SU918827A1 - Рентгеновский спектрометр - Google Patents
Рентгеновский спектрометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU918827A1 SU918827A1 SU782632959A SU2632959A SU918827A1 SU 918827 A1 SU918827 A1 SU 918827A1 SU 782632959 A SU782632959 A SU 782632959A SU 2632959 A SU2632959 A SU 2632959A SU 918827 A1 SU918827 A1 SU 918827A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- crystal
- reflection
- ray
- bragg
- angle
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Изобретение относитс к рентгеновскому анализу, а именно к рентгеновским спектрометрам, используемым дл исследовани монокристаллов.
Известен рентгеновский спектрометр , содержащий, рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно чейки дл исследуемого кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекто л рентгеновского излучени и чейку дл исследуемого крйстсшла. Такой спектрометр позвол ет работать в широком диапазоне углов дифракции рентгенбвских лучей Г1 Недостатком спектрометра вл етс сложность юстировки, включающей кроме поворотов также параллельные перемещени кристаллов и детекторов излучени .;
Цель изобретени - упрощение юстировки .
Поставленна цель достигаетс тем, что спектрометр, содержсшдай рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно чейки дл исследуемого кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекторы рентгеновского излучени и чейку дл исследуемого кристалла.
имеет две платформы, скрепленные ве- ерообразно с возможностью поворота вокруг чейки дл исследуемого кристалла , на каждой из которых последовательно установлены кристалл-монохроматор , детектор, второй кристаллмонохроматор и второй детектор, при этом каждый из детекторов содержит два расположенных навстречу друг дру10 гу входных окна, а кристалл-монохроматоры выполнены в виде монокристаллических пластин с прорезью.
На чертеже представлена принципиальна схема спектрометра.
15
Спектрометр содержит платформу 1, источник 2 рентгеновских лучей, монохроматоры 3 с устройствами юстировки и поворотов, детекторы 4 рентгеновского излучени , исследаекий
20 кристалл 5 с гониометрическим устройством юстировки и механическим приводом поворотов.
Платформа 1 с расположенными на ней источником 2, монохроматором 3
25 и детектором 4 образуют левый лучевой блок. Аналогичную конструкцию имеет и правый лучевой блок.
В обоих лучевых блоках исход щие из источника 2 рентгеновские лучи
Claims (1)
- 30 последовательно отражаютс от двух противоположных внутренних плоскостей поверхности прорези монокристаллических пластин, исполн ющих роль монохроматоров 3, и падают на исследуемый кристалл 5. отражение левого рентгеновского луча от исследуемого 1кристалла 5 регистрируетс ближайшим к нему детектором 4 правого лучевого блока, а отражение правого рентгенов ского луча - детектором 4 левого лучевого блока. Остальные детекторы 4 спектрометра служат дл ю.стировки мо нохроматоров 3. Измерение приращений брэгговских углов отражени рентгеновских лучей от исследуемого кристалла 5 производ т следующим образом. Поворотами лучевых блоков устанав ливают между двум падающими рентгенoвcки tи лучами угол, равный 180-2е где б - брэгговский угол отражени . Подключают ближайшие к исследуемому кристаллу 5 детекторы 4 левого и пра вого лучевых блоков к устройствам регистрации интенсивности отраженных рентгеновских лучей. Включают механизм поворота исследуемого кристалла 5, а при записи- брэгговских максимумов отражени на диаграммную лен ту - механизм ее прот жки, работающий синхронно с механизмом поворота исследуемого кристалла 5. Приращение брэгговского уг. а отражени вычисл ют как i d-j-u, где д w - измеренное в угловых единицах на диаграммной ленте рассто ние между брзгговским максимумом отражени левого и правого рентгеновских лучей. Поскольку угол между падающими лу чами установлен равным 180°-29, в случае неизменного брэгговского луча угла .отражени , т.е. прий6 0, должно наблюдатьс одновременное отражение обоих рентгеновских лучей при общем угле наклона исследуемого крис талла 5.- В случае приращени брэгго ского угла на величину дб , дл нахождени отражени левого луча (как видно из чертежа) исследуемый кристалл 5 необходимо повернуть на вели чину йб влево, а дл нахождени отражени правого рентгеновского луча. на величину &9 вправо. Таким образом , угол между отражающими положени ми исследуемого кристалла 5 равен 2 де . Дл улучшени условий работы детекторов 4 запись брэгговских макси мумов отражени можно производить при очередном отклонении рентгеновких трубок: правой - при регистраии брэгговского максимума отражеи левого падающего рентгеновского уча, левой - при регистрации брэгговского максимума отражени правого падающего рентгеновского луча. При этом, в случае необходимости, гловым смещением лучевых блоков можно дл облегчени условий работы регистрирующих устройств спектрометра вводить дополнительное учитываемое рассогласование времени по влени брэгговских максимумов отражени левого и правого падающих рентгеновских лучей в процессе непрерывного поворота исследуемого кристалла 5. Предлагаемый спектрометр позвол ет при помощи установки дополнительных лучевых блоков производить одновременную запись регистрирующими .устройствами нескольких брэгговских максимумов с определением их угловых приращений , а также дл упрощени технологии обработки исследуемого кристалла непосредственно в спектрометре закрепл ть исследуемый кристалл стационарно , а его установку под угол отражени и повороты в процессе записи кривых отражени замен ть однозначными поворотами лучевых- блоков. Формула изобретени Рентгеновский спектрометр, содержащий рентгеновскую трубку с коллиматором , установленную на поворотной относительно чейки дл. исследуемо го кристалла платформе, кристалл-монохроматоры , детекторы рентгеновского излучени и чейку дл исследуемого кристалла, отличающийс тем, что, с целью упрощени юстировки , имеет две платформы, скрепленные веерообразно с возможностью поворота вокруг чейки дл исследуемого кристалла, на каждой из которых последовательно установлены кристалл-монохроматор ,. детектор, второй кристалл-монохроматор и второй детектор , при этом каждый из детекторов содержит два расположенных навстречу друг другу входных окна, а кристалл -монохроматоры выполнены в виде монокристаллических пластин с прорезью . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 522458, кл. G 01 N 23/20, 1974 (прототип).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782632959A SU918827A1 (ru) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Рентгеновский спектрометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782632959A SU918827A1 (ru) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Рентгеновский спектрометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU918827A1 true SU918827A1 (ru) | 1982-04-07 |
Family
ID=20771956
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782632959A SU918827A1 (ru) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Рентгеновский спектрометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU918827A1 (ru) |
-
1978
- 1978-06-26 SU SU782632959A patent/SU918827A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4472825A (en) | Double crystal X-ray spectrometer | |
US5790628A (en) | X-ray spectroscope | |
US4254335A (en) | Spectrograph-monochromator of grazing incidence type | |
US5898752A (en) | X-ray analysis apparatus provided with a double collimator mask | |
SU918827A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
US5008910A (en) | X-ray analysis apparatus comprising a saggitally curved analysis crystal | |
US3344274A (en) | Ray analysis apparatus having both diffraction amd spectrometer tubes mounted on a common housing | |
US6373569B1 (en) | Method and device for the spectral analysis of light | |
JP2921597B2 (ja) | 全反射スペクトル測定装置 | |
JPH02205760A (ja) | 多重波長x線断層撮影装置 | |
SU857816A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
US6646743B2 (en) | Method and device for the spectral analysis of light | |
SU894502A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов | |
SU1004834A1 (ru) | Рентгеновский дифрактометр | |
SU779866A1 (ru) | Устройство дл исследовани структуры монокристаллов | |
JP3968452B2 (ja) | X線分析装置 | |
SU759930A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр для исследования монокристаллов 1 | |
SU1141321A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
SU898302A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов | |
SU920480A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
Fletcher et al. | A computer controlled high resolution Raman spectrometer system | |
US6487270B1 (en) | Apparatus for X-ray analysis with a simplified detector motion | |
EP0222442A1 (en) | Improved double crystal X-ray spectrometer | |
SU1744611A1 (ru) | Способ определени радиуса изгиба атомных плоскостей монокристаллических пластин | |
SU873067A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр |