SU898302A1 - Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов - Google Patents
Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов Download PDFInfo
- Publication number
- SU898302A1 SU898302A1 SU802958773A SU2958773A SU898302A1 SU 898302 A1 SU898302 A1 SU 898302A1 SU 802958773 A SU802958773 A SU 802958773A SU 2958773 A SU2958773 A SU 2958773A SU 898302 A1 SU898302 A1 SU 898302A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- crystal
- monochromator
- axis
- holder
- rotation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к рентгеновской дифрактометрии и может использоватьс дл исследовани монокристаллов с помощью рентгеновского излучени от мощных источников стационарного типа.
Известно использование в рентгеноструктурном анализе мощных источников„ рентгеновского излучени на основе рентгеновских трубок с вращающимс анодом l .
Такие источники имеют значительные габариты и вес, в силу чего они в дифрактометрической аппаратуре устанавливаютс неподвижно. Вместе с тем при конструировании многокристальных рентгеновских спектрометров более выгодным, с точки зрени конструкции самого спектрометра, вл етс использование поворотного источника, что позвол ет легко перестраивать .спектрометр на работу с другими пор дками отражени от кристалла-монохроматора, на который
падает первичный пучок источника, без значительной переюстировки и перемещений других элементов спектрометра . Однако используемые в таких спектрометрах источники вл ютс маломощными, что значительно увеличивает врем исследований и сужает функциональные возможности спектрометров из-за недостаточной интенсивности первичного рентгеновского пучка.
Известен рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов, содержащий поворотный источник рентгеновского излучени , два поворотных кристалла-монохроматора, поворотный держатель исследуемого монокристалла , детекторы излучени , установленные друг за другом по ходу рентгеновского пучка .
Недостатком известного спектрометра вл етс сложность его настpo iки при использовании мощных стационарных источников излучени и ограниченный круг решаемых при таком его использовании задач. Наиболее близким техническим решением к предлагаемому вл етс рентгеновский спектрометр, содержащий два поворотных кристалла-монохроматора , поворотный держатель исследуемого монокристалла, установленные на отдельных поворотных плат формах с общей осью поворота, проход щей через фокус анода рентгенов кой трубки, по крайней мере один детектор излучени , св занный с держателем исследуемого монокристалла З. Такой спектрометр может использоватьс со стационарными источниками излучени при фиксации положе ни одного поворотного кристалламонохрома тора . Однако дл обеспече ни работы спектрометра со стационарным источником он должен иметь большие габариты, что св зано с не необходимостью использовани платфо больших размеров дл поворотов вок руг фокуса трубки при настройке спектрометра на требуемый пор док отражени . Кроме того, в данном спектрометре затруднительна реализа ци некоторых рентгенооптических схем исследовани монокристаллов. Цель изобретени заключаетс в том, чтобы уменьшить габариты спектрометра при использовании изл чени мощных стационарных источник и расширить его функциональные воз можности . Поставленна цель достигаетс тем, что в рентгеновском спектроме ре дл исследовани структурного совершенства монокристаллов, содер жащем два поворотных кристалламонохроматора , поворотный держател исследуемого монокристалла, причем один кристалл-монохроматор и держа тель исследуемого монокристалла установлены на поворотных платформах с общей осью поворота, не совпадающей с ос ми поворота этого кристалла-монохроматора и держател исследуемого монокристалла, по кра ней мере один детектор излучени , св занный с держателем исследуемог монокристалла, другой поворотный кристалл-монохроматор установлен на ос х поворота платформ с крис4 таллом-монохроматором и держателем исследуемого монокристалла. Кроме того, в спектрометр дополнительно введен третий кристалл-монохроматор , установленный на платформе с держателем исследуемого монокристалла с возможностью поворота вокруг оси, проход щей через его поверхность , и вокруг оси поворота держател исследуемого монокристалла . На фиг. 1 показана схема трехкристального-спектрометра; на фиг.2часть четырехкристального спектрометра с третьим кристаллом-монохроматором . Рентгеновский спектрометр содержит стационарный источник рентгеновского излучени I, первый кристаллмонохроматор 2, установленный в поворотном держателе 3, второй кристалл-монохроматор , установленный в поворотном держателе 5, который расположен на поворотной платформе . Исследуемый монокристалл 7 установлен в поворотном держателе 8, который расположен на второй поворотной платформе 9. Оси поворотов платформ 6 и 9 совпадают с осью поворота держател 3 первого кристалла-монохроматора 2. Дифрагированное исследуемым монокристаллом 7 излучение регистрируют детектором 10, который установлен с возможностью поворота относительно оси поворота держател 8 исследуемого монокристалла 7. В спектрометр могут быть введены дополнительные детекторы дл целей настройки кристаллов-монохроматоров 2 и . Каждый держатель 3, i и 8 предусматривает возможность юстировки кристалла за счет его перемещени в двух взаимно перпендикул рных направлени х . В спектрометр может быть введен третий кристалл-монохроматор 11, который может быть установлен на держателе 8 параллельно исследуемому монокристаллу 7, причем при повороте последнего кристалл-монохроматор 11 совершает поворот вокруг оси поворота держател 8 на фиксированном рассто нии от нее. Кроме того, третий кристалл-монохроматор 11 установлен и с возможностью поворота относительно собственной оси с помощью поворотного держател 12. Спектрометр может работать в следующих режимах: в режиме трехкристального спектрометра при параллельном расположении кристаллов , в режиме трехкристального спектрометра с антипараллельным расположением кристаллов; в режиме трехкристального спектрометра со смешанным расположением кристаллов (как показано, например, на фиг. 1); в режиме двухкристального спектрометра при выводе второго кристалла-монохроматора 4 с траеь:тории рентгеновского пучка за счет поворота платформы 6 с параллельным и антипараллельным расположением кристаллов. При средних и больших брегговских углах спектрометр может перестраиватьс на работу с кристаллом-анализатором, в качестве которого используют второй к(исталл-монохроматор , т.е. пучок от первого монохроматора 2 направл ют непосредственно на исследуемый монокристалл 7, установленный в такое положение, чтобы дифрагированный им пучок мог попасть на кристалл k, с помощью которого производ т развертку кривой дифракционного отражени от монокристалла 7, регистрируемую с помощью специального детектора .
В четырехкристальном варианте предлагаемый спектрометр позвол ет дополнительно произвести прецизионное эталонное измерение периода решетки исследуемого монокристалла 7 одним из методов двухлучевой дифрак .тометрии. Кроме того, такой спектрометр может работать в трехкристальном и двухкристальном режимах при дифракции по Боррману.
Таким образом, предложенный спектрометр обладает большим набором функциональных возможностей и обеспечивает легкость управлени им при работе с мощными источниками рентгеновского излучени стационарного типа при сохранении относительно небольших габаритов спектрометра.
Claims (3)
- Формула изобретени 1 . Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов, содержащий два поворотных кристалла-монохроматора, поворотный держатель исследуемого монокристалла,причем один кристаллмонохроматор и держатель исследуемого монокристалла установлены на поворотных платформах с общей осью поворота, не совпадающей с ос ми поворота этого, кристалла-монохроматора и держател исследуемого монокристалла , по крайней мере один детектор излучени , св занный с держателем исследуемогб монркристалла.отличающийс тем, что, с целью уменьшени габаритов спектрометра при использовании излучени мощных стационарных источников и расширени его функциональных возможностей, другой поворотный кристалл-монохроматор установлен на оси поворота платформ с кристаллом-монохроматором и держателем исследуемого монокристалла .
- 2. Спектрометр по п. 1, о т л ичающийс тем, что в него дополнительно введен третий кристаллмонохроматор , установленный на платформе с дерххателем исследуемого моно кристалла с возможностью поворота вокруг оси, проход щей через его поверхность, и вокруг оси поворота держател исследуемого монокристаллаИсточники информации, прин тые во внимание при экспертизе1.Русаков ft.А. Рентгенографи металлов. М., Атомиздат, 1977,с. .2.Ковальчук М.В. и др. Трехкристальный рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства реальных кристаллов, ПТЭ. 1976, № 1, с. .
- 3.Авторское свидетельство СССР по за вке № 2860030/18-25,кл. G 01 N 23/20, 1979 (прототип).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802958773A SU898302A1 (ru) | 1980-05-16 | 1980-05-16 | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802958773A SU898302A1 (ru) | 1980-05-16 | 1980-05-16 | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU898302A1 true SU898302A1 (ru) | 1982-01-15 |
Family
ID=20909146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802958773A SU898302A1 (ru) | 1980-05-16 | 1980-05-16 | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU898302A1 (ru) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2466384C2 (ru) * | 2010-12-01 | 2012-11-10 | Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН | Способ и устройство для регистрации кривых дифракционного отражения |
RU2539787C1 (ru) * | 2013-09-06 | 2015-01-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Российской академии наук, (ИК, РАН) | Способ и устройство для регистрации кривых дифракционного отражения |
RU2674584C1 (ru) * | 2017-12-15 | 2018-12-11 | Федеральное государственное учреждение "Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук" | Установка для топо-томографических исследований образцов |
RU2824297C1 (ru) * | 2023-12-15 | 2024-08-07 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" | Способ сбора и обработки данных рентгеновской дифракционной микротомографии |
-
1980
- 1980-05-16 SU SU802958773A patent/SU898302A1/ru active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2466384C2 (ru) * | 2010-12-01 | 2012-11-10 | Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН | Способ и устройство для регистрации кривых дифракционного отражения |
RU2539787C1 (ru) * | 2013-09-06 | 2015-01-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Российской академии наук, (ИК, РАН) | Способ и устройство для регистрации кривых дифракционного отражения |
RU2674584C1 (ru) * | 2017-12-15 | 2018-12-11 | Федеральное государственное учреждение "Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук" | Установка для топо-томографических исследований образцов |
RU2824297C1 (ru) * | 2023-12-15 | 2024-08-07 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" | Способ сбора и обработки данных рентгеновской дифракционной микротомографии |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7440542B2 (en) | Method and measuring arrangement for nondestructive analysis of an examination object by means of x-radiation | |
US5509043A (en) | Asymmetrical 4-crystal monochromator | |
Yamamoto et al. | Trichromatic concept at SPring-8 RIKEN beamline I | |
JPH0672850B2 (ja) | X線分析装置 | |
JPH06213836A (ja) | X線分析装置 | |
JPH0430541B2 (ru) | ||
RU2314517C2 (ru) | Дифрактометр и способ дифракционного анализа | |
SU898302A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов | |
US3073952A (en) | X-ray diffraction apparatus | |
Bonse et al. | Multiple-beam X-ray interferometry for phase-contrast microtomography | |
US3213278A (en) | X-ray spectrograph having plural detectors | |
SU894502A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов | |
US3200248A (en) | Apparatus for use as a goniometer and diffractometer | |
SU1104401A1 (ru) | Рентгеновский трехкристальный спектрометр | |
JPH1151883A (ja) | 蛍光x線分析装置および方法 | |
SU1583808A1 (ru) | Рентгеновский дифрактометр | |
RU13842U1 (ru) | Портативный рентгеновский дифрактометр | |
SU543858A1 (ru) | Устройство дл исследовани совершенства структуры кристаллов | |
SU918827A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
JPH05134099A (ja) | 2結晶x線モノクロメーター | |
SU842522A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
SU873281A1 (ru) | Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучени | |
Gibson et al. | Convergent-beam neutron crystallography | |
SU800836A1 (ru) | Устройство дл исследовани совер-шЕНСТВА СТРуКТуРы МОНОКРиСТАлли-чЕСКиХ СлОЕВ | |
JP2620106B2 (ja) | 薄膜試料のx線回折極点図形観測装置 |