすことができ,この式の第1項は6初?1定試料
が導電性であるために発生する渦電流効果による検出電
圧Ecであり、材料の抵抗率により変化する項で6第2
項は被測定試料の透磁率に基づく電圧Eμであり,励磁
コイルと検出コイルの相互インダクタンスの差(M,−
M,)が変化することによつて検出される。従つて6検
出コイル7の両端の電圧E。であり,励磁電流1,を基
準にベクトルで描けば、第4図に示したようになる。
また第4図に}いて.位相角φは、となり6また検出電
圧E。
圧E。
から被測定試料の透磁率に基づく検出電圧Eμを求める
ためには渦電流効果による検出電圧Ecを除去する必要
があり.本発明においては.第5図に基づいて実施して
いる。先ず透磁率μ=1の被測定試料に検出器7を採触
させると6検出電圧E。はEcとなるため.この電圧E
cと直角になるような線分EYを作り出し6この線分E
Yと検出電圧E。との位相角θとし.EX=EOcOs
θを計算する。ここで電圧Ecは前述のように6被測定
試料の抵抗率によつて決定されるから6同一材料の被測
定試料であれば、電圧Ecは一定となり、結局検出電圧
EμがEμmに増加した場合を考えれば.Eμ=K−E
′あるいはEμ,−K−Eμ:(Kは定数)が成立する
ため2EスあるいはE人,を測定すれば,?u定試料に
応する電圧信号が得られることは言うまでもない。次に
,第6図は、本発明の第1実施例を示したもので、検出
器7は強磁体棒11に励磁コイル12と検出コイル13
,14が巻かれた構成となつて}D6しかも,被測定物
の測定範囲を必要最小限の範囲に限定するために2強磁
性体棒の寸法を所定の長さに形成してある。
ためには渦電流効果による検出電圧Ecを除去する必要
があり.本発明においては.第5図に基づいて実施して
いる。先ず透磁率μ=1の被測定試料に検出器7を採触
させると6検出電圧E。はEcとなるため.この電圧E
cと直角になるような線分EYを作り出し6この線分E
Yと検出電圧E。との位相角θとし.EX=EOcOs
θを計算する。ここで電圧Ecは前述のように6被測定
試料の抵抗率によつて決定されるから6同一材料の被測
定試料であれば、電圧Ecは一定となり、結局検出電圧
EμがEμmに増加した場合を考えれば.Eμ=K−E
′あるいはEμ,−K−Eμ:(Kは定数)が成立する
ため2EスあるいはE人,を測定すれば,?u定試料に
応する電圧信号が得られることは言うまでもない。次に
,第6図は、本発明の第1実施例を示したもので、検出
器7は強磁体棒11に励磁コイル12と検出コイル13
,14が巻かれた構成となつて}D6しかも,被測定物
の測定範囲を必要最小限の範囲に限定するために2強磁
性体棒の寸法を所定の長さに形成してある。
なお,本実施例では、強磁性体棒の直径は3i1!で,
長さ10mmにした。また励磁コイル12は6基準信号
発生装置9から出力される正弦波交流電流信号によつて
励磁され.強磁性体棒11の内部にアンペアの右ネジの
法則に従つて交流磁界が発生する。この交流磁界は6検
出コイル13,14に相互誘導作用により起電力を発生
させる。この検出器7の検出コイル13の一端と検出コ
イル14の一端は接続されてアース電位であり6検出コ
イル13,14の他端を出力端としているため、全体と
すれば差動変圧器を構成していることになる。即ち、検
出コイル13に相互誘導作用により発生する電圧信号と
6検出コイル14に相互誘導作用により発生する電圧信
号の極性が互いに反対になるように2つの検出コイルが
巻かれている。従つて、検出器7は被測定試料1から遠
ざかつている場合は6バランスされている状態であるの
で.出力電圧信号は零であり、被測定試料1に探触する
と6被測定試料1の透磁率と.被測定試料1が導電性で
ある影響に基づいてバランスがくずれ6検出器7の出力
電圧信号は,被測定試料1の透磁率による信号と被測定
試料1が導電性であることにより発生する電圧信号とな
り,次段の処理装置8に入力される。この処理装置8は
,検出器7の出力電圧信号が微小であるため.任意の電
圧信号レベルまで電圧増幅する機能と、検出器7の検出
コイル13,14に相互誘導作用により発生する互いに
極性が反対の電圧信号を加算する機能を有する入力回路
15と,この入力回路15の出力電圧信号の内で被測定
試料1の透磁率に応する電圧信号のみを検出するための
位相検波回路16と6この位相検波回路16の出力電圧
信号を直流電圧信号に変換する低賊済波器17から構成
されている。以上に説明した本実施例の構成によれば,
検出器7の検出コイル13,14は2つの互いに極性の
反対の電圧信号を加算し,かつこの検出器7が被測定試
料に探触した場合の出力電圧信号が微小であるため6任
意の信号レベルまで電圧増幅する入力回路15の出力電
圧信号は6被測定試料の透磁率に応する電圧信号成分と
、被測定試料1が導電性であるために6この試料内に発
生する渦電流の影響に応する電圧信号成分が含まれるた
め6入力回路15の出力は位相検波回路16に入力され
た後、基準信号発生装置9からの同期信号により導電性
の影響に応する電圧信号成分が除去され,被測定試料1
の透磁率に応する電圧信号成分のみが検出されて出力さ
れる。
長さ10mmにした。また励磁コイル12は6基準信号
発生装置9から出力される正弦波交流電流信号によつて
励磁され.強磁性体棒11の内部にアンペアの右ネジの
法則に従つて交流磁界が発生する。この交流磁界は6検
出コイル13,14に相互誘導作用により起電力を発生
させる。この検出器7の検出コイル13の一端と検出コ
イル14の一端は接続されてアース電位であり6検出コ
イル13,14の他端を出力端としているため、全体と
すれば差動変圧器を構成していることになる。即ち、検
出コイル13に相互誘導作用により発生する電圧信号と
6検出コイル14に相互誘導作用により発生する電圧信
号の極性が互いに反対になるように2つの検出コイルが
巻かれている。従つて、検出器7は被測定試料1から遠
ざかつている場合は6バランスされている状態であるの
で.出力電圧信号は零であり、被測定試料1に探触する
と6被測定試料1の透磁率と.被測定試料1が導電性で
ある影響に基づいてバランスがくずれ6検出器7の出力
電圧信号は,被測定試料1の透磁率による信号と被測定
試料1が導電性であることにより発生する電圧信号とな
り,次段の処理装置8に入力される。この処理装置8は
,検出器7の出力電圧信号が微小であるため.任意の電
圧信号レベルまで電圧増幅する機能と、検出器7の検出
コイル13,14に相互誘導作用により発生する互いに
極性が反対の電圧信号を加算する機能を有する入力回路
15と,この入力回路15の出力電圧信号の内で被測定
試料1の透磁率に応する電圧信号のみを検出するための
位相検波回路16と6この位相検波回路16の出力電圧
信号を直流電圧信号に変換する低賊済波器17から構成
されている。以上に説明した本実施例の構成によれば,
検出器7の検出コイル13,14は2つの互いに極性の
反対の電圧信号を加算し,かつこの検出器7が被測定試
料に探触した場合の出力電圧信号が微小であるため6任
意の信号レベルまで電圧増幅する入力回路15の出力電
圧信号は6被測定試料の透磁率に応する電圧信号成分と
、被測定試料1が導電性であるために6この試料内に発
生する渦電流の影響に応する電圧信号成分が含まれるた
め6入力回路15の出力は位相検波回路16に入力され
た後、基準信号発生装置9からの同期信号により導電性
の影響に応する電圧信号成分が除去され,被測定試料1
の透磁率に応する電圧信号成分のみが検出されて出力さ
れる。
この位相検波回路16の出力電圧信号は6交流電圧信号
成分を含んでいるため、被測定試料1の透磁率に応する
直流電圧信号に変換され6表示装置10(例えばアナロ
グパネルメータ)を作動させるために低域淵波器17に
入力され、直流電圧信号が出力される。この入力回路1
5は抵抗18,19,206演増幅器21、コンデンサ
22から構成され6検出器1の検出コイル13,14の
2つの電圧信号を加算し、かつ電圧増幅する機能を有す
る。この検出器15の2本の出力電圧信号線の一方は、
抵抗18を介してオペアンプ21の反転入力端子に接続
され.他方は抵抗19を介して同様に演算増幅器21の
反転入力端子に接続され、演算増幅器21の反転入力端
子と出力端子間に接続される抵抗20と共に、増幅回路
を形成し,検出器7の出力電圧信号を増幅する。また検
出器7の2つの検出コイル13,14の互に極性が反対
の電圧信号は2演算増幅器21の非反転入力端子が接地
されているため,演算増幅器21の反転入力端子は6イ
マジナルシヨートの関係から常にアース電位にあり6抵
抗18,19の抵抗値を等しくすれば,抵抗20と共に
決定される。同じ増幅度によつて加算増幅される。な訃
,コンデンサ22は直流成分をカツトするためのコンデ
ンサである。次に6この入力回路15で加算増幅された
電圧信号ぱ,位相検波回路16のアナログスイツチ23
を介して演算増幅器24の非反転入力端子へ入力され,
またこの演算増幅器24の非反転入力端子とアース間に
抵抗25が接続されている。
成分を含んでいるため、被測定試料1の透磁率に応する
直流電圧信号に変換され6表示装置10(例えばアナロ
グパネルメータ)を作動させるために低域淵波器17に
入力され、直流電圧信号が出力される。この入力回路1
5は抵抗18,19,206演増幅器21、コンデンサ
22から構成され6検出器1の検出コイル13,14の
2つの電圧信号を加算し、かつ電圧増幅する機能を有す
る。この検出器15の2本の出力電圧信号線の一方は、
抵抗18を介してオペアンプ21の反転入力端子に接続
され.他方は抵抗19を介して同様に演算増幅器21の
反転入力端子に接続され、演算増幅器21の反転入力端
子と出力端子間に接続される抵抗20と共に、増幅回路
を形成し,検出器7の出力電圧信号を増幅する。また検
出器7の2つの検出コイル13,14の互に極性が反対
の電圧信号は2演算増幅器21の非反転入力端子が接地
されているため,演算増幅器21の反転入力端子は6イ
マジナルシヨートの関係から常にアース電位にあり6抵
抗18,19の抵抗値を等しくすれば,抵抗20と共に
決定される。同じ増幅度によつて加算増幅される。な訃
,コンデンサ22は直流成分をカツトするためのコンデ
ンサである。次に6この入力回路15で加算増幅された
電圧信号ぱ,位相検波回路16のアナログスイツチ23
を介して演算増幅器24の非反転入力端子へ入力され,
またこの演算増幅器24の非反転入力端子とアース間に
抵抗25が接続されている。
この位相検波回路16は被測定試料の透磁率に応じた電
気信号のみを出力する。この位相検波回路16の出力電
気信号は低域済波器17の抵抗26を介して演算増幅器
27の反転入力端子に入力され.またこの演算増幅器2
7の出力端子と反転入力端子の間にコンデンサ286抵
抗29が接続されている。この低域淵波器17は交流成
分を除去し6直流成分の電圧信号を表示装置10(例え
ばアナログパネルメータ)に入力することにより,被測
定試料の透磁率に応じた電圧信号を表示する。域相検波
回路16のアナログスイツチ23のコントロール端子に
印加する同期信号を発生させる機能と、検出器7の励磁
コイル12に印加する励磁信号を発生させる機能を有す
る基準信号発生装置9は6発振器30と移相器31から
構成される。この発振器30は正弦波発振回路32の正
弦波交流電圧信号(例えば周波数1KHz)を抵抗33
を介してオペアンプ34の反転入力端子に入力し.抵抗
35,36,37.コンデンサ38.抵抗39,40.
トランス41と共に構成される定電流回路によつて定電
流化され、検出器7の励磁コイル12の励磁電流信号と
なる。即ち検出器7の励磁コイル12のインピーダンス
は,検出器7を被測定試料1に探触させた場合や周囲温
度により変化した場合は感度補償する必要があるので,
定電回路構成をとる。定電流回路の抵抗36,37およ
びコンデンサ38は.演算増幅器34のオフセツト電流
によつて出力電圧の直流レベルが不安定となる現象を防
止する直流フイードバツク素子であり6またトランス4
1の巻数比をn:1とすれば.二次側の電圧は1/nと
なるが,n倍の電流を流すことが可能となる。また移相
器31は6発振器30の出力交流電圧信号の位相を変化
させるためのコンデンサ42および可変抵抗43と.こ
のコンデンサ42および可変抵抗43によつて位相の変
化した交流電圧信号を零電位と比較し.位相検波回路1
6のアナログスイツチ23のコントロール端子に印加す
る同期信号となる矩形波信号に変換する抵抗44とコン
パレータ45から成る。即ち6位相検波するための同期
信号の位相をコンデンサ42と可変抵抗43によつて決
定しているが6本実施例では6可変抵抗43の値を小さ
くする程進み位相となり、発振器30の出力交流電圧信
号に対して遅れ位相とする場合は6コンデンサ42と可
変抵抗43を入れ換えれば実現する。以上のように構成
された本実施例の処理装置8によつて、被測定試料の透
磁率に応じた直流電圧を得る動作を,第7図の各部の波
形によつて説明する。第7図において,第7図aは検出
器7の励磁コイルに印加する電圧波形、第7図bは入力
回路15の出力電圧波形.第7図cは移相器31のコン
パレータ45の非反転入力端子の電圧波形6第7図dは
移相器31の出力電圧波形.第7図eは位相検波回路1
6の出力電圧波形.第7図fは低域済波器17の出力直
流電圧である。ここで、検出器7が透磁率ほぼ1の被測
定試料に探触している場合、移相器31の可変抵抗43
の抵抗値を変えて6この移相器31の出力電圧信号(即
ち位相検波回路16のアナログスイツチ23のコントロ
ール端子に印加する電圧信号)に対して入力回路15の
出力電圧信号の位相が90度遅れるように調整する。
気信号のみを出力する。この位相検波回路16の出力電
気信号は低域済波器17の抵抗26を介して演算増幅器
27の反転入力端子に入力され.またこの演算増幅器2
7の出力端子と反転入力端子の間にコンデンサ286抵
抗29が接続されている。この低域淵波器17は交流成
分を除去し6直流成分の電圧信号を表示装置10(例え
ばアナログパネルメータ)に入力することにより,被測
定試料の透磁率に応じた電圧信号を表示する。域相検波
回路16のアナログスイツチ23のコントロール端子に
印加する同期信号を発生させる機能と、検出器7の励磁
コイル12に印加する励磁信号を発生させる機能を有す
る基準信号発生装置9は6発振器30と移相器31から
構成される。この発振器30は正弦波発振回路32の正
弦波交流電圧信号(例えば周波数1KHz)を抵抗33
を介してオペアンプ34の反転入力端子に入力し.抵抗
35,36,37.コンデンサ38.抵抗39,40.
トランス41と共に構成される定電流回路によつて定電
流化され、検出器7の励磁コイル12の励磁電流信号と
なる。即ち検出器7の励磁コイル12のインピーダンス
は,検出器7を被測定試料1に探触させた場合や周囲温
度により変化した場合は感度補償する必要があるので,
定電回路構成をとる。定電流回路の抵抗36,37およ
びコンデンサ38は.演算増幅器34のオフセツト電流
によつて出力電圧の直流レベルが不安定となる現象を防
止する直流フイードバツク素子であり6またトランス4
1の巻数比をn:1とすれば.二次側の電圧は1/nと
なるが,n倍の電流を流すことが可能となる。また移相
器31は6発振器30の出力交流電圧信号の位相を変化
させるためのコンデンサ42および可変抵抗43と.こ
のコンデンサ42および可変抵抗43によつて位相の変
化した交流電圧信号を零電位と比較し.位相検波回路1
6のアナログスイツチ23のコントロール端子に印加す
る同期信号となる矩形波信号に変換する抵抗44とコン
パレータ45から成る。即ち6位相検波するための同期
信号の位相をコンデンサ42と可変抵抗43によつて決
定しているが6本実施例では6可変抵抗43の値を小さ
くする程進み位相となり、発振器30の出力交流電圧信
号に対して遅れ位相とする場合は6コンデンサ42と可
変抵抗43を入れ換えれば実現する。以上のように構成
された本実施例の処理装置8によつて、被測定試料の透
磁率に応じた直流電圧を得る動作を,第7図の各部の波
形によつて説明する。第7図において,第7図aは検出
器7の励磁コイルに印加する電圧波形、第7図bは入力
回路15の出力電圧波形.第7図cは移相器31のコン
パレータ45の非反転入力端子の電圧波形6第7図dは
移相器31の出力電圧波形.第7図eは位相検波回路1
6の出力電圧波形.第7図fは低域済波器17の出力直
流電圧である。ここで、検出器7が透磁率ほぼ1の被測
定試料に探触している場合、移相器31の可変抵抗43
の抵抗値を変えて6この移相器31の出力電圧信号(即
ち位相検波回路16のアナログスイツチ23のコントロ
ール端子に印加する電圧信号)に対して入力回路15の
出力電圧信号の位相が90度遅れるように調整する。
この状態で透磁率が1以上の被測定試料に検出器7を探
触すると,本実施例各部の波形は第7図のようになり,
移相器31のコンパレータ45の入力電圧波形Ea=A
sin(t)tを矩形波に変換した信号を同期信号(第
7図a)とすれば、位相検波回路16の入力電圧波形(
第7図b)Ebは.Eb=Bsin(ωt一φ)となる
。従つて、位相器31の出力信号である同期信号を位相
検波回路16のアナログスイツチ23のコントロール端
子に印加すれば,位相検波回路16の出力は,第7図b
のような電圧波形となる。従つて第7図bの電圧波形の
斜線の部分の面積を述べれば6被測定試料が導電性であ
る影響による成分は除去され.被測定試料の透磁率に応
する電圧信号となるが6本実施例では6低域淵波器17
によつて斜線部分の面積を求めることになる。即ち第7
図BO電圧信号を0からπまで積分すれば.f′Bsi
n(ωt−φ)d(!)t=2Bc0sφとなり,振幅
Bと位相差φに応する直流電圧信号に変換される。第8
図は,本発明の第2実施例を示したもので6第6図と同
一符号のものは同一部分を示しているが.本実施例では
6強磁性相量に変換する変換器46を設け6実際の製鋼
メーカや部品加工メーカにおいて透磁率をチエツクしそ
の結果によつて製造工程の変更あるいは合金成分の変更
を実施する上に有効な実施例である。
触すると,本実施例各部の波形は第7図のようになり,
移相器31のコンパレータ45の入力電圧波形Ea=A
sin(t)tを矩形波に変換した信号を同期信号(第
7図a)とすれば、位相検波回路16の入力電圧波形(
第7図b)Ebは.Eb=Bsin(ωt一φ)となる
。従つて、位相器31の出力信号である同期信号を位相
検波回路16のアナログスイツチ23のコントロール端
子に印加すれば,位相検波回路16の出力は,第7図b
のような電圧波形となる。従つて第7図bの電圧波形の
斜線の部分の面積を述べれば6被測定試料が導電性であ
る影響による成分は除去され.被測定試料の透磁率に応
する電圧信号となるが6本実施例では6低域淵波器17
によつて斜線部分の面積を求めることになる。即ち第7
図BO電圧信号を0からπまで積分すれば.f′Bsi
n(ωt−φ)d(!)t=2Bc0sφとなり,振幅
Bと位相差φに応する直流電圧信号に変換される。第8
図は,本発明の第2実施例を示したもので6第6図と同
一符号のものは同一部分を示しているが.本実施例では
6強磁性相量に変換する変換器46を設け6実際の製鋼
メーカや部品加工メーカにおいて透磁率をチエツクしそ
の結果によつて製造工程の変更あるいは合金成分の変更
を実施する上に有効な実施例である。
この本実施例によれば、強磁性層はデルタ・フエライト
とマルテンサイトがあり6しかもそれらは溶接,加熱,
熱間力旺,冷間加工等の製造工程の影響を強く受け、種
々の形状6分布形態をとり.それに従つて透磁率との関
係が異なるため6先ず被測定試料の透磁率を測定し.次
に強磁性相の形状補正を実施し6強磁性相量に変換して
いる。また被測定試料の透磁率は.強磁性相の量と形状
およびその分布形態によつて変化するので.強磁性相の
形状が一定で.一様に分布している場合には6被測定試
料の透磁率と強磁性相量とは比例関係にある。しかし強
磁性相は鋳物.加熱,圧延.冷間加工,溶接等製造工程
によつて異なつた形状をとり,それによつて6第9図に
示したように、比例定数が変化するため本実施例は製造
工程に応じて強磁性相量の測定を可能にしたことを特徴
とする。また検出器7.入力回路15.位相検波回路1
6,低域淵波器17.発振器306移相器31}よび表
示装置10は、第1実施例と同様の構成ならびに動作を
行うが,検出器7の強磁性体棒11の直径3mm〜10
龍で6長さは5關〜20m1であり6周波数は1kHz
〜40kHzであり,また低域淵波器17の出力電圧信
号である被測定試料の透磁率に応する直流電圧信号は、
第9図の関係に基づいて変換器46に入力され強磁性相
量に変換され6出力される。この変換器46は抵抗47
,48,49,50,51,演算増幅器52訃よび切換
えスイツチ53から成り.電圧増幅器を構成する。この
演算増幅器52の反転入力端子に接続される抵抗48,
49,50,51は,切換えスイツチ53によつて切換
えられ6各々演算増幅器52の出力端に接続され.抵抗
47と共に決定される増幅度を変える。このように.本
実施例は,鋳物6加熱6圧延,冷間加工.溶接等の製造
工程によつて変わる透磁率と強磁性相量の関係を増幅度
を変ることによつて補正し,被測定試料の透磁率を測定
し、極磁性相量に変換している。以上説明したように,
本発明によれば.非破壊で被測定試料の透磁率が測定で
きるので.現場などで簡単に使用でき、迅速に6しかも
作業性にすぐれているという利点を有する。
とマルテンサイトがあり6しかもそれらは溶接,加熱,
熱間力旺,冷間加工等の製造工程の影響を強く受け、種
々の形状6分布形態をとり.それに従つて透磁率との関
係が異なるため6先ず被測定試料の透磁率を測定し.次
に強磁性相の形状補正を実施し6強磁性相量に変換して
いる。また被測定試料の透磁率は.強磁性相の量と形状
およびその分布形態によつて変化するので.強磁性相の
形状が一定で.一様に分布している場合には6被測定試
料の透磁率と強磁性相量とは比例関係にある。しかし強
磁性相は鋳物.加熱,圧延.冷間加工,溶接等製造工程
によつて異なつた形状をとり,それによつて6第9図に
示したように、比例定数が変化するため本実施例は製造
工程に応じて強磁性相量の測定を可能にしたことを特徴
とする。また検出器7.入力回路15.位相検波回路1
6,低域淵波器17.発振器306移相器31}よび表
示装置10は、第1実施例と同様の構成ならびに動作を
行うが,検出器7の強磁性体棒11の直径3mm〜10
龍で6長さは5關〜20m1であり6周波数は1kHz
〜40kHzであり,また低域淵波器17の出力電圧信
号である被測定試料の透磁率に応する直流電圧信号は、
第9図の関係に基づいて変換器46に入力され強磁性相
量に変換され6出力される。この変換器46は抵抗47
,48,49,50,51,演算増幅器52訃よび切換
えスイツチ53から成り.電圧増幅器を構成する。この
演算増幅器52の反転入力端子に接続される抵抗48,
49,50,51は,切換えスイツチ53によつて切換
えられ6各々演算増幅器52の出力端に接続され.抵抗
47と共に決定される増幅度を変える。このように.本
実施例は,鋳物6加熱6圧延,冷間加工.溶接等の製造
工程によつて変わる透磁率と強磁性相量の関係を増幅度
を変ることによつて補正し,被測定試料の透磁率を測定
し、極磁性相量に変換している。以上説明したように,
本発明によれば.非破壊で被測定試料の透磁率が測定で
きるので.現場などで簡単に使用でき、迅速に6しかも
作業性にすぐれているという利点を有する。
第1図は,従来の透磁率測定を示した図6第2図は6本
発明の原理を説明するプロツク図6第3図、第4図6第
5図は6第2図の動作説明図、第6図は,本発明の第1
実施例の回路図,第7図は6第6図の各部の波形図.第
8図は6本発明の第2実施例のプロツク図、第9図は6
製造工程における透磁率と強磁性相量の関係を示した図
である。 7・・・検出器68・・・処理回路69・・・基準信号
発生装置,10・・・表示装置。
発明の原理を説明するプロツク図6第3図、第4図6第
5図は6第2図の動作説明図、第6図は,本発明の第1
実施例の回路図,第7図は6第6図の各部の波形図.第
8図は6本発明の第2実施例のプロツク図、第9図は6
製造工程における透磁率と強磁性相量の関係を示した図
である。 7・・・検出器68・・・処理回路69・・・基準信号
発生装置,10・・・表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 1本の強磁性体棒の中心に巻かれた1つの励磁コイ
ルと該励磁コイルの両端に巻かれた2つの検出コイルか
ら成る差動変圧器構成のプローブ形コイルを有し、その
プローブ形コイルの一端を被測定試料に接触させること
により被測定試料の透磁率と導電性の影響を電気信号と
して検出する検出器と、該検出器の出力信号を位相解析
して前記被測定試料の透磁率に基づく電気信号のみを取
り出して直流変換する処理装置と、前記検出器の励磁コ
イルを励磁する単一の励磁信号と位相解析用の基準ベク
トル信号を発生する基準信号発生装置と、前記被測定試
料の透磁率に基づく直流信号を表示する表示装置から成
ることを特徴とする透磁率測定装置。 2 被測定試料の誘磁率と導電性の影響を差動変圧器構
成のプローブ形コイルで電気信号として検出する検出器
と、該検出器の出力信号を位相解析して前記被測定試料
の透磁率に基づく電気信号のみを取り出し直流変換する
処理装置と、該処理装置の被測定試料の透磁率に基づく
直流信号を被測定体の機能に応じて比例定数を設定し、
強磁性相量に変換する変換器と、前記検出器を励磁する
単一の励磁信号と位相解析用の基準ベクトル信号を発生
する基準信号発生装置と、被測定試料の強磁性相量に基
づく直流信号を表示する表示装置とから成ることを特徴
とする透磁率測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6326379A JPS5920114B2 (ja) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | 透磁率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6326379A JPS5920114B2 (ja) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | 透磁率測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS55155265A JPS55155265A (en) | 1980-12-03 |
JPS5920114B2 true JPS5920114B2 (ja) | 1984-05-10 |
Family
ID=13224214
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6326379A Expired JPS5920114B2 (ja) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | 透磁率測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5920114B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4433772A1 (de) * | 1994-09-22 | 1996-03-28 | Micro Epsilon Messtechnik | Sensoranordnung und Verfahren zur Meßwerterfassung mit der Sensoranordnung |
GB2481482B (en) * | 2011-04-27 | 2012-06-20 | Univ Manchester | Improvements in sensors |
-
1979
- 1979-05-24 JP JP6326379A patent/JPS5920114B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS55155265A (en) | 1980-12-03 |
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