JPH04233451A - 残留オーステナイト量測定装置 - Google Patents

残留オーステナイト量測定装置

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JPH04233451A
JPH04233451A JP41680890A JP41680890A JPH04233451A JP H04233451 A JPH04233451 A JP H04233451A JP 41680890 A JP41680890 A JP 41680890A JP 41680890 A JP41680890 A JP 41680890A JP H04233451 A JPH04233451 A JP H04233451A
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JP
Japan
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probe
sample
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signal
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Application number
JP41680890A
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English (en)
Inventor
Yoshinobu Motokura
義信 本蔵
Hideki Fujii
秀樹 藤井
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Aichi Steel Corp
Original Assignee
Aichi Steel Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0010】
【産業上の利用分野】本発明は、焼入鋼等の残留オース
テナイト量を測定する装置に関する。
【0020】
【従来の技術】構造用鋼等の特殊鋼は焼入・焼もどしと
いう熱処理を施して始めてその本来の性能を発揮する。 従って、特殊鋼の本来の特性を発揮させるためには、焼
入処理を正しく行なう必要がある。焼入は、鋼をそのA
3変態点以上に加熱してオーステナイト相とした後、急
速に冷却することにより、中間組織や平衡組織を生じさ
せることなくマルテンサイトに変態させるという操作で
ある。このとき、合金成分量や加熱温度が適切でないと
、高温相であるオーステナイトが冷却時に変態せずに残
存し、常温でほぼ安定に存在する場合がある。このよう
な準安定オーステナイトを残留オーステナイトと呼ぶが
、この残留オーステナイトの量が多くなると、熱処理後
の鋼に対して強度や靱性を低下させる等の悪影響を及ぼ
す。従って、鋼材の強度・靱性等が重要視される場合に
は、熱処理後の残留オーステナイト量を正確に測定し、
熱処理条件等を適切に管理することが必要となる。
【0030】
【発明が解決しようとする課題】従来、鋼の残留オース
テナイト量を測定するには、B−Hトレーサを用いる磁
化法やX線法等が用いられていた。しかし、これらはい
ずれも実際上数mm角程度の小さな試料の状態でしか測
定を行なうことができず、熱処理を行なった通常の大き
さの鋼製品そのものの残留オーステナイト量を簡便に測
定することは不可能であった。なお、最初から小さい試
料を同じ条件で熱処理して残留オーステナイト量を測定
することは、焼入時の質量効果の点から無意味である。 また、それら従来の測定法では、残留オーステナイト量
が相当程度(約5%以上)含まれていないと定量的な測
定ができないという欠点もあった。本発明はこのような
問題点に鑑み、携帯型であり、大きい試料をそのまま測
定することができ、しかも、含有量が少ない場合でも高
い精度で測定することのできる残留オーステナイト量測
定装置を提供することを目的とする。
【0040】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る残留オーステナイト量測定装置は、図1
及び図2に示すように、 a)1本の強磁性体棒10に巻かれた1つの励磁コイル
11とその励磁コイル11の両端側に巻かれた2つの検
出コイル12,13とから成る差動変圧器構成のプロー
ブ2b)上記励磁コイル11を励磁する単一の励磁信号
と位相解析用の基準ベクトル信号とを発生する基準信号
発生装置5 c)励磁信号、検出コイル12,13の出力信号及び基
準ベクトル信号の間の位相関係を解析することにより、
プローブ2の先端14が接触している被測定試料1の残
留オーステナイト量に基づく電気信号のみを取り出して
直流変換する出力解析装置3 d)プローブ2と出力解析装置3との間に接続され、プ
ローブ2の先端14が標準試料に接触しているときの上
記2つの検出コイル12,13の出力のバランスをとる
ためのバランス回路6 e)被測定試料1の残留オーステナイト量に基づく直流
信号を表示する表示装置4の各要素を備える。
【0050】
【作用】まず、プローブ2の先端14をオーステナイト
が含まれていない標準試料に接触させた状態で基準信号
発生装置5から励磁コイル11に正弦波交流の励磁電流
Iを供給する。この状態でバランス回路6を調整するこ
とにより、出力解析装置3の出力をゼロとする。次に、
プローブ2の先端14を被測定試料1に接触させる。す
ると、被測定試料1に含まれる残留オーステナイトによ
り強磁性体棒10を含む磁気回路の構成が変化し、上下
2つの検出コイル12,13のバランスが崩れる。これ
により、出力解析装置3から被測定試料1の残留オース
テナイト量に基づく電気信号が出力される。表示装置4
の表示方法を適当に定めることにより、被測定試料の残
留オーステナイト量を表示装置4により直接読み取れる
ようにすることができる。
【0060】
【実施例】本発明の一実施例の構成を図3に示す。標準
試料及び被測定試料に接触させるプローブ2は、強磁性
体棒10及びその中央に巻かれた励磁コイル11とその
両側に巻かれた2つの検出コイル12,13から構成さ
れる。両検出コイル12,13は共に一端が接地されて
おり、両検出コイル12,13は全体として差動変圧器
を構成するように接続されている。すなわち、両検出コ
イル12,13の巻方向は互いに逆になっており、一方
の検出コイル12に発生する誘導電圧信号と他方の検出
コイル13に発生する誘導電圧信号の極性とは互いに反
対となっている。強磁性体棒10の径は測定しようとす
る試料の大きさや測定しようとする範囲に応じて適当に
定めることができ、また、長さは励磁コイル11や検出
コイル12,13の巻数に応じて適当に定めることがで
きる。一般に、強磁性体棒10の径が小さいほど、小さ
い試料(あるいは大きい試料でも狭い範囲)の残留オー
ステナイト量を測定することができるようになり、コイ
ルの巻数が多いほど測定精度は向上する。本実施例では
強磁性体棒10の径は3mm、長さは10mmとしてい
る。プローブ2の検出コイル12,13は共にバランス
回路6に接続され、バランス回路6の2本の出力は出力
解析装置3に接続される。出力解析装置3は入力回路1
5、位相検波回路16及びローパスフィルタ17から構
成され、基準信号発生装置5は正弦波発生回路30と移
相回路31から構成される。
【0070】次に、本実施例の動作を説明する。プロー
ブ2の励磁コイル11には基準信号発生装置5から正弦
波交流電流信号が供給され、これにより強磁性体棒10
の長手方向に交流磁界が発生する。この交流磁界により
両検出コイル12,13に誘導電圧が発生する。強磁性
体棒10及び両検出コイル12,13は対称に形成され
ており、かつ、上記の通り両検出コイル12,13の出
力は互いに逆方向の極性を有するため、プローブ2が被
測定試料や標準試料等の金属体から離れた状態では両検
出コイル12,13の出力はバランスがとれている。プ
ローブ2の先端14を標準試料に接触させると、両検出
コイル12,13の出力のバランスが崩れる。ここで標
準試料とは、同一の鋼で完全に焼入を行なって、顕微鏡
の検鏡等により残留オーステナイト量がゼロであること
が確認されているものである。 プローブ2を標準試料に接触させることによりバランス
が崩れるのには二つの理由がある。まず、被測定試料は
金属であるため、プローブ2の先端14から発生してい
る磁界によりその表面近くの自由電子が誘導され、回転
運動を行なう。これが誘導渦電流である。また、被測定
試料はほとんどがマルテンサイト組織となっているため
、強磁性体である。従って、強磁性体の棒10の先端1
4に強磁性体の物体が接触することにより、磁路の構成
が変化する。これら二つの要因が一方の電磁コイル13
側にのみ発生するため、両検出コイル12,13間のバ
ランスが崩れる。この両検出コイル12,13のバラン
スを再度とるためにバランス回路6が備えられている。 後述するように、このバランス回路内の可変抵抗及び可
変容量を変化させることにより、両検出コイル12,1
3の出力のバランスをとる。このようにして標準試料で
バランスをとった後、次にプローブ2の先端14を被測
定試料に接触させる。ここで被測定試料に残留オーステ
ナイトが含まれている場合、被測定試料の透磁率及び導
電率が標準試料とは異なるため、再び両検出コイル12
,13のバランスが崩れる。 出力解析装置3はこのときの両検出コイル12,13の
出力を基に、残留オーステナイト量に応じた電気信号の
みを取り出す。この電気信号はローパスフィルタ17に
より高周波成分が除去された後、表示装置4により可視
的に表示される。
【0080】出力解析装置3における残留オーステナイ
ト量の測定原理は次の通りである。検出コイル12,1
3からの検出信号の差信号には、プローブ先端14に接
触された被測定試料の残留オーステナイト量に応じた透
磁率の変化と渦電流の変化(すなわち、導電率の変化)
との双方の要因による影響が含まれている。しかし、こ
れら2つの要因の位相が互いに異なるため、出力解析装
置3では、基準信号発生装置5からの同期信号を用いて
ベクトル解析によりこの差信号から導電率の変化分を位
相検波回路16で除去し、透磁率の変化分のみを直流電
気信号として取り出す。従って、出力解析装置3では、
残留オーステナイト量の変化(標準試料からの変化)を
この透磁率の変化として取り出すものである。
【0090】上記実施例の具体的回路構成の一例を図4
及び図5に示す。図4に示される通り、プローブ2の両
検出コイル12,13の一方の端子と励磁コイル11の
一方の端子はプローブ2内で接続され、出力解析装置3
の入力回路15で接地される。励磁コイル11の他方の
端子には図4に示す基準信号発生装置5から励磁電流I
が供給される。両検出コイル12,13の他方の端子は
バランス回路6に入力される。バランス回路6では一方
の検出コイル12の出力線に可変抵抗61及び可変容量
62を接続し、他方の検出コイル13の出力線には固定
抵抗63及び固定容量64を接続する。従って、可変抵
抗61及び可変容量62の値を適当に変化させることに
より両検出コイル12,13の間の出力をバランスさせ
ることができる。バランス回路6の出力は出力解析装置
3に接続される。なお、バランス回路6の構成は図4の
ようなもの以外にも種々考えられ、例えば双方の出力線
に可変抵抗及び可変容量を挿入するようにしてもよい。 出力解析装置3の入力回路15は、抵抗18,19,2
0、オペアンプ21、コンデンサ22から構成される。 前述の通りプローブ2の両検出コイル12,13の一方
の端子は共通に接地されるが、また、オペアンプ21の
非反転入力端子(+)とも接続される。バランス回路6
を通ってきた両検出コイル12,13の他方の端子はそ
れぞれ抵抗18,19を介して互いに接続され、オペア
ンプ21の反転入力端子(−)に接続される。従って、
オペアンプ21の反転入力端子には両検出コイル12,
13の和信号(両検出コイル12,13の極性が逆にな
っているため、実際は差信号)が入力され、オペアンプ
21はその差信号を増幅する。ここにおける増幅率は、
オペアンプ21の反転入力端子と出力端子との間に接続
される抵抗20の値によって決定される。なお、コンデ
ンサ22は直流成分をカットするためのものである。こ
のようにして入力回路15で増幅された両検出コイル1
2,13の差信号は位相検波回路16に送られる。位相
検波回路16には、アナログスイッチ23、オペアンプ
24及び抵抗25が含まれる。差信号はアナログスイッ
チ23を介してオペアンプの非反転入力端子に入力され
る。アナログスイッチ23の制御端子には図5の基準信
号発生装置5から図6(b)に示すような矩形波同期信
号が入力される。これにより、正弦波状の差信号(a)
の一部のみがアナログスイッチ23を通り、オペアンプ
24に入力される(信号(c))。このアナログスイッ
チを通る信号の量は差信号(a)と同期信号との位相差
に依存する。オペアンプ24により増幅された部分差信
号はローパスフィルタ17で図6の信号(d)のように
平均化され、表示装置4であるアナログパネルメータ1
0に出力される。なお、ローパスフィルタ17はオペア
ンプ27、抵抗26,29、コンデンサ28から構成さ
れ、また、表示装置4はデジタル表示装置としてもよい
【0100】励磁電流I及びアナログスイッチ制御用の
同期信号Sを発生する基準信号発生装置5は図5に示す
ように、発振回路30と移相回路31とで構成される。 発振回路30は正弦波発振器32から供給される正弦波
交流電圧信号(例えば周波数1kHz)を抵抗33を介
してオペアンプ34の反転入力端子に入力し、抵抗35
,36,37、コンデンサ38、抵抗39,40及びト
ランス41により構成される定電流回路により定電流化
されて前記励磁コイル11に供給される。励磁コイル1
1のインピーダンスはプローブ2を試料に接触させた場
合や周辺温度が変化した場合に変化するため、発振回路
30ではそれらの変化を補償する定電流回路構成として
いる。この定電流回路において、抵抗36,37及びコ
ンデンサ38はオペアンプ34のオフセット電流によっ
て出力電圧の直流レベルが不安定となる現象を防止する
直流フィードバック回路を構成している。なお、トラン
ス41の巻数比をn:1とすれば、二次側の電圧は1/
nとなるが、励磁電流Iはn倍の値が得られる。移相回
路31はコンデンサ42、可変抵抗43、抵抗44、コ
ンパレータ45から構成される。コンデンサ42は発振
回路30からの交流電圧信号の位相を変化させ、コンパ
レータ45ではこの位相の変化した交流電圧信号をゼロ
電位と比較して、その結果を二値波(矩形波)Sとして
出力する。交流電圧信号の位相変化量はコンデンサ42
と可変抵抗43の値により決定される。本実施例では可
変抵抗43の値を小さくするほど位相が進む。発振回路
30からの交流電圧信号よりも位相を遅らせる場合には
、コンデンサ42と可変抵抗43を入れ替えればよい。
【0110】このように、本実施例の残留オーステナイ
ト量測定装置は、プローブ2を被測定試料の1点に接触
させるだけで、迅速かつ簡便に、その被測定試料の残留
オーステナイト量を非破壊的に測定することができる。
【0120】軸受鋼SUJ2を種々の温度で焼き入れる
ことにより残留オーステナイト量を変化させた被測定試
料を用意し、上記実施例の残留オーステナイト量測定装
置の出力電圧値とX線法により測定した残留オーステナ
イト量との関係を調査した。その結果は図7(a)に示
す通りであり、両者の間には良好な直線性があることが
認められる。マルテンサイト系ステンレス鋼SUS44
0Cについても同様の測定を行なったが、絶対的な出力
電圧はSUJ2とは異なるものの、同一鋼種内では本実
施例の残留オーステナイト測定装置の出力電圧は被測定
試料の残留オーステナイト量に良好に比例することが確
認された。また、残留オーステナイト量が5%以下の試
料についても同様の測定を行なった。その結果を図7(
b)に示すが、この範囲ではX線法による正確なオース
テナイト量の測定が困難であるため、横軸のオーステナ
イト量の決定は顕微鏡による組織検鏡によっている。 このような低残留オーステナイト量領域でも、本発明に
係る残留オーステナイト測定装置は十分に定量測定を行
なうことができることが確認された。なお、図7の(a
)と(b)の間で出力電圧のレンジ切換を行なっている
。これらのことより、特定の熱処理現場で用いる等によ
り測定対象が一定である場合には、前記実施例の表示装
置4を単に直流電圧表示ではなく、残留オーステナイト
量の直読表示とすることができる。
【0130】
【発明の効果】本発明の残留オーステナイト測定装置は
小型のプローブと可搬性の箱に納めることのできる回路
のみで構成されるため、従来不可能であった大型焼入部
品等の残留オーステナイト量を現場でそのまま、しかも
非破壊で測定することが可能である。また、残留オース
テナイト量が少ない試料でも精度良く測定することがで
きるため、高度な熱処理工程管理に使用することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明による残留オーステナイト測定装置
の概略構成を示すブロック図
【図2】  本発明による残留オーステナイト測定装置
のプローブの側面図
【図3】  本発明の一実施例である残留オーステナイ
ト測定装置の構成を示すブロック図
【図4】  実施例の残留オーステナイト測定装置中の
プローブ、バランス回路出力解析装置及び出力装置の具
体的回路構成例を示す回路図
【図5】  実施例の残留オーステナイト測定装置中の
基準信号発生装置の具体的回路構成例を示す回路図
【図
6】  実施例の残留オーステナイト測定装置中の各部
における信号波形のグラフ
【図7】  各種試料のX線で測定した残留オーステナ
イト量と実施例の残留オーステナイト測定装置の出力値
との関係を示すグラフ。(a)は残留オーステナイト量
の多い試料、(b)は残留オーステナイト量の少ない試
料についてのグラフである。
【符号の説明】
1…被測定試料、  2…プローブ、  3…出力解析
装置、  4…表示装置5…基準信号発生装置、  6
…バランス回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  1本の強磁性体棒に巻かれた1つの励
    磁コイルとその励磁コイルの両端側に巻かれた2つの検
    出コイルとから成る差動変圧器構成のプローブと、上記
    励磁コイルを励磁する単一の励磁信号と位相解析用の基
    準ベクトル信号とを発生する基準信号発生装置と、励磁
    信号、検出コイルの出力信号及び基準ベクトル信号の間
    の位相関係を解析することにより、プローブの先端が接
    触している被測定試料の残留オーステナイト量に基づく
    電気信号のみを取り出して直流変換する出力解析装置と
    、プローブと出力解析装置との間に接続され、プローブ
    の先端が標準試料に接触しているときの上記2つの検出
    コイルの出力のバランスをとるためのバランス回路と、
    被測定試料の残留オーステナイト量に基づく直流信号を
    表示する表示装置とを備えることを特徴とする残留オー
    ステナイト量測定装置。
JP41680890A 1990-12-28 1990-12-28 残留オーステナイト量測定装置 Pending JPH04233451A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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