ES2274125T3 - Metodo y dispositivo de un sistema de medicion. - Google Patents
Metodo y dispositivo de un sistema de medicion. Download PDFInfo
- Publication number
- ES2274125T3 ES2274125T3 ES02803136T ES02803136T ES2274125T3 ES 2274125 T3 ES2274125 T3 ES 2274125T3 ES 02803136 T ES02803136 T ES 02803136T ES 02803136 T ES02803136 T ES 02803136T ES 2274125 T3 ES2274125 T3 ES 2274125T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- light
- designed
- rows
- image
- digital representation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/46—Wood
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Paper (AREA)
Abstract
Procedimiento para representar las características de un objeto (3) por medio de un sistema de medición, en el que el sistema de medición y/o el objeto (3) se desplazan uno con relación al otro en una dirección predefinida de desplazamiento, siendo desplazado preferentemente el objeto con relación al sistema de medición, en cuyo procedimiento el objeto (3) se ilumina por medio de una luz incidente, que tiene una extensión limitada en la dirección del desplazamiento, y la luz reflejada desde el objeto (3) se detecta por medio de un sensor de imagen (1) dispuesto en el mismo lado del objeto (3) como la luz incidente, convirtiendo el sensor (1) de procesamiento de la imagen la luz detectada en cargas eléctricas, según lo cual se crea una representación digital (5) del objeto (3), caracterizado porque, la luz se lleva a chocar con el objeto (3) a una distancia predeterminada desde el sensor de imagen (1) visto en la dirección del desplazamiento del objeto, y aquella información sobre el perfilgeométrico del objeto y la información sobre la luz dispersada en una zona predeterminada alrededor de dicho perfil salen simultáneamente por lectura desde la representación digital (5).
Description
Método y dispositivo de un sistema de
medición.
La presente invención se refiere, en general, a
un procedimiento y a un dispositivo para representar las
características de un objeto, y se refiere en particular, a un
procedimiento y a un dispositivo para representar las
características de un objeto por medio de un sistema de medición,
en el que el sistema de medición y/o el objeto se desplazan uno con
relación al otro en una dirección predefinida de desplazamiento,
siendo desplazado preferentemente el objeto con relación al sistema
de medición. El objeto se ilumina por medio de luz incidente, que
tiene una extensión limitada en la dirección del desplazamiento, y
la luz reflejada desde el objeto se detecta por medio de un sensor
de imagen dispuesto en el mismo lado del objeto como la luz
incidente, convirtiendo el sensor de imagen la luz detectada en
cargas eléctricas, de acuerdo con las cuales se crea una
representación digital de las características del objeto.
D1: US 3 976 384.
D2: SE 501 650.
D3: Astrand Erik, Automatic Inspection of
Sawn Wood, tesis doctoral, Universidad de Linköping, 1996.
D4: Wendt P, Coyle E, Gallagher N, Stack
Filters, IEEE trans. ASSP-34, 1986.
En la técnica ya se conoce un procedimiento
ventajoso de detección de defectos en la madera, en el que la
superficie de la madera se ilumina mediante una fuente de luz, por
ejemplo un láser, y se mide la dispersión de la luz en la capa
superficial de la madera. Esto es, se registra la luz que penetra
el material y que después de la dispersión emerge del material en
un lugar diferente del que había entrado. Cómo esto ocurra depende
de las características internas del material, que pueden medirse de
esta manera. La mayor parte de la luz incidente, sin embargo, se
refleja en la superficie y se denomina "luz difusa". Para esta
finalidad puede utilizarse una fuente de luz puntual [D1] o
alternativamente, una fuente de luz lineal [D2]. El detector puede
comprender elementos discretos sensibles a la luz pero en una
realización ventajosa se utiliza una fuente de luz lineal junto con
un sensor procesador de imagen de dos dimensiones [D2]. Es
particularmente ventajoso si el sensor procesador de imagen tiene
medios para definir varias ventanas, es decir para limitar la parte
del sensor procesador de imagen que sale por lectura para otros
procesa-
dos.
dos.
También se conoce la posibilidad de medir la
forma de un objeto, esto es el perfil geométrico de la sección
transversal del mismo, por iluminarlo con una fuente de luz y
detectar entonces la posición de la representación de la luz
reflejada en un sensor, que observa el objeto desde un ángulo dado,
la llamada triangulación. Esto se referirá más adelante como
medición del perfil. Se conoce también la combinación en una imagen
de la medición de la luz dispersada y de la medición del perfil por
iluminación de la superficie de la madera con más de una fuente de
luz [D2], una para la luz dispersada y otra para la medición del
perfil.
En los procedimientos conocidos de medición de
la luz dispersada, la dirección de iluminación desde la fuente de
luz y la dirección de observación del sensor de procesamiento de la
imagen están sustancialmente en el mismo plano. Esto significa que
la representación de ambos, la luz reflejada y la luz dispersada,
siempre finalizan en la misma posición del sensor de procesamiento
de la imagen según el perfil geométrico de la pieza de madera. Esto
significa que solamente una pequeña parte de la superficie de la
imagen necesita ser sacada por lectura y la medición puede por ello
realizarse a frecuencia elevada.
En la medición del perfil, por otra parte, la
representación de la luz reflejada y de la luz dispersada llevará
por completo, naturalmente a diferentes posiciones dependiendo de
las dimensiones. Es necesario aquí convenir el tamaño de la ventana
de la imagen y el ángulo de la fuente de luz con objeto de obtener
diferentes tramos de medición y precisiones. Las mayores
limitaciones están aquí en el hecho de que ventanas de imagen
grande dan grandes cantidades de datos a sacar por lectura desde el
sensor de procesamiento de imagen para un procesado posterior, y
que se requiere una gran capacidad de procesado de datos con objeto
de realizar cálculos sobre la gran cantidad de datos de la
imagen.
Cuando se inspecciona madera es deseable
combinar la detección de la luz dispersada y el perfil geométrico.
Debido a las limitaciones esbozadas anteriormente, en la práctica
sin embargo, no resulta posible, utilizando procedimientos
conocidos, obtener una frecuencia de mediciones adecuada para la
medición simultánea de la luz dispersada y del perfil. Por
consiguiente se han usado diferentes fuentes de luz para estas dos
mediciones y un problema que entonces aparece es que éstas
características se miden en diferentes lugares en algún instante
dado. Los datos de una medición deben por consiguiente ser
corregidos al efecto de emparejar espacialmente las mediciones
entre sí, y esta corrección nunca puede ser hecha en un cien por
cien. Además, una desventaja obvia es que una pluralidad de fuentes
de luz diferente supone un coste más elevado del sistema.
Un objetivo de la presente invención es
proporcionar un procedimiento mejorado para adquirir
simultáneamente información del perfil geométrico de un objeto e
información de la luz dispersada en una zona predeterminada
alrededor de dicho perfil por medio de un sistema de medición.
Otro objetivo es proporcionar un dispositivo
mejorado para sacar por lectura simultáneamente información del
perfil geométrico de un objeto e información de la luz dispersada
en una zona predeterminada alrededor de dicho perfil por medio de
un sistema de medición.
Según una forma de realización de la presente
invención dichos objetivos se consiguen mediante un procedimiento y
una disposición de acuerdo con las partes características de la
reivindicación 1 y de la reivindicación 9, respectivamente.
Se describirá a continuación la invención con
mayor detalle, con ejemplos de realizaciones y haciendo referencia
a los dibujos adjuntos, en los que:
la figura 1 muestra una vista en perspectiva de
un sistema inventivo de medición;
la figura 2 muestra la imagen de la reflexión de
la fuente de luz sobre el objeto, registrada en el sensor de
imagen;
la figura 3 ilustra cómo se comprime la imagen
del sensor;
la figura 4 ilustra una realización de un vector
decodificador usado a efectos de reconstruir la imagen
original;
la figura 5 muestra la distribución de la
intensidad en una columna de la imagen suma;
la figura 6 muestra cómo la distribución de la
intensidad se utiliza a efectos de obtener información de la luz
dispersada;
la figura 7 muestra una realización para generar
una imagen suma y un vector decodificador;
la figura 8 muestra una realización alternativa
para generar una imagen suma y un vector decodificador.
La invención en cuestión se refiere a un
procedimiento para medir rápidamente luz dispersada y/o perfiles
geométricos, por medio de una única fuente de luz. En términos
prácticos este es un procedimiento para reducir la cantidad de
datos sobre o en la proximidad del sensor procesador de imagen real
a efectos de obtener por medio de él una frecuencia de medición
elevada, dando un limitado ancho de banda a una siguiente unidad
computadora. Toda la información esencial que se refiere a la luz
dispersada y/o al perfil geométrico puede ser reconstruida entonces
a partir de un conjunto reducido.
La invención se explicará a continuación
haciendo referencia a las figuras siguientes. La figura 1 muestra
una disposición típica con una cámara 1 que contiene un sensor de
imagen, una fuente de luz lineal 2, por ejemplo un láser, y un
objeto 3, cuyas características han de ser representadas. En la
figura 1 la línea sobre el objeto 3 en el que la luz es incidente
se designa por 4. Son factibles otras fuentes de luz aparte de la
lineal. La figura 2 muestra la imagen 5 registrada por la cámara en
la que la representación de la línea de láser 4 se ilustra por la
línea 6. Suponemos ahora que formamos una imagen total por sumar en
columnas un número de filas en la imagen, por ejemplo cada línea
décima, como se ilustra en la figura 3. En la imagen total
resultante 7 la fila 1 representará la suma de las filas (1, 11,
21) etc., la fila 2 la suma de las filas (2, 12, 22) etc.
En lo siguiente, la representación de la fuente
de luz se refiere a la representación sobre el sensor de imagen de
la luz reflejada sobre el objeto y de la dispersada en el
objeto.
Mientras se forma la suma, al mismo tiempo, se
mantiene para cada columna un control sobre la fila en que la
representación de la fuente de luz resulta visible primero. Esto
puede hacerse, por ejemplo, por comparar continuamente el total con
un valor de umbral. Si el total, después de añadir otra fila, ha
pasado el valor umbral para cierta columna, se hace una nota de la
posición en que esto ocurre. Esto puede hacerse, por ejemplo, por
guardar el resultado de la operación umbral en un campo de bits 8.
El campo de bits 8 contiene tantos bits como número de filas
sumadas para cada fila en la imagen total. Si, por ejemplo, el
primer total alcanza el umbral después de la fila 31, lo cual es
como decir después de la suma tercera, se entra el bit 3 en el
registro. Si el próximo total alcanza el umbral en la fila 22, lo
cual es como decir en la segunda suma, se entra un bit 2 y así
sucesivamente. El resultado, cuando todas las sumas están
completadas, es no solamente la imagen total sino también un vector
9 con un campo de bits, uno por cada columna, que puede ser usado a
efectos de calcular donde en el sensor de imagen original la
representación de la fuente de luz fue generada primero. Esto se
muestra con mayor detalle en la figura 4. Debe observarse, sin
embargo, que este es solamente uno de los varios caminos posibles
de registrar la posición cuando la suma alcanza cierto nivel. La
invención no depende de ningún modo de cómo se hace precisamente
esto.
Debe mencionarse que como una alternativa a la
suma es posible también usar una operación de máximo en la que se
retiene el valor mayor en cada columna. Esto realmente da un
resultado menos sensible al ruido, pero por otra parte, puede hacer
más costosa la implantación. Depende, por consiguiente, de la
realización. Como otras alternativas, se conciben otras operaciones
[D4] llamadas de filtros de pila.
El procedimiento, cuando recreamos datos en la
unidad computadora, proceden del vector con campo de bits 9 según
lo anterior, lo cual da una estimación aproximada de la posición
de la línea. Este campo de bits puede ser visto como dando la
posición de la ventana parcial 10 en la imagen original que se
representa por la imagen suma. Solamente aquellas partes de la
imagen original que contienen la línea de láser 4 dan lugar a una
contribución significativa. Si la línea está situada en el linde
entre dos ventanas parciales, ambos bits correspondientes en el
campo de bits se pondrán a uno, como se ilustra en la figura 4.
Desde la imagen suma es posible entonces
detectar precisamente en qué fila del sensor en la imagen total
está situada la representación de la fuente de luz. Si la
representación de la fuente de luz tiene asignada una magnitud y
una forma que se extiende sobre una pluralidad de filas del sensor,
también es posible, por análisis de la distribución de la
intensidad 13 en una columna dada 12, detectar también la posición
13 de la línea con precisión de subpixels. Puesto que el sensor de
imagen comprende en la práctica puntos de imagen discretos, este
análisis se emprende en base a una serie de valores discretos, como
se ilustra en la figura 5. Es bien conocida la determinación de la
posición de la línea con gran precisión de esta manera, ver [D3],
por ejemplo, incluso si en los procedimientos conocidos este
cálculo se realiza directamente desde la imagen original. En
nuestro caso realizamos el cálculo sobre la imagen suma pero
combinando ésta con información del campo de bits 9 podemos
reconstruir de forma precisa donde estaba situada la línea en la
imagen original.
De la misma forma es también posible medir la
dispersión de la luz estudiando la forma de la representación de la
fuente de luz sobre un número de filas del sensor. En un material
que dispersa la luz en la capa de superficie, la representación de
la fuente de luz será ostensiblemente más ancha que en un material
sin dispersión de luz. Debemos asumir que la distribución de la
intensidad detectada presenta una forma semejante a la ilustrada en
la figura 5. Puede obtenerse de esta forma una medición de la luz
dispersada, por ejemplo, por estudiar directamente la intensidad en
las zonas de borde (A en la figura 6), o alternativamente por
comparar las zonas exteriores con la zona media (B en la figura 6),
o la intensidad total (A+B). Una forma posible de medir la
intensidad de borde es avanzar desde la posición 13 previamente
calculada, que por consiguiente puede estar entre dos filas del
sensor. A continuación, desplazándose una distancia predeterminada
en ambas direcciones; las intensidades de borde en las posiciones
14 se calculan, por ejemplo, por interpolación. Sin embargo, son
también posibles otros valores medidos, que varían de diferentes
maneras en función de la forma de la distribución de la intensidad,
y la invención de ningún modo depende de cómo se haga precisamente
esto.
La formación de la imagen suma y la detección de
la posición de la línea pueden efectuarse de varias maneras
diferentes. Una alternativa es usar un sensor convencional de
procesado de imagen en combinación con una unidad computadora, por
ejemplo un procesador de señal digital. Si el sensor de procesado
de imagen tiene la posibilidad de sacar por lectura las filas del
sensor en orden aleatorio, la imagen total y el vector de campo de
bits pueden ventajosamente formarse mediante circuitos electrónicos
según la figura 7, en la que un sumador 15 añade el contenido de
varias líneas, que se almacenan en el registrador de línea 16
mientras un circuito umbral 17 se usa para detectar la posición
aproximada de la línea. La figura 7 está aquí algo simplificada en
el sentido que el circuito de umbral 17 asegura que solo cuando el
total excede el umbral por primera vez es un uno obtenido en el
vector resultante 9. En una forma de realización ventajosa se
utiliza un sensor procesador de imagen que tiene una pluralidad de
salidas en paralelo, por ejemplo un Photobit PB1024, en el que los
circuitos 18 de la figura 7 se repiten con una disposición para
cada salida como la ilustrada en la figura 8. Como una alternativa
a la suma también es posible usar aquí una operación de máximo.
En otra realización asimismo ventajosa se
utiliza un sensor procesador de imagen que tiene circuitos
integrados para procesar en paralelo datos de imagen en columnas,
por ejemplo el MAPP2200 y el MAPP2500. Estos circuitos también
proporcionan la posibilidad de formar las columnas por suma
analógica de datos desde diferentes filas de sensores. Por ello el
procedimiento puede efectuarse a una velocidad muy elevada.
En lo anterior se ha mostrado una medición desde
un solo lado utilizando una fuente de luz o cámara. En la práctica,
la madera se medirá frecuentemente desde más de un lado utilizando
un dispositivo de medición por cada lado. Estos pueden ser
desplazados uno con relación al otro, de modo que midan en varias
posiciones en la dirección del suministro de la madera o bien
pueden estar situados en la misma posición. En este último caso
será deseable asegurar que coincidan los planos de las fuentes de
luz. Por otra parte, si la madera presenta una forma irregular es
posible captar interferencias desde las fuentes de luz de las
unidades adyacentes de medición. Si los planos de luz en cada lado
coinciden, las fuentes de luz pueden ser colocadas ventajosamente
de modo que se ilumine una única superficie desde más de una fuente
de luz. Por ejemplo, es posible girar las fuentes de luz en el
plano de modo que iluminen la madera desde un ángulo de 45 grados.
Esto no da solamente una iluminación más uniforme sino también una
mayor seguridad, puesto que la iluminación estará todavía
disponible si falla una de las fuentes de luz. Nada hay en el caso
de iluminación unilateral, que impida el uso de múltiples fuentes
de luz desde direcciones diferentes dentro del plano con objeto de
conseguir una iluminación más uniforme y una fiabilidad
aumentada.
En la descripción anterior se especifica que la
fuente de luz es lineal. Una forma de realización alternativa
supone sustituir la línea por una serie de puntos en una o más
filas. Se establece también en la descripción que las mediciones se
realizan sobre una pieza de madera. La invención trabaja obviamente
bien en la medición de perfiles geométricos y/o en la luz
dispersada en un objeto de alguna otra forma o de un material
distinto de la madera. Ejemplos de otro material lo son materias
fibrosas tales como la celulosa y el papel. La invención debe por
ello observarse por estar limitada solamente por el alcance de las
reivindicaciones de la patente que
siguen.
siguen.
Claims (16)
1. Procedimiento para representar las
características de un objeto (3) por medio de un sistema de
medición, en el que el sistema de medición y/o el objeto (3) se
desplazan uno con relación al otro en una dirección predefinida de
desplazamiento, siendo desplazado preferentemente el objeto con
relación al sistema de medición, en cuyo procedimiento el objeto
(3) se ilumina por medio de una luz incidente, que tiene una
extensión limitada en la dirección del desplazamiento, y la luz
reflejada desde el objeto (3) se detecta por medio de un sensor de
imagen (1) dispuesto en el mismo lado del objeto (3) como la luz
incidente, convirtiendo el sensor (1) de procesamiento de la imagen
la luz detectada en cargas eléctricas, según lo cual se crea una
representación digital (5) del objeto (3), caracterizado
porque, la luz se lleva a chocar con el objeto (3) a una distancia
predeterminada desde el sensor de imagen (1) visto en la dirección
del desplazamiento del objeto, y aquella información sobre el
perfil geométrico del objeto y la información sobre la luz
dispersada en una zona predeterminada alrededor de dicho perfil
salen simultáneamente por lectura desde la representación digital
(5).
2. Procedimiento según la reivindicación 1,
caracterizado porque la representación digital (5) se divide
en filas y columnas y porque se crea una imagen comprimida (7) a
partir de la representación digital (5) por reducción del número de
filas.
3. Procedimiento según la reivindicación 2,
caracterizado porque el número de filas se reduce por suma de
las filas de la representación digital en columnas en un orden
predeterminado.
4. Procedimiento según la reivindicación 3,
caracterizado porque la suma se realiza por medios
analógicos.
5. Procedimiento según la reivindicación 3,
caracterizado porque la suma se realiza por medios
digitales.
6. Procedimiento según la reivindicación 3,
caracterizado porque en la suma por columnas la información
sobre la fila en la que la carga eléctrica excede un valor
predeterminado de umbral, indicando que la luz reflejada se detecta
precisamente en aquella fila, se guarda para cada columna.
7. Procedimiento según la reivindicación 2,
caracterizado porque la imagen comprimida se crea por guardar
para cada columna el valor máximo para las filas
preseleccionadas.
8. Procedimiento según la reivindicación 1,
caracterizado porque además de la información sobre el perfil
geométrico del objeto y de la luz dispersada, la información sobre
la distribución de la intensidad se obtiene en salida por lectura
desde la representación digital.
9. Disposición para representar las
características de un objeto (3) por medio de un sistema de
medición, en el que el sistema de medición o el objeto (3) están
diseñados para desplazarse uno con relación al otro en una
dirección predefinida de desplazamiento, siendo diseñado
preferentemente el objeto para desplazarse con relación al sistema
de medición, cuya disposición comprende como mínimo una fuente de
luz (2) diseñada para iluminar el objeto (3) con una luz que incide
sobre el objeto (3) y tiene una extensión limitada en la dirección
del desplazamiento, comprendiendo además la disposición un sensor
de imagen (1), que está dispuesto en el mismo lado del objeto (3)
como la fuente de luz (2) y está diseñado para recoger luz
reflejada desde el objeto (3) y convertirla en cargas eléctricas,
estando diseñada una unidad de procesamiento de imagen para crear
una representación digital del objeto (3) a partir de dichas cargas
eléctricas, caracterizado porque la fuente de luz (2) está
dispuesta a una distancia predeterminada del sensor de imagen (1)
visto en la dirección del desplazamiento, y porque la unidad de
procesamiento de la imagen se diseña para leer simultáneamente
información sobre el perfil geométrico del objeto e información
sobre la luz dispersada en una zona predeterminada alrededor de
dicho perfil.
10. Disposición según la reivindicación 9,
caracterizada porque la representación digital (5) se divide
en filas y columnas y porque la unidad procesadora de imagen está
diseñada para crear una imagen comprimida (7) a partir de la
representación digital (5) por reducción del número de filas.
11. Disposición según la reivindicación 10,
caracterizada porque la unidad de procesado de la imagen se
diseña para reducir el número de filas por suma de filas de la
representación digital (5) en columnas en un orden
predeterminado.
12. Disposición según la reivindicación 11,
caracterizada porque la unidad de procesado de la imagen se
diseña, en la suma por columnas, para guardar para cada columna
información sobre la fila en la que la carga eléctrica excede un
valor predeterminado de umbral, indicando que la luz reflejada se
detecta en aquella fila.
13. Disposición según la reivindicación 9,
caracterizada porque la luz incidente es lineal.
14. Disposición según la reivindicación 9,
caracterizada porque la luz incidente consta de una
pluralidad de puntos o segmentos lineales.
15. Disposición según la reivindicación 10,
caracterizada porque la unidad de procesado de la imagen se
diseña para crear la imagen comprimida por guardar para cada
columna el valor máximo de las filas preseleccionadas.
16. Disposición según la reivindicación 9,
caracterizada porque además de la información sobre el
perfil geométrico del objeto (3) y de la luz dispersada, la unidad
de procesado de la imagen se diseña también para obtener en salida
por lectura información sobre la distribución de intensidad desde
la representación digital (5).
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE0103279A SE0103279L (sv) | 2001-10-02 | 2001-10-02 | Förfarande för mätning av ljusspridning och geometrisk profil |
| SE0103279 | 2001-10-02 | ||
| PCT/SE2002/001791 WO2003042631A1 (en) | 2001-10-02 | 2002-10-01 | Method and arrangement in a measuring system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2274125T3 true ES2274125T3 (es) | 2007-05-16 |
| ES2274125T5 ES2274125T5 (es) | 2016-05-23 |
Family
ID=20285521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES02803136T Expired - Lifetime ES2274125T5 (es) | 2001-10-02 | 2002-10-01 | Método y dispositivo de un sistema de medición |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8923599B2 (es) |
| EP (1) | EP1432961B2 (es) |
| JP (1) | JP2005524828A (es) |
| CN (1) | CN100397036C (es) |
| AT (1) | ATE347683T1 (es) |
| CA (1) | CA2456163C (es) |
| DE (1) | DE60216623T3 (es) |
| DK (1) | DK1432961T4 (es) |
| ES (1) | ES2274125T5 (es) |
| SE (1) | SE0103279L (es) |
| WO (1) | WO2003042631A1 (es) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE526617C2 (sv) * | 2003-10-01 | 2005-10-18 | Sick Ivp Ab | System och metod för att avbilda ett objekts egenskaper |
| US8111904B2 (en) | 2005-10-07 | 2012-02-07 | Cognex Technology And Investment Corp. | Methods and apparatus for practical 3D vision system |
| US8131008B2 (en) * | 2007-01-31 | 2012-03-06 | Building Component Verification Systems, Inc. | Methods, apparatuses, and systems for image-based measurement and inspection of pre-engineered structural components |
| EP1985969B1 (en) * | 2007-04-26 | 2017-10-25 | Sick IVP AB | Method and apparatus for determining the amount of scattered light in a maschine vision system |
| US8126260B2 (en) * | 2007-05-29 | 2012-02-28 | Cognex Corporation | System and method for locating a three-dimensional object using machine vision |
| US9734419B1 (en) | 2008-12-30 | 2017-08-15 | Cognex Corporation | System and method for validating camera calibration in a vision system |
| US9533418B2 (en) | 2009-05-29 | 2017-01-03 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for practical 3D vision system |
| US9393694B2 (en) | 2010-05-14 | 2016-07-19 | Cognex Corporation | System and method for robust calibration between a machine vision system and a robot |
| US8670029B2 (en) * | 2010-06-16 | 2014-03-11 | Microsoft Corporation | Depth camera illuminator with superluminescent light-emitting diode |
| US9124873B2 (en) | 2010-12-08 | 2015-09-01 | Cognex Corporation | System and method for finding correspondence between cameras in a three-dimensional vision system |
| EE05696B1 (et) | 2011-01-20 | 2013-12-16 | Visiometric Oü | Liinilaseril p?hinevate skannerite töö parandamise tehniline lahendus ja meetod selle teostamiseks |
| EP2985992A1 (en) | 2014-08-13 | 2016-02-17 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Apparatus and method for providing an image |
| DE102016106994A1 (de) | 2016-04-15 | 2017-10-19 | ATB Blank GmbH | Laserscanvorrichtung zur optischen Qualitätsbeurteilung und Vermessung von Objekten im Quertransport |
| US10274311B2 (en) | 2016-10-19 | 2019-04-30 | Columbia Insurance Company | Three dimensional laser measurement device for quality control measurements |
| US10445893B2 (en) * | 2017-03-10 | 2019-10-15 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Dot-based time of flight |
| CN110220479A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-09-10 | 深圳数马电子技术有限公司 | 非接触式钥匙齿形学习的方法及系统 |
| DE102021116495A1 (de) | 2021-06-25 | 2022-12-29 | Ford Global Technologies, Llc | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen einer Verbindung während eines Laser-basierten Verbindungsverfahrens |
Family Cites Families (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034431B1 (es) * | 1969-03-01 | 1975-11-08 | ||
| US4209852A (en) * | 1974-11-11 | 1980-06-24 | Hyatt Gilbert P | Signal processing and memory arrangement |
| GB1488841A (en) * | 1974-01-18 | 1977-10-12 | Plessey Co Ltd | Optical detection apparatus |
| US4188544A (en) * | 1977-08-22 | 1980-02-12 | Weyerhaeuser Company | Method and apparatus for automatically processing a workpiece employing calibrated scanning |
| US4168489A (en) * | 1978-02-13 | 1979-09-18 | Lexitron Corp. | Full page mode system for certain word processing devices |
| IT1204492B (it) * | 1986-03-21 | 1989-03-01 | Cremona Lorenzo | Sistema per il rilevamento e l'eliminazione di difetti presenti in manufatti in lavorazione,in particolare pannelli di legno con cricche e ripieghi che devono essere stuccati |
| US4826299A (en) * | 1987-01-30 | 1989-05-02 | Canadian Patents And Development Limited | Linear deiverging lens |
| SE466420B (sv) | 1989-11-14 | 1992-02-10 | Svenska Traeforskningsinst | Foerfarande och anordning foer detektering av bark samt bestaemning av barkningsgrad paa ved eller i flis |
| JP2523222B2 (ja) | 1989-12-08 | 1996-08-07 | ゼロックス コーポレーション | 画像縮小／拡大方法及び装置 |
| US5233191A (en) * | 1990-04-02 | 1993-08-03 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus of inspecting foreign matters during mass production start-up and mass production line in semiconductor production process |
| US5327254A (en) * | 1992-02-19 | 1994-07-05 | Daher Mohammad A | Method and apparatus for compressing and decompressing image data |
| JP3231383B2 (ja) | 1992-03-18 | 2001-11-19 | キヤノン株式会社 | 棒状超音波モーターおよびモーター保持固定装置 |
| GB2274181B (en) * | 1993-01-09 | 1997-04-02 | Digital Equipment Int | Summation unit |
| US5347311A (en) * | 1993-05-28 | 1994-09-13 | Intel Corporation | Method and apparatus for unevenly encoding error images |
| SE501650C2 (sv) † | 1994-03-08 | 1995-04-03 | Soliton Elektronik Ab | Anordning och förfarande för detektering av defekter i virke |
| NZ270892A (en) * | 1994-08-24 | 1997-01-29 | Us Natural Resources | Detecting lumber defects utilizing optical pattern recognition algorithm |
| US5831748A (en) * | 1994-12-19 | 1998-11-03 | Minolta Co., Ltd. | Image processor |
| US5644392A (en) * | 1995-09-12 | 1997-07-01 | U.S. Natural Resources, Inc. | Scanning system for lumber |
| JPH09190372A (ja) | 1995-09-29 | 1997-07-22 | Sony Corp | 情報管理装置および方法 |
| US6382515B1 (en) * | 1995-12-18 | 2002-05-07 | Metrologic Instruments, Inc. | Automated system and method for identifying and measuring packages transported through a laser scanning tunnel |
| US20020014533A1 (en) * | 1995-12-18 | 2002-02-07 | Xiaxun Zhu | Automated object dimensioning system employing contour tracing, vertice detection, and forner point detection and reduction methods on 2-d range data maps |
| US6064747A (en) * | 1997-05-13 | 2000-05-16 | Axxess Technologies, Inc. | Method and apparatus for using light to identify a key |
| US6037579A (en) * | 1997-11-13 | 2000-03-14 | Biophotonics Information Laboratories, Ltd. | Optical interferometer employing multiple detectors to detect spatially distorted wavefront in imaging of scattering media |
| US6094269A (en) * | 1997-12-31 | 2000-07-25 | Metroptic Technologies, Ltd. | Apparatus and method for optically measuring an object surface contour |
| US6097849A (en) * | 1998-08-10 | 2000-08-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Automated image enhancement for laser line scan data |
| US6934420B1 (en) * | 1999-12-22 | 2005-08-23 | Trident Systems Incorporated | Wave image compression |
| CA2335784A1 (en) † | 2000-02-14 | 2001-08-14 | Marcel Lizotte | Wood differentiating system |
| US7344082B2 (en) * | 2002-01-02 | 2008-03-18 | Metrologic Instruments, Inc. | Automated method of and system for dimensioning objects over a conveyor belt structure by applying contouring tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods to two-dimensional range data maps of the space above the conveyor belt captured by an amplitude modulated laser scanning beam |
| US7508961B2 (en) * | 2003-03-12 | 2009-03-24 | Eastman Kodak Company | Method and system for face detection in digital images |
| US7282180B2 (en) * | 2003-07-02 | 2007-10-16 | Immunivest Corporation | Devices and methods to image objects |
| US7587064B2 (en) * | 2004-02-03 | 2009-09-08 | Hrl Laboratories, Llc | Active learning system for object fingerprinting |
| EP1985969B1 (en) † | 2007-04-26 | 2017-10-25 | Sick IVP AB | Method and apparatus for determining the amount of scattered light in a maschine vision system |
| JP5503990B2 (ja) | 2010-02-02 | 2014-05-28 | ローム株式会社 | 位相ロックループ回路およびそれを用いた電子機器 |
-
2001
- 2001-10-02 SE SE0103279A patent/SE0103279L/ not_active Application Discontinuation
-
2002
- 2002-10-01 AT AT02803136T patent/ATE347683T1/de active
- 2002-10-01 JP JP2003544416A patent/JP2005524828A/ja active Pending
- 2002-10-01 CN CNB028180283A patent/CN100397036C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-10-01 CA CA002456163A patent/CA2456163C/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-01 DK DK02803136.7T patent/DK1432961T4/en active
- 2002-10-01 WO PCT/SE2002/001791 patent/WO2003042631A1/en active IP Right Grant
- 2002-10-01 EP EP02803136.7A patent/EP1432961B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-01 DE DE60216623.3T patent/DE60216623T3/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-01 ES ES02803136T patent/ES2274125T5/es not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-02-10 US US10/774,948 patent/US8923599B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2456163A1 (en) | 2003-05-22 |
| SE0103279L (sv) | 2003-04-03 |
| SE0103279D0 (sv) | 2001-10-02 |
| ES2274125T5 (es) | 2016-05-23 |
| WO2003042631A1 (en) | 2003-05-22 |
| EP1432961A1 (en) | 2004-06-30 |
| JP2005524828A (ja) | 2005-08-18 |
| DE60216623T2 (de) | 2007-09-27 |
| DK1432961T4 (en) | 2016-05-30 |
| ATE347683T1 (de) | 2006-12-15 |
| EP1432961B1 (en) | 2006-12-06 |
| DE60216623T3 (de) | 2016-07-21 |
| EP1432961B2 (en) | 2016-03-02 |
| DE60216623D1 (de) | 2007-01-18 |
| CA2456163C (en) | 2009-08-04 |
| DK1432961T3 (da) | 2007-03-05 |
| CN1555480A (zh) | 2004-12-15 |
| US20040234118A1 (en) | 2004-11-25 |
| CN100397036C (zh) | 2008-06-25 |
| US8923599B2 (en) | 2014-12-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2274125T3 (es) | Metodo y dispositivo de un sistema de medicion. | |
| ES2648217T3 (es) | Método y aparato para determinar la cantidad de luz dispersada en un sistema de visión artificial | |
| US7221356B2 (en) | Data input device and method for detecting an off-surface condition by a laser speckle size characteristic | |
| ES2431632T3 (es) | Patrón de posicionamiento | |
| ES2948141T3 (es) | Sensor para medición de nivel y turbidez | |
| CN105960569B (zh) | 使用二维图像处理来检查三维物体的方法 | |
| JP6053506B2 (ja) | 反射特性の測定装置 | |
| CN103292686B (zh) | 图像传感器、姿势检测器、接触探头以及多传感探头 | |
| US8970830B2 (en) | Measuring method and device for determining transmission and/or reflection properties | |
| CN108369090B (zh) | 形状测定方法 | |
| CN108801164B (zh) | 一种基于激光测试工件缝隙值的方法及系统 | |
| JP2000105185A5 (es) | ||
| JP2017096910A (ja) | 全角度測定器 | |
| TW201337248A (zh) | 用於晶圓檢驗之擴展缺陷尺寸範圍 | |
| CN111413286A (zh) | 地物光谱仪 | |
| JP5507050B2 (ja) | ３ｄセンサ | |
| KR102373715B1 (ko) | 방사선원 방향탐지장치 및 방법 | |
| TW201734436A (zh) | 視覺檢測方法 | |
| KR0181993B1 (ko) | 레이저광을 이용한 물체의 외관치수측정장치 및 외관치수측정방법 | |
| JP3967607B2 (ja) | 高さ測定装置 | |
| ES2331908T3 (es) | Metodo para leer fracciones de un intervalo entre elementos fotosensibles contiguos de un sensor optico lineal. | |
| US20120002209A1 (en) | HIV/AIDS Treatment Efficacy Measure | |
| ES1115182U (es) | Sistema de medición de densidad para piezas cerámicas | |
| JP2005061839A (ja) | 表面欠陥検査方法及び装置 | |
| ES2439421A1 (es) | Método y sistema de medición de densidad para piezas cerámicas |