JPH03209119A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH03209119A JPH03209119A JP2004258A JP425890A JPH03209119A JP H03209119 A JPH03209119 A JP H03209119A JP 2004258 A JP2004258 A JP 2004258A JP 425890 A JP425890 A JP 425890A JP H03209119 A JPH03209119 A JP H03209119A
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 241000201776 Steno Species 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は産業用のＸ線ＣＴ装置、特に微細構造物の内部
を非破壊で検査するのに好通なＸ＆ｌＩＣＴ装置に関す
るものである． 〔従来の技術〕 Ｘ線ＣＴ装置は外部から人体の内部を観察することがで
きるという優れた特徴故に、医療の分野において広く使
用されている。また、各種工業製品の内部を非破壊で検
査することができるので、近年産業の分野においても徐
々に普及しつつある。
を非破壊で検査するのに好通なＸ＆ｌＩＣＴ装置に関す
るものである． 〔従来の技術〕 Ｘ線ＣＴ装置は外部から人体の内部を観察することがで
きるという優れた特徴故に、医療の分野において広く使
用されている。また、各種工業製品の内部を非破壊で検
査することができるので、近年産業の分野においても徐
々に普及しつつある。
産業用のＸ線ＣＴ装置は、通常被検査物を回転させてＸ
線の透過データを得る。したがって、被検査物を保持し
て回転する回転装置の回転軸と被検査物の中心線とを一
致させる必要がある．従来のＸ線ＣＴ装置では、この被
検査物の中心線を回転装置の回転軸に合わせるための特
別の装置、手段は設けられておらず、かかる操作は観測
者の経験や技量に頼る手作業で行っていた，〔発明が解
決しようとする課題〕 ところで、被検査物の中心線と回転装置の回転軸とが一
致せず被検査物の中心線が傾いていると、回転装置の回
転に伴って被検査物は歳差運動を行う。この状態で断層
像の再構戒を行っても、被検査物がＸ線ビームからはず
れたり、透過データが欠如して明瞭な断層像は得られな
い。１０μｍ程度の高い分解能が要求される産業用の×
線ＣＴ装置では、特に被検査物の中心線を＠密に回転装
置の回転軸と一致させなければ正確な形状測定はできな
い。
線の透過データを得る。したがって、被検査物を保持し
て回転する回転装置の回転軸と被検査物の中心線とを一
致させる必要がある．従来のＸ線ＣＴ装置では、この被
検査物の中心線を回転装置の回転軸に合わせるための特
別の装置、手段は設けられておらず、かかる操作は観測
者の経験や技量に頼る手作業で行っていた，〔発明が解
決しようとする課題〕 ところで、被検査物の中心線と回転装置の回転軸とが一
致せず被検査物の中心線が傾いていると、回転装置の回
転に伴って被検査物は歳差運動を行う。この状態で断層
像の再構戒を行っても、被検査物がＸ線ビームからはず
れたり、透過データが欠如して明瞭な断層像は得られな
い。１０μｍ程度の高い分解能が要求される産業用の×
線ＣＴ装置では、特に被検査物の中心線を＠密に回転装
置の回転軸と一致させなければ正確な形状測定はできな
い。
しかし、従来のように手作業で被検査物の中心線を回転
装置の回転軸に会わせる方法では、通常何回かの試行錯
誤を繰り還さなければならず被検査物の設置に時間がか
かり、装置の利用効率が悪い．また、従来の方法では、
中心線と回転軸とを合わせても、その精度には限界があ
り、操作の再現性にも乏しい。
装置の回転軸に会わせる方法では、通常何回かの試行錯
誤を繰り還さなければならず被検査物の設置に時間がか
かり、装置の利用効率が悪い．また、従来の方法では、
中心線と回転軸とを合わせても、その精度には限界があ
り、操作の再現性にも乏しい。
本発明は上記事情に基づいてなされたものであり、簡便
な手段で被検査物の中心線を回転装置の回転軸に一致さ
せることのできるＸｍＣＴ装置を提供することを目的と
するものである．〔課題を解決するための手段〕 前記の目的を達戒するために本発明に係るＸ線Ｃ．Ｔ装
置は、扇状のＸ線ビームを発生するＸ線発生装置と、被
検査物を回転させる回転装置と、該回転装置を介して前
記Ｘ線発生装置と対向して配置され前記Ｘ線発生装置に
より放射され前記被検査物を透過した後のＸ＆ｌを検出
するＸ線検出装Ｘとを有し、前記回転装置によって前記
被検査物を微小角度づつ回転させてＸｋａの透過データ
を収集し、該透過データにより前記被検査物の断層像を
再構或して画像表示装置に表示するＸ！ＣＴ装置におい
て、 各々の角度位置における前記ｉｓｉｉ！ｌデータを前記
画像表示装置に順次並べて表示したときに、各透過デー
タによる像の中心と前記回転装置の回転軸に対応する中
心軸との距離が最大になるときの距離に基づき、前記被
検査物の中心線の前記回転軸に対する傾きの方向及びそ
の角度を求める傾き検出手段と、 該傾き検出手段により求めた前記被検査物の中心線の前
記回転軸に対する傾きの方向及びその角度に基づいて、
前記回転装置の回転軸に対する被検査物の角度を変化さ
せて前記中心線を前記回転軸に一致させる角度調整手段
とを設けたことを特徴とするものである。
な手段で被検査物の中心線を回転装置の回転軸に一致さ
せることのできるＸｍＣＴ装置を提供することを目的と
するものである．〔課題を解決するための手段〕 前記の目的を達戒するために本発明に係るＸ線Ｃ．Ｔ装
置は、扇状のＸ線ビームを発生するＸ線発生装置と、被
検査物を回転させる回転装置と、該回転装置を介して前
記Ｘ線発生装置と対向して配置され前記Ｘ線発生装置に
より放射され前記被検査物を透過した後のＸ＆ｌを検出
するＸ線検出装Ｘとを有し、前記回転装置によって前記
被検査物を微小角度づつ回転させてＸｋａの透過データ
を収集し、該透過データにより前記被検査物の断層像を
再構或して画像表示装置に表示するＸ！ＣＴ装置におい
て、 各々の角度位置における前記ｉｓｉｉ！ｌデータを前記
画像表示装置に順次並べて表示したときに、各透過デー
タによる像の中心と前記回転装置の回転軸に対応する中
心軸との距離が最大になるときの距離に基づき、前記被
検査物の中心線の前記回転軸に対する傾きの方向及びそ
の角度を求める傾き検出手段と、 該傾き検出手段により求めた前記被検査物の中心線の前
記回転軸に対する傾きの方向及びその角度に基づいて、
前記回転装置の回転軸に対する被検査物の角度を変化さ
せて前記中心線を前記回転軸に一致させる角度調整手段
とを設けたことを特徴とするものである。
ご作用〕
本発明に係るＸｖＡＣＴ装置は前記の構戒によって、被
検査物を微小角度づつ回転させて被検査物にＸ線を放射
することにより得られたそれぞれの角度位置におけるＸ
線のｉ３過データを用いて、被検査物のスライス画像を
画像表示装置の画面上に並べて同時に表示すると、被検
査物の回転角度の変化に応して画面上で被検査物のスラ
イス画像の中心と回転装置の回転軸に対応する中心軸と
の距離が変化する。傾き検出手段はこの距離が最大とな
るときの距離に基づいて、被検査物の中心線が傾いてい
る方向及びその角度を検出する。
検査物を微小角度づつ回転させて被検査物にＸ線を放射
することにより得られたそれぞれの角度位置におけるＸ
線のｉ３過データを用いて、被検査物のスライス画像を
画像表示装置の画面上に並べて同時に表示すると、被検
査物の回転角度の変化に応して画面上で被検査物のスラ
イス画像の中心と回転装置の回転軸に対応する中心軸と
の距離が変化する。傾き検出手段はこの距離が最大とな
るときの距離に基づいて、被検査物の中心線が傾いてい
る方向及びその角度を検出する。
角度調整手段は、傾き検出手段によって得られた傾きの
方向及びその角度に基づいて回転装置の回転軸に対する
被検査物の角度を変化させて、被検査物の中心線を回転
装置の回転軸に一致させる。
方向及びその角度に基づいて回転装置の回転軸に対する
被検査物の角度を変化させて、被検査物の中心線を回転
装置の回転軸に一致させる。
以下に本発明の一実施例について図面を参照しつつ説明
する。第１図は本発明の一実施例であるＸ線ＣＴ装Ｉの
配置図である．同図に示すＸ線発生装置は、被検査物Ａ
に向けて扇状のＸ＆Ｉビームを発生する微小焦点のＸｖ
Ａ発生装置１、被検査物Ａを保持しその方向を任意に変
えることのできる被検査物保持装置２、被検査物保持装
置によって保持された被検査物Ａを回転させる回転テー
ブル３、被検査物Ａを透過した後のＸ線を検出するＸ＆
！横出器４、及びＸ線検出器によって得られた多数のＸ
線透過データを処理しＣＴ画像を再構成して画像表示装
置５ａに表示するコンピュータ５により構威される。尚
、Ｘ線発生装Ｗ１と被検査物Ａとの距離をａ１被検査物
ＡとＸ＆！検出器４との距離をｂとする。
する。第１図は本発明の一実施例であるＸ線ＣＴ装Ｉの
配置図である．同図に示すＸ線発生装置は、被検査物Ａ
に向けて扇状のＸ＆Ｉビームを発生する微小焦点のＸｖ
Ａ発生装置１、被検査物Ａを保持しその方向を任意に変
えることのできる被検査物保持装置２、被検査物保持装
置によって保持された被検査物Ａを回転させる回転テー
ブル３、被検査物Ａを透過した後のＸ線を検出するＸ＆
！横出器４、及びＸ線検出器によって得られた多数のＸ
線透過データを処理しＣＴ画像を再構成して画像表示装
置５ａに表示するコンピュータ５により構威される。尚
、Ｘ線発生装Ｗ１と被検査物Ａとの距離をａ１被検査物
ＡとＸ＆！検出器４との距離をｂとする。
第２図は被検査物Ａとこれを通過する扇状のＸ線ビーム
７を横から見た図であり、ｈは被検査物保持装宣２の最
上面を基準としたＸ線ビーム７（スライス面）の高さ、
θは被検査物Ａの中心線８と回転軸９がなす角、ｒはＸ
線ビームの面内での回転軸９と被検査物の中心線８との
距離である。
７を横から見た図であり、ｈは被検査物保持装宣２の最
上面を基準としたＸ線ビーム７（スライス面）の高さ、
θは被検査物Ａの中心線８と回転軸９がなす角、ｒはＸ
線ビームの面内での回転軸９と被検査物の中心線８との
距離である。
したがって、第２図においては
ｔａｎθ＝ ｒ ／ ｈ （ １
）の関係がある。第２図の配置で、被検査物Ａのそれ
ぞれの角度位置におけるＸ線を検出して得られた透過デ
ータは、数値化されてコンピュータ５内部のメモリに記
憶される。
）の関係がある。第２図の配置で、被検査物Ａのそれ
ぞれの角度位置におけるＸ線を検出して得られた透過デ
ータは、数値化されてコンピュータ５内部のメモリに記
憶される。
更に、これらの透過データをコンピュータ５の画像表示
装置５ａの画面上に表示するとスライス画像を並べたも
のとなり、この中でＸｗＡが吸収される被検査物の部分
は、たとえば黒くなって現れる．第３図は回転テーブル
３を回転させることによって、たとえば１８０度の角度
範囲にわたってＸ線の透過データの収集をＮ回行い、こ
うして得られたＮ個のスライス画像を順に一つの画面上
に並べて同時に表示したものの一例を示す図である。
装置５ａの画面上に表示するとスライス画像を並べたも
のとなり、この中でＸｗＡが吸収される被検査物の部分
は、たとえば黒くなって現れる．第３図は回転テーブル
３を回転させることによって、たとえば１８０度の角度
範囲にわたってＸ線の透過データの収集をＮ回行い、こ
うして得られたＮ個のスライス画像を順に一つの画面上
に並べて同時に表示したものの一例を示す図である。
第３図において曲線ｊ （同図の点ｖＩ）は被検査物Ａ
の中心の軌跡に対応し、画面の中央の中心軸（一点鎖線
）ｋは回転テーブル３の回転軸に対応するよう予め設定
されている。被検査物Ａの中心線が第２図のように回転
軸から傾いていると、被検査物Ａの中心線は回転テーブ
ル３の回転に伴って歳差運動を行うので、第３図におけ
るスライス画像の中心の軌跡は中心軸ｋから逸脱する曲
線ｊとなる。また、第３図に示すスライス像画は、被検
査物ＡをＸ線検出器４の位置に拡大投彰した像として検
出されるので、曲線ｊの中心軸ｋからのずれの最大値が
Ｒであったとすると、 Ｒ＝ｒ （ａ十ｂ）／ａ （２）という
関係が成り立つ。Ｌ７たがって（１）式より・ θ＝ｊａｎ−’Ｒａ／ｈ （ａ十ｂ） （３）
が得られ、この弐からθを求めることができる。
の中心の軌跡に対応し、画面の中央の中心軸（一点鎖線
）ｋは回転テーブル３の回転軸に対応するよう予め設定
されている。被検査物Ａの中心線が第２図のように回転
軸から傾いていると、被検査物Ａの中心線は回転テーブ
ル３の回転に伴って歳差運動を行うので、第３図におけ
るスライス画像の中心の軌跡は中心軸ｋから逸脱する曲
線ｊとなる。また、第３図に示すスライス像画は、被検
査物ＡをＸ線検出器４の位置に拡大投彰した像として検
出されるので、曲線ｊの中心軸ｋからのずれの最大値が
Ｒであったとすると、 Ｒ＝ｒ （ａ十ｂ）／ａ （２）という
関係が成り立つ。Ｌ７たがって（１）式より・ θ＝ｊａｎ−’Ｒａ／ｈ （ａ十ｂ） （３）
が得られ、この弐からθを求めることができる。
次に、第４図に示すように被検査物支持装置２上におい
てスライス面の法線に一致する回転テーブル３の回転軸
方向を２軸、回転軸からみたＸ線発生装置の方向をＸ軸
、これらに垂直な方向をｙ軸とする座標系を定義する。
てスライス面の法線に一致する回転テーブル３の回転軸
方向を２軸、回転軸からみたＸ線発生装置の方向をＸ軸
、これらに垂直な方向をｙ軸とする座標系を定義する。
ここで、被検査物Ａの中心線をｘ−ｙ面に射影した直ｉ
ｄがＸ軸となす角をφとすると、第３図の曲ｖＡＪの中
心軸ｋからのずれが最大値Ｒとなるのは、回転テーブル
３の回転角度がπ／２−φとなったときである．したが
って、第３図に示すずれの最大値只の角度位置からφを
求めることができる。
ｄがＸ軸となす角をφとすると、第３図の曲ｖＡＪの中
心軸ｋからのずれが最大値Ｒとなるのは、回転テーブル
３の回転角度がπ／２−φとなったときである．したが
って、第３図に示すずれの最大値只の角度位置からφを
求めることができる。
更に、第４図に示す二つの角度α，βは、α＋ｊａｎ
−’ （ ｒ ＣｏＳφ ／ ｈ）一ｔａｎ −’
（ａ Ｒｃｏｓφ ／ ｈ（ａ＋ｂ））（４） β＝ ｊａｎ ” （ ｒ ｓｉｎ φ ／
ｈ）一ｔａｎ −’ （ａ Ｒｓｉｎ φ
／ｈ（ａ＋ｂ））（５） で表すことができる。コンピュータ５は（４〉式及び（
５）弐に基づいてα及びβの値を求め、その信号を角度
調整手段（図示せず〉に送る。
−’ （ ｒ ＣｏＳφ ／ ｈ）一ｔａｎ −’
（ａ Ｒｃｏｓφ ／ ｈ（ａ＋ｂ））（４） β＝ ｊａｎ ” （ ｒ ｓｉｎ φ ／
ｈ）一ｔａｎ −’ （ａ Ｒｓｉｎ φ
／ｈ（ａ＋ｂ））（５） で表すことができる。コンピュータ５は（４〉式及び（
５）弐に基づいてα及びβの値を求め、その信号を角度
調整手段（図示せず〉に送る。
角度調整手段は、たとえばステノブパルスモータにより
、コンピュータ５からの信号を受けて被検査物保持装Ｉ
２を任意の方向に回転させることができるように構威さ
れている。したがって、回転テーブル３を再び第４図に
示す最初の回転角度位置に戻し、被検査物保持装置２を
ｚ−ｘ面内でα、ｙ−ｚ面内でβだけ傾けることによっ
て被検査物Ａの中心１ｉ１８を回転テーブル３の回転軸
９に一致させることができる。
、コンピュータ５からの信号を受けて被検査物保持装Ｉ
２を任意の方向に回転させることができるように構威さ
れている。したがって、回転テーブル３を再び第４図に
示す最初の回転角度位置に戻し、被検査物保持装置２を
ｚ−ｘ面内でα、ｙ−ｚ面内でβだけ傾けることによっ
て被検査物Ａの中心１ｉ１８を回転テーブル３の回転軸
９に一致させることができる。
上記ステソブパルスモークの代わりにゴニオメー夕を設
け、手動で角度の調整を行う構威とすることもできる。
け、手動で角度の調整を行う構威とすることもできる。
このように、被検査物Ａの中心線８と回転テーブルの回
転軸９を一致させて第３図と同様の画像を得ると、被検
査物の中心の軌跡（曲Ｗｊ）は中心軸ｋに一致する直線
となり、それぞれの角度位置におけるスライス画像は縦
一列に並ぶ。この様な操作を行った後に収集されたＸ線
の透過データ６こ基づいてＣＴ画像を再構成すれば、明
瞭なＣＴ画像が得られる。
転軸９を一致させて第３図と同様の画像を得ると、被検
査物の中心の軌跡（曲Ｗｊ）は中心軸ｋに一致する直線
となり、それぞれの角度位置におけるスライス画像は縦
一列に並ぶ。この様な操作を行った後に収集されたＸ線
の透過データ６こ基づいてＣＴ画像を再構成すれば、明
瞭なＣＴ画像が得られる。
尚、本発明は、上記の実施例に限定されるものではなく
、たとえば回転テーブル３を第３図において最大値Ｒと
なる角度で停止し、被検査物Ａを７−２平面内で角度θ
だけ傾けて、被検査物Ａの中心ｗＡ８を回転テーブル３
の回転軸に一致させるようにしてもよい。
、たとえば回転テーブル３を第３図において最大値Ｒと
なる角度で停止し、被検査物Ａを７−２平面内で角度θ
だけ傾けて、被検査物Ａの中心ｗＡ８を回転テーブル３
の回転軸に一致させるようにしてもよい。
以上説明したように本発明によれば、被検査物のＸ線ｉ
３過データを利用して回転装置上における被検査物の傾
きの方向及びその角度を求めることができ、この求めた
角度から被検査物の中心線が回転装置の回転軸と一致す
るよう被検査物の傾きをＰＪＪＩに修正することができ
るので、従来歳差運動を起こし易かった数ミリ程度の細
い管状又は棒状の材料についても、正確な断層像を得る
ことのできるＸ線ＣＴ装置を提供することができる。
３過データを利用して回転装置上における被検査物の傾
きの方向及びその角度を求めることができ、この求めた
角度から被検査物の中心線が回転装置の回転軸と一致す
るよう被検査物の傾きをＰＪＪＩに修正することができ
るので、従来歳差運動を起こし易かった数ミリ程度の細
い管状又は棒状の材料についても、正確な断層像を得る
ことのできるＸ線ＣＴ装置を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例であるＸ＆ｉｌＣＴ装置の配
置図、第２図は被検査物とこれを通過する扇状のＸ線ビ
ームを横から見た図、第３図は回転テーブルを回転させ
ることにより所定の角度範囲にわたって収集されたＸ線
の透過データのスライス画像を一つの画面上に並べて同
時に表示したものの一例を示す図、第４図は定義した座
標系とともに示す回転テーブル、被検査物支持装置、及
び被検査物の斜視図である． ｌ・・・Ｘ＆Ｉ発生装直、２・・・被検査物支持装置、
３・・・回転テーブル、４・・・Ｘ線検出器、５・・・
コンピュータ、７・・・Ｘ線ビーム、８・・・被検査物
の中心線、９・・・回転軸、Ａ・・・被検査物．
置図、第２図は被検査物とこれを通過する扇状のＸ線ビ
ームを横から見た図、第３図は回転テーブルを回転させ
ることにより所定の角度範囲にわたって収集されたＸ線
の透過データのスライス画像を一つの画面上に並べて同
時に表示したものの一例を示す図、第４図は定義した座
標系とともに示す回転テーブル、被検査物支持装置、及
び被検査物の斜視図である． ｌ・・・Ｘ＆Ｉ発生装直、２・・・被検査物支持装置、
３・・・回転テーブル、４・・・Ｘ線検出器、５・・・
コンピュータ、７・・・Ｘ線ビーム、８・・・被検査物
の中心線、９・・・回転軸、Ａ・・・被検査物．
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 扇状のＸ線ビームを発生するＸ線発生装置と、被検査物
を回転させる回転装置と、該回転装置を介して前記Ｘ線
発生装置と対向して配置され前記Ｘ線発生装置により放
射され前記被検査物を透過した後のＸ線を検出するＸ線
検出装置とを有し、前記回転装置によって、前記被検査
物を微小角度づつ回転させてＸ線の透過データを収集し
、該透過データにより前記被検査物の断層像を再構成し
て画像表示装置に表示するＸ線ＣＴ装置において、各々
の角度位置における前記透過データを前記画像表示装置
に順次並べて表示したときに、各透過データによる像の
中心と前記回転装置の回転軸に対応する中心軸との距離
が最大になるときの距離に基づき、前記被検査物の中心
線の前記回転軸に対する傾きの方向及びその角度を求め
る傾き検出手段と、 該傾き検出手段により求めた前記被検査物の中心線の前
記回転軸に対する傾きの方向及びその角度に基づいて、
前記回転装置の回転軸に対する被検査物の角度を変化さ
せて前記中心線を前記回転軸に一致させる角度調整手段
とを設けたことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004258A JPH0692888B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004258A JPH0692888B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03209119A true JPH03209119A (ja) | 1991-09-12 |
| JPH0692888B2 JPH0692888B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=11579516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004258A Expired - Lifetime JPH0692888B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0692888B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004132709A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Sony Corp | 画像情報処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム |
| JP2005098867A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2009505083A (ja) * | 2005-08-16 | 2009-02-05 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | コンピュータ断層撮影用測定装置および方法 |
| US7532750B2 (en) | 2002-04-17 | 2009-05-12 | Sony Corporation | Image processing apparatus and method, program, and image processing system |
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| JP2019007780A (ja) * | 2017-06-22 | 2019-01-17 | リョーエイ株式会社 | 製品のｘ線ｃｔ検査方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11384869B2 (en) * | 2020-03-27 | 2022-07-12 | Pall Corporation | Tube retainers, tube retainer sets, and tube management systems |
-
1990
- 1990-01-10 JP JP2004258A patent/JPH0692888B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JP2018194491A (ja) * | 2017-05-19 | 2018-12-06 | 富士通株式会社 | Ｘ線分析方法及びｘ線分析装置 |
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