ES2345542T3 - Difractometro y procedimiento para analisis por difraccion. - Google Patents
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Abstract
Difractómetro que comprende: - una unidad analítica (9) que soporta una fuente (7) de un haz de radiación, que tiene un eje de colimación (10); y un detector (8) de haz de radiación que tiene un eje de recepción (11), dichos ejes de colimación (11) y recepción (10) convergen en un centro del difractómetro (12), que está fijo con respecto a dicha unidad analítica (9); - medios (16, 31, 32, 33) para desplazar dicha unidad analítica en el espacio; - medios (20, 20') para rotar dicha fuente y detector alrededor de dicho centro del difractómetro, de manera que dicho eje de colimación (11) y dicho eje de recepción (10) se mantienen en un plano ecuatorial, fijos con respecto a dicha primera unidad analítica (9); común - una estructura de soporte y desplazamiento (14) común que soporta dicha unidad analítica (9) - medios (27) para desplazar dicha unidad analítica con respecto a dicha estructura de soporte y desplazamiento (14), de forma que la unidad analítica (9) puede rotar alrededor de un eje ecuatorial (15) contenido en dicho plano ecuatorial y que pasa por dicho centro del difractómetro (12); caracterizado porque dichos medios (27) para desplazar dicha unidad analítica con respecto a dicha estructura de soporte y desplazamiento (14) permiten la rotación de dichos fuente (7) y detector (8) alrededor de dicho eje ecuatorial (15), sin que el último cambie su posición en el espacio.
Description
Difractómetro y procedimiento para análisis por
difracción.
La presente invención se refiere a un
difractómetro, en particular a un difractómetro de rayos x. Más
detalladamente, se refiere a un difractómetro que realiza ensayos
no destructivos sobre componentes de elementos que no son adecuados
(o autorizados) para analizarse en difractómetros tradicionales o
incluso en componentes que no se pueden separar desde su ubicación
original.
Las técnicas de difracción se usan ampliamente
en el campo del análisis de la estructura de los materiales. La
información que se obtiene mediante esta técnica es importante en
varios campos como química, metalurgia y metalografía, industria
extractiva, transporte, medio ambiente, aeronáutica, industria
aeroespacial, construcción e incluso conservación del patrimonio
cultural.
Se usan varios tipos de radiación en análisis
difractométrico. Son muy habituales las técnicas de difracción por
rayos x, electrones y neutrones. Son particularmente importantes las
técnicas de difracción por rayos x.
Por lo general, este tipo de equipo se usa para
detectar difracción procedente de sólidos pulverulentos o
microcristalinos. El análisis de sólidos policristalinos es
especialmente interesante cuando se necesita investigar componentes
de implantes industriales y/o implantes en servicio.
Este equipo requiere una fuente de rayos x, un
soporte del espécimen y un detector de de rayos x. Se necesita que
el espécimen esté en rotación, puesto que su superficie se ilumina
por el haz de rayos x, que procede de la fuente con diferentes
ángulos. Se necesita que el espécimen y el detector giren
simultáneamente (opcionalmente) a diferente velocidad de manera que
su posición relativa permite al detector que recibe el haz de
difracción procedente de los planos cristalográficos estar en la
posición correcta para la reflexión.
La difractometría de rayos x es útil para
obtener información en el campo de la composición química,
propiedades mecánicas y físicas de los especímenes (presencia de
tensiones o compresión residual) de metal fabricado y otro
material. Es útil incluso para la detección precoz de defectos o
daños en la estructura cristalina, por ejemplo, en componentes
soldados, o bajo carga o fatiga. Por lo general, esta tensión
produce una orientación preferida de la red cristalina que se puede
detectar mediante difracción de rayos x cuando se adoptan
procedimientos particulares. Esta técnica es útil incluso para
analizar estructuras fibrosas y vidrios para determinar el estado
de conservación y el estado químico y las propiedades físicas.
Es a veces útil investigar mediante pruebas no
destructivas la estructura de red de los componentes en servicio.
En este caso, a menudo es difícil o imposible obtener especímenes
para análisis y pruebas de laboratorio tradicionales. A menudo,
sucede que el componente o implante a analizar no se puede mover.
Por esta razón, existe la necesidad de un difractómetro, y en
particular, de un difractómetro de rayos x que se pueda usar
fácilmente sin mover ninguna estructura o componente del implante.
Es importante que este difractómetro permita obtener un intervalo
considerable de información (es decir, equivalente a la de los
difractómetros de laboratorio para analizar materiales
pulverulentos y microcristalinos). En particular, es útil para
reconocer la presencia de tensiones, orientaciones preferentes,
defectos estructurales del material que constituye el componente
analizado, evitando que la condición de trabajo particular del
difractómetro represente un límite para obtener información. Esto
significa que es necesario desarrollar un difractómetro que sea útil
para usar in situ y mejore el rendimiento de los
difractómetros de laboratorio tradicionales.
Los problemas anteriormente mencionados se
resuelven mediante un difractómetro que comprende:
- -
- una unidad analítica que soporta una fuente de radiación con un eje colimador; y un detector de radiación que tiene un eje de recepción, dichos ejes de colimación de recepción convergen en un centro, denominado centro del difractómetro, que está fijo con respecto a la unidad analítica;
- -
- medios para desplazar dicha unidad analítica;
- -
- medios para hacer girar dichos fuente y detector alrededor de dicho centro del difractómetro.
\vskip1.000000\baselineskip
Preferiblemente, dichos medios para desplazar
dicha unidad analítica permiten cambiar la posición espacial del
centro del difractómetro.
Según una realización favorita de la invención,
el difractómetro es un difractómetro de rayos x.
Preferiblemente, dichos medios para hacer girar
dichos fuente y detector son adecuados para hacer girar la fuente y
el detector, de manera que los ejes de colimación y recepción estén
contenidos en un plano ecuatorial. Este plano está fijo con
respecto a la unidad analítica.
Según una realización favorita de la invención,
dicha unidad analítica está soportada por una estructura de soporte
y desplazamiento provista para desplazar dicha unidad analítica con
respecto a la estructura de soporte y desplazamiento, de manera que
la unidad analítica puede girar alrededor de un eje, denominado eje
ecuatorial, contenido en el plano ecuatorial y que pasa por el
centro del difractómetro. Este hecho se corresponde con la rotación
del plano ecuatorial alrededor del eje ecuatorial. Este tipo de
rotación es ventajosamente posible para un arco de al menos 10º,
preferiblemente de al menos 20º o incluso valores bastante mayores,
para necesidades analíticas específicas.
Según una realización preferida de la invención,
el movimiento de esta unidad analítica con respecto a la estructura
de soporte y desplazamiento permite la rotación del plano ecuatorial
con respecto al eje ecuatorial, sin cambiar la posición del los
ejes en el espacio.
El plano perpendicular a dicho eje ecuatorial y
que contiene el centro del difractómetro, está fijo con respecto a
la unidad analítica, y se denomina plano axial. Este plano puede
constituir un plano de simetría en dicha unidad analítica.
Como "eje de colimación de la fuente" se
define habitualmente el eje del haz de radiación que la fuente puede
emitir, y como "eje de recepción", el eje del haz de radiación
que el detector puede detectar.
La invención también se refiere a un
procedimiento de difractometría, preferiblemente de difractometría
de rayos x que comprende la colocación de un difractómetro como se
ha indicado anteriormente con el centro del difractómetro en un
punto de la superficie de un elemento a analizar.
Según una realización posible de la invención,
el plano axial se puede colocar ventajosamente en perpendicular con
respecto a la superficie del elemento analizado en el punto
coincidente con el centro del difractómetro.
Según una realización de la invención dicho
elemento analizado no está mecánicamente conectado al difractómetro,
sino que, más preferiblemente, ni siquiera están en contacto.
la fig. 1 representa esquemáticamente la vista
lateral de un difractómetro de rayos x, según la presente
invención
la fig. 2 representa esquemáticamente la vista
frontal del difractómetro de la fig. 1.
la fig. 3 representa esquemáticamente un detalle
del difractómetro de la fig. 1, más específicamente el extremo del
difractómetro que incluye la primera unidad analítica que soporta la
fuente y el detector de rayos x.
la fig. 4 representa esquemáticamente la vista
lateral del detalle del difractómetro de la fig. 1 que comprende la
primera unidad analítica soporta la fuente y el detector de rayos x
y la estructura para soportar y desplazar la unidad analítica.
la fig. 5 representa esquemáticamente una
articulación capaz de mover dicha unidad analítica en el espacio,
según una realización particular de la invención;
Como ejemplo, se describe un difractómetro de
rayos x según la presente invención.
La fig. 1 muestra una vista lateral de un
difractómetro de rayos x, según la presente invención. El equipo
incluye una base (1), que puede estar equipada con dos ruedas u
otros medios de transporte y colocación y puede también contener un
generador eléctrico capaz de generar la energía necesaria para el
uso,) un depósito de líquido refrigerante para la fuente de rayos x
y los componentes eléctricos para colocar las partes móviles y
recoger los datos del equipo de medida y también para procesar
dichos datos.
El equipo incluye un soporte (3), un brazo (4)
soportado por dicho soporte (3) que puede girar con respecto al
brazo, para permitir la colocación vertical de la extremidad (6) que
incluye la unidad analítica, soportada por el brazo (4).
Dispositivos de bloqueo (5) permiten fijar el brazo (4) colocado con
respecto al soporte (3). La extremidad (6), también visible en las
figs. 2 y 3, incluye una fuente de rayos x (7), un detector de
rayos x (8) y otros dispositivos de colocación. Estos dispositivos
incluyen el elemento (9), denominado círculo completo de Euler
primario, que puede ventajosamente tener la forma de un arco
circular, dedicado a soportar la fuente de rayos x (7) y el
detector (8). En el caso descrito, el círculo completo de Euler
primario es la unidad analítica. La fuente (7) y el detector (8) se
pueden desplazar convenientemente por el círculo completo de Euler
(9) primario. Para cada posición alcanzada en el círculo completo de
Euler primario para fuente y detector, el eje de colimación de la
fuente (11) y el eje de recepción (10) están siempre dirigidos
hacia un punto (12), que es el centro del difractómetro (12) y puede
ventajosamente coincidir con el centro de curvatura del círculo
completo de Euler primario (9).
Los ejes (10) y (11), pueden girar de esta forma
alrededor del centro (12) en una planta, el plano ecuatorial, que
es sustancialmente paralelo al círculo completo de Euler (9)
primario. En la Fig. 3 el plano ecuatorial coincide con el plano
del dibujo, el plano axial es perpendicular al mismo, su
intersección es el eje (13), denominado eje de exploración.
Según una realización preparada de la invención,
dicho círculo completo de Euler (9) primario está convenientemente
soportado mediante una estructura de soporte y desplazamiento (14),
denominada círculo completo de Euler secundario. Un sistema
especial permite que el círculo completo de Euler (9) primario se
desplace con respecto al círculo completo de Euler (14) secundario
para ejecutar una rotación alrededor del eje ecuatorial (15). Este
eje ecuatorial (15) está contenido en el plano ecuatorial y es
perpendicular al eje de exploración (13). De esta forma, el plano
ecuatorial completo puede girar un ángulo determinado con respecto
al eje ecuatorial (15), y de esta forma el eje de colimación (11) y
el eje de recepción (10) pueden rotar debido a que la fuente (7) y
el detector (8) están soportados mediante el círculo completo de
Euler (9) primario.
La fig. 4 muestra una vista lateral de la
extremidad (6) que incluye los dos círculos completos de Euler, y
muestra una posible implementación del mecanismo de articulación del
círculo completo de Euler primario (9) con respecto al círculo
completo de Euler secundario (14). El círculo completo de Euler
primario (9) incluye dos arcos dentados (21) y (21'), adecuadamente
unidos. La fuente (7) y el detector (8) se mueven a lo largo de
dichos arcos mediante un engranaje desplazado mediante motores
eléctricos 20 y 20', que son parte de la fuente y detector, un
soporte (22), unido al círculo completo de Euler primario (9),
soporta el círculo completo de Euler secundario (14). El soporte
(22) tiene una porción (23) que tiene una estructura en forma de
cola de milano (24), dicha estructura encaja en la correspondiente
cavidad (25) (punteada en la fig. 4) del círculo completo de Euler
secundario (14), permitiendo de esta forma el movimiento de rotación
del plano ecuatorial, como se ha descrito anteriormente. Un
tornillo sin fin (no mostrado) se coloca paralelo al eje (26) y se
mueve mediante un motor (27) y engrana en el filete correspondiente
obtenido en la superficie superior (28) de la estructura (24) en
forma de cola de milano. Este tornillo sin fin realiza la rotación
del círculo completo de Euler primario (9). Este, como en otros
tipos similares de mecanismo, puede ser fácilmente instalado por un
técnico del campo.
También se prevén una serie de dispositivos de
desplazamiento para colocar en el espacio la extremidad (6) que
incluye los dos círculos completos de Euler.
Con referencia a la fig. 2, el sistema (16)
equipado con un motor 30, permite la rotación completa alrededor
del eje (4) del brazo de esta extremidad (6). Esto permite una
colocación del instrumento muy ventajosa y también proporciona la
posibilidad de explorar el material a analizar desde diferentes
direcciones.
Con las marcas de referencia (31) y (32), se
identifican dos platinas; éstas permiten movimientos de traslación
perpendicular mutuos; este movimiento también es perpendicular al
eje (4) del brazo; estas platinas también se mueven mediante
motores especiales.
El motor (33), mediante un mecanismo de
tornillo, permite la translación del brazo 4 a lo largo de su
eje.
Se pueden proporcionar otros dispositivos de
desplazamiento para facilitar la colocación de la extremidad (6).
Por ejemplo, se puede proporcionar una articulación, preferiblemente
entre el dispositivo (16) y el sistema de platinas (31) y (32),
permitiendo la rotación alrededor de un eje perpendicular al eje (4)
del brazo. En la fig. 5, esta articulación se representa
esquemáticamente por la marcas (35) y se coloca antes del pivote
(16) (indicado esquemáticamente). Esta articulación permite una
rotación de 180º y puede desplazarse a conveniencia mediante un
motor especial.
En lugar del soporte (3) se puede proporcionar
un soporte vertical, junto con el brazo (4) se puede trasladar
verticalmente gracias a un dispositivo especial. Este soporte
vertical puede rotar alrededor de su eje, proporcionando de esta
forma un grado de libertad adicional a la colocación de la
estructura. Es evidente que en el equipo se pueden instalar varios
tipos de dispositivos de desplazamiento, según las necesidades de la
investigación.
En el círculo completo de Euler primario (9) se
pueden instalar dispositivos de dirección para colocar correctamente
el instrumento con respecto al elemento en investigación. Como se
ha descrito anteriormente, este elemento en investigación puede ser
un componente de una estructura operativa, por ejemplo, parte de una
planta industrial, o también un elemento de dimensiones demasiado
grandes para desplazarse y esto requiere un control estructural no
destructivo. El dispositivo de dirección puede incluir dos láseres
fijados al círculo completo de Euler primario y dirigidos hacia el
centro del difractómetro (12), y una telecámara, también fijada al
círculo completo de Euler primario y dirigida a lo largo del eje de
exploración (13). El solapamiento de los dos puntos proyectados por
el láser sobre la superficie del elemento analizado, y su forma
indicarán la colocación correcta del equipo con respecto al
elemento analizado. Ventajosamente, la parte móvil puede desplazarse
mediante motores especiales, controlados mediante sistemas
electrónicos. Estos sistemas pueden recoger datos desde el
dispositivo de dirección y gestionar completamente la colocación
del equipo.
Igualmente, el desplazamiento de la fuente y del
detector de rayos x se puede gestionar mediante un sistema
electrónico, así como el desplazamiento del círculo completo de
Euler primario puede controlarse electrónicamente respecto al
secundario.
Fuente y detector pueden ser de diferentes
tipos, elegidos entre los habitualmente usados en el campo de la
difracción. Estos tipos pueden incluir todos los sistemas de
colimación adecuados (hendiduras, acondicionado de haces, y también
monocromadores si son necesarios). En particular, el detector puede
incluir un sistema de platinas que permite el desplazamiento del
sistema de colimación (es decir, "óptica capilar",
"policapilaridad", etc.) a lo largo del eje de recepción del
haz, desde y hacia el centro del difractómetro.
La elección depende del tipo de radiación usada
y de las propiedades del elemento analizado, así como de los
problemas de construcción del equipo. En particular, en el caso de
la difracción de rayos x, el detector puede ser tanto un detector
de centelleo, de estado sólido, o cualquier otro dispositivo
conocido. Según una realización posible, se puede usar un detector
de gas ionizado, como un contador Geiger, debido a sus dimensiones
reducidas. Según una realización preferida de la invención es
posible usar un contador Geiger en su campo de proporcionalidad,
también denominado contador proporcional. Adicionalmente, fuente y
detector pueden ir equipados con dispositivos que permiten
trasladar los ejes de colimación y recepción respectivamente, para
regular, por fuera de dicha fuente y detector, el camino óptico del
haz incidente sobre el material a analizar y el haz difractado,
según las necesidades de funciona-
miento.
miento.
La dimensión del equipo se puede elegir en
relación a la aplicación para la que se construye el instrumento,
de forma que todos los dispositivos estén adecuadamente soportados.
En particular, en lo que se refiere al círculo completo de Euler
primario, debe ser suficiente para soportar adecuadamente la fuente
y el detector en función de sus dimensiones y para permitir una
amplitud suficiente a lo largo del propio círculo completo de Euler
primario. Es también importante recordar que, al aumentar el tamaño,
aumenta la potencia necesaria de los motores, para que puedan mover
las estructuras sin riesgo de vibraciones.
Por ejemplo, ha sido posible implementar un
equipo como el descrito con un radio externo del círculo completo
de Euler primario de aproximadamente 22 cm, una amplitud de
movimiento de fuente y detector, del tipo ionización proporcional,
de aproximadamente 135º, con una distancia de aproximadamente 11 cm
entre el centro del difractómetro y la fuente y entre el centro del
difractómetro y el detector. Según el análisis de espécimen patrón,
los resultados obtenidos fueron correspondientes con los de los
difractómetros tradicionales. La estructura puede incluir también
una conexión eléctrica y conexiones para transmisión de datos entre
los sistemas de control electrónico y los diferentes dispositivos
de movimiento o detección anteriormente descritos, e igualmente
conducciones para el líquido refrigerante de la fuente de rayos
x.
Según un posible procedimiento para usar el
difractómetro, este último se coloca de manera que un punto de la
superficie del elemento a analizar está en el centro del
difractómetro (12). Al inicio, esta superficie debe ser
perpendicular al eje de exploración (13); cuando la superficie no es
plana, el plano tangente a la superficie, denominado plano del
espécimen, debe ser perpendicular al eje de exploración. De esta
forma, el eje de colimación (11) forma un ángulo \theta con el
plano del espécimen. El eje de recepción (10) formará un ángulo
\theta con el plano del espécimen y de 2\theta con respecto al
eje de colimación. El sistema es capaz, de esta forma, de detectar
los rayos desviados por familias de planos cristalográficos, que
tienen una distancia interplanar d que, para un ángulo \theta
correspondiente a la posición relativa de la fuente y detector,
satisfacen la ley de Bragg n\lambda=2d*sin \theta, en la que n
es un número entero y \lambda la longitud de onda del haz de
rayos x emitido por la fuente.
Según un posible procedimiento de operación, el
eje de colimación (11) y el eje de recepción (10), realizan la
rotación anteriormente mencionada manteniéndose ellos mismos
simétricos con respecto al eje de exploración (13); de esta forma,
es posible detectar el haz de difracción procedente de varias
familias de planos de la red cristalográfica cumpliendo la ley de
Bragg para diferentes ángulos \theta.
Cuando el espécimen es un sólido policristalino
con suficientes cristales pequeños, como suele ser habitual, las
diferentes familias de planos pueden estar orientadas aleatoriamente
en todas las direcciones. Por lo que al escanear diferentes ángulos
\theta, se pueden detectar las diferentes familias de planos que
cumplen la ley de Bragg. Con una rotación del plano ecuatorial,
alrededor del eje ecuatorial (15), como se ha indicado
anteriormente, y manteniendo invariable la posición de la fuente y
detector con respecto al eje de exploración (13) (que se girará en
\omega junto con el plano ecuatorial), el plano ecuatorial ya no
será perpendicular al plano del espécimen. Por tanto, es posible de
nuevo medir diferentes ángulos \theta, y detectar señales de los
planos inclinados con un ángulo \omega con respecto al plano del
espécimen. La comparación para diferentes ángulos \theta de las
intensidades de difracción para el mismo ángulo \theta
(correspondiente a las familias de planos con la misma distancia
interplanar), proporciona una información acerca de las posibles
orientaciones preferidas de la estructura cristalina. Esto es
equivalente a explorar con un determinado arco el círculo de
Debye.
Alternativamente, los ejes de colimación y
recepción pueden mantenerse simétricos con respecto a un eje sobre
el plano ecuatorial y diferente del eje de exploración para analizar
las familias de planos con inclinaciones diferentes respecto al eje
de exploración. Esto es importante cuando se deben analizar
materiales monocristalinos, o si es imposible colocar el eje de
exploración perpendicular al plano del espécimen, o cuando se deben
analizar direcciones especiales de los materiales.
El número de diferentes colocaciones posibles
del equipo le proporciona una gran versatilidad para el uso del
difractómetro.
Cuando el espécimen puede desplazarse al menos
parcialmente, o es orientable en el espacio, se amplían las
oportunidades de análisis, de manera que se puede obtener una gama
de información comparable a la obtenida con los instrumentos
tradicionales de laboratorio, como en instrumentos de cristal simple
que tiene el mayor número de grados de libertad para orientar el
espécimen en el espacio.
Se ha descrito un difractómetro en particular, y
un procedimiento para su uso, en el que la radiación usada es rayos
x. Esto constituye una realización preferida de la invención. De
cualquier forma, con equipo construido con dimensiones y rasgos
especiales, es posible usar diferentes tipos de fuentes y detectores
de otros tipos de radiación, tal como electromagnética, acústica o
constituida por haces de partículas.
Claims (15)
1. Difractómetro que comprende:
- -
- una unidad analítica (9) que soporta una fuente (7) de un haz de radiación, que tiene un eje de colimación (10); y un detector (8) de haz de radiación que tiene un eje de recepción (11), dichos ejes de colimación (11) y recepción (10) convergen en un centro del difractómetro (12), que está fijo con respecto a dicha unidad analítica (9);
- -
- medios (16, 31, 32, 33) para desplazar dicha unidad analítica en el espacio;
- -
- medios (20, 20') para rotar dicha fuente y detector alrededor de dicho centro del difractómetro, de manera que dicho eje de colimación (11) y dicho eje de recepción (10) se mantienen en un plano ecuatorial, fijos con respecto a dicha primera unidad analítica (9); común
- -
- una estructura de soporte y desplazamiento (14) común que soporta dicha unidad analítica (9)
- -
- medios (27) para desplazar dicha unidad analítica con respecto a dicha estructura de soporte y desplazamiento (14), de forma que la unidad analítica (9) puede rotar alrededor de un eje ecuatorial (15) contenido en dicho plano ecuatorial y que pasa por dicho centro del difractómetro (12);
caracterizado porque dichos medios (27)
para desplazar dicha unidad analítica con respecto a dicha
estructura de soporte y desplazamiento (14) permiten la rotación de
dichos fuente (7) y detector (8) alrededor de dicho eje ecuatorial
(15), sin que el último cambie su posición en el espacio.
2. Difractómetro según la reivindicación 1, en
el que dichos medios para desplazar dicha unidad analítica en el
espacio (16, 30) son capaces de rotar dicha unidad analítica
alrededor de un eje (4) perpendicular a dicho eje ecuatorial.
3. Difractómetro según la reivindicación 1 ó 2,
en el que la fuente (7) es una fuente de radiación electromagnética
o acústica, radiación constituida por haces de partículas y el
detector (8) es un detector de radiación electromagnética o
acústica o radiación constituida por haces de partículas.
4. Difractómetro según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, en el que la fuente (7) es una fuente
de rayos x y el detector (8) es un detector de rayos x.
5. Difractómetro según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, en el que dichos medios (16, 31, 32,
33) para desplazar dicha unidad analítica (9) en el espacio, son
adecuados para permitir el cambio de posición de dicho centro del
difractómetro (12) por rotación o traslación de dicha unidad
analítica.
6. Difractómetro según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, en el que dicho eje ecuatorial (15) es
perpendicular a un plano de simetría de dicha unidad analítica
(9).
7. Difractómetro según la reivindicación 1, en
el que dicha rotación alrededor de dicho eje ecuatorial (15), es
posible a lo largo de un arco de al menos 10º, preferiblemente al
menos 20º.
8. Difractómetro según la reivindicación 3, en
el que dicho detector (8) es un contador de ionización
proporcional.
9. Difractómetro según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, que comprende un dispositivo de
dirección ubicado en dicha unidad analítica (9), para colocar el
instrumento con respecto al elemento que se va a analizar.
10. Difractómetro según la reivindicación 8, en
el que dicho dispositivo de dirección comprende dos láseres y una
telecámara.
11. Difractómetro según cualquier reivindicación
anterior, en el que dicha unidad analítica tiene la forma de un
arco circular.
12. Procedimiento de difractometría que
comprende colocar un difractómetro que comprende:
- -
- una unidad analítica que soporta una fuente de un haz de radiación, que tiene un eje de colimación y un detector de haz de radiación que tiene un eje de recepción, dichos ejes de colimación y recepción convergen en un centro del difractómetro, que está fijo con respecto a dicha unidad analítica;
- -
- medios para desplazar dicha unidad analítica en el espacio;
- -
- medios para rotar dicha fuente y detector alrededor de dicho de centro del difractómetro, de manera que dicho eje de colimación (11) y dicho eje de recepción (10) se mantienen en un plano ecuatorial, fijos con respecto a dicha primera unidad analítica (9);
- -
- una estructura de soporte y desplazamiento (14) común que soporta dicha unidad analítica (9)
- -
- medios (27) para desplazar dicha unidad analítica con respecto a dicha estructura de soporte y desplazamiento (14), de forma que la unidad analítica (9) puede rotar alrededor de un eje ecuatorial (15) contenido en dicho plano ecuatorial y que pasa por dicho centro del difractómetro (12);
- dichos medios (27) para desplazar dicha unidad analítica con respecto a dicha estructura de soporte y desplazamiento (14) permite la rotación de dichos fuente (7) y detector (8) alrededor de dicho eje ecuatorial (15), sin que el último cambie su posición en el espacio;
caracterizado porque comprende colocar
dicho centro del difractómetro en un punto de la superficie de un
elemento que se va a analizar.
13. Procedimiento según la reivindicación 12, en
el que dicha unidad analítica tiene un plano de simetría y dicho
plano se coloca perpendicularmente a la superficie del elemento que
se va a analizar en el punto coincidente con dicho centro del
difractómetro.
14. Procedimiento de difractometría de rayos x
según la reivindicación 12 ó 13.
15. Procedimiento según una reivindicación
cualquiera de la 12 a la 14, en el que dicho elemento que se va a
analizar no está mecánicamente unido al difractómetro.
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