RU13842U1 - Портативный рентгеновский дифрактометр - Google Patents

Портативный рентгеновский дифрактометр Download PDF

Info

Publication number
RU13842U1
RU13842U1 RU2000103622/20U RU2000103622U RU13842U1 RU 13842 U1 RU13842 U1 RU 13842U1 RU 2000103622/20 U RU2000103622/20 U RU 2000103622/20U RU 2000103622 U RU2000103622 U RU 2000103622U RU 13842 U1 RU13842 U1 RU 13842U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
monochromators
monochromatized
radiation
beams
block
Prior art date
Application number
RU2000103622/20U
Other languages
English (en)
Inventor
О.И. Агеев
В.А. Хилькевич
Original Assignee
Агеев Олег Иванович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Агеев Олег Иванович filed Critical Агеев Олег Иванович
Priority to RU2000103622/20U priority Critical patent/RU13842U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU13842U1 publication Critical patent/RU13842U1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

1. Портативный рентгеновский дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения с расположенным между ним и держателем исследуемого образца блоком из, по меньшей мере, двух монохроматоров, держатель образца и координатный детектор, установленные на основании таким образом, что фокус источника излучения, центры каждой рабочей пары монохроматоров, центр держателя образца и чувствительный элемент детектора расположены в плоскости дифракции, а взаимное расположение монохроматоров в блоке обеспечивает для излучения выбранной длины волны сходимость монохроматизированных пучков в центре держателя образца, отличающийся тем, что каждый монохроматор снабжен механизмом поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости дифракции и лежащей в отражающей плоскости монохроматора, а угол α сходимости монохроматизированных пучков равен β-γ, где β - заданный диапазон углов одновременной регистрации координатного детектора, γ - величина углового совпадения при регистрации спектров в двух диапазонах углов дифракции.2. Дифрактометр по п.1, отличающийся тем, что блок монохроматоров выполнен в виде двух монохроматоров, расположенных по разные стороны относительно плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции и проходящей через прямую, соединяющую фокус источника излучения и точку сходимости монохроматизированных пучков излучения, причем каждый монохроматор снабжен средствами его возвратно-поступательного перемещения вдоль направления распространения пучка монохроматизированного излучения.3. Дифрактометр по п.1, отличающийся тем, что блок монохроматоров выполнен в виде n пар монохроматоров, установленны�

Description

Предлагаемая полезная модель относится к области рентгеноструктурного анализа кристаллических материалов методами рентгеновской дифрактометрии и может быть иснользована для неразрушающего контроля фазового состава, текстуры и напряженного состояния материала ъ образцах и изделиях разных размеров.
Известен рентгеновский дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения на основе рентгеновской трубки, двухканальную коллимирующую систему для формирования расходящихся друг от друга пучков, гониометр с держателем образца и координатным детектором, а также установленное с возможностью вывода в створ одного из каналов коллиматора сменное гониометрическое устройство. В выходное окно рентгеновской трубки вмонтирован плоский монохроматор таким образом, что источник излучения обеспечивает получение двух расходяпщхся друг от друга пучков излучения : первичного полихроматического излучения от анода трубки и монохроматического от монохроматора. В держателе гониометрического устройства может быть установлен второй кристаллмонохроматор таким образом, чтобы обеспечить направление монохроматизированного им пучка на ось поворота держателя образца /1/.
Реализованная в этом дифрактометре двухлучевая схема позволяет проводить широкий круг исследований кристаллических материалов: определение постоянных решетки монокристаллических образцов, фазовый анализ и исследование напряженного состояния материалов. Однако, такая
конструкция содержит много прецизионных механических узлов и обладает достаточно большими габаритами. Кроме того, она не позволяет эффективно использовать возможности координатного детектора.
Наиболее близким аналогом предлагаемой полезной модели является портативный рентгеновский дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения с расположенным между ним и исследуемым объектом блоком из, по меньшей мере, двух монохроматоров, и координатный детектор, установленные на основании фиксированно друг относительно друга. Фокус источника излучения, центры монохроматоров, фокальное пятно источника излучения и ч)гвствителъный элемент детектора расположены в плоскости дифракции, при этом расположение монохроматоров в блоке обеспечивает для излучения выбранной длины волны сходимость монохроматизированных пучков на фокальном пятне источника и равенство угла сходимости величине зтлового диапазона одновременной регистрации координатного детектора. В этом дифрактометре, предназначенном для контроля напряженного состояния в крупногабаритных объектах, плоскость дифракции расположена вертикально относительно закрепленного на поверхности объекта основания, выполняюшего в данном случае и функцию держателя образца/2/.
Такая малогабаритная конструкция дифрактометра, в которой также реализуется двухлучевая схема, позволяет регистрировать одним неподвижно установленным координатным детектором удвоенный диапазон углов дифракции. Однако, в этом дифрактометре направления поворота и перемещения монохроматоров не обеспечивают необходимую точность настройки и юстировки требуемого угла сходимости монохроматизированных пучков с фиксацией точки их сходимости на поверхности исследуемого образца, а точность результатов измерений спектров дифрагированного на исследуемом образце излучения в разных угловых диапазонах неодинакова из-за погрешности установки угла
5x 00/03 5; ;i
сходимости монохроматизированных пучков, что существенно снижает достоверность получаемых результатов.
Предлагаемая полезная модель решает задачу повышения достоверности и точности результатов анализа исследуемого образца за счет обеспечения необходимой точности настройки и юстировки угла сходимости монохроматизированных пучков в заданной точке на поверхности образца и одинаковой точности измерений спектров дифрагированного излучения в разных диапазонах зтлов дифракции.
Кроме того, осуществление предложенного технического решения позволит упростить конструкцию дифрактометра и обеспечить при этом проведение широкого круга дифрактометрических исследованиий.
Поставленную задачу решает предлагаемый портативный рентгеновский дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения с расположенным между ним и держателем исследуемого образца блоком из, по меньшей мере, двух монохроматоров, держатель образца и координатный детектор, установленные на основании таким образом, что фокус источника излучения, центры каждой рабочей пары монохроматоров, центр держателя образца и чувствительный элемент детектора расположены в плоскости дифракции, а взаимное расположение монохроматоров в блоке обеспечивает для изл)ения выбранной длины волны сходимость монохроматизированных пучков в центре держателя образца, при этом каждый монохроматор снабжен механизмом поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости дифракции и лежащей в отражающей плоскости монохроматора, а угол а сходимости монохроматизированных пучков равен р - у, где р - заданный диапазон углов одновременной регистрации координатного детектора, у- величина углового совпадения при регистрации спектров в двух диапазонах углов дифракции.
В отличие от наиболее близкого аналога, в предлагаемом дифрактометре каждый монохроматор снабжен механизмом поворота вокр)т оси, перпендикулярной плоскости дифракции и лежащей в отражающей
(о{огб
плоскости монохроматора, а угол а сходимости монохроматизированных ityHKOB равен Р - у, где р - заданный диапазон углов одновременной регистрации координатного детектора, у - величина углового совпадения при регистрации спектров в двух диапазонах углов дифракции.
Блок монохроматоров может быть выполнен в виде двух монохроматоров, расположенных по разные стороны относительно плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции и проходящей через прямую, соединяюшую фокус источника излучения и точку сходимости монохроматизированных пучков излучения, причем каждый монохроматор снабжен средствами его возвратно-поступательного перемещения вдоль направления распространения пучка монохроматизированного излучения.
Блок монохроматоров также может быть выполнен в виде п пар монохроматоров, установленных в держателе с возможностью их одновременного поворота вокруг оси, совпадающей с прямой, соединяющей фокус источника излучения и точку сходимости монохроматизированных п)ков излучения, и последовательного выведения каждой пары в плоскость дифракции, причем монохроматоры каждой пары расположены по разные стороны от оси поворота.
В дифрактометр могут быть введены средства выделения одного или нескольких монохроматизированных пучков излучения, расположенные между монохроматорами и держателем образца и/или между источником излучения и монохроматорами.
На фиг. 1 схематически изображен портативный рентгеновский дифрактометр для фазового анализа в качестве одного из вариантов осуществления предлагаемой полезной модели.
На фиг.2 схематически изображен перестраиваемый блок монохроматоров в качестве одного из вариантов выполнения.
На фиг. 3 схематически изображен вариант выполнения блока из двух пар монохроматоров.
Дифрактометр, изображенный на фиг.1, содержит источник 1 рентгеновского излучения, выполненный в виде рентгеновской трубки с анодом, например, из меди ( Си), держатель 2 исследуемого образца, расположенный между источником 1 и держателем 2, блок 3 с двумя монохроматорами 4 и 5, и координатный детектор 6, установленные на основании 7 с возможностью юстировочных подвижек друг относительно друга. Между монохроматорами 4, 5 и держателем 2 образца установлены средства 8и9 выделения одного из монохроматизированных пучков 10 или 11, выполненные в виде заслонок с приводами (на фиг.1 не показаны).
Фокус F источника 1 излучения, центры монохроматоров 4 и 5, монохроматизированные 10 и 11, центр держателя 2 образца и чувствительный элемент детектора 6 расположены в плоскости дифракции. Отражающие плоскости (на фиг. не обозначены) монохроматоров 4 и 5 расположены в блоке 3 симметрично относительно оси 12, которая в данном случае является биссектрисой угла сходимости а и совпадает с прямой L ( L constant), соединяющей фокус F трубки 1 и центр держателя 2 образца, что обеспечивает для излучения выбранной длины волны (СиКа) сходимость монохроматизированных пучков 10 и 11 в центре держателя 2 образца. Монохроматоры 4 и 5 снабжены механизмами (на фиг. не показаны) поворота вокруг осей 13 и 14, перпендикулярных плоскости дифракции и лежащих в отражающих плоскостях (на фиг. не обозначены) монохроматоров 4 и 5, а угол а сходимости монохроматизированных пучков 10 и 11 равен Р - у, где Р - заданный диапазон углов одновременной регистрации координатного детектора 6, у - величина углового совпадения при регистрации спектров в двух диапазонах углов дифракции.
Блок 3 (см. фиг.2) может быть снабжен средствами 15 и 16 для возвратно-поступательного перемещения монохроматоров 4 и 5 вдоль, соответственно, пучков 10 и 11, выполненными в виде, например, ползунов.
держателе (на фиг. 3 не показан) с возможностью одновременного поворота вокруг оси 12 и последовательного выведения каждой пары монохроматоров 4(1) и 5(1) в плоскость дифракции. В данном случае (см. фиг. 3) ось 12 является биссектрисой углов сходимости а(1) монохроматизированных ПЗД1КОВ 10 и 11 и каждая пара монохроматоров 4(1), 5(1) расположена симметрично относительно этой оси 12.
Рентгеновский дифрактометр, изображенный на фиг.1 и фиг.2 работает следующим образом. На основание 7 вместо держателя 2 устанавливают иммитатор его центра, с которым совмещают точку сходимости монохроматизированных пучков 10 и 11 при помощи юстировочных подвижек источника 1 и поворотов монохроматоров 4 и 5 вокруг осей 13 и 14 соответственно. Иммитатор снимают и устанавливают держатель 2 со стандартным образцом. С помоп1;ью привода перемещают заслонку 8 в положение пропускания пучка 10 от монохроматора 4 и регистрируют детектором 6 дифракционный спектр стандартного образца в заданном угловом диапазоне Р, величина которого опреде.11яется в данном случае величиной максимально допустимого углового диапазона одновременной регистрации детектора 6. Таким образом получают первый угловой диапазон дифракционного спектра от 2diH до 2&1к 20iH + р. Затем перекрывают пучок 10 с помощью заслонки 8, а заслонку 9 перемещают в положение пропускания пучка 11 от монохроматора 5 и регистрируют детектором 6 спектр от стандартного образца в том же угловом диапазоне р. При этом получают второй угловой диапазон дифракционного спектра от 202н 20iH + Р - Y до 2S2H + Р 2&1н + 2р -у. Общий угловой диапазон дифракционного спектра А2Э стандартного образца, зарегистрированный детектором 6 с помощью монохроматоров 4 и 5 , равен 202к - 2SiH 2р -у, т.е. равен удвоенному максимально допустимому угловому диапазону 2р одновременной регистрации детектора 6 за вычетом углового диапазона у участка спектра, общего для первого и второго
,
диапазонов. Этот общий участок спектра у используется для сшивания спектров стандартного образца, зарегистрированных детектором 6 в двух угловых диапазонах, и определения поправок, которые необходимо учесть при обработке дифракционных спектров исследуемого образца, зарегистрированных в разных угловых диапазонах. Величина углового диапазона у подбирается экспериментально при последовательной или одновременной регистрации дифракционных спектров стандартного образца от монохроматоров 4 и 5. При этом монохроматор 4 и/или 5 поворачивают вокруг оси 13 и/или 14, добиваясь максимальной интенсивности монохроматизированных 10 и 11 при заданном угловом диапазоне р. Как правило, величина у находится в диапазоне от 0 до 5°. Обычно у равна 3 -г 5, что достаточно для сшивания спектров в двух диапазонах регистращш. Спектр стандартного образца используется также для калибровки детектора 6 в регистрируемом угловом диапазоне 2S. После определения величины у все элементы рентгенооптической схемы фиксируют в найденных положениях, стандартный образец снимают, в держатель 2 устанавливают исследуемый образец и производят регистрацию и обработку его дифракционных спектров для определения фазового состава. Если для определения фазового состава нового образца необходимо перейти на источник 1 излучения с другой длиной волны, например на FeKa, вместо используемой рентгеновской трубки с анодом из меди (Си), устанавливают другую трубку 1 с анодом из железа (Fe) и соответствующий ей блок 3 монохроматоров (см. фиг.1). Если исследования фазового состава образцов требуют частой смены рентгеновских трубок 1, то блок 3 монохроматоров целесообразно выполнять согласно фиг.2. В этом случае при смене трубки 1 блок 3 не меняют. Монохроматоры 4 и 5 последовательно или одновременно перемещают вдоль, соответственно, цучков 10 и 11 с помопц ю ползунов 15 и 16 в направлении от держателя 2 образцов и поворачивают во1фуг осей 13 и 14 на угол А9 arcsin A,Fe/2d - arcsin A :u/2d, где Jipe и Aoi - длины волн
f03623
излучения реитгеновских трубок с Fe- и Си-анодами, d - межплоскостное расстояние в монохроматорах 4 и 5. При этом перемещение осуществляют на расстояние 6 Lsma/2 smAd/smS ре «зтО- си, где L - расстояние между фокусом F трубки 1 и центром держателя 2 ( L constant ), а - угол сходимости пучков 10и11,аОре и &си - брэгговс1сие углы монохроматоров 4 и 5 для А,ре и соответственно.
Исследование образцов в предлагаемом дифрактометре значительно упрощается, если блок 3 (см. фиг.З) содержит п пар монохроматоров 4(1) и 5(1), установленных в держателе (на фиг.З не показан) с возможностью их одновременного поворота во1фуг оси 12 таким образом, что каждая 1-ая пара при выведении ее в плоскость дифракции путем поворота держателя (на фиг.З не показан) вокруг оси 12, находится под брэгговским углом &i отражения и обеспечивает сходимость пучков 10(1) и 11(1) в центре держателя 2 под углом ai а, а крепление монохроматоров 4(1) и 5(1) в держателе (на фиг.З не показано) обеспечивает подбор величины угла yi за счет их поворота, соответственно, вокруг осей 13(1) и 14(1). При фазовом анализе образца в предлагаемом дифрактометре используется блок 3, в котором установка п пар монохроматоров 4(1) и 5(1) обеспечивает угол Oi constant. При этом каждая пара монохроматоров 4(1) и 5(1) рассчитана на получение двух монохроматизированных пучков 10(1) и 11(1) от трубки 1(1) с определенным анодом (Си, Fe или Сг) с углом сходимости ai а constant при L constant.
Изображенный на фиг.З блок 3 монохроматоров может быть использован и для анализа напряженного состояния образца. В этом случае используют только одну трубку 1, все монохроматизированные пучки 10(1) и 11(1) имеют одну длину волны а блок 3 обеспечивает такую установку монохроматоров 4(1) и 5(1), чтобы tti tti-i .... ai а Р - у и набор углов ai отвечал
образце. Например, монохроматор 5(1) установлен в положение, при котором угол F падения пучка 11(1) равен о , а установка монохроматора 4(1) обеспечивает угол i падения пучка 10(1) равным То + аь При замене трубки 1 на трубку 1 с другим материалом анода заменяют также и блок 3 монохроматоров.
Таким образом, предлагаемый портативный дифрактометр не только обеспечивает достоверность и точность результатов анализа исследуемого образца во всем регистрируемом диапазоне углов дифракции за счет подбора угловой величины общего участка дифракционного спектра и обеспечения сходимости монохроматизированных пучков в заданной точке на поверхности образца, но и позволяет упростить съемку исследуемого образца за счет предварительной настройки блока монохроматоров и выбора оптимального варианта выполнения блока монохроматоров.
Источники информации
1.Авторское свидетельство СССР № 1583808, G01N 23/207,1990г.
2.Евразийский патент № 000345, G01N 23/20, 23/207,1999г.

Claims (4)

1. Портативный рентгеновский дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения с расположенным между ним и держателем исследуемого образца блоком из, по меньшей мере, двух монохроматоров, держатель образца и координатный детектор, установленные на основании таким образом, что фокус источника излучения, центры каждой рабочей пары монохроматоров, центр держателя образца и чувствительный элемент детектора расположены в плоскости дифракции, а взаимное расположение монохроматоров в блоке обеспечивает для излучения выбранной длины волны сходимость монохроматизированных пучков в центре держателя образца, отличающийся тем, что каждый монохроматор снабжен механизмом поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости дифракции и лежащей в отражающей плоскости монохроматора, а угол α сходимости монохроматизированных пучков равен β-γ, где β - заданный диапазон углов одновременной регистрации координатного детектора, γ - величина углового совпадения при регистрации спектров в двух диапазонах углов дифракции.
2. Дифрактометр по п.1, отличающийся тем, что блок монохроматоров выполнен в виде двух монохроматоров, расположенных по разные стороны относительно плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции и проходящей через прямую, соединяющую фокус источника излучения и точку сходимости монохроматизированных пучков излучения, причем каждый монохроматор снабжен средствами его возвратно-поступательного перемещения вдоль направления распространения пучка монохроматизированного излучения.
3. Дифрактометр по п.1, отличающийся тем, что блок монохроматоров выполнен в виде n пар монохроматоров, установленных в держателе с возможностью их одновременного поворота вокруг оси, совпадающей с прямой, соединяющей фокус источника излучения и точку сходимости монохроматизированных пучков излучения, и последовательного выведения каждой пары в плоскость дифракции, причем монохроматоры каждой пары расположены по разные стороны от оси поворота.
4. Дифрактометр по п.1, отличающийся тем, что в него введены средства выделения одного или нескольких монохроматизированных пучков излучения, расположенные между монохроматорами и держателем образца и/или между источником излучения и монохроматорами.
Figure 00000001
RU2000103622/20U 2000-02-04 2000-02-04 Портативный рентгеновский дифрактометр RU13842U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000103622/20U RU13842U1 (ru) 2000-02-04 2000-02-04 Портативный рентгеновский дифрактометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2000103622/20U RU13842U1 (ru) 2000-02-04 2000-02-04 Портативный рентгеновский дифрактометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU13842U1 true RU13842U1 (ru) 2000-05-27

Family

ID=48274977

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000103622/20U RU13842U1 (ru) 2000-02-04 2000-02-04 Портативный рентгеновский дифрактометр

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU13842U1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0117293B1 (en) Stress measurement by x-ray diffractometry
US7035373B2 (en) X-ray diffraction apparatus
JP5855573B2 (ja) 試料のx線解析を実行する方法及び装置
US6665372B2 (en) X-ray diffractometer
US7848489B1 (en) X-ray diffractometer having co-exiting stages optimized for single crystal and bulk diffraction
EP0597668B1 (en) X-ray analysis apparatus
US4364122A (en) X-Ray diffraction method and apparatus
US7260178B2 (en) Diffractometer and method for diffraction analysis
GB2382513A (en) Automatic adjusting method for a goniometer and associated device
RU13842U1 (ru) Портативный рентгеновский дифрактометр
US3345613A (en) X-ray diffractometer control system
US6546069B1 (en) Combined wave dispersive and energy dispersive spectrometer
RU2115943C1 (ru) Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты)
US3200248A (en) Apparatus for use as a goniometer and diffractometer
SU898302A1 (ru) Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов
RU2166184C2 (ru) Рентгеновский рефлектометр
Fischer et al. A single-crystal X-ray diffractometer for white synchrotron radiation with solid state detectors: energy dispersive Laue (EDL) instrument at HASYLAB, Hamburg/Germany
SU1004834A1 (ru) Рентгеновский дифрактометр
EA000345B1 (ru) Способ определения напряженно-деформированного состояния крупногабаритных изделий из кристаллических материалов и портативный рентгеновский дифрактометр для его осуществления
US6487270B1 (en) Apparatus for X-ray analysis with a simplified detector motion
SU873067A1 (ru) Рентгеновский спектрометр
RU2370757C2 (ru) Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев
SU857816A1 (ru) Рентгеновский спектрометр
Kern The platform concept–fitting the instrument to the need
SU1141321A1 (ru) Рентгеновский спектрометр