SU1004834A1 - Рентгеновский дифрактометр - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к научному приборостроению и может быть использовано дл  рентгеноструктурных исследований кристаллов.

Известен координатный автоматический рентгеновский дифрактометр, включающий плоский двухкоординатный детектор, многопроволочную камеру, однокружный гониостат дл  установки исследуемого кристалла в положени  отражени , источник рентгеновского излучени  с коллиматором и монохроматором первичного пучкаClL

Наиболее близким техническим решением к изобретению  вл етс  рентгеновский дифрактс 1етр, включающий источник рентгеновских лучей, плоский двухкоординатный детектор, установленный с возможностью перемещени  относительно источника, гониометр с держателем образца, механизм поворота источника относительно держател  образца 2.

Недостаток известного устройства состоит в резком ухудшении пространственного разрешени  при отклонении регистрируемых лучей от нормали к поверхности детектора. Угловое разрешение детектора .и телесный угол регистрации дифракционной картины

определ ют максимальные параметры элементарной  чейки исследуемого кристалла и число отражений, которое можно измерить при одном полном повороте образца.

Цель изобретени  состоит в повышении разрешающей способности при регистрации дифракционной картины.

Поставленна  цель достигаетс  тем,

10 что рентгеновский дифрактометр, включающий источник рентгеновского излучени , плоский двухкоординатный детектор, установленный с возможностью перемещени  относительно источ15 ника излучени , гониометр с держателем образца и механизм поворота источника излучени  относительно держател  образца, снабжен платформой, установленной с возможностью пово20 рота вокруг оси гониометра, на которой смонтирован источник излучени  с возможностью поворота вокруг оси, перпендикул рной гониометрической оси и проход щей через обра- .

25 зец.

На чертеже изображен дифрактометр.

Claims (2)

1. Устройство включает источник рентгеновского излучени  1, плоский двухкоординатный детектор 2, установ30 ленный с возможностью перемещени  относительно источника излучени , гониометр 3 с держателем 4 кристалла 5, устрюйство угловой установки источника излучени  б относительно кристалла, платформу 7 дл  поворота источника вокруг вертикальной оси гониометра и оси, перпендикул рной ей и пpoxoi   дeй через центр гониометра , а также гелиевый буфер 8, размещенный между исследуемым кристаллом и двухкоординатннм детекторо Описанный дифрактометр работает следующим образом. На кристалл 5, установленный на гониометре 3, направл ют монохромат зированный и коллимированный пучок рентгеновских лучей от источника рентгеновского излучени  1, Возникающа  двумерна  дифракционна  картина регистрируетс  с помощью двухкоординатного детектора 2. Юстирование кристалла производитс  поворотами держател  4 с кристаллом вок руг трех независимых осей , , X гониометра. Измерение рентгеновских отражателей происходит при непрернв ном сканировании держател  с кристаллом вокруг вертикальной ocиVC . Выбор оптимальной геометрии съемки и достижение необходимого при иссле довании разрешени  осуществл етс  путем поворотов источника рентгенов ского излучени  вокруг вертикальной оси гониометра и оси, перпендикул р ной ей и проход щей через центр гон ометра с помощью устройства угловой установки источника излучени  6 и платформы 7. Дл  уменьшени  поглоще ни  рентгеноврких лучей в воздухе, идущих от кристалла до детектора, используетс  гелиевый буфер 8. Предлагаемое устройство позвол е без дополнительных поворотов, накло нов и смещений двухкоординатного де тектора измерить дифракционную картину с высоким разрешением. Повороты источника излучени  обе печиваютс  с высокой точностью, что позвол ет устранить ошибки в расчет положений дифракционных отражений, св занных с погрешност ми при перемещении детектора и тем самым повысить общую точность измерений интен сивностей. Кроме того, Предложенный дифрактометр дает возможность использовать общий случай наклонной геометрии съемки, при котором плоский детектор перпендикул рен экваториальной плоскости съемки и касаетс  сферы Эвальда своей центральной точкой. Така  геометри  съемки позвол ет по сравнению с методом перпендикул рного пучка сократить в п ть раз недоступную область обратного пространства исследуемого кристалла и существенно уменьшить угловую рахо- димость измер емых отражений с большими значени ми углов, что упрощает методику исследовани , улучшает пространственное разрешение и, в конечном итоге, дает возможность изучать монокристаллы с большими параметрами элементарной  чейки и с .более высоким разрешением, чем метод перпендикул рного пучка. Формула изобретени  Рентгеновский дифрактометр, включающий источник рентгеновских лучей, плоский двухкоординатный детектор, установленный с возможностью перемещени  относительно источника, го1Тиометр с держателем образца, механизм поворота источника относительно держател  образца,о т л и ч а ю щ и и с   тем, что, с целью повышени  разрешающей способности при регистрации дифракционной картины, он .снабжен платформой, установленной с возможностью поворота вокруг оси гониометра, на которой смонтирован источник излучени  с возможт ностью поворота вокруг оси, перпендикул рной гониометрической оси и проход щей через образец. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.N. Xuong et a1. The Electronic Stationary Picture Method bor Hlgh-SpOd Measurement of Refliction Inteusities from Crystal with large Unit CeHs. Acta Cryst. 1978, A-34, p. 289-296.
2. 2.Мокулеска  Т.Д.,Кузен С.В. и др. Измерительна  система дл  рентгено-структурных исследований на основе многоканальных дифрактометров АРГУС. Препринт ИАЭ-3369/15, м., 1980 (прототип).